JP3169359U - 分光放射照度計 - Google Patents
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Abstract
Description
従来の放射照度計は波長選択用フィルタと受光素子と増幅器とからなる受光器とA/D変換器と放射照度校正回路と、放射照度表示部と、データ記憶回路と、電源部からなっており、入射光を電気信号に変換し、デジタル信号化し、得られた値を補正して放射照度を表示していた。(特許文献1)
Institute of Standards and Technology)などにトレーサブルな分光放射照度計を用いて、放射照度計を校正していた。また、分光分布の異なる光を測定する場合や異なる波長範囲を測定する場合には、その条件に合致した波長選択用フィルタを搭載した放射照度計で測定していた。
そこで、複数の光源用フィルタと複数の放射照度校正回路と選択スイッチとを設けて、測定する光の分光分布に対応して選択スイッチを切り換えることで、一台で試験条件に対応した放射照度を測定する放射照度計が開発されている。(特許文献2)
また、常に光源の光の分光放射照度分布が正確であるか確認することができるため、より正確な耐候試験が可能となる。
キセノンアークランプ(20)から放射された光が#275フィルタ(13)を介して分光放射照度計(12)に入射する。図2は本考案の分光放射照度計の構成を示したものである。入射光を均一に分散させるために表面を梨地状に処理した石英製の拡散板(1)を通過した光は、回折格子(2)により分光され、回折により生じる2次光等の迷光を除去するために設けられた波長選択フィルタ(3)を透過し、波長に応じた複数の受光チャンネルを持つ受光素子(4)で波長ごとに電気信号に変換され、電気信号は増幅器(5)で増幅されてから、A/D変換器(6)でデジタル信号となり、選択スイッチ(8)の切り換えで、所定の分光放射照度校正回路に導かれる。図2においては校正回路Aが選択されている。
2 回折格子
3 波長選択フィルタ
4 受光素子
5 増幅器
6 A/D変換器
7 放射照度校正回路
8 選択スイッチ
9 演算回路
10 データ記憶回路
11 表示部
12 分光放射照度計
13 光源用フィルタ
14 ブラックパネル温度計
15 試料ホルダー
16 試験槽
17 試料
18 温度計
19 湿度計
20 キセノンアークランプ
Claims (4)
- 拡散板と、回折格子と、波長選択フィルタと、受光素子と、増幅器と、A/D変換器と、演算回路と、データ記憶回路とからなる耐候試験機用の分光放射照度計において、前記A/D変換器と前記演算回路との間に、各試験条件の光に対応した複数の分光放射照度校正回路と前記各試験条件の光に対応した複数の選択スイッチとを設け、
試験条件で設定された光に対応した前記選択スイッチと前記分光放射照度校正回路とを連結させ、
分光分布の異なる光の放射照度を測定することを特徴とする分光放射照度計。 - 予め各試験条件の光の分光放射照度の相対比率を記憶し、測定した光の分光放射照度分布と設定された試験条件の光の分光放射照度分布とを比較する機能を有することを特徴とする請求項1に記載の分光放射照度計。
- 前記演算回路で測定した光の分光放射照度から特定の波長範囲の放射照度の値を演算により求め、
表示部で演算によって求められた放射照度の値を表示することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の分光放射照度計。 - 前記演算回路で測定した光の分光放射照度から複数の波長範囲を設定し、複数の波長範囲毎に放射照度の値を演算によって求め、
前記表示部で演算によって求められた複数の波長範囲の放射照度の値を表示することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の分光放射照度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2011002673U JP3169359U (ja) | 2011-05-16 | 2011-05-16 | 分光放射照度計 |
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JP2011002673U JP3169359U (ja) | 2011-05-16 | 2011-05-16 | 分光放射照度計 |
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JP3169359U true JP3169359U (ja) | 2011-07-28 |
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JP2011002673U Expired - Lifetime JP3169359U (ja) | 2011-05-16 | 2011-05-16 | 分光放射照度計 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019174363A (ja) * | 2018-03-29 | 2019-10-10 | スガ試験機株式会社 | 耐候性試験機 |
WO2020217284A1 (ja) * | 2019-04-22 | 2020-10-29 | スガ試験機株式会社 | 耐候性試験機 |
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2011
- 2011-05-16 JP JP2011002673U patent/JP3169359U/ja not_active Expired - Lifetime
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