JP3150764B2 - 簡易干渉計 - Google Patents
簡易干渉計Info
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- JP3150764B2 JP3150764B2 JP15077592A JP15077592A JP3150764B2 JP 3150764 B2 JP3150764 B2 JP 3150764B2 JP 15077592 A JP15077592 A JP 15077592A JP 15077592 A JP15077592 A JP 15077592A JP 3150764 B2 JP3150764 B2 JP 3150764B2
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- Japan
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- beam splitter
- cube beam
- wavefront
- lens
- optical path
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- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、工場のライン等で製作
された光学レンズの表面形状の検査測定や、組み立ての
終了した光学レンズの収差の検査測定に利用される簡易
干渉計に関するものである。
された光学レンズの表面形状の検査測定や、組み立ての
終了した光学レンズの収差の検査測定に利用される簡易
干渉計に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】上述した種類の検査測定をする場合に現
在使用している干渉計を、図５の干渉計の構成を示す図
を用いて説明する。２０は第１のビームスプリッター、
２１は空間フィルターとなるピンホール２１ａとピンホ
ール２１ａを中心に対向した二つの顕微鏡対物レンズ２
１ｂ，２１ｃからなる参照波発生装置、２２と２４は反
射鏡、２３は第２のビームスプリッター、２５は収差の
補正された二つの顕微鏡対物レンズ２５ａ，２５ｂを有
する波面伝達装置、２６は結像レンズ、２７は撮像素
子、２８は表示装置である。
在使用している干渉計を、図５の干渉計の構成を示す図
を用いて説明する。２０は第１のビームスプリッター、
２１は空間フィルターとなるピンホール２１ａとピンホ
ール２１ａを中心に対向した二つの顕微鏡対物レンズ２
１ｂ，２１ｃからなる参照波発生装置、２２と２４は反
射鏡、２３は第２のビームスプリッター、２５は収差の
補正された二つの顕微鏡対物レンズ２５ａ，２５ｂを有
する波面伝達装置、２６は結像レンズ、２７は撮像素
子、２８は表示装置である。
【０００３】参照波発生装置２１の機能について説明す
る。入射波面は、一般に波面収差を含む歪んだ波面であ
る。このような入射波面から参照波面として使える平面
波を得るために、参照波発生装置２１内において、一方
の顕微鏡対物レンズ２１ｂでピンホール２１ａ上に入射
波面を集光する。ピンホール２１ａの大きさを適当に選
択しておけば、入射波面の収差成分は、ピンホール２１
ａにより除去され、ピンホール２１ａからは収差のない
球面波を得ることができる。収差のなくなった球面波
を、収差の補正された他方の顕微鏡対物レンズ２１ｃで
平面波に変換すれば、参照平面波を得ることができる。
る。入射波面は、一般に波面収差を含む歪んだ波面であ
る。このような入射波面から参照波面として使える平面
波を得るために、参照波発生装置２１内において、一方
の顕微鏡対物レンズ２１ｂでピンホール２１ａ上に入射
波面を集光する。ピンホール２１ａの大きさを適当に選
択しておけば、入射波面の収差成分は、ピンホール２１
ａにより除去され、ピンホール２１ａからは収差のない
球面波を得ることができる。収差のなくなった球面波
を、収差の補正された他方の顕微鏡対物レンズ２１ｃで
平面波に変換すれば、参照平面波を得ることができる。
【０００４】検査測定の場合、入射波面は、第1のビー
ムスプリッター２０で一部が透過して、参照波発生装置
２１において整形された参照平面波となり、反射鏡２２
で反射し第２のビームスプリッター２３へ進行する。ま
た、入射波面の一部は、第１のビームスプリッター２０
で反射し、反射した波面は反射鏡２４に到達して再び反
射し、収差の補正された二つの顕微鏡対物レンズ２５
ａ，２５ｂから成る波面伝達装置２５を通過して、第２
のビームスプリッター２３で一部が透過する。この時、
前述の参照平面波と重なり合い二つの波面は干渉して干
渉縞が現れ、結像レンズ２６が干渉縞を撮像素子２７上
に結像し、更に表示装置２８の画面に干渉画像が表示さ
れる。
ムスプリッター２０で一部が透過して、参照波発生装置
２１において整形された参照平面波となり、反射鏡２２
で反射し第２のビームスプリッター２３へ進行する。ま
た、入射波面の一部は、第１のビームスプリッター２０
で反射し、反射した波面は反射鏡２４に到達して再び反
射し、収差の補正された二つの顕微鏡対物レンズ２５
ａ，２５ｂから成る波面伝達装置２５を通過して、第２
のビームスプリッター２３で一部が透過する。この時、
前述の参照平面波と重なり合い二つの波面は干渉して干
渉縞が現れ、結像レンズ２６が干渉縞を撮像素子２７上
に結像し、更に表示装置２８の画面に干渉画像が表示さ
れる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した図
５で示した干渉計は、装置が大がかりであり、かつ、装
置を構成するのに必要な部品点数も多い。また、参照波
発生装置２１や波面伝達装置２５に使用される顕微鏡対
物レンズは、収差が良好に補正されていなければなら
ず、これらのことが、小型で安価な装置の製作を困難に
している。
５で示した干渉計は、装置が大がかりであり、かつ、装
置を構成するのに必要な部品点数も多い。また、参照波
発生装置２１や波面伝達装置２５に使用される顕微鏡対
物レンズは、収差が良好に補正されていなければなら
ず、これらのことが、小型で安価な装置の製作を困難に
している。
【０００６】本発明は、上述の事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は部品点数が少なく、簡単に波面収
差の測定ができる干渉計を提供することである。
のであり、その目的は部品点数が少なく、簡単に波面収
差の測定ができる干渉計を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、可干渉性の入
射波面の波面収差を測定する干渉計において、上記可干
渉性の波面を入射させ、第１の光路と第２の光路に分割
するキューブビームスプリッターと、上記キューブビー
ムスプリッターの上記第１の光路上の面上に配置された
反射型の空間フィルターと、上記空間フィルター上、若
しくは、上記キューブビームスプリッターによる上記空
間フィルターの鏡像上に曲率中心を持つよう配置され、
かつ、上記キューブビームスプリッターの第１の光路上
の面、若しくは、第２の光路上の面の少なくともどちら
か一方の面と対向する面上に接合された球面レンズと、
上記キューブビームスプリッターを射出した光路上に設
けられた観察手段とを有することを特徴としている。
射波面の波面収差を測定する干渉計において、上記可干
渉性の波面を入射させ、第１の光路と第２の光路に分割
するキューブビームスプリッターと、上記キューブビー
ムスプリッターの上記第１の光路上の面上に配置された
反射型の空間フィルターと、上記空間フィルター上、若
しくは、上記キューブビームスプリッターによる上記空
間フィルターの鏡像上に曲率中心を持つよう配置され、
かつ、上記キューブビームスプリッターの第１の光路上
の面、若しくは、第２の光路上の面の少なくともどちら
か一方の面と対向する面上に接合された球面レンズと、
上記キューブビームスプリッターを射出した光路上に設
けられた観察手段とを有することを特徴としている。
【０００８】上述した手段は、次に述べる実施態様によ
り性能を一段と向上させることができる。すなわち、入
射波面が平行入射波面の場合に適するように、上述した
干渉計において、キューブビームスプリッターに密着し
た球面レンズに平行入射波面を球面波に変換する光学系
を前置する。また、波面収差の量の目測が容易になるよ
うに、上述した干渉計において、キューブビームスプリ
ッターが、該キューブビームスプリッターにより反射型
の空間フィルターの鏡像となる面上に移動可能で該面上
に曲率中心があるガラス半球レンズを有する構造とす
る。この場合、ガラス半球レンズに代えて、ガラス球面
レンズと円柱ガラス体との組み合わせ体としてもよい。
り性能を一段と向上させることができる。すなわち、入
射波面が平行入射波面の場合に適するように、上述した
干渉計において、キューブビームスプリッターに密着し
た球面レンズに平行入射波面を球面波に変換する光学系
を前置する。また、波面収差の量の目測が容易になるよ
うに、上述した干渉計において、キューブビームスプリ
ッターが、該キューブビームスプリッターにより反射型
の空間フィルターの鏡像となる面上に移動可能で該面上
に曲率中心があるガラス半球レンズを有する構造とす
る。この場合、ガラス半球レンズに代えて、ガラス球面
レンズと円柱ガラス体との組み合わせ体としてもよい。
【０００９】
【作用】上述したように本発明は、可干渉性の入射波面
の波面収差を測定する干渉計であり、キューブビームス
プリッターと、上記キューブビームスプリッターの面上
に配置された反射型の空間フィルターと、上記空間フィ
ルター、若しくは、上記キューブビームスプリッターに
よる上記空間フィルターの鏡像を曲率中心に持ち、かつ
上記キューブビームスプリッターに密着した球面レンズ
と、干渉縞を電気信号に変換するための撮像素子と、被
検物体を上記撮像素子上に結像する結像レンズとから構
成されている。
の波面収差を測定する干渉計であり、キューブビームス
プリッターと、上記キューブビームスプリッターの面上
に配置された反射型の空間フィルターと、上記空間フィ
ルター、若しくは、上記キューブビームスプリッターに
よる上記空間フィルターの鏡像を曲率中心に持ち、かつ
上記キューブビームスプリッターに密着した球面レンズ
と、干渉縞を電気信号に変換するための撮像素子と、被
検物体を上記撮像素子上に結像する結像レンズとから構
成されている。
【００１０】まず、入射波面が収束光である場合につい
て述べる。キューブビームスプリッターの一つの面上に
集光するように、入射波面をキューブビームスプリッタ
ーに入射させる。この集光する面上に反射型の空間フィ
ルター、すなわちピンホール部は所定の反射率があり、
それ以外の部分では光の吸収あるいは反射はなく、光を
透過するようなピンホールを配置する。したがって、こ
の集光する面上では、収差のない球面波を反射波として
得ることができる。
て述べる。キューブビームスプリッターの一つの面上に
集光するように、入射波面をキューブビームスプリッタ
ーに入射させる。この集光する面上に反射型の空間フィ
ルター、すなわちピンホール部は所定の反射率があり、
それ以外の部分では光の吸収あるいは反射はなく、光を
透過するようなピンホールを配置する。したがって、こ
の集光する面上では、収差のない球面波を反射波として
得ることができる。
【００１１】キューブビームスプリッターのもう一方の
面に、上記の反射型の空間フィルターと同じ反射率を有
する反射膜をコーティングしておけば、入射波はすべて
反射し、上記の球面波と干渉する。これを結像レンズを
通して撮像素子へ導き、撮像素子上に干渉縞を形成する
か、あるいは結像レンズの代わりに接眼レンズを配置し
肉眼で観察すれば、入射波面の波面収差を観測すること
ができる。
面に、上記の反射型の空間フィルターと同じ反射率を有
する反射膜をコーティングしておけば、入射波はすべて
反射し、上記の球面波と干渉する。これを結像レンズを
通して撮像素子へ導き、撮像素子上に干渉縞を形成する
か、あるいは結像レンズの代わりに接眼レンズを配置し
肉眼で観察すれば、入射波面の波面収差を観測すること
ができる。
【００１２】入射波面に対向したキューブビームスプリ
ッターの面上に、集光点を曲率中心とする球面レンズを
配置すれば、入射波面がキューブビームスプリッターの
面で屈折することがなく、収差の発生を防ぐことができ
る。また、入射波面が収束光でない場合は、キューブビ
ームスプリッターの入射側に収差の補正された集光レン
ズを前置すれば、入射波面が収束光である場合と同じよ
うに、入射波面の波面収差を観測することができる。
ッターの面上に、集光点を曲率中心とする球面レンズを
配置すれば、入射波面がキューブビームスプリッターの
面で屈折することがなく、収差の発生を防ぐことができ
る。また、入射波面が収束光でない場合は、キューブビ
ームスプリッターの入射側に収差の補正された集光レン
ズを前置すれば、入射波面が収束光である場合と同じよ
うに、入射波面の波面収差を観測することができる。
【００１３】
【実施例】図１は、本発明簡易干渉計の第１実施例の構
成を示す図である。図１で１は入射波面、２はキューブ
ビームスプリッター３の入射側の面に密着している球面
レンズ、４はキューブビームスプリッター３の接合面、
５はキューブビームスプリッター３において球面レンズ
２が密着している入射側の面に対向した反射面である。
７はキューブビームスプリッター３のもう一方の面８に
配置された反射型の空間フィルターを構成するピンホー
ル、９はキューブビームスプリッター３の射出側の面に
密着している球面レンズ、１０は結像レンズ、１１は撮
像素子である。本実施例では、結像レンズ１０と撮像素
子１１が観測手段を構成している。
成を示す図である。図１で１は入射波面、２はキューブ
ビームスプリッター３の入射側の面に密着している球面
レンズ、４はキューブビームスプリッター３の接合面、
５はキューブビームスプリッター３において球面レンズ
２が密着している入射側の面に対向した反射面である。
７はキューブビームスプリッター３のもう一方の面８に
配置された反射型の空間フィルターを構成するピンホー
ル、９はキューブビームスプリッター３の射出側の面に
密着している球面レンズ、１０は結像レンズ、１１は撮
像素子である。本実施例では、結像レンズ１０と撮像素
子１１が観測手段を構成している。
【００１４】球面レンズ２は、キューブビームスプリッ
ター３と同じ硝材で製作され、また、球面レンズ２は、
集光点と曲率中心が一致するようになっている。球面レ
ンズ９も、キューブビームスプリッター３と同じ硝材で
製作され、球面レンズ９の曲率中心は、反射型の空間フ
ィルターを構成するピンホール７と一致するようになっ
ている。
ター３と同じ硝材で製作され、また、球面レンズ２は、
集光点と曲率中心が一致するようになっている。球面レ
ンズ９も、キューブビームスプリッター３と同じ硝材で
製作され、球面レンズ９の曲率中心は、反射型の空間フ
ィルターを構成するピンホール７と一致するようになっ
ている。
【００１５】本実施例は上述のように構成されており、
入射波面１は、球面レンズ２を経て一部が接合面４を透
過し、反射面５上に集光する。反射面５は、集光した波
面をある一定の反射率で反射する。また、球面レンズ２
を透過した入射波面１の一部が接合面４で反射し、反射
型の空間フィルターを構成するピンホール７に入射す
る。反射型の空間フィルターを構成するピンホール７に
入射した波面の反射波は、球面参照波面となる。反射型
の空間フィルターを構成するピンホール７と反射面５上
の集光点Ｐとは、接合面４に関して鏡像の位置になって
いる。
入射波面１は、球面レンズ２を経て一部が接合面４を透
過し、反射面５上に集光する。反射面５は、集光した波
面をある一定の反射率で反射する。また、球面レンズ２
を透過した入射波面１の一部が接合面４で反射し、反射
型の空間フィルターを構成するピンホール７に入射す
る。反射型の空間フィルターを構成するピンホール７に
入射した波面の反射波は、球面参照波面となる。反射型
の空間フィルターを構成するピンホール７と反射面５上
の集光点Ｐとは、接合面４に関して鏡像の位置になって
いる。
【００１６】反射型の空間フィルターを構成するピンホ
ール７からの球面参照波と反射面５で反射した波面は、
接合面４で重なり合い球面レンズ９を透過して、キュー
ブビームスプリッター３の外に出る。そうして、入射波
面の波面収差を表す干渉縞は、結像レンズ１０により撮
像素子１１上に結像される。
ール７からの球面参照波と反射面５で反射した波面は、
接合面４で重なり合い球面レンズ９を透過して、キュー
ブビームスプリッター３の外に出る。そうして、入射波
面の波面収差を表す干渉縞は、結像レンズ１０により撮
像素子１１上に結像される。
【００１７】上述の構成において、反射型の空間フィル
ターを構成するピンホール７の反射率と、反射面５の反
射率を等しくしてあって、干渉縞のコントラストが良く
なるようにしてある。入射波面の収束点とピンホール７
を一致させれば、干渉縞を自動的に得ることができるの
で、アライメント調整が極めて簡単である。また、光路
長が等しいので、干渉性の低い光源からの光でも、干渉
縞を観察することができる。なお、球面レンズ９は必ず
しも必要ではないが、なんらかの理由で収差のない出力
を望む場合は、装備しなければならない。
ターを構成するピンホール７の反射率と、反射面５の反
射率を等しくしてあって、干渉縞のコントラストが良く
なるようにしてある。入射波面の収束点とピンホール７
を一致させれば、干渉縞を自動的に得ることができるの
で、アライメント調整が極めて簡単である。また、光路
長が等しいので、干渉性の低い光源からの光でも、干渉
縞を観察することができる。なお、球面レンズ９は必ず
しも必要ではないが、なんらかの理由で収差のない出力
を望む場合は、装備しなければならない。
【００１８】図２は、本発明簡易干渉計の第２実施例の
構成を示す図である。第２実施例と第１実施例は、キュ
ーブビームスプリッター３の反射面５の構造が異なる。
第２実施例では、反射面５に反射膜をコーティングする
代わりに、反射膜をコーティングした半球レンズ１２
を、反射面５に配置してある。半球レンズ１２は、曲率
中心が反射面５上にあり、かつ、反射面５上を移動する
ことができる構造になっている。
構成を示す図である。第２実施例と第１実施例は、キュ
ーブビームスプリッター３の反射面５の構造が異なる。
第２実施例では、反射面５に反射膜をコーティングする
代わりに、反射膜をコーティングした半球レンズ１２
を、反射面５に配置してある。半球レンズ１２は、曲率
中心が反射面５上にあり、かつ、反射面５上を移動する
ことができる構造になっている。
【００１９】第２実施例は上述のように構成されてお
り、半球レンズ１２をわずかに移動することにより、容
易に直線状の干渉縞を任意の本数付加できる。この直線
状の干渉縞は、波面収差の量を目測する場合に、判定を
手軽にすることができる。半球レンズ１２に代えて図３
に示すように、同じ硝材で製作した球面レンズ１３と円
柱ガラス体１４との組み合わせ体を用いてもよい。この
場合、球面レンズ１３の曲率中心は、円柱ガラス体１４
内にあるようにする。
り、半球レンズ１２をわずかに移動することにより、容
易に直線状の干渉縞を任意の本数付加できる。この直線
状の干渉縞は、波面収差の量を目測する場合に、判定を
手軽にすることができる。半球レンズ１２に代えて図３
に示すように、同じ硝材で製作した球面レンズ１３と円
柱ガラス体１４との組み合わせ体を用いてもよい。この
場合、球面レンズ１３の曲率中心は、円柱ガラス体１４
内にあるようにする。
【００２０】図４は、本発明簡易干渉計の第３実施例の
構成を示す図である。第１実施例、第２実施例では、入
射波面が収束光であったが、本実施例の場合、入射波面
は平行入射波面１５であり、球面波ではない。そのた
め、キューブビームスプリッター３に密着した球面レン
ズ２の前方に、収差の補正された集光レンズ１６を前置
し、平行入射波面１５を収束光である球面波に変換す
る。また、本実施例では、観測手段として接眼レンズ１
６を配し、肉眼１７によって干渉縞の観測が可能であ
る。
構成を示す図である。第１実施例、第２実施例では、入
射波面が収束光であったが、本実施例の場合、入射波面
は平行入射波面１５であり、球面波ではない。そのた
め、キューブビームスプリッター３に密着した球面レン
ズ２の前方に、収差の補正された集光レンズ１６を前置
し、平行入射波面１５を収束光である球面波に変換す
る。また、本実施例では、観測手段として接眼レンズ１
６を配し、肉眼１７によって干渉縞の観測が可能であ
る。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように本発明の簡易干渉計
は、部品点数が少なく、簡単に波面収差の測定ができ
る。
は、部品点数が少なく、簡単に波面収差の測定ができ
る。
【図１】本発明簡易干渉計の第１実施例の構成を示す図
である。
である。
【図２】本発明簡易干渉計の第２実施例の構成を示す図
である。
である。
【図３】本発明簡易干渉計の第２実施例の部品の構成を
示す図である。
示す図である。
【図４】本発明簡易干渉計の第３実施例の構成を示す図
である。
である。
【図５】検査測定に用いる従来の干渉計の構成を示す図
である。
である。
１ 入射波面 ２ 球面レンズ ３ キューブビームスプリッター ４ キューブビームスプリッターの接合面 ５ キューブビームスプリッターの反射面 ７ 空間フィルター、ピンホール ９ 球面レンズ １０ 結像レンズ １１ 撮像素子 １２ 半球レンズ １３ 球面レンズ １４ 円柱ガラス体 １５ 平行入射波面 １６ 接眼レンズ １７ 肉眼
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ Ｇ０１Ｍ 11/02 Ｇ０１Ｂ 11/24 Ｄ (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01B 9/02 G01J 9/02 G02B 27/00 G01B 11/24 G01M 11/00 - 11/02
Claims (4)
- 【請求項１】可干渉性の入射波面の波面収差を測定する
干渉計において、上記可干渉性の波面を入射させ、第１
の光路と第２の光路に分割するキューブビームスプリッ
ターと、上記キューブビームスプリッターの上記第１の
光路上の面上に配置された反射型の空間フィルターと、
上記空間フィレター上、若しくは、上記キューブビーム
スプリッターによる上記空間フィルターの鏡像上に曲率
中心を持つよう配置され、かつ、上記キューブビームス
プリッターの第１の光路上の面、若しくは、第２の光路
上の面の少なくともどちらか一方の面と対向する面上に
接合された球面レンズと、上記キューブビームスプリッ
ターを射出した光路上に設けられた観察手段とを有する
ことを特徴とする干渉計。 - 【請求項２】観察手段が、キューブビームスプリッター
の射出光を結像する結像レンズと、上記射出光を受光す
る撮像素子とから成る請求項１記載の干渉計。 - 【請求項３】観察手段が、接眼レンズから成る請求項１
記載の干渉計。 - 【請求項４】キューブビームスプリッターによる反射型
の空間フィルターの鏡像となる面上を移動でき、かつ、
該面上に曲率中心を有する半球レンズ、若しくは、球面
レンズと円柱ガラス体との組み合わせ体を備えた請求項
１記載の干渉計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15077592A JP3150764B2 (ja) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | 簡易干渉計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15077592A JP3150764B2 (ja) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | 簡易干渉計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05340839A JPH05340839A (ja) | 1993-12-24 |
| JP3150764B2 true JP3150764B2 (ja) | 2001-03-26 |
Family
ID=15504156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15077592A Expired - Fee Related JP3150764B2 (ja) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | 簡易干渉計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3150764B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1380822B1 (en) * | 2002-07-11 | 2006-12-20 | Agilent Technologies, Inc. - a Delaware corporation - | Wavelength determining apparatus and method |
| JP4667957B2 (ja) * | 2005-05-24 | 2011-04-13 | 富士フイルム株式会社 | 光ビーム測定装置 |
| JP4667965B2 (ja) * | 2005-06-07 | 2011-04-13 | 富士フイルム株式会社 | 光ビーム測定装置 |
-
1992
- 1992-06-10 JP JP15077592A patent/JP3150764B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05340839A (ja) | 1993-12-24 |
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