JP3147024U - X線ct装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】試料を温調するための断熱槽の陰影がCT像に影響しないようにしたX線CT装置を提供する。
【解決手段】X線CT像を得るための試料に覆い被せる断熱槽11は全体がおよそ円筒形であり、円筒部12と平面部13の組み合わせからなる。平面部13の中央には温度制御された風を吹き込むための孔14が開けられている。断熱槽の円筒部は平面的な板を丸めて形成されるが、その接合面15はX線光軸3に対して斜めとなっているので、X線が接合面15においてX線光軸3の方向に透過する距離は小さく、接合面の不均一性が透視像ひいてはX線CT像に及ぼす影響は最小限に抑えられる。
【選択図】図2
【解決手段】X線CT像を得るための試料に覆い被せる断熱槽11は全体がおよそ円筒形であり、円筒部12と平面部13の組み合わせからなる。平面部13の中央には温度制御された風を吹き込むための孔14が開けられている。断熱槽の円筒部は平面的な板を丸めて形成されるが、その接合面15はX線光軸3に対して斜めとなっているので、X線が接合面15においてX線光軸3の方向に透過する距離は小さく、接合面の不均一性が透視像ひいてはX線CT像に及ぼす影響は最小限に抑えられる。
【選択図】図2
Description
本考案は、X線CT装置に関し、その中でも、被写体である試料の温度制御が可能なX線CT装置に関する。
産業用のX線CT装置はおよそ次のような装置である。点状のX線発生源をもつX線管と二次元的な検出面を持つX線検出器を対向して配置し、その間に被写体となる試料を配置する。X線発生源とX線検出器の中心を結ぶ線はX線光軸と呼ばれる。X線発生源から発生したX線はコーンビーム状に広がってX線検出器の方向に向かって照射され、試料を透過しつつX線検出器で検出される。試料は、回転可能な試料台に載せられており、その試料台の回転軸は通常はX線光軸と直交するように交わっている。場合によっては試料台の回転軸とX線光軸は直交していないこともある。試料台を回転しながら試料を透過したX線強度データをX線検出器の出力として収集し、そのデータに対してコンピュータを用いて再構成と称する演算処理を施すことにより、試料台の回転軸に直交する平面に沿った試料の複数の断層像を求めることができる。
試料としては様々なものが対象となるが、試料の温度を制御しながら観察したい場合がある。そのためには試料の周りを断熱槽で取り囲み、その断熱槽の中を加熱することなどが行われる。
産業用X線CTの例は特許文献1に記載されている。
特開2006−105787号公報
X線透過装置やX線CT装置を含むX線検査装置用に断熱槽を使用する場合に、試料だけでなく断熱槽もX線は透過しなければならないから、断熱槽はX線が透過しやすい材料を使用するだけでなく、X線の透過量がなるべく均一であることが望ましい。したがって、試料を包み込む断熱槽としては、X線透過範囲に断熱槽を制作する過程で生じる継ぎ目を持たないようパイプ状の断熱材を使用していた。
小型の試料に対しては、継ぎ目を持たないパイプ状の断熱材が市販されているので、これを流用することができるが、比較的大きな規格外のサイズが必要な場合には平面的な断熱シートを円筒状に丸めるよう加工して使用することになる。この際、シートの展開面に対して直角に切断したシートを丸めて接合して円筒状にした場合、円筒の中心軸に対して放射方向に沿って接合面ができることになる。この円筒状の断熱槽の中に試料を収めてCT撮影を行う場合に、X線データの収集の際に試料および断熱槽を1回転以上回転しなければならないから、円筒部の接合面がX線光軸と一致する回転位置が発生することとなる。接合面は断熱材の他の部分に比べてその構造が不連続であるとともに、接着剤などの異物が介在することが多いので、接合面がX線光軸と一致した場合にX線の検出データが最も強く影響されることとなる。
本考案はこのような課題に鑑みてなされたものであり、シート状の断熱材を接合して比較的大きな断熱槽を制作する場合でも、断熱槽を作成する際の接合面の状態がX線検出データにあまり影響しないようにしたX線CT装置を提供することを目的とする。
本考案は、上記課題を解決するために、X線を発生するX線源と、前記X線源と対向して配置され前記X線源により発生されたX線を検出するX線検出器と、試料を保持しながらX線光軸と交わる回転軸を中心として回転する試料台と、その試料台を回転させつつ所定の回転ごとに取り込んだ試料のX線透過データを用いて、前記回転軸に直交する平面に沿った試料の断層像を再構成する再構成演算手段を備えたX線CT装置において、前記試料を取り囲むように前記試料台上に設置された円筒形の断熱槽を備えるとともに、その断熱槽の円筒面は所定の厚さを持つ平面状の断熱材を円筒形に丸めて二つの端部を接合して形成されたものであり、その接合部分の接合面が前記X線光軸と前記回転軸を含む平面に対して交差する平面となるように形成されていることを特徴とする。
従来技術のように円筒の中心軸に対して放射方向に接合面ができていると、接合面の広がり方向はX線光軸と一致することになるから、X線が接合面を通過する際の接合部分の透過距離は断熱材の厚みと一致する。これに対して、接合面がX線光軸と回転軸を含む平面に対して交差する平面とすることによって、X線が接合面を透過する際の接合部分の透過距離はそれと比較して著しく少なくなるので、X線透視像ひいてはX線CT画像に対する接合面の影響は少なくなる。
また、本考案のX線CT装置は、断熱槽の上部に形成された平面部分には風を吹き込むための孔が形成されているとともに、この孔と対向する位置に所定の温度になるよう制御された風を吹き出すための吹き出し口を持つ温度制御装置を備えることが好ましい。
断熱槽の上部に孔をあけておいて、例えば、所定の温度となった温風を温度制御装置から吹き込むようにして、断熱槽内に置かれている試料の温度を目的の温度に制御することが可能である。そうすることによって断熱槽自身にはヒータなどの温度制御のための部材を含まないようにすることができる。試料のX線透視像やX線CT像を得るためには必ず断熱槽も透過したX線を使用することになるが、その際に、断熱槽自身に内部構造を持たないようにすることでより鮮明な試料だけの像を得ることができる。
本考案のX線CT装置は、断熱槽を形成する際に生じる接合面をX線光軸と一致させずに斜めに交差するようにしたから、X線透視像やX線CT像を得る際に接合面の影響が少なくなり、より鮮明な像を得ることができる。
また、断熱槽には孔を形成し、その孔から温度制御された風を送り込んで試料の温度制御を行うようにしたから、断熱槽は均質な材料のみで作成することができ、X線透視像やX線CT像に断熱槽の存在が大きく影響することがなく、より鮮明な像を得ることができる。
本考案のX線CT装置を図1に示す概略構成図によって説明する。図1には装置の各部を制御するための制御装置や再構成演算を行う演算処理装置は簡略化して示している。
点状のX線発生点を持つX線管1とX線を検出するX線検出器2は互いに対向して配置されている。X線管1のX線発生点とX線検出器2の中心を結ぶ線はX線光軸3と呼ばれ、図1の装置ではX線光軸が水平となるように配置されている。X線管1で発生したX線はコーンビーム状に広がってX線検出器2に向かって放射され、平面的な二次元的検出面を持つX線検出器2によって検出される。X線管1とX線検出器2との間には試料台4が配置されその上に試料Sが載置される。試料台4は鉛直方向に沿った回転軸5の周りに回転できるようになっている。図示はしていないが、試料台4の上には試料の位置決めのためXYステージが乗っていてもよい。そのXYステージの上に試料Sを載置すれば、試料の任意の位置を回転軸5の位置に合わせることができる。
試料台4には試料を取り囲むように断熱槽11が載せられている。断熱槽11はおよそ円筒形であり、円筒形をした円筒部12と円板形をした平面部13からなっている。平面部13の中心部には孔14があけられている。円筒部12および平面部13は適度な厚みを持ち、ほぼ一様な密度を持つ断熱材料からなっており、後述するような形状と加工方法により作成されている。
測定対象の試料Sを温度調節するために送風機21が設置されており、所定の温度になるよう温調された風が吹き出し口22から吹き出される。吹き出し口22は上述の平面部13にあけられた孔14に対向した位置の配置されているので、吹き出し口22から吹き出された風はその大部分が断熱槽11の中に吹き込まれる。この温調された風によって断熱槽11の中に載置された試料Sが所定の温度となる。送風機21から吹き出される風の温度は室温よりも高い場合もあるし低い温度の場合もある。なお、吹き出し口22と断熱槽11の平面部13とは機械的には接合されていないので、試料台4の回転に伴って回転する断熱槽11の回転を妨げることはない。
上述のX線管1、X線検出器2、試料台4、送風機21はすべて制御部6の制御下にあり、制御部6からの指令で所定の動作を行い、また、制御部6に対して必要なデータを送信する。制御部6は、操作者からの操作を受け付けるための入力部やデータを出力するための表示部や出力部を含んでいるが、それらは図示を省略している。さらに、制御部6は試料のX線透過データから断層像を演算するための演算機能も含んでいる。
X線管1の点状の発生源から発生したコーンビーム状のX線は断熱槽11と試料Sを透過したのちX線検出器2によって二次元的な面状のデータとして検出される。試料台4を1回転以上回転させながら刻々と複数の二次元的なX線透過データを収集したのち、制御部6によって公知の再構成演算を行うことによって回転軸5に垂直な面に沿った試料の複数の断層像を同時に得ることができる。また、二次元的に得られた個々のX線の透過データは試料Sの透視像として表示することもできる。
断熱槽11の構造を説明する。図2(a)は断熱槽11の縦断面図、図2(b)は上から見た図、図2(c)は図2(b)のA部分を拡大して示す図である。断熱槽は、適度な厚みを持ち、内部が均一な板状の材料から制作される。表裏の表面を構成する材料と内部に充填されている材料が異なるものであってもよい。この断熱槽の材料は比較的X線を透過しやすく、かつ、熱の遮断性能のよいものが選択される。
断熱槽11は円筒形をした円筒部12と円形をした平面的な板状をした平面部13を組み合わせて作成されている。平面部13の中央には孔14が開けられており、この孔14は送風機からの風を吹き込むために使用される。平面部は1枚の断熱板を円形に切り出して形成されて、円筒部12上端部に接合される。なお、図2の例では、平面部13は円筒部12の内面に嵌まり込むようにして接合されているが、平面部13は円筒部の上端に置くようにして、すなわち、円筒部12の外面の直径と平面部13の直径が同じとなるよう成形して、接合してもよい。
円筒部12は図3に示すような平面上の板を円筒形に丸めて、その端を互いに接合することによって円筒形となるようにして作られる。図3(a)は丸める前の材料としての板を上から見た図であり、図3(b)は正面から見た図である。図3(a)に描かれているように、材料板の左右の端は板の面に対して、垂直ではなく、斜めになるよう切断されている。この左の端15aと右の端15bが合わさるように材料板を丸めることによって図2に示した円筒部12として形成する。
材料板の端15aと端15bが合わさると、図2(c)に示すように、接合面15となる。接合面15はX線光軸3と回転軸5を含む平面に対して斜めとなっている。
X線管1から発生したX線は、およそX線光軸3の方向に進行していくのであるから、接合面15を通過する際には接合面を斜めに通過することとなる。仮に接合面15に接合のための接着剤などがあったとしても、その通過距離は最小限である。すなわち、接合面15には接合のための不均一性がおこりがちであるが、そのような不均一性があったとしても透過するX線の強度などに対して最小限の影響で収めることができる。また、試料Sの透視像に対しても接合面15の陰影がくっきりと出てしまうということがない。
したがって、試料を温調するために上述の断熱槽11を使った場合に、X線透視データに接合面15に起因する影響が少ないので、余分な像のない透視像が得られるとともに、くっきりとしたX線CT像すなわち試料Sの断層像を得ることができる。
1…X線管、2…X線検出器、3…X線光軸、4…試料台、5…回転軸、6…制御部、11…断熱槽、12…円筒部、13…平面部、14…孔、15…接合面、21…送風器、22…吹き出し口、S…試料
Claims (2)
- X線を発生するX線源と、前記X線源と対向して配置され前記X線源により発生されたX線を検出するX線検出器と、試料を保持しながらX線光軸と交わる回転軸を中心として回転する試料台と、その試料台を回転させつつ所定の回転ごとに取り込んだ試料のX線透過データを用いて、前記回転軸に直交する平面に沿った試料の断層像を再構成する再構成演算手段を備えたX線CT装置において、前記試料を取り囲むように前記試料台上に設置された円筒形の断熱槽を備えるとともに、その断熱槽の円筒面は所定の厚さを持つ平面状の断熱材を円筒形に丸めて二つの端部を接合して形成されたものであり、その接合部分の接合面が前記X線光軸と前記回転軸を含む平面に対して交差する平面となるように形成されていることを特徴とするX線CT装置。
- 請求項1に記載されたX線CT装置であって、前記断熱槽の上部に形成された平面部分には風を吹き込むための孔が形成されているとともに、この孔と対向する位置に所定の温度になるよう制御された風を吹き出すための吹き出し口を持つ温度制御装置を備えたことを特徴とするX線CT装置。
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US10901112B2 (en) | 2003-04-25 | 2021-01-26 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system with stationary x-ray sources |
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US10295483B2 (en) | 2005-12-16 | 2019-05-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Data collection, processing and storage systems for X-ray tomographic images |
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JP2015092178A (ja) * | 2009-02-25 | 2015-05-14 | シーエックスアール リミテッド | X線スキャナ |
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