KR102547383B1 - 정밀 필터 복사계 시스템 및 정밀 필터 복사계의 교정 방법 - Google Patents

정밀 필터 복사계 시스템 및 정밀 필터 복사계의 교정 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 일 실시예는, 직달 일사량을 전압 값으로 측정하는 정밀 필터 복사계의 교정 방법에 있어서, 시간에 따라, 복수개의 파장에 대한 상기 전압 값인 관측 데이터를 획득하는 단계, 상기 관측 데이터에서 상기 복수개의 파장들의 AOD(Aerosol Optical Depth) 파장간 의존도를 기초하여 제1 유효 데이터를 선별하는 단계, 상기 제1 유효 데이터를 각 파장별로 회귀 분석하여 제2 유효 데이터를 선별하는 단계 및 상기 제2 유효 데이터를 평균화하여 상기 정밀 필터 복사계의 교정 계수를 산출하는 단계를 포함하는 정밀 필터 복사계의 교정 방법을 제공한다.

Description

정밀 필터 복사계 시스템 및 정밀 필터 복사계의 교정 방법{Precision filter radiometer system and calibration method thereof}
본 발명의 실시예는 정밀 필터 복사계 시스템 및 정밀 필터 복사계의 교정 방법에 관한 것이다.
에어로졸은 공기 중에 부유하는 고체 또는 액체 상태의 작은 입자로써, 수 나노미터(nm)부터 수십 마이크로미터(μm)의 크기로 이루어져 있다. 에어로졸은 인위적 또는 자연적인 요인들로 인해 생성되며, 에어로졸의 주된 배출원으로는 화석연료의 연소, 화산활동, 해염입자, 사막에서 발생되는 황사먼지 등이 있다.
에어로졸은 대기질 및 기후변화에 직접적으로 연관된 중요한 지구대기감시 요소이다. 구체적으로, 대기 중에 존재하는 에어로졸은 태양 및 지구복사를 흡수 또는 산란시켜 지구의 기후변화에 직접적으로 영향을 미치게 된다. 뿐만 아니라, 에어로졸은 구름의 생성 및 강수와 관련된 과정에 관여함으로써 기후변화의 간접적인 효과도 야기한다.
또한, 에어로졸은 호흡을 통하여 인체 내로 흡입되어 건강에 악영향을 끼칠 수 있으며, 산업활동에 피해를 일으켜 경제적인 손실을 야기할 수 있다. 이처럼 에어로졸은 기후적 효과 이외에도 인간의 활동의 전반에 영향을 미치고 있으며, 이러한 에어로졸 관측의 중요도가 제고되어 에어로졸의 발생 및 이동 경로에 대한 연구가 활발히 수행되고 있다.
한편, 에어로졸 광학깊이(Aerosol Optical Depth, AOD)는 태양광이 대기층의 최상층에서부터 관측지점(장비)까지 도달하는 동안 에어로졸에 의해 감쇄되는 정도를 나타내는 것으로, 에어로졸에 의한 가시광선과 적외선 영역의 빛의 산란 및 흡수의 영향을 지수로 나타낸 것이다. 에어로졸 광학깊이는 관측기기에 태양광 스펙트럼을 투과하여 특정 파장을 관측함으로써 측정된다.
에어로졸 광학깊이를 관측하는 방법은 크게 위성관측 및 지상관측으로 나눌 수 있다. 위성관측의 경우 광범위한 영역을 동시에 관측함으로써 에어로졸의 시공간적 변동성을 연속적으로 감시할 수 있는 장점이 있으나, 정확도 유지를 위한 교정작업의 어려움으로 인해 관측 자료 신뢰도가 다소 낮아지는 문제점이 있으며, 안정된 시스템을 구축하기까지 시간과 비용이 많이 소요된다. 지상관측은 관측지점의 AOD 변동성을 실시간으로 관측할 수 있고, 관측장비 센서의 유지 및 보수가 수월하여 정확도 유지를 위한 교정작업의 시간과 비용이 비교적 적게 들어가는 장점이 있어 널리 이용되고 있다. 또한, 지상관측자료는 위성관측을 통한 관측 자료의 검증에도 활용되고 있어 중요도가 높다.
지상관측에서는 썬포토미터(Sunphotometer), 스카이라디오미터(Skyradiometer), 차등흡수분광기술(DOAS) 등의 다양한 관측기기를 이용하여 좁은 파장대의 직달 일사량을 관측함으로써 에어로졸 광학깊이를 산출할 수 있다. 직달 일사량을 측정하는 관측기기 중 하나인 정밀 필터 복사계(Precision Filter Radiometer)는 4개의 파장대에서 직달 일사량을 측정할 수 있도록 고안되었다. 정밀 필터 복사계는 직달 일사량을 실시간으로 관측하여 관측 자료의 품질을 높이고 신뢰성 있는 관측을 할 수 있어, 현재 여러 관측소에 도입되어 운영되고 있다.
하지만, 정밀 필터 복사계는 시간이 지남에 따라 관측 센서의 노후화가 진행되어 감도 감쇄가 발생하며, 온도차, 염분 등의 요인으로 측정 값의 감쇄가 일어나게 된다. 따라서 정밀 필터 복사계는 정확한 관측 자료를 획득하기 위하여 주기적인 장비의 교정 작업이 필요하다. 그러나, 종래의 정밀 필터 복사계는 교정 작업 시 제작사의 교정 센터로 장비를 이동시켜 교정함으로써 3개월 내지 6개월의 장시간이 소요되고 비용이 많이 드는 문제점이 있었다.
본 발명은 정밀 필터 복사계의 자체 교정이 가능한 교정 방법 및 교정 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
그러나 이러한 과제는 예시적인 것으로, 이에 의해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 일 실시예는, 직달 일사량을 전압 값으로 측정하는 정밀 필터 복사계의 교정 방법에 있어서, 시간에 따라, 복수개의 파장에 대한 상기 전압 값인 관측 데이터를 획득하는 단계, 상기 관측 데이터에서 상기 복수개의 파장들의 AOD 파장간 의존도를 기초하여 제1 유효 데이터를 선별하는 단계, 상기 제1 유효 데이터를 각 파장별로 회귀 분석하여 제2 유효 데이터를 선별하는 단계 및 상기 제2 유효 데이터를 평균화하여 상기 정밀 필터 복사계의 교정 계수를 산출하는 단계를 포함하는 정밀 필터 복사계의 교정 방법을 제공한다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 산출된 상기 교정 계수를 상기 정밀 필터 복사계에 적용하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 유효 데이터를 선별하는 단계는, 상기 관측 데이터를 이용하여, 측정 시간별로 파장에 따른 AOD 값을 생성하는 단계, 측정 시간별로 상기 파장에 따른 AOD 값을 회귀 분석하는 단계 및 AOD 파장간 의존도가 제1 기준을 만족하는 경우 이전 관측 데이터를 상기 제1 유효 데이터로 선별하는 단계를 구비할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 기준은 상기 관측 데이터를 기초로 회귀 분석된 함수의 결정 계수(R2)가 0.90 이하인 것일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 유효 데이터를 선별하는 단계는, 상기 제1 유효 데이터를 파장 별로 회귀 분석하는 단계 및 회귀 분석된 함수의 직선성을 기초로, 파장 별로 제2 기준을 만족하는 제2 유효 데이터를 선별하는 단계를 구비할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 유효 데이터를 파장 별로 회귀 분석하는 단계는 상기 제1 유효 데이터를 1일 기준으로 오전과 오후로 구분하여 파장 별로 회귀 분석할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 기준은 상기 제1 유효 데이터를 기초로 회귀 분석된 함수의 결정 계수(R2)가 0.99 이상인 것일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 교정 계수를 산출하는 단계는 복수 일자에 대한 상기 제2 유효 데이터를 기초로 복수 개의 산출 계수를 획득하는 단계 및 상기 산출 계수를 평균화하여 각 파장 별 교정 계수를 획득하는 단계를 구비할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예는, 직달 일사량을 전압 값으로 측정하는 관측 장치 및 상기 관측 장치의 교정 계수를 산출하는 교정 장치를 포함하고, 상기 교정 장치는 상기 관측 장치에서 복수개의 파장에 대한 상기 전압 값인 관측 데이터를 전달 받고, 상기 관측 데이터에서 상기 복수개의 파장들의 에어로졸 광학깊이 (Aerosol Optical Depth) 파장간 의존도를 기초하여 제1 유효 데이터를 선별하고, 상기 제1 유효 데이터를 각 파장별로 회귀 분석하여 제2 유효 데이터를 선별하고, 상기 제2 유효 데이터를 평균화하여 상기 관측 장치의 교정 계수를 산출하는 정밀 필터 복사계 시스템을 제공할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 있어서, 상기 교정 장치에서 산출된 상기 교정 계수를 적용하고, 에어로졸 광학깊이를 관측할 수 있다.
전술한 것 외의 다른 측면, 특징, 이점이 이하의 도면, 특허청구범위 및 발명의 상세한 설명으로부터 명확해질 것이다.
전술한 본 발명의 과제 해결 수단에 의하면, 본 발명의 실시예들은 정밀 필터 복사계의 자체 교정이 가능하도록 함으로써 더욱 정확한 관측 결과를 제공하도록 할 수 있으며, 장비의 교정에 소요되는 시간 및 비용을 절감할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들은 정밀 필터 복사계의 교정 작업에 소요되는 시간 및 비용의 부담을 줄여 필요한 경우마다 교정 작업을 수행할 수 있어 사용자의 편의를 도모할 수 있으며, 관측 결과의 정확도 및 신뢰도를 향상시킬 수 있다
물론 이러한 효과에 의해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 정밀 필터 복사계 시스템을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 관측 장치의 관측 값으로부터 에어로졸 광학깊이를 산출하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 정밀 필터 복사계의 교정 방법을 흐름도로 나타낸 도면이다.
도 4는 관측 데이터로부터 제1 유효 데이터를 선별하는 과정을 도시한 흐름도이다.
도 5는 AOD 파장간 의존도를 설명하기 위한 도면으로 각 시간 및 파장에 따른 AOD 값을 나타낸 그래프이다.
도 6은 제1 유효 데이터로부터 제2 유효 데이터를 선별하는 과정을 도시한 흐름도이다.
도 7은 제1 유효 데이터에서 오전 및 오후 데이터를 구분하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 제1 유효 데이터를 파장 별로 회귀 분석하는 단계를 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 제2 유효 데이터를 선별하는 단계를 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 제2 유효 데이터로부터 정밀 필터 복사계의 교정 계수를 산출하는 과정을 도시한 흐름도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 이하의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 도면을 참조하여 설명할 때 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
본 실시예들은 다양한 변환을 가할 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 본 실시예들의 효과 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 내용들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 실시예들은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 다양한 형태로 구현될 수 있다.
도면에서는 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
이하의 실시예에서 제1, 제2 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용되었다.
이하의 실시예에서 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
이하의 실시예에서 포함하다 또는 가지다 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 또는 구성요소가 존재함을 의미하는 것이고, 하나 이상의 다른 특징들 또는 구성요소가 부가될 가능성을 미리 배제하는 것은 아니다.
이하의 실시예에서 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다.
어떤 실시 예가 달리 구현 가능한 경우에 특정한 공정 순서는 설명되는 순서와 다르게 수행될 수도 있다. 예를 들어, 연속하여 설명되는 두 공정이 실질적으로 동시에 수행될 수도 있고, 설명되는 순서와 반대의 순서로 진행될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 정밀 필터 복사계 시스템(10)을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 정밀 필터 복사계 시스템(10)은 관측 장치(100) 및 교정 장치(200)를 포함할 수 있다. 관측 장치(100) 및 교정 장치(200)는 서로 네트워크로 연결되어 데이터를 송수신할 수 있다. 관측 장치(100) 및 교정 장치(200)는 1대1로 매칭되어 동작될 수 있으나, 이에 한정되지 않고, n대 1의 관계가 가능하다. 즉, n대의 관측 장치(100)에 1대의 교정 장치(200)가 연결되어 구현될 수 있고, 1대의 관측 장치(100)에 n대의 교정 장치(200)가 연결되어 구현될 수 있다. 뿐만 아니라 관측 장치(100) 및 교정 장치(200)는 별도의 서버(미도시)와 통신하여 데이터를 주고받을 수 있다.
관측 장치(100)는 지표면에 도달하는 태양의 직달 일사량을 관측하여 측정 값으로 제공할 수 있다. 구체적으로, 관측 장치(100)는 적어도 하나의 센서를 구비하여 태양의 직달 일사량의 측정 값을 획득하고, 이를 교정 장치(200)에 전송할 수 있다. 관측 장치(100)에서 교정 장치(200)로 전송되는 직달 일사량의 측정 값은 전압 값의 형태로 제공될 수 있다.
관측 장치(100)가 측정하는 태양의 직달 일사량은 파장별 직달 일사량일 수 있다. 예를 들어, 관측 장치(100)는 4개의 파장대(예: 862nm, 500nm, 412nm, 368nm)에서 관측되는 직달 일사량을 각각 측정할 수 있다.
관측 장치(100)는 4개의 파장대에서 관측되는 직달 일사량을 실시간으로 자동 관측하는 정밀 필터 복사계(Precision Filter Radiometer)를 포함할 수 있다. 이하에서는 설명의 편의를 위하여 관측 장치(100)가 정밀 필터 복사계로 구성된 경우의 실시예를 중심으로 설명한다.
관측 장치(100)는 기 설정된 시간 단위로 측정 값을 획득할 수 있다. 예를 들어, 관측 장치(100)는 1분동안 태양의 직달 일사량을 관측하여 1분 주기로 측정 값을 획득할 수 있다.
또한 관측 장치(100)는 획득한 측정 값을 실시간으로 교정 장치(200)로 전송할 수 있다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 관측 장치(100)는 메모리부를 포함하여 메모리부에 측정 값을 저장한 후, 저장된 측정 값을 기 설정된 시간 단위로 교정 장치(200)에 전송할 수도 있다. 전압 값으로 측정된 직달 일사량에 대한 정보는 측정 파장 및 관측 시간으로 레이블링되어 교정 장치(200)로 전송될 수 있으며, 관측 데이터를 구성할 수 있다.
관측 장치(100)의 측정 값은 에어로졸 광학깊이(Aerosol Optical Depth, AOD)의 산출에 이용될 수 있다. 즉, 관측 장치(100)가 측정한 태양의 직달 일사량을 바탕으로 각 파장별, 시간별 에어로졸 광학깊이(AOD)를 산출할 수 있으며, 이를 통해 대기 중에 존재하는 에어로졸과 관련된 정보를 획득할 수 있다.
도 2는 관측 장치(100)의 관측 값으로부터 에어로졸 광학깊이(AOD)를 산출하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 2를 참조하면, 관측 장치(100)는 지표면(surface, SFC) 상에 설치되어 태양의 직달 일사량(F)을 측정할 수 있다. 정밀 필터 복사계로 구성된 관측 장치(100)의 관측 값인 직달 일사량(F)은 대기 상단(Top of Atmosphere, TOA)에 입사되는 태양광(F0)이 대기 층을 통과하면서 에어로졸, 오존 및 Rayleigh 산란에 의해 감쇄된 후 관측된 값이다. 이때, 감쇄되는 태양광 dF0는 수학식 1로 표현될 수 있다.
Figure 112022104871661-pat00001
여기서, σ는 감쇄계수를 의미하며, ds는 태양광이 통과하는 대기 층의 길이에 해당한다. 태양의 천정각을 θ라 하고, 대기 층의 경로 길이를 dz라고 할 때, 직달 일사량 F와 대기 상단(TOA)의 태양광 F0는 수학식 2를 만족한다.
Figure 112022104871661-pat00002
여기서, τ는 총 광학깊이로, 에어로졸 광학깊이(τ1), 레일리 산란(Rayleigh scattering)에 의한 광학깊이(τ2), 오존의 흡수에 의한 광학깊이(τ3)의 합에 해당하며, m은 에어 매스(Air mass)로 대기 층의 최단 경로(dz)에 대한 태양광이 통과하는 대기층의 길이(ds)를 나타내며, 총 광학깊이 및 에어 매스는 수학식 3으로 표현된다.
Figure 112022104871661-pat00003
Figure 112022104871661-pat00004
따라서, 에어로졸이 차지하는 광학적 깊이(τ1)는 총 광학깊이(τ)에서 레일리 산란에 의한 광학깊이(τ2) 및 오존에 의한 광학깊이(τ3)를 제거함으로써 얻어질 수 있다.
수학식 2를 살펴보면, 직달 일사량(F)의 자연 로그 값과 및 에어 매스(m)는 선형 관계를 만족하는 것을 알 수 있다. 에어 매스(m)에 대한 직달 일사량(F)의 자연 로그 값을 직선 방정식으로 나타내면, 총 광학깊이는 직선의 기울기 값에 해당한다.
따라서, 수학식 2 및 수학식 3을 이용하면, 정밀 필터 복사계의 직달 일사량 관측 값으로부터 총 광학깊이를 산출할 수 있으며, 최종적으로 AOD를 산출할 수 있게 된다. 관측 값을 이용하여 에어로졸 광학깊이를 산출하는 것은 교정 장치(200)에 저장된 적어도 하나의 프로그램에 의하여 수행될 수 있다.
한편, 수학식 2 및 수학식 3을 통하여 산출되는 에어로졸 광학깊이(AOD)는 대기 상단(TOA)의 태양광(F0) 및 정밀 필터 복사계에서 관측되는 직달 일사량(F)의 편차를 이용하여 산출되는 것이다. 따라서, 정밀 필터 복사계로 직달 일사량(F)을 측정하여 에어로졸 광학깊이(AOD)를 산출하는 경우, 직달 일사량(F)에 대응되는 대기 상단(TOA)의 태양광(F0)에 해당하는 교정 계수가 필요하다.
종래에는 대기 상단(TOA)의 태양광(F0)에 해당하는 교정 계수를 결정하기 위하여, 제작사 교정센터(위치: 스위스 다보스)에서 정밀 필터 복사계로 관측하여 산출된 교정 계수를 전달받아 이용하였다. 그러나 종래의 교정 방법은 스위스로 정밀 필터 복사계를 이동하여 관측 데이터를 이용하여 태양광(F0) 교정값을 측정하게 되므로 시간과 비용이 많이 소요되는 문제점이 있었으며, 정밀 필터 복사계의 교정시 관측의 긴 공백이 발생하는 문제점이 있었다.
본 발명의 실시예들은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 정밀 필터 복사계를 교정센터로 이동시키지 않고, 기존의 데이터를 활용하여 자체적으로 정밀 필터 복사계의 교정 계수를 산출하는 교정 방법 및 시스템을 제공한다. 따라서 본 발명의 교정 방법에 의하여 산출된 교정 계수를 이용하면, 교정에 소요되는 시간 및 비용을 크게 절감할 수 있으며, 사용자가 용이하게 정밀 필터 복사계를 자체 교정할 수 있음으로써 교정이 필요하다고 판단된 경우 즉시 교정이 가능하여 데이터의 정확도 및 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
다시 도 1을 참조하면, 관측 장치(100)는 교정 장치(200)로 관측 값을 전송할 수 있으며, 교정 장치(200)는 관측 값들로 형성된 관측 데이터로부터 관측 장치(100)의 교정 계수를 산출할 수 있다. 구체적으로, 교정 장치(200)는 관측 장치(100)로부터 복수개의 파장에 대한 직달 일사량을 측정한 관측 값들을 전달받아 관측 데이터를 획득하고, 교정 계수를 산출하는 연산을 수행하여 관측 데이터로부터 관측 장치(100)의 자체 교정 계수를 산출할 수 있다.
교정 장치(200)는 통신부를 구비할 수 있으며, 관측 장치(100)와 통신하여 데이터를 주고받을 수 있다. 교정 장치(200)는 통신부를 통하여 관측 장치(100)로부터 관측 데이터를 수신할 수 있고, 관측 장치(100)로 교정 계수를 송신할 수 있다.
교정 장치(200)는 적어도 하나의 프로세서를 포함할 수 있으며, 이에 따라 교정 장치(200)는 범용 컴퓨터 시스템과 같은 하드웨어 장치에 포함된 형태로 구동될 수 있다. 여기서 프로세서는 예를 들어 프로그램 내에 포함된 코드 또는 명령으로 표현된 기능을 수행하기 위해 물리적으로 구조화된 회로를 갖는, 하드웨어에 내장된 데이터 처리 장치를 의미할 수 있다. 프로세서는 메모리와 같은 기록 장치에 저장된 프로그램 코드에 따라 수신되는 명령을 실행하도록 구성될 수 있다.
교정 장치(200)는 프로세서를 통하여 메모리에 저장된 프로그램들을 실행함으로써 관측 데이터를 선별, 분석, 연산할 수 있다. 일 실시예로, 교정 장치(200)는 관측 데이터에서 AOD 파장간 의존도를 기초하여 제1 유효 데이터를 선별할 수 있으며, 제1 유효 데이터를 각 파장별로 회귀 분석하여 제2 유효 데이터를 선별할 수 있고, 제2 유효 데이터를 평균화하여 관측 장치(100)의 교정 계수를 산출할 수 있다. 교정 장치(200)가 교정 계수를 산출하는 방법에 대한 상세한 설명은 도 3 이하에서 후술한다.
교정 장치(200)는 입출력 인터페이스를 구비할 수 있다. 예를 들어, 교정 장치(200)는 키보드 또는 마우스 등의 입력 장치 및 디스플레이 등의 출력 장치와의 인터페이스를 하기 위한 입출력 인터페이스를 구비할 수 있다. 교정 장치(200)는 입출력 인터페이스를 통하여 사용자에게 데이터를 제공할 수 있고, 사용자는 입출력 인터페이스를 통하여 교정 계수 산출에 사용되는 조건 등을 교정 장치(200)에 입력할 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 정밀 필터 복사계의 교정 방법을 흐름도로 나타낸 도면이다.
도 3을 참조하면, 정밀 필터 복사계의 교정 방법은 정밀 필터 복사계의 관측 데이터를 획득하는 단계(S10), AOD 파장간 의존도를 기초하여 제1 유효 데이터를 선별하는 단계(S20), 제1 유효 데이터를 파장별 회귀 분석하여 제2 유효 데이터를 선별하는 단계(S30), 제2 유효 데이터를 평균화하여 정밀 필터 복사계의 교정 계수를 산출하는 단계(S40) 및 산출된 교정 계수를 정밀 필터 복사계에 적용하는 단계(S50)를 포함한다.
정밀 필터 복사계의 관측 데이터를 획득하는 단계(S10)는 정밀 필터 복사계에서 측정된 측정 값을 교정 장치(200)로 전송하여 관측 데이터를 획득한다. 예컨대, 상기 측정 값은 정밀 필터 복사계가 복수개의 파장에 대한 태양의 직달 일사량을 1분 단위로 측정하여 생성하는 전압 값일 수 있다.
교정 장치(200)는 전압 값으로 측정된 직달 일사량에 대한 데이터를 전송받아 관측 데이터를 획득할 수 있다. 이때, 교정 장치(200)는 정밀 필터 복사계의 측정 값을 전송받은 후 파장별, 관측 시간별로 레이블링하여 관측 데이터를 생성할 수 있다. 또는 교정 장치(200)는 정밀 필터 복사계로부터 파장별, 관측 시간별로 레이블링된 관측 데이터를 전송받을 수 있다.
상기 관측 데이터는 정밀 필터 복사계가 태양을 연속적으로 측정한 직달 일사량에 대한 관측 값으로, 태양의 고도 및 시간에 따른 직달 일사량에 대한 정보를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 관측 데이터는 구름의 영향 및 야간 데이터를 제외한 관측 값일 수 있다. 구름이 존재하는 경우 에어로졸에 의한 신호와 구름에 의한 신호를 구분하기 어렵기 때문에, 적어도 하나의 프로그램을 이용하여 정밀 필터 복사계의 관측 값에서 구름의 영향을 받은 관측 값을 제거하여 관측 데이터를 생성할 수 있다. 관측 값에서 구름의 의한 영향을 제거하기 위한 프로그램으로는 공지의 프로그램이 모두 이용 가능하다. 또한, 관측 데이터는 정밀 필터 복사계에서 관측된 관측 값 중 크기가 매우 작아 무시 가능한 야간 데이터를 제거한 것일 수 있다. 다만, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 구름의 영향 및 야간 데이터를 제거하는 과정은 관측 데이터를 획득하는 단계 외에서 수행될 수도 있다.
관측 데이터를 획득한 후, 관측 데이터로부터 AOD 파장간 의존도를 기초하여 제1 유효 데이터를 선별한다(S20). 제1 유효 데이터를 선별하는 단계(S20)는 관측 데이터로부터 AOD 값을 계산하여 각 파장별 회귀분석을 실시한 후, AOD 파장간 의존도가 제1 기준을 만족하는 경우 이전 관측 데이터를 제1 유효 데이터로 선별한다. 이하에서 도 4 및 도 5를 참조하여 제1 유효 데이터를 선별하는 단계(S20)에 대해 상세히 설명한다.
도 4는 관측 데이터로부터 제1 유효 데이터를 선별하는 단계(S20)를 도시한 흐름도이다.
도 4를 참조하면, 제1 유효 데이터를 선별하는 단계(S20)는 관측 데이터를 이용하여 측정 시간별로 파장에 따른 AOD 값을 생성하는 단계(S21), 측정 시간별로 파장에 따른 AOD 값을 회귀 분석하는 단계(S22) 및 AOD 파장간 의존도가 제1 기준을 만족하는 경우 제1 유효 데이터를 선별하는 단계(S23)를 포함한다.
관측 데이터를 이용하여 측정 시간별로 파장에 따른 AOD 값을 생성하는 단계(S21)는 기 설정된 시간 단위로 측정된 측정 값으로 구성된 관측 데이터를 AOD 값으로 변환한 후 시간별, 파장별로 정렬한다. 여기서, 관측 데이터를 AOD 값으로 변환하는 연산은 기 설정된 교정 계수를 이용하여 수행될 수 있다.
예를 들어, 관측 데이터로부터 변환된 AOD 값은 시간 및 파장에 따라 정렬되어 표 1과 같이 표현될 수 있다.
time AOD(862nm) AOD(500nm) AOD(412nm) AOD(368nm)
T1 0.1875 0.4259 0.5467 0.6428
T2 0.1862 0.4231 0.5428 0.6374
T3 0.1855 0.4220 0.5419 0.6349
… … … … …
여기서, T1, T2, T3는 같은 날짜에 1분 간격으로 연속적으로 측정된 시간일 수 있다. 또는 T1, T2, T3는 야간 자료와 구름의 영향을 받은 데이터가 제거된 후 남은 데이터를 시간순으로 정렬한 것일 수 있다. 한편, AOD(862nm), AOD(500nm), AOD(412nm), AOD(368nm)는 정밀 필터 복사계가 측정한 862nm, 500nm, 412nm, 368nm 파장대의 관측 데이터를 기초로 변환된 AOD 값이다.
다음, 측정 시간별로 파장에 따른 AOD 값을 회귀 분석하는 단계(S22)는 변환된 AOD 값에 자연 로그를 취한 후, 측정 시간별로 회귀 분석을 한다. 이하에서 도 5를 참조하여 측정 시간별로 파장에 따른 AOD 값을 회귀 분석하는 방법에 대해 상세히 설명한다.
도 5는 AOD 파장간 의존도를 설명하기 위한 도면으로 각 시간 및 파장에 따른 AOD 값을 나타낸 그래프이다.
도 5를 참조하면, AOD의 자연 로그 값 ln(AOD)는 파장의 자연 로그 값에 대한 그래프로 표현될 수 있다. 즉, 도 5의 그래프의 x축은 파장의 자연 로그에 해당하며, y축은 ln(AOD)값에 해당한다. 도 5는 t1, t2, t3, t4의 측정 시간에 획득된 파장에 따른 ln(AOD) 값을 표시하였으며, 각 측정 시간별로 파장에 따른 ln(AOD)값을 회귀 분석한 추세선을 함께 표시하였다.
각 측정 시간별 ln(AOD) 값은 직선 그래프에 근사할 수 있으며, 회귀 분석을 이용하여 AOD 파장간 의존도를 산출할 수 있다. 일례로, 도 5에 도시된 바와 같이, 측정 시간이 t1일 때, 862nm, 500nm, 412nm, 368nm 파장의 ln(AOD) 값은 각각 -2.16784, -0.8866, -1.38465, -1.23494로 획득된다. 상기 4개의 ln(AOD) 값을 그래프로 나타낸 후 회귀 분석하면, y=-1.1014x+5.4386의 직선 그래프로 근사되고, 결정 계수(R2)는 0.58의 값으로 산출된다.
결정 계수(R2)는 두 입력 변수 간 회귀 직선을 구하였을 때 그래프 상의 점들이 회귀 직선 주위로 밀집해 있는 정도를 나타내는 것으로 1의 가까운 값을 가질수록 두 변수의 상관성이 높음을 나타낸다. 즉, 파장의 자연 로그 값 및 ln(AOD) 간의 회귀 직선을 구하였을 때의 결정 계수(R2)는 AOD 및 파장 간의 의존도(이하, AOD 파장간 의존도)를 나타낸다. 측정 시간별로 파장에 따른 ln(AOD) 값을 회귀 분석함으로써, 측정 시간별 AOD 파장간 의존도를 산출할 수 있다. 산출된 AOD 파장간 의존도는 제1 유효 데이터를 선별하는 참고 값이 될 수 있다.
다음, 산출된 AOD 파장간 의존도가 제1 기준을 만족하는 경우 제1 유효 데이터를 선별한다(S23). 여기서 제1 기준은 관측 데이터를 기초로 회귀 분석된 함수의 결정 계수(R2)가 0.90 이하인 것일 수 있다.
제1 기준은 파장 및 AOD 값의 상관성이 낮은 경우를 분류하는 기준일 수 있다. 관측 데이터를 바탕으로 산출된 AOD 파장간 의존도가 제1 기준을 만족하는지 여부를 판단함으로써 관측 장치(100)의 감도 감쇄가 일어나는 상태를 판단할 수 있다. 예를 들어, 특정 시간의 관측 데이터에서 산출된 AOD 파장간 의존도가 0.90 이하일 때, 관측 장치(100)에 포함된 파장 센서의 감도 감쇄가 발생하여 교정 작업이 필요한 것으로 판단할 수 있다. 이에 따라, 특정 시간의 AOD 파장간 의존도가 0.90이하인 경우, 상기 특정 시간 이전까지의 관측 데이터를 제1 유효 데이터로 선별하도록 제1 기준을 설정할 수 있다. 제1 유효 데이터의 선별시 AOD 파장간 의존도가 0.90 이하인 데이터를 제외하고, AOD 파장간 의존도가 0.90 이하인 데이터 이전의 관측 데이터를 제1 유효 데이터로 선별함으로써 관측 값의 신뢰도 구간(기간)을 확보할 수 있다.
한편, 일 실시예에서 제1 유효 데이터를 선별한 후 각 일자별로 분류하여 일일 데이터를 형성할 때, 맑은 날의 조건에 해당하는 제3 기준을 만족하는 데이터를 선별하는 단계가 더 포함될 수 있다. 예를 들어, 제3 기준은 각 파장의 일별 데이터 개수(N)가 120 이상인 것일 수 있다. 제3 기준을 만족하도록 일일 데이터를 형성함으로써, 회귀 분석의 정확성을 높일 수 있으며, 더욱 신뢰도가 높은 교정 계수를 획득할 수 있다.
도 6은 제1 유효 데이터로부터 제2 유효 데이터를 선별하는 단계(S30)를 도시한 흐름도이다.
도 6을 참조하면, 제2 유효 데이터를 선별하는 단계(S30)는 제1 유효 데이터를 파장 별로 회귀 분석하는 단계(S31) 및 파장 별로 제2 기준을 만족하는 제2 유효 데이터를 선별하는 단계(S32)를 포함한다.
제1 유효 데이터를 파장 별로 회귀 분석하는 단계(S31)는 제1 유효 데이터를 1일 기준으로 오전과 오후로 구분하여 파장 별로 회귀 분석한다.
제1 유효 데이터는 관측 데이터 중 AOD 파장간 의존도가 제1 기준을 만족하는 데이터를 선별한 것으로, 파장별, 시간별로 분류되어 있다. 이러한 제1 유효 데이터를 각 일자별로 분류하여 일일 데이터를 형성하고, 각 일일 데이터에서 오전 및 오후 데이터를 구분한다. 상기 일일 데이터는 각 날짜별 및 파장별 태양의 직달일사를 관측한 전압 값일 수 있다.
도 7은 제1 유효 데이터에서 오전 및 오후 데이터를 구분하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 7을 참조하면, 에어 매스(m)에 따른 관측 값의 자연 로그 값(lnV)을 그래프로 나타내면, 일일 데이터는 두 그룹으로 분류될 수 있다. 여기서 에어 매스는 태양의 천정각(θ)로 표현되는 값으로, 에어 매스에 대한 lnV의 그래프는 태양의 고도에 대한 직달 일사량에 대응되는 그래프이다.
하루동안 태양의 고도는 높아졌다가 낮아지게 되므로, 정밀 필터 복사계의 관측 값은 고도가 높아지는 동안의 관측 값과 고도가 낮아지는 동안의 관측 값의 두 그룹으로 분류되게 된다. 이때, 각 관측 값들을 직선으로 근사하였을 때, 기울기가 급변하는 데이터를 기준으로 일일 데이터를 오전 데이터 및 오후 데이터로 분류할 수 있다.
다음, 오전 데이터 및 오후 데이터로 분류된 제1 유효 데이터를 파장별로 회귀 분석을 실시한다.
도 8은 제1 유효 데이터를 파장 별로 회귀 분석하는 단계를 설명하기 위한 도면이다.
도 8을 참조하면, 오전과 오후로 구분된 제1 유효 데이터를 파장별로 회귀 분석하여 파장별 교정 계수를 산출할 수 있다. 각 파장마다 오전과 오후로 구분된 제1 유효 데이터는 직선 그래프로 근사할 수 있다. 이때, 직선 그래프의 y절편에 해당하는 값은 교정 계수의 자연 로그 값에 해당한다.
도 8(a)는 관측일 중 하루의 오전 데이터를 표시한 것이고, 도 8(b)는 같은 관측일의 오후 데이터를 표시한 것이다. 도 8(a)의 오전 데이터를 회귀 분석하면, 각 파장별 직선의 방정식으로부터 y절편 값을 획득할 수 있으며, 이를 통해 각 파장별 교정 계수를 산출할 수 있다. 산출된 교정 계수의 값은 862nm의 경우 2.6424, 500nm의 경우 2.9697, 412nm의 경우 2.4518, 368nm의 경우 2.9947이다. 이때 각 회귀 직선의 결정 계수(R2)는 862nm의 경우 0.9953, 500nm의 경우 0.9989, 412nm의 경우 0.9995, 368nm의 경우 0.9997로 산출된다.
도 8(b)의 오후 데이터 역시 같은 방법으로 각 파장별 교정 계수를 산출할 수 있다. 한편, 도 8(b)의 오후 데이터는 도 8(a)의 오전 데이터와 비교할 때, 데이터가 더 확산되어 분포되어 있다. 오후 데이터의 각 회귀 직선의 결정 계수(R2)를 구해보면, 862nm의 경우 0.9834, 500nm의 경우 0.9962, 412nm의 경우 0.9979, 368nm의 경우 0.9986으로 오전 데이터에 비해 결정 계수(R2)의 값이 1에서 멀어진 것을 알 수 있다.
오전 및 오후로 분류된 데이터를 이용하여 파장별로 회귀 분석을 할 때, 도 8(a)와 같이 편차가 적은 데이터를 선별하여 파장별 교정 계수를 산출하도록 하여, 교정 계수의 근사도를 향상시킬 수 있다. 이하에서 파장별 결정 계수(R2)를 이용하여 제2 유효 데이터를 선별하는 단계(S32)에 대해 상세히 설명한다.
도 9는 제2 유효 데이터를 선별하는 단계(S32)를 설명하기 위한 도면이다.
도 9를 참조하면, 각 날짜별 오전 및 오후로 구분된 데이터는 각 파장별로 회귀 분석을 이용하여 파장별 교정 계수를 산출할 수 있으며, 도 9의 왼쪽 표와 같이 산출될 수 있다. 도 9에 도시된 날짜는 AOD 파장간 의존도가 제1 기준을 만족하는 경우에 해당되는 날짜이다. 더욱이, 일별 데이터 개수가 제3 기준을 만족하는 경우를 선별한 날짜일 수 있다.
또한, 각 날짜별로 데이터가 적혀 있지 않은 칸은 제1 유효 데이터를 오전 데이터 및 오후 데이터로 분류하여 파장별로 회귀 분석하는 경우 회귀 직선의 결정 계수(R2)가 제2 기준을 만족하지 않는 데이터를 삭제한 것이다.
즉, 제2 유효 데이터를 선별하는 단계(S30)는 제1 유효 데이터에서 제2 기준을 만족하는 데이터만을 선별한다. 여기서, 제2 기준은 에어 매스와 직달 일사량의 상관성이 높은 경우를 분류하는 기준일 수 있다. 일 실시예로, 제2 조건은 제1 유효 데이터를 기초로 회귀 분석된 함수의 결정 계수(R2)가 0.99이상인 것일 수 있다.
도 9의 오른쪽에 도시된 바와 같이 파장별로 획득된 교정 계수에서 제2 기준을 만족하는 데이터만을 선별함으로써 제2 유효 데이터를 선별할 수 있다. 제2 유효 데이터는 관측 데이터에서 제1 기준, 제2 기준 및 제3 기준을 만족하는 데이터가 선별되어 산출된 파장별 교정 계수일 수 있다.
다음으로, 제2 유효 데이터를 이용하여 정밀 필터 복사계의 교정 계수를 산출한다.
도 10은 제2 유효 데이터로부터 정밀 필터 복사계의 교정 계수를 산출하는 과정을 도시한 흐름도이다.
도 10을 참조하면, 정밀 필터 복사계의 교정 계수를 산출하는 단계(S40)는 제2 유효 데이터를 평균화하여 정밀 필터 복사계의 교정 계수를 산출한다. 구체적으로 정밀 필터 복사계의 교정 계수를 산출하는 단계(S40)는 복수 일자에 대한 제2 유효 데이터를 기초로 복수의 산출 계수를 획득하는 단계(S41) 및 산출 계수를 평균화하여 각 파장 별 교정 계수를 획득하는 단계(S42)를 포함한다.
먼저 제2 조건을 만족하도록 선별된 제2 유효 데이터를 이용하여 단일 파장의 복수 일자에 대한 산출된 교정 계수를 획득한다(S41). 일 실시예에서 복수의 산출 계수는 최근 90일 이내 관측된 관측 데이터를 토대로 산출된 파장별 교정 계수일 수 있다. 일 실시예에서 복수의 산출 계수는 10개일 수 있다.
다음, 복수의 산출 계수를 평균화하여 각 파장 별 교정 계수를 획득한다(S42). 구체적으로, 각 파장에 대해 획득된 복수의 산출 계수를 산술 평균하여 교정 계수의 평균 값을 획득할 수 있다. 일 실시예로, 산술 평균시의 편차를 줄이기 위하여 복수의 산출 계수에서 최대 값 및 최소 값을 제외한 나머지 산출 계수만을 이용하여 산술 평균함으로써 교정 계수를 획득할 수 있다.
다음으로, 산출된 교정 계수를 정밀 필터 복사계에 적용한다(S50). 상기 산출된 교정 계수는 선택된 특정 파장에 대한 교정 계수일 수 있다. 일 실시예로, 상기 산출된 교정 계수는 862nm 파장에 대한 교정 계수일 수 있다. 교정 장치(200)는 산출된 교정 계수를 이용하여 관측 데이터로부터 에어로졸 광학깊이(AOD)를 산출할 수 있다.
교정 장치(200)는 교정 계수를 산출한 후 관측 장치(100)로 산출된 교정 계수를 전송할 수 있다. 관측 장치(100)는 전송된 교정 계수를 적용하여 관측 값을 획득할 수 있으며, 이를 통해 에어로졸 광학깊이를 관측할 수 있다.
상기와 같은 방법으로 산출된 교정 계수는 정밀 필터 복사계의 자체 교정이 가능하도록 함으로써 정밀 필터 복사계의 유지, 보수를 용이하게 하는 효과가 있다. 또한, 본 발명의 실시예들에 의한 교정 방법은 정밀 필터 복사계의 교정시 필수적으로 수반되었던 장시간의 셋팅 과정을 절약할 수 있으며, 교정 비용을 절감할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들에 의한 교정 방법은 정밀 필터 복사계의 자체 데이터를 이용하여 교정을 수행하도록 함으로써 맞춤형의 교정 계수를 언제든지 산출할 수 있고, 센서의 노후화, 오염 등에 대응한 교정 계수를 제공하여 데이터의 정밀 보정이 가능하다.
본 실시예들은 컴퓨터에 의해 실행되는 프로그램 모듈과 같은 컴퓨터에 의해 실행 가능한 명령어를 포함하는 기록 매체의 형태로도 구현될 수 있다. 컴퓨터 판독 가능 매체는 컴퓨터에 의해 액세스될 수 있는 임의의 가용 매체일 수 있고, 휘발성 및 비휘발성 매체, 분리형 및 비분리형 매체를 모두 포함한다. 또한, 컴퓨터 판독가능 매체는 컴퓨터 저장 매체 및 통신 매체를 모두 포함할 수 있다. 컴퓨터 저장 매체는 컴퓨터 판독가능 명령어, 데이터 구조, 프로그램 모듈 또는 기타 데이터와 같은 정보의 저장을 위한 임의의 방법 또는 기술로 구현된 휘발성 및 비휘발성, 분리형 및 비분리형 매체를 모두 포함한다. 통신 매체는 전형적으로 컴퓨터 판독가능 명령어, 데이터 구조, 프로그램 모듈과 같은 변조된 데이터 신호의 기타 데이터, 또는 기타 전송 메커니즘을 포함하며, 임의의 정보 전달 매체를 포함한다.
또한, 본 명세서에서, "부"는 프로세서 또는 회로와 같은 하드웨어 구성(hardware component), 및/또는 프로세서와 같은 하드웨어 구성에 의해 실행되는 소프트웨어 구성(software component)일 수 있다.
이와 같이 본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 하여 설명하였으나 이는 예시적인 것에 불과하며 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 실시예의 변형이 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.
10 : 정밀 필터 복사계
100 : 관측 장치
200 : 교정 장치

Claims (10)

  1. 기 설정된 복수개의 파장에 대한 직달 일사량을 각 파장별 전압 값으로 측정하는 정밀 필터 복사계의 교정 방법에 있어서,
    기 설정된 시간 단위로 상기 정밀 필터 복사계에서 측정되는 관측 데이터를 획득하는 단계;
    상기 관측 데이터에서 상기 시간 단위로 상기 복수개의 파장에 대한 AOD(Aerosol Optical Depth) 파장간 의존도를 산출하고, 산출된 상기 AOD 파장간 의존도에 기초하여 제1 유효 데이터를 선별하는 단계;
    상기 제1 유효 데이터로부터 제2 유효 데이터를 선별하는 단계; 및
    상기 제2 유효 데이터의 산출 계수를 평균화하여 상기 정밀 필터 복사계의 교정 계수를 산출하는 단계;를 포함하며,
    상기 제1 유효 데이터를 선별하는 단계는,
    상기 관측 데이터의 상기 파장별 전압 값을 변환하여 AOD 값을 생성하는 단계;
    상기 시간 단위 별로 상기 AOD 값을 회귀 분석하는 단계; 및
    복수개의 상기 시간 단위 중 하나인 제1 시간에서 상기 AOD 파장간 의존도가 제1 기준을 만족하면, 상기 제1 시간 이전에 측정된 상기 관측 데이터를 상기 제1 유효 데이터로 선별하는 단계;를 구비하고,
    상기 제2 유효 데이터를 선별하는 단계는,
    선별된 상기 제1 유효 데이터의 상기 전압 값을 자연 로그 값으로 변환하고, 에어 매스(Air mass)에 대한 상기 자연 로그 값을 상기 기 설정된 복수개의 파장 별로 회귀 분석하는 단계; 및
    상기 자연 로그 값을 회귀 분석하여 획득되는 상수들 중 제2 기준을 만족하는 상기 산출 계수를 선별하는 단계;를 구비하는, 정밀 필터 복사계의 교정 방법.
  2. 제1 항에 있어서,
    산출된 상기 교정 계수를 상기 정밀 필터 복사계에 적용하는 단계;를 더 포함하는, 정밀 필터 복사계의 교정 방법.
  3. 삭제
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 기준은
    상기 시간 단위 별로 상기 AOD 값을 회귀 분석하는 단계에서 획득되는 회귀 직선의 제1 결정 계수(R2)가 0.90 이하인, 정밀 필터 복사계의 교정 방법.
  5. 삭제
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 기 설정된 복수개의 파장 별로 회귀 분석하는 단계는
    상기 제1 유효 데이터를 1일 기준으로 오전과 오후로 구분하여 파장 별로 회귀 분석하는, 정밀 필터 복사계의 교정 방법.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 제2 기준은
    상기 기 설정된 복수개의 파장 별로 회귀 분석하는 단계에서 획득되는 회귀 직선의 제2 결정 계수(R2)가 0.99 이상인, 정밀 필터 복사계의 교정 방법.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 교정 계수를 산출하는 단계는
    복수 일자에 대한 상기 제2 유효 데이터를 기초로 복수 개의 산출 계수를 획득하는 단계; 및
    상기 산출 계수를 평균화하여 각 파장 별 교정 계수를 획득하는 단계;를 구비하는, 정밀 필터 복사계의 교정 방법.
  9. 기 설정된 복수개의 파장에 대한 직달 일사량을 각 파장별 전압 값으로 측정하는 관측 장치; 및
    상기 관측 장치의 교정 계수를 산출하는 교정 장치;를 포함하고,
    상기 교정 장치는
    기 설정된 시간 단위로 상기 관측 장치에서 측정되는 관측 데이터를 획득하고,
    상기 관측 데이터에서 상기 시간 단위로 상기 복수개의 파장에 대한 AOD 파장간 의존도를 산출하고,
    산출된 상기 파장간 의존도에 기초하여 제1 유효 데이터를 선별하고,
    상기 제1 유효 데이터로부터 제2 유효 데이터를 선별하고,
    상기 제2 유효 데이터의 산출 계수를 평균화하여 상기 관측 장치의 교정 계수를 산출하며,
    상기 제1 유효 데이터는
    상기 관측 데이터의 상기 파장별 전압 값을 AOD 값으로 변환하고, 상기 시간 단위 별로 상기 AOD 값을 회귀 분석하고, 복수개의 상기 시간 단위 중 하나인 제1 시간에서 상기 AOD 파장간 의존도가 제1 기준을 만족하는 경우, 상기 제1 시간 이전에 측정된 상기 관측 데이터이며,
    상기 제2 유효 데이터는
    상기 제1 유효 데이터의 상기 전압 값을 자연 로그 값으로 변환하고, 에어 매스(Air mass)에 대한 상기 자연 로그 값을 상기 기 설정된 복수개의 파장 별로 회귀 분석하고, 상기 자연 로그 값을 회귀 분석하여 획득되는 상수들 중 제2 기준을 만족하는 상기 산출 계수인, 정밀 필터 복사계 시스템.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 관측 장치는
    상기 교정 장치에서 산출된 상기 교정 계수를 적용하고, 에어로졸 광학깊이를 관측하는, 정밀 필터 복사계 시스템.
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