JP3068110B2 - 粒子画像分析装置 - Google Patents
粒子画像分析装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は粒子画像分析装置、特に
血液又は尿中の細胞や粒子（以下これらをまとめて粒子
と呼ぶ）の静止画像を取得し、この静止画像を処理して
粒子の分析を行う粒子画像分析装置に関する。
血液又は尿中の細胞や粒子（以下これらをまとめて粒子
と呼ぶ）の静止画像を取得し、この静止画像を処理して
粒子の分析を行う粒子画像分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】尿や血液中の粒子を画像処理を用いて分
析する装置では、検査技師が各粒子の目視分類を行い得
るように、分析結果とともに粒子の画像デ−タを格納し
保存する必要がある。この際、粒子の画像を切り出し保
存する領域については、特開平１−２７０１７７号公報
に記載されているように、あらかじめ切り出しサイズを
数種類設定し、画像処理で得られた粒子の大きさをもと
に、どの切り出しサイズで切り出すかを決定している。
析する装置では、検査技師が各粒子の目視分類を行い得
るように、分析結果とともに粒子の画像デ−タを格納し
保存する必要がある。この際、粒子の画像を切り出し保
存する領域については、特開平１−２７０１７７号公報
に記載されているように、あらかじめ切り出しサイズを
数種類設定し、画像処理で得られた粒子の大きさをもと
に、どの切り出しサイズで切り出すかを決定している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような技
術によれば、切り出しサイズがあらかじめ設定された数
種類しかないため、原画像から必要な粒子の画像ととも
にあまり必要とされないか又は必要以上の背景の画像が
多く切り出され、したがって記憶領域の無駄が多くな
る。また、粒子の重要でない背景を必要以上に切り出し
て保存することになる結果として、多数の粒子の画像デ
−タを記憶するには効率が悪いと云わざるを得ない。
術によれば、切り出しサイズがあらかじめ設定された数
種類しかないため、原画像から必要な粒子の画像ととも
にあまり必要とされないか又は必要以上の背景の画像が
多く切り出され、したがって記憶領域の無駄が多くな
る。また、粒子の重要でない背景を必要以上に切り出し
て保存することになる結果として、多数の粒子の画像デ
−タを記憶するには効率が悪いと云わざるを得ない。
【０００４】本発明の目的は重要でない背景の画像デ−
タの削減化を図り、もって画像デ−タ記憶装置により多
くの粒子の画像を格納し得るのに適した粒子画像分析装
置を提供することにある。
タの削減化を図り、もって画像デ−タ記憶装置により多
くの粒子の画像を格納し得るのに適した粒子画像分析装
置を提供することにある。
【０００５】本発明のもう一つの目的は違和感の少ない
粒子切り出し画像表示を行うのに適した粒子画像分析装
置を提供することにある。
粒子切り出し画像表示を行うのに適した粒子画像分析装
置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、液体中
に含まれる粒子の静止画像を取得し、この静止画像を処
理して粒子の分析を行うにあたって、静止画像から粒子
部領域とその周りのオフセット領域とからなる粒子領域
が切り出されて、この切り出された粒子領域の画像が表
示されるとともに、オフセット領域の幅が粒子部領域の
大きさに無関係に実質的に一定に設定される。
に含まれる粒子の静止画像を取得し、この静止画像を処
理して粒子の分析を行うにあたって、静止画像から粒子
部領域とその周りのオフセット領域とからなる粒子領域
が切り出されて、この切り出された粒子領域の画像が表
示されるとともに、オフセット領域の幅が粒子部領域の
大きさに無関係に実質的に一定に設定される。
【０００７】本発明のもう一つの側面によれば、オフセ
ット領域のｘ座標軸方向及びこれと直角なｙ座標軸方向
の幅は粒子部領域の大きさにそれぞれ比例するように設
定される。
ット領域のｘ座標軸方向及びこれと直角なｙ座標軸方向
の幅は粒子部領域の大きさにそれぞれ比例するように設
定される。
【０００８】本発明の別のもう一つの側面によれば、粒
子領域の画像が表示されるべき表示領域の、その表示さ
れる画像以外の部分は粒子の背景の平均濃度デ−タで塗
りつぶされる。
子領域の画像が表示されるべき表示領域の、その表示さ
れる画像以外の部分は粒子の背景の平均濃度デ−タで塗
りつぶされる。
【０００９】
【作用】本発明によれば、オフセット領域の幅が粒子部
領域の大きさに無関係に一定に設定されることから、粒
子の背景画像デ−タの削減化、したがってデ−タ記憶装
置の使用効率向上が図られ得るようになる。
領域の大きさに無関係に一定に設定されることから、粒
子の背景画像デ−タの削減化、したがってデ−タ記憶装
置の使用効率向上が図られ得るようになる。
【００１０】本発明の別の側面によれば、オフセット領
域のｘ座標軸方向及びこれと直角なｙ座標軸方向の幅は
粒子部領域の大きさに比例するように設定されるため、
同様にデ−タ記憶装置の使用効率向上が図られ得るよう
になる。加えて、粒子部領域とオフセット領域との面積
比率が粒子の大きさによらず一定となることから、違和
感の少ない粒子切り出し画像表示が可能となる。
域のｘ座標軸方向及びこれと直角なｙ座標軸方向の幅は
粒子部領域の大きさに比例するように設定されるため、
同様にデ−タ記憶装置の使用効率向上が図られ得るよう
になる。加えて、粒子部領域とオフセット領域との面積
比率が粒子の大きさによらず一定となることから、違和
感の少ない粒子切り出し画像表示が可能となる。
【００１１】本発明のもう一つの側面によれば、粒子領
域の画像が表示されるべき表示領域の、その表示される
画像以外の部分は粒子の背景の平均濃度デ−タで塗りつ
ぶされるため、オフセット領域とその外部との間の濃度
差が少なくなり、結果として違和感の少ない粒子切り出
し画像表示がなされるようになる。この効果は、画像表
示面を複数分割して、それぞれの分割表示面に別々の粒
子切り出し画像を表示する場合に特に目立つようにな
る。それぞれの切り出し画像があたかも同一サイズで切
り出されたものであるかのように感じられるようになる
からである。
域の画像が表示されるべき表示領域の、その表示される
画像以外の部分は粒子の背景の平均濃度デ−タで塗りつ
ぶされるため、オフセット領域とその外部との間の濃度
差が少なくなり、結果として違和感の少ない粒子切り出
し画像表示がなされるようになる。この効果は、画像表
示面を複数分割して、それぞれの分割表示面に別々の粒
子切り出し画像を表示する場合に特に目立つようにな
る。それぞれの切り出し画像があたかも同一サイズで切
り出されたものであるかのように感じられるようになる
からである。
【００１２】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面により説明す
る。図１は本発明が適用されるフロ−式粒子画像分析装
置の構成図を示したものである。１はサンプル容器、２
はサンプリングノズル、３は染色液、４はシ−ス液、５
はシ−ス液送出用シリンジ、６は染色槽、７はフロ−セ
ル、８は光源となるフラッシュランプ、９はコンデンサ
レンズ、１０は対物レンズ、１１は粒子検出用半導体レ
−ザ、１２は粒子検出器、１３は高解像度ＴＶカメラ、
１４はＡ／Ｄ変換器、１５はイメ−ジメモリ、１６は粒
子の特徴量を算出する特徴抽出部、１７は特徴量から細
胞の分類と切り出し領域を算出するプロセッサ、１８は
画像に切り出しを行なう画像切り出し回路部、１９は画
像バッファメモリ、２０は画像表示制御回路、２１は画
像表示用モニタ−を示す。
る。図１は本発明が適用されるフロ−式粒子画像分析装
置の構成図を示したものである。１はサンプル容器、２
はサンプリングノズル、３は染色液、４はシ−ス液、５
はシ−ス液送出用シリンジ、６は染色槽、７はフロ−セ
ル、８は光源となるフラッシュランプ、９はコンデンサ
レンズ、１０は対物レンズ、１１は粒子検出用半導体レ
−ザ、１２は粒子検出器、１３は高解像度ＴＶカメラ、
１４はＡ／Ｄ変換器、１５はイメ−ジメモリ、１６は粒
子の特徴量を算出する特徴抽出部、１７は特徴量から細
胞の分類と切り出し領域を算出するプロセッサ、１８は
画像に切り出しを行なう画像切り出し回路部、１９は画
像バッファメモリ、２０は画像表示制御回路、２１は画
像表示用モニタ−を示す。
【００１３】サンプル容器からサンプリングノズル２に
よって分注されたサンプルは、染色槽６に吐き出され、
次に一定量吐き出された染色液３により染色される。染
色されたサンプルはフロ−セル７に送られてシ−ス液４
に包こまれるようにして扁平な流れを形成し、フロ−セ
ル内中央を安定に流れる。
よって分注されたサンプルは、染色槽６に吐き出され、
次に一定量吐き出された染色液３により染色される。染
色されたサンプルはフロ−セル７に送られてシ−ス液４
に包こまれるようにして扁平な流れを形成し、フロ−セ
ル内中央を安定に流れる。
【００１４】一方、半導体レ−ザ−１１は常時点灯して
おり、常にサンプル中の粒子が通過するのを粒子検出器
１２で観測している。粒子が通過し散乱光による粒子検
出信号が所定の信号レベルであれば、制御器２２はその
信号が画像処理対象粒子によるものと判断し、粒子が高
解像度ＴＶカメラ１３の取り込み画像領域の所定の位置
に達したとき、フラッシュランプ８を点灯させる。フラ
ッシュランプ８のパルス光は顕微鏡光軸上を進み、コン
デンサレンズ９を通ってフロ−セル７内のサンプル上に
集光される。この時、フラッシュランプ８は１μs程度
の短い時間の点灯であるので、高解像度ＴＶカメラ１３
で得られる画像は静止画像となる。この画像信号をＡ／
Ｄ変換器１４によりディジタル化しをイメ−ジメモリ１
５に格納する。特徴抽出回路１６はイメ−ジメモリ１５
に格納された画像デ−タから粒子の面積、周囲長、座標
デ−タ等の特徴量を算出し、プロセッサ１７は特徴量か
ら粒子の分類を行ない、細胞の座標デ−タから粒子の切
り出し領域を算出し、画像切り出し回路部１８に切り出
し領域を設定する。画像切り出し回路部１８はイメ−ジ
メモリから粒子の画像を切り出し、画像バッファ１９に
格納する。画像表示制御回路２０はモニタ２１上に表示
する画像を制御し、モニタ２１に画像を表示する。
おり、常にサンプル中の粒子が通過するのを粒子検出器
１２で観測している。粒子が通過し散乱光による粒子検
出信号が所定の信号レベルであれば、制御器２２はその
信号が画像処理対象粒子によるものと判断し、粒子が高
解像度ＴＶカメラ１３の取り込み画像領域の所定の位置
に達したとき、フラッシュランプ８を点灯させる。フラ
ッシュランプ８のパルス光は顕微鏡光軸上を進み、コン
デンサレンズ９を通ってフロ−セル７内のサンプル上に
集光される。この時、フラッシュランプ８は１μs程度
の短い時間の点灯であるので、高解像度ＴＶカメラ１３
で得られる画像は静止画像となる。この画像信号をＡ／
Ｄ変換器１４によりディジタル化しをイメ−ジメモリ１
５に格納する。特徴抽出回路１６はイメ−ジメモリ１５
に格納された画像デ−タから粒子の面積、周囲長、座標
デ−タ等の特徴量を算出し、プロセッサ１７は特徴量か
ら粒子の分類を行ない、細胞の座標デ−タから粒子の切
り出し領域を算出し、画像切り出し回路部１８に切り出
し領域を設定する。画像切り出し回路部１８はイメ−ジ
メモリから粒子の画像を切り出し、画像バッファ１９に
格納する。画像表示制御回路２０はモニタ２１上に表示
する画像を制御し、モニタ２１に画像を表示する。
【００１５】図２はイメ−ジメモリ１７に格納された粒
子の切り出し方法を表したもので、特徴抽出回路部１６
で算出された細胞のｘ座標軸方向，これと直角なｙ座標
軸方向の最小、最大の座標をXmin,Xmax,Ymin,Ymaxとし
た場合、粒子の切り出し範囲を (Xmin-dx,Ymin-dy)〜(Xmax+dx,Ymax+dy) として粒子が切り出されることを表している。この切り
出し領域はプロセッサ１７によって設定され、オフセッ
トの幅をｄｘ＝Ｃｘ（一定値）、ｄｙ＝Ｃｙ（一定値）
とし、又はオフセットの幅をdx=k(Xmax-Xmin)、dy=k'(Ym
ax-Ymin)として粒子の大きさに比例させる。このように
して切り出された画像デ−タは背景デ−タが出来るかぎ
り削除されたものであり、定められたメモリ容量内によ
り多くの粒子の画像が格納されることとなる。
子の切り出し方法を表したもので、特徴抽出回路部１６
で算出された細胞のｘ座標軸方向，これと直角なｙ座標
軸方向の最小、最大の座標をXmin,Xmax,Ymin,Ymaxとし
た場合、粒子の切り出し範囲を (Xmin-dx,Ymin-dy)〜(Xmax+dx,Ymax+dy) として粒子が切り出されることを表している。この切り
出し領域はプロセッサ１７によって設定され、オフセッ
トの幅をｄｘ＝Ｃｘ（一定値）、ｄｙ＝Ｃｙ（一定値）
とし、又はオフセットの幅をdx=k(Xmax-Xmin)、dy=k'(Ym
ax-Ymin)として粒子の大きさに比例させる。このように
して切り出された画像デ−タは背景デ−タが出来るかぎ
り削除されたものであり、定められたメモリ容量内によ
り多くの粒子の画像が格納されることとなる。
【００１６】図３はモニタ２１上の同一サイズの４分割
されたＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの領域に本発明で切り出した粒子
の画像ａ，ｂ，ｃ，ｄが表示されている表示例を示した
ものである。切り出された粒子は左上に寄せて表示さ
れ、ａ，ｂ，ｃ，ｄの領域外の部分は白又は黒に塗りつ
ぶされる。
されたＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの領域に本発明で切り出した粒子
の画像ａ，ｂ，ｃ，ｄが表示されている表示例を示した
ものである。切り出された粒子は左上に寄せて表示さ
れ、ａ，ｂ，ｃ，ｄの領域外の部分は白又は黒に塗りつ
ぶされる。
【００１７】図４はモニタ２１上の同一サイズの４分割
されたＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの領域の中央に本発明で切り出し
た粒子の画像ａ，ｂ，ｃ，ｄが表示されている表示例を
示したものである。粒子は図５に示されているように、
切り出しサイズＬｘ，Ｌｙと表示サイズＤｘ，Ｄｙによ
り、原点から Ｏｘ＝（Ｄｘ−Ｌｘ）／２ Ｏｙ＝（Ｄｙ−Ｌｙ）／２ で算出されるオフセット分を設けて、切り出した画像を
表示することで、その粒子画像が、その中心と表示エリ
アの中心が一致するように表示される。また、特徴抽出
回路は更に粒子の背景の色についての平均濃度を算出す
る。図４のａ，ｂ，ｃ，ｄの領域外の部分を算出された
背景の平均濃度デ−タで塗りつぶすことによりａ，ｂ，
ｃ，ｄの領域の内と外での背景の濃度差が少なくなるこ
とから、それぞれの切り出し画像があたかも同一サイズ
で切り出されものであるかのように表示されることにな
って、違和感の少ない画像表示がなされるようになる。
もちろん、ａ，ｂ，ｃ，ｄの領域外の部分は図３の場合
と同様に白又は黒に塗りつぶされてもよい。この場合も
そうでない場合に比べて、切り出し画像は、背景の平均
濃度デ−タで塗りつぶす場合と似たような感じになる。
また、図３において、ａ，ｂ，ｃ，ｄの領域外の部分を
白又は黒に塗りつぶすのに代えて図４の場合のように背
景の平均濃度デ−タで塗つぶしてもよい。
されたＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの領域の中央に本発明で切り出し
た粒子の画像ａ，ｂ，ｃ，ｄが表示されている表示例を
示したものである。粒子は図５に示されているように、
切り出しサイズＬｘ，Ｌｙと表示サイズＤｘ，Ｄｙによ
り、原点から Ｏｘ＝（Ｄｘ−Ｌｘ）／２ Ｏｙ＝（Ｄｙ−Ｌｙ）／２ で算出されるオフセット分を設けて、切り出した画像を
表示することで、その粒子画像が、その中心と表示エリ
アの中心が一致するように表示される。また、特徴抽出
回路は更に粒子の背景の色についての平均濃度を算出す
る。図４のａ，ｂ，ｃ，ｄの領域外の部分を算出された
背景の平均濃度デ−タで塗りつぶすことによりａ，ｂ，
ｃ，ｄの領域の内と外での背景の濃度差が少なくなるこ
とから、それぞれの切り出し画像があたかも同一サイズ
で切り出されものであるかのように表示されることにな
って、違和感の少ない画像表示がなされるようになる。
もちろん、ａ，ｂ，ｃ，ｄの領域外の部分は図３の場合
と同様に白又は黒に塗りつぶされてもよい。この場合も
そうでない場合に比べて、切り出し画像は、背景の平均
濃度デ−タで塗りつぶす場合と似たような感じになる。
また、図３において、ａ，ｂ，ｃ，ｄの領域外の部分を
白又は黒に塗りつぶすのに代えて図４の場合のように背
景の平均濃度デ−タで塗つぶしてもよい。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、背景デ−タを削減する
ことができることから、画像デ−タ記憶装置に格納でき
る粒子の画像数を増加させることが出来るようになり、
したがって、検査技師がより多くの画像を見直しするこ
とが可能となって、装置の信頼性の向上、装置の小型化
を図るのに適した粒子画像分析装置が提供されるように
なる。また、違和感の少ない切り出し画像の表示が可能
な粒子画像分析装置が提供される。
ことができることから、画像デ−タ記憶装置に格納でき
る粒子の画像数を増加させることが出来るようになり、
したがって、検査技師がより多くの画像を見直しするこ
とが可能となって、装置の信頼性の向上、装置の小型化
を図るのに適した粒子画像分析装置が提供されるように
なる。また、違和感の少ない切り出し画像の表示が可能
な粒子画像分析装置が提供される。
【図１】本発明にもとづく一実施例を示す式粒子画像分
析装置のブロック図である。
析装置のブロック図である。
【図２】本発明にもとづく粒子画像切り出しの説明図で
ある。
ある。
【図３】本発明にもとづく粒子切り出し画像の一表示例
を示す図である。
を示す図である。
【図４】本発明にもとづく切り出し画像のもう一つの表
示例を示す図である。
示例を示す図である。
【図５】図４に示される切り出し画像の表示をどのよう
にして行うかの説明図である。
にして行うかの説明図である。
１…サンプル容器 ２…サンプリングノズル
３…染色液 ４…シ−ス液 ５…シ−ス液送出用シリンジ
６…染色槽 ７…フロ−セル ８…フラッシュランプ
９…コンデンサレンズ １０…対物レンズ １１…粒子検出用半導体レ−ザ １２…粒子検出器 １３…高解像度ＴＶカメラ １４…Ａ／Ｄ変換部 １５…イメ−ジメモリ
１６…特徴抽出回路 １７…プロセッサ １８…画像切り出し回路
１９…画像バッフメモリ ２０…画像表示制御部 ２１…画像表示モニタ
２２…制御器
３…染色液 ４…シ−ス液 ５…シ−ス液送出用シリンジ
６…染色槽 ７…フロ−セル ８…フラッシュランプ
９…コンデンサレンズ １０…対物レンズ １１…粒子検出用半導体レ−ザ １２…粒子検出器 １３…高解像度ＴＶカメラ １４…Ａ／Ｄ変換部 １５…イメ−ジメモリ
１６…特徴抽出回路 １７…プロセッサ １８…画像切り出し回路
１９…画像バッフメモリ ２０…画像表示制御部 ２１…画像表示モニタ
２２…制御器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐野 一敬 茨城県勝田市市毛882番地 株式会社 日立製作所 計測器事業部内 (72)発明者 片平 初恵 茨城県勝田市市毛882番地 株式会社 日立製作所 計測器事業部内 (56)参考文献 特開 平１−270177（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−47504（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−14386（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 15/14 G01N 15/02 G01N 33/48 G06T 1/00
Claims (5)
- 【請求項１】液体中に含まれる粒子の静止画像を取得
し、この静止画像を処理して前記粒子の分析を行う粒子
画像分析装置であって、前記静止画像から粒子部領域と
その周りのオフセット領域とからなる粒子領域を切り出
す手段と、この切り出された粒子領域の画像を表示する
手段とを備え、前記オフセット領域の幅は前記粒子部領
域の大きさに無関係に実質的に一定であることを特徴と
する粒子画像分析装置。 - 【請求項２】液体中に含まれる粒子の静止画像を取得
し、この静止画像を処理して前記粒子の分析を行う粒子
画像分析装置であって、前記静止画像から粒子部領域と
その周りのオフセット領域とからなる粒子領域を切り出
す手段と、この切り出された粒子領域の画像を表示する
手段とを備え、前記オフセット領域のｘ座標軸方向及び
これと直角なｙ座標軸方向の幅は前記粒子領域の大きさ
にそれぞれ比例して設定されることを特徴とする粒子画
像分析装置。 - 【請求項３】 前記粒子領域の画像は前記表示手段の、前
記粒子領域の画像が表示されるべき表示領域の中央部に
表示されるようにしたことを特徴とする請求項１又は２
に記載された粒子画像分析装置。 - 【請求項４】 液体中に含まれる粒子の静止画像を取得
し、この静止画像を処理して前記粒子の分析を行う粒子
画像分析装置であって、前記静止画像から粒子部領域と
その周りのオフセット領域とからなる粒子領域を切り出
すための手段と、この切り出された粒子領域の画像を表
示するための手段とを備え、この画像表示手段は前記粒
子領域の画像が表示されるべき表示面を含み、この表示
面の、表示されるべき前記粒子領域の画像以外の部分を
前記粒子の背景の平均濃度デ−タで塗りつぶすことを特
徴とする粒子画像分析装置。 - 【請求項５】 液体中に含まれる粒子の静止画像を取得
し、この静止画像を処理して前記粒子の分析を行う粒子
画像分析装置であって、前記静止画像から粒子部領域と
その周りのオフセット領域とからなる粒子領域を切り出
すための手段と、この切り出された粒子領域の画像を表
示するための手段とを備え、この画像表示手段は前記粒
子領域の画像が表示されるべき表示面を含み、この表示
面の、表示されるべき前記粒子領域の画像以外の部分を
白又は黒に塗りつぶすことを特徴とする粒子画像分析装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5334070A JP3068110B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 粒子画像分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5334070A JP3068110B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 粒子画像分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07198580A JPH07198580A (ja) | 1995-08-01 |
| JP3068110B2 true JP3068110B2 (ja) | 2000-07-24 |
Family
ID=18273181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5334070A Expired - Fee Related JP3068110B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 粒子画像分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3068110B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101789273B1 (ko) * | 2015-02-27 | 2017-11-20 | 신채빈 | 족부 변형 방지 깔창 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4772312B2 (ja) * | 2004-10-20 | 2011-09-14 | シスメックス株式会社 | 粒子画像分析システム、粒子画像表示用コンピュータプログラムおよび記録媒体 |
| JP7046500B2 (ja) * | 2017-04-28 | 2022-04-04 | シスメックス株式会社 | 画像表示装置、画像表示方法および画像処理方法 |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP5334070A patent/JP3068110B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101789273B1 (ko) * | 2015-02-27 | 2017-11-20 | 신채빈 | 족부 변형 방지 깔창 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07198580A (ja) | 1995-08-01 |
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