JP3190260B2 - 光学吸収セル - Google Patents
光学吸収セルInfo
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、試料ガスにレー
ザ光を照射し、その光吸収スペクトルを観測するレーザ
分光分析装置等に適用して好適な光学吸収セルに関す
る。
ザ光を照射し、その光吸収スペクトルを観測するレーザ
分光分析装置等に適用して好適な光学吸収セルに関す
る。
【0002】
【従来の技術】まず、この発明の背景について説明す
る。
る。
【0003】レーザ分光分析手法は、主としてガスの光
スペクトル分析によって微量分子量の測定を行うもので
あり、その有力な応用に同位体の測定がある。
スペクトル分析によって微量分子量の測定を行うもので
あり、その有力な応用に同位体の測定がある。
【0004】同位体の変化をトレースする手法は、医学
分野では病気の診断、農業分野では光合成の研究や植物
の代謝作用の研究、地球科学分野では生態系のトレース
に利用することができる。
分野では病気の診断、農業分野では光合成の研究や植物
の代謝作用の研究、地球科学分野では生態系のトレース
に利用することができる。
【0005】このような用途に使われる同位体として
は、窒素、酸素等があるが、周知のように、炭素におい
ては質量数が12(以下、単に12Cと略記する。)と質
量数が13(以下、単に13Cと略記する。)の安定同位
体があり、この安定同位体は放射性同位体のように放射
線被爆がなく取り扱いが容易であるので、医療分野での
利用が積極的に研究されている。
は、窒素、酸素等があるが、周知のように、炭素におい
ては質量数が12(以下、単に12Cと略記する。)と質
量数が13(以下、単に13Cと略記する。)の安定同位
体があり、この安定同位体は放射性同位体のように放射
線被爆がなく取り扱いが容易であるので、医療分野での
利用が積極的に研究されている。
【0006】従来、このような用途の炭素同位体分析装
置として赤外線分光計がある。この装置は赤外域の発光
波長範囲の広いランプを光源とし、分散型分光器等を用
いて光波長を選択し、12CO2 および13CO2 のスペク
トル吸収強度を観測していた。しかしながら、この方式
では、分散型分光器の光波長選択性能がネックとなり、
十分な光波長分解能が得られず、炭素同位体の測定精度
は十分とはいえなかった。
置として赤外線分光計がある。この装置は赤外域の発光
波長範囲の広いランプを光源とし、分散型分光器等を用
いて光波長を選択し、12CO2 および13CO2 のスペク
トル吸収強度を観測していた。しかしながら、この方式
では、分散型分光器の光波長選択性能がネックとなり、
十分な光波長分解能が得られず、炭素同位体の測定精度
は十分とはいえなかった。
【0007】また、このような用途の他の装置として、
質量分析計がある。この装置は、分子の質量そのものを
測定するため、高い精度で炭素同位体の測定が可能であ
るが、装置が大型で取り扱いが難しく、装置価格も非常
に高価であるという欠点があった。
質量分析計がある。この装置は、分子の質量そのものを
測定するため、高い精度で炭素同位体の測定が可能であ
るが、装置が大型で取り扱いが難しく、装置価格も非常
に高価であるという欠点があった。
【0008】ここで、レーザ分光分析手法は、光源とし
て狭帯域の半導体レーザを用いることによって、小型で
高い光波長分解能が得られるため、上記した従来の問題
点を解決し、簡便な操作性で炭素同位体の十分な測定精
度が得られる分析手法として注目されている。
て狭帯域の半導体レーザを用いることによって、小型で
高い光波長分解能が得られるため、上記した従来の問題
点を解決し、簡便な操作性で炭素同位体の十分な測定精
度が得られる分析手法として注目されている。
【0009】レーザ分光分析手法では、光源として用い
る半導体レーザの温度および電流を安定化することによ
って、所定の光波長を得、試料ガスを透過した後のレー
ザビームの光強度変化によってガス分子による光スペク
トル吸収量を測定する。ただし、レーザ分光分析手法で
は、非常に微弱な光スペクトル吸収を高感度で検出する
ため、試料ガス以外の不要ガスが測定系へ混入すること
を防いだり、光学系の機械的安定性を保つことが要求さ
れ、この達成度が測定系の性能を大きく左右することが
分かっている。
る半導体レーザの温度および電流を安定化することによ
って、所定の光波長を得、試料ガスを透過した後のレー
ザビームの光強度変化によってガス分子による光スペク
トル吸収量を測定する。ただし、レーザ分光分析手法で
は、非常に微弱な光スペクトル吸収を高感度で検出する
ため、試料ガス以外の不要ガスが測定系へ混入すること
を防いだり、光学系の機械的安定性を保つことが要求さ
れ、この達成度が測定系の性能を大きく左右することが
分かっている。
【0010】次に、図10により、レーザ分光分析用の
光学吸収セルの従来例について説明する。
光学吸収セルの従来例について説明する。
【0011】図10に示す光学吸収セル1において、光
学系は、大きく分けて、投光部10、試料セル部30
A、受光部40および構造保持部50の4つの部分から
構成される。
学系は、大きく分けて、投光部10、試料セル部30
A、受光部40および構造保持部50の4つの部分から
構成される。
【0012】投光部10は、半導体レーザ11、コリメ
ートレンズ12、温度制御装置13、気密容器14、光
学窓15およびガスポート16から構成される。試料セ
ル部30Aは、試料セル31、ガスポート32および光
学窓33、34から構成される。受光部40は、受光素
子41から構成される。これら投光部10、試料セル部
30Aおよび受光部40が構造保持部50に固定され
る。この図10例において、試料セル部30Aは単一光
路型の構造を有する。
ートレンズ12、温度制御装置13、気密容器14、光
学窓15およびガスポート16から構成される。試料セ
ル部30Aは、試料セル31、ガスポート32および光
学窓33、34から構成される。受光部40は、受光素
子41から構成される。これら投光部10、試料セル部
30Aおよび受光部40が構造保持部50に固定され
る。この図10例において、試料セル部30Aは単一光
路型の構造を有する。
【0013】以下に、各々の構成要素の機能を述べる。
【0014】まず、投光部10は、光スペクトル吸収観
測用の光波長の安定化されたレーザビーム(レーザ光と
もいう。)を発生する機能を有する。
測用の光波長の安定化されたレーザビーム(レーザ光と
もいう。)を発生する機能を有する。
【0015】半導体レーザ11は、図示していない真空
コネクタを経由して外部の安定化電流源によって駆動さ
れ、単一波長のレーザ光を発生する。
コネクタを経由して外部の安定化電流源によって駆動さ
れ、単一波長のレーザ光を発生する。
【0016】コリメートレンズ12は、半導体レーザ1
1から発生したレーザ光を集光し、平行光にする。ここ
で平行光化されたレーザビームは、気密容器14の側壁
に設けられている光学窓15を通して出射される。レー
ザ光の波長は温度に依存して変動するため、半導体レー
ザ11は温度制御装置13に固定され、一定温度に保た
れる。
1から発生したレーザ光を集光し、平行光にする。ここ
で平行光化されたレーザビームは、気密容器14の側壁
に設けられている光学窓15を通して出射される。レー
ザ光の波長は温度に依存して変動するため、半導体レー
ザ11は温度制御装置13に固定され、一定温度に保た
れる。
【0017】なお、レーザ分光分析には、高い光波長安
定度が必要であるため、半導体レーザ11、コリメート
レンズ12、温度制御装置13は気密容器14に収納さ
れる。この気密容器14により、その内部を低圧または
真空に保つことによって対流による熱伝導を遮断し、高
精度な温度安定化を行っている。さらに、気密容器14
の真空度を維持するためにガスポート16が取り付けら
れ、外部の真空ポンプにより真空引きが行われて真空度
が保たれる。
定度が必要であるため、半導体レーザ11、コリメート
レンズ12、温度制御装置13は気密容器14に収納さ
れる。この気密容器14により、その内部を低圧または
真空に保つことによって対流による熱伝導を遮断し、高
精度な温度安定化を行っている。さらに、気密容器14
の真空度を維持するためにガスポート16が取り付けら
れ、外部の真空ポンプにより真空引きが行われて真空度
が保たれる。
【0018】次に、試料セル部30Aは、試料ガスを導
入し投光部10から入射されるレーザビームによって光
スペクトル吸収を発生する機能を有する。試料ガスはガ
スポート32を通して試料セル31に導入、排出され
る。すなわち、投光部10を構成する光学窓15を介し
て出射されたレーザビームは、試料セル部30Aを構成
する光学窓33を介して試料セル31内に入射され、試
料セル31内で光スペクトル吸収発生後のレーザビーム
は光学窓34を通して受光部40へ出射される。
入し投光部10から入射されるレーザビームによって光
スペクトル吸収を発生する機能を有する。試料ガスはガ
スポート32を通して試料セル31に導入、排出され
る。すなわち、投光部10を構成する光学窓15を介し
て出射されたレーザビームは、試料セル部30Aを構成
する光学窓33を介して試料セル31内に入射され、試
料セル31内で光スペクトル吸収発生後のレーザビーム
は光学窓34を通して受光部40へ出射される。
【0019】受光部40は、試料セル部30Aから出射
するレーザビームの光強度を受光素子41により検出す
ることによって光スペクトル吸収量を観測する機能を有
する。この場合、試料セル部30Aから入射したレーザ
ビームは、受光素子41によって電気信号に変換された
後、外部の公知の検出回路によって光スペクトル吸収量
の観測が行なわれる。
するレーザビームの光強度を受光素子41により検出す
ることによって光スペクトル吸収量を観測する機能を有
する。この場合、試料セル部30Aから入射したレーザ
ビームは、受光素子41によって電気信号に変換された
後、外部の公知の検出回路によって光スペクトル吸収量
の観測が行なわれる。
【0020】構造保持部50は、各々別体となっている
投光部10と試料セル部30Aと受光部40を所定の位
置関係に調整した上で固定する機能を有する。
投光部10と試料セル部30Aと受光部40を所定の位
置関係に調整した上で固定する機能を有する。
【0021】図11は、従来のレーザ分光分析用光学吸
収セルの他の例の構成を示している。この図11におい
て、図10に示したものと対応するものには同一の符号
を付けその詳細な説明は省略する。
収セルの他の例の構成を示している。この図11におい
て、図10に示したものと対応するものには同一の符号
を付けその詳細な説明は省略する。
【0022】図11例に示す光学吸収セル2では、光学
系は、大きく分けて、投光部10、光軸調整部20、試
料セル部30B、受光部40および構造保持部50の5
つの部分から構成される。
系は、大きく分けて、投光部10、光軸調整部20、試
料セル部30B、受光部40および構造保持部50の5
つの部分から構成される。
【0023】投光部10は、図10例と同様に、半導体
レーザ11、コリメートレンズ12、温度制御装置1
3、気密容器14、光学窓15およびガスポート16か
ら構成される。光軸調整部20は、ステージ付平面ミラ
ー21、22から構成される。試料セル部30Bは、試
料セル31、ガスポート32、光学窓33、34および
凹面ミラー35、36、37から構成される。受光部4
0は、図10例と同様に、受光素子41から構成され
る。
レーザ11、コリメートレンズ12、温度制御装置1
3、気密容器14、光学窓15およびガスポート16か
ら構成される。光軸調整部20は、ステージ付平面ミラ
ー21、22から構成される。試料セル部30Bは、試
料セル31、ガスポート32、光学窓33、34および
凹面ミラー35、36、37から構成される。受光部4
0は、図10例と同様に、受光素子41から構成され
る。
【0024】これら投光部10、光軸調整部20、試料
セル部30Bおよび受光部40が、図10例と同様に構
造保持部50に固定される。
セル部30Bおよび受光部40が、図10例と同様に構
造保持部50に固定される。
【0025】図11例において、試料セル部30Bはホ
ワイト型多重反射光路型の試料セル31を有する。
ワイト型多重反射光路型の試料セル31を有する。
【0026】以下に、各々の構成要素の機能を述べる。
【0027】投光部10は、図10例と同様に、光スペ
クトル吸収観測用の光波長の安定化されたレーザビーム
を発生する機能を有する。光波長の安定化されたレーザ
ビームを発生する構成は、図10例と同様である。
クトル吸収観測用の光波長の安定化されたレーザビーム
を発生する機能を有する。光波長の安定化されたレーザ
ビームを発生する構成は、図10例と同様である。
【0028】光軸調整部20は、投光部10から出射さ
れるレーザビームの光軸を調整する機能を有する。投光
部10から出射されるレーザビームは、ステージ付平面
ミラー21で反射され、ステージ付平面ミラー22に照
射される。さらに、ステージ付平面ミラー22で反射さ
れたレーザビームは、試料セル部30Bに入射される。
ここで、各々の平面ミラー21、22には、あおりステ
ージが付いており、2枚の平面ミラー21、22のあお
り角度の組み合わせによってレーザビームの高さや角度
を調整することができる。
れるレーザビームの光軸を調整する機能を有する。投光
部10から出射されるレーザビームは、ステージ付平面
ミラー21で反射され、ステージ付平面ミラー22に照
射される。さらに、ステージ付平面ミラー22で反射さ
れたレーザビームは、試料セル部30Bに入射される。
ここで、各々の平面ミラー21、22には、あおりステ
ージが付いており、2枚の平面ミラー21、22のあお
り角度の組み合わせによってレーザビームの高さや角度
を調整することができる。
【0029】一般に、図11例に示したようなホワイト
型多重反射光路型の試料セル31は、試料セル31へ入
射されるレーザビームの入射経路(入射光路)に制約が
あり、所定の位置精度が要求される。このため、各々の
光学ユニットが別体となっている構成において、この精
度を達成するために、光軸調整部20の上述した機能が
必要となる。
型多重反射光路型の試料セル31は、試料セル31へ入
射されるレーザビームの入射経路(入射光路)に制約が
あり、所定の位置精度が要求される。このため、各々の
光学ユニットが別体となっている構成において、この精
度を達成するために、光軸調整部20の上述した機能が
必要となる。
【0030】試料セル部30Bは、図10例と同様に、
試料ガスを導入し、投光部10から照射されるレーザビ
ームによって、光スペクトル吸収を発生する機能を有す
る。また、ホワイト型多重反射光路を採用しているの
で、全長の短いセルでも実質的に長い光路長を得ること
ができ、微弱な光スペクトル吸収を光学的に増幅する機
能をも有する。試料セル部30Bにおいて、試料ガスは
ガスポート32を通して試料セル31に導入、排出され
る。
試料ガスを導入し、投光部10から照射されるレーザビ
ームによって、光スペクトル吸収を発生する機能を有す
る。また、ホワイト型多重反射光路を採用しているの
で、全長の短いセルでも実質的に長い光路長を得ること
ができ、微弱な光スペクトル吸収を光学的に増幅する機
能をも有する。試料セル部30Bにおいて、試料ガスは
ガスポート32を通して試料セル31に導入、排出され
る。
【0031】レーザビームは、光軸調整部20を介し、
光学窓33を通して試料セル31に入射し、凹面ミラー
36→凹面ミラー35→凹面ミラー37→凹面ミラー3
5→凹面ミラー36→凹面ミラー35→凹面ミラー37
の順に反射を繰り返す。実際上、レーザビームは、凹面
ミラー35、36、37の位置関係で規定される回数だ
け内部で多重反射した後、光学窓34を通して試料セル
31から出射する。
光学窓33を通して試料セル31に入射し、凹面ミラー
36→凹面ミラー35→凹面ミラー37→凹面ミラー3
5→凹面ミラー36→凹面ミラー35→凹面ミラー37
の順に反射を繰り返す。実際上、レーザビームは、凹面
ミラー35、36、37の位置関係で規定される回数だ
け内部で多重反射した後、光学窓34を通して試料セル
31から出射する。
【0032】受光部40は、図10例と同様に、試料セ
ル部30Bから出射するレーザビームの光強度を検出す
ることによって、光スペクトル吸収量を観測する機能を
有する。試料セル部30Bから出射するレーザビームの
光強度を検出する構成は、図10例と同様である。
ル部30Bから出射するレーザビームの光強度を検出す
ることによって、光スペクトル吸収量を観測する機能を
有する。試料セル部30Bから出射するレーザビームの
光強度を検出する構成は、図10例と同様である。
【0033】構造保持部50は、各々別体となっている
投光部10、光軸調整部20、試料セル部30Bおよび
受光部40を所定の位置関係に調整した上で固定する機
能を有する。
投光部10、光軸調整部20、試料セル部30Bおよび
受光部40を所定の位置関係に調整した上で固定する機
能を有する。
【0034】
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
図10と図11に示した従来のレーザ分光分析用光学吸
収セル1、2では、投光部10、光軸調整部20、試料
セル部30A(30B)、受光部40等の各光学ユニッ
トは各々別体で構成されており、これらの位置関係を調
整した上で堅牢な構造保持部50に固定して使用されて
いた。
図10と図11に示した従来のレーザ分光分析用光学吸
収セル1、2では、投光部10、光軸調整部20、試料
セル部30A(30B)、受光部40等の各光学ユニッ
トは各々別体で構成されており、これらの位置関係を調
整した上で堅牢な構造保持部50に固定して使用されて
いた。
【0035】このため、光学吸収セル1、2の構造全体
が大型化する上、各々の光学ユニットはそれぞれ単体構
造であるため、環境温度変化や振動等のストレスに対し
機械的な安定性を保つことが困難である。
が大型化する上、各々の光学ユニットはそれぞれ単体構
造であるため、環境温度変化や振動等のストレスに対し
機械的な安定性を保つことが困難である。
【0036】また、各々の光学ユニットは気密性を要求
されるため、レーザビームの入出射は、前述の通り複数
の光学窓を経由する必要がある。
されるため、レーザビームの入出射は、前述の通り複数
の光学窓を経由する必要がある。
【0037】しかしながら、レーザ光学系においては、
光路中に存在する光学窓等の光学素子はレーザの光学的
干渉雑音を生じる原因となるため、微弱な光スペクトル
吸収を観測する妨げとなっている。
光路中に存在する光学窓等の光学素子はレーザの光学的
干渉雑音を生じる原因となるため、微弱な光スペクトル
吸収を観測する妨げとなっている。
【0038】さらに、各々の光学ユニットの間には大気
が存在し、試料ガスの種別や観測したい光スペクトル吸
収量によっては、大気に含まれるガス成分が誤差要因と
なる。
が存在し、試料ガスの種別や観測したい光スペクトル吸
収量によっては、大気に含まれるガス成分が誤差要因と
なる。
【0039】さらにまた、投光部10と試料セル部30
Bとで2系統のガスポート16、32が必要であったた
め、配管構造が単純化できず、製造歩留りや長期間の使
用にあたって、気密度を安定的に維持する点で不利であ
った。
Bとで2系統のガスポート16、32が必要であったた
め、配管構造が単純化できず、製造歩留りや長期間の使
用にあたって、気密度を安定的に維持する点で不利であ
った。
【0040】この発明は、これらの課題を考慮してなさ
れたものであって、半導体レーザを光源とし光源の光波
長を掃引することによって、試料セル内に導入したガス
分子の微弱な光スペクトル吸収を観測するレーザ分光分
析装置で試料セルとして用いられる光学吸収セルにおい
て、光学素子が低減でき、かつレーザビームの光路中か
ら測定対象外の不要なガスを排除することを可能とし、
長期的に、高確度、高精度および高安定性を維持するこ
とを可能とする光学吸収セルを提供することを目的とす
る。
れたものであって、半導体レーザを光源とし光源の光波
長を掃引することによって、試料セル内に導入したガス
分子の微弱な光スペクトル吸収を観測するレーザ分光分
析装置で試料セルとして用いられる光学吸収セルにおい
て、光学素子が低減でき、かつレーザビームの光路中か
ら測定対象外の不要なガスを排除することを可能とし、
長期的に、高確度、高精度および高安定性を維持するこ
とを可能とする光学吸収セルを提供することを目的とす
る。
【0041】
【課題を解決するための手段】この発明は、例えば、図
1に示すように、半導体レーザを光源とし、この光源の
光波長を掃引することによって、試料セル内に導入した
ガス分子の微弱な光スペクトル吸収を観測するレーザ分
光分析装置で、試料セルとして用いられる光学吸収セル
において、半導体レーザと、その温度制御装置と、前記
半導体レーザから出射されるレーザ光を平行光にするコ
リメートレンズとを低圧または真空に封じる気密容器か
らなる投光部10と、試料ガスを導入、排出するガスポ
ートと、前記平行光とされたレーザ光が入射され導入さ
れた試料ガスの光スペクトル吸収を観測する単一光路ま
たは多重反射光路を有する試料セルとからなる試料セル
部30Aと、前記試料セルを通過したレーザ光が入射さ
れ、レーザの光強度を検出する受光素子と、この受光素
子で反射したレーザ光を終端する反射光終端部とからな
る受光部40と、前記投光部のレーザ光出射部と、前記
試料セル部のレーザ光入射部とを直接連結させるシール
構造45と、前記試料セル部のレーザ光出射部と、前記
受光部のレーザ光入射部とを直接連結させるシール構造
46とを備え、 前記試料ガスとしては、炭素同位体分析
用のガスが導入され、 前記試料セル部内の単一光路上に
は、導入された前記試料ガスのみが存在し、 前記試料セ
ル部内の多重反射光路上には、導入された前記試料ガス
と、光学部材として、前記入射されたレーザ光を多重反
射する反射ミラーのみが存在することを特徴とする。
1に示すように、半導体レーザを光源とし、この光源の
光波長を掃引することによって、試料セル内に導入した
ガス分子の微弱な光スペクトル吸収を観測するレーザ分
光分析装置で、試料セルとして用いられる光学吸収セル
において、半導体レーザと、その温度制御装置と、前記
半導体レーザから出射されるレーザ光を平行光にするコ
リメートレンズとを低圧または真空に封じる気密容器か
らなる投光部10と、試料ガスを導入、排出するガスポ
ートと、前記平行光とされたレーザ光が入射され導入さ
れた試料ガスの光スペクトル吸収を観測する単一光路ま
たは多重反射光路を有する試料セルとからなる試料セル
部30Aと、前記試料セルを通過したレーザ光が入射さ
れ、レーザの光強度を検出する受光素子と、この受光素
子で反射したレーザ光を終端する反射光終端部とからな
る受光部40と、前記投光部のレーザ光出射部と、前記
試料セル部のレーザ光入射部とを直接連結させるシール
構造45と、前記試料セル部のレーザ光出射部と、前記
受光部のレーザ光入射部とを直接連結させるシール構造
46とを備え、 前記試料ガスとしては、炭素同位体分析
用のガスが導入され、 前記試料セル部内の単一光路上に
は、導入された前記試料ガスのみが存在し、 前記試料セ
ル部内の多重反射光路上には、導入された前記試料ガス
と、光学部材として、前記入射されたレーザ光を多重反
射する反射ミラーのみが存在することを特徴とする。
【0042】この発明によれば、投光部と試料セル部と
受光部とが、シール構造により直接的に連結されるの
で、光学吸収セルが一体的な構造とされ、光学窓等の光
学素子が不要となる。また、同時に、測定対象外のガス
が光路中には存在しなくなる。結果として、この発明に
よれば、小型であって、かつ長期的に高確度、高精度お
よび高安定性を維持することができる。
受光部とが、シール構造により直接的に連結されるの
で、光学吸収セルが一体的な構造とされ、光学窓等の光
学素子が不要となる。また、同時に、測定対象外のガス
が光路中には存在しなくなる。結果として、この発明に
よれば、小型であって、かつ長期的に高確度、高精度お
よび高安定性を維持することができる。
【0043】この場合、例えば、図8に示すように、前
記投光部10のレーザ光出射部と前記試料セル部30A
のレーザ光入射部とを直接連結させるシール構造45内
に前記コリメートレンズ12を配設するようにしてもよ
い。
記投光部10のレーザ光出射部と前記試料セル部30A
のレーザ光入射部とを直接連結させるシール構造45内
に前記コリメートレンズ12を配設するようにしてもよ
い。
【0044】
【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施の形態に
ついて添付の図面を参照して説明する。なお、以下に参
照する図面において、上述の図10および図11に示し
たものと対応するものには同一の符号を付ける。また、
図面を繰り返して掲載する煩雑さを避けるために、必要
に応じてそれらの図面をも参照する。
ついて添付の図面を参照して説明する。なお、以下に参
照する図面において、上述の図10および図11に示し
たものと対応するものには同一の符号を付ける。また、
図面を繰り返して掲載する煩雑さを避けるために、必要
に応じてそれらの図面をも参照する。
【0045】図1は、この発明の一実施の形態の構成を
示す示すブロック図である。図1に示す光学吸収セル3
において、10は投光部、30Aは試料セル部、40は
受光部、11は半導体レーザ、12はコリメートレン
ズ、13は温度制御装置、14は気密容器、31は試料
セル、32はガスポート、41は受光素子、42は反射
光終端部、45、46はシール構造である。なお、図1
例の光学吸収セル3の試料セル部30Aは、単一光路型
である。
示す示すブロック図である。図1に示す光学吸収セル3
において、10は投光部、30Aは試料セル部、40は
受光部、11は半導体レーザ、12はコリメートレン
ズ、13は温度制御装置、14は気密容器、31は試料
セル、32はガスポート、41は受光素子、42は反射
光終端部、45、46はシール構造である。なお、図1
例の光学吸収セル3の試料セル部30Aは、単一光路型
である。
【0046】投光部10は、半導体レーザ11、コリメ
ートレンズ12、温度制御装置13およびこれらを収納
する気密容器14から構成され、光スペクトル吸収観測
用の光波長の安定化されたレーザビームを発生する機能
を有する。
ートレンズ12、温度制御装置13およびこれらを収納
する気密容器14から構成され、光スペクトル吸収観測
用の光波長の安定化されたレーザビームを発生する機能
を有する。
【0047】半導体レーザ11は、図示していない真空
コネクタを経由して外部の安定化電流源によって駆動さ
れ、単一波長の光を発生する。
コネクタを経由して外部の安定化電流源によって駆動さ
れ、単一波長の光を発生する。
【0048】コリメートレンズ12は、半導体レーザ1
1から発生したレーザ光を集光し、平行光にする。ここ
で平行光化されたレーザビームLは、試料セル部30A
に対して直接出射される。レーザ光の波長は温度に依存
して変動するため、半導体レーザ11は温度制御装置1
3に固定され一定温度に保たれる。
1から発生したレーザ光を集光し、平行光にする。ここ
で平行光化されたレーザビームLは、試料セル部30A
に対して直接出射される。レーザ光の波長は温度に依存
して変動するため、半導体レーザ11は温度制御装置1
3に固定され一定温度に保たれる。
【0049】半導体レーザ11、コリメートレンズ1
2、温度制御装置13は気密容器14に収納され、この
気密容器14が詳細を後述するシール構造45を介して
直接的に試料セル部30Aに連結される。この結果、投
光部10と試料セル部30Aとは、光学窓等の一切の光
学素子(光学部品)を介さず、光学的および流体ガス的
に、直接、接続される。
2、温度制御装置13は気密容器14に収納され、この
気密容器14が詳細を後述するシール構造45を介して
直接的に試料セル部30Aに連結される。この結果、投
光部10と試料セル部30Aとは、光学窓等の一切の光
学素子(光学部品)を介さず、光学的および流体ガス的
に、直接、接続される。
【0050】レーザ分光分析には高い光波長安定度が必
要であるため、半導体レーザ11、コリメートレンズ1
2、温度制御装置13の周辺を低圧または真空に保つこ
とによって対流による熱伝導を遮断し、高精度な温度安
定化を図る必要がある。しかし、レーザ分光分析は高感
度であるため、測定対象となる試料ガスは一般に真空に
近い低圧であり、試料ガスが気密容器14内に充満され
る上記直接接続構成によっても、測定に必要な温度安定
性能を得ることができる。
要であるため、半導体レーザ11、コリメートレンズ1
2、温度制御装置13の周辺を低圧または真空に保つこ
とによって対流による熱伝導を遮断し、高精度な温度安
定化を図る必要がある。しかし、レーザ分光分析は高感
度であるため、測定対象となる試料ガスは一般に真空に
近い低圧であり、試料ガスが気密容器14内に充満され
る上記直接接続構成によっても、測定に必要な温度安定
性能を得ることができる。
【0051】ここで、半導体レーザ11としては、シン
グルモードのDFB(ディストリビューテッドフィード
バック)レーザ等が用いられる。特に、炭素同位体測定
には、1.5〜2.0μm程度の赤外波長帯のものが高
感度で有効である。コリメートレンズ12には半導体レ
ーザ11の光波長に適合した非球面レンズ等が用いられ
る。温度制御装置13には白金薄膜温度センサとペルチ
ェ素子等が用いられる。気密容器14には、例えば、O
リングと金属シャーシが用いられる。
グルモードのDFB(ディストリビューテッドフィード
バック)レーザ等が用いられる。特に、炭素同位体測定
には、1.5〜2.0μm程度の赤外波長帯のものが高
感度で有効である。コリメートレンズ12には半導体レ
ーザ11の光波長に適合した非球面レンズ等が用いられ
る。温度制御装置13には白金薄膜温度センサとペルチ
ェ素子等が用いられる。気密容器14には、例えば、O
リングと金属シャーシが用いられる。
【0052】試料セル部30Aは、試料セル31および
ガスポート32から構成され、試料ガスを導入し、投光
部10から照射されるレーザビームによって光スペクト
ル吸収を発生する他、構造を維持する機能を有する。試
料ガスは、ガスポート32を通して試料セル31に導
入、排出され、レーザビームは、前述の通り、直接、試
料セル31に入射される。
ガスポート32から構成され、試料ガスを導入し、投光
部10から照射されるレーザビームによって光スペクト
ル吸収を発生する他、構造を維持する機能を有する。試
料ガスは、ガスポート32を通して試料セル31に導
入、排出され、レーザビームは、前述の通り、直接、試
料セル31に入射される。
【0053】ここで、試料セル31として、例えば、図
2に概略的に示すように、周囲に鉄やスーパーインバー
等、膨張係数の小さい材料で作られた支柱101によっ
て保持されたアルミニウム製等のフランジ102に気密
性を確保するためにOリング103を介して取り付けら
れたガラス管99を用いることができる。なお、支柱1
01の両端にはねじが切られており、ナット105によ
りフランジ102に固定される。支柱101の先端にタ
ップをたてておき、六角穴付ボルトにより固定する構造
としてもよい。
2に概略的に示すように、周囲に鉄やスーパーインバー
等、膨張係数の小さい材料で作られた支柱101によっ
て保持されたアルミニウム製等のフランジ102に気密
性を確保するためにOリング103を介して取り付けら
れたガラス管99を用いることができる。なお、支柱1
01の両端にはねじが切られており、ナット105によ
りフランジ102に固定される。支柱101の先端にタ
ップをたてておき、六角穴付ボルトにより固定する構造
としてもよい。
【0054】また、試料セル31として、図3に概略的
に示すように、両端にステンレス製のフランジ102を
気密溶接した円筒または角筒のステンレス管104を用
いることができる。この図3例の試料セル31において
は、構造上の強度がステンレス管104により確保され
るので、支柱は不要である。符号106は、溶接ビード
を示している。ステンレス管104を用いた他の理由
は、ガスの吸着が比較的少なく、機械寸法精度、周囲雰
囲気に対する安定性にも優れているからである。この意
味からステンレス管104に代替して同等の性能を有す
るスーパーインバー等の他の金属を用いることもでき
る。
に示すように、両端にステンレス製のフランジ102を
気密溶接した円筒または角筒のステンレス管104を用
いることができる。この図3例の試料セル31において
は、構造上の強度がステンレス管104により確保され
るので、支柱は不要である。符号106は、溶接ビード
を示している。ステンレス管104を用いた他の理由
は、ガスの吸着が比較的少なく、機械寸法精度、周囲雰
囲気に対する安定性にも優れているからである。この意
味からステンレス管104に代替して同等の性能を有す
るスーパーインバー等の他の金属を用いることもでき
る。
【0055】この場合、フランジ102の接合方法とし
ては、気密が確保されればろう付けや接着等も利用でき
る。
ては、気密が確保されればろう付けや接着等も利用でき
る。
【0056】なお、微量ガスを対象として光スペクトル
吸収を測定する場合、試料セル31の壁面に対するガス
分子の吸着が問題となることがあるが、表面を研磨した
ステンレス管等は、脱吸着性に優れ、試料セル31の材
質として極めて有用である。ガスポート32としては、
JISに規定された一般配管用接続金具を使用すること
ができる。
吸収を測定する場合、試料セル31の壁面に対するガス
分子の吸着が問題となることがあるが、表面を研磨した
ステンレス管等は、脱吸着性に優れ、試料セル31の材
質として極めて有用である。ガスポート32としては、
JISに規定された一般配管用接続金具を使用すること
ができる。
【0057】再び、図1において、受光部40は、受光
素子41、反射光終端部42から構成され、試料セル部
30Aから出射するレーザビームの光強度を検出するこ
とによって、光スペクトル吸収量を観測する他、受光素
子からの反射光を終端、減衰し、試料セル部30A内部
に戻さない機能を有する。また、受光部40は、投光部
10と同様に、シール構造46を介して直接試料セル部
30Aに連結される。すなわち、試料セル部30Aと受
光部40は、一切の光学的部品を介さず、光学的に直接
接続される。
素子41、反射光終端部42から構成され、試料セル部
30Aから出射するレーザビームの光強度を検出するこ
とによって、光スペクトル吸収量を観測する他、受光素
子からの反射光を終端、減衰し、試料セル部30A内部
に戻さない機能を有する。また、受光部40は、投光部
10と同様に、シール構造46を介して直接試料セル部
30Aに連結される。すなわち、試料セル部30Aと受
光部40は、一切の光学的部品を介さず、光学的に直接
接続される。
【0058】図4は、投光部10と試料セル部30Aと
を直接接続するシール構造45および試料セル部30A
と受光部40とを直接接続するシール構造46の例とし
て、シール構造45の構造例についての一部省略断面図
を示している。なお、シール構造46も図4に示すシー
ル構造45と同様の構成である。
を直接接続するシール構造45および試料セル部30A
と受光部40とを直接接続するシール構造46の例とし
て、シール構造45の構造例についての一部省略断面図
を示している。なお、シール構造46も図4に示すシー
ル構造45と同様の構成である。
【0059】図4において、投光部10の気密容器14
の一側面と図3に示した試料セル31を構成するフラン
ジ102とが複数のボルト(図示していない)によって
強度、気密が保持できる程度に固定される。気密容器1
4は、基本的には、アルミニウム製等のケーシング12
5と、このケーシング125に対して、図示しないボル
トによって固定されるアルミニウム製のアダプタ126
とアルミニウム製または銅製の基台を兼用する蓋部材1
27とから構成される。蓋部材127は、温度制御装置
13の放熱部材としても機能する。なお、アダプタ12
6は、投光部10を試料セル部30Aに固定する機能を
有するが、シール構造45上不可欠なものではなく、例
えば、ケーシング125と一体的な構造とすることもで
きる。
の一側面と図3に示した試料セル31を構成するフラン
ジ102とが複数のボルト(図示していない)によって
強度、気密が保持できる程度に固定される。気密容器1
4は、基本的には、アルミニウム製等のケーシング12
5と、このケーシング125に対して、図示しないボル
トによって固定されるアルミニウム製のアダプタ126
とアルミニウム製または銅製の基台を兼用する蓋部材1
27とから構成される。蓋部材127は、温度制御装置
13の放熱部材としても機能する。なお、アダプタ12
6は、投光部10を試料セル部30Aに固定する機能を
有するが、シール構造45上不可欠なものではなく、例
えば、ケーシング125と一体的な構造とすることもで
きる。
【0060】半導体レーザ11とコリメートレンズ12
と温度制御装置13とは一体的な構造とされ、温度制御
装置13と蓋部材127とがガイドピン130を介して
蓋部材127上に位置決めされ取付位置精度が保持され
る。
と温度制御装置13とは一体的な構造とされ、温度制御
装置13と蓋部材127とがガイドピン130を介して
蓋部材127上に位置決めされ取付位置精度が保持され
る。
【0061】また、フランジ102とアダプタ126も
ガイドピン132により位置決めされ、アダプタ126
と蓋部材127もガイドピン131により位置決めされ
ている。この図4例において、ガイドピン130〜13
2の材質はステンレスである。
ガイドピン132により位置決めされ、アダプタ126
と蓋部材127もガイドピン131により位置決めされ
ている。この図4例において、ガイドピン130〜13
2の材質はステンレスである。
【0062】なお、フランジ102とアダプタ126の
対向する面にはOリング135が、アダプタ126とケ
ーシング125との対向する面にはOリング136が、
ケーシング125と蓋部材127との対向する面にはO
リング137が各々介装される。この図4例において、
Oリング135〜137は、シール材としての真空グリ
スを塗布した合成ゴム製(例えば、ニトリルゴム、シリ
コンゴム、フッ素ゴム、ブチルゴム、クロロプレン等)
のものを用いている。
対向する面にはOリング135が、アダプタ126とケ
ーシング125との対向する面にはOリング136が、
ケーシング125と蓋部材127との対向する面にはO
リング137が各々介装される。この図4例において、
Oリング135〜137は、シール材としての真空グリ
スを塗布した合成ゴム製(例えば、ニトリルゴム、シリ
コンゴム、フッ素ゴム、ブチルゴム、クロロプレン等)
のものを用いている。
【0063】ガスポート32は、図示はしていないが、
フランジ102、ステンレス管104、アダプタ12
6、ケーシング125、または蓋部材127等、内部気
密室に接するいずれの部材にも形成することができる。
フランジ102、ステンレス管104、アダプタ12
6、ケーシング125、または蓋部材127等、内部気
密室に接するいずれの部材にも形成することができる。
【0064】また、図4例においては、保守性等を考慮
して各部材の気密接合部にOリングを使用しているが、
ガスケットに代替することも可能である。さらに、長期
的な安定性という点では、接着剤にて接合することも可
能である。
して各部材の気密接合部にOリングを使用しているが、
ガスケットに代替することも可能である。さらに、長期
的な安定性という点では、接着剤にて接合することも可
能である。
【0065】図5は、投光部10と試料セル部30Aと
を直接接続するシール構造45の他の構造例についての
一部省略断面図を示している。この図5例においては、
円筒状のねじ141の主面上にガイドピン131を介し
て温度制御装置13を位置決めする。次に、有底円筒状
の気密容器14の開口部内側にねじ部140を設け、そ
のねじ部140にシール用のポリテトラフルオロエチレ
ン製のテープ139を密着させた状態で、前記ねじ14
1の外側周面に設けられたねじ部をねじ込み、さらに、
ねじ141の内側周面に設けられたねじ部142にシー
ル用のポリテトラフルオロエチレン製のテープ138を
密着させた状態で円筒状のステンレス管104の先端部
外周状に設けられたねじ部をねじ込むようにしている。
このような構成では、Oリング等の使用は不要となる。
を直接接続するシール構造45の他の構造例についての
一部省略断面図を示している。この図5例においては、
円筒状のねじ141の主面上にガイドピン131を介し
て温度制御装置13を位置決めする。次に、有底円筒状
の気密容器14の開口部内側にねじ部140を設け、そ
のねじ部140にシール用のポリテトラフルオロエチレ
ン製のテープ139を密着させた状態で、前記ねじ14
1の外側周面に設けられたねじ部をねじ込み、さらに、
ねじ141の内側周面に設けられたねじ部142にシー
ル用のポリテトラフルオロエチレン製のテープ138を
密着させた状態で円筒状のステンレス管104の先端部
外周状に設けられたねじ部をねじ込むようにしている。
このような構成では、Oリング等の使用は不要となる。
【0066】図1に示すように、試料セル部30Aから
出射したレーザビームは、受光素子41によって電気信
号に変換され、図示しない外部の検出回路によって光ス
ペクトル吸収量の観測を行う。また、受光素子41で発
生する反射光は、試料セル部30Aではなく、後に詳し
く説明する反射光終端部42に入射し、終端、減衰され
る。
出射したレーザビームは、受光素子41によって電気信
号に変換され、図示しない外部の検出回路によって光ス
ペクトル吸収量の観測を行う。また、受光素子41で発
生する反射光は、試料セル部30Aではなく、後に詳し
く説明する反射光終端部42に入射し、終端、減衰され
る。
【0067】この発明にかかる光学吸収セル3は、光学
的に完全にクローズした(閉塞された)構造となるた
め、受光素子41によって反射した反射光を、試料セル
部30Aの内部に戻さない機能は、不要な迷光によって
発生する光学雑音の低減を図る作用がある。ここで、受
光素子41には、半導体レーザ11の光波長に適合した
フォトダイオードが用いられる。1.5〜2.0μm程
度の赤外波長に対しては、Ge、InGaAs等のフォ
トダイオードが適している。
的に完全にクローズした(閉塞された)構造となるた
め、受光素子41によって反射した反射光を、試料セル
部30Aの内部に戻さない機能は、不要な迷光によって
発生する光学雑音の低減を図る作用がある。ここで、受
光素子41には、半導体レーザ11の光波長に適合した
フォトダイオードが用いられる。1.5〜2.0μm程
度の赤外波長に対しては、Ge、InGaAs等のフォ
トダイオードが適している。
【0068】図6に示すように、反射光終端部42とし
ては、光学的反射の低い黒色多孔質のスポンジ材や、表
面に黒色繊維を植毛した植毛フイルム等を、レーザビー
ムLに対し所定の角度でくさび状に配置した構造が用い
られる。
ては、光学的反射の低い黒色多孔質のスポンジ材や、表
面に黒色繊維を植毛した植毛フイルム等を、レーザビー
ムLに対し所定の角度でくさび状に配置した構造が用い
られる。
【0069】また、図7に示すように、受光素子41に
より検出された残りのレーザビームは、測定上不要であ
るので、光学窓からなる反射光終端部42を通して、試
料セル部30A、受光部40の外部へ出射する構造とす
ることも可能である。
より検出された残りのレーザビームは、測定上不要であ
るので、光学窓からなる反射光終端部42を通して、試
料セル部30A、受光部40の外部へ出射する構造とす
ることも可能である。
【0070】なお、図1例では、投光部10と試料セル
部30Aは、一切の光学部品を介さず、光学的および流
体ガス的に直接接続されていたが、半導体レーザ11、
コリメートレンズ12、温度制御装置13の周辺を真空
に保つことによって、さらに高い光波長安定度を達成し
たい場合や、試料ガスの少量化のため、試料セル部30
Aの容積を少なくしたい場合には、コリメートレンズ1
2によって、投光部10と試料セル部30Aを流体ガス
的に分離する構造をとることもできる。
部30Aは、一切の光学部品を介さず、光学的および流
体ガス的に直接接続されていたが、半導体レーザ11、
コリメートレンズ12、温度制御装置13の周辺を真空
に保つことによって、さらに高い光波長安定度を達成し
たい場合や、試料ガスの少量化のため、試料セル部30
Aの容積を少なくしたい場合には、コリメートレンズ1
2によって、投光部10と試料セル部30Aを流体ガス
的に分離する構造をとることもできる。
【0071】すなわち、図8に示すように、投光部10
と試料セル部30Aのシール構造45にコリメートレン
ズ12を設け、このコリメートレンズ12により投光部
10の室内と試料セル31を構成するステンレス管10
4の室内とを仕切る構造とすることもできる。コリメー
トレンズ12の周囲を接着剤により固定するリング状の
枠体161は、接着剤によりフランジ102に固定され
る。なお、図8例の場合、投光部10を構成する気密容
器14の室内のガスを真空または不活性ガス等に操作す
るためのポートを設ける必要があるが、このガス操作ポ
ートは、例えば、同図に示すように、封じきりポート1
62とすることも可能である。
と試料セル部30Aのシール構造45にコリメートレン
ズ12を設け、このコリメートレンズ12により投光部
10の室内と試料セル31を構成するステンレス管10
4の室内とを仕切る構造とすることもできる。コリメー
トレンズ12の周囲を接着剤により固定するリング状の
枠体161は、接着剤によりフランジ102に固定され
る。なお、図8例の場合、投光部10を構成する気密容
器14の室内のガスを真空または不活性ガス等に操作す
るためのポートを設ける必要があるが、このガス操作ポ
ートは、例えば、同図に示すように、封じきりポート1
62とすることも可能である。
【0072】なお、この封じきりポート162を設けな
くとも、一般的に気密容器14の内部は、真空に近い低
圧であることが望ましいという要請に基づいて、投光部
10を高圧側、試料セル部30Aを低圧側とする逆流防
止弁163をシール構造45の仕切部に取り付けておく
ことによって、試料セル部30Aの被測定ガスをガスポ
ート32から排出する度に、投光部10の気密容器14
の室内の不要なガスが排出されるという機能が得られ
る。このように構成すれば、長期的に保守を行うことを
不要にすることができる。
くとも、一般的に気密容器14の内部は、真空に近い低
圧であることが望ましいという要請に基づいて、投光部
10を高圧側、試料セル部30Aを低圧側とする逆流防
止弁163をシール構造45の仕切部に取り付けておく
ことによって、試料セル部30Aの被測定ガスをガスポ
ート32から排出する度に、投光部10の気密容器14
の室内の不要なガスが排出されるという機能が得られ
る。このように構成すれば、長期的に保守を行うことを
不要にすることができる。
【0073】なお、図8例において、フランジ102と
気密容器14との間の気密接続は、図7例と同様にポリ
テトラフルオロエチレン製のテープを用いたねじ嵌合に
より実施することができる。この図8例においても、光
学素子の増加を伴わないため、図4例、図5例と同等の
光学性能が得られる。
気密容器14との間の気密接続は、図7例と同様にポリ
テトラフルオロエチレン製のテープを用いたねじ嵌合に
より実施することができる。この図8例においても、光
学素子の増加を伴わないため、図4例、図5例と同等の
光学性能が得られる。
【0074】次に、図9を用いて、この発明の他の実施
の形態について説明する。
の形態について説明する。
【0075】図9は、この発明の他の実施の形態に係る
光学吸収セル4の構成を示すブロック構成図である。図
9において、10は投光部、30Bは試料セル部、40
は受光部、11は半導体レーザ、12はコリメートレン
ズ、13は温度制御装置、14は気密容器、31は試料
セル、32はガスポート、35、36、37は凹面ミラ
ー、41は受光素子、42は反射光終端部である。
光学吸収セル4の構成を示すブロック構成図である。図
9において、10は投光部、30Bは試料セル部、40
は受光部、11は半導体レーザ、12はコリメートレン
ズ、13は温度制御装置、14は気密容器、31は試料
セル、32はガスポート、35、36、37は凹面ミラ
ー、41は受光素子、42は反射光終端部である。
【0076】なお、図9例の光学吸収セル4を構成する
試料セル部30Bは、3枚の凹面ミラー35、36、3
7を組み合わせて構成されるホワイト型多重反射光路で
ある。
試料セル部30Bは、3枚の凹面ミラー35、36、3
7を組み合わせて構成されるホワイト型多重反射光路で
ある。
【0077】以下に、各々の構成要素の機能を述べる。
【0078】投光部10は、半導体レーザ11、コリメ
ートレンズ12、温度制御装置13、気密容器14から
構成され、図1例と同様に、光スペクトル吸収観測用の
光波長の安定化されたレーザビームを発生する機能を有
する。光波長の安定化されたレーザビームを発生する構
造、構成品、作用は、図1例と同様である。なお、図9
例では、半導体レーザ11とコリメートレンズ12の位
置関係は、予め、試料セル部30Bの凹面ミラー36に
入射するように設計されているので、従来の技術の項で
示した図11例のように、光軸調整部20は必要としな
い。
ートレンズ12、温度制御装置13、気密容器14から
構成され、図1例と同様に、光スペクトル吸収観測用の
光波長の安定化されたレーザビームを発生する機能を有
する。光波長の安定化されたレーザビームを発生する構
造、構成品、作用は、図1例と同様である。なお、図9
例では、半導体レーザ11とコリメートレンズ12の位
置関係は、予め、試料セル部30Bの凹面ミラー36に
入射するように設計されているので、従来の技術の項で
示した図11例のように、光軸調整部20は必要としな
い。
【0079】半導体レーザ11、コリメートレンズ1
2、温度制御装置13は、気密容器14に収納され、図
1例と同様に、シール構造45を介して、直接、試料セ
ル部30Bに連結される。この結果、投光部10と試料
セル部30Bは、一切の光学部品を介さず、光学的およ
び流体ガス的に直接接続されるため、投光部10から出
射したレーザビームは試料セル部30Bの内部に直接入
射する。試料セル部30Bは、試料セル31、ガスポー
ト32、凹面ミラー35、36、37から構成される。
2、温度制御装置13は、気密容器14に収納され、図
1例と同様に、シール構造45を介して、直接、試料セ
ル部30Bに連結される。この結果、投光部10と試料
セル部30Bは、一切の光学部品を介さず、光学的およ
び流体ガス的に直接接続されるため、投光部10から出
射したレーザビームは試料セル部30Bの内部に直接入
射する。試料セル部30Bは、試料セル31、ガスポー
ト32、凹面ミラー35、36、37から構成される。
【0080】試料セル部30Bは、図1例と同様に、試
料ガスを導入し、投光部10から照射されるレーザビー
ムによって、光スペクトル吸収を発生し、さらに構造を
維持する機能を有する他、ホワイト型多重反射光路なの
で、全長の短いセルでも実質的に長い光路長を得ること
ができ、微弱な光スペクトル吸収を光学的に増幅する機
能をも有する。試料セル部30Bにおいて、試料ガスは
ガスポート32を通して試料セル31に導入、排出され
る。
料ガスを導入し、投光部10から照射されるレーザビー
ムによって、光スペクトル吸収を発生し、さらに構造を
維持する機能を有する他、ホワイト型多重反射光路なの
で、全長の短いセルでも実質的に長い光路長を得ること
ができ、微弱な光スペクトル吸収を光学的に増幅する機
能をも有する。試料セル部30Bにおいて、試料ガスは
ガスポート32を通して試料セル31に導入、排出され
る。
【0081】また、レーザビームは、直接試料セル31
に入射し、凹面ミラー37→凹面ミラー35→凹面ミラ
ー36→凹面ミラー35→凹面ミラー37→凹面ミラー
35→凹面ミラー36の順に反射を繰り返す。なお、レ
ーザビームは、凹面ミラー35、36、37の位置関係
で規定される回数だけ内部で多重反射した後、受光部4
0に照射される。
に入射し、凹面ミラー37→凹面ミラー35→凹面ミラ
ー36→凹面ミラー35→凹面ミラー37→凹面ミラー
35→凹面ミラー36の順に反射を繰り返す。なお、レ
ーザビームは、凹面ミラー35、36、37の位置関係
で規定される回数だけ内部で多重反射した後、受光部4
0に照射される。
【0082】凹面ミラー35、36、37は、半導体レ
ーザ11の光波長に適合した反射膜が適しており、炭素
同位体の観測に有利な赤外波長帯では、金蒸着や誘電体
多層膜等が用いられる。その他の構造、構成品、作用
は、図1例の光学吸収セル3と同様である。
ーザ11の光波長に適合した反射膜が適しており、炭素
同位体の観測に有利な赤外波長帯では、金蒸着や誘電体
多層膜等が用いられる。その他の構造、構成品、作用
は、図1例の光学吸収セル3と同様である。
【0083】受光部40は、受光素子41、反射光終端
部42から構成され、図1例と同様に、試料セル部30
Bから出射するレーザビームの光強度を検出することに
よって、光スペクトル吸収量を観測する機能と、受光素
子41からの反射光を終端、減衰し、試料セル部30B
の内部に戻さない機能を有する。受光部40は、図1例
と同様に、シール構造46を介して、直接、試料セル部
30Bに連結されるため、試料セル部30Bと受光部4
0は、一切の光学部品を介さず、光学的に直接接続され
る。
部42から構成され、図1例と同様に、試料セル部30
Bから出射するレーザビームの光強度を検出することに
よって、光スペクトル吸収量を観測する機能と、受光素
子41からの反射光を終端、減衰し、試料セル部30B
の内部に戻さない機能を有する。受光部40は、図1例
と同様に、シール構造46を介して、直接、試料セル部
30Bに連結されるため、試料セル部30Bと受光部4
0は、一切の光学部品を介さず、光学的に直接接続され
る。
【0084】試料セル部30Bから出射するレーザビー
ムの光強度を検出することによって、光スペクトル吸収
量を観測し、受光素子41からの反射光を終端、減衰し
て、試料セル部30Bの内部に戻さないための構造、構
成品、作用は、図1例と同様である。
ムの光強度を検出することによって、光スペクトル吸収
量を観測し、受光素子41からの反射光を終端、減衰し
て、試料セル部30Bの内部に戻さないための構造、構
成品、作用は、図1例と同様である。
【0085】以上のように、図9例の光学吸収セル4
も、図1例の光学吸収セル3と基本的には同様な構造、
構成品、作用によって実現される。
も、図1例の光学吸収セル3と基本的には同様な構造、
構成品、作用によって実現される。
【0086】なお、図9例に示すホワイト型多重反射光
路を利用した試料セル部30Bを有する光学吸収セル4
では、多重反射という構成上、ミラーから僅かに発生す
る拡散光成分が、レーザ光の干渉を生じ、光学雑音とな
る場合がある。干渉によって生じる光学雑音の低減に
は、干渉を生じている対向した光学素子間隔を、微小に
連続変位(振動)させ、検出信号処理の際に電気的な平
均化フィルタをかけると効果がある。図9例では、凹面
ミラー36、37が固定されているベース板をPZT
(ピエゾ素子)等で光軸方向に微小に連続変位(振動)
することによって、光学雑音の低減が図られる。その
他、多重反射光路としては、2枚の凹面ミラーから構成
されるヘリオット型等も使用できる。
路を利用した試料セル部30Bを有する光学吸収セル4
では、多重反射という構成上、ミラーから僅かに発生す
る拡散光成分が、レーザ光の干渉を生じ、光学雑音とな
る場合がある。干渉によって生じる光学雑音の低減に
は、干渉を生じている対向した光学素子間隔を、微小に
連続変位(振動)させ、検出信号処理の際に電気的な平
均化フィルタをかけると効果がある。図9例では、凹面
ミラー36、37が固定されているベース板をPZT
(ピエゾ素子)等で光軸方向に微小に連続変位(振動)
することによって、光学雑音の低減が図られる。その
他、多重反射光路としては、2枚の凹面ミラーから構成
されるヘリオット型等も使用できる。
【0087】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、投光部および受光部を試料セル部と各々シール構造
を介して一体化し、必要不可欠な光学素子のみで光学系
を構成することが可能になるとともに、同時に測定対象
以外のガスを光路中から排除することが可能になること
によって、以下に示す効果が達成される。
ば、投光部および受光部を試料セル部と各々シール構造
を介して一体化し、必要不可欠な光学素子のみで光学系
を構成することが可能になるとともに、同時に測定対象
以外のガスを光路中から排除することが可能になること
によって、以下に示す効果が達成される。
【0088】第1に、一体化構造(一体化シール構造)
としたので、環境温度変化や振動等のストレスに対し、
機械的な安定性の向上が図られる。
としたので、環境温度変化や振動等のストレスに対し、
機械的な安定性の向上が図られる。
【0089】第2に、光路に配設される光学素子がコリ
メートレンズのみとなるため、レーザの光学的干渉雑音
を低減し、光学S/Nを改善することができる。
メートレンズのみとなるため、レーザの光学的干渉雑音
を低減し、光学S/Nを改善することができる。
【0090】第3に、試料セル部に対して、投光部と受
光部とが連通する一室化構造とすることが可能となるた
め、試料ガスの測定にあたって、周囲環境ガス成分が誤
差要因とならない。
光部とが連通する一室化構造とすることが可能となるた
め、試料ガスの測定にあたって、周囲環境ガス成分が誤
差要因とならない。
【0091】第4に、気密構造が単純であるため、製造
保守上、高い気密度の維持が容易である。
保守上、高い気密度の維持が容易である。
【0092】従って、これらの総合性能として、微弱な
光スペクトル吸収を観測するレーザ分光分析用光学吸収
セルにおいて、長期的に高確度、高精度、高安定性を維
持することが可能である。
光スペクトル吸収を観測するレーザ分光分析用光学吸収
セルにおいて、長期的に高確度、高精度、高安定性を維
持することが可能である。
【図1】この発明の一実施の形態(単一光路型)の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図2】試料セルの構成例を示す斜視図である。
【図3】試料セルの他の構成例を示す斜視図である。
【図4】シール構造例を示す一部省略断面図である。
【図5】他のシール構造例を示す一部省略断面図であ
る。
る。
【図6】受光部の構成例を示す概略的な断面図である。
【図7】受光部の他の構成例を示す概略的な断面図であ
る。
る。
【図8】シール構造のさらに他の例を示す一部省略断面
図である。
図である。
【図9】この発明の他の実施の形態(ホワイト型多重反
射光路型)の構成を示すブロック図である。
射光路型)の構成を示すブロック図である。
【図10】従来の技術(単一光路型)の構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図11】従来の他の技術(ホワイト型多重反射光路)
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
1〜4…光学吸収セル 10…投光部 11…半導体レーザ 12…コリメート
レンズ 13…温度制御装置 14…気密容器 15…光学窓 16、32…ガス
ポート 20…光軸調整部 21、22…ステ
ージ付平面ミラー 30A…試料セル部(単一光路型) 30B…試料セル部(ホワイト型多重反射光路型) 31…試料セル 33、34…光学
窓 35、36、37…凹面ミラー 40…受光部 41…受光素子 42…反射光終端
部 45、46…シール構造 50…構造保持部 99…ガラス管 101…支柱 102…フランジ 103、135〜
137…Oリング 104…ステンレス管 105…ナット 106…溶接ビード 125…ケーシン
グ 126…アダプタ 127…蓋部材 130〜132…ガイドピン 138、139…
テープ 140、142…ねじ部 141…ねじ L…レーザ光(レーザビーム)
レンズ 13…温度制御装置 14…気密容器 15…光学窓 16、32…ガス
ポート 20…光軸調整部 21、22…ステ
ージ付平面ミラー 30A…試料セル部(単一光路型) 30B…試料セル部(ホワイト型多重反射光路型) 31…試料セル 33、34…光学
窓 35、36、37…凹面ミラー 40…受光部 41…受光素子 42…反射光終端
部 45、46…シール構造 50…構造保持部 99…ガラス管 101…支柱 102…フランジ 103、135〜
137…Oリング 104…ステンレス管 105…ナット 106…溶接ビード 125…ケーシン
グ 126…アダプタ 127…蓋部材 130〜132…ガイドピン 138、139…
テープ 140、142…ねじ部 141…ねじ L…レーザ光(レーザビーム)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−99845(JP,A) 特開 平6−281559(JP,A) 特開 平6−148070(JP,A) W.F.X.Frank、「Nitr ogen Purged Liquid /Solid Infrared Tr ansmission Cell」、I BM Technical Discl osure Bulletin、1981、 Vol.24、No.2、第996頁 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/00 - 21/61 JICSTファイル(JOIS)
Claims (2)
- 【請求項1】半導体レーザを光源とし、この光源の光波
長を掃引することによって、試料セル内に導入したガス
分子の微弱な光スペクトル吸収を観測するレーザ分光分
析装置で、試料セルとして用いられる光学吸収セルにお
いて、 半導体レーザと、その温度制御装置と、前記半導体レー
ザから出射されるレーザ光を平行光にするコリメートレ
ンズとを低圧または真空に封じる気密容器からなる投光
部と、 試料ガスを導入、排出するガスポートと、前記平行光と
されたレーザ光が入射され導入された試料ガスの光スペ
クトル吸収を観測する単一光路または多重反射光路を有
する試料セルとからなる試料セル部と、 前記試料セルを通過したレーザ光が入射され、レーザの
光強度を検出する受光素子と、この受光素子で反射した
レーザ光を終端する反射光終端部とからなる受光部と、 前記投光部のレーザ光出射部と、前記試料セル部のレー
ザ光入射部とを直接連結させるシール構造と、 前記試料セル部のレーザ光出射部と、前記受光部のレー
ザ光入射部とを直接連結させるシール構造とを備え、 前記試料ガスとしては、炭素同位体分析用のガスが導入
され、 前記試料セル部内の単一光路上には、導入された前記試
料ガスのみが存在し、 前記試料セル部内の多重反射光路上には、導入された前
記試料ガスと、光学部材として、前記入射されたレーザ
光を多重反射する反射ミラーのみが存在す ることを特徴
とする光学吸収セル。 - 【請求項2】請求項1記載の光学吸収セルにおいて、 前記投光部のレーザ光出射部と前記試料セル部のレーザ
光入射部とを直接連結させるシール構造内に前記コリメ
ートレンズを配設するようにしたことを特徴とする光学
吸収セル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19942896A JP3190260B2 (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 光学吸収セル |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19942896A JP3190260B2 (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 光学吸収セル |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1038794A JPH1038794A (ja) | 1998-02-13 |
JP3190260B2 true JP3190260B2 (ja) | 2001-07-23 |
Family
ID=16407657
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19942896A Expired - Fee Related JP3190260B2 (ja) | 1996-07-29 | 1996-07-29 | 光学吸収セル |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3190260B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008070314A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Anritsu Corp | ガス検出装置 |
ATE551761T1 (de) * | 2010-03-03 | 2012-04-15 | Axetris Ag | Laserdiodenaufbau mit reduziertem rauschen |
CN105424649B (zh) * | 2015-12-04 | 2019-06-04 | 北京大方科技有限责任公司 | 一种气室结构、气体检测箱及气体检测系统 |
CN106198452B (zh) * | 2016-08-09 | 2023-06-16 | 上海禾赛科技有限公司 | 基于光谱技术的气体分析装置及方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03209150A (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-12 | Sanyo Electric Co Ltd | 赤外線式ガスセンサー |
JP3126759B2 (ja) * | 1991-08-20 | 2001-01-22 | 日本碍子株式会社 | 光学式分析装置 |
JP3059262B2 (ja) * | 1991-10-08 | 2000-07-04 | 日本酸素株式会社 | ガス中の微量水分分析装置 |
JPH06281559A (ja) * | 1993-03-25 | 1994-10-07 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 微粒子検出器の光軸調整機構 |
-
1996
- 1996-07-29 JP JP19942896A patent/JP3190260B2/ja not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
W.F.X.Frank、「Nitrogen Purged Liquid/Solid Infrared Transmission Cell」、IBM Technical Disclosure Bulletin、1981、Vol.24、No.2、第996頁 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH1038794A (ja) | 1998-02-13 |
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---|---|---|---|
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