JP3091602B2 - バッファ回路 - Google Patents

バッファ回路

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JP3091602B2
JP3091602B2 JP05169903A JP16990393A JP3091602B2 JP 3091602 B2 JP3091602 B2 JP 3091602B2 JP 05169903 A JP05169903 A JP 05169903A JP 16990393 A JP16990393 A JP 16990393A JP 3091602 B2 JP3091602 B2 JP 3091602B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体集積回路のメ
モリに関する。
【0002】
【従来の技術】図2に従来例を示す。メモリセル21よ
り出力された信号MOは、メモリの出力とセンスアンプ
のバランスによって決められた基準電圧Vrefを基準
電圧発生回路22より出力し、センスアンプ23によっ
て、信号MOが基準電圧Vrefよりも高電位または低
電位であれば、このセンスアンプ出力信号SOはレベル
を反転して低電位または高電位の信号が出力される。S
Oの信号レベルによって決められた増幅用インバータ3
5であるPchFET30によってHレベルまたは、N
chFET31によってLレベルを出力する。ここで、
電流制御用NchFET32は、SOの信号出力に対
し、貫通電流防止のために設けられたFETである。2
4は出力バッファ回路である。
【0003】例えば、従来の回路において、各回路内部
で電源配線路33を3V及び接地配線路34をGNDと
し、各FETのバランス調整を行った場合、図3に示す
ように、各出力信号は上記に示す通りとなり、バッファ
の出力信号YOが出力される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】近年、デバイス加工技
術の発展に伴い、微細化、高集積化、低消費電力化等の
技術が著しく発展した為に、使用する電源電圧は低下す
る傾向にあり、現在、使用されている電源電圧と、これ
から発展に伴った低電圧の電源電圧が混在する状況にあ
る。集積回路内部でもこれら上記のニーズにあった論理
閾値レベルの選択が必要となる。
【0005】一方、図2の同条件にて、電源配線路33
を3Vから5Vに設定した場合、センスアンプ直後の増
幅インバータ35の回路閾値電圧が電源電圧によって異
なってしまうため、3Vで該増幅インバータ35の最適
化をはかると、センスアンプの出力の振幅が該増幅イン
バータ35の回路閾値電圧に達せず、図4のように、Y
O出力レベルが論理レベルまで上がらずLレベルのまま
の状態になってしまう。
【0006】そこで本発明では、上記の問題を解決する
べく、幅広い電源電圧範囲で安定動作させることが可能
なメモリを提供することが目的である。
【0007】
【課題を解決するための手段】メモリより出力された信
号と基準電圧発生回路より出力される基準電圧とをセン
スアンプによって比較し、出力されたセンスアンプの
出力信号を増幅するための初段のバッファ回路であっ
て、上記センスアンプの出力信号を入力とするPchF
ET及びNchFETを有するバッファ回路において、
上記基準電圧発生回路より出力される基準電圧を制御信
号として、異なる電源電圧を基準電圧によって判別する
ために設けられたPchFET、NchFETで構成さ
れた制御インバータのゲート幅の比を、各電源電圧の基
準電圧に従う回路閾値電圧に対応する値に設定し、その
出力結果によって制御されるPchFET、NchFE
Tで構成された二段のインバータと、PchFET、N
chFETで構成されるトランスファーゲートとプルア
ップ用PchFETとからなるレベル変換制御部を用い
て、上記センスアンプの出力信号を該トランスファーゲ
ートの入力に接続し、該トランスファーゲートの出力を
上記プルアップ用PchFETの出力及び回路閾値電圧
調整用PchFETの入力と接続させ、異なる電源電圧
の変化によって変わる基準電圧の変化に従い、上記制御
インバータの制御信号によって、高電源電圧動作時に
は、該回路閾値電圧調整用PchFETの入力に上記セ
ンスアンプの出力信号を入力し、低電源電圧動作時に
は、該回路閾値電圧調整用PchFETの入力にオフ信
号を入力することにより、高電源電圧動作時には、高い
閾値電圧とし、低電源電圧動作時には、低い閾値電圧と
して成ることにより、幅広い電源電圧動作範囲において
安定動作させることが可能となり、上述の課題を解決で
きるものである。
【0008】また、メモリより出力された信号と基準電
圧発生回路より出力される基準電圧とをセンスアンプに
よって比較し、出力されたセンスアンプの出力信号を
増幅するための初段のバッファ回路であって、上記セン
スアンプの出力信号を入力とするPchFET及びNc
hFETを有するバッファ回路において、上記基準電圧
発生回路より出力される基準電圧を制御信号として、異
なる電源電圧を基準電圧によって判別するために設けら
れたPchFET、NchFETで構成された制御イン
バータのゲート幅の比を、各電源電圧の基準電圧に従う
回路閾値電圧に対応する値に設定し、その出力結果によ
って制御されるPchFET、NchFETで構成され
たインバータと、PchFET、NchFETで構成さ
れるトランスファーゲートとプルダウン用NchFET
とからなるレベル変換制御部を用いて、上記センスアン
プの出力信号を該トランスファーゲートの入力に接続
し、該トランスファーゲートの出力を上記プルダウン用
NchFETの出力及び回路閾値電圧調整用NchFE
Tの入力と接続させ、異なる電源電圧の変化によって変
わる基準電圧の変化に従い、上記制御インバータの制御
信号によって、低電源電圧動作時には、該回路閾値電圧
調整用NchFETの入力に上記センスアンプの出力信
号を入力し、高電源電圧動作時には、該回路閾値電圧調
整用NchFETの入力にオフ信号を入力することによ
り、低電源電圧動作時には、低い閾値電圧とし、高電源
電圧動作時には、高い閾値電圧として成ることにより、
幅広い電源電圧動作範囲において安定動作させることが
可能となり、上述の課題を解決できるものである。
【0009】
【作用】PchFET及びNchFETは、電源電圧や
ゲート幅の比によって回路閾値電圧が異なり、基準電圧
発生回路で出力される基準電圧は、異なる電源電圧にお
いて各基準電圧値がレベルクリアップされているので、
回路閾値電圧を修正するために基準電圧を用いて、回路
閾値電圧を修正することにより異なる電源電圧において
も安定動作が可能となる。
【0010】
【実施例】以下、図面を参照し、この発明を実施例につ
いて説明する。
【0011】図1は、本発明による実施例を示した図で
ある。
【0012】この回路は、異なる2電源電圧において、
センスアンプ直後のインバータの回路閾値電圧を調整す
るために、基準電圧発生回路26より出力される各基準
電圧の回路閾値電圧に設定された制御インバータ10に
よって制御されるレベル変換制御部29と、メモリセル
25より出力された信号MOと基準電圧Vrefを比較
するセンスアンプ27及び上記構成を考慮に入れた出力
部36によって構成されている。
【0013】一例として制御インバータ10は、3Vの
基準電圧と5Vの基準電圧を判別できるようにPchF
ET8とNchFET9の設定を行い、電源電圧を3V
とした場合、センスアンプ直後の増幅用インバータ7
は、PchFET1とNchFET2のゲート幅の比に
よって設定し、電源電圧5Vとした場合、増幅用インバ
ータ7は、PchFET1とNchFET2を補うため
に設けたPchFET6によって増幅用インバータ7の
回路閾値電圧を変換させ、5Vでも同様に使用できるメ
モリ回路について以下に説明を行う。なお、接地配線路
4はGND、電源配線路3は各動作時の電源電圧であ
る。
【0014】また、電源電圧が通常使用する動作電圧と
して設定されている回路閾値電圧は、図5に示されるP
chFET、NchFETのべーと電圧によるドレイン
・ソース間の抵抗によって決定される。NchFETの
N2は、N1よりもゲート幅が広いため、ドレイン・ソ
ース間の抵抗は、N1よりも抵抗値が下がり、PchF
ETも同様にP2は、P1よりもゲート幅が広いのでP
1よりも抵抗値が低くなっている。ここで、インバータ
を構成するためにPchFETをP2、NchFETを
N2によって組み合わせ、入力電圧をGNDレベルから
動作電源電圧まで変化させると、図6に示される通常の
インバータの出力のようになる。入力電圧が0V時は、
図7(a)のようにPchFETはオン状態、NchF
ETはオフ状態と近似的に見ることができ、徐々にゲー
ト電圧を上げて行くにつれ、PchFETの抵抗は上が
り、NchFETの抵抗は下がり、この場合において
は、動作電源電圧の半分となる中間電圧でPchFET
とNchFETのドレイン・ソース間の抵抗が同じにな
るため、図7(b)に示される出力は入力電圧と等しく
なる。このような入力と出力電圧が同電圧となる電圧が
回路閾値電圧となる。なお、この入力電圧を時間的に上
昇させ、電源電圧と同じになると、図7(c)に示され
るようにPchFETは近似的オープン状態となり、N
chFETのオン抵抗により出力は、GNDレベルとな
る。そのため、各FETのゲート幅を調整することによ
り、回路閾値電圧は調整できるようになっている。
【0015】図1に示される制御インバータ10は、図
6に示す5V時の基準電圧値VREF5と3V時の基準
電圧VREF3の中間レベルとなるようにPchFET
8及びNchFET9のゲート幅の比によって入力と出
力電圧が一致するように設定されているので、次段につ
ながるレベル変換制御部29のPchFET11及びN
chFET12によって構成されるインバータ13の入
力は、3V時はHレベルであるため、Lレベルが出力さ
れ、5V時はLレベルが入力されるので,Hレベルの信
号を出力し、PchFET14とNchFET15で構
成されている次段のインバータ16の出力は、3V時が
Hレベル、5V時にはLレベル信号を出力し、3V時で
は、PchFET17とNchFET18によって構成
されたトランスファーゲート19は閉鎖されてしまい、
インバータ13の出力に接続されたプルアップ用Pch
FET20によってプルアップされ、VSOへレベルク
リップされたHレベルの信号が出力され、回路閾値電圧
調整用PchFET6は閉鎖する。また、5V時におい
てプルアップ用PchFET20は、該インバータ13
によりオフ状態となり、トランスファーゲート19は、
インバータ13及び16によって解放され、SOの出力
信号によって回路閾値電圧調整用PchFET6を駆動
するようになっている。
【0016】メモリセル25より出力された出力信号M
Oは、センスアンプのバランスによって決められた基準
電圧発生回路26より出力される基準電圧Vrefとセ
ンスアンプ27によって比較し、反転レベルとなって出
力された信号SOは基準電圧に従い、制御インバータ1
0によって、上記の動作条件に従い3V及び5Vの判定
をするため、3V時にはPchFET20によってPc
hFET6がレベルクリップされるので、PchFET
1及びNchFET2によって構成されたインバータ7
が初段のバッファとしてYOSへ信号出力し、図8の出
力波形のように出力される。また5V時には、トランス
ファーゲート19が解放されたために、PchFET6
は、センスアンプの出力信号SOによってオンまたはオ
フ状態となり、該インバータ7は、PchFET1及び
PchFET6とNchFET2のゲート幅の比によっ
て回路閾値電圧が決まり、PchFET1及びPchF
ET6は並列であることからPchFETのオン抵抗が
下がり、回路閾値電圧が上がるので、YOSは3V動作
と同様に反転増幅した信号により、出力バッファ回路3
7に入力され、該出力バッファ回路よりLレベル,Hレ
ベルのフルスイングした信号がOUTSへ出力され、図
9に示されるような波形となり、図4のOUTようには
ならない。
【0017】図10は、本発明による他の実施例を示し
た図である。
【0018】この回路は、異なる2電源電圧において、
センスアンプ直後のインバータの回路閾値電圧を調整す
るために、基準電圧発生回路26より出力される各基準
電圧の回路閾値電圧に設定された制御インバータ10に
よって制御されるレベル変換制御部29と、メモリセル
25より出力された信号MOと基準電圧Vrefを比較
するセンスアンプ27及び上記構成を考慮に入れた出力
部36によって構成されている。
【0019】一例として制御インバータ10は、3Vの
基準電圧と5Vの基準電圧を判別できるようにPchF
ET8とNchFET9の設定を行い、電源電圧を5V
とした場合、センスアンプ直後の増幅用インバータ7
は、PchFET1とNchFET2のゲート幅の比に
よって設定し、電源電圧3Vとした場合、増幅用インバ
ータ7は、PchFET1とNchFET2を補うため
に設けたNchFET6′によって増幅用インバータ7
の回路閾値電圧を変換させ、3Vでも同様に使用できる
メモリ回路について以下に説明を行う。なお、接地配線
路4はGND,電源配線路3は各動作時の電源電圧であ
る。
【0020】また、電源電圧が通常使用する動作電圧と
して設定されている回路閾値電圧は、図5に示されるP
chFET,NchFETのゲート電圧によるドレイン
・ソース間の抵抗によって決定される。NchFETの
N2は、N1よりもゲート幅が広いため、ドレイン・ソ
ース間の抵抗は、N1よりも抵抗値が下がり、PchF
ETも同様にP2は、P1よりもゲート幅が広いのでP
1よりも抵抗値が低くなっている。ここで、インバータ
を構成するためにPchFETをP2、NchFETを
N2によって組み合わせ、入力電圧をGNDレベルから
動作電源電圧まで変化させると、図6に示される通常の
インバータの出力のようになる。入力電圧が0V時は、
図7(a)にようにPchFETはオン状態、NchF
ETはオフ状態と近似的に見ることができ、徐々にゲー
ト電圧を上げて行くにつれ、PchFETの抵抗は上が
り、NchFETの抵抗は下がり、この場合において
は、動作電源電圧の半分となる中間電圧でPchFET
とNchFETのドレイン・ソース間の抵抗が同じにな
るため、図7(b)に示される出力は入力電圧と等しく
なる。このような入力と出力電圧が同電圧となる電圧が
回路閾値電圧となる。なお、この入力電圧を時間的に上
昇させ、電源電圧と同じになると、図7(c)に示され
るようにPchFETは近似的オープン状態となり、N
chFETのオン抵抗により出力は、GNDレベルとな
る。そのため、各FETのゲート幅を調整することによ
り、回路閾値電圧は調整できるようになっている。
【0021】図10に示される制御インバータ10は、
図6に示す5V時の基準電圧値VREF5と3V時の基
準電圧VREF3の中間レベルとなるようにPchFE
T8及びNchFET9のゲート幅の比によって入力と
出力電圧が一致するように設定されているので、次段に
つながるレベル変換制御部29のPchFET11及び
NchFET12によって構成されるインバータ13の
入力は、3V時はHレベルであるため、Lレベルが出力
され、5V時はLレベルが入力されるので、Hレベルの
信号を出力し、5V時では、PchFET17とNch
FET18によって構成されたトランスファーゲート1
9は閉鎖されてしまい、インバータ13の出力に接続さ
れたプルダウン用NchFET20′によってプルダウ
ンされ、VSOへレベルクリップされたLレベルの信号
が出力され、回路閾値電圧調整用NchFET6′は閉
鎖する。また、3V時においてプルダウン用NchFE
T20′は、該インバータ13によりオフ状態となり、
トランスファーゲート19は、制御インバータ10及び
インバータ13によって解放され、SOの出力信号によ
って回路閾値電圧調整用NchFET6′を駆動するよ
うになっている。
【0022】メモリセル25より出力された出力信号M
Oは、センスアンプのバランスによってきめられた基準
電圧発生回路26より出力される基準電圧Vrefとセ
ンスアンプ27によって比較し、反転レベルとなって出
力された信号SOは基準電圧に従い、制御インバータ1
0によって、上記の動作条件に従い3V及び5Vの判定
をするため、5V時にはNchFET20′によってN
chFET6′がレベルクリップされるので、PchF
ET1及びNchFET2によって構成されたインバー
タ7が初段のバッファとしてYOSへ信号出力する。ま
た3V時には、トランスファーゲート19が解放された
ために、NchFET6′は、センスアンプの出力信号
SOによってオンまたはオフ状態となり、該インバータ
7は、PchFET1とNchFET6′及びNchF
2のゲート幅の比によって回路閾値電圧が決まり、Nc
hFET2及びNchFET6′は並列であることから
NchFETのオン抵抗が下がり、回路閾値電圧が下げ
るので、YOSは5V動作と同様に反転増幅した信号に
より、出力バッファ回路37に入力され、該出力バッフ
ァ回路よりLレベル,Hレベルのフルスイングした信号
がOUTSへ出力される。
【0023】
【発明の効果】本発明によれば、上記のように各基準電
圧を判別できるよう制御インバータの回路閾値電圧を設
定することにより、外部からの入力設定を行わずに、異
なる電源電圧間の動作に対し、初段のバッファ回路の回
路閾値電圧を調整することができるため、各電源電圧動
作において、安定動作を行うことができる。また、動作
電源電圧を変えたとしても、制御インバータの回路閾値
電圧及び初段のバッファ回路の回路閾値電圧を調整する
ことにより同様に扱うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例を示すメモリ回路の電気回路
図である。
【図2】従来例を示すメモリ回路の電気回路図である。
【図3】従来例の動作電圧が3V時の電圧波形図であ
る。
【図4】従来例の動作電圧が5V時の電圧波形図であ
る。
【図5】FETのゲート電圧に対するドレイン・ソース
間の抵抗値の特性図である。
【図6】入力電圧の時間的変化に対する出力電圧変化の
特性図である。
【図7】FETの等価回路図である。
【図8】この発明の動作電圧が3V時の電圧波形図であ
る。
【図9】この発明の動作電圧が5V時の電圧波形図であ
る。
【図10】この発明の他の実施例を示すメモリ回路の電
気回路図である。
【符号の説明】
3 電源配線路 4 接地配線路 6 論理閾値変換用PchFET 6' 論理閾値変換用NchFET 10 制御用インバータ 7 増幅用インバータ 13,16 インバータ 19 トランスファーゲート 1,8,11,14,17 PchFET 2,9,12,15,18 NchFET 5 貫通防止用NchFET 20 プルアップ用PchFET 20' プルダウン用NchFET 25 メモリセル 26 基準電圧発生回路 27 センスアンプ 29 レベル変換制御部 36 出力部 37 出力バッファ回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−99615(JP,A) 特開 昭62−188090(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11C 11/40 - 11/409

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メモリより出力された信号と基準電圧発
    生回路より出力される基準電圧とをセンスアンプによっ
    て比較し、出力されたセンスアンプの出力信号を増幅
    するための初段のバッファ回路であって、上記センスア
    ンプの出力信号を入力とするPchFET及びNchF
    ETを有するバッファ回路において、上記基準電圧発生
    回路より出力される基準電圧を制御信号として、異なる
    電源電圧を基準電圧によって判別するために設けられた
    PchFET、NchFETで構成された制御インバー
    タのゲート幅の比を、各電源電圧の基準電圧に従う回路
    閾値電圧に対応する値に設定し、その出力結果によって
    制御されるPchFET、NchFETで構成された二
    段のインバータと、PchFET、NchFETで構成
    されるトランスファーゲートとプルアップ用PchFE
    Tとからなるレベル変換制御部を用いて、上記センスア
    ンプの出力信号を該トランスファーゲートの入力に接続
    し、該トランスファーゲートの出力を上記プルアップ用
    PchFETの出力及び回路閾値電圧調整用PchFE
    Tの入力と接続させ、異なる電源電圧の変化によって変
    わる基準電圧の変化に従い、上記制御インバータの制御
    信号によって、高電源電圧動作時には、該回路閾値電圧
    調整用PchFETの入力に上記センスアンプの出力信
    号を入力し、低電源電圧動作時には、該回路閾値電圧調
    整用PchFETの入力にオフ信号を入力することによ
    り、高電源電圧動作時には、高い閾値電圧とし、低電源
    電圧動作時には、低い閾値電圧として成ることを特徴と
    するバッファ回路。
  2. 【請求項2】 メモリより出力された信号と基準電圧発
    生回路より出力される基準電圧とをセンスアンプによっ
    て比較し、出力されたセンスアンプの出力信号を増幅
    するための初段のバッファ回路であって、上記センスア
    ンプの出力信号を入力とするPchFET及びNchF
    ETを有するバッファ回路において、上記基準電圧発生
    回路より出力される基準電圧を制御信号として、異なる
    電源電圧を基準電圧によって判別するために設けられた
    PchFET、NchFETで構成された制御インバー
    タのゲート幅の比を、各電源電圧の基準電圧に従う回路
    閾値電圧に対応する値に設定し、その出力結果によって
    制御されるPchFET、NchFETで構成されたイ
    ンバータと、PchFET、NchFETで構成される
    トランスファーゲートとプルダウン用NchFETとか
    らなるレベル変換制御部を用いて、上記センスアンプの
    出力信号を該トランスファーゲートの入力に接続し、該
    トランスファーゲートの出力を上記プルダウン用Nch
    FETの出力及び回路閾値電圧調整用NchFETの入
    力と接続させ、異なる電源電圧の変化によって変わる基
    準電圧の変化に従い、上記制御インバータの制御信号に
    よって、低電源電圧動作時には、該回路閾値電圧調整用
    NchFETの入力に上記センスアンプの出力信号を入
    力し、高電源電圧動作時には、該回路閾値電圧調整用N
    chFETの入力にオフ信号を入力することにより、低
    電源電圧動作時には、低い閾値電圧とし、高電源電圧動
    作時には、高い閾値電圧として成ることを特徴とするバ
    ッファ回路。
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