JP3140573B2 - Si発光素子とその製造方法 - Google Patents

Si発光素子とその製造方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は発光素子に関し、特に発
光が可能なヘテロダイオード型Si発光素子に関する。
【0002】近年、Siの寸法を微小化して量子効果を
生じさせることにより、可視領域発光を得る試みが行な
われている。
【0003】
【従来の技術】Siは近赤外光に相当する間接遷移型バ
ンドギャップを有し、従来、発光は困難であろうと考え
られ、発光素子への応用は見捨てられていた。しかし、
Siにおいても、そのサイズを量子効果が発現する程度
(数十〜百Å)に微小化すると、バンド構造が変化する
ことが見いだされた。
【0004】バンド構造は擬似的に直接遷移型となり、
サブバンド形成と共にバンドギャップエネルギの実効的
増大 ΔEg=h2 {(1/4m* e 2 )+(1/4m* h 2 )} (ここに、hはプランク定数、dは量子サイズ径)が見
られる。
【0005】Siの発光が電気的手段で達成されれば、
Si基板を用いた光電子集積回路やディスプレイが実現
できる。量子サイズの細線を含むポーラスSiは、弗酸
水溶液中でのSiの陽極酸化過程で比較的簡単に、しか
も大面積に亘って形成できる。したがって、低コストな
表示素子への応用が期待される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】量子細線状のポーラス
Siは、発光の可能性を有しているが、電気的発光装置
としての具体的構成は未だ知られていない。また、量子
細線状のSi領域は脆弱である。ポーラスSiは、直径
数十Å程度の曲折した柱状Siが互いに空間的に分離し
た集合体である。このため、機械的強度が著しく弱い。
【0007】本発明の目的は、電気的にポーラスSi、
すなわちSi量子細線束を発光させることができ、かつ
その脆弱さを補強した新規なSi発光素子およびその製
造方法を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明のSi発光素子
は、p型導電性を有する量子細線状のポーラスSi層
と、n型導電性を有し、前記ポーラスSi層とpn接合
を形成する導電性ポリマー層と、前記ポーラスSi層、
導電性ポリマー層のそれぞれに対する電極とを有する。
【0009】導電性ポリマーは、ポリピロール誘導体、
ポリアセチレン誘導体ないしポリアニリン誘導体で形成
することが好ましい。また、導電性ポリマー層は、ポー
ラスSi層上に、電気化学的成膜法または蒸気成膜法で
積層することが好ましい。
【0010】
【作用】p型ポーラスSi層とn型の導電性ポリマー層
を接合し、それぞれの電極を通して順方向あるいは逆方
向にバイアス電圧を印加すると、電子がポーラスSi層
に注入されて再結合発光する。発光波長は量子細線径に
依存する。
【0011】ポーラスSi層に接合した導電性ポリマー
層は、脆弱な量子細線束を補強する役割も果たす。以
下、本発明を実施例に基づいてより詳しく述べる。
【0012】
【実施例】図1は、実施例によるSi発光素子の製造工
程の主要部を示す断面図である。図1(A)に示すよう
に、透明石英で形成された絶縁物基板5の片面にSi層
用電極3としてITO膜または極めて薄い金膜を形成す
る。この上に、Bドープのp型ポリSi層6を堆積す
る。
【0013】たとえば、Siソースとして水素希釈のシ
ランガス、p型ドーパントとしてジボランを用い、プラ
ズマCVDにより厚さ数千Åから数μm、キャリア濃度
7×1017cm-3のp型ポリSi層を成膜する。
【0014】次に、図2(A)に示すように、弗酸水溶
液(HF10〜48重量%)中にポリSi層6を浸漬
し、直流バイアス電源EB の陽極に接続し、対向して浸
漬した白金等の参照電極を直流バイアス電源EB の陰極
に接続する。
【0015】電流密度10〜70mA/cm2 で直流通
電を行い、陽極酸化を行い、ポリSi層6表面よりポー
ラスSi領域1を形成する。ポリSiのポーラス化は、
一旦表面が穿孔されるはじめると、その屈曲面に電界が
集中するので、深さ方向に優先的に陽極酸化が進行す
る。時間の経過と共に、孔径はあまり広がらないが、深
く穿孔される。
【0016】陽極酸化反応には、正孔の存在が必要であ
る。孔底部と較べ、孔側壁面は平坦なため電界が弱く、
その表面に空乏層が広がっているため、正孔の供給が少
ない。正孔は曲率半径が小さく、電界の集中する孔底部
で優先的に生じる。このため、陽極酸化は深さ方向に優
先的に進む。酸化膜は直ちに弗酸水溶液に溶解する。
【0017】しかし、エッチングに伴うボイドの発生等
で穿孔は、必ずしも表面から垂直には進行しない。むし
ろ、図2(B)の拡大図に示すように、曲折しながら深
くなる。
【0018】したがって、穿孔径はエッチング時間のみ
でなく、HF水溶液濃度や温度によっても決まる。穿孔
率が50%を越えると、図示したように互いに空孔11
によって分離されたSi量子細線10が形成される。S
i量子細線径は40〜50Åにすることができる。
【0019】このようにして、HF水溶液に浸漬したポ
リSi層6の表層領域に量子サイズのポーラスSi層1
が形成される。なお、p型ポリ層6の代わりに、アクセ
プタをドープしたp型非晶質Si層を用いることもでき
る。本明細書において、特に断らない限り、「ポリS
i」は「非晶質Si」を含むものとする。
【0020】図1(B)に示すように、ポーラスSi層
1の上に、n型導電性を有する導電性ポリマー層2を堆
積する。たとえば、ポリビニルアルコール(PVA)と
三塩化鉄(FeCl3 )を水またはエチルアルコールに
溶解させ、これをスピンコート法によってSi層表面に
塗布し、乾燥、熱処理によって重合させる。ここで、F
eCl3 は重合の酸化(促進)剤である。
【0021】次に、−15℃に冷却し、ポリビニルアル
コール膜をピロールと水蒸気に曝すと、ポリピロール誘
導体膜(ポリピロール−ポリビニルアルコール複合膜)
が得られる。このような蒸気成膜法により、n型導電性
を有する導電性ポリマー層2が形成される。
【0022】導電ポリマー層2は、蒸気成膜法以外で形
成してもよい。たとえば、PVA、ピロール、FeCl
3 の混合物を水またはエチルアルコールに溶解して塗
布、乾燥、熱処理してポリピロール−ポリビニルアルコ
ール複合膜を形成する重合法、あるいはPVA、ピロー
ル、FeCl3 の混合溶液中にポリSi層を直接浸漬し
て電界で重合させつつ堆積する電気化学的成膜法等を用
いることができる。
【0023】これら導電性ポリマー層形成方法の詳細
は、たとえば以下の論文を参照されたい(T.Ojio and
S.Miyata, Polymer Journal, 18,95(1986), Y.E.Whang,
J.H.Han, T.Motobe, T.Watanabe and S.Miyata, Synth
etic Metals, 45,151(1991), J.H.Han, T.Motobe, Y.E.
Whang and S.Miyata, Synthetic Metals, 45,261(199
1))。
【0024】図1(C)に示すように、n型の導電性ポ
リマー層2上に、ポリマー層用の電極4としてITO膜
をスパッタ成膜する。ポリマー層用電極4の上にホトレ
ジスト膜を塗布し、露光、現像してホトレジストのエッ
チングマスク7を形成する。
【0025】図1(D)に示すように、このマスク7を
用いて、まずポリマー層用電極4であるITOをスパッ
タエッチングし、次に酸素プラズマ中で導電性ポリマー
層2をアッシングする。
【0026】さらに、塩素系ないし弗酸系のガスプラズ
マ中でポリSi層6をエッチングする。エッチングされ
た領域には、Si層用電極3であるITOが露出する。
その後、エッチングマスクは除去する。
【0027】その後、ITOからなる電極3、4に対し
て、Al等の金属によるオーミックコンタクト8、8′
を形成すれば、Si発光素子が完成する。導電性ポリマ
ー層2は、Si量子細線の少なくとも頂頭部と結合し、
脆弱なポーラスSi層1の機械的強度を補強する。特
に、電界重合成膜法の場合、導電性ポリマー層2は、電
界によって空孔11上部にまで侵入するので、より好ま
しいといえる。
【0028】上述の製造工程は、大面積化が容易であ
る。たとえば、X−Yマトリクス方式のディスプレイを
作成することができる。図3は、透明な絶縁物基板上に
多数のSi発光素子Zijが互いに分離され、マトリク
ス状に配置された表示装置を示す。図3(A)は平面
図、図3(B)は画素部の拡大斜視図である。
【0029】基板20上にストライプ状のSi層用電極
(下層透明電極)YjがY方向に形成され、その上にp
型ポーラスSi層とn型導電性ポリマー層で構成された
発光素子Zijが形成され、その上に導電性ポリマー層
用電極(上層金属電極)Xijが形成されている。な
お、上層金属電極形成前に平坦化処理を行なってもよい
ことは当業者に自明であろう。
【0030】Si発光素子からの輻射光は、下方の透明
基板側から放射されるので、ストライプ状電極Yjは透
明でなければならないが、Xiは金属(不透明)でよ
い。高反射率金属を用いることにより、外部量子効率を
高めることもできる。なお、マトリクス状発光素子群の
うち、信号電圧が印加されたZijのみが発光する。な
お、各発光素子にさらにスイッチングトランジスタ等を
結合してもよい。
【0031】これらSi発光素子は、順方向電圧なら5
V以上のバイアス条件下で、また逆方向電圧なら20V
程度のバイアス条件で発光する。発光強度は印加電圧
(したがって流れる電流)に依存するが、発光波長はS
i量子細線径に依存する。径が細いほど短波長光が発光
する。
【0032】裏面発光型に代え、表面発光型とすること
もできる。この場合は上側の電極を透明電極とする。ま
た、絶縁基板の代わりにSi単結晶基板を用い、p型S
i層も単結晶とすることもできる。
【0033】導電性ポリマーは、上記実施例以外にも他
のポリピロール誘導体を用いても、あるいはポリアニリ
ン誘電体やポリアセチレン誘電体を用いてもよい。ただ
し、ポリアニリン系やポリアセチレン系は、酸素雰囲気
では耐久性に欠ける。
【0034】以上実施例に沿って本発明を説明したが、
本発明はこれらに制限されるものではない。たとえば、
種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者
に自明であろう。
【0035】
【発明の効果】以上実施例を用いて説明したように、本
発明によれば、比較的容易に量子細線状のポーラスSi
を用い、その脆弱さを補強したSi発光素子を提供する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例によるSi発光素子の製造工程の主要部
を示す断面図である。
【図2】ポーラスSi層の形成方法およびポーラス領域
の概略構成を示す断面図である。
【図3】X−Yマトリクス形表示装置を示す平面図およ
び概略斜視図である。
【符号の説明】
1 ポーラスSi層 2 導電性ポリマー層 3 Si層用電極 4 ポリマー層用電極 5 絶縁物基板 6 ポリSi層 7 エッチングマスク 8、8′ オーミックコンタクト 10 Si量子細線 11 空孔 20 基板 Zij Si発光素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−76576(JP,A) 特開 平4−363890(JP,A) 特開 平5−36478(JP,A) 特開 平3−262170(JP,A) 実開 昭62−123097(JP,U) 特表 平5−502978(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 33/00 H05B 33/14 H01L 27/15

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 p型導電性を有する量子細線状のポーラ
    スSi層(1)と、 n型導電性を有し、前記ポーラスSi層とpn接合を形
    成する導電性ポリマー層(2)と、 前記ポーラスSi層(1)、導電性ポリマー層(2)の
    それぞれに対する電極(3)、(4)とを有するSi発
    光素子。
  2. 【請求項2】 前記導電性ポリマー(2)がポリピロー
    ル誘導体、ポリアセチレン誘導体ないしポリアニリン誘
    導体である請求項1記載のSi発光素子。
  3. 【請求項3】 前記電極の一方(3)は絶縁基板(5)
    上に形成され、前記ポーラスSi層(1)は、前記電極
    の一方(3)上に形成されたp型ポリSi層(6)の表
    面部に形成された請求項1ないし2記載のSi発光素
    子。
  4. 【請求項4】 前記絶縁物基板(5)および前記電極の
    一方(3)が、前記Si発光素子からの輻射光に対して
    透明である請求項3記載のSi発光素子。
  5. 【請求項5】 p型のSi層に量子細線状のポーラスS
    i領域(1)を形成する工程と、 前記ポーラスSi領域(1)上にn型導電性ポリマー層
    (2)を電気化学的成膜法または蒸気成膜法で積層する
    工程とを含むSi発光素子の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記p型のSi層がポリSi層(6)で
    あり、ポーラスSi領域(1)を形成する工程が弗酸水
    溶液中での陽極酸化によってポリSi層の表層に互いに
    連絡する孔を形成することにより、量子細線状のSi領
    域を形成する工程を含む請求項5記載のSi発光素子の
    製造方法。
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