JP3147272B2 - 超音波探傷装置における欠陥高さの寸法測定方法 - Google Patents
超音波探傷装置における欠陥高さの寸法測定方法Info
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- JP3147272B2 JP3147272B2 JP01242294A JP1242294A JP3147272B2 JP 3147272 B2 JP3147272 B2 JP 3147272B2 JP 01242294 A JP01242294 A JP 01242294A JP 1242294 A JP1242294 A JP 1242294A JP 3147272 B2 JP3147272 B2 JP 3147272B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は超音波探傷装置における
欠陥寸法、特に欠陥高さの寸法測定方法に関するもので
ある。
欠陥寸法、特に欠陥高さの寸法測定方法に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】超音波探傷において所定以上のエコーレ
ベルの部分を欠陥の画像としてＣＲＴ等に出力する超音
波測定装置は一般に市販されており、この画像寸法から
欠陥の実寸法を推定することが従来から行われている。
ベルの部分を欠陥の画像としてＣＲＴ等に出力する超音
波測定装置は一般に市販されており、この画像寸法から
欠陥の実寸法を推定することが従来から行われている。
【０００３】例えば溶接欠陥の精密探傷の場合には、欠
陥区分の夫々に対応したエコーの検出レベルにより得ら
れる断面画像又は平面画像の寸法から、下記の推定式に
より欠陥高さの実寸法を算出している。（球形ガスホル
ダー指針 ＪＧＡ指−１０４−８９ 社団法人 日本ガ
ス協会 ガス工作物等技術調査委員会編 参照） Ｈ＝ａ・ｈ＋ｂ （但し、Ｈ：実寸法、ｈ：画像寸法、
ａ，ｂ：定数） この推定式は多数の試験結果から得られる回帰直線式
で、従来は画像寸法と欠実寸法との対応関係を、図４中
に二点鎖線で示すように、単一の回帰直線式により近似
している。尚、上記参照文献では、この回帰直線式の定
数ａ，ｂの具体的数値として、例えば欠陥区分が治具跡
の欠陥、溶接線の縦割れの場合には、a:0.333 ｂ:0.8
9、また欠陥区分が溶接線の横割れの場合には、a:0.780 ｂ:0.12として示されている。
陥区分の夫々に対応したエコーの検出レベルにより得ら
れる断面画像又は平面画像の寸法から、下記の推定式に
より欠陥高さの実寸法を算出している。（球形ガスホル
ダー指針 ＪＧＡ指−１０４−８９ 社団法人 日本ガ
ス協会 ガス工作物等技術調査委員会編 参照） Ｈ＝ａ・ｈ＋ｂ （但し、Ｈ：実寸法、ｈ：画像寸法、
ａ，ｂ：定数） この推定式は多数の試験結果から得られる回帰直線式
で、従来は画像寸法と欠実寸法との対応関係を、図４中
に二点鎖線で示すように、単一の回帰直線式により近似
している。尚、上記参照文献では、この回帰直線式の定
数ａ，ｂの具体的数値として、例えば欠陥区分が治具跡
の欠陥、溶接線の縦割れの場合には、a:0.333 ｂ:0.8
9、また欠陥区分が溶接線の横割れの場合には、a:0.780 ｂ:0.12として示されている。
【０００４】尚、板体に生じる欠陥は、図１〜図３に夫
々模式的に表しているように、板体１の表面２から内部
に渡って存在する欠陥３、板体１の裏面４から内部に渡
って存在する欠陥３、内部にのみ存在する欠陥３に類型
化される。本発明において測定対象とする欠陥３の高さ
とは、欠陥３の板厚方向の広がり（距離）Ｈを「高
さ」、図３に示すように内部にのみ存在する欠陥３の表
面側（または裏面側）端部と板体１の表面２（または裏
面３）との距離ｄを「埋没深さ」と定義した場合の、前
記距離Ｈを意味している。
々模式的に表しているように、板体１の表面２から内部
に渡って存在する欠陥３、板体１の裏面４から内部に渡
って存在する欠陥３、内部にのみ存在する欠陥３に類型
化される。本発明において測定対象とする欠陥３の高さ
とは、欠陥３の板厚方向の広がり（距離）Ｈを「高
さ」、図３に示すように内部にのみ存在する欠陥３の表
面側（または裏面側）端部と板体１の表面２（または裏
面３）との距離ｄを「埋没深さ」と定義した場合の、前
記距離Ｈを意味している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら本発明者
等による多数の試験結果によると、欠陥高さの画像寸法
と実寸法との対応関係は、図４中に破線で示すように曲
線対応関係にあるため、単一の回帰直線式による近似で
は、測定誤差が大きい。従って本発明は、このような従
来の課題を解決することを目的とするものである。
等による多数の試験結果によると、欠陥高さの画像寸法
と実寸法との対応関係は、図４中に破線で示すように曲
線対応関係にあるため、単一の回帰直線式による近似で
は、測定誤差が大きい。従って本発明は、このような従
来の課題を解決することを目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明では、所定以上のエコーレベルの部分を
欠陥の画像として表示し、欠陥高さの画像寸法と実寸法
との対応関係を近似する推定式を用いて実寸法を算出す
る欠陥高さの寸法測定方法において、画像寸法と実寸法
との対応関係は、複数の回帰直線式により折れ線近似す
ることを提案する。
ために、本発明では、所定以上のエコーレベルの部分を
欠陥の画像として表示し、欠陥高さの画像寸法と実寸法
との対応関係を近似する推定式を用いて実寸法を算出す
る欠陥高さの寸法測定方法において、画像寸法と実寸法
との対応関係は、複数の回帰直線式により折れ線近似す
ることを提案する。
【０００７】
【作用】欠陥の画像寸法と実寸法との対応関係が図４に
破線で示すような曲線対応関係であるとの知見により、
これを単一の回帰直線式でなく、図４中に実線で示すよ
うに複数の回帰直線式、、、により折れ線近似
することにより、誤差を少なくすることができる。
破線で示すような曲線対応関係であるとの知見により、
これを単一の回帰直線式でなく、図４中に実線で示すよ
うに複数の回帰直線式、、、により折れ線近似
することにより、誤差を少なくすることができる。
【０００８】
【実施例】本発明の実施例を説明すると、図４の実施例
においては、欠陥高さの実寸法0〜8mmを2mm毎の等間隔
で４段階に分け、これらの各段階に対応して欠陥高さの
画像寸法と実寸法との対応関係を４つの回帰直線式、
、、により近似している。この回帰直線式の数は
適宜に決めることができる。
においては、欠陥高さの実寸法0〜8mmを2mm毎の等間隔
で４段階に分け、これらの各段階に対応して欠陥高さの
画像寸法と実寸法との対応関係を４つの回帰直線式、
、、により近似している。この回帰直線式の数は
適宜に決めることができる。
【０００９】図４の例では、欠陥の実寸法の等間隔毎に
回帰曲線式を求めて近似しているが、逆に、画像寸法の
等間隔毎に回帰曲線式を求めて近似することもできる。
回帰曲線式を求めて近似しているが、逆に、画像寸法の
等間隔毎に回帰曲線式を求めて近似することもできる。
【００１０】
【発明の効果】本発明は以上のとおりであるので、所定
以上のエコーレベルの部分を欠陥の画像として表示し、
欠陥高さの画像寸法から実寸法を算出する欠陥高さの寸
法測定方法において、画像寸法と実寸法の対応関係をよ
り正確に近似することができるので、欠陥高さに関して
画像寸法からの実寸法の算出をより正確に行えるという
効果がある。
以上のエコーレベルの部分を欠陥の画像として表示し、
欠陥高さの画像寸法から実寸法を算出する欠陥高さの寸
法測定方法において、画像寸法と実寸法の対応関係をよ
り正確に近似することができるので、欠陥高さに関して
画像寸法からの実寸法の算出をより正確に行えるという
効果がある。
【図１】欠陥の例を模式的に表した説明図である。
【図２】欠陥の他の例を模式的に表した説明図である。
【図３】欠陥の更に他の例を模式的に表した説明図であ
る。
る。
【図４】本発明の方法と従来の方法の原理を表した説明
図である。
図である。
１ 板体 ２ 表面 ３ 欠陥 ４ 裏面 Ｈ 欠陥高さ（実寸法） ｈ 欠陥高さ画像寸法 ｄ 埋没深さ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 29/00 - 29/28
Claims (3)
- 【請求項１】 所定以上のエコーレベルの部分を欠陥の
画像として表示し、欠陥高さの画像寸法と実寸法との対
応関係を近似する推定式を用いて実寸法を算出する欠陥
高さの寸法測定方法において、画像寸法と実寸法との対
応関係は、複数の回帰直線式により折れ線近似すること
を特徴とする超音波探傷装置における欠陥高さの寸法測
定方法 - 【請求項２】 複数の回帰直線式は、欠陥高さの実寸法
の等間隔毎に求めることを特徴とする請求項１記載の超
音波探傷装置における欠陥高さの寸法測定方法 - 【請求項３】 複数の回帰直線式は、欠陥高さの画像寸
法の等間隔毎に求めることを特徴とする請求項１記載の
超音波探傷装置における欠陥高さの寸法測定方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01242294A JP3147272B2 (ja) | 1994-02-04 | 1994-02-04 | 超音波探傷装置における欠陥高さの寸法測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01242294A JP3147272B2 (ja) | 1994-02-04 | 1994-02-04 | 超音波探傷装置における欠陥高さの寸法測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07218484A JPH07218484A (ja) | 1995-08-18 |
| JP3147272B2 true JP3147272B2 (ja) | 2001-03-19 |
Family
ID=11804837
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01242294A Expired - Fee Related JP3147272B2 (ja) | 1994-02-04 | 1994-02-04 | 超音波探傷装置における欠陥高さの寸法測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3147272B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013114545A1 (ja) * | 2012-01-30 | 2013-08-08 | 株式会社日立エンジニアリング・アンド・サービス | 超音波探傷方法および超音波探傷装置 |
-
1994
- 1994-02-04 JP JP01242294A patent/JP3147272B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07218484A (ja) | 1995-08-18 |
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