JP3086520B2

JP3086520B2 - 再生画像の品質評価装置

Info

Publication number: JP3086520B2
Application number: JP04003069A
Authority: JP
Inventors: ラマ・タントリー; 岩男山崎
Original assignee: Ya Man Ltd
Current assignee: Ya Man Ltd
Priority date: 1992-01-10
Filing date: 1992-01-10
Publication date: 2000-09-11
Anticipated expiration: 2015-09-11
Also published as: JPH05191538A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、複写機、ファクシミ
リ等の静電式あるいはその他の画像再生装置、特に高分
解能カラー画像再生装置によって得られた再生画像の品
質を評価する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】画像再生装置あるいは印字装置（例え
ば、複写機）によって得られた画像ないしは印字の品質
を評価する装置とその評価方法は、例えば特願平１−１
７８１５８号および特願平１−１７８１５９号明細書に
より公知である。この印字評価装置は、画像検出部に２
次元ＣＣＤ撮像素子を使用し、所謂テレビ方式により画
像の取り込みを行っている。その場合、印字用紙内の特
定箇所の印字または図形の品質を評価するため、電算機
で制御された機械的に移動可能な専用ステージ上に撮像
カメラを搭載し、このカメラによって印字の一部分、例
えば１本の線上あるいは局部的な領域にのみ限定して実
時間（オンライン）で印字の特性量を測定している。そ
のため、高分解能の検査では、ステージの微細な移動量
を検出し、移動量に対する高精度な制御を必要とし、所
要設置スペースもかなり大きくなる。従って、この印字
品質評価装置では、大型で高精度のため高価であり、振
動や温度の変化の少ない特別な部屋を用意する必要があ
る。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】それ故、この発明の課
題は、構造が単純で、小型で、取扱の容易で、しかも低
価格である、再生画像の品質評価装置を提供することに
ある。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記の課題は、この発明
により、一次元ＣＣＤ検出素子とこの素子を一定速度で
移動させる駆動機構とを保有する光電画像読取装置２
と、前記光電画像読取装置２の検出した画像信号を一時
的に収納し、取り出し可能なメモリーユニット１０と、
内部の制御記憶装置に画像解析に要する制御手順を納
め、この制御指令に従って、前記メモリーユニット１０
の記憶回路２４に収納した画像信号の内容を所定の手順
で解析して、上記画像読取装置２が再生された画像から
読み取った画像の品質を評価するために設けてある中央
演算装置６と、から成る再生画像の品質評価装置の場
合、前記メモリーユニット１０で、光電画像読取装置２
からの画像信号と付属する同期信号とを受け入れ、測定
画面を直線的に走査する走査線上の画像信号を間欠飛越
的に繰り返す少なくとも２っ以上のブループに分け、グ
ループ数に相当する個数のブロックに分割さてた記憶回
路２４に前記画像信号と同期信号をそれぞれ分割して逐
次収納し、その際、前記グループ数から１を引いた数の
倍数ほど引き延ばした転送時間にして前記画像信号を転
送でき、所定のテストパターンに対して求めた再生画像
を線分、階調性に関して再生中実度を評価する、ことに
よって解決されている。

【０００５】他の有利な構成は、特許請求の範囲の従属
請求項に記載されている。

【０００６】

【実施例】以下では、添付図面を参照しながら好適実施
例に基づきこの発明をより詳しく説明する。

【０００７】図１には、この発明で使用する非密着型の
光電式画像読取装置（イメージスキャナー）２の断面
と、この画像読取装置の中にある電気回路のブロック回
路図とが模式的に示してある。ここで、先ず光電式画像
読取装置の一般的な機能を説明しておくが、結像レンズ
光学系を使用しない密着型の光電式画像読取装置を、こ
の発明に基本的に使用できる。

【０００８】図１の非密着型の光電式画像読取装置で
は、透明で平坦な支持板５１の上に下面に画像または文
字を印字した用紙５２を載置できる。この支持板５１の
下には、用紙の走査領域を照明する照明装置５０と、用
紙５２の下面を画像センサ５５の受光面に結像させるレ
ンズ光学系５４とを固定装備している移動可能な走査本
体５３が配設されている。この走査本体５３は、光電式
画像読取装置２のタイプに応じて種々の構成にされる移
動機構が付属している。図１の場合、この移動機構は極
度に模式化して図示されているモータ駆動部５７の助け
により、走査本体５３をレール５６の上で摺動させ、用
紙５２の全体を撮像するため二重矢印Ａの方向に移動さ
せる。図示していない他の構成では、このレールをスピ
ンドルとしても構成できる。また、走査本体５３を移動
させることによって用紙の画像情報を取り込むのではな
く、用紙５２自体をローラないしはドラム等で移動さ
せ、光学系や画像センサを固定しておく方式もある。何
れにしても、この発明による画像読取装置は、複写機、
ファクシミリ等で使用されている所要部を使用でき、そ
れ自体公知の装置を使用できる。

【０００９】更に、光電式画像読取装置２には、入力端
ＣＴ１を介して導入された商用電源を所定の電流電圧に
して照明装置５０とモータ駆動部５７に供給する電源回
路５８と、画像センサ５５から供給された画像信号を所
定の手順で処理して、その出力信号を次に述べる画像解
析システムに供給するための出力端ＣＴ２に接続された
画像処理ユニット５９が配設されている。この画像処理
ユニット５９の動作電源も、前記電源回路５８から供給
される。

【００１０】図２は、この発明による印字評価装置の概
略機能を説明するための総合ブロック図を示す。画像読
取装置２は中央演算処理装置６から制御導線γを介して
供給される起動制御信号によって、画像の走査動作を開
始して、図示していない評価すべき文字または画像を有
する紙面の画像を光電的に走査して読取を行う。読み取
った画像信号とこの画像信号に対応する画面の位置を指
定するアドレス信号とは、データ導線Ｌ₁を介してメモ
リーユニット１０の中に導入される。導入された画像信
号と付属するアドレス信号とは、メモリーユニット１０
の記憶器（図示せず）中に収納される。記憶器に記憶さ
れたこれ等の画像データの内容は、中央演算処理装置６
の指示に基づき、この中央演算処理装置６の付属ディス
プレー６ｂおよび他のモニタ用ディスプレー８の上に再
現させて表示できる。それ等の指令はバス結線βを介し
て行われる。中央演算処理装置６には、更に制御指令の
入力や、印字評価用のプログラム（後で詳しく説明す
る）を打ち込むためのキーボード６ａが接続されてい
る。メモリユニット１０の記憶器中に収納した画像信号
データは、画面の所望領域にわたり印字評価用プログラ
ムに応じて解析処理される。

【００１１】この発明による再生画像の品質評価装置の
メモリーユニット１０は、画像として、特にカラー画像
で階調度の高い（８ビット＝ 256ステップ) 精緻な画像
の印字評価を可能にしているため、アクセス時間が短
く、大容量の記憶を可能にする工夫がなされている。

【００１２】図３の（ａ）と（ｂ）には、この発明によ
るメモリーユニット１０の機能動作を説明するために使
用する図面であって、それぞれ走査画面と、走査時に画
像読取装置の一次元ＣＣＤ検出素子アレー検出部が走査
する二種の同期パルスとが模式的に示してある。

【００１３】図３（ａ）の走査画面２０内の特定な画素
点Ｐの座標は、短辺方向に直線状に並べた一次元ＣＣＤ
アレーの画素の間隔の整数倍で表現できる。この座標を
図３（ａ）のように（ｓ；ｈ）で表す。ここで、ｓは短
辺方向の原点０からの画素の数を、またｈは長辺方向の
走査線の位置（走査線の間隔は通常一次元ＣＣＤアレー
の画素の間隔と同じ）を表す。従って、図面の最大寸法
はｈとｓの最大値であるＨとＳに相当する間隔で決ま
る。

【００１４】図３（ｂ）には、各走査線の走査開始を指
定する同期パルスＨ_SYNCと一本の走査線上での各画素を
指定する画素同期パルスｐ_clkが示してある。これ等の
パルスの周期をそれぞれｔ₁およびｔ₀で表すと、ｔ₁
＝Ｓｔ₀の関係がある。全画素数はＳ・Ｈ個になる。

【００１５】ここで、この発明で画像情報の転送速度を
どのように遅延させ、入手し易い記憶素子を使用して高
速画像読取を可能にする画像読取装置用のメモリーユニ
ットを構成しているかの説明を図３に基づき説明する。

【００１６】走査線を連続するｎ₀本づつにグループ分
けする。各グループをｋで指定し、このｋの最大値をＫ
とすると、走査線の全数Ｈは、Ｈ＝Ｋ・ｎ₀となる。こ
の発明によれば、画像読取装置から受け入れた１走査線
分の画像信号を、時間ｔ₁かけて一旦バッファー回路に
入れて、（ｎ₀−１）ｔ₁の間にこのバッファー回路か
ら前記１走査線分の画像信号をｎ₀個準備した記憶素子
のうちの１つに収納させている。従って、記憶器のアク
セス時間を（ｎ₀−１）倍増加させる、即ち、遅くでき
る。このような、画像情報の内容を分割して、別々に記
憶器に収納する方法では、各画素を指定するアドレスを
再構成する必要がある。即ち、図３（ａ）に示すよう
に、画面の点の位置（ｓ；ｈ）を、指数（ｓ，ｋ；ｎ）
によって指定する必要がある。ここで、ｈ＝（ｋ−１）
ｎ₀＋ｎであり、０≦ｎ≦ｎ₀である。従って、当然Ｈ
＝Ｋ・ｎ₀である。

【００１７】以上、この発明では、記憶素子の数をｎ₀
倍に増加させ、同時に記憶素子への画像情報の転送速度
を（ｎ₀−１）倍に伸ばし、その際、各画素のアドレス
を変更して画像情報と共に記憶器内に収納している。

【００１８】次に、図４に基づきこの発明の主要部、特
にメモリーユニット１０の内部構造のブロック回路図を
説明する。画像読取装置２より取り込む画像信号と、上
に述べた同期パルス信号Ｈ_SYNC，ｐ_clkとは導線Ｌ₁を
介してメモリーユニット１０の入出力バッファー２１に
導入される。この画像信号は同期パルス信号の助けを借
りて起動する遅延転送回路２２にデータバスδを介して
導入され、更に主にＤＲＡＭ（ダイナミック・ランダム
・アクセス・メモリ）で形成されるｎ₀個の記憶器２４
に振り分けて収納される。その場合、既に上で説明した
アドレスを再構成するため、入出力バッファー２１を通
過した同期パルス信号Ｈ_SYNC，ｐ_clkからアドレス計数
器２５によって新しいアドレスを形成する。このアドレ
スはアドレスバスε，アドレス選択器２６およびアドレ
スバスζを介して前記記憶器２４に導入される。

【００１９】記憶器２４に収納された画像情報は中央処
理装置６の指示によって呼び出すことができる。それに
は、先ず変換されたアドレスをアドレスバスβおよびア
ドレス選択器２６を経由して記憶器２４のアドレスを指
定し、そのアドレス内の内容を、データバスγ，バス制
御部２３およびデータバスαを介して中央処理装置６に
呼び出す。

【００２０】画像データを記憶器２４に収納するか、あ
るいは収納した画像データを中央演算処理装置６に呼び
出すかは、制御部２８から出る制御信号によってバス制
御部２３とアドレス選択器２６の動作モードを切り替え
て行われる。制御部２８は、その外、アドレス計数器２
５や入出力バッファ２１の制御も司り、それ等の制御指
令は中央処理装置６から出るアドレスバスβとデータバ
スαとを介して導入されるアドレス信号およびデータ信
号に基づき指定される。

【００２１】図４のメモリユニット１０中のビデオ記憶
回路２７は、この回路から導線Ｌ₈を介してモニターデ
イスプレーに画像信号を送るためにある。モニターデイ
スプレー上の画像は、中央演算処理装置６からの指令に
よって、撮像した画面内の一箇所またはそれ以上の箇所
を指定して、所望の範囲内のみ表示することができる。
従って、この発明による所定の測定モード（例えば、撮
像画面の線幅、直線度あるいは輝度むら、ないしは色む
ら等の検査）をその特定な範囲に対してのみ実行するこ
とができる。

【００２２】図５には、この発明によるメモリーユニッ
ト１０の回路の一部がより詳しく図示されている。この
メモリーユニットでは記憶器２４が４重（即ち、上に説
明したｎ₀＝４）のブロックにして装備されていて、そ
の第一番目のブロックのみが示してある。更に、この回
路図では、カラー信号の場合、記憶ブロックの各々に、
それぞれ画像信号Ｒ，Ｇ，Ｂおよびアドレス内容用の都
合４つの記憶器が付属しているが、図５にはそのうちの
一つのみ示してある。図４で入出力バッファー２１とし
て形成された回路は、図５の場合、画像信号に対するバ
ッファー２１₁と同期信号に対する分配回路２１₂とで
構成されている。このバッファー２１₁はイメージスキ
ャナー２から長いケーブルを介して導入された入力信号
を波形整形し、増幅する役目を有する。前記分配回路２
１₂はバッファー２１₁から入力された垂直同期信号Ｈ
_SYNCと画素同期信号ｐ_clkをそれぞれ記憶ブロックの数
（ここではｎ₀＝４）に分割して導線Ｂ₁〜Ｂ₄とＡ₁
〜Ａ₄に出力する。これ等の信号は図６のタイミングチ
ャートに図示されている。垂直走査同期信号Ｈ_SYNCは、
第一の記憶ブロックでＳＢ₁のように、また画素同期信
号ｐ_clkはＳＡ₁のように変換される。ここで、注意す
べきは４っの垂直同期信号を１サイクルとして繰り返し
動作が行われている。１サイクルの第１の垂直同期信号
の周期内では画像同期信号ｐ_clkが導線Ａ₁に出力さ
れ、第２，３，４の周期では出力されない。また、同じ
ように垂直同期信号Ｈ_SYNCも第１周期にのみ伝送され、
第２，３，４の周期では伝送されない。導線Ａ_2,Ｂ₂；
Ａ_3,Ｂ₃；Ａ_4,Ｂ₄の同期信号は図６に示す通りで、そ
れぞれ互いに１周期づつ遅らせて伝送される。

【００２３】転送部２２に相当する回路はＷＴ端子に入
力したＡ₁導線の信号によって、画素同期信号ｐ_clkを
第２，３，４の周期にわたって拡大して（言い換えれ
ば、パルスの幅と間隔を３倍にして）、このパルス毎に
データバスδの画像信号を取り込んで、動作を３倍長く
してデータバスγを介して記憶器２４に保管する。

【００２４】図４のアドレス計数器２５は、図５に示す
ように、４っの主要回路で構成されている。即ち、パル
ス発生回路２５₁はＢ₁導線の信号ＳＢ₁の立下がりま
たは立上りエッジによって、第１周期分の垂直同期パル
スに相当する矩形波パルスを発生させる。このパルスを
第１アドレス計数器２５₂で計数して、第１周期つまり
図２のｎ＝１の走査線上のアドレスに対応する指数ｓを
形成する。パルス発生器の出力信号は転送部２２の出力
信号の終了の指令にも使用される。波形整形回路２５₃
はＢ₁導線の出力信号に所定の波形処理を施し、第２ア
ドレス計数器２５₄に送って入力したパルスをこの計数
器２５₄が計数する。この計数値はｎ＝ｒ・ｎ₀＋１
（ｒ：任意の整数）の時の垂直走査同期信号の位置を指
定する指数ｋ（図３参照）を与える。

【００２５】以上二つのアドレス計数値（ｓ，ｋ）によ
って、図３で述べた画面の特定位置Ｐ（ｓ；ｈ）を指定
できる。これをアドレス選択器２６を介して記憶器２４
に入れて保存する。アドレス選択器２６はアドレス信号
を切り替えるために使用され、記憶器２４にアドレス信
号を入れるか、あるいは記憶器２４から取り出して中央
処理装置６に送るかの選択に使用される。その指令は中
央処理装置６から指定される。

【００２６】上に述べた転送部２２の中には FIFO (fir
st in first out)タイプの回路素子か、あるいは高速Ｓ
ＲＡＭ（スタテック・ランダム・アクセス・メモリ）を
使用すると有利である。

【００２７】このように装備された画像読取装置２とメ
モリーユニット１０および中央処理装置６を構成し、印
字品質を評価するのであるが、その前に画像読取装置２
自体の保有する画像の歪み、階調度のずれ等のような固
有の読取誤差を予め洗い出し、それを中央処理装置６の
記憶箇所、あるいはフロッピーデイスク装置のような記
憶ステーション（図示せず）に保管しておき、以下で説
明する印字品質を測定する毎に、その誤差分を補正する
計算を施して最終測定結果を与える。

【００２８】上記の予備測定では、特願平３−２９５８
４３号明細書に開示した方法を用いて、画像読取装置２
自体の画像読取精度を測定する。これには、詳しく説明
しないが、測定項目に適したテストパターン（例えば、
格子状の線分の配列、あるいは濃度の異なる領域を有す
る幾何学的な模様を有するカラーまたはモノクロの用
紙）を用紙支持板５１（図１参照）の上に載置し、この
パターンの画像を画像読取装置２で読み取って測定され
る。このテスト結果に基づき、本来のパターンからのず
れを測定しておく。これは、例えば、直交であれば、完
全に直交している格子パターンを画像読取装置２で読み
取り、得られた画像信号を付属する中央処理装置６で所
望箇所での直交度のずれを求め、記憶部に記憶してお
く。その他、例えば階調度に関しても同様に完全なパタ
ーンを測定し、正しい値からの階調度のずれを求め、中
央処理装置の記憶部に保管しておく。

【００２９】次いで、評価すべき模様を有するテストパ
ターンを何らかの印字装置、例えば複写機あるいはファ
クシミリで印字ないしは画像再生し、以下に述べる検査
項目に応じてその印字品質を測定し、測定結果を上記の
画像読取装置本来の誤差を加味して相殺し、最終結果を
求める。

【００３０】中央演算処理装置６の測定と再生画像の評
価時の指令および機能には、下記のものがある。

【００３１】（１）画像のモニター上への再生とその
指令、（２）画像の一部の拡大ズムーム表示とその指
令、（３）解析位置（一箇所または複数の箇所）の指
定、（４）解析位置の座標の表示あるいは指定、
（５）画像信号から所定の手順に従って印字評価を行
う、（６）評価解析の結果表示、（７）光電画像読
取装置２の起動とメモリーユニット１０との交信。

【００３２】この発明による画像品質評価装置では、付
属ディスプレー６ｂと付属キーボード６ａを含めた中央
演算処理装置６を市販のパーソナルコンピュータで構成
してもよい。更に、機能評価の解析結果の数値を印字す
るため、適当なプリンターのような印字装置（図示せ
ず）を中央演算処理装置６に接続してもよい。

【００３３】画像品質評価のための代表的な試験項目と
その内容は下記の通りである。

【００３４】（１）倍率縦および横方向に延びる細線によって、図７に示すよう
に、画面の所望箇所の横倍率（Ｍ_Vn）と縦倍率（Ｍ_Hn）
を求める。この所望箇所（ｎ）は、図２で先ずデイスプ
レ６ａに写し出した画面上で対応する箇所の座標をキー
ボードないしは予めプログラムした入力情報によって指
定する。この時の図面は、中央処理装置６の指示により
メモリユニット１０に収納した画像信号を取り出して、
モニター用デイスプレ８の上に拡大して表示される。こ
の結果は、レンズ光学系（Ａ₁）の調節と送り機構（Ａ
₄）の調節に関係がある。

【００３５】（２）直交度図８に示すように、本来互いに直交している縦方向の細
線と横方向の細線との交差角度（θ_i）を指定した各領
域（ｉ＝１〜９）に対して求める（もちろん、領域ｉの
位置と数は任意に選べる）。

【００３６】（３）歪み図９に示すように、取り込んだ画像の歪みを言うもの
で、完全な画像を点線とすると、糸巻型（図９では縦線
が内側に歪んでいる）と樽型（横線が外側に歪んでい
る）の歪みに分けることができる。

【００３７】（４）解像度細線の幅と同じ間隔で並べてある細線の間の間隔を読み
取れるか否かで判断するもので、結果は単位長さ当たり
の線の数によって表現される。図１０のように、画面上
の種々の箇所で、水平および垂直方向の間隔（Ｄ_H ⁰，
Ｄ_V ⁰）に対して測定される。

【００３８】（５）細線再現性この試験は、図１１に示すように、印字された細線に対
して記号Ｂ_rで示す括れ（クニック）を問題にするもの
で、単位長さ当たりの括れの数を評価する。もちろん、
括れの数が殆どないものを最良で、不良ならその数が増
加する。

【００３９】（６）シェーディングこれには、例えば図１２で画面の両端に現れる暗い部分
のように、所謂照明あるいは光電検出素子の検出能力の
むらによるものある。また、密着式の光電画像読取装置
では、照明にＬＥＤを使用しているが、この場合には、
画面に走査方向に平行に線状の明るさのむらが生じる。

【００４０】（７）ピッチ精度一定間隔の細線をテストパターンの画面に対するもの
で、細線の間隔のずれを測定する。図１３に示すよう
に、このずれの分布をヒストグラム表示する（この表示
様式は中央演算処理装置内のプログラムに設定されてい
る）。もちろん、この測定は水平方向、垂直方向の両方
にわたって行うのが普通である。

【００４１】（８）直線性本来直線であるべき細線の図形を調べるのもので、再生
された画像の直線の正規の直線からのずれ（Ｄ_vi ¹）で
指定する。図１４にその様子が示してある。

【００４２】（９）ドット飛び出しこれは、図１５に示すように、線分の周りに本来あるべ
きはずのない点が無数に現れることがある。この点の個
数を計数して単位面積当たりの個数を求め、この値をド
ット飛び出しの目安とする。

【００４３】（１０）階調性図１６に示すように、濃度の異なる領域を逐次読み取っ
た場合、その濃度を再現してモノクロ（あるいは輝度）
信号レベルを測定するもので、例えば濃度を８ビットで
表現している場合には、256 のステップの階調になる。
なお、図１５ではカラー画像の場合の各原色に付いて示
してあるが、モノクロ信号の場合にも、図示のような種
々の濃度のパターンを用意して、画像読取を行う。この
テストでは、モノクロ（あるいは輝度）信号の階調が所
定の信号レベルに相当しているか否かを測定する。

【００４４】（１１）感色性前記階調性の測定を各原色Ｒ，Ｇ，Ｂ（図１６を参照）
に対して測定する。

【００４５】（１２）画像ノイズ本来無地であるべき白紙を複写または再生した画面に、
望ましない斑点が生じることがある（例えば、図１７を
参照）。単位面積当たりのこの斑点の数、あるいは斑点
部分の実効面積でこのノイズを表現する。

【００４６】（１４）ＮＥＰ（Normal Edge Profile) この試験は画像の縁部分の鮮明度に関するもので、所謂
画像のキレの良さを表す。図１８に示すように、線分に
垂直な方向に画像を走査して、信号レベルを求め、縁の
ダレ（Ｗ_eで表す）が短いほどシャープな画像が得られ
る。

【００４７】（１５）ＴＥＰ（Tangential Edge Profile) この試験も画像の縁部分の鮮明度に関するもので、図１
９に示すように、線分の縁をこの線分に平行に走査した
場合の画像信号レベルの変化を示す。この変化が少ない
ほど再現性は良好である。

【００４８】

【発明の効果】この発明による再生画像の品質評価装置
によって、高分解能で階調度の高い再生画像を比較的早
い速度で測定できる。特に、メモリーユニットを用意
し、通常のパーソナルコンピュータと複写機を使用する
だけで、簡単に再生画像の品質評価が行える。それ故、
全体の装置を極めた低価格に構成できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明で使用する光学画像読取装置の簡略さ
れた断面図である。

【図２】この発明で使用する回路構成を示すブロック図
である。

【図３】走査画面上の位置を指定するための配置（ａ）
と対応する走査のタイミング信号波形（ｂ）を示す図面
である。

【図４】この発明によるメモリーユニットと外部装置と
の結線を示す回路図である。

【図５】メモリーユニットの内部のブロック結線図であ
る。

【図６】メモリーユニット中の記憶器に収納される画像
信号のタイミングを示す波形図である。

【図７】倍率を指定する模式表示画面である。

【図８】直交度を指定する模式表示画面である。

【図９】歪を指定する模式表示画面である。

【図１０】分解能を与える模式表示画面である。

【図１１】細線の再現性を指定する模式表示画面であ
る。

【図１２】シェーディングを指定する模式表示画面であ
る。

【図１３】ピッチ間隔を指定する模式表示画面である。

【図１４】線分の直線性を指定する模式表示画面であ
る。

【図１５】ドット飛び出しを示す模式表示画面である。

【図１６】階調度を示す模式表示画面である。

【図１７】画像ノイズを示す模式表示画面である。

【図１８】ＮＥＰを示す模式表示画面である。

【図１９】ＴＥＰを示す模式表示画面である。

【符号の説明】

２画像読取装置６中央処理装置６ａキーボード６ｂディスプレー８モニタ用ディスプレー１０メモリユニット２０走査画面２１入出力バッファー２２転送部２３バス制御部２４記憶器２５アドレス計数器２６アドレス選択器２７ビデオ記憶回路２８制御部５０照明ユニット５１用紙支持台５２用紙５３走査本体５４レンズ光学系５５画像センサ（一次元ＣＣＤ）５６レールまたはスピンドル５７駆動モータ５８電源５９画像信号処理ユニットＣＴ１入力端子ＣＴ２出力端子

フロントページの続き (56)参考文献特開平３−188357（ＪＰ，Ａ) 特開平３−44542（ＪＰ，Ａ) 特開昭64−46877（ＪＰ，Ａ) 特開昭63−191459（ＪＰ，Ａ) 特開昭63−126355（ＪＰ，Ａ) 特開昭63−19082（ＪＰ，Ａ) 特開昭62−281561（ＪＰ，Ａ) 特開昭62−98476（ＪＰ，Ａ) 特開平５−136916（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H04N 1/00

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】一次元ＣＣＤ検出素子とこの素子を一定
速度で移動させる駆動機構とを保有する光電画像読取装
置２と、前記光電画像読取装置２の検出した画像信号を一時的に
収納し、取り出し可能なメモリーユニット１０と、内部の制御記憶装置に画像解析に要する制御手順を納
め、この制御指令に従って、前記メモリーユニット１０
の記憶回路２４に収納した画像信号の内容を所定の手順
で解析して、上記画像読取装置２が再生された画像から
読み取った画像の品質を評価するために設けてある中央
演算装置６と、から成る再生画像の品質評価装置において、前記メモリーユニット１０で、光電画像読取装置２から
の画像信号と付属する同期信号とを受け入れ、測定画面
を直線的に走査する走査線上の画像信号を間欠飛越的に
繰り返す少なくとも２っ以上のブループに分け、グルー
プ数に相当する個数のブロックに分割さてた記憶回路２
４に前記画像信号と同期信号をそれぞれ分割して逐次収
納し、その際、前記グループ数から１を引いた数の倍数
ほど引き延ばした転送時間にして前記画像信号を転送で
き、所定のテストパターンに対して求めた再生画像を線分、
階調性に関して再生中実度を評価することを特徴とする
再生画像の品質評価装置。
【請求項２】前記画像の再生中実度の試験は、倍率、
直交度、歪み、解像度、細線再現性、シェーデイング、
ピッチ精度、直線性、ドット飛び出し、階調性、感色
性、画像ノイズ、ＮＥＰ，ＴＥＰの一つまたはそれ以上
を含む項目に渡って行われることを特徴とする請求項１
に記載の再生画像の品質評価装置。
【請求項３】前記光電画像読取装置２としては、市販
の静電式の複写機を使用し、中央演算装置６としては、
市販のパーソナル・コンピュータを使用することを特徴
とする請求項１または２に記載の再生画像の品質評価装
置。