JP3116813B2 - 周波数偏差測定装置 - Google Patents
周波数偏差測定装置Info
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Description
号のキャリア周波数を測定する周波数測定器に利用さ
れ、例えば位相軌跡法を用いてπ/4シフトQPSK変
調信号の周波数偏差を測定するデジタル変調信号の周波
数偏差測定装置に関する。
システム、第2世代コードレス電話システム等のデジタ
ル移動体通信で採用されているπ/4シフトQPSK変
調方式では、周波数カウンタで周波数を測定すると誤差
が大きいため、位相軌跡法による周波数偏差測定方式が
採用されている。
の構成を図5に示す。
数設定値ft を入力し、設定値に応じたコヒーレントな
基準信号S11を発生する。準同期検波部12は、信号発
生部11で発生される基準信号S11に基づいてπ/4シ
フトQPSK変調された被試験信号Sinを同期検波し、
IQベースバンド信号S12を得る。周波数偏差検出部1
3は、準同期検波部12で得られたIQベースバンド信
号S12を位相軌跡法により試験周波数設定値ft との周
波数偏差S13を求める。
説明する。
示す通り、ある始点Oからの位相変化によって4値(”
00”、”01”、”11”、”10”)を決定してデ
ータを伝送する。
ば、”00”の点Aへ移動したと仮定された場合、理想
点Bと実際の移動点の位相偏差Δθを周波数に変換して
周波数偏差を求めている。
ような従来の周波数偏差測定装置では、測定範囲がシン
ボルレートの1/10程度の周波数までに限定されてし
まう。これは周波数誤差が大きいとシンボル決定に誤り
が起こり、正確な周波数偏差が得られないためである。
合、135°の位相移動量が必要である。これに周波数
誤差「+4」kHzが加わると、伝送速度21kHzシ
ンボル/sのシステムでは、位相移動量=68°が加え
られ、測定装置側では203°の位相移動量を得ること
になる。
想的な位相移動量(135°と225°)を比較する
と”11”に近いため、測定装置は”11”が伝送され
たと判断してしまう。
る場合、”11”をシンボル点として、”11”の実際
の移動量「203°」−理想移動量「225°」=−2
2°、即ち−1.3 kHzの周波数誤差として算出するた
め、実際には「+4」kHzずれている被試験信号Sin
と違いが生じることになる。
格(RCR STD−27)では、21kシンボル/sの
シンボルレートに対して「±3」kHz程度までの周波
数偏差が許されており、測定装置には「±4」kHz以
上、即ち、シンボルレートの1/5以上の測定範囲が求
められる。
1/5以上の周波数偏差の測定範囲を得る周波数偏差測
定装置を提供することを目的とする。
め、この発明は、デジタル変調信号を被試験信号Sinと
して試験周波数設定値ft との周波数偏差を測定する周
波数偏差測定装置において、被試験信号Sinの中心周波
数f0 を求める中心周波数検出手段14,15と、中心
周波数検出手段14,15で求められた中心周波数f0
の周波数信号を基準信号S11として生成する信号発生手
段11と、被試験信号Sinと前記基準信号S11を入力し
て直交ベースバンド信号S12を出力する準同期検波手段
12と、直交ベースバンド信号S12を入力して位相軌跡
法により第1の周波数偏差S13を求める第1の周波数偏
差検出手段13と、試験周波数設定値ft と中心周波数
f0との差から第2の周波数偏差S16を求める第2の周
波数偏差検出手段16と、第1の周波数偏差S13に第2の
周波数偏差S16の値を加算して周波数偏差測定値S17を
得る加算手段17とを備える。
ft に基づく周波数範囲を掃引して被試験信号Sinをサ
ンプルし、最低周波数f1 から最高周波数f4 までのス
ペクトル分布を求めるスペクトル分布測定部14と、こ
のスペクトル分布測定部14で得られた掃引周波数幅の
全サンプル点の総和を求め、最低周波数f1 から順次上
に電力加算し限界サンプル点を求めて周波数に変換して
下限周波数f2 を検出し、最高周波数f4 から順次下に
電力加算し限界サンプル点を求めて周波数に変換して上
限周波数f3 を検出し、下限周波数f2 と上限周波数f
3 との和を2分することにより中心周波数f0 を求める
中心周波数検出部15とを備える。
変換するアナログ/デジタル変換部18を備え、前記ア
ナログ/デジタル変換部18の出力データについて、中
心周波数検出手段14,15、信号発生手段11、準同
期検波手段12、第1の周波数偏差検出手段13、第2
の周波数偏差検出手段16及び加算手段17の各処理を
行う専用データ処理装置19とを備える。
装置では、スペクトル分布測定部14と中心周波数検出
部15から中心周波数f0 を求め、この中心周波数f0
を元に準同期検波部12の基準信号S12を位相軌跡法に
よる周波数偏差検出部13で求められる測定範囲に可変
することにより、周波数偏差検出部13で求められた周
波数偏差S13と中心周波数検出部15から求めた周波数
偏差S16を加えることによりシンボルレートの1/5以
上の周波数偏差S17の測定を可能とする。
発明の実施の形態を詳細に説明する。
差測定装置の構成を示すものである。なお、説明を簡単
にするため、図5と同一部分には同一符号を付して示
し、ここでは重複する説明を省略する。
もつπ/4QPSK変調信号)Sinは準同期検波部12
に供給されると共にスペクトル分布測定部14に供給さ
れる。スペクトル分布測定部14は試験周波数設定値f
t に基づいて変調信号Sinの占有周波数帯域幅Δfを求
めるもので、中心周波数検出部15はその占有周波数帯
域幅Δfの中心周波数f0 を得る。この中心周波数f0
の値は信号発生部11に供給されると共に減算器16に
供給される。
波数設定値ft から減算することで周波数偏差S16を求
める。この周波数偏差S16は加算器17に供給され、周
波数偏差検出部13で得られた周波数偏差S13と共に加
算され、周波数偏差測定結果S17として出力される。
14及び中心周波数検出部15における占有周波数帯域
幅とその中心周波数の検出方法を以下に説明する。
として単掃引し、スペクトル分布を測定する。このスペ
クトル分布の掃引周波数幅を占有帯域幅の3.5倍程度
とし、試験周波数設定値ft を中心とした掃引周波数幅
内の全サンプル点を中心周波数検出部3に取り込む。
2)を最低周波数f1 とし、試験周波数設定値ft +
(掃引周波数幅/2)を最高周波数f4 とし、最低周波
数f1から最高周波数f4 までのサンプル点を全サンプ
ル点とする。
引周波数幅の全サンプル点の総和を求めて全電力とす
る。次に、最低周波数f1 から順次上に電力加算を行
い、全電力の0.5%となる限界サンプル点を求めて周
波数に変換し、下限周波数f2 を得る。同様に、最高周
波数f4 から順次下に電力加算を行い、全電力の0.5
%となる限界サンプル点を求めて周波数に変換し、上限
周波数f3 を得る。
が占有帯域幅Δfとなる。また、(下限周波数f2 +上
限周波数f3 )/2とすることにより、中心周波数f0
を得る。
0 と試験周波数設定値ft との周波数偏差f16を求め
る。信号発生部11では、中心周波数f0 でコヒーレン
トな無変調信号S11を生成する。準同期検波部12で
は、信号発生器11から供給される無変調信号S11を基
準信号として使用し、被試験信号Sinを準同期検波し、
IQベースバンド信号S12を得る。
より無変調信号S11の周波数である中心周波数f0 との
周波数偏差S13を求める。このようにして求められた2
つの周波数偏差S13とS16を加算器17で加算すること
により、被試験信号Sinと試験周波数設定値ft との周
波数偏差測定結果S17として求められる。
SK変調された被試験信号Sinと試験周波数設定値ft
との周波数偏差が周波数偏差検出部13の測定範囲を超
えていても、準同期検波の基準信号である無変調信号S
11の周波数f0 を信号発生部11で制御することによ
り、無変調信号S11と被試験信号Sinの周波数偏差を周
波数偏差検出部13の測定範囲内に合わせ込むことがで
き、周波数偏差測定範囲を拡大することが可能である。
がπ/4QPSK変調信号の場合について説明したが、
他のデジタル変調信号の場合でも同様に実施可能であ
る。
CR STD−27)に基づいた信号についての実施例
を説明する。
設定値ft を中間周波数 250kHzとする。シンボルレ
ートの1/10が位相軌跡法の測定範囲となるので、シ
ンボルレートが21kHzシンボル/sの場合、±2.1 k
Hzが測定範囲となる。
/4QPSK変調された信号を被試験信号Sinとして、
実施例を以下に示す。
て、図1の測定構成は全てDSP19内で処理される。
アナログ/デジタル(A/D)変換器18では、被試験
信号Sinを1MHzでサンプリングして時系列データD
inを得る。この時系列データ4096個をDSP19に入力
し、DSP19上のソフトウェアによって実現されるス
ペクトル分布測定部14において、データ数 16384の高
速フーリエ変換をしてスペクトラム分布を得る。高速フ
ーリエ変換後のスペクトル分布を示したグラフが図3で
ある。
系列データを使って高速フーリエ変換することにより、
スペクトラム分布の分解能は位相軌跡法の周波数測定範
囲の1/30程度の61Hzとなる。中心周波数f0 を得
るのに十分な分解能である。
有帯域幅の規格(28.8kHz)の3.5倍程度の100k
Hzとして、中心周波数検出部15に試験周波数設定値
ft±50kHzのスペクトラム分布測定データを配列に
取り込む。
ため、最低周波数f1 は 200kHz、最高周波数f4 は
300kHzとなり、 200kHzから 300kHzまでのス
ペクトラム配列の総和を全電力として求める。
zから上に順に電力を加算し、全電力の0.5%になる
ポイントを求めて周波数変換する。例えば、図3の例の
場合、下限周波数f2 は241.27kHzである。
300kHzから下に順に電力を加算し、全電力の0.5
%になるポイントを求めて周波数変換する。例えば、図
3の例の場合、上限周波数f3 は267.88kHzである。
数)/2で求められるため、(241.27kHz+267.88k
Hz)/2= 254.575kHzとなる。中心周波数f0 −
試験周波数設定値ft が周波数偏差S16となり、実施例
では 4.575kHzとなる。この中心周波数f0 で信号発
生部11で生成された無変調信号S11を基準信号として
使用し、被試験信号Sinを準同期検波部12で準同期検
波してIQベースバンド信号S12を得る。
ンド信号S12から位相軌跡法により無変調信号S11との
周波数偏差S13を求める。例えばこの例では、S13=−
0.570 kHzと得られる。
ド信号S12をIQ座標平面上に示したグラフを図4
(a)に示す。なお、比較のため、図4(b)に従来構
成の場合のIQベースバンド信号S12をIQ座標平面上
に示したグラフを図4(b)に示す。
偏差S13とS16の和が、被試験信号Sinと試験周波数設
定値ft との周波数偏差S17= 4.005kHzとして得ら
れる。
軌跡法による周波数偏差検出の測定範囲内に、スペクト
ル解析による中心周波数検出部で求められた周波数で可
変した基準信号を使い準同期検波しているので、デジタ
ル変調信号の周波数偏差の測定範囲をシンボルレートの
1/5以上まで得られる効果を奏する。
の構成を示すブロック回路図である。
ある。
ある。
ベースバンド信号を従来構成の場合と比較してIQ座標
平面上に示す図である。
ク回路図である。
ムを示す図である。
るための図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 デジタル変調信号を被試験信号(Sin) と
して試験周波数設定値(ft)との周波数偏差を測定する周
波数偏差測定装置において、 前記被試験信号(Sin) の中心周波数(f0)を求める中心周
波数検出手段(14,15)と、 中心周波数検出手段(14,15)で求められた中心周波数(f
0)の周波数信号を基準信号(S11) として生成する信号発
生手段(11)と、 被試験信号(Sin) と基準信号(S11) を入力して直交ベー
スバンド信号(S12) を出力する準同期検波手段(12)と、 直交ベースバンド信号(S12) を入力して位相軌跡法によ
り第1の周波数偏差(S13) を求める第1の周波数偏差検
出手段(13)と、 試験周波数設定値(ft)と中心周波数(f0)との差から第2
の周波数偏差(S16) を求める第2の周波数偏差検出手段
(16)と、 第1の周波数偏差(S13) に第2の周波数偏差(S16) の値
を加算して周波数偏差測定値(S17) を得る加算手段(17)
とを備えることを特徴とする周波数偏差測定装置。 - 【請求項2】 請求項1の中心周波数検出手段は、 試験周波数設定値(ft)に基づく周波数範囲を掃引して被
試験信号(Sin) をサンプルし、最低周波数(f1)から最高
周波数(f4)までのスペクトル分布を求めるスペクトル分
布測定部(14)と、 スペクトル分布測定部(14)で得られた掃引周波数幅の全
サンプル点の総和を求め、最低周波数(f1)から順次上に
電力加算し限界サンプル点を求めて周波数に変換して下
限周波数(f2)を検出し、最高周波数(f4)から順次下に電
力加算し限界サンプル点を求めて周波数に変換して上限
周波数(f3)を検出し、下限周波数(f2)と上限周波数(f3)
との和を2分することにより中心周波数(f0)を求める中
心周波数検出部(15)とを備えることを特徴とする周波数
偏差測定装置。 - 【請求項3】 請求項1において、さらに、前記被試験
信号(Sin) をデジタル信号に変換するアナログ/デジタ
ル変換部(18)を備え、 アナログ/デジタル変換部(18)の出力データについて、
中心周波数検出手段(14,15) 、信号発生手段(11)、準同
期検波手段(12)、第1の周波数偏差検出手段(13)、第2
の周波数偏差検出手段(16)及び加算手段(17)の各処理を
行う専用データ処理装置(19)とを備えることを特徴とす
る周波数偏差測定装置。
Priority Applications (2)
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