JP3111426B2 - キャパシタンス形成方法 - Google Patents

キャパシタンス形成方法

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JP3111426B2
JP3111426B2 JP05256353A JP25635393A JP3111426B2 JP 3111426 B2 JP3111426 B2 JP 3111426B2 JP 05256353 A JP05256353 A JP 05256353A JP 25635393 A JP25635393 A JP 25635393A JP 3111426 B2 JP3111426 B2 JP 3111426B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、LSI技術におけるキ
ャパシタンス形成方法の分野に関する。
【0002】
【従来の技術】通常、LSIの製造は、まず回路図面を
CADで設計し、その回路図面を縮小してマスクを作成
し、これをシリコンウェハに焼き付ける工程から構成さ
れる。CADで回路図面を設計するにはLSIを構成す
る種々の素子、例えば、トランジスタ、抵抗、キャパシ
タンス等を配置してゆく。
【0003】この設計技術において、キャパシタンスを
配置する際、キャパシタンスの容量値を表示するために
は、通常次のような方法が取られている。図1に示すよ
うに、四角形をした1つのキャパシタンスを単位キャパ
シタンスとし、このキャパシタンスの面積に基づいて容
量形成を行なう方法が知られている。例えば、2倍容量
のキャパシタンスを作成するには2個の単位キャパシタ
ンスを、4倍容量のキャパシタンスが必要な時は、単位
キャパシタンスを4個配置することにより、容量値を作
成している。
【0004】しかしながら、このような方法で例えば、
DCT変換に用いられるsin値のキャパシタンス容量
を作成する場合には困難を伴う。例として、sin15
度(0.259)とsin45度(0.707)の場合
を挙げる。まず、下記に示すようにsin15度(0.
259)を単位キャパシタンス5個で作成すると、si
n45度(0.707)は14個のキャパシタンスで作
成される(図2参照)。つまり、最近似の整数倍値のキ
ャパシタンス数で作成される方法が取られる。しかしな
がら、本来求めたい容量値は1.0:2.73であるに
も拘らず、この方法で得られた容量値は1.0:2.8
でしかない。すなわち、容量値の精度保障は確保されて
いない。
【0005】 倍率(A) キャパシタンス数(B) sin15度 = 0.259 1.00 5(1.0) sin30度 = 0.5 1.93 10(2.0) sin45度 = 0.707 2.73 14(2.8) sin60度 = 0.866 3.34 17(3.4) sin75度 = 0.966 3.73 19(3.8) sin90度 = 1.0 3.86 19(3.8)
【0006】A:sin15度の値を1.00とした場
合の倍率。 B:sin15度の値を単位キャパシタンス数を5とし
た場合の近似のキャパシタンス数。
【0007】そこで、上記の問題を解決して、より精度
の高い容量値を確保するためには、例えば、259個の
単位キャパシタンスを作成し、この259個に対して7
07個の単位キャパシタンスを作成することにより、容
量値の精度を改善することも可能である。しかしなが
ら、259個と707個のキャパシタンスを作成するた
めには、回路規模が大きくなりすぎるという問題を抱え
ることになる。一方、回路を小規模にすれば、単位キャ
パシタンスの近似の整数倍でしか容量値を作成し得ず、
容量値の精度保証を確保し得ないという問題を抱えてい
る。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような従
来の問題点を解消すべく創案されたもので、単位キャパ
シタンスの整数倍でないキャパシタンス容量を数少ない
キャパシタンスで作成して回路の小規模化を図りつつ、
しかも容量値の精度保証を確保することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係るキャパシタ
ンス形成方法は、LSI内の単位キャパシタンスパター
ンを正方形に形成し、更に該正方形の4辺に内接する大
きさの円形のキャパシタンスパターンを形成する方法で
ある。また、本発明は、LSI内の単位キャパシタンス
パターンを3角形に形成し、更に該3角形の2辺に内接
する台形のキャパシタンスパターンを形成するキャパシ
タンス形成方法である。さらに、本発明は、LSI内の
単位キャパシタンスパターンを6角形に形成し、更に該
6角形の任意の部分を有しないキャパシタンスパターン
を形成するキャパシタンス形成方法である。
【0010】
【実施例】次に、本発明に係るキャパシタンス形成方法
の1実施例を図面に基づいて説明する。本発明に係るキ
ャパシタンス形成方法における単位キャパシタンスの形
状には図1の四角形、図3の円形、図7の六角形および
図8の三角形等がある。
【0011】この単位キャパシタンスの整数倍のキャパ
シタンス容量を設定するには、従来の技術同様、整数倍
個の単位キャパシタンスをCADで作成するだけでよ
い。次に、この単位キャパシタンスの整数倍でない値、
例えば、1.50倍の容量キャパシタンスを作成する方
法について説明する。従来、1.50のキャパシタンス
容量を作成するには、単位キャパシタンス2個に対し3
個の単位キャパシタンスを配置することで容量値を作成
する。すなわち、整数倍比(2:3)に置き換え、キャ
パシタンス容量を作成する。
【0012】しかし、本発明に係るキャパシタンス形成
方法では、図4に示すようにまず単位キャパシタンス1
個(ここでは円形を例とする)とこの単位キャパシタン
ス1個の半分のみをCADで作成する。すなわち、0.
50の部分は、単位キャパシタンスの形状の全てを形成
せずその形状の半分のみを形成することで作成する。こ
の方法では、単位キャパシタンスの1.50倍のキャパ
シタンス容量を作成するためには1.5個の単位キャパ
シタンスですみ、回路も小規模である。前述の例と比較
すると、回路規模は1/2となる。
【0013】なお、上記では例として1.50のキャパ
シタンス容量を挙げたが、この程度の容量であれば、単
位キャパシタンスを整数倍換算してキャパシタンス容量
を実現するのは比較的簡単であり、また単位キャパシタ
ンスの形状の半分がCADで作成し得る限り、その形状
は問わない。この本発明たるキャパシタンス形成方法を
最も有効に活用し得るのは、例えば上記のsin値、平
行根またはπ等、単位キャパシタンスの整数倍では作成
し難いキャパシタンス容量値の場合である。
【0014】その1例を図に示す。図において、単
位キャパシタンスの形状は正方形であり、その面積は4
2である。この単位キャパシタンスに基づき、キャパ
シタンスパターンをマスクパターンで作成する際、rを
半径とする円部分のみを作成する。その面積はπr2
あり、従って単位キャパシタンスに対してπ/4の容量
を有するキャパシタンスを形成し得る。これは、正に円
形状の特性を利用したキャパシタンス容量である。
【0015】図6に他の1例を示す。単位キャパシタン
スの形状が円の場合、円を例えば4つに分割し、それぞ
れの面積領域をA、B、CおよびDとする時、これら面
積の任意の組合せにより異なる面積を得ることができ
る。任意の面積領域同士、例えば、面積Aと、面積Cと
Dの合計値の比(A/C+D、またはC+D/A)に基
づいてキャパシタンス容量を作成することも可能であ
る。なお、単位キャパシタンスの形状は円以外の形状で
もよく、図7に示す6角形、図8に示す三角形などの多
角形を単位キャパシタンスとしてもよく、これら図形の
特性を活かしたキャパシタンス容量を作成し得るのは前
述の通りである。
【0016】このように、単位キャパシタンスの形状の
任意の部分を形成することで、キャパシタンス容量の作
成が容易に実現可能となる。実際、CADにおいては、
どのような形状の単位キャパシタンスをどのように形成
すればどのような容量値が得られるのか予め算出可能で
あり、予めプログラムしておき、任意に抽出するだでよ
い。
【0017】
【発明の効果】以上のように、本発明に係るキャパシタ
ンス形成方法は、所定形状をした単位キャパシタンス
成する際、所定形状の一部分を形成せずにキャパシタ
ンスを形成することでキャパシタンスの面積を任意に設
定してキャパシタンス容量を設定することができるで、
単位キャパシタンスの整数倍でないキャパシタンス容量
を数少ないキャパシタンス数で作成して回路の小規模化
を図り、しかも容量値の精度保障を確保し得るという効
果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】単位キャパシタンスの概念図を示す図である。
【図2】整数倍でキャパシタンス容量を作成する1例の
概念図である。
【図3】円形の単位キャパシタンスの概念図である。
【図4】単位キャパシタンスの整数倍でないキャパシタ
ンス容量を作成する1例の概念図である。
【図5】円形の特性に基づきキャパシタンス容量を作成
する1例の概念図である。
【図6】キャパシタンス容量を作成する他の1例の概念
図である。
【図7】六角形の単位キャパシタンスの1例である。
【図8】三角形の単位キャパシタンスの1例である。
【符号の説明】
A,B,C,D 面積領域 r 半径
フロントページの続き (72)発明者 山本 誠 東京都世田谷区北沢3−5−18 鷹山ビ ル 株式会社鷹山内 (72)発明者 大澤 庶 東京都世田谷区北沢3−5−18 鷹山ビ ル 株式会社鷹山内 (72)発明者 漆畑 晶 東京都世田谷区北沢3−5−18 鷹山ビ ル 株式会社鷹山内 審査官 大嶋 洋一 (56)参考文献 特開 昭56−112750(JP,A) 実開 昭56−119670(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 27/04 H01L 21/822 H01L 21/82

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 LSI内の単位キャパシタンスパターン
    を正方形に形成し、更に該正方形の4辺に内接する大き
    さの円形のキャパシタンスパターンを形成することを特
    徴とするキャパシタンス形成方法。
  2. 【請求項2】 LSI内の単位キャパシタンスパターン
    を3角形に形成し、更に該3角形の2辺に内接する台形
    のキャパシタンスパターンを形成することを特徴とする
    キャパシタンス形成方法。
  3. 【請求項3】 LSI内の単位キャパシタンスパターン
    を6角形に形成し、更に該6角形の任意の部分を有しな
    いキャパシタンスパターンを形成することを特徴とする
    キャパシタンス形成方法。
JP05256353A 1993-09-20 1993-09-20 キャパシタンス形成方法 Expired - Fee Related JP3111426B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6541627B1 (en) 1997-12-04 2003-04-01 Asahi Kasei Kabushiki Kaisha Cellulose dispersion

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US6541627B1 (en) 1997-12-04 2003-04-01 Asahi Kasei Kabushiki Kaisha Cellulose dispersion

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