JP2013108843A - 分光放射計の校正法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】校正対象とした直達分光放射計と比較基準とした直達日射計を用いて直達太陽光を同時測定し、同時に、サンフォトメーター、マイクロ放射計など測定装置を用いて、大気状態を測定する。そして、大気モデルを利用して、測定場所で実測した気象データを用いて、大気圏外から大気を通して測定場所に到達するまでの直達太陽スペクトルを精度よく計算する。また、そのスペクトルの積分値、つまり直達日射照度を求めて、直達日射計の測定値と比べて、精度のよいスペクトルを選ぶ。そのスペクトルを仲介として、分光放射計を校正する。
【選択図】図1
Description
分光放射計の校正とは、光源の分光放射照度S(λ)を既知とし、その光源を測定した分光放射計の出力をE(λ)とし、D(λ)=S(λ)/E(λ)を求めることである。通常、D(λ)は波長λの関数で、校正値という。
この他、分光器に迷光が存在している。広帯域分光放射計において、迷光の影響で、異なる形状のスペクトルを測定するとき、異なる誤差が生じる。3200Kの放射温度を持つ標準電球と5700Kの放射温度を持つ太陽のスペクトルが大きく違う。このため、それぞれの測定誤差が生じて、誤差の相殺ができない。特に、短波長範囲に、迷光による測定誤差が−30%を超えた場合がある。その誤差を取り除くには、様々な工夫がされているが、分光器の構造も複雑になり、また、高価な測定設備と複雑なデータ処理手法が必要である。一方、イメージセンサーにおける非線形誤差も無視できない。非線形誤差は入射光強度に依存して、場合によって±5%程度に達する。上記の迷光の影響のように、異なるスペクトルの測定による非線形誤差の相殺ができない。その誤差を取り除くには、同様、高価な測定設備と面倒な補正処理が必要である。更に、迷光誤差や非線形誤差が分光器個体によって異なり、これらの誤差を一台ずつ対処する必要がある。このため、一般的な分光放射計メーカは対応しにくい。
ln[I(λ)]=ln[I0(λ)]+mT(λ)
ここで、λは波長、I0(λ)は大気圏外の太陽光分光放射照度、I(λ)は観測場所における太陽光分光放射照度、mはエアマス(大気の厚さを表し、地上から天頂まで鉛直の方向はmが1であり、大気圏外はmが0である)、T(λ)は大気の透過率である。
一旦、大気が安定している状態になると、各波長において、T(λ)は定数となり、ln[I(λ)]とmは線形関係になる。この場合は、まず、実測値によって各波長における線形関数を求める。次に、これらの関数を利用してmが0になる時のln[I(λ)]を求めて、つまり、大気圏外での装置の測定値を求める。求めた大気圏外測定値と大気圏外の太陽光分光放射照度と比べて、装置の校正ができる。この校正方法は、Langley Method(ラングレー法)と言う。通常、この方法を用いて、基準分光放射計を獲得し、それを基準にして、他の分光放射計を校正する。
しかし、ラングレー法を利用するには、安定的な大気状態が必要である。このため、通常、校正は標高が三千メートル以上の山で、かつ適切な季節(例えば、秋、冬)に行う。世界中、この条件を満たす測定場所は、アメリカ−ハワイのMauna Loa、スイスのJungfraujochなど数箇所しかない。このため、世界各地から測定場所まで装置を運んで、コストが掛かるだけではなく、被校正装置の台数や校正時期も限定されている。
人工衛星、宇宙ステーションなどの大気圏外で直接測定した太陽スペクトルを予め得るステップと、
快晴かつ安定的な気象条件の地上付近を測定場所として、校正対象とした被校正直達分光放射計と比較基準とした直達日射計を用いて直達太陽光を同時測定するとともに、同時に、サンフォトメーター、マイクロ放射計など測定装置を用いて、大気中のエアロゾルによる光学的厚さ、可降水蒸気量、前記測定場所の気温などの大気状態を測定し、さらに、測定日における大気状態の鉛直分布およびオゾン全量を測定するステップと、
前記大気圏外で直接測定した太陽スペクトルから、前記測定場所において測定した大気状態の実測値を用いて、大気圏外から大気を通して測定場所に到達するまでの直達太陽スペクトルを計算するステップと、
前記計算で得られた直達太陽スペクトルの全波長域の積分値を計算して、その結果を前記直達日射計の同時測定値、つまり、直達太陽スペクトルの全波長域積分値の測定値と比較し、両積分値の差が一定誤差範囲を満たしたスペクトルを前記計算で得られた直達太陽スペクトルの中から選んで仲介とするステップと、
前記仲介とするスペクトルと、被校正直達分光放射計で測定した直達太陽スペクトルを比較することにより被校正直達分光放射計を校正するステップからなることを特徴とする。
その他、本発明の校正法を用いて、分光放射計における分光放射照度絶対値の校正だけではなく、波長の精密校正も可能である。また、迷光誤差や非線形誤差、全天測定用分光放射計の入射角特性など分光放射計の性能を評価するには、この方法も期待されている。
このような校正法が実現できる理由は、まず、太陽の分光放射照度は標準電球より大変安定していること。
次に、近年、人工衛星及び宇宙ステーションで大気圏外の太陽スペクトルを直接測定することができ、精度のよい太陽スペクトルを得られること。
更に、分光放射計の校正用光源と測定対象が同じく(太陽)、分光器の迷光による測定誤差及びイメージセンサーにおける非線形誤差が相殺でき、誤差が大幅に低減できること、が挙げられる。
上記の手段で、標準電球校正法による問題の解決が可能であるが、条件としては大気中の各成分の変動による測定誤差を低減する必要がある。この問題を解決するには、ラングレー法の利用が可能であるが、この方法は測定場所と測定時期に限定されて、かつ、長時間で大気の安定状態が必要である。これらの使用条件を緩和するために、ラングレー法の変わりに、新しい方法を導入する。
具体的には、高い山の変わりに地上付近を測定場所とし、校正対象とした直達分光放射計と比較基準とした直達日射計を用いて直達太陽光を同時測定する。同時に、サンフォトメーター、マイクロ放射計など測定装置を用いて、大気状態を測定する。そして、大気モデルを利用して、測定場所で実測した気象データを用いて、大気圏外から大気を通して測定場所に到達するまでの直達太陽スペクトルを精度よく計算する。また、そのスペクトルの積分値、つまり直達日射照度を求めて、直達日射計の測定値と比べて、精度のよいスペクトルを選ぶ。そのスペクトルを仲介(中間標準)として、分光放射計を校正する。
この方法は、標準電球校正法とラングレー法における問題点を解決でき、結果として、連続波長の測定する分光放射計の校正精度は、ラングレー法で校正したサンフォトメーターと同程度の校正精度になった。更に、測定場所を気象観測サイトに近づけ、既存気象観測サイトの測定値を利用でき、その有効利用によって、測定の信頼性が高くなり、校正コストを大幅に削減できる。
まず、既存の全天分光放射計を直達分光放射計に改造し、これによって、装置入射口の全角視野が180°から5°までに絞った。その後、2010年12月から2011年2月にかけて、校正対象とした直達分光放射計を太陽追尾装置に乗せて太陽スペクトルを測定した。観測実験は独立行政法人産業技術総合研究所の構内で行った。同時に、隣接した気象庁気象研究所の構内で大気状態の測定を行った。そして、大気状態の実測値に基づいて、測定場所における直達太陽スペクトルを計算した。その積分値は同時に測定した直達日射計の実測値と比べて、その基準とした実測値により誤差が約±1%以内に収まった。この±1%誤差は直達日射計の測定誤差範囲でもある。例をとして、図3は、2010年12月10日における計算した直達太陽スペクトルの積分値対直達日射計の測定値の比を示している。この図から、大気状態の変動にも関わらず、長い時間に亘って計算値対測定値の比が±1%の中に保つことが分かった。また、図4は図3に示した比を一つ選んで、その比を計算する元となった直達太陽スペクトルと被校正対象である直達分光放射計の測定値の比較を示している。この図から、標準電球で校正された直達分光放射計の測定値は計算値より低いことが分かった。更に、図5は、図4に示した直達太陽スペクトルの計算値対直達分光放射計の測定値の比を示している。この図には、計算値対測定値の比が波長に依存する。短波長範囲にその比が1.2を超えた。長波長範囲にその比が約1.1であった。そして、この計算値によって分光放射計を校正した。検証実験は良い結果が得られた。
Claims (1)
- 人工衛星、宇宙ステーションなどの大気圏外で直接測定した太陽スペクトルを予め得るステップと、
快晴かつ安定的な気象条件の地上付近を測定場所として、校正対象とした被校正直達分光放射計と比較基準とした直達日射計を用いて直達太陽光を同時測定するとともに、同時に、サンフォトメーター、マイクロ放射計など測定装置を用いて、大気中のエアロゾルによる光学的厚さ、可降水蒸気量、前記測定場所の気温などの大気状態を測定し、さらに、測定日における大気状態の鉛直分布およびオゾン全量を測定するステップと、
前記大気圏外で直接測定した太陽スペクトルから、前記測定場所において測定した大気状態の実測値を用いて、大気圏外から大気を通して測定場所に到達するまでの直達太陽スペクトルを計算するステップと、
前記計算で得られた直達太陽スペクトルの全波長域の積分値を計算して、その結果を前記直達日射計の同時測定値、つまり、直達太陽スペクトルの全波長域積分値の測定値と比較し、両積分値の差が一定誤差範囲を満たしたスペクトルを前記計算で得られた直達太陽スペクトルの中から選んで仲介とするステップと、
前記仲介とするスペクトルと、被校正直達分光放射計で測定した直達太陽スペクトルを比較することにより被校正直達分光放射計を校正するステップ、
からなる分光放射計の校正法。
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