JP3092334B2

JP3092334B2 - 検反装置

Info

Publication number: JP3092334B2
Application number: JP04188400A
Authority: JP
Inventors: 洋三宅; 日藝伊藤; 繁人尾崎; 敦久安藤
Original assignee: Toyota Industries Corp
Current assignee: Toyota Industries Corp
Priority date: 1992-07-15
Filing date: 1992-07-15
Publication date: 2000-09-25
Anticipated expiration: 2015-09-25
Also published as: JPH0633369A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は織布に対して相対移動し
て、織布の検反領域に照射された光を空間フィルタから
なる受光手段で受光して検反情報を得る検反装置に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】検反工程を製織工程から切り離して織布
の良否判定を行う場合には、織布を織り上げた後でなけ
れば織布の良否を判定することができない。そのため、
綜絖あるいは筬羽間への経糸通しの際の通し違い、ある
いは開口運動の際の上下経糸同士の絡みによる経糸の連
れ込みが生じても織り上げ完了時まで織機の稼動が継続
され、このような経方向の欠点が織り上げ完了時まで続
いてしまう。又、織り上げられた織布に欠点がない場合
にも検反工程に通す必要があり、検反効率の悪さは否め
ない。

【０００３】従来の検反装置は織布に照射した光の反射
光や透過光の変化を利用するため、織布の振動や外乱光
の変化が検出誤差となる。そのため、検反工程で使用さ
れている検反装置を織機に装備しても製織時の機台の振
動に伴う織布の振動や外乱光により、精度の高い検反は
難しく、織機に検反装置を装備する場合には織布の振動
及び外乱光に対する対策が特に要求される。本願出願人
は織布の振動及び外乱光の影響を受け難く、高い精度で
織布の欠点を検出できる検反装置を先に提案している
（特開平３−２４９２４３号公報）。

【０００４】この装置は筬の前方においてセンサボック
ス（センサヘッド）が織布の幅方向に所定速度で往復走
査されるようになっている。センサボックスはその底部
が開放され、その内部に図１２に示す構成の検反部が設
けられている。すなわち、センサボックス内に設けられ
た投光器３１からの光の通過経路にハーフミラー３２が
配設され、ハーフミラー３２の上方には織布Ｗから所定
距離Ｈをおいて凸レンズ３３が設けられている。凸レン
ズ３３の上方には所定距離Ｄをおいて空間フィルタ３４
が設けられている。投光器３１から照射された光がハー
フミラー３２で反射して織布Ｗに垂直に照射され、織布
Ｗの裏面に配置された反射鏡３５に経糸Ｔの間から達し
て反射する。そして、この反射光がハーフミラー３２を
通過して凸レンズ３３を経て空間フィルタ３４に収束さ
れ、明るさとして結像する。

【０００５】空間フィルタ３４は織布Ｗの経糸Ｔと平行
に、一定ピッチＰで配設された多数の受光素子３６ａ，
３６ｂを備えた２個の櫛型フィルタ３７ａ，３７ｂから
なる。そして、両櫛型フィルタ３７ａ，３７ｂからの出
力信号が差動演算回路３８に出力され、差動演算回路３
８の出力信号が全波整流回路３９、尖頭値検波回路４
０、ローパスフィルタ４１及び比較回路４２を経て判定
回路４３に出力される。

【０００６】図１３に示すように、差動演算回路３８の
出力信号ＳＧ１は全波整流回路３９で全波整流され、尖
頭値検波回路４０はその整流された出力信号ＳＧ２のピ
ーク値をホールドして形成した信号ＳＧ３をローパスフ
ィルタ４１に出力する。ローパスフィルタ４１はその信
号ＳＧ３を平滑化して比較回路４２に出力する。比較回
路４２はローパスフィルタ４１の出力信号ＳＧ４を入力
して予め設定された基準値Et（＝EN／２）より大きいか
否かを判断し、大きい場合にはその大きな状態の継続時
間をクロックパルスＣＬＫで計数し、その計数値ｙを継
続時間Ｂとして判定回路４３に出力する。そして、判定
回路４３は継続時間Ｂと予め設定した基準時間ｔs とを
比較し、継続時間Ｂが基準時間tsを超えた時、経糸通し
違い等の異常があると判断する。判定回路４３の判定信
号は織機の制御装置や作業者に異常を知らせる報知装置
に出力され、経糸Ｔの異常が検出されたときには、織機
の運転を停止させたりランプ、ブザー等で作業者に知ら
せるようになっている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】空間フィルタ３４を使
用した検反装置は織布Ｗに現れた非同期性を欠点として
検出するものであり、信号としては受光量の増減によっ
て空間フィルタ３４の出力（周波数信号）の振幅変化が
発生するのを利用している。そして、前記のように織布
Ｗに異常がある場合には、空間フィルタ３４の出力の振
幅が大きくなることを前提として異常検出を行うように
なっている。

【０００８】ところが、センサボックスが織布に対して
１走査毎に検出信号を処理して織布Ｗの良否を判定して
いるため、外乱やノイズによって不良判定の対象となる
レベルの信号を空間フィルタ３４が検出すると判定回路
４３は誤って異常を知らせてしまうという問題がある。

【０００９】又、図１４に示すように、織布Ｗに経糸不
良が発生すると、連続的に密度が異なる間隙が発生して
しまう。この他に、図１５に示すように、経糸Ｔ同士が
接近することにより、織布Ｗに密度が異なるいわゆる雨
だれＡが部分的に形成される場合がある。しかし、この
雨だれＡは経糸不良として判断しない。ところが、セン
サヘッドの１走査で織布Ｗに部分的に形成された雨だれ
Ａを検反装置が検出すると、この雨だれＡの検出信号に
より経糸不良が発生していると検反装置は判定してしま
う。従って、センサヘッドの１走査で経糸不良等の良否
の判定を行うことは困難であるという問題がある。

【００１０】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的は外乱やノイズあるいは雨
だれを経糸不良と誤判定することなく、的確に経糸不良
を検出することができる検反装置を提供することにあ
る。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は上記問題点を解
決するため、請求項１の発明では、織布に対して相対移
動して、織布の検反領域に照射された光を受光素子から
なる受光手段で受光して検反情報を得る検反装置におい
て、前記受光素子から出力される出力信号又は所定の処
理が行われた信号を予め設定されたしきい値に基づいて
０又は１の２値化処理する２値化処理回路と、前記２値
化処理回路からの２値化出力信号を加算処理する加算処
理回路と、前記加算処理回路により加算された加算信号
を予め設定された比較値と比較して前記加算信号が前記
比較値を超えるや否やを判定する比較回路と、前記比較
回路からの判定信号に基づいて織布の異常を判断する判
定回路とを備えたことをその要旨とする。

【００１２】請求項２の発明では、織布に対して相対移
動して、織布の検反領域に照射された光を受光素子から
なる受光手段で受光して検反情報を得る検反装置におい
て、前記受光素子から出力される出力信号又は所定の処
理が行われた信号を予め設定されたしきい値に基づいて
０又は１の２値化処理する２値化処理回路と、２値化処
理された信号を記憶する信号記憶回路と、前記２値化処
理回路からの２値化出力信号と前記信号記憶回路に記憶
されている記憶信号とを比較し、２値化出力信号の検反
不良信号が記憶信号の検反不良信号と同じ位置で対応し
ていない場合、その記憶信号の検反不良信号を消去し、
２値化出力信号の検反不良信号が記憶信号の検反不良信
号と同じ位置で対応している場合、その２値化出力信号
の検反不良信号と記憶信号の検反不良信号とを加算する
加算消去処理回路と、前記加算消去処理回路により加算
及び消去された加算消去信号に基づいて織布の良否を判
定する判定回路とを備えたことをその要旨とする。

【００１３】

【作用】第１発明では、織布の検反領域に照射された光
を受光素子が受光すると、受光素子から織布の状態に対
応した出力信号が出力される。その出力信号又は所定の
処理が行われた信号は２値化処理回路によって予め設定
されたしきい値に基づいて０又は１の２値化信号に処理
される。加算処理回路は前記２値化処理回路により２値
化処理された２値化出力信号を加算し、加算された加算
信号と予め設定された比較値とは比較回路で比較され
る。かかる比較回路で求められる判定信号に基づいて判
定回路は織布の良否を判定する。

【００１４】従って、加算された加算信号には外乱、ノ
イズ及び雨だれによる信号が含まれてもその加算値は小
さく抑えられるため、外乱、ノイズ及び雨だれを誤った
経糸不良と判定することがない。又、加算処理すること
により経糸不良箇所の加算値は大きくなるため、経糸不
良の判定が確実に行われる。更に、検反情報を持つ検出
信号を２値化処理するため、信号の扱いが容易となる。

【００１５】第２発明では、織布の検反領域に照射され
た光を受光素子が受光すると、受光素子から織布の状態
に対応した出力信号が出力される。その出力信号又は所
定の処理が行われた信号は２値化処理回路によって予め
設定されたしきい値に基づいて０又は１の２値化信号に
処理される。加算消去処理回路は２値化処理回路からの
２値化出力信号と、信号記憶回路に記憶されている記憶
信号とを比較する。２値化出力信号の検反不良信号が記
憶信号の検反不良信号と同じ位置で対応していない場
合、その記憶信号の検反不良信号を消去し、２値化出力
信号の検反不良信号が記憶信号の検反不良信号と同じ位
置で対応している場合、その２値化出力信号の検反不良
信号と記憶信号の検反不良信号とを加算する。判定回路
は加算消去処理回路により加算及び消去された加算消去
信号に基づいて織布の良否を判定する。

【００１６】従って、信号記憶回路には連続的に検出さ
れる検反不良信号が記憶される。そのため、外乱やノイ
ズ及び雨だれ等のよる誤判定が防止される。

【００１７】

【実施例】以下、本発明を具体化した第１実施例を図１
〜図６に基づいて説明する。検反装置は基本的には本願
出願人が先に提案した装置と同じであるが、センサヘッ
ドが織布の下方において織布の幅方向に往復走査される
点と、受光手段を構成する空間フィルタの信号処理を行
う回路の構成が異なっている。

【００１８】織前とエキスパンションバーとの間の織布
通過位置の直下には、織布Ｗの幅以上の長さの収容ボッ
クス１が織布Ｗの幅方向（図２の左右方向）に沿って配
設されている。図２に示すように、収容ボックス１の上
部には織布Ｗの幅以上の長さのガラス窓２が設けられて
いる。収容ボックス１の上には窓２を覆う反射板３が配
設され、織布Ｗは収容ボックス１と反射板３に挟まれた
状態で移動するようになっている。収容ボックス１内の
底部には走行レール４が長手方向に沿って固定され、走
行レール４上にはセンサヘッド保持台５を介してセンサ
ヘッド６が走行レール４に沿って移動可能に支持されて
いる。センサヘッド６は走査用ベルト７に固定され、走
査用ベルト７は収容ボックス１内の左右両端に設けられ
たプーリ（図示せず）間に巻掛けられている。そして、
モータ（図示せず）の正逆回転に伴うプーリの正逆回転
に伴って往復移動される走査用ベルト７を介して、セン
サヘッド６が走行レール４に案内されて織布Ｗの幅方向
に所定速度で走査されるようになっている。

【００１９】センサヘッド６の箱状のケース８内の下部
には発光体９が上向きに固定されている。発光体９の上
方にはハーフミラー１０が垂直方向に対して４５度傾斜
した状態で配置され、ハーフミラー１０の上方に集光用
の凸レンズ１１が配設されている。発光体９は凸レンズ
１１から織布Ｗへの照射光が平行光となるように、凸レ
ンズ１１の焦点位置に配置され、投光制御回路１２によ
り駆動されるようになっている。

【００２０】ハーフミラー１０の側方には検反領域から
の光、すなわち織布Ｗ及び反射板３からの反射光が織布
の表面模様として結像される受光部１３が配設されてい
る。受光部１３には空間フィルタ１４が設けられてい
る。空間フィルタ１４は差動構成で、図１に示すよう
に、受光量に応じた電気信号を出力する多数の受光素子
１５ａ，１５ｂが一定ピッチＰで平行に配設された一対
の櫛型フィルタ１６ａ，１６ｂから構成されている。受
光素子１５ａ，１５ｂの向きは凸レンズ１１で集められ
た光の結像の移動方向と直交する方向、すなわち織布Ｗ
の像の経糸Ｔと平行となるように配置されている。空間
フィルタ１４の出力信号は差動演算回路１７に出力さ
れ、差動演算回路１７の出力信号が出力回路１８で処理
された後、ケース８の外部に設けられた２値化処理回路
２５に出力される。

【００２１】図１に示すように、前記出力回路１８は全
波整流回路２２、尖頭値検波回路２３及びローパスフィ
ルタ２４を備えている。全波整流回路２２は差動演算回
路１７の出力信号ＳＧ１を全波整流する。尖頭値検波回
路２３は全波整流回路２１で整流された信号ＳＧ２のピ
ーク値をホールドして形成した出力信号ＳＧ３を出力す
る。ローパスフィルタ２４は尖頭値検波回路２３の出力
信号ＳＧ３を平滑化し、図４に示す出力信号ＳＧ４とし
て前記２値化処理回路２５に出力する。

【００２２】そして、図４に示すように、２値化処理回
路２５は予め設定されたしきい値ＮE と出力信号ＳＧ４
とを比較し、しきい値ＮE を出力信号ＳＧ４が超えたと
き、つまり織布Ｗにおいて検反不良となる信号を１と
し、しきい値ＮE を出力信号ＳＧ４が超えなかったと
き、つまり織布Ｗにおいて検反不良とならない信号を０
として２値化処理する。

【００２３】前記２値化処理回路２５によって２値化処
理された図５に示す２値化出力信号ＳＧ５は加算消去処
理回路２６に出力される。加算消去処理回路２６は２値
化処理回路２５によって０又は１となる２値化出力信号
ＳＧ５を図６に示すように、２値化信号記憶回路２７に
記憶されている記憶信号ＳＧ６と比較した後記憶する。

【００２４】又、前記センサヘッド６が所定回数の走査
（本実施例においては３０回の走査）を行うと、加算消
去処理回路２６は前記２値化信号記憶回路２７に記憶さ
れた３０回分加算及びクリアされた２値化記憶信号ＳＧ
６を比較回路２８に出力する。比較回路２８は予め試験
的に求めた結果に基づく比較値Ｓref1と３０回分加算又
はクリアされた記憶信号ＳＧ６とを比較する。そして、
比較回路２８は記憶信号ＳＧ６が比較値Ｓref1を超えた
とき１とし、記憶信号ＳＧ６が比較値Ｓref1を超えなか
ったとき０とする。この判定信号ＳＧ７を比較回路２８
は判定回路２９に出力する。

【００２５】判定回路２９は前記比較回路２８から１の
信号が出力されると、織布Ｗに経糸不良等の異常が発生
したと判断する。次に前記のように構成された装置の作
用を説明する。検反を行う場合は、センサヘッド６が織
布Ｗの幅方向に速度ｖで走査されるとともに、投光制御
回路１２が駆動されて発光体９から織布Ｗに向かって光
が照射される。発光体９からの照射光はハーフミラー１
０を通過するとともに凸レンズ１１で平行光となり、窓
２を通って織布Ｗの裏面の検反領域に照射される。織布
Ｗに照射された光は織布Ｗの裏面で直接あるいは織布Ｗ
の上に配置された反射板３で反射され、再び凸レンズ１
１を通過するとともにハーフミラー１０で反射されて受
光部１３に織布Ｗの模様として結像する。

【００２６】受光部１３には織布Ｗからの反射光と、織
布Ｗの上面に設けられた反射板３で反射して織布Ｗの隙
間から戻ってくる反射光とが到達して結像する。そし
て、受光部１３に設けられた受光素子１５ａ，１５ｂか
らは受光した光の強さに対応した電流が出力される。受
光素子１５ａ，１５ｂからの出力信号は差動演算回路１
７に入力されるとともに電流信号が電圧信号に変換され
た後、差動処理され、出力信号ＳＧ１として出力回路１
８に出力される。

【００２７】出力回路１８はセンサヘッド６の１回目の
走査による出力信号ＳＧ１を信号処理し、出力信号ＳＧ
４として２値化処理回路２５に出力する。２値化処理回
路２５はしきい値ＮE と出力信号ＳＧ４とを比較し、し
きい値ＮE を出力信号ＳＧ４が超えた場合１とし、しき
い値ＮE を出力信号ＳＧ４が超えなかった場合０とす
る。従って、例えば織布Ｗに図３に示すように、雨だれ
Ａ及び経糸不良箇所が存在する場合、１回目の走査によ
る２値化出力信号ＳＧ５における位置ｘ１，ｘ２，ｘ３
に検反不良となる１の信号が存在する。２値化処理され
た出力信号ＳＧ５は加算消去処理回路２６に出力され
る。１回目の走査による２値化出力信号ＳＧ５は加算消
去回路２６によって信号記憶回路２７に記憶信号ＳＧ６
として記憶される。

【００２８】そして、センサヘッド６の２回目の走査に
よる出力信号ＳＧ５が２値化処理回路２５から加算消去
処理回路２６に出力されると、加算消去処理回路２６は
信号記憶回路２７の記憶信号ＳＧ６と２回目の出力信号
ＳＧ５とを比較する。つまり、記憶信号ＳＧ６における
位置ｘ１，ｘ２，ｘ３の検反不良となる１の信号に対し
て２値化出力信号ＳＧ５における位置ｘ１，ｘ２，ｘ３
に検反不良となる１の信号が存在するかを比較する。

【００２９】このとき、２値化出力信号ＳＧ５の位置ｘ
１，ｘ２には検反不良となる１の信号が存在し、位置ｘ
３には検反不良となる１の信号は存在しない。従って、
加算消去処理回路２６は記憶信号ＳＧ６における位置ｘ
１，ｘ２の１に２値化出力信号ＳＧ５の位置ｘ１，ｘ２
の１を加算する。一方、加算消去処理回路２６は２回目
の走査における２値化出力信号ＳＧ５の位置ｘ３には検
反不良となる１の信号が存在しないため、記憶信号ＳＧ
６における位置ｘ３の１を０にクリアする。従って、加
算消去処理回路２６により位置ｘ１，ｘ２の信号は２と
なり、位置ｘ３の信号は０となる。この信号を加算消去
処理回路２６は信号記憶回路２７に記憶信号ＳＧ６とし
て記憶する。この繰り返しにより信号記憶回路２７には
図６に示す記憶信号ＳＧ６が記憶される。

【００３０】そして、センサヘッド６が３０回走査を行
うと、加算消去処理回路２６は前記信号記憶回路２７に
記憶された３０回分加算及びクリアされた記憶信号ＳＧ
６を比較回路２８に出力する。比較回路２８は比較値Ｓ
ref1と３０回分加算及びクリアされた記憶信号ＳＧ６と
を比較する。そして、比較回路２８は記憶信号ＳＧ６が
比較値Ｓref1を超えたとき１とし、記憶信号ＳＧ６が比
較値Ｓref1を超えなかったとき０とする。この判定信号
ＳＧ７を比較回路２８は判定回路２９に出力する。

【００３１】前記判定回路２９は判定信号ＳＧ７に１と
なる信号が存在していないと判断すると、織布Ｗに経糸
不良が発生していないと判断し、再び上記と同様の手順
にて織布Ｗの良否の判定を行う。

【００３２】又、判定回路２９は判定信号ＳＧ７に１と
なる信号が存在していると判断すると、織布Ｗに経糸不
良等の異常があると判断する。そして、判定回路２９は
異常である判定信号を織機の制御装置や作業者に異常を
知らせる報知装置に出力する。そして、経糸Ｔの異常を
知らせるべく織機の運転を停止したりランプ、ブザー等
で作業者に知らせる。

【００３３】従って、織布Ｗの同じ位置ｘに検反不良と
なる信号が検出された場合、加算消去処理回路２６によ
ってその検反不良の信号が加算されて信号記憶回路２７
に再び記憶される。逆に、織布Ｗの同じ位置ｘに検反不
良となる信号が検出されなくなった時点で、加算消去処
理回路２６によって信号記憶回路２７に記憶された記憶
信号ＳＧ６のその部分の信号を０にクリアして信号記憶
回路２７に再び記憶される。

【００３４】そして、外乱、ノイズ及び雨だれＡ等の影
響によるよって検出された検反信号は断続的にしか検出
されないため、信号記憶回路２７には外乱、ノイズ及び
雨だれＡ等の影響による信号が記憶されにくくなる。そ
して、仮に記憶されてもそのレベル値は比較値Ｓref1を
超えることがない。又、経糸通し違い等による経糸不良
による検反信号は連続的に検出されるため、信号記憶回
路２７に確実に記憶されるとともに、そのレベルは比較
値Ｓref1を超えることになる。

【００３５】その結果、外乱、ノイズ及び雨だれＡ等の
影響により判定回路２９が織布Ｗに異常が発生している
と誤判断することを防止することができ、経糸不良等の
異常を確実に検出することができる。従って、正確に織
布の良否の判定を行うことができる。

【００３６】又、出力回路１８から出力される出力信号
ＳＧ４を２値化処理するため、信号の扱いを容易にする
ことができる。更に、検反不良信号が連続的に検出され
なくなった時点で、過去に記憶された検反不良信号が０
にクリアされるため、予め設定される走査回数を短く設
定した場合、経糸不良であるか否かを確実に判定するこ
とができる。

【００３７】次に、本発明の第２実施例について図７〜
図１１に基づいて説明する。尚、前記第１実施例と同一
の構成に付いては同一番号を付してその説明を省略す
る。この第２実施例は図７に示すように、前記第１実施
例の加算消去処理回路２６及び２値化信号記憶回路２７
の代わりに加算処理回路３０を使用したところが前記第
１実施例と異なる。加算処理回路３０は２値化出力信号
ＳＧ５を順次加算し、該加算処理回路３０内の図示しな
い記憶部に記憶するようになっている。

【００３８】つまり、センサヘッド６が図８に示す織布
Ｗを走査する毎に出力回路１８は図９に示す出力信号Ｓ
Ｇ４を２値化処理回路２５に出力する。２値化処理回路
２５は図１０に示すように、出力信号ＳＧ４を２値化処
理し、２値化出力信号ＳＧ５として加算処理回路３０に
出力する。加算処理回路３０は２値化出力信号ＳＧ５を
順次加算し、該加算処理回路３０内の図示しない記憶部
に記憶する。

【００３９】そして、センサヘッド６の走査回数が３０
回に達すると、図１１に示すように、加算処理回路３０
は３０回分全て加算した出力信号ＳＧ５を出力信号ＳＧ
８として比較回路２８に出力する。比較回路２８は予め
試験的に求められた比較値Ｓref2と比較し、比較値Ｓre
f2を超えた場合１となる信号を判定回路２９に出力し、
比較値Ｓref2を超えなかった場合０となる信号を判定回
路２９に出力する。

【００４０】そして、１となる信号が判定回路２９に出
力されると、該判定回路２９は織布Ｗに経糸不良となる
異常が発生していると判断する。この第２実施例におい
ては、２値化処理された２値化処理信号ＳＧ５を全て加
算し、この加算された信号と比較値Ｓref2とを比較して
織布Ｗの良否を判定している。従って、実際には経糸不
良が発生しているにも拘らず、検反装置がその検出を行
うことができない場合があっても、過去に検出した検反
不良となる信号がクリア（消去）されないため、比較回
路２８にて経糸不良であることを確実に判定し、判断回
路２９はその異常を確実に知らせることができる。

【００４１】本実施例においては、織布Ｗの良否を判定
するための走査回数を３０回としたがこの数値は必要に
応じて変更することが可能である。又、しきい値ＮE 及
び比較値Ｓref1，Ｓref2のレベルも必要に応じて変更す
ることができる。

【００４２】更に、２値化処理回路２５以降の出力信号
をパソコン等のコンピュータによってソフト処理するよ
うに構成することも可能である。この場合、出力信号Ｓ
Ｇ４をＡ／Ｄ変換した誤、コンピュータに出力するよう
に構成したり、出力信号ＳＧ５を直接コンピュータに出
力するように構成する。

【００４３】又、織機に装備する検反装置以外に製織後
の織布の良否を検査するための検反装置に適用すること
も可能である。

【００４４】

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、外
乱やノイズ及び織布の雨だれを経糸不良と誤判定するこ
となく的確に経糸不良を検出することができる優れた効
果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例に係る検反装置の電気的構
成を示す電気ブロック図である。

【図２】センサヘッドと織布との関係を示す概略断面図
である。

【図３】織布における雨だれ及び経糸不良の位置を示す
説明図である。

【図４】出力回路によって処理された出力信号ＳＧ４を
示す波形図である。

【図５】２値化処理回路から出力される出力信号ＳＧ５
を示す波形図である。

【図６】２値化信号記憶回路に記憶される２値化記憶信
号ＳＧ６の波形図である。

【図７】本発明の第２実施例に係る検反装置の電気的構
成を示す電気ブロック図である。

【図８】織布における雨だれ及び経糸不良の位置を示す
説明図である。

【図９】出力回路によって処理された出力信号ＳＧ４を
示す波形図である。

【図１０】２値化処理回路から出力される出力信号ＳＧ
５を示す波形図である。

【図１１】加算処理回路によって加算処理された出力信
号ＳＧ８を示す波形図である。

【図１２】従来の検反装置の構成を示す概略斜視図であ
る。

【図１３】差動演算回路の出力信号が各回路で順次処理
されたときの波形図である。

【図１４】織布に対して経糸通し違いが発生しているこ
とを示す説明図である。

【図１５】織布の経糸同士が近接して雨だれが部分的に
発生しているとを説明する説明図である。

【符号の説明】

１５ａ，１５ｂ…受光素子、１７…差動演算回路、２５
…２値化処理回路、２７…信号記憶回路、２６…加算消
去処理回路、３０…加算処理回路、Ｗ…織布

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者安藤敦久愛知県刈谷市豊田町２丁目１番地株式会社豊田自動織機製作所内 (56)参考文献特開平４−148853（ＪＰ，Ａ) 特開昭61−189444（ＪＰ，Ａ) 特開昭62−257449（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) D06H 3/08

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】織布に対して相対移動して、織布の検反
領域に照射された光を受光素子からなる受光手段で受光
して検反情報を得る検反装置において、前記受光素子から出力される出力信号又は所定の処理が
行われた信号を予め設定されたしきい値に基づいて０又
は１の２値化処理する２値化処理回路と、前記２値化処理回路からの２値化出力信号を加算処理す
る加算処理回路と、前記加算処理回路により加算された加算信号を予め設定
された比較値と比較して前記加算信号が前記比較値を超
えるや否やを判定する比較回路と、前記比較回路からの判定信号に基づいて織布の異常を判
断する判定回路とを備えた検反装置。
【請求項２】織布に対して相対移動して、織布の検反
領域に照射された光を受光素子からなる受光手段で受光
して検反情報を得る検反装置において、前記受光素子から出力される出力信号又は所定の処理が
行われた信号を予め設定されたしきい値に基づいて０又
は１の２値化処理する２値化処理回路と、２値化処理された信号を記憶する信号記憶回路と、前記２値化処理回路からの２値化出力信号と前記信号記
憶回路に記憶されている記憶信号とを比較し、２値化出
力信号の検反不良信号が記憶信号の検反不良信号と同じ
位置で対応していない場合、その記憶信号の検反不良信
号を消去し、２値化出力信号の検反不良信号が記憶信号
の検反不良信号と同じ位置で対応している場合、その２
値化出力信号の検反不良信号と記憶信号の検反不良信号
とを加算する加算消去処理回路と、前記加算消去処理回路により加算及び消去された加算消
去信号に基づいて織布の良否を判定する判定回路とを備
えた検反装置。