JP3130544B2 - 磁気共鳴装置 - Google Patents
磁気共鳴装置Info
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- JP3130544B2 JP3130544B2 JP03031687A JP3168791A JP3130544B2 JP 3130544 B2 JP3130544 B2 JP 3130544B2 JP 03031687 A JP03031687 A JP 03031687A JP 3168791 A JP3168791 A JP 3168791A JP 3130544 B2 JP3130544 B2 JP 3130544B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気共鳴現象を利用し
て被検体の解剖学的情報や生化学的情報を得る磁気共鳴
装置に係り、特に静磁場分布の不均一性に起因する磁気
共鳴スペクトルの劣化を抑制し、かつ局所領域における
磁気共鳴スペクトルを高速に観測できる磁気共鳴装置に
関する。
て被検体の解剖学的情報や生化学的情報を得る磁気共鳴
装置に係り、特に静磁場分布の不均一性に起因する磁気
共鳴スペクトルの劣化を抑制し、かつ局所領域における
磁気共鳴スペクトルを高速に観測できる磁気共鳴装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気共鳴装置において静磁場の不均一性
は、画像及び磁気共鳴スペクトルの劣化要因となるた
め、非常に高い静磁場均一性が要求される。特に、 1Ｈ
−ＭＲＳ（プロトンの磁気共鳴スペクトロスコピー）に
おいては、化学シフトの範囲が狭いために０．１ｐｐｍ
以下の磁場の均一性（スペクトル半値幅）が必要不可欠
である。このような高均一な静磁場を実現するために、
従来より主磁場を発生する主磁石とは別に不均一磁場成
分を相殺するための複数のシムコイルを設け、これらの
シムコイルに流す電流値、すなわちシム電流値を調整し
て磁場均一性を補正することが行なわれている。
は、画像及び磁気共鳴スペクトルの劣化要因となるた
め、非常に高い静磁場均一性が要求される。特に、 1Ｈ
−ＭＲＳ（プロトンの磁気共鳴スペクトロスコピー）に
おいては、化学シフトの範囲が狭いために０．１ｐｐｍ
以下の磁場の均一性（スペクトル半値幅）が必要不可欠
である。このような高均一な静磁場を実現するために、
従来より主磁場を発生する主磁石とは別に不均一磁場成
分を相殺するための複数のシムコイルを設け、これらの
シムコイルに流す電流値、すなわちシム電流値を調整し
て磁場均一性を補正することが行なわれている。
【０００３】図７は、従来の磁場均一性の補正処理を含
めた磁気共鳴スペクトルイメージングの手順を示すフロ
ーチャートである。まず、初めに被検体内の磁場分布を
測定する（ステップ７１）。次に、測定された磁場分布
をシムコイルが発生することのできる磁場成分に展開
し、次式(1) で表される係数ａ1 ，ａ2 ，…ａn を求め
る（ステップ７２）。
めた磁気共鳴スペクトルイメージングの手順を示すフロ
ーチャートである。まず、初めに被検体内の磁場分布を
測定する（ステップ７１）。次に、測定された磁場分布
をシムコイルが発生することのできる磁場成分に展開
し、次式(1) で表される係数ａ1 ，ａ2 ，…ａn を求め
る（ステップ７２）。
【０００４】 △Ｂ（・）＝ａ1 Φ1 （・）＋ａ2 Φ2 （・）＋…＋ａn Φn （・） △Ｂ（・）：静磁場不均一分布 Φi （・）：シムコイル特性関数 （１） ここで、シムコイルの発生する磁場分布を表わす関数系
Φi （・）は、直交するように選ばれており、通常、球
面調和関数が用いられる。また、サフィックス（・）は
関数系を記述する座標の帰属を表わしており、例えばデ
カルト座標系、球座標系が選ばれる。
Φi （・）は、直交するように選ばれており、通常、球
面調和関数が用いられる。また、サフィックス（・）は
関数系を記述する座標の帰属を表わしており、例えばデ
カルト座標系、球座標系が選ばれる。
【０００５】次に、こうして得られた展開係数ａ1 ，ａ
2 ，…ａn をシム電流値に換算しそれに従ってシムコイ
ル電源を制御する（ステップ７３〜７４）。これにより
静磁場不均一性を相殺した後、磁気共鳴信号を収集し、
磁気共鳴スペクトルを再構成して観測を行う（ステップ
７５〜７６）。
2 ，…ａn をシム電流値に換算しそれに従ってシムコイ
ル電源を制御する（ステップ７３〜７４）。これにより
静磁場不均一性を相殺した後、磁気共鳴信号を収集し、
磁気共鳴スペクトルを再構成して観測を行う（ステップ
７５〜７６）。
【０００６】しかし、このようなシム電流値の決定、つ
まり(1) 式で表わされる係数ａ1 ，ａ2 ，…ａn を求め
るには多くの場合、最小２乗規範あるいはチェビシェフ
ノルム規範が評価関数として用いられ、測定された磁場
分布の全てのデータを考慮して行われる。このため、図
６（ａ）に示すように磁気共鳴スペクトルを観測しよう
とする領域（これを関心領域という）、換言すれば本来
磁場を均一にしたい領域６１（例えば脳領域）の近傍に
磁場不均一性の大きな領域６２（例えば眼球、鼻腔）が
存在する場合には、領域６２の磁場均一性を高めるよう
な展開係数が算出されてしまい、領域６１の磁場均一性
が改善されないことがある。実際、脳領域の磁気共鳴ス
ペクトルを観測する場合に、眼球や鼻腔の近傍では磁場
の不均一性が極端に大きいため、頭部全域の磁場分布測
定データを用いて関心領域の磁場均一性を補正すること
は困難であった。関心領域内に磁場不均一性の大きな領
域が局所的に存在している場合も、同様の問題が生じ
る。
まり(1) 式で表わされる係数ａ1 ，ａ2 ，…ａn を求め
るには多くの場合、最小２乗規範あるいはチェビシェフ
ノルム規範が評価関数として用いられ、測定された磁場
分布の全てのデータを考慮して行われる。このため、図
６（ａ）に示すように磁気共鳴スペクトルを観測しよう
とする領域（これを関心領域という）、換言すれば本来
磁場を均一にしたい領域６１（例えば脳領域）の近傍に
磁場不均一性の大きな領域６２（例えば眼球、鼻腔）が
存在する場合には、領域６２の磁場均一性を高めるよう
な展開係数が算出されてしまい、領域６１の磁場均一性
が改善されないことがある。実際、脳領域の磁気共鳴ス
ペクトルを観測する場合に、眼球や鼻腔の近傍では磁場
の不均一性が極端に大きいため、頭部全域の磁場分布測
定データを用いて関心領域の磁場均一性を補正すること
は困難であった。関心領域内に磁場不均一性の大きな領
域が局所的に存在している場合も、同様の問題が生じ
る。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
技術では、磁気共鳴スペクトルを観測すべき関心領域の
近傍や関心領域内部に局所的に磁場不均一性の大きな領
域が存在する場合には、関心領域の磁場均一性を改善す
ることが難しいという問題があった。
技術では、磁気共鳴スペクトルを観測すべき関心領域の
近傍や関心領域内部に局所的に磁場不均一性の大きな領
域が存在する場合には、関心領域の磁場均一性を改善す
ることが難しいという問題があった。
【０００８】本発明は、磁気共鳴スペクトルを観測しよ
うとする関心領域の近傍またはその内部に局所的に大き
な磁場不均一性が存在する場合でも、関心領域の磁場均
一性を効果的に改善でき、磁場不均一性の影響による劣
化が少ない磁気共鳴スペクトルが得られる磁気共鳴装置
を提供することを目的とする。
うとする関心領域の近傍またはその内部に局所的に大き
な磁場不均一性が存在する場合でも、関心領域の磁場均
一性を効果的に改善でき、磁場不均一性の影響による劣
化が少ない磁気共鳴スペクトルが得られる磁気共鳴装置
を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明は磁気共鳴信号によって観測された静磁場の
磁場分布のデータから、被検体内の磁気共鳴スペクトル
を観測すべき画像処理により設定された関心領域の磁場
分布データのみを抽出し、この関心領域の磁場分布に従
ってシムコイルに流すべき電流値を算出することを特徴
とする。
め、本発明は磁気共鳴信号によって観測された静磁場の
磁場分布のデータから、被検体内の磁気共鳴スペクトル
を観測すべき画像処理により設定された関心領域の磁場
分布データのみを抽出し、この関心領域の磁場分布に従
ってシムコイルに流すべき電流値を算出することを特徴
とする。
【００１０】本発明においては、磁場分布データに画像
処理手法の一つである領域拡大法を適用することによ
り、磁場均一性が特に大きい領域を除去することで、関
心領域のみの磁場分布データを抽出するようにしてもよ
い。
処理手法の一つである領域拡大法を適用することによ
り、磁場均一性が特に大きい領域を除去することで、関
心領域のみの磁場分布データを抽出するようにしてもよ
い。
【００１１】本発明における静磁場の磁場分布の測定
は、例えば観測される磁気共鳴スペクトルのピークのず
れ、またはスペクトル線幅の広がり、再構成画像の位相
歪みまたは空間的な歪み、あるいは濃度値の歪みを利用
して行われる。
は、例えば観測される磁気共鳴スペクトルのピークのず
れ、またはスペクトル線幅の広がり、再構成画像の位相
歪みまたは空間的な歪み、あるいは濃度値の歪みを利用
して行われる。
【００１２】磁気共鳴スペクトルを再構成する関心領域
の形状および大きさは任意であり、その設定は例えば予
め得られた再構成画像に基づいて手動で、または画像処
理手法の一つである領域拡大法を用いて自動的に行われ
る。
の形状および大きさは任意であり、その設定は例えば予
め得られた再構成画像に基づいて手動で、または画像処
理手法の一つである領域拡大法を用いて自動的に行われ
る。
【００１３】
【作用】このように関心領域のみの磁場分布データを抽
出して、関心領域の磁場均一性補正を行うことにより、
関心領域の近傍や、関心領域の内部に局所的に存在する
大きな磁場不均一性の影響を受けず、関心領域の磁場均
一性が効果的に改善される。これにより磁場不均一性の
影響による劣化が少ない磁気共鳴スペクトルが得られ
る。
出して、関心領域の磁場均一性補正を行うことにより、
関心領域の近傍や、関心領域の内部に局所的に存在する
大きな磁場不均一性の影響を受けず、関心領域の磁場均
一性が効果的に改善される。これにより磁場不均一性の
影響による劣化が少ない磁気共鳴スペクトルが得られ
る。
【００１４】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図１は本発明の一実施例に係る磁気共鳴装
置の構成を示すブロック図である。
に説明する。図１は本発明の一実施例に係る磁気共鳴装
置の構成を示すブロック図である。
【００１５】この磁気共鳴装置は、主磁場（静磁場）を
発生するための主磁石１１、主磁石電源１２、直交する
三軸ｘ，ｙ，ｚの方向にそれぞれ線形の勾配磁場分布を
持つ勾配磁場を生成するための複数の勾配コイルを含む
勾配コイル系１２、勾配コイル電源１３、複数のシムコ
イルを含むシムコイル系１４、シムコイル電源１５、高
周波磁場の印加と磁気共鳴信号の検出のための高周波プ
ローブ１６、プローブ１６に高周波信号を供給する送信
器１７、プローブ１６で検出された磁気共鳴信号を受信
し、検波および増幅する受信器１８、シーケンスコント
ローラ１９およびＣＰＵ／メモリ２０によって構成され
る。
発生するための主磁石１１、主磁石電源１２、直交する
三軸ｘ，ｙ，ｚの方向にそれぞれ線形の勾配磁場分布を
持つ勾配磁場を生成するための複数の勾配コイルを含む
勾配コイル系１２、勾配コイル電源１３、複数のシムコ
イルを含むシムコイル系１４、シムコイル電源１５、高
周波磁場の印加と磁気共鳴信号の検出のための高周波プ
ローブ１６、プローブ１６に高周波信号を供給する送信
器１７、プローブ１６で検出された磁気共鳴信号を受信
し、検波および増幅する受信器１８、シーケンスコント
ローラ１９およびＣＰＵ／メモリ２０によって構成され
る。
【００１６】主磁石１１が発生する主磁場（静磁場）の
不均一性は、シムコイル系１４によって相殺される。シ
ムコイル系１４に流す電流（シム電流）を供給するため
のシムコイル電源１５は、関心領域の磁場均一性を補正
するために、ＣＰＵ／メモリ２０に格納されたデータに
基づきシーケンスコントローラ１９によって制御され
る。
不均一性は、シムコイル系１４によって相殺される。シ
ムコイル系１４に流す電流（シム電流）を供給するため
のシムコイル電源１５は、関心領域の磁場均一性を補正
するために、ＣＰＵ／メモリ２０に格納されたデータに
基づきシーケンスコントローラ１９によって制御され
る。
【００１７】以下、本実施例における動作の流れを図２
により説明する。図２は磁場均一性補正を含めた磁気共
鳴スペクトルイメージングの手順を示すフローチャート
を示している。
により説明する。図２は磁場均一性補正を含めた磁気共
鳴スペクトルイメージングの手順を示すフローチャート
を示している。
【００１８】先ず、被検体内の不均一な磁場分布を測定
して磁場分布データを取得する（ステップ２１）。この
磁場分布測定には、例えば図３に示すパルスシーケンス
に基づくＣＳＩ（化学シフトイメージング）の手法を用
いることができる。図３において、ＲＦは高周波磁場、
Ｇｚ，Ｇｙ，Ｇｘは直交する三方向に印加される勾配磁
場、ＳＩＧは磁気共鳴信号をそれぞれ示している。これ
らの記号の意味は、後述する全てのパルスシーケンスに
ついて共通である。図３に示すＣＳＩパルスシーケンス
は、例えば水プロトンの共鳴周波数のずれが磁場不均一
性に比例すること、あるいはスペクトルの線幅が磁場不
均一性に比例して広がることを利用するものである。但
し、図３では３Ｄ−ＣＳＩにおけるパルスシーケンスを
示しているが、４Ｄ−ＣＳＩを用いて行うこともでき
る。
して磁場分布データを取得する（ステップ２１）。この
磁場分布測定には、例えば図３に示すパルスシーケンス
に基づくＣＳＩ（化学シフトイメージング）の手法を用
いることができる。図３において、ＲＦは高周波磁場、
Ｇｚ，Ｇｙ，Ｇｘは直交する三方向に印加される勾配磁
場、ＳＩＧは磁気共鳴信号をそれぞれ示している。これ
らの記号の意味は、後述する全てのパルスシーケンスに
ついて共通である。図３に示すＣＳＩパルスシーケンス
は、例えば水プロトンの共鳴周波数のずれが磁場不均一
性に比例すること、あるいはスペクトルの線幅が磁場不
均一性に比例して広がることを利用するものである。但
し、図３では３Ｄ−ＣＳＩにおけるパルスシーケンスを
示しているが、４Ｄ−ＣＳＩを用いて行うこともでき
る。
【００１９】また、図４に示す公知のスピンエコーパル
スシーケンスに従って、再構成された画像の位相情報が
磁場不均一性の影響を反映することを利用して磁場の不
均一分布を求めることも可能である。なお、図４は特定
のスライス面における磁場不均一分布を求めるパルスシ
ーケンスを示しているが、マルチスライス手法のような
３Ｄ空間における測定も同様の原理に基づき容易に行う
ことができる。
スシーケンスに従って、再構成された画像の位相情報が
磁場不均一性の影響を反映することを利用して磁場の不
均一分布を求めることも可能である。なお、図４は特定
のスライス面における磁場不均一分布を求めるパルスシ
ーケンスを示しているが、マルチスライス手法のような
３Ｄ空間における測定も同様の原理に基づき容易に行う
ことができる。
【００２０】但し、図４の通常のスピンエコーパルスシ
ーケンスのように、９０°パルスと１８０°パルスとの
間隔ｔ１と、１８０°パルスとエコーピークとの間隔ｔ
２が等しいと磁場の不均一性が相殺されるため、理想的
には再構成される画像は位相情報を持たない。これに対
し、図５のようにｔ１とｔ２が等しくない場合には、磁
場不均一性が両者の時間差ｔ２−ｔ１＝Δｔに応じた位
相情報として再構成画像に反映されるため、磁場分布を
空間的にマッピングすることができる。実際には図４お
よび図５のパルスシーケンスともシステムに依存した位
相情報を再構成画像に含むため、この位相情報の影響を
除去するため、図４のパルスシーケンスで得られた再構
成画像の位相情報と図５のパルスシーケンスで得られた
再構成画像の位相情報との差を基に磁場分布が正確に算
出される。
ーケンスのように、９０°パルスと１８０°パルスとの
間隔ｔ１と、１８０°パルスとエコーピークとの間隔ｔ
２が等しいと磁場の不均一性が相殺されるため、理想的
には再構成される画像は位相情報を持たない。これに対
し、図５のようにｔ１とｔ２が等しくない場合には、磁
場不均一性が両者の時間差ｔ２−ｔ１＝Δｔに応じた位
相情報として再構成画像に反映されるため、磁場分布を
空間的にマッピングすることができる。実際には図４お
よび図５のパルスシーケンスともシステムに依存した位
相情報を再構成画像に含むため、この位相情報の影響を
除去するため、図４のパルスシーケンスで得られた再構
成画像の位相情報と図５のパルスシーケンスで得られた
再構成画像の位相情報との差を基に磁場分布が正確に算
出される。
【００２１】図６（ａ）（ｂ）は上記の方法で得られた
再構成画像の振幅情報と、位相情報（磁場分布データ）
の一例を示している。この図は生体頭部の例であり、こ
こでは脳領域６１の磁気共鳴スペクトルを観測するもの
とする。同図（ａ）（ｂ）に示すように、磁場分布は眼
球や鼻腔近傍の領域６２において均一性が極端に悪化し
ている。従って、これような領域６２と関心領域である
脳領域６１および他の領域を含めた頭部全体の磁場均一
性を補正するために、最小二乗法等を用いてシム電流値
を決定したのでは、肝心の脳領域６１の磁場均一性を改
善することは困難となる。そこで、本実施例では例えば
脳領域６１のみの磁場分布を抽出してシム電流値を算出
する。
再構成画像の振幅情報と、位相情報（磁場分布データ）
の一例を示している。この図は生体頭部の例であり、こ
こでは脳領域６１の磁気共鳴スペクトルを観測するもの
とする。同図（ａ）（ｂ）に示すように、磁場分布は眼
球や鼻腔近傍の領域６２において均一性が極端に悪化し
ている。従って、これような領域６２と関心領域である
脳領域６１および他の領域を含めた頭部全体の磁場均一
性を補正するために、最小二乗法等を用いてシム電流値
を決定したのでは、肝心の脳領域６１の磁場均一性を改
善することは困難となる。そこで、本実施例では例えば
脳領域６１のみの磁場分布を抽出してシム電流値を算出
する。
【００２２】すなわち、ステップ２１の次に磁気共鳴ス
ペクトルを観測すべき関心領域を予め取得された画像か
ら設定する（ステップ２２）。この関心領域の設定は、
例えば医師または技師がカーソル、マウスなどのポイン
ティングデバイスその他の入力装置を用いて画面上で設
定する方法を用いることができる。また、他の方法とし
て画像処理手法の一つである領域拡大法を用いて関心領
域のみを自動的に抽出・設定することも可能である。
ペクトルを観測すべき関心領域を予め取得された画像か
ら設定する（ステップ２２）。この関心領域の設定は、
例えば医師または技師がカーソル、マウスなどのポイン
ティングデバイスその他の入力装置を用いて画面上で設
定する方法を用いることができる。また、他の方法とし
て画像処理手法の一つである領域拡大法を用いて関心領
域のみを自動的に抽出・設定することも可能である。
【００２３】次に、ステップ２１で得られた磁場分布デ
ータのうち、ステップ２２で設定された関心領域のみの
磁場分布のデータを抽出する（ステップ２３）。そし
て、この関心領域のみの磁場分布データをシムコイルに
より発生できる磁場成分に展開して、式（１）に示した
展開係数ａ1 ，ａ2 ，…ａn を求め（ステップ２４）、
それに基づいて関心領域の磁場不均一性を相殺するのに
必要なシム電流値を算出する（ステップ２５）。この求
めたシム電流値のデータは、例えばＣＰＵ／メモリ２０
に記憶しておくことが望ましい。
ータのうち、ステップ２２で設定された関心領域のみの
磁場分布のデータを抽出する（ステップ２３）。そし
て、この関心領域のみの磁場分布データをシムコイルに
より発生できる磁場成分に展開して、式（１）に示した
展開係数ａ1 ，ａ2 ，…ａn を求め（ステップ２４）、
それに基づいて関心領域の磁場不均一性を相殺するのに
必要なシム電流値を算出する（ステップ２５）。この求
めたシム電流値のデータは、例えばＣＰＵ／メモリ２０
に記憶しておくことが望ましい。
【００２４】関心領域の磁場共鳴スペクトルを再構成す
る場合、ＣＰＵ／メモリ２０からシム電流値のデータを
読出し、それに基づいてシムコイル電源１５を制御する
（ステップ２６）。これにより関心領域の磁場不均一性
を補正しながら、磁気共鳴信号を収集する（ステップ２
７）。そして、この磁気共鳴信号から磁気共鳴スペクト
ルを再構成する（ステップ２８）。
る場合、ＣＰＵ／メモリ２０からシム電流値のデータを
読出し、それに基づいてシムコイル電源１５を制御する
（ステップ２６）。これにより関心領域の磁場不均一性
を補正しながら、磁気共鳴信号を収集する（ステップ２
７）。そして、この磁気共鳴信号から磁気共鳴スペクト
ルを再構成する（ステップ２８）。
【００２５】ステップ２２での関心領域の設定におい
て、領域拡大法を用いて関心領域を自動設定すると、関
心領域の磁場の高均一化が達成されるばかりでなく、磁
場均一性調整の高速化が達成される。
て、領域拡大法を用いて関心領域を自動設定すると、関
心領域の磁場の高均一化が達成されるばかりでなく、磁
場均一性調整の高速化が達成される。
【００２６】一方、領域拡大法を図６（ｂ）の位相分布
（磁場不均一分布）に適用することで、磁場均一性の極
端に悪化した部分の磁場分布を除去することができる。
これにより、例えば脳領域６１内にありながら眼球等の
影響を受けて磁場均一性が悪くなっている部分の磁場分
布データによる磁場均一性の誤調整を回避することがで
きる。これは位相分布に領域拡大法を適用することが、
磁場不均一性の大きな領域にマスキングを施すことと等
価であるためである。
（磁場不均一分布）に適用することで、磁場均一性の極
端に悪化した部分の磁場分布を除去することができる。
これにより、例えば脳領域６１内にありながら眼球等の
影響を受けて磁場均一性が悪くなっている部分の磁場分
布データによる磁場均一性の誤調整を回避することがで
きる。これは位相分布に領域拡大法を適用することが、
磁場不均一性の大きな領域にマスキングを施すことと等
価であるためである。
【００２７】
【発明の効果】本発明によれば、磁場均一性を補正する
際、磁気共鳴スペクトルを観測しようとする関心領域の
みの磁場分布データを抽出し、それに基づいて関心領域
のみについて磁場均一性補正を行うことによって、関心
領域の近傍またはその内部に局所的に大きな磁場不均一
性が存在する場合でも、関心領域の磁場均一性を効果的
に改善でき、磁場不均一性に起因する画像の歪みやスペ
クトルの劣化を抑制することができる。
際、磁気共鳴スペクトルを観測しようとする関心領域の
みの磁場分布データを抽出し、それに基づいて関心領域
のみについて磁場均一性補正を行うことによって、関心
領域の近傍またはその内部に局所的に大きな磁場不均一
性が存在する場合でも、関心領域の磁場均一性を効果的
に改善でき、磁場不均一性に起因する画像の歪みやスペ
クトルの劣化を抑制することができる。
【００２８】また、関心領域の設定と磁場分布データの
抽出を自動的に行うことにより、磁場均一性補正の高速
化を達成することも可能となる。
抽出を自動的に行うことにより、磁場均一性補正の高速
化を達成することも可能となる。
【図１】本発明の一実施例に係る磁気共鳴装置の構成を
示すブロック図
示すブロック図
【図２】同実施例における磁場均一性補正を含めた磁気
共鳴スペクトルイメージングの手順を示すフローチャー
ト
共鳴スペクトルイメージングの手順を示すフローチャー
ト
【図３】同実施例で磁場分布測定に用いるＣＳＩパルス
シーケンスを示す図
シーケンスを示す図
【図４】同実施例で磁場分布測定に用いるスピンエコー
パルスシーケンスを示す図
パルスシーケンスを示す図
【図５】同実施例で磁場分布測定に用いる位相法のパル
スシーケンスを示す図
スシーケンスを示す図
【図６】位相法によって得られた再構成画像の振幅およ
び位相画像を示す図
び位相画像を示す図
【図７】従来の技術による磁場均一性補正を含めた磁気
共鳴スペクトルイメージングの手順を示すフローチャー
ト。
共鳴スペクトルイメージングの手順を示すフローチャー
ト。
１０…主磁石 １１…主磁石電
源 １２…勾配コイル系 １３…勾配コイ
ル電源 １４…シムコイル系 １５…シムコイ
ル電源 １７…送信器 １８…受信器 １９…シーケンスコントローラ ２０…ＣＰＵ／
メモリ
源 １２…勾配コイル系 １３…勾配コイ
ル電源 １４…シムコイル系 １５…シムコイ
ル電源 １７…送信器 １８…受信器 １９…シーケンスコントローラ ２０…ＣＰＵ／
メモリ
フロントページの続き (72)発明者 守 清巳 神奈川県川崎市幸区小向東芝町１番地 株式会社東芝総合研究所内 (72)発明者 渡邊 英宏 神奈川県川崎市幸区小向東芝町１番地 株式会社東芝総合研究所内 (72)発明者 佐藤 幸三 神奈川県川崎市幸区小向東芝町１番地 株式会社東芝総合研究所内 (56)参考文献 特開 昭62−189056（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−9728（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−52444（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−208133（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) A61B 5/055
Claims (5)
- 【請求項１】一様な静磁場中に配置された被検体に高周
波磁場と勾配磁場を印加して該被検体からの磁気共鳴信
号を収集する磁気共鳴装置において、 前記静磁場の磁場不均一性を調整するために設けられる
シムコイルと、 前記静磁場の磁場分布を計測する計測手段と、 計測された前記磁場分布のうち、前記被検体の画像処理
により設定された関心領域に含まれる前記磁場分布を抽
出する抽出する抽出手段と、 抽出された前記磁場分布に従って、前記静磁場の磁場不
均一性を補正するために前記シムコイルに流すべき電流
値を算出する手段と、 を具備することを特徴とする磁気共鳴装置。 - 【請求項２】前記画像処理として、領域拡大法を用いる
ことを特徴とする請求項１記載の磁気共鳴装置。 - 【請求項３】一様な静磁場中に配置された被検体に高周
波磁場と勾配磁場を印加して該被検体からの磁気共鳴信
号を収集する磁気共鳴装置において、 前記静磁場の磁場不均一性を調整するために設けられる
シムコイルと、 前記静磁場の磁場分布を計測する計測手段と、 計測された前記磁場分布のうち、前記被検体の関心領域
に含まれる任意の領域の磁場分布を除去する除去手段
と、 除去された以外の前記関心領域の磁場分布に従って、前
記静磁場の磁場不均一性を補正するために前記シムコイ
ルに流すべき電流値を算出する手段と、 を具備することを特徴とする磁気共鳴装置。 - 【請求項４】前記除去手段は、磁場不均一性に基づいて
設定された前記任意の領域の前記磁場分布を除去するも
のであることを特徴とする請求項３記載の磁気共鳴装
置。 - 【請求項５】前記除去手段は、磁場不均一性分布に領域
拡大法を適用することにより前記任意の領域の前記磁場
分布を除去するものであることを特徴とする請求項４記
載の磁気共鳴装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03031687A JP3130544B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 磁気共鳴装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03031687A JP3130544B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 磁気共鳴装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04246329A JPH04246329A (ja) | 1992-09-02 |
| JP3130544B2 true JP3130544B2 (ja) | 2001-01-31 |
Family
ID=12337999
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03031687A Expired - Lifetime JP3130544B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | 磁気共鳴装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3130544B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1956382A1 (en) | 2006-01-16 | 2008-08-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic resonance imaging apparatus and static magnetic field correction method |
-
1991
- 1991-01-31 JP JP03031687A patent/JP3130544B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04246329A (ja) | 1992-09-02 |
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