JP3122293B2 - Ｏｔｄｒ測定装置 - Google Patents
Ｏｔｄｒ測定装置Info
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- JP3122293B2 JP3122293B2 JP05272678A JP27267893A JP3122293B2 JP 3122293 B2 JP3122293 B2 JP 3122293B2 JP 05272678 A JP05272678 A JP 05272678A JP 27267893 A JP27267893 A JP 27267893A JP 3122293 B2 JP3122293 B2 JP 3122293B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/319—Reflectometers using stimulated back-scatter, e.g. Raman or fibre amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/071—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using a reflected signal, e.g. using optical time domain reflectometers [OTDR]
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、特に光通信分野に用い
て好適なＯＴＤＲ測定装置に関する。
て好適なＯＴＤＲ測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、敷設された光ケーブルの破断
点の位置や接続点における損失等を検出するために、Ｏ
ＴＤＲ法（Optical Time Domain Reflectometry ）が開
発されている。このＯＴＤＲ法によれば、敷設された光
ケーブルの入射端に高出力の光パルスを入射し、当該ケ
ーブル内の後方散乱あるいは反射により入射端へ戻され
る応答光の波高値および到達時刻を測定することによ
り、上記破断点の位置および接続点における損失等が検
出される。
点の位置や接続点における損失等を検出するために、Ｏ
ＴＤＲ法（Optical Time Domain Reflectometry ）が開
発されている。このＯＴＤＲ法によれば、敷設された光
ケーブルの入射端に高出力の光パルスを入射し、当該ケ
ーブル内の後方散乱あるいは反射により入射端へ戻され
る応答光の波高値および到達時刻を測定することによ
り、上記破断点の位置および接続点における損失等が検
出される。
【０００３】上記ＯＴＤＲ法による検出を行うＯＴＤＲ
測定装置の構成例を図２に示す。この図において、１は
光パルスを発生する高出力光源であり、この光源１が発
生する光パルスの繰り返し周波数はＯＴＤＲ測定装置の
測定距離精度に応じて設定される。２は光分岐器であ
り、高出力光源１から入射端２ａに入射される光パルス
を被測定光ケーブル３の端部３ａへ入射するとともに、
当該ケーブル３から反射される応答光を出力端２ｂに出
力する。なお、被測定ケーブル３は、接続されて所定の
長さに延長された光ファイバが複数束ねられたものであ
る。４は光分岐器２の出力端２ｂから出力される応答光
を電気信号に変換する受光部であり、この電気信号を後
続する増幅器５に供給する。
測定装置の構成例を図２に示す。この図において、１は
光パルスを発生する高出力光源であり、この光源１が発
生する光パルスの繰り返し周波数はＯＴＤＲ測定装置の
測定距離精度に応じて設定される。２は光分岐器であ
り、高出力光源１から入射端２ａに入射される光パルス
を被測定光ケーブル３の端部３ａへ入射するとともに、
当該ケーブル３から反射される応答光を出力端２ｂに出
力する。なお、被測定ケーブル３は、接続されて所定の
長さに延長された光ファイバが複数束ねられたものであ
る。４は光分岐器２の出力端２ｂから出力される応答光
を電気信号に変換する受光部であり、この電気信号を後
続する増幅器５に供給する。
【０００４】このような構成において、高出力光源１が
高出力の光パルスを発生すると、当該光パルスは光分岐
器２を介して被測定光ケーブル３の端部３ａに入射され
る。被測定光ケーブル３内で散乱あるいは反射して端部
３ａに戻された応答光は、光分岐器２を介して受光部４
に供給される。受光部４において、応答光は対応する電
気信号に変換され、この電気信号が増幅器５で増幅され
て後段の回路に供給される。後段の回路において、供給
された電気信号に基づいて前述した検出処理が行われ
る。
高出力の光パルスを発生すると、当該光パルスは光分岐
器２を介して被測定光ケーブル３の端部３ａに入射され
る。被測定光ケーブル３内で散乱あるいは反射して端部
３ａに戻された応答光は、光分岐器２を介して受光部４
に供給される。受光部４において、応答光は対応する電
気信号に変換され、この電気信号が増幅器５で増幅され
て後段の回路に供給される。後段の回路において、供給
された電気信号に基づいて前述した検出処理が行われ
る。
【０００５】ところで、上述したＯＴＤＲ測定装置は極
めて長い光ケーブルを使用する光通信分野にも利用され
ており、測定可能な応答光のレベル範囲（以後、ダイナ
ミックレンジと称す）を拡大する必要がある。従来か
ら、ダイナミックレンジを拡大するためには、光源の高
出力化や受光部の高感度化、または各種光回路の挿入損
失を低減させる等の開発努力が為されている。そして、
近年、より高出力の光源として、図３に概略構成を示す
リングレーザ装置６を適用することが考えられている。
めて長い光ケーブルを使用する光通信分野にも利用され
ており、測定可能な応答光のレベル範囲（以後、ダイナ
ミックレンジと称す）を拡大する必要がある。従来か
ら、ダイナミックレンジを拡大するためには、光源の高
出力化や受光部の高感度化、または各種光回路の挿入損
失を低減させる等の開発努力が為されている。そして、
近年、より高出力の光源として、図３に概略構成を示す
リングレーザ装置６を適用することが考えられている。
【０００６】図３に示すリングレーザ装置６において、
７は所定の波長（例えば、１．４８μｍ）の連続光を発
生する励起光源、８は光合波器であり、励起光源７から
入射端８ｂに入射される連続光と、光スイッチ１１を介
して入射端８ａに供給される連続光とを合波して光ファ
イバ９の入射端に入射する。光ファイバ９には例えば、
希土類元素であるエルビウム（Ｅｒ）がドープされ、エ
ルビウムイオン（Ｅｒ3+）が分布している。この光ファ
イバ９の入射端に、励起光源７から光合波器８を介して
連続光が入射されると、当該光ファイバ９は励起され
る。１０は光ファイバ９の出力端から出力される光パル
スを分岐し、光スイッチ１１または光合波器８へ供給す
る光分岐器である。
７は所定の波長（例えば、１．４８μｍ）の連続光を発
生する励起光源、８は光合波器であり、励起光源７から
入射端８ｂに入射される連続光と、光スイッチ１１を介
して入射端８ａに供給される連続光とを合波して光ファ
イバ９の入射端に入射する。光ファイバ９には例えば、
希土類元素であるエルビウム（Ｅｒ）がドープされ、エ
ルビウムイオン（Ｅｒ3+）が分布している。この光ファ
イバ９の入射端に、励起光源７から光合波器８を介して
連続光が入射されると、当該光ファイバ９は励起され
る。１０は光ファイバ９の出力端から出力される光パル
スを分岐し、光スイッチ１１または光合波器８へ供給す
る光分岐器である。
【０００７】上述した構成によれば、励起光源７から連
続光を発生させると、光ファイバ９が励起され、ここ
で、スイッチ１１がオン状態になると、閉じた正帰還系
が形成され、光パルスが増幅される。したがって、光分
岐器１０から出力される光パルスの波高値は極めて大と
なる。なお、リングレーザ装置６の詳細は、本出願人が
先に出願した特願平３−１９７３３７号明細書に開示さ
れている。
続光を発生させると、光ファイバ９が励起され、ここ
で、スイッチ１１がオン状態になると、閉じた正帰還系
が形成され、光パルスが増幅される。したがって、光分
岐器１０から出力される光パルスの波高値は極めて大と
なる。なお、リングレーザ装置６の詳細は、本出願人が
先に出願した特願平３−１９７３３７号明細書に開示さ
れている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のＯＴＤＲ装置にリングレーザ装置６を適用する
と、２つの光分岐器２，１０を用いる必要があり、コス
ト高となる。また、光パルスの経路にこれら光分岐器
２，１０が挿入されるために、挿入損失が大となる。し
たがって、ＯＴＤＲ測定装置のダイナミックレンジは予
想される程向上し得ないという問題があった。本発明
は、上述した背景に鑑みて為されたものであり、低コス
トであるとともに、広いダイナミックレンジを有するＯ
ＴＤＲ測定装置を提供することを目的とする。
た従来のＯＴＤＲ装置にリングレーザ装置６を適用する
と、２つの光分岐器２，１０を用いる必要があり、コス
ト高となる。また、光パルスの経路にこれら光分岐器
２，１０が挿入されるために、挿入損失が大となる。し
たがって、ＯＴＤＲ測定装置のダイナミックレンジは予
想される程向上し得ないという問題があった。本発明
は、上述した背景に鑑みて為されたものであり、低コス
トであるとともに、広いダイナミックレンジを有するＯ
ＴＤＲ測定装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明によるＯＴＤＲ測
定装置は、光線路の入射端に光パルスを入射するととも
に、該光線路内の後方散乱あるいは反射に応じた応答光
を前記入射端で検出し、当該光線路の伝送損失を測定す
るＯＴＤＲ測定装置において、前記応答光を受光する受
光手段と、所定周波数の連続光を発生する励起光源と、
前記連続光を発信増幅する閉ループ光路と、この閉ルー
プ光路に介挿される光スイッチとから構成され、該光ス
イッチのオンオフ動作に応じて前記光パルスを発生する
光パルス発生手段と、前記閉ループ光路に介挿され、前
記光パルスを前記光線路の入射端に入射する一方、前記
応答光を前記受光手段に入射する光分岐手段とを具備す
ることを特徴としている。
定装置は、光線路の入射端に光パルスを入射するととも
に、該光線路内の後方散乱あるいは反射に応じた応答光
を前記入射端で検出し、当該光線路の伝送損失を測定す
るＯＴＤＲ測定装置において、前記応答光を受光する受
光手段と、所定周波数の連続光を発生する励起光源と、
前記連続光を発信増幅する閉ループ光路と、この閉ルー
プ光路に介挿される光スイッチとから構成され、該光ス
イッチのオンオフ動作に応じて前記光パルスを発生する
光パルス発生手段と、前記閉ループ光路に介挿され、前
記光パルスを前記光線路の入射端に入射する一方、前記
応答光を前記受光手段に入射する光分岐手段とを具備す
ることを特徴としている。
【００１０】
【作用】上記構成によれば、励起光源が所定の周波数の
連続光を発生させると、光パルス発生手段が当該連続光
を発信増幅し、光スイッチのオンオフ動作に応じて光パ
ルスを発生する。次に、光分岐手段が光線路の入射端に
前記光パルスを入射する一方、当該光線路の入射端から
出力される応答光を受光手段に入射する。このように、
必要となる光分岐手段は１つのみであるために、低コス
トとなるとともに、挿入損失が低い値となる。これに加
えて、前記光線路に入射される光パルスの波高値が大で
あるために、受光可能な応答光のダイナミックレンジが
広くなる。
連続光を発生させると、光パルス発生手段が当該連続光
を発信増幅し、光スイッチのオンオフ動作に応じて光パ
ルスを発生する。次に、光分岐手段が光線路の入射端に
前記光パルスを入射する一方、当該光線路の入射端から
出力される応答光を受光手段に入射する。このように、
必要となる光分岐手段は１つのみであるために、低コス
トとなるとともに、挿入損失が低い値となる。これに加
えて、前記光線路に入射される光パルスの波高値が大で
あるために、受光可能な応答光のダイナミックレンジが
広くなる。
【００１１】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の一実施例につ
いて説明する。図１は本発明の一実施例によるＯＴＤＲ
測定装置１２の概略構成を示す図であり、この図におい
て、図２および図３の各部と対応する部分には同一の符
号を付け、その説明を省略する。図１に示すＯＴＤＲ測
定装置１２の特徴は光分岐器２（図２参照）および光分
岐器１０（図３参照）を共有させた点である。
いて説明する。図１は本発明の一実施例によるＯＴＤＲ
測定装置１２の概略構成を示す図であり、この図におい
て、図２および図３の各部と対応する部分には同一の符
号を付け、その説明を省略する。図１に示すＯＴＤＲ測
定装置１２の特徴は光分岐器２（図２参照）および光分
岐器１０（図３参照）を共有させた点である。
【００１２】図１において、１３は高出力の光パルスを
発生し、当該光パルスを被測定光ケーブル３の端部３ａ
に入射するリングレーザ部、１４は端部３ａから出力さ
れる応答光の波高値および到達時刻を測定し、被測定光
ケーブル３の破断点の位置および接続点における損失を
検出する測定部であり、ＯＴＤＲ測定装置１２は上記リ
ングレーザ部１３および測定部１４から構成される。
発生し、当該光パルスを被測定光ケーブル３の端部３ａ
に入射するリングレーザ部、１４は端部３ａから出力さ
れる応答光の波高値および到達時刻を測定し、被測定光
ケーブル３の破断点の位置および接続点における損失を
検出する測定部であり、ＯＴＤＲ測定装置１２は上記リ
ングレーザ部１３および測定部１４から構成される。
【００１３】上述したリングレーザ部１３において、１
５は所定の周期で光スイッチ１１をオンオフ制御するス
イッチ制御器、１６は光分岐器であり、光スイッチ１１
の出力端１１ａから端部１６ａに入射される光パルスを
端部１６ｂまたは端部１６ｃから出力する。１７は光分
岐器１６の端部１６ｂと合波器８の入射端８ａとの間に
介挿されるアイソレータであり、光パルスの増幅の障害
となる逆向きの光を遮断する。
５は所定の周期で光スイッチ１１をオンオフ制御するス
イッチ制御器、１６は光分岐器であり、光スイッチ１１
の出力端１１ａから端部１６ａに入射される光パルスを
端部１６ｂまたは端部１６ｃから出力する。１７は光分
岐器１６の端部１６ｂと合波器８の入射端８ａとの間に
介挿されるアイソレータであり、光パルスの増幅の障害
となる逆向きの光を遮断する。
【００１４】ところで、上述した光分岐器１６は測定部
１４の構成要素でもある。測定部１４において、光分岐
器１６は端部１６ｃから入射される応答光を端部１６ｄ
から出力する。端部１６ｄから出力される応答光は受光
部４で電気信号に変換され、この電気信号が増幅器５で
増幅されて後段の回路に供給される。この後段の回路
は、供給された電気信号から被測定光ケーブル３の断線
および接続損失等の伝送特性を測定する。なお、スイッ
チ１１はＡ／Ｏスイッチあるいは光チョッパを用いるＱ
スイッチである。
１４の構成要素でもある。測定部１４において、光分岐
器１６は端部１６ｃから入射される応答光を端部１６ｄ
から出力する。端部１６ｄから出力される応答光は受光
部４で電気信号に変換され、この電気信号が増幅器５で
増幅されて後段の回路に供給される。この後段の回路
は、供給された電気信号から被測定光ケーブル３の断線
および接続損失等の伝送特性を測定する。なお、スイッ
チ１１はＡ／Ｏスイッチあるいは光チョッパを用いるＱ
スイッチである。
【００１５】このような構成によるＯＴＤＲ測定装置１
２の動作を以下に説明する。まず、励起光源７が所定の
波長（例えば、１．４８μｍ）の連続光を発生する。こ
の連続光は合波器８を介して光ファイバ９の入射端に入
射される。これにより、光ファイバ９が励起状態とな
り、ここで、スイッチ制御器１５がスイッチ１１のオン
オフ動作の制御を開始すると、光ファイバ９の出力端か
ら光パルスが出力される。
２の動作を以下に説明する。まず、励起光源７が所定の
波長（例えば、１．４８μｍ）の連続光を発生する。こ
の連続光は合波器８を介して光ファイバ９の入射端に入
射される。これにより、光ファイバ９が励起状態とな
り、ここで、スイッチ制御器１５がスイッチ１１のオン
オフ動作の制御を開始すると、光ファイバ９の出力端か
ら光パルスが出力される。
【００１６】光ファイバ９の出力端から出力された光パ
ルスはスイッチ１１の出力端１１ａを介し、光分岐器１
６の端部１６ａに入射され、端部１６ｂから出力され
る。そして、この光パルスがアイソレータ１７を介して
合波器８の入射端８ａに入射され、入射端８ｂに入射さ
れている連続光と合波されて光ファイバ９の入射端に再
入射される。こうして、増幅された光パルスが光分岐器
１６の端部１６ｃから出力され、被測定光ケーブル３の
端部３ａに入射される。
ルスはスイッチ１１の出力端１１ａを介し、光分岐器１
６の端部１６ａに入射され、端部１６ｂから出力され
る。そして、この光パルスがアイソレータ１７を介して
合波器８の入射端８ａに入射され、入射端８ｂに入射さ
れている連続光と合波されて光ファイバ９の入射端に再
入射される。こうして、増幅された光パルスが光分岐器
１６の端部１６ｃから出力され、被測定光ケーブル３の
端部３ａに入射される。
【００１７】被測定光ケーブル３において、光パルスは
当該ケーブル３の状態に応じた後方散乱あるいは反射を
受ける。そして、これらの後方散乱あるいは反射に応じ
た応答光が、端部３ａから光分岐器１６の端部１６ｃに
入射され、端部１６ｄから出力される。端部１６ｄから
出力された応答光は、受光部４において対応する電気信
号に変換される。そして、この電気信号が増幅器５にお
いて増幅されて後段の回路に供給され、ここで、被測定
光ケーブル３の破断点の位置および接続損失が検出され
る。
当該ケーブル３の状態に応じた後方散乱あるいは反射を
受ける。そして、これらの後方散乱あるいは反射に応じ
た応答光が、端部３ａから光分岐器１６の端部１６ｃに
入射され、端部１６ｄから出力される。端部１６ｄから
出力された応答光は、受光部４において対応する電気信
号に変換される。そして、この電気信号が増幅器５にお
いて増幅されて後段の回路に供給され、ここで、被測定
光ケーブル３の破断点の位置および接続損失が検出され
る。
【００１８】ところで、リングレーザ部１３において発
生した光パルスが受光部４に供給されるまでの経路にお
いて、通過する光分岐器は光分岐器１６のみであり、挿
入損失が極めて低い値となる。例えば、図２および図３
に示す光分岐器２，１０において、各々に入射された光
パルスのレベルと出力される光パルスの一つのレベルの
差（挿入損失）を３ｄＢとすると、従来のＯＴＤＲ測定
装置における光パルスの経路においては、９ｄＢの挿入
損失が存在する。ところが、図１に示すＯＴＤＲ測定装
置１２においては、光分岐器１６の挿入損失を３ｄＢと
すると、上記経路における挿入損失は６ｄＢとなる。
生した光パルスが受光部４に供給されるまでの経路にお
いて、通過する光分岐器は光分岐器１６のみであり、挿
入損失が極めて低い値となる。例えば、図２および図３
に示す光分岐器２，１０において、各々に入射された光
パルスのレベルと出力される光パルスの一つのレベルの
差（挿入損失）を３ｄＢとすると、従来のＯＴＤＲ測定
装置における光パルスの経路においては、９ｄＢの挿入
損失が存在する。ところが、図１に示すＯＴＤＲ測定装
置１２においては、光分岐器１６の挿入損失を３ｄＢと
すると、上記経路における挿入損失は６ｄＢとなる。
【００１９】以上説明したように、本実施例によるＯＴ
ＤＲ測定装置１２は、光分岐器１６をリングレーザ部１
３および測定部１４が共有するように構成したために、
光パルスの経路における挿入損失を低減（例えば、３ｄ
Ｂ）することができ、広いダイナミックレンジを確保す
ることができる。また、回路中の光分岐器は一つのみで
あるために、コストを低減することができる。なお、上
述した一実施例においては、被測定光ケーブル３の伝送
損失を検出する例を示したが、被測定光ケーブル３の周
囲の温度分布を検出するようにしてもよい。
ＤＲ測定装置１２は、光分岐器１６をリングレーザ部１
３および測定部１４が共有するように構成したために、
光パルスの経路における挿入損失を低減（例えば、３ｄ
Ｂ）することができ、広いダイナミックレンジを確保す
ることができる。また、回路中の光分岐器は一つのみで
あるために、コストを低減することができる。なお、上
述した一実施例においては、被測定光ケーブル３の伝送
損失を検出する例を示したが、被測定光ケーブル３の周
囲の温度分布を検出するようにしてもよい。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
励起光源が所定の周波数の連続光を発生させると、光パ
ルス発生手段が当該連続光を発信増幅し、光スイッチの
オンオフ動作に応じて光パルスを発生する。次に、光分
岐手段が光線路の入射端に前記光パルスを入射する一
方、当該光線路の入射端から出力される応答光を受光手
段に入射する。このように、必要となる光分岐手段は１
つのみであるので、低コストで構成できるとともに、挿
入損失を低い値とすることができる。これに加えて、前
記光線路に入射される光パルスの波高値が大であるため
に、受光可能な応答光のダイナミックレンジを拡大する
ことができるという効果がある。
励起光源が所定の周波数の連続光を発生させると、光パ
ルス発生手段が当該連続光を発信増幅し、光スイッチの
オンオフ動作に応じて光パルスを発生する。次に、光分
岐手段が光線路の入射端に前記光パルスを入射する一
方、当該光線路の入射端から出力される応答光を受光手
段に入射する。このように、必要となる光分岐手段は１
つのみであるので、低コストで構成できるとともに、挿
入損失を低い値とすることができる。これに加えて、前
記光線路に入射される光パルスの波高値が大であるため
に、受光可能な応答光のダイナミックレンジを拡大する
ことができるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例によるＯＴＤＲ測定装置１２
の概略構成を示す図である。
の概略構成を示す図である。
【図２】従来のＯＴＤＲ測定装置の構成例を示す図であ
る。
る。
【図３】リングレーザ装置６の概略構成を示す図であ
る。
る。
３ 被測定光ケーブル ４ 受光部（受光手段） ７ 励起光源 １３ リングレーザ部（光パルス発生手段） １６ 光分岐器（光分岐手段）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 古川 眞一 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平５−21880（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−274724（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−248989（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/02 H01S 3/00 - 4/00 実用ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ) 特許ファイル（ＰＡＴＯＬＩＳ)
Claims (1)
- 【請求項１】 光線路の入射端に光パルスを入射すると
ともに、該光線路内の後方散乱あるいは反射に応じた応
答光を前記入射端で検出し、当該光線路の伝送損失を測
定するＯＴＤＲ測定装置において、 前記応答光を受光する受光手段と、 所定周波数の連続光を発生する励起光源と、 前記連続光を発信増幅する閉ループ光路と、この閉ルー
プ光路に介挿される光スイッチとから構成され、該光ス
イッチのオンオフ動作に応じて前記光パルスを発生する
光パルス発生手段と、 前記閉ループ光路に介挿され、前記光パルスを前記光線
路の入射端に入射する一方、前記応答光を前記受光手段
に入射する光分岐手段とを具備することを特徴とするＯ
ＴＤＲ測定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05272678A JP3122293B2 (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | Ｏｔｄｒ測定装置 |
| ITMI942208A IT1272837B (it) | 1993-10-29 | 1994-10-27 | Riflettometro di dominio temporale ottico particolarmente per comunicazione ottica |
| DE4438415A DE4438415C2 (de) | 1993-10-29 | 1994-10-27 | Optisches Reflektometer |
| US08/330,801 US5500731A (en) | 1993-10-29 | 1994-10-28 | Optical time domain reflectometer using ring laser light source |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05272678A JP3122293B2 (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | Ｏｔｄｒ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07128185A JPH07128185A (ja) | 1995-05-19 |
| JP3122293B2 true JP3122293B2 (ja) | 2001-01-09 |
Family
ID=17517271
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05272678A Expired - Fee Related JP3122293B2 (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | Ｏｔｄｒ測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5500731A (ja) |
| JP (1) | JP3122293B2 (ja) |
| DE (1) | DE4438415C2 (ja) |
| IT (1) | IT1272837B (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3094925B2 (ja) * | 1996-10-31 | 2000-10-03 | 安藤電気株式会社 | 光ファイバ歪測定装置 |
| US6002501A (en) * | 1997-06-30 | 1999-12-14 | Lockheed Martin Energy Research Corp. | Method and apparatus for active tamper indicating device using optical time-domain reflectometry |
| CA2374437C (en) | 1999-10-28 | 2007-02-13 | Tollgrade Communications, Inc. | Method and apparatus for delay-line time-domain reflectometry |
| CN110086529A (zh) * | 2019-04-15 | 2019-08-02 | 北京盟力星科技有限公司 | 一种基于光缆监测站的测试分析系统 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3804135A1 (de) * | 1988-02-11 | 1989-08-24 | Felten & Guilleaume Energie | Verfahren zur kontinuierlichen daempfungsmessung von lichtwellenleiter-sensoren mit nur einem zugaenglichen ende |
| JP2840682B2 (ja) * | 1989-10-03 | 1998-12-24 | 日本電信電話株式会社 | 光導波路の歪または温度の測定方法および装置 |
| JPH04138331A (ja) * | 1990-09-28 | 1992-05-12 | Ando Electric Co Ltd | ヘテロダイン受光を用いた光パルス試験器 |
| JP2977053B2 (ja) * | 1991-07-12 | 1999-11-10 | 安藤電気株式会社 | 高出力光パルス発生器 |
-
1993
- 1993-10-29 JP JP05272678A patent/JP3122293B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-10-27 IT ITMI942208A patent/IT1272837B/it active IP Right Grant
- 1994-10-27 DE DE4438415A patent/DE4438415C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-10-28 US US08/330,801 patent/US5500731A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| IT1272837B (it) | 1997-06-30 |
| ITMI942208A0 (it) | 1994-10-27 |
| US5500731A (en) | 1996-03-19 |
| ITMI942208A1 (it) | 1996-04-27 |
| JPH07128185A (ja) | 1995-05-19 |
| DE4438415C2 (de) | 2001-09-13 |
| DE4438415A1 (de) | 1995-05-04 |
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