JP3144152B2 - カルマン渦流量計 - Google Patents
カルマン渦流量計Info
- Publication number
- JP3144152B2 JP3144152B2 JP11311393A JP11311393A JP3144152B2 JP 3144152 B2 JP3144152 B2 JP 3144152B2 JP 11311393 A JP11311393 A JP 11311393A JP 11311393 A JP11311393 A JP 11311393A JP 3144152 B2 JP3144152 B2 JP 3144152B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- output
- time
- karman vortex
- wave signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Measuring Volume Flow (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、空気や水等の流量を測
定するカルマン渦流量計に係り、特にカルマン渦センサ
により検出する渦周波数に対応した矩形波を適正かつ精
度よく出力するよう構成した回路構成からなるカルマン
渦流量計に関する。
定するカルマン渦流量計に係り、特にカルマン渦センサ
により検出する渦周波数に対応した矩形波を適正かつ精
度よく出力するよう構成した回路構成からなるカルマン
渦流量計に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、カルマン渦流量計は、カルマン
渦センサが発生する流体の流量に応じた周波数の出力信
号を、矩形波信号に変換し、パルス信号（または統一信
号等）を出力することにより、流体の流量を計測するこ
とができる。
渦センサが発生する流体の流量に応じた周波数の出力信
号を、矩形波信号に変換し、パルス信号（または統一信
号等）を出力することにより、流体の流量を計測するこ
とができる。
【０００３】従って、流体が停止している状態ではパル
ス信号が出力されてはならない。しかし、従来の技術で
は、センサや配管が衝撃を受けるとセンサから信号が発
生し、パルス信号が出力されてしまうという問題があっ
た。
ス信号が出力されてはならない。しかし、従来の技術で
は、センサや配管が衝撃を受けるとセンサから信号が発
生し、パルス信号が出力されてしまうという問題があっ
た。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、カルマ
ン渦流量計による流量計測に際して、カルマン渦センサ
は、その構造上、衝撃を受けることにより、流体が停止
している状態であっても出力信号を発生する。
ン渦流量計による流量計測に際して、カルマン渦センサ
は、その構造上、衝撃を受けることにより、流体が停止
している状態であっても出力信号を発生する。
【０００５】そこで、この出力信号の周波数が測定範囲
内であって、しかもこの場合に出力レベルが大きいと、
波形整形されてパルス信号が出力されてしまう。
内であって、しかもこの場合に出力レベルが大きいと、
波形整形されてパルス信号が出力されてしまう。
【０００６】このため、流体が停止している状態でカル
マン渦センサが衝撃を受けても、パルス信号が出力され
ないように構成することが要求される。
マン渦センサが衝撃を受けても、パルス信号が出力され
ないように構成することが要求される。
【０００７】そこで、本発明の目的は、カルマン渦セン
サが衝撃を受けて所要の検出信号が発生した場合におい
ても、一定時間の出力禁止状態を設定することにより、
前記衝撃による検出信号の出力を禁止して常に適正かつ
高精度の出力信号を得ることができるカルマン渦流量計
を提供することにある。
サが衝撃を受けて所要の検出信号が発生した場合におい
ても、一定時間の出力禁止状態を設定することにより、
前記衝撃による検出信号の出力を禁止して常に適正かつ
高精度の出力信号を得ることができるカルマン渦流量計
を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明に係るカルマン渦流量計は、流体の流量に
応じた周波数の出力信号を発生するカルマン渦センサ
と、前記カルマン渦センサの出力信号を波形整形して矩
形波信号を発生する波形整形手段と、前記矩形波信号の
立上がりを検出する立上がり検出手段または前記矩形波
信号の立下がりを検出する立下がり検出手段と、前記立
上がり検出手段または立下がり検出手段による検出後か
ら、ある一定時間（Ｔｄ）を測定する第１の時間測定手
段と、前記第１の時間測定手段による時間測定後であっ
て前記立上がり検出手段または立下がり検出手段による
検出後から、ある一定時間（Ｔｅ）を測定する第２の時
間測定手段と、前記第１の時間測定手段による一定時間
（Ｔｄ）の測定中は出力を停止し、前記第２の時間測定
手段による一定時間（Ｔｅ）の測定中は波形整形手段に
同期した矩形波信号を発生する出力制御手段とを設ける
ことを特徴とする。
めに、本発明に係るカルマン渦流量計は、流体の流量に
応じた周波数の出力信号を発生するカルマン渦センサ
と、前記カルマン渦センサの出力信号を波形整形して矩
形波信号を発生する波形整形手段と、前記矩形波信号の
立上がりを検出する立上がり検出手段または前記矩形波
信号の立下がりを検出する立下がり検出手段と、前記立
上がり検出手段または立下がり検出手段による検出後か
ら、ある一定時間（Ｔｄ）を測定する第１の時間測定手
段と、前記第１の時間測定手段による時間測定後であっ
て前記立上がり検出手段または立下がり検出手段による
検出後から、ある一定時間（Ｔｅ）を測定する第２の時
間測定手段と、前記第１の時間測定手段による一定時間
（Ｔｄ）の測定中は出力を停止し、前記第２の時間測定
手段による一定時間（Ｔｅ）の測定中は波形整形手段に
同期した矩形波信号を発生する出力制御手段とを設ける
ことを特徴とする。
【０００９】前記のカルマン渦流量計において、立上が
り検出手段または立下がり検出手段は、矩形波信号の立
上がりおよび立下がりをそれぞれ検出する立上がりおよ
び立下がり検出手段により構成することができる。
り検出手段または立下がり検出手段は、矩形波信号の立
上がりおよび立下がりをそれぞれ検出する立上がりおよ
び立下がり検出手段により構成することができる。
【００１０】また、前記のカルマン渦流量計において、
出力制御手段は、第２の時間測定手段による一定時間
（Ｔｅ）の測定中にのみ波形整形手段により発生する矩
形波信号の状態変化に同期した矩形波信号を発生するに
よう構成することができる。
出力制御手段は、第２の時間測定手段による一定時間
（Ｔｅ）の測定中にのみ波形整形手段により発生する矩
形波信号の状態変化に同期した矩形波信号を発生するに
よう構成することができる。
【００１１】
【作用】本発明においては、カルマン渦センサの出力信
号に基づく矩形波信号の立上がりもしくは立下がりを検
出し、この検出後からある一定時間（Ｔｄ）を測定し、
さらにその一定時間（Ｔｄ）の測定後であって前記矩形
波信号の立上がりもしくは立下がりの検出後に一定時間
（Ｔｅ）を測定し、前記一定時間（Ｔｄ）を測定中は出
力を停止し、また前記一定時間（Ｔｅ）を測定中は前記
矩形波信号と同期した信号を発生することにより、カル
マン渦センサが衝撃を受けて所要の検出信号が発生した
場合において、その検出信号の出力を禁止し、常に適正
かつ高精度の出力信号を得ることができる。
号に基づく矩形波信号の立上がりもしくは立下がりを検
出し、この検出後からある一定時間（Ｔｄ）を測定し、
さらにその一定時間（Ｔｄ）の測定後であって前記矩形
波信号の立上がりもしくは立下がりの検出後に一定時間
（Ｔｅ）を測定し、前記一定時間（Ｔｄ）を測定中は出
力を停止し、また前記一定時間（Ｔｅ）を測定中は前記
矩形波信号と同期した信号を発生することにより、カル
マン渦センサが衝撃を受けて所要の検出信号が発生した
場合において、その検出信号の出力を禁止し、常に適正
かつ高精度の出力信号を得ることができる。
【００１２】
【実施例】次に、本発明に係るカルマン渦流量計の実施
例につき添付図面を参照しながら以下詳細に説明する。
例につき添付図面を参照しながら以下詳細に説明する。
【００１３】図１は、本発明に係るカルマン渦流量計の
一実施例を示すブロック回路図である。図１において、
参照符号１０はカルマン渦センサ、１２は波形整形手
段、１４は立上がり検出手段、１６および１８は時間測
定手段、２０は出力制御手段、２２はパルス出力手段を
それぞれ示す。
一実施例を示すブロック回路図である。図１において、
参照符号１０はカルマン渦センサ、１２は波形整形手
段、１４は立上がり検出手段、１６および１８は時間測
定手段、２０は出力制御手段、２２はパルス出力手段を
それぞれ示す。
【００１４】しかるに、本実施例回路においては、カル
マン渦センサ１０が流体の流量に比例した周波数の電気
信号を発生し、この電気信号は波形整形手段１２に送出
される。そこで、波形整形手段１２では、前記電気信号
を矩形波信号に変換してこれを立上がり検出手段１４に
送出する。立上がり検出手段１４では、前記矩形波信号
の立上がりを検出すると、この検出信号を時間測定手段
１６および１８に送出する。この場合、時間測定手段１
６は、この時間測定手段１６および１８が停止中にこの
信号を受けると、一定時間（Ｔｄ）において出力禁止信
号を時間測定手段１８に送出する。時間測定手段１８
は、この出力禁止信号を受けてこの信号を出力制御手段
２０へ送出する。
マン渦センサ１０が流体の流量に比例した周波数の電気
信号を発生し、この電気信号は波形整形手段１２に送出
される。そこで、波形整形手段１２では、前記電気信号
を矩形波信号に変換してこれを立上がり検出手段１４に
送出する。立上がり検出手段１４では、前記矩形波信号
の立上がりを検出すると、この検出信号を時間測定手段
１６および１８に送出する。この場合、時間測定手段１
６は、この時間測定手段１６および１８が停止中にこの
信号を受けると、一定時間（Ｔｄ）において出力禁止信
号を時間測定手段１８に送出する。時間測定手段１８
は、この出力禁止信号を受けてこの信号を出力制御手段
２０へ送出する。
【００１５】また、前記時間測定手段１６は、立上がり
検出手段１４からの立上がり検出信号を受けて、一定時
間（Ｔｄ）を経過すると、出力許可信号を時間測定手段
１８へ送出する。そこで、時間測定手段１８は、この出
力許可信号を受けると、一定時間（Ｔｅ）において時間
の測定を開始する。この時、一定時間（Ｔｅ）を経過す
る前に前記立上がり検出手段１４から立上がり検出信号
を受けると、その時点から一定時間（Ｔｅ）の測定を再
開（リセット）する。この一定時間（Ｔｅ）の測定中に
おいて、時間測定手段１８は出力許可信号を出力制御手
段２０に送出する。そして、出力制御手段２０は、前記
時間測定手段１８の出力信号が出力許可信号の場合の
み、波形整形手段１２で得られた出力信号をパルス出力
手段２２に送出する。
検出手段１４からの立上がり検出信号を受けて、一定時
間（Ｔｄ）を経過すると、出力許可信号を時間測定手段
１８へ送出する。そこで、時間測定手段１８は、この出
力許可信号を受けると、一定時間（Ｔｅ）において時間
の測定を開始する。この時、一定時間（Ｔｅ）を経過す
る前に前記立上がり検出手段１４から立上がり検出信号
を受けると、その時点から一定時間（Ｔｅ）の測定を再
開（リセット）する。この一定時間（Ｔｅ）の測定中に
おいて、時間測定手段１８は出力許可信号を出力制御手
段２０に送出する。そして、出力制御手段２０は、前記
時間測定手段１８の出力信号が出力許可信号の場合の
み、波形整形手段１２で得られた出力信号をパルス出力
手段２２に送出する。
【００１６】図２は、前記図１に示す実施例回路の立上
がり検出手段１４、時間測定手段１６および１８、出力
制御手段２０についての一構成例としての詳細な電気回
路図を示す。また、図３および図４は、前記図２に示す
回路の各部における動作状態を示す。すなわち、図３
は、流体が流れたことによりパルス信号が発生した場合
の図２における電気回路の各部の電圧波形を示し、また
図４は衝撃によりパルス信号が発生した場合の同様の電
圧波形を示す。なお、図４に示すように、衝撃により発
生するパルス信号は、比較的短時間であるので、パルス
信号が発生してから一定時間（Ｔｄ）においてその出力
を禁止する。この結果、衝撃によりパルス信号が発生し
ても出力が発生することはない。
がり検出手段１４、時間測定手段１６および１８、出力
制御手段２０についての一構成例としての詳細な電気回
路図を示す。また、図３および図４は、前記図２に示す
回路の各部における動作状態を示す。すなわち、図３
は、流体が流れたことによりパルス信号が発生した場合
の図２における電気回路の各部の電圧波形を示し、また
図４は衝撃によりパルス信号が発生した場合の同様の電
圧波形を示す。なお、図４に示すように、衝撃により発
生するパルス信号は、比較的短時間であるので、パルス
信号が発生してから一定時間（Ｔｄ）においてその出力
を禁止する。この結果、衝撃によりパルス信号が発生し
ても出力が発生することはない。
【００１７】しかるに、図３に示すように、流体が流れ
たことによりパルス信号が発生した場合、一定時間（Ｔ
ｄ）においてその出力が禁止されるが、その後は入力信
号（Ｖｉ）と同じパルス信号が出力される。以下、図２
に示す回路の動作につき説明する。
たことによりパルス信号が発生した場合、一定時間（Ｔ
ｄ）においてその出力が禁止されるが、その後は入力信
号（Ｖｉ）と同じパルス信号が出力される。以下、図２
に示す回路の動作につき説明する。
【００１８】立上がり検出手段１４を構成するフリップ
フロップＱ230 は、クロック端子（ＣＫ）に入力される
入力信号（Ｖｉ）の立上がりエッジを検出してパルス信
号（Ｖｉ1 ）を発生する。このパルス信号（Ｖｉ1 ）の
パルス幅（Ｔｉ1 ）は、抵抗Ｒ230 、容量Ｃ230 および
フリップフロップＱ230 のスレッシュホールド電圧（Ｖ
Hi）により、次式（１）により求められる。
フロップＱ230 は、クロック端子（ＣＫ）に入力される
入力信号（Ｖｉ）の立上がりエッジを検出してパルス信
号（Ｖｉ1 ）を発生する。このパルス信号（Ｖｉ1 ）の
パルス幅（Ｔｉ1 ）は、抵抗Ｒ230 、容量Ｃ230 および
フリップフロップＱ230 のスレッシュホールド電圧（Ｖ
Hi）により、次式（１）により求められる。
【００１９】
【数１】
【００２０】前記立上がり検出手段１４のフリップフロ
ップＱ230 から出力されるパルス信号（Ｖｉ1 ）は、３
入力ＡＮＤゲートＱ242 に入力され、この３入力ＡＮＤ
ゲートＱ242 を介して得られる信号（Ｖcd）が、時間計
測手段１６の第１のフリップフロップＱ240 に入力され
る。このフリップフロップＱ240 は、そのクロック端子
（ＣＫ）に前記信号（Ｖcd）を入力してその立上がりエ
ッジを検出し、パルス信号（Ｖcd1 ）を発生する。この
パルス信号（Ｖcd1 ）のパルス幅（Ｔcd1 ）は、抵抗Ｒ
240 、容量Ｃ240 およびフリップフロップＱ240 のスレ
ッシュホールド電圧（ＶHcd ）により、次式（２）によ
り求められる。
ップＱ230 から出力されるパルス信号（Ｖｉ1 ）は、３
入力ＡＮＤゲートＱ242 に入力され、この３入力ＡＮＤ
ゲートＱ242 を介して得られる信号（Ｖcd）が、時間計
測手段１６の第１のフリップフロップＱ240 に入力され
る。このフリップフロップＱ240 は、そのクロック端子
（ＣＫ）に前記信号（Ｖcd）を入力してその立上がりエ
ッジを検出し、パルス信号（Ｖcd1 ）を発生する。この
パルス信号（Ｖcd1 ）のパルス幅（Ｔcd1 ）は、抵抗Ｒ
240 、容量Ｃ240 およびフリップフロップＱ240 のスレ
ッシュホールド電圧（ＶHcd ）により、次式（２）によ
り求められる。
【００２１】
【数２】
【００２２】しかるに、前記時間計測手段１６における
３入力ＡＮＤゲートＱ242 に対して入力される、前記時
間計測手段１６のシュミットトリガインバータＱ243 の
出力信号（Ｖｄインバース）が「高レベル」であり、か
つ後述の時間計測手段１８のシュミットトリガインバー
タＱ253 の出力信号（Ｖｅインバース）が「高レベル」
の状態で、立上がり検出手段１４の出力パルス信号（Ｖ
ｉ1 ）が立上がると、前記フリップフロップＱ240 の出
力パルス信号（Ｖcd1 ）はそのパルス幅（Ｔcd1 ）の間
だけ「高レベル」となる。この結果、シュミットトリガ
インバータＱ24 3 の入力信号（Ｖｄ）は「高レベル」と
なり、このインバータＱ243 の出力信号（Ｖｄインバー
ス）は「低レベル」となる。従って、前記時間計測手段
１６における３入力ＡＮＤゲートＱ242 の出力信号（Ｖ
cd）が「低レベル」となるため、前記立上がり検出手段
１４の出力パルス信号（Ｖｉ1 ）が立上がっても前記フ
リップフロップＱ240 の出力パルス信号（Ｖcd1 ）は変
化しない。
３入力ＡＮＤゲートＱ242 に対して入力される、前記時
間計測手段１６のシュミットトリガインバータＱ243 の
出力信号（Ｖｄインバース）が「高レベル」であり、か
つ後述の時間計測手段１８のシュミットトリガインバー
タＱ253 の出力信号（Ｖｅインバース）が「高レベル」
の状態で、立上がり検出手段１４の出力パルス信号（Ｖ
ｉ1 ）が立上がると、前記フリップフロップＱ240 の出
力パルス信号（Ｖcd1 ）はそのパルス幅（Ｔcd1 ）の間
だけ「高レベル」となる。この結果、シュミットトリガ
インバータＱ24 3 の入力信号（Ｖｄ）は「高レベル」と
なり、このインバータＱ243 の出力信号（Ｖｄインバー
ス）は「低レベル」となる。従って、前記時間計測手段
１６における３入力ＡＮＤゲートＱ242 の出力信号（Ｖ
cd）が「低レベル」となるため、前記立上がり検出手段
１４の出力パルス信号（Ｖｉ1 ）が立上がっても前記フ
リップフロップＱ240 の出力パルス信号（Ｖcd1 ）は変
化しない。
【００２３】この場合、前記時間計測手段１６のコンデ
ンサＣ241 に蓄えられた電荷は、抵抗器Ｒ241 を通じて
放電されるため、前記シュミットトリガインバータＱ
243 の入力信号（Ｖｄ）は徐々に降下し、この入力信号
（Ｖｄ）はシュミットトリガインバータＱ243 のスレッ
シュホールド電圧（ＶHd）に達する。この時までの時間
Ｔddは、次式（３）により求められる。
ンサＣ241 に蓄えられた電荷は、抵抗器Ｒ241 を通じて
放電されるため、前記シュミットトリガインバータＱ
243 の入力信号（Ｖｄ）は徐々に降下し、この入力信号
（Ｖｄ）はシュミットトリガインバータＱ243 のスレッ
シュホールド電圧（ＶHd）に達する。この時までの時間
Ｔddは、次式（３）により求められる。
【００２４】
【数３】
【００２５】この結果、時間計測手段１６のシュミット
トリガインバータＱ243 の出力信号（Ｖｄインバース）
が、「低レベル」から「高レベル」となる。この出力信
号を受けて、前記時間計測手段１６の第２のフリップフ
ロップＱ241 の反転出力信号（Ｖｄ1 インバース）は、
そのパルス幅（Ｔｄ1 ）の間だけ「低レベル」となる。
このパルス幅（Ｔｄ1 ）は、フリップフロップＱ241 の
スレッシュホールド電圧（ＶHd1 ）により、次式（４）
により求められる。
トリガインバータＱ243 の出力信号（Ｖｄインバース）
が、「低レベル」から「高レベル」となる。この出力信
号を受けて、前記時間計測手段１６の第２のフリップフ
ロップＱ241 の反転出力信号（Ｖｄ1 インバース）は、
そのパルス幅（Ｔｄ1 ）の間だけ「低レベル」となる。
このパルス幅（Ｔｄ1 ）は、フリップフロップＱ241 の
スレッシュホールド電圧（ＶHd1 ）により、次式（４）
により求められる。
【００２６】
【数４】
【００２７】この時、時間計測手段１８のインバータＱ
254 の出力信号（Ｖed）は、「低レベル」であるので、
２入力ＡＮＤゲートＱ251 を介して時間計測手段１８の
フリップフロップＱ250 へ入力される信号（Ｖce）は、
前記パルス幅（Ｔｄ1 ）の間だけ「高レベル」となる。
このパルス信号（Ｖce）を受けて、前記フリップフロッ
プＱ250 の出力信号（Ｖce1 ）は、そのパルス幅（Ｔce
1 ）の間だけ「高レベル」となる。このパルス幅（Ｔce
1 ）は、フリップフロップＱ250 のスレッシュホールド
電圧（ＶHce ）により、次式（５）により求められる。
254 の出力信号（Ｖed）は、「低レベル」であるので、
２入力ＡＮＤゲートＱ251 を介して時間計測手段１８の
フリップフロップＱ250 へ入力される信号（Ｖce）は、
前記パルス幅（Ｔｄ1 ）の間だけ「高レベル」となる。
このパルス信号（Ｖce）を受けて、前記フリップフロッ
プＱ250 の出力信号（Ｖce1 ）は、そのパルス幅（Ｔce
1 ）の間だけ「高レベル」となる。このパルス幅（Ｔce
1 ）は、フリップフロップＱ250 のスレッシュホールド
電圧（ＶHce ）により、次式（５）により求められる。
【００２８】
【数５】
【００２９】この結果、前記時間計測手段１８におい
て、シュミットトリガインバータＱ25 3 の入力信号（Ｖ
ｅ）は「高レベル」となり、シュミットトリガインバー
タＱ25 3 の出力信号（Ｖｅインバース）は「低レベル」
となり、そしてインバータＱ25 4 の出力信号（Ｖed）は
「高レベル」となり、出力許可状態となる。
て、シュミットトリガインバータＱ25 3 の入力信号（Ｖ
ｅ）は「高レベル」となり、シュミットトリガインバー
タＱ25 3 の出力信号（Ｖｅインバース）は「低レベル」
となり、そしてインバータＱ25 4 の出力信号（Ｖed）は
「高レベル」となり、出力許可状態となる。
【００３０】時間計測手段１８のコンデンサＣ251 に蓄
えられた電荷は、抵抗器Ｒ251 を通じて放電されるた
め、前記シュミットトリガインバータＱ253 の入力信号
（Ｖｅ）は徐々に降下する。そこで、前記入力信号（Ｖ
ｅ）が、シュミットトリガインバータＱ253 のスレッシ
ュホールド電圧（ＶHe）に達するまでの時間（Ｔed）
は、次式（６）により求められる。
えられた電荷は、抵抗器Ｒ251 を通じて放電されるた
め、前記シュミットトリガインバータＱ253 の入力信号
（Ｖｅ）は徐々に降下する。そこで、前記入力信号（Ｖ
ｅ）が、シュミットトリガインバータＱ253 のスレッシ
ュホールド電圧（ＶHe）に達するまでの時間（Ｔed）
は、次式（６）により求められる。
【００３１】
【数６】
【００３２】図３に示すように、時間計測手段１８のイ
ンバータＱ254 の出力信号（Ｖed）が、「高レベル」の
状態〔言い換えれば、フリップフロップＱ250 の出力信
号（Ｖce1 ）が「高レベル」になってからのパルス幅
（Ｔce1 ＋Ｔed）以内〕で、立上がり検出手段１４への
入力信号（Ｖｉ）が立上がると、立上がり検出手段１４
のフリップフロップＱ230 からパルス信号（Ｖｉ1 ）が
出力される。この時、時間計測手段１８のシュミットト
リガインバータＱ253 の出力信号（Ｖｅインバース）は
「低レベル」であるので、時間計測手段１６の第１のフ
リップフロップＱ240 および第２のフリップフロップＱ
241 は状態変化しない。しかるに、時間計測手段１８の
フリップフロップＱ250 にパルス信号が供給されると、
前記シュミットトリガインバータＱ253 の入力信号（Ｖ
ｅ）は再び電源電圧Ｖccまで充電される。この場合、イ
ンバータＱ254 の出力信号（Ｖed）は、「高レベル」で
あるので、出力制御手段２０の２入力ＡＮＤゲートＱ
260 の出力信号（Ｖｐ）も立上がる。
ンバータＱ254 の出力信号（Ｖed）が、「高レベル」の
状態〔言い換えれば、フリップフロップＱ250 の出力信
号（Ｖce1 ）が「高レベル」になってからのパルス幅
（Ｔce1 ＋Ｔed）以内〕で、立上がり検出手段１４への
入力信号（Ｖｉ）が立上がると、立上がり検出手段１４
のフリップフロップＱ230 からパルス信号（Ｖｉ1 ）が
出力される。この時、時間計測手段１８のシュミットト
リガインバータＱ253 の出力信号（Ｖｅインバース）は
「低レベル」であるので、時間計測手段１６の第１のフ
リップフロップＱ240 および第２のフリップフロップＱ
241 は状態変化しない。しかるに、時間計測手段１８の
フリップフロップＱ250 にパルス信号が供給されると、
前記シュミットトリガインバータＱ253 の入力信号（Ｖ
ｅ）は再び電源電圧Ｖccまで充電される。この場合、イ
ンバータＱ254 の出力信号（Ｖed）は、「高レベル」で
あるので、出力制御手段２０の２入力ＡＮＤゲートＱ
260 の出力信号（Ｖｐ）も立上がる。
【００３３】また、立上がり検出手段１４への入力信号
（Ｖｉ）が立下がった場合には、立上がり検出手段１４
のフリップフロップＱ230 、時間計測手段１６の第１の
フリップフロップＱ240 および第２のフリップフロップ
Ｑ241 、時間計測手段１８のフリップフロップＱ
250 は、それぞれ状態変化せず、出力制御手段２０の２
入力ＡＮＤゲートＱ260 の出力信号（Ｖｐ）も立下が
る。すなわち、時間計測手段１８のインバータＱ254 の
出力信号（Ｖed）が「高レベル」の状態の時は、立上が
り検出手段１４への入力信号（Ｖｉ）が、そのまま出力
制御手段２０の出力信号（Ｖｐ）に現われる。
（Ｖｉ）が立下がった場合には、立上がり検出手段１４
のフリップフロップＱ230 、時間計測手段１６の第１の
フリップフロップＱ240 および第２のフリップフロップ
Ｑ241 、時間計測手段１８のフリップフロップＱ
250 は、それぞれ状態変化せず、出力制御手段２０の２
入力ＡＮＤゲートＱ260 の出力信号（Ｖｐ）も立下が
る。すなわち、時間計測手段１８のインバータＱ254 の
出力信号（Ｖed）が「高レベル」の状態の時は、立上が
り検出手段１４への入力信号（Ｖｉ）が、そのまま出力
制御手段２０の出力信号（Ｖｐ）に現われる。
【００３４】さらに、図４に示すように、立上がり検出
手段１４への入力信号（Ｖｉ）の立上がりが起生しない
うちに、時間計測手段１８のインバータＱ254 の出力信
号（Ｖed）が「低レベル」になると、出力禁止状態に戻
ってしまい、出力制御手段２０からの出力信号（Ｖｐ）
は得られない。
手段１４への入力信号（Ｖｉ）の立上がりが起生しない
うちに、時間計測手段１８のインバータＱ254 の出力信
号（Ｖed）が「低レベル」になると、出力禁止状態に戻
ってしまい、出力制御手段２０からの出力信号（Ｖｐ）
は得られない。
【００３５】以上の動作を満足させるためには、図２の
各部において得られるパルス信号のパルス幅およびその
動作時間の設定につき、次の条件が必要となる。
各部において得られるパルス信号のパルス幅およびその
動作時間の設定につき、次の条件が必要となる。
【００３６】 Ｔｄ（＝Ｔcd1 ＋Ｔdd） ＞ 衝撃に
より発生するパルスの減衰時間 Ｔｅ（＝Ｔce1 ＋Ｔed） ＞ 測定する最低流量の
周期 Ｔｉ1 、Ｔcd1 、Ｔｄ1 、Ｔce1 ＜ 測定する最
大流量の周期 図５は、図１に示す回路の立上がり検出手段１４、時間
測定手段１６および１８、出力制御手段２０についての
別の構成例を示す詳細な電気回路図である。すなわち、
本実施例においては、Ｃ−ＭＯＳスイッチを使用して、
図２に示す回路と同様の動作を行うように回路構成した
ものである。しかるに、本実施例回路によれば、図２に
示す回路構成に比べて、部品点数を少なくすることがで
きる。また、本実施例回路では、ダイオードを使用しな
いため、その温度特性（特に逆バイアス抵抗）について
考慮する必要がない等の利点を有する。
より発生するパルスの減衰時間 Ｔｅ（＝Ｔce1 ＋Ｔed） ＞ 測定する最低流量の
周期 Ｔｉ1 、Ｔcd1 、Ｔｄ1 、Ｔce1 ＜ 測定する最
大流量の周期 図５は、図１に示す回路の立上がり検出手段１４、時間
測定手段１６および１８、出力制御手段２０についての
別の構成例を示す詳細な電気回路図である。すなわち、
本実施例においては、Ｃ−ＭＯＳスイッチを使用して、
図２に示す回路と同様の動作を行うように回路構成した
ものである。しかるに、本実施例回路によれば、図２に
示す回路構成に比べて、部品点数を少なくすることがで
きる。また、本実施例回路では、ダイオードを使用しな
いため、その温度特性（特に逆バイアス抵抗）について
考慮する必要がない等の利点を有する。
【００３７】図６および図７は、前記図５に示す回路の
各部における動作状態を示すものであり、図６は流体が
流れたことによりパルスが発生した場合のそれぞれ電圧
波形を示し、また図７は衝撃によりパルスが発生した場
合のそれぞれ電圧波形を示す。しかるに、図５に示す回
路は、動作的には前記図２に示す回路の各部における動
作状態とほぼ同等であり、従って各部における電圧波形
は前記図３および図４に示す場合と同様であるので、そ
の説明は省略する。
各部における動作状態を示すものであり、図６は流体が
流れたことによりパルスが発生した場合のそれぞれ電圧
波形を示し、また図７は衝撃によりパルスが発生した場
合のそれぞれ電圧波形を示す。しかるに、図５に示す回
路は、動作的には前記図２に示す回路の各部における動
作状態とほぼ同等であり、従って各部における電圧波形
は前記図３および図４に示す場合と同様であるので、そ
の説明は省略する。
【００３８】図８は、本発明に係るカルマン渦流量計の
別の実施例を示すブロック回路図である。図８に示す実
施例においては、図１に示す実施例の立上がり検出手段
に代えて、矩形波入力信号の立上がりおよび立下がりを
検出して、これらの検出信号を時間測定手段１６および
１８へ送出する立上がりおよび立下がり検出手段１５を
設けたものである。従って、その他の構成は、前記図１
に示す実施例と同じである。
別の実施例を示すブロック回路図である。図８に示す実
施例においては、図１に示す実施例の立上がり検出手段
に代えて、矩形波入力信号の立上がりおよび立下がりを
検出して、これらの検出信号を時間測定手段１６および
１８へ送出する立上がりおよび立下がり検出手段１５を
設けたものである。従って、その他の構成は、前記図１
に示す実施例と同じである。
【００３９】図９は、図８に示す回路の立上がりおよび
立下がり検出手段１５の詳細な電気回路図を示す。な
お、時間測定手段１６および１８、出力制御手段２０に
ついては、前記実施例の図２または図５に示す回路を適
用することができるので、それらの詳細な回路図は省略
する。また、図１０および図１１は、前記図９に示す回
路の各部における動作状態を示すものであり、図１０は
流体が流れたことによりパルスが発生した場合のそれぞ
れ各部の電圧波形を示し、また図１１は衝撃によりパル
スが発生した場合のそれぞれ各部の電圧波形を示す。
立下がり検出手段１５の詳細な電気回路図を示す。な
お、時間測定手段１６および１８、出力制御手段２０に
ついては、前記実施例の図２または図５に示す回路を適
用することができるので、それらの詳細な回路図は省略
する。また、図１０および図１１は、前記図９に示す回
路の各部における動作状態を示すものであり、図１０は
流体が流れたことによりパルスが発生した場合のそれぞ
れ各部の電圧波形を示し、また図１１は衝撃によりパル
スが発生した場合のそれぞれ各部の電圧波形を示す。
【００４０】次に、図９に示す立上がりおよび立下がり
検出手段１５の動作について、図１０および図１１に示
す動作波形図を参照して説明する。
検出手段１５の動作について、図１０および図１１に示
す動作波形図を参照して説明する。
【００４１】立上がりおよび立下がり検出手段１５の入
力信号（Ｖｉ）の立上がり（立下がり）に対し、インバ
ータＱ930 を介して２入力ＮＡＮＤゲートＱ931 へ入力
される信号（Ｖｉa インバース）は、抵抗Ｒ930 および
容量Ｃ930 の時定数により立下がる（立上がる）。この
場合、前記２入力ＮＡＮＤゲートＱ931 の出力信号（Ｖ
ｉR インバース）は、前記入力信号（Ｖｉ）の立上がり
から前記入力信号（Ｖｉa インバース）が２入力ＮＡＮ
ＤゲートＱ931 のスレッシュホールド電圧（ＶHR）に達
するまでの時間（ＴｉR1とする）だけ「低レベル」とな
る。従って、前記時間（ＴｉR1）は、次式（７）により
求められる。
力信号（Ｖｉ）の立上がり（立下がり）に対し、インバ
ータＱ930 を介して２入力ＮＡＮＤゲートＱ931 へ入力
される信号（Ｖｉa インバース）は、抵抗Ｒ930 および
容量Ｃ930 の時定数により立下がる（立上がる）。この
場合、前記２入力ＮＡＮＤゲートＱ931 の出力信号（Ｖ
ｉR インバース）は、前記入力信号（Ｖｉ）の立上がり
から前記入力信号（Ｖｉa インバース）が２入力ＮＡＮ
ＤゲートＱ931 のスレッシュホールド電圧（ＶHR）に達
するまでの時間（ＴｉR1とする）だけ「低レベル」とな
る。従って、前記時間（ＴｉR1）は、次式（７）により
求められる。
【００４２】
【数７】
【００４３】一方、２入力ＮＡＮＤゲートＱ933 へ入力
される信号（Ｖｉa ）は、前記入力信号（Ｖｉ）の立上
がり（立下がり）に対し、抵抗Ｒ931 および容量Ｃ931
の時定数により立上がる（立下がる）。この場合、前記
２入力ＮＡＮＤゲートＱ933の出力信号（Ｖｉf インバ
ース）は、前記入力信号（Ｖｉ）の立下がりから前記入
力信号（Ｖｉa ）が２入力ＮＡＮＤゲートＱ933 のスレ
ッシュホールド電圧（ＶHf）に達するまでの時間（Ｔｉ
f1とする）だけ「低レベル」となる。従って、前記時間
（Ｔｉf1）は、次式（８）により求められる。
される信号（Ｖｉa ）は、前記入力信号（Ｖｉ）の立上
がり（立下がり）に対し、抵抗Ｒ931 および容量Ｃ931
の時定数により立上がる（立下がる）。この場合、前記
２入力ＮＡＮＤゲートＱ933の出力信号（Ｖｉf インバ
ース）は、前記入力信号（Ｖｉ）の立下がりから前記入
力信号（Ｖｉa ）が２入力ＮＡＮＤゲートＱ933 のスレ
ッシュホールド電圧（ＶHf）に達するまでの時間（Ｔｉ
f1とする）だけ「低レベル」となる。従って、前記時間
（Ｔｉf1）は、次式（８）により求められる。
【００４４】
【数８】
【００４５】この結果、立上がりおよび立下がり検出手
段１５の出力信号（Ｖｉ1 ）は、その入力信号（Ｖｉ）
の立上がり、立下がりに対し、前記時間幅ＴｉR1、Ｔｉ
f1のパルス信号が得られる。
段１５の出力信号（Ｖｉ1 ）は、その入力信号（Ｖｉ）
の立上がり、立下がりに対し、前記時間幅ＴｉR1、Ｔｉ
f1のパルス信号が得られる。
【００４６】なお、前記立上がりおよび立下がり検出手
段１５以外の各手段、例えば時間計測手段１６および１
８、出力制御手段２０についてのそれぞれ動作は、前述
した実施例の図２または図５に示す回路動作とほぼ同等
であるため、説明を省略する。
段１５以外の各手段、例えば時間計測手段１６および１
８、出力制御手段２０についてのそれぞれ動作は、前述
した実施例の図２または図５に示す回路動作とほぼ同等
であるため、説明を省略する。
【００４７】また、本実施例回路によれば、図１２に示
すように、図２または図５に示す実施例回路と比較し
て、その応答性が改善されることが了解されよう。
すように、図２または図５に示す実施例回路と比較し
て、その応答性が改善されることが了解されよう。
【００４８】そして、本実施例回路における前記動作を
満足させるためには、図９の各部において得られるパル
ス信号のパルス幅およびその動作時間の設定につき、次
の条件が必要となる。
満足させるためには、図９の各部において得られるパル
ス信号のパルス幅およびその動作時間の設定につき、次
の条件が必要となる。
【００４９】 Ｔｄ（＝Ｔcd1 ＋Ｔdd） ＞ 衝撃に
より発生するパルスの減衰時間 Ｔｅ（＝Ｔce1 ＋Ｔed） ＞ 測定する最低流量の
周期／２ ＴｉR1、Ｔｉf1、Ｔｉ1 、Ｔcd1 、Ｔｄ1 、Ｔce1
＜ 測定する最大流量の周期／２ しかるに、前述した図２、図５および図９に示す実施例
回路においては、流体が停止状態で衝撃によるパルスが
発生しても、出力を生じないように設定することができ
るが、図１３の（ａ）、（ｂ）に示すように２つの問題
点がある。すなわち、図１３の（ａ）に示すように、衝
撃により発生したパルス信号（Ｖｉ）が「高レベル」で
終わった場合、時間計測手段１８の出力信号（Ｖed）と
のＡＮＤ条件により、出力許可状態の時に１パルス（パ
ルス幅Ｔｅ）の出力信号（Ｖｐ）を生じる。また、図１
３の（ｂ）に示すように、入力信号（Ｖｉ）が「高レベ
ル」の時に、出力許可状態となった場合、半端なパルス
からなる出力信号（Ｖｐ）を生じる。
より発生するパルスの減衰時間 Ｔｅ（＝Ｔce1 ＋Ｔed） ＞ 測定する最低流量の
周期／２ ＴｉR1、Ｔｉf1、Ｔｉ1 、Ｔcd1 、Ｔｄ1 、Ｔce1
＜ 測定する最大流量の周期／２ しかるに、前述した図２、図５および図９に示す実施例
回路においては、流体が停止状態で衝撃によるパルスが
発生しても、出力を生じないように設定することができ
るが、図１３の（ａ）、（ｂ）に示すように２つの問題
点がある。すなわち、図１３の（ａ）に示すように、衝
撃により発生したパルス信号（Ｖｉ）が「高レベル」で
終わった場合、時間計測手段１８の出力信号（Ｖed）と
のＡＮＤ条件により、出力許可状態の時に１パルス（パ
ルス幅Ｔｅ）の出力信号（Ｖｐ）を生じる。また、図１
３の（ｂ）に示すように、入力信号（Ｖｉ）が「高レベ
ル」の時に、出力許可状態となった場合、半端なパルス
からなる出力信号（Ｖｐ）を生じる。
【００５０】そこで、このような問題点を解決すべく提
案されたのが、以下に説明する実施例回路である。
案されたのが、以下に説明する実施例回路である。
【００５１】図１４は、本発明に係るカルマン渦流量計
のさらに別の実施例を示すブロック回路図である。図１
４に示す実施例においては、図８に示す実施例の立上が
りおよび立下がり検出手段１５の出力信号と、時間計測
手段１８の出力信号とを入力して、出力許可状態の時に
前記立上がりおよび立下がり検出手段１５からの立上が
りおよび立下がり検出信号を受けると、その出力を反転
させる出力制御手段２１を設けたものである。その他の
構成は、前記図８に示す実施例と同じである。
のさらに別の実施例を示すブロック回路図である。図１
４に示す実施例においては、図８に示す実施例の立上が
りおよび立下がり検出手段１５の出力信号と、時間計測
手段１８の出力信号とを入力して、出力許可状態の時に
前記立上がりおよび立下がり検出手段１５からの立上が
りおよび立下がり検出信号を受けると、その出力を反転
させる出力制御手段２１を設けたものである。その他の
構成は、前記図８に示す実施例と同じである。
【００５２】図１５は、図１４に示す回路の出力制御手
段２１の詳細な電気回路図を示す。なお、立上がりおよ
び立下がり検出手段１５については、前記実施例の図９
に示す回路を適用することができ、また時間計測手段１
６および１８については、前記実施例の図２または図５
に示す回路を適用することができるので、それらの詳細
な回路図は省略する。また、図１６および図１７は、前
記図１５に示す回路の各部における動作状態を示すもの
であり、図１６は流体が流れたことによりパルスが発生
した場合のそれぞれ各部の電圧波形を示し、また図１７
は衝撃によりパルスが発生した場合のそれぞれ各部の電
圧波形を示す。
段２１の詳細な電気回路図を示す。なお、立上がりおよ
び立下がり検出手段１５については、前記実施例の図９
に示す回路を適用することができ、また時間計測手段１
６および１８については、前記実施例の図２または図５
に示す回路を適用することができるので、それらの詳細
な回路図は省略する。また、図１６および図１７は、前
記図１５に示す回路の各部における動作状態を示すもの
であり、図１６は流体が流れたことによりパルスが発生
した場合のそれぞれ各部の電圧波形を示し、また図１７
は衝撃によりパルスが発生した場合のそれぞれ各部の電
圧波形を示す。
【００５３】次に、図１５に示す出力制御手段２１の動
作について、図１６および図１７に示す動作波形図を参
照して説明する。
作について、図１６および図１７に示す動作波形図を参
照して説明する。
【００５４】立上がりおよび立下がり検出手段１５の出
力信号（Ｖｉ1 ）と、時間計測手段１８の出力信号（Ｖ
ed）とが、出力制御手段２１のＡＮＤゲートＱ151 に入
力される。この場合、前記ＡＮＤゲートＱ151 は、時間
計測手段１８からの出力許可信号（Ｖed）が「高レベ
ル」の時に、前記出力信号（Ｖｉ1 ）の立上がりおよび
立下がりに対応して所定のパルス信号（Ｖct）を出力
し、フリップフロップＱ15 0 へ送出する。しかるに、前
記フリップフロップＱ150 は、クロック端子（ＣＫ）に
入力される前記パルス信号（Ｖct）の立上がりエッジを
検出して、立上がりおよび立下がり検出手段１５への入
力信号（Ｖｉ）に対して反転する出力信号（Ｖｐ）を出
力する。
力信号（Ｖｉ1 ）と、時間計測手段１８の出力信号（Ｖ
ed）とが、出力制御手段２１のＡＮＤゲートＱ151 に入
力される。この場合、前記ＡＮＤゲートＱ151 は、時間
計測手段１８からの出力許可信号（Ｖed）が「高レベ
ル」の時に、前記出力信号（Ｖｉ1 ）の立上がりおよび
立下がりに対応して所定のパルス信号（Ｖct）を出力
し、フリップフロップＱ15 0 へ送出する。しかるに、前
記フリップフロップＱ150 は、クロック端子（ＣＫ）に
入力される前記パルス信号（Ｖct）の立上がりエッジを
検出して、立上がりおよび立下がり検出手段１５への入
力信号（Ｖｉ）に対して反転する出力信号（Ｖｐ）を出
力する。
【００５５】従って、本実施例回路においては、図１６
に示すように、時間計測手段１８からの出力許可信号
（Ｖed）が「高レベル」になっても、フリップフロップ
Ｑ150がＡＮＤゲートＱ151 の出力信号（Ｖct）として
立上がりエッジを受けるまでは、その出力信号（Ｖｐ）
は変化しないので、例えば入力信号（Ｖｉ）が「高レベ
ル」の時に、出力許可状態となった場合でも半端なパル
ス信号が出力されることはない。
に示すように、時間計測手段１８からの出力許可信号
（Ｖed）が「高レベル」になっても、フリップフロップ
Ｑ150がＡＮＤゲートＱ151 の出力信号（Ｖct）として
立上がりエッジを受けるまでは、その出力信号（Ｖｐ）
は変化しないので、例えば入力信号（Ｖｉ）が「高レベ
ル」の時に、出力許可状態となった場合でも半端なパル
ス信号が出力されることはない。
【００５６】同様に、図１７に示すように、衝撃により
発生したパルス信号（Ｖｉ）が「高レベル」で終わった
場合でも、出力許可状態の時にパルス信号が出力される
ことはない。
発生したパルス信号（Ｖｉ）が「高レベル」で終わった
場合でも、出力許可状態の時にパルス信号が出力される
ことはない。
【００５７】以上、本発明の好適な実施例について説明
したが、本発明は前記実施例に限定されることなく、そ
の精神を逸脱しない範囲内において多くの設計変更が可
能である。
したが、本発明は前記実施例に限定されることなく、そ
の精神を逸脱しない範囲内において多くの設計変更が可
能である。
【００５８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るカル
マン渦流量計によれば、流体の流量に応じた周波数の出
力信号を発生するカルマン渦センサと、その出力信号を
波形整形して矩形波信号を発生する波形整形手段と、前
記矩形波信号の立上がり（立下がり）を検出する立上が
り（立下がり）検出手段と、前記立上がり検出手段によ
る検出後から、ある一定時間（Ｔｄ）を測定する第１の
時間測定手段と、この第１の時間測定手段による時間測
定後および前記立上がり検出手段による検出後から、あ
る一定時間（Ｔｅ）を測定する第２の時間測定手段と、
前記第１の時間測定手段による一定時間（Ｔｄ）の測定
中は出力を停止し、前記第２の時間測定手段による一定
時間（Ｔｅ）の測定中は波形整形手段に同期した矩形波
信号を発生する出力制御手段とを設けることにより、流
体が停止している状態でカルマン渦センサが衝撃を受け
ても出力信号が発生するのを確実に防止することができ
る。
マン渦流量計によれば、流体の流量に応じた周波数の出
力信号を発生するカルマン渦センサと、その出力信号を
波形整形して矩形波信号を発生する波形整形手段と、前
記矩形波信号の立上がり（立下がり）を検出する立上が
り（立下がり）検出手段と、前記立上がり検出手段によ
る検出後から、ある一定時間（Ｔｄ）を測定する第１の
時間測定手段と、この第１の時間測定手段による時間測
定後および前記立上がり検出手段による検出後から、あ
る一定時間（Ｔｅ）を測定する第２の時間測定手段と、
前記第１の時間測定手段による一定時間（Ｔｄ）の測定
中は出力を停止し、前記第２の時間測定手段による一定
時間（Ｔｅ）の測定中は波形整形手段に同期した矩形波
信号を発生する出力制御手段とを設けることにより、流
体が停止している状態でカルマン渦センサが衝撃を受け
ても出力信号が発生するのを確実に防止することができ
る。
【００５９】また、本発明のカルマン渦流量計によれ
ば、矩形波信号の立上がりまたは立下がりを検出する手
段として、矩形波信号の立上がりおよび立下がりを検出
する手段を設けることにより、流体が流れ始めた時の応
答性を向上することができる。
ば、矩形波信号の立上がりまたは立下がりを検出する手
段として、矩形波信号の立上がりおよび立下がりを検出
する手段を設けることにより、流体が流れ始めた時の応
答性を向上することができる。
【００６０】さらに、出力制御手段は、時間測定手段に
よる一定時間（Ｔｅ）の測定中にのみ波形整形手段によ
り発生する矩形波信号の状態変化に同期した矩形波信号
を発生するように設定することにより、出力許可状態と
なった場合に、不要なパルス信号の出力を防止して、常
に適正なパルス信号を出力させることができる。
よる一定時間（Ｔｅ）の測定中にのみ波形整形手段によ
り発生する矩形波信号の状態変化に同期した矩形波信号
を発生するように設定することにより、出力許可状態と
なった場合に、不要なパルス信号の出力を防止して、常
に適正なパルス信号を出力させることができる。
【図１】本発明に係るカルマン渦流量計の一実施例を示
すブロック回路図である。
すブロック回路図である。
【図２】図１に示すカルマン渦流量計の主要部の一回路
構成を示す電気回路図である。
構成を示す電気回路図である。
【図３】図２に示す回路の各部における動作状態をそれ
ぞれ示す波形図である。
ぞれ示す波形図である。
【図４】図２に示す回路の各部における別の動作状態を
それぞれ示す波形図である。
それぞれ示す波形図である。
【図５】図２に示すカルマン渦流量計の主要部の別の回
路構成の変形例を示す電気回路図である。
路構成の変形例を示す電気回路図である。
【図６】図５に示す回路の各部における動作状態をそれ
ぞれ示す波形図である。
ぞれ示す波形図である。
【図７】図５に示す回路の各部における別の動作状態を
それぞれ示す波形図である。
それぞれ示す波形図である。
【図８】本発明に係るカルマン渦流量計の別の実施例を
示すブロック回路図である。
示すブロック回路図である。
【図９】図８に示すカルマン渦流量計の主要部の回路構
成を示す電気回路図である。
成を示す電気回路図である。
【図１０】図９に示す回路の各部における動作状態をそ
れぞれ示す波形図である。
れぞれ示す波形図である。
【図１１】図９に示す回路の各部における別の動作状態
をそれぞれ示す波形図である。
をそれぞれ示す波形図である。
【図１２】図２に示す実施例の回路と図９に示す実施例
の回路との応答特性をそれぞれ比較対比した波形図であ
る。
の回路との応答特性をそれぞれ比較対比した波形図であ
る。
【図１３】図２に示す実施例の回路における衝撃による
パルス信号の発生に伴う動作状態を示すもので、（ａ）
は出力許可状態の時に１パルスを出力する場合のそれぞ
れ波形図、（ｂ）は出力許可状態の時に半端なパルスを
出力する場合のそれぞれ波形図である。
パルス信号の発生に伴う動作状態を示すもので、（ａ）
は出力許可状態の時に１パルスを出力する場合のそれぞ
れ波形図、（ｂ）は出力許可状態の時に半端なパルスを
出力する場合のそれぞれ波形図である。
【図１４】本発明に係るカルマン渦流量計のさらに別の
実施例を示すブロック回路図である。
実施例を示すブロック回路図である。
【図１５】図１４に示すカルマン渦流量計の主要部の回
路構成を示す電気回路図である。
路構成を示す電気回路図である。
【図１６】図１５に示す回路の各部における動作状態を
それぞれ示す波形図である。
それぞれ示す波形図である。
【図１７】図１５に示す回路の各部における別の動作状
態をそれぞれ示す波形図である。
態をそれぞれ示す波形図である。
１０ カルマン渦センサ １２ 波形整形手段 １４ 立上がり検出手段 １５ 立上がりおよび立下がり検出手段 １６ 時間計測手段 １８ 時間計測手段 ２０ 出力制御手段 ２１ 出力制御手段 ２２ パルス出力手段
Claims (3)
- 【請求項１】 流体の流量に応じた周波数の出力信号を
発生するカルマン渦センサと、 前記カルマン渦センサの出力信号を波形整形して矩形波
信号を発生する波形整形手段と、 前記矩形波信号の立上がりを検出する立上がり検出手段
または前記矩形波信号の立下がりを検出する立下がり検
出手段と、 前記立上がり検出手段または立下がり検出手段による検
出後から、ある一定時間（Ｔｄ）を測定する第１の時間
測定手段と、 前記第１の時間測定手段による時間測定後および前記立
上がり検出手段または立下がり検出手段による検出後か
ら、ある一定時間（Ｔｅ）を測定する第２の時間測定手
段と、 前記第１の時間測定手段による一定時間（Ｔｄ）の測定
中は出力を停止し、前記第２の時間測定手段による一定
時間（Ｔｅ）の測定中は波形整形手段に同期した矩形波
信号を発生する出力制御手段とを設けることを特徴とす
るカルマン渦流量計。 - 【請求項２】 請求項１記載のカルマン渦流量計におい
て、立上がり検出手段または立下がり検出手段は、矩形
波信号の立上がりおよび立下がりをそれぞれ検出する立
上がりおよび立下がり検出手段により構成してなるカル
マン渦流量計。 - 【請求項３】 請求項２記載のカルマン渦流量計におい
て、出力制御手段は、第２の時間測定手段による一定時
間（Ｔｅ）の測定中にのみ波形整形手段により発生する
矩形波信号の状態変化に同期した矩形波信号を発生する
よう構成してなるカルマン渦流量計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11311393A JP3144152B2 (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | カルマン渦流量計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11311393A JP3144152B2 (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | カルマン渦流量計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06323883A JPH06323883A (ja) | 1994-11-25 |
| JP3144152B2 true JP3144152B2 (ja) | 2001-03-12 |
Family
ID=14603845
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11311393A Expired - Fee Related JP3144152B2 (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | カルマン渦流量計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3144152B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007125725A1 (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-08 | Oval Corporation | 変換器用パルス幅整形回路及び渦流量計 |
-
1993
- 1993-05-14 JP JP11311393A patent/JP3144152B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007125725A1 (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-08 | Oval Corporation | 変換器用パルス幅整形回路及び渦流量計 |
| US7946185B2 (en) | 2006-04-27 | 2011-05-24 | Oval Corporation | Converter pulse width shaping circuit and excessive vortex flow rate meter |
| CN101432598B (zh) * | 2006-04-27 | 2013-01-02 | 株式会社奥巴尔 | 转换器用脉冲宽度整形电路及涡式流量计 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06323883A (ja) | 1994-11-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6695475B2 (en) | Temperature sensing circuit and method | |
| US4429236A (en) | Apparatus for generating pulses upon decreases in supply voltage | |
| EP1164697B1 (en) | Glass touch sensing circuit | |
| EP3557206B1 (en) | Temperature sensor in an integrated circuit having offset cancellation | |
| GB2044504A (en) | Count discriminating fire detector | |
| US20200266814A1 (en) | Power-on reset circuit with reset transition delay | |
| JPH0456488B2 (ja) | ||
| JP3144152B2 (ja) | カルマン渦流量計 | |
| US6081137A (en) | Frequency detecting circuit | |
| US9088288B1 (en) | Method and apparatus for clock generator | |
| US7508250B1 (en) | Testing for normal or reverse temperature related delay variations in integrated circuits | |
| US6173436B1 (en) | Standard cell power-on-reset circuit | |
| US6208172B1 (en) | System margin and core temperature monitoring of an integrated circuit | |
| US7106116B2 (en) | Pulse duty deterioration detection circuit | |
| US5744973A (en) | Resistance to frequency circuit for measuring ambient temperature on a thermostat | |
| JPH0133052B2 (ja) | ||
| KR100995240B1 (ko) | 정전 용량 감지 회로 | |
| KR101509421B1 (ko) | 클럭신호와 피크검출기를 이용한 파워온 리셋 회로 | |
| JP2545001Y2 (ja) | 比較回路 | |
| JPH0744802A (ja) | 負荷オープン検出回路 | |
| JP3774038B6 (ja) | パワーオンリセット信号発生回路 | |
| JP3774038B2 (ja) | パワーオンリセット信号発生回路 | |
| JPH01121768A (ja) | 周波数差検出装置およびドップラ周波数検出装置 | |
| RU2212095C1 (ru) | Триггерное устройство | |
| KR101960887B1 (ko) | 온도 측정 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080105 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090105 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100105 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |