JP3042594B2 - 光線路保守システム - Google Patents
光線路保守システムInfo
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信を行う光線
路を監視して、異常が生じた場合には、その保守を行う
ための光線路保守システムに関するものである。
路を監視して、異常が生じた場合には、その保守を行う
ための光線路保守システムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光通信を行う局側から加入者側に敷設さ
れている光ケーブルの光線路（光ファイバ）の保守管理
を行うための光線路保守システムが導入されている。図
３には従来の一般的な光線路保守システムが示されてい
る。このシステムは、試験制御部１と、複数のファイバ
切り換え選択装置Ａ1 〜Ａn と、分岐形の複数の光ファ
イバカプラモジュール18とを有して構成されている。試
験制御部１は試験光を発生する半導体レーザ、発光ダイ
オード等の光源３と、光パワーメータ２やパルス試験器
（ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer ））
４を含む複数の測定器類と、パソコン５と、光スイッチ
６と、電源供給装置とを有している。図３では光パワー
メータ２と光源３とＯＴＤＲ４は試験制御部１の外側に
描かれているが、これは説明の都合上そうしたものであ
って、実際には、これらは試験制御部１のケース内に収
容されている。
れている光ケーブルの光線路（光ファイバ）の保守管理
を行うための光線路保守システムが導入されている。図
３には従来の一般的な光線路保守システムが示されてい
る。このシステムは、試験制御部１と、複数のファイバ
切り換え選択装置Ａ1 〜Ａn と、分岐形の複数の光ファ
イバカプラモジュール18とを有して構成されている。試
験制御部１は試験光を発生する半導体レーザ、発光ダイ
オード等の光源３と、光パワーメータ２やパルス試験器
（ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer ））
４を含む複数の測定器類と、パソコン５と、光スイッチ
６と、電源供給装置とを有している。図３では光パワー
メータ２と光源３とＯＴＤＲ４は試験制御部１の外側に
描かれているが、これは説明の都合上そうしたものであ
って、実際には、これらは試験制御部１のケース内に収
容されている。
【０００３】パソコン５はワークステーション（図示せ
ず）に信号接続されており、ワークステーションによっ
て統括されている。パソコン５には、保守システムの自
己検査を行うプログラムと、ＯＴＤＲ４等の測定器を用
いた各種の測定プログラムを内蔵し、光源３の光を用い
た測定の種類に応じて、使用する測定器を選択し、その
測定器の切り換え接続（光パワーメータ２や光源３やＯ
ＴＤＲ４側の光ファイバと、ファイバ切り換え選択装置
Ａ1 〜Ａn 側の光ファイバとの接続切り換えを含む）を
制御する。また、パソコン５は各ファイバ切り換え選択
装置Ａ1 〜Ａnにファイバ切り換えの指示・命令を出力
する。
ず）に信号接続されており、ワークステーションによっ
て統括されている。パソコン５には、保守システムの自
己検査を行うプログラムと、ＯＴＤＲ４等の測定器を用
いた各種の測定プログラムを内蔵し、光源３の光を用い
た測定の種類に応じて、使用する測定器を選択し、その
測定器の切り換え接続（光パワーメータ２や光源３やＯ
ＴＤＲ４側の光ファイバと、ファイバ切り換え選択装置
Ａ1 〜Ａn 側の光ファイバとの接続切り換えを含む）を
制御する。また、パソコン５は各ファイバ切り換え選択
装置Ａ1 〜Ａnにファイバ切り換えの指示・命令を出力
する。
【０００４】各ファイバ切り換え選択装置Ａ1 〜Ａn は
光ファイバの切り換えスイッチ機構を備えている。すな
わち、各ファイバ切り換え選択装置Ａ1 〜Ａn には複数
の受け側光ファイバ10が配列配置され、各受け側光ファ
イバ10にコネクタ11が接続装着され、各コネクタ11が、
例えば、縦、横二次元状に配列固定されている。そし
て、これらコネクタ11の配列群に対向する側には第１の
マスター光ファイバ12のコネクタ13と、第２のマスター
光ファイバ14のコネクタ15とが移動ステージ（図示せ
ず）に配列固定され、前記試験制御部１のパソコン５か
ら加えられる指令に従い、移動ステージの三次元方向の
移動が行われ、コネクタ13，15と、受け側光ファイバ10
のコネクタ11との切り換え接続が行われる。
光ファイバの切り換えスイッチ機構を備えている。すな
わち、各ファイバ切り換え選択装置Ａ1 〜Ａn には複数
の受け側光ファイバ10が配列配置され、各受け側光ファ
イバ10にコネクタ11が接続装着され、各コネクタ11が、
例えば、縦、横二次元状に配列固定されている。そし
て、これらコネクタ11の配列群に対向する側には第１の
マスター光ファイバ12のコネクタ13と、第２のマスター
光ファイバ14のコネクタ15とが移動ステージ（図示せ
ず）に配列固定され、前記試験制御部１のパソコン５か
ら加えられる指令に従い、移動ステージの三次元方向の
移動が行われ、コネクタ13，15と、受け側光ファイバ10
のコネクタ11との切り換え接続が行われる。
【０００５】前記受け側光ファイバ10は複数本まとめら
れて接続コネクタ16に配列集合されており、図３の例で
は、No．１からNo．８までの８本の受け側光ファイバ10
が１個の接続コネクタ16に集約され、No．９からNo．16
までの受け側光ファイバ10が１個の接続コネクタ16に集
約されるという如く、複数本ずつの受け側光ファイバ10
が１つの接続コネクタ16に集約されて、数100 心の受け
側光ファイバ10が１個のファイバ切り換え選択装置に装
備され、他の数100 心の受け側光ファイバ10が他の１個
のファイバ切り換え選択装置に装備されるという如く、
各受け側光ファイバ10はその接続端にコネクタ16を装着
して配列配置されている。
れて接続コネクタ16に配列集合されており、図３の例で
は、No．１からNo．８までの８本の受け側光ファイバ10
が１個の接続コネクタ16に集約され、No．９からNo．16
までの受け側光ファイバ10が１個の接続コネクタ16に集
約されるという如く、複数本ずつの受け側光ファイバ10
が１つの接続コネクタ16に集約されて、数100 心の受け
側光ファイバ10が１個のファイバ切り換え選択装置に装
備され、他の数100 心の受け側光ファイバ10が他の１個
のファイバ切り換え選択装置に装備されるという如く、
各受け側光ファイバ10はその接続端にコネクタ16を装着
して配列配置されている。
【０００６】数1000心の光線路（光ファイバ）をもつ光
ケーブルの各心の光線路には分岐形の光ファイバカプラ
17が光結合される。光ファイバカプラ17は光ファイバカ
プラモジュール18に組み込まれており、光ファイバカプ
ラモジュール18の入力側光ファイバ20の入力端はカプラ
側入力コネクタ21に集約され、同様に、光ファイバカプ
ラ17の出力側光ファイバ22の出力端はカプラ側出力コネ
クタ23に集約されている。図３の例では、No．１からN
o．８までの８本の出力側光ファイバ22は１個のカプラ
側出力コネクタ23に集約され、No．９からNo．16までの
８本の入力側光ファイバ20は１個のカプラ側入力コネク
タ21に集約されている。No．９からNo．16の入力側光フ
ァイバ20から供給される試験光はそれぞれNo．１からN
o．８の対応する光ファイバカプラ結合によってNo．１
からNo．８までの対応する光線路とそれぞれ光結合され
ており、No．９からNo．16までの入力側光ファイバ20か
ら供給される試験光の戻り光はNo．１からNo．８のそれ
ぞれ対応する出力側光ファイバ22を通って戻される。
ケーブルの各心の光線路には分岐形の光ファイバカプラ
17が光結合される。光ファイバカプラ17は光ファイバカ
プラモジュール18に組み込まれており、光ファイバカプ
ラモジュール18の入力側光ファイバ20の入力端はカプラ
側入力コネクタ21に集約され、同様に、光ファイバカプ
ラ17の出力側光ファイバ22の出力端はカプラ側出力コネ
クタ23に集約されている。図３の例では、No．１からN
o．８までの８本の出力側光ファイバ22は１個のカプラ
側出力コネクタ23に集約され、No．９からNo．16までの
８本の入力側光ファイバ20は１個のカプラ側入力コネク
タ21に集約されている。No．９からNo．16の入力側光フ
ァイバ20から供給される試験光はそれぞれNo．１からN
o．８の対応する光ファイバカプラ結合によってNo．１
からNo．８までの対応する光線路とそれぞれ光結合され
ており、No．９からNo．16までの入力側光ファイバ20か
ら供給される試験光の戻り光はNo．１からNo．８のそれ
ぞれ対応する出力側光ファイバ22を通って戻される。
【０００７】図３では、No．１からNo．８までの光線路
はNo．１の光ファイバカプラモジュールの各光ファイバ
カプラと光結合し、No．９からNo．16までの光線路（図
示せず）はNo．２の光ファイバカプラモジュールの各光
ファイバカプラと光結合するという如く、複数心の（図
３の例では８心）光線路毎に１個の光ファイバカプラモ
ジュール18の対応する各光ファイバカプラが光結合して
いる。なお、光ファイバカプラモジュール18と光ケーブ
ルの各心の光線路はコネクタ24ａ，24ｂの結合によって
接続されている。
はNo．１の光ファイバカプラモジュールの各光ファイバ
カプラと光結合し、No．９からNo．16までの光線路（図
示せず）はNo．２の光ファイバカプラモジュールの各光
ファイバカプラと光結合するという如く、複数心の（図
３の例では８心）光線路毎に１個の光ファイバカプラモ
ジュール18の対応する各光ファイバカプラが光結合して
いる。なお、光ファイバカプラモジュール18と光ケーブ
ルの各心の光線路はコネクタ24ａ，24ｂの結合によって
接続されている。
【０００８】この種の光線路保守システムにおいては、
例えば、光源３の光ファイバ８ｂが光スイッチ６により
第１のマスター光ファイバ12とコネクタ接続され、光パ
ワーメータ２の光ファイバ８ａが第２のマスター光ファ
イバ14とコネクタ接続され、また、ファイバ切り換え選
択装置Ａ1 側で、第１のマスター光ファイバ12が受け側
光ファイバ10のNo．９の線にコネクタ接続され、かつ、
第２のマスター光ファイバ14が受け側光ファイバ10のN
o．１の線にコネクタ接続されることで、光源３からの
試験光は光ファイバ８ｂ、第１のマスター光ファイバ1
2、No．９の入力側光ファイバ20を経て光ケーブルのN
o．１の光線路とカプラ結合し、試験光の戻り光はNo．
１の出力側光ファイバ22、第２のマスター光ファイバ1
4、光ファイバ８ａを経て光パワーメータ２に至り、光
パワーメータ２により戻り試験光の光パワーが測定さ
れ、光線路保守システムに異常がないか否かの自己検査
が行われる。この自己検査は全ての光ファイバカプラを
通るルートで行われる。
例えば、光源３の光ファイバ８ｂが光スイッチ６により
第１のマスター光ファイバ12とコネクタ接続され、光パ
ワーメータ２の光ファイバ８ａが第２のマスター光ファ
イバ14とコネクタ接続され、また、ファイバ切り換え選
択装置Ａ1 側で、第１のマスター光ファイバ12が受け側
光ファイバ10のNo．９の線にコネクタ接続され、かつ、
第２のマスター光ファイバ14が受け側光ファイバ10のN
o．１の線にコネクタ接続されることで、光源３からの
試験光は光ファイバ８ｂ、第１のマスター光ファイバ1
2、No．９の入力側光ファイバ20を経て光ケーブルのN
o．１の光線路とカプラ結合し、試験光の戻り光はNo．
１の出力側光ファイバ22、第２のマスター光ファイバ1
4、光ファイバ８ａを経て光パワーメータ２に至り、光
パワーメータ２により戻り試験光の光パワーが測定さ
れ、光線路保守システムに異常がないか否かの自己検査
が行われる。この自己検査は全ての光ファイバカプラを
通るルートで行われる。
【０００９】そして、全てのルートに異常がないことを
確認した後、ＯＴＤＲ４等を用いた光線路の傷害点（異
常点）検出や、ＯＴＤＲ片側からの光損失測定等が行わ
れる。このＯＴＤＲ４を用いた測定に際しては、ＯＴＤ
Ｒ４と光パワーメータ２の切り換えを行い、ＯＴＤＲ４
の光ファイバ８ｃを第２のマスター光ファイバ14に接続
することにより、図３の状態で、No．１の光線路のＯＴ
ＤＲ４による測定が行われる。このNo．１の光線路の測
定が終了した後、ファイバ切り換え選択装置Ａ1 側で、
第２のマスター光ファイバ14をNo．２の光線路（図示せ
ず）に光結合されているNo．２の光ファイバカプラ（図
示せず）の出力側光ファイバに接続されるNo．２の受け
側光ファイバ10（図示せず）のコネクタに接続すること
によりNo．２の光線路の測定が行われる。このように、
ファイバ切り換え選択装置側で、第１のマスター光ファ
イバ12と第２のマスター光ファイバ14を対応する光線路
に光結合している光ファイバカプラの入力側光ファイバ
と出力側光ファイバに対応するそれぞれの受け側光ファ
イバ10のコネクタに切り換え接続することにより、順
次、光ケーブルの各光線路の各種の測定が行われるので
ある。
確認した後、ＯＴＤＲ４等を用いた光線路の傷害点（異
常点）検出や、ＯＴＤＲ片側からの光損失測定等が行わ
れる。このＯＴＤＲ４を用いた測定に際しては、ＯＴＤ
Ｒ４と光パワーメータ２の切り換えを行い、ＯＴＤＲ４
の光ファイバ８ｃを第２のマスター光ファイバ14に接続
することにより、図３の状態で、No．１の光線路のＯＴ
ＤＲ４による測定が行われる。このNo．１の光線路の測
定が終了した後、ファイバ切り換え選択装置Ａ1 側で、
第２のマスター光ファイバ14をNo．２の光線路（図示せ
ず）に光結合されているNo．２の光ファイバカプラ（図
示せず）の出力側光ファイバに接続されるNo．２の受け
側光ファイバ10（図示せず）のコネクタに接続すること
によりNo．２の光線路の測定が行われる。このように、
ファイバ切り換え選択装置側で、第１のマスター光ファ
イバ12と第２のマスター光ファイバ14を対応する光線路
に光結合している光ファイバカプラの入力側光ファイバ
と出力側光ファイバに対応するそれぞれの受け側光ファ
イバ10のコネクタに切り換え接続することにより、順
次、光ケーブルの各光線路の各種の測定が行われるので
ある。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
光線路保守システムは、ファイバ切り換え選択装置Ａ1
〜Ａn 側で、第１のマスター光ファイバ12と第２のマス
ター光ファイバ14をコネクタ接続により各光ファイバカ
プラの入力側光ファイバ20と出力側光ファイバ22に切り
換え接続する構成であるため、多数の受け側光ファイバ
10の接続コネクタ16を配列配置しなければならず、その
ため、接続コネクタ16の数が非常に多くなり、接続コネ
クタ１個分の占める体積が大きいために、ファイバ切り
換え選択装置が大型化してしまうという問題があった。
光線路保守システムは、ファイバ切り換え選択装置Ａ1
〜Ａn 側で、第１のマスター光ファイバ12と第２のマス
ター光ファイバ14をコネクタ接続により各光ファイバカ
プラの入力側光ファイバ20と出力側光ファイバ22に切り
換え接続する構成であるため、多数の受け側光ファイバ
10の接続コネクタ16を配列配置しなければならず、その
ため、接続コネクタ16の数が非常に多くなり、接続コネ
クタ１個分の占める体積が大きいために、ファイバ切り
換え選択装置が大型化してしまうという問題があった。
【００１１】また、各ファイバ切り換え選択装置には必
ず第１のマスター光ファイバ12と第２のマスター光ファ
イバ14が図示されていない移動ステージ上に装備され、
各光ファイバカプラ側の入力側光ファイバ20と出力側光
ファイバ22に受け側光ファイバ10を介して一括的に切り
換え接続する構成であるため、入力側光ファイバ20側か
ら光ファイバカプラに入る試験光は出力側光ファイバ22
を経て第２のマスター光ファイバ14から試験制御部１側
へ必ず戻されることとなるので、例えば、ＯＴＤＲ４を
用いて各光線路の傷害点の検出等を行う場合に、試験光
の戻り光が必ず試験制御部１側に戻ってしまい、光源３
や使用している測定器にその戻り光が入射して、光源３
の特性や、測定器の測定性能に悪影響を及ぼしてしまう
という問題があった。
ず第１のマスター光ファイバ12と第２のマスター光ファ
イバ14が図示されていない移動ステージ上に装備され、
各光ファイバカプラ側の入力側光ファイバ20と出力側光
ファイバ22に受け側光ファイバ10を介して一括的に切り
換え接続する構成であるため、入力側光ファイバ20側か
ら光ファイバカプラに入る試験光は出力側光ファイバ22
を経て第２のマスター光ファイバ14から試験制御部１側
へ必ず戻されることとなるので、例えば、ＯＴＤＲ４を
用いて各光線路の傷害点の検出等を行う場合に、試験光
の戻り光が必ず試験制御部１側に戻ってしまい、光源３
や使用している測定器にその戻り光が入射して、光源３
の特性や、測定器の測定性能に悪影響を及ぼしてしまう
という問題があった。
【００１２】さらに、数1000心という多数の光線路の測
定を行う関係上、試験制御部１には複数のファイバ切り
換え選択装置Ａ1 〜Ａn が接続されることとなるが、各
ファイバ切り換え選択装置には必ず第１のマスター光フ
ァイバ12と第２のマスター光ファイバ14の２本のマスタ
ー光ファイバが接続されるために、試験制御部１と各フ
ァイバ切り換え選択装置Ａ1 〜Ａn 間に配線接続される
光ファイバの数が多くなって、乱雑化するという問題が
あった。
定を行う関係上、試験制御部１には複数のファイバ切り
換え選択装置Ａ1 〜Ａn が接続されることとなるが、各
ファイバ切り換え選択装置には必ず第１のマスター光フ
ァイバ12と第２のマスター光ファイバ14の２本のマスタ
ー光ファイバが接続されるために、試験制御部１と各フ
ァイバ切り換え選択装置Ａ1 〜Ａn 間に配線接続される
光ファイバの数が多くなって、乱雑化するという問題が
あった。
【００１３】本発明は上記課題を解決するためになされ
たものであり、その目的は、ファイバ切り換え選択装置
の小型化を図り、さらに、システムの自己検査以外の測
定に際しては、試験光の戻り光が試験制御部に入射する
のを防止し、かつ、各ファイバ切り換え選択装置と試験
制御部間の光ファイバの配線接続本数を半減する光線路
保守システムを提供することにある。
たものであり、その目的は、ファイバ切り換え選択装置
の小型化を図り、さらに、システムの自己検査以外の測
定に際しては、試験光の戻り光が試験制御部に入射する
のを防止し、かつ、各ファイバ切り換え選択装置と試験
制御部間の光ファイバの配線接続本数を半減する光線路
保守システムを提供することにある。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、次の手段を講じている。すなわち、本発明
は、試験光を発生する光源と、少くとも光パワーメータ
とパルス試験器を含む複数の測定器類とを備え、前記光
源の光を用いた光線路の測定の種類に応じて使用する測
定器の選択切り換えを行う試験制御部と、多心の光線路
の各心毎に試験光との光結合を行う分岐形の複数の光フ
ァイバカプラと、各光ファイバカプラの入力側光ファイ
バに通じる受け側光ファイバが所定のピッチ間隔のＶ溝
内に収容固定されて配列され、この光ファイバ配列群に
対向する側には前記試験制御部に接続される１本の第１
のマスター光ファイバが設けられ、この第１のマスター
光ファイバを移動して指令された光ファイバカプラの入
力側光ファイバに受け側光ファイバを介して接続する第
１のファイバ切り換え選択装置と、各光ファイバカプラ
の出力側光ファイバに通じる受け側光ファイバが所定の
ピッチ間隔のＶ溝内に収容固定されて配列され、この光
ファイバ配列群に対向する側には前記試験制御部に接続
される１本の第２のマスター光ファイバが設けられ、こ
の第２のマスター光ファイバを移動して指令された光フ
ァイバカプラの出力側光ファイバに受け側光ファイバを
介して接続する第２のファイバ切り換え選択装置と、を
有し、第１のマスター光ファイバの接続切り換えと第２
のマスター光ファイバの接続切り換えを別個のファイバ
切り換え選択装置で独立に行うようにした構成をもって
課題を解決する手段としている。
するために、次の手段を講じている。すなわち、本発明
は、試験光を発生する光源と、少くとも光パワーメータ
とパルス試験器を含む複数の測定器類とを備え、前記光
源の光を用いた光線路の測定の種類に応じて使用する測
定器の選択切り換えを行う試験制御部と、多心の光線路
の各心毎に試験光との光結合を行う分岐形の複数の光フ
ァイバカプラと、各光ファイバカプラの入力側光ファイ
バに通じる受け側光ファイバが所定のピッチ間隔のＶ溝
内に収容固定されて配列され、この光ファイバ配列群に
対向する側には前記試験制御部に接続される１本の第１
のマスター光ファイバが設けられ、この第１のマスター
光ファイバを移動して指令された光ファイバカプラの入
力側光ファイバに受け側光ファイバを介して接続する第
１のファイバ切り換え選択装置と、各光ファイバカプラ
の出力側光ファイバに通じる受け側光ファイバが所定の
ピッチ間隔のＶ溝内に収容固定されて配列され、この光
ファイバ配列群に対向する側には前記試験制御部に接続
される１本の第２のマスター光ファイバが設けられ、こ
の第２のマスター光ファイバを移動して指令された光フ
ァイバカプラの出力側光ファイバに受け側光ファイバを
介して接続する第２のファイバ切り換え選択装置と、を
有し、第１のマスター光ファイバの接続切り換えと第２
のマスター光ファイバの接続切り換えを別個のファイバ
切り換え選択装置で独立に行うようにした構成をもって
課題を解決する手段としている。
【００１５】上記構成の本発明においては、第１のファ
イバ切り換え選択装置側では、光ファイバカプラの入力
側光ファイバに通じる受け側光ファイバが収容固定され
ているＶ溝内に第１のマスター光ファイバを挿入するこ
とにより、第１のマスター光ファイバと入力側光ファイ
バとの接続が受け側光ファイバを介して達成され、同様
に、第２のファイバ切り換え選択装置側で、光ファイバ
カプラの出力側光ファイバに通じる受け側光ファイバが
収容固定されているＶ溝内に第２のマスター光ファイバ
を移動挿入することにより、第２のマスター光ファイバ
と出力側光ファイバとの接続が受け側光ファイバを介し
て達成される。
イバ切り換え選択装置側では、光ファイバカプラの入力
側光ファイバに通じる受け側光ファイバが収容固定され
ているＶ溝内に第１のマスター光ファイバを挿入するこ
とにより、第１のマスター光ファイバと入力側光ファイ
バとの接続が受け側光ファイバを介して達成され、同様
に、第２のファイバ切り換え選択装置側で、光ファイバ
カプラの出力側光ファイバに通じる受け側光ファイバが
収容固定されているＶ溝内に第２のマスター光ファイバ
を移動挿入することにより、第２のマスター光ファイバ
と出力側光ファイバとの接続が受け側光ファイバを介し
て達成される。
【００１６】このように、第１のファイバ切り換え選択
装置側で同一の光線路に光結合する光ファイバカプラの
入力側光ファイバに第１のマスター光ファイバを接続
し、第２のファイバ切り換え選択装置側で同じ光ファイ
バカプラの出力側光ファイバに第２のマスター光ファイ
バを接続することで、第１のマスター光ファイバから光
ファイバカプラに供給される試験光が出力側光ファイバ
から第２のマスター光ファイバを介して試験制御部側に
戻され、その光パワーの測定を行うことにより、光線路
保守システム自身の異常の有無が自分自身によって検査
される。
装置側で同一の光線路に光結合する光ファイバカプラの
入力側光ファイバに第１のマスター光ファイバを接続
し、第２のファイバ切り換え選択装置側で同じ光ファイ
バカプラの出力側光ファイバに第２のマスター光ファイ
バを接続することで、第１のマスター光ファイバから光
ファイバカプラに供給される試験光が出力側光ファイバ
から第２のマスター光ファイバを介して試験制御部側に
戻され、その光パワーの測定を行うことにより、光線路
保守システム自身の異常の有無が自分自身によって検査
される。
【００１７】この自己検査は全ての光ファイバカプラを
通るルートで行われ、全てのルートにシステムに異常が
ない場合には、ＯＴＤＲ等の測定器を用いて光線路の傷
害点の検出測定等が行われるが、これらの測定に際して
は、第２のファイバ切り換え選択装置側では測定対象の
光線路に光結合している光ファイバカプラの出力側光フ
ァイバと第２のマスター光ファイバとの接続を解除する
ことで、光ファイバカプラの試験光の戻りの光が試験制
御部側に戻るのが遮断され、この試験光の戻りの光によ
って試験制御部側の光源や測定器が影響を受けるのを防
止する。
通るルートで行われ、全てのルートにシステムに異常が
ない場合には、ＯＴＤＲ等の測定器を用いて光線路の傷
害点の検出測定等が行われるが、これらの測定に際して
は、第２のファイバ切り換え選択装置側では測定対象の
光線路に光結合している光ファイバカプラの出力側光フ
ァイバと第２のマスター光ファイバとの接続を解除する
ことで、光ファイバカプラの試験光の戻りの光が試験制
御部側に戻るのが遮断され、この試験光の戻りの光によ
って試験制御部側の光源や測定器が影響を受けるのを防
止する。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態例を図
面に基づき説明する。なお、以下の実施の形態例の説明
において、従来例と同一の構成部分には同一符号を付
し、その重複説明は省略する。図１には本発明に係る光
線路保守システムの一実施形態例が示されている。この
実施形態例が従来例と異なる特徴的なことは、ファイバ
切り換え選択装置を、光ファイバカプラの入力側光ファ
イバを専用に切り換え接続する装置と、光ファイバカプ
ラの出力側光ファイバを専用的に切り換え接続する装置
とによって別個独立に設けて構成したことと、ファイバ
切り換え選択装置の光スイッチを、コネクタ着脱切り換
え方式から、Ｖ溝を利用したファイバ切り換え方式に変
更したことであり、それ以外の構成は従来例とほぼ同様
である。
面に基づき説明する。なお、以下の実施の形態例の説明
において、従来例と同一の構成部分には同一符号を付
し、その重複説明は省略する。図１には本発明に係る光
線路保守システムの一実施形態例が示されている。この
実施形態例が従来例と異なる特徴的なことは、ファイバ
切り換え選択装置を、光ファイバカプラの入力側光ファ
イバを専用に切り換え接続する装置と、光ファイバカプ
ラの出力側光ファイバを専用的に切り換え接続する装置
とによって別個独立に設けて構成したことと、ファイバ
切り換え選択装置の光スイッチを、コネクタ着脱切り換
え方式から、Ｖ溝を利用したファイバ切り換え方式に変
更したことであり、それ以外の構成は従来例とほぼ同様
である。
【００１９】この実施の形態例では、各光ファイバカプ
ラ17の入力側光ファイバ20にコネクタ接続される受け側
光ファイバ10を配列配置して成る入力側光ファイバ切り
換え専用の第１のファイバ切り換え選択装置Ｅ1 と、光
ファイバカプラ17の出力側光ファイバ22にコネクタ接続
される受け側光ファイバ10を配列配置して成る出力側光
ファイバ切り換え専用の第２のファイバ切り換え選択装
置Ｅ2 とを１ペアとし、光ケーブルの光線路の心数に対
応して複数ペアの、つまり、偶数のファイバ切り換え選
択装置Ｅ1 ，Ｅ2 が設置され、各第１のファイバ切り換
え選択装置Ｅ1と試験制御部１との間に１本の第１のマ
スター光ファイバ12が接続され、各第２のファイバ切り
換え選択装置Ｅ2 と試験制御部１間には１本の第２のマ
スター光ファイバ14が配線される。そして、第１および
第２のファイバ切り換え選択装置Ｅ1 ，Ｅ2 のマスター
側光ファイバと受け側光ファイバ10との切り換え接続は
Ｖ溝を利用した接続切り換え方式によって行われる。
ラ17の入力側光ファイバ20にコネクタ接続される受け側
光ファイバ10を配列配置して成る入力側光ファイバ切り
換え専用の第１のファイバ切り換え選択装置Ｅ1 と、光
ファイバカプラ17の出力側光ファイバ22にコネクタ接続
される受け側光ファイバ10を配列配置して成る出力側光
ファイバ切り換え専用の第２のファイバ切り換え選択装
置Ｅ2 とを１ペアとし、光ケーブルの光線路の心数に対
応して複数ペアの、つまり、偶数のファイバ切り換え選
択装置Ｅ1 ，Ｅ2 が設置され、各第１のファイバ切り換
え選択装置Ｅ1と試験制御部１との間に１本の第１のマ
スター光ファイバ12が接続され、各第２のファイバ切り
換え選択装置Ｅ2 と試験制御部１間には１本の第２のマ
スター光ファイバ14が配線される。そして、第１および
第２のファイバ切り換え選択装置Ｅ1 ，Ｅ2 のマスター
側光ファイバと受け側光ファイバ10との切り換え接続は
Ｖ溝を利用した接続切り換え方式によって行われる。
【００２０】図２には、マスター光ファイバと受け側光
ファイバ10とのＶ溝を利用したファイバ切り換え接続方
式の一例が示されている。図２のマスター光ファイバ
は、第１のファイバ切り換え選択装置Ｅ1 においては第
１のマスター光ファイバ12であり、第２のファイバ切り
換え選択装置Ｅ2 では第２のマスター光ファイバ14であ
る。また、受け側光ファイバ10は第１のファイバ切り換
え選択装置Ｅ1 側では複数の光ファイバカプラモジュー
ル18′の各光ファイバカプラ17の入力側光ファイバ20に
接続される光ファイバであり、第２のファイバ切り換え
選択装置Ｅ2 側では同様に、複数の光ファイバカプラモ
ジュール18′の各光ファイバカプラ17の出力側光ファイ
バ22に接続される光ファイバである。これら、受け側光
ファイバ10は基板25の上面に形成した所定ピッチ間隔
（図２の例では等ピッチ間隔）に配列形成されたＶ溝26
内に収容固定された光ファイバ配列群となっており、こ
の光ファイバ配列群に対向する側にマスター光ファイバ
が設けられる。
ファイバ10とのＶ溝を利用したファイバ切り換え接続方
式の一例が示されている。図２のマスター光ファイバ
は、第１のファイバ切り換え選択装置Ｅ1 においては第
１のマスター光ファイバ12であり、第２のファイバ切り
換え選択装置Ｅ2 では第２のマスター光ファイバ14であ
る。また、受け側光ファイバ10は第１のファイバ切り換
え選択装置Ｅ1 側では複数の光ファイバカプラモジュー
ル18′の各光ファイバカプラ17の入力側光ファイバ20に
接続される光ファイバであり、第２のファイバ切り換え
選択装置Ｅ2 側では同様に、複数の光ファイバカプラモ
ジュール18′の各光ファイバカプラ17の出力側光ファイ
バ22に接続される光ファイバである。これら、受け側光
ファイバ10は基板25の上面に形成した所定ピッチ間隔
（図２の例では等ピッチ間隔）に配列形成されたＶ溝26
内に収容固定された光ファイバ配列群となっており、こ
の光ファイバ配列群に対向する側にマスター光ファイバ
が設けられる。
【００２１】このマスター光ファイバは、移動ステージ
27上に固定装着され、マスター光ファイバの先端側は移
動ステージ27から先方に伸張されている。移動ステージ
27は図示されていない駆動機構によって、三次元のＸ方
向（横方向）と、Ｙ方向（縦方向）と、Ｚ方向（マスタ
ー光ファイバの光軸方向に沿う進退方向）の移動がファ
イバ切り換え選択装置Ｅ1 ，Ｅ2 の制御機構（図示せ
ず）によって制御されて行われている。
27上に固定装着され、マスター光ファイバの先端側は移
動ステージ27から先方に伸張されている。移動ステージ
27は図示されていない駆動機構によって、三次元のＸ方
向（横方向）と、Ｙ方向（縦方向）と、Ｚ方向（マスタ
ー光ファイバの光軸方向に沿う進退方向）の移動がファ
イバ切り換え選択装置Ｅ1 ，Ｅ2 の制御機構（図示せ
ず）によって制御されて行われている。
【００２２】また、移動ステージ27にはマスター光ファ
イバの先端側をＶ溝26に押し込み保持するファイバ押え
具28が設けられている。このファイバ押え具28は回動軸
30を支点としてファイバ押え方向の反時計方向と、ファ
イバ押え解除方向の時計回りとの正逆回動が自在となっ
ており、この正逆回動は図示されていないアクチエータ
によって行われており、このアクチエータの動作もファ
イバ切り換え選択装置Ｅ1 ，Ｅ2 の制御機構によって制
御されている。
イバの先端側をＶ溝26に押し込み保持するファイバ押え
具28が設けられている。このファイバ押え具28は回動軸
30を支点としてファイバ押え方向の反時計方向と、ファ
イバ押え解除方向の時計回りとの正逆回動が自在となっ
ており、この正逆回動は図示されていないアクチエータ
によって行われており、このアクチエータの動作もファ
イバ切り換え選択装置Ｅ1 ，Ｅ2 の制御機構によって制
御されている。
【００２３】この実施形態例のファイバ切り換え機構で
は、試験制御部１側からマスター光ファイバの接続相手
の受け側光ファイバ10の心線番号が指令されると、駆動
機構により、移動ステージ27の送り移動が制御され、マ
スター光ファイバは指令された心線番号の受け側光ファ
イバ10と同じＶ溝上に送り移動される。この状態で、フ
ァイバ押え具28をファイバ押え方向に回動して、マスタ
ー光ファイバの先端側をＶ溝26に収容保持することで、
接続相手の受け側光ファイバ10とマスター光ファイバと
の調心が行われ、指令された受け側光ファイバとマスタ
ー光ファイバとの接続が達成される。
は、試験制御部１側からマスター光ファイバの接続相手
の受け側光ファイバ10の心線番号が指令されると、駆動
機構により、移動ステージ27の送り移動が制御され、マ
スター光ファイバは指令された心線番号の受け側光ファ
イバ10と同じＶ溝上に送り移動される。この状態で、フ
ァイバ押え具28をファイバ押え方向に回動して、マスタ
ー光ファイバの先端側をＶ溝26に収容保持することで、
接続相手の受け側光ファイバ10とマスター光ファイバと
の調心が行われ、指令された受け側光ファイバとマスタ
ー光ファイバとの接続が達成される。
【００２４】このように、接続相手の受け側光ファイバ
の心線番号が指令される毎に、マスター光ファイバの送
り移動が行われ、マスター光ファイバと受け側光ファイ
バ10との接続切り換えが順次行われ、従来例と同様に、
光線路保守システムの自己検査と、この自己検査の終了
後のＯＴＤＲ４等の測定器を用いた各光線路の傷害点検
出等の測定が行われるのである。
の心線番号が指令される毎に、マスター光ファイバの送
り移動が行われ、マスター光ファイバと受け側光ファイ
バ10との接続切り換えが順次行われ、従来例と同様に、
光線路保守システムの自己検査と、この自己検査の終了
後のＯＴＤＲ４等の測定器を用いた各光線路の傷害点検
出等の測定が行われるのである。
【００２５】この実施形態例では、第１のファイバ切り
換え選択装置Ｅ1 と第２のファイバ切り換え選択装置Ｅ
2 のファイバ切り換え機構をＶ溝26を利用した構成とし
たので、従来例のコネクタによる切り換え方式に比べ、
大幅な装置の小型化を達成することができた。この実施
形態例では、試験制御部１側の光スイッチ６′もファイ
バ切り換え選択装置Ｅ1 ，Ｅ2 と同様にＶ溝を利用した
切り換え機構を採用しているので、試験制御部１の装置
小型も達成でき、システム全体の装置の小型化が可能と
なった。
換え選択装置Ｅ1 と第２のファイバ切り換え選択装置Ｅ
2 のファイバ切り換え機構をＶ溝26を利用した構成とし
たので、従来例のコネクタによる切り換え方式に比べ、
大幅な装置の小型化を達成することができた。この実施
形態例では、試験制御部１側の光スイッチ６′もファイ
バ切り換え選択装置Ｅ1 ，Ｅ2 と同様にＶ溝を利用した
切り換え機構を採用しているので、試験制御部１の装置
小型も達成でき、システム全体の装置の小型化が可能と
なった。
【００２６】また、光ファイバカプラ17の入力側光ファ
イバの切り換え接続と、光ファイバカプラ17の出力側光
ファイバの切り換え接続とを別個のファイバ切り換え選
択装置で行うように構成したので、第１のファイバ切り
換え選択装置Ｅ1 と試験制御部１間に配線される光ファ
イバは１本の第１のマスター光ファイバ12だけでよく、
また、第２のファイバ切り換え選択装置Ｅ2 と試験制御
部１間に配線される光ファイバは１本の第２のマスター
光ファイバ14だけでよいこととなり、従来例の図３に示
す如く、各ファイバ切り換え選択装置Ａ1 〜Ａn 毎に第
１と第２の２本のマスター光ファイバ12，14を配線する
方式に比べ、ファイバ切り換え選択装置と試験制御部１
間に配線されるマスター光ファイバの本数が半減でき、
試験制御部１と各ファイバ切り換え選択装置Ｅ1 ，Ｅ2
間の光ファイバ配線の乱雑化を防止でき、すっきりした
形態で配線することが可能となり、その光ファイバの配
線処理の取り扱いも非常に容易となる。
イバの切り換え接続と、光ファイバカプラ17の出力側光
ファイバの切り換え接続とを別個のファイバ切り換え選
択装置で行うように構成したので、第１のファイバ切り
換え選択装置Ｅ1 と試験制御部１間に配線される光ファ
イバは１本の第１のマスター光ファイバ12だけでよく、
また、第２のファイバ切り換え選択装置Ｅ2 と試験制御
部１間に配線される光ファイバは１本の第２のマスター
光ファイバ14だけでよいこととなり、従来例の図３に示
す如く、各ファイバ切り換え選択装置Ａ1 〜Ａn 毎に第
１と第２の２本のマスター光ファイバ12，14を配線する
方式に比べ、ファイバ切り換え選択装置と試験制御部１
間に配線されるマスター光ファイバの本数が半減でき、
試験制御部１と各ファイバ切り換え選択装置Ｅ1 ，Ｅ2
間の光ファイバ配線の乱雑化を防止でき、すっきりした
形態で配線することが可能となり、その光ファイバの配
線処理の取り扱いも非常に容易となる。
【００２７】さらに、前記の如く、光ファイバカプラ17
の入力側光ファイバの接続切り換えと、出力側光ファイ
バの接続切り換えとを別個のファイバ切り換え選択装置
Ｅ1，Ｅ2 により独立して行うように構成したので、例
えば、ＯＴＤＲ４を用いて光ケーブルの各光線路の測定
を行うような場合、第２のファイバ切り換え選択装置Ｅ
2 側で、測定対象の光線路に結合している光ファイバカ
プラ17の出力側光ファイバ22と第２のマスター光ファイ
バ14との接続を解除することにより、光ファイバカプラ
17からの試験光の戻りの光が試験制御部１側に入るのを
阻止することができ、これにより、試験光の戻りの光に
よって試験制御部１側の光源３や、光パワーメータ２等
の測定器類が悪影響を受けるという従来の問題点を完璧
に防止することが可能となり、試験制御部１側での検査
測定の信頼性を大幅に高めることが可能になった。
の入力側光ファイバの接続切り換えと、出力側光ファイ
バの接続切り換えとを別個のファイバ切り換え選択装置
Ｅ1，Ｅ2 により独立して行うように構成したので、例
えば、ＯＴＤＲ４を用いて光ケーブルの各光線路の測定
を行うような場合、第２のファイバ切り換え選択装置Ｅ
2 側で、測定対象の光線路に結合している光ファイバカ
プラ17の出力側光ファイバ22と第２のマスター光ファイ
バ14との接続を解除することにより、光ファイバカプラ
17からの試験光の戻りの光が試験制御部１側に入るのを
阻止することができ、これにより、試験光の戻りの光に
よって試験制御部１側の光源３や、光パワーメータ２等
の測定器類が悪影響を受けるという従来の問題点を完璧
に防止することが可能となり、試験制御部１側での検査
測定の信頼性を大幅に高めることが可能になった。
【００２８】なお、本発明は上記実施形態例に限定され
ることはなく、様々な実施の形態を採り得るものであ
る。
ることはなく、様々な実施の形態を採り得るものであ
る。
【００２９】
【発明の効果】本発明は、第１のマスター光ファイバと
光ファイバカプラの入力側光ファイバとの接続切り換え
を第１のファイバ切り換え選択装置で行い、第２のマス
ター光ファイバと光ファイバカプラの出力側光ファイバ
との切り換え接続を第２のファイバ切り換え選択装置で
行うという如く、光ファイバカプラの入力側光ファイバ
の切り換え接続と、出力側光ファイバの接続切り換えと
を別個のファイバ切り換え選択装置で独立に行うように
構成したものであるから、第１と第２の各ファイバ切り
換え選択装置側と試験制御部側に配線される光ファイバ
は第１のマスター光ファイバ又は第２のマスター光ファ
イバの１本だけでよく、従来例の如く、各ファイバ切り
換え選択装置側と試験制御部側に第１と第２の２本のマ
スター光ファイバを配線するのに比べ、光ファイバの配
線数が半分となり、ファイバ切り換え選択装置と試験制
御部側との光ファイバ配線の乱雑化を防止でき、すっき
りした形態で配線することができるとともに、その光フ
ァイバの配線処理の取り扱いも容易となる。
光ファイバカプラの入力側光ファイバとの接続切り換え
を第１のファイバ切り換え選択装置で行い、第２のマス
ター光ファイバと光ファイバカプラの出力側光ファイバ
との切り換え接続を第２のファイバ切り換え選択装置で
行うという如く、光ファイバカプラの入力側光ファイバ
の切り換え接続と、出力側光ファイバの接続切り換えと
を別個のファイバ切り換え選択装置で独立に行うように
構成したものであるから、第１と第２の各ファイバ切り
換え選択装置側と試験制御部側に配線される光ファイバ
は第１のマスター光ファイバ又は第２のマスター光ファ
イバの１本だけでよく、従来例の如く、各ファイバ切り
換え選択装置側と試験制御部側に第１と第２の２本のマ
スター光ファイバを配線するのに比べ、光ファイバの配
線数が半分となり、ファイバ切り換え選択装置と試験制
御部側との光ファイバ配線の乱雑化を防止でき、すっき
りした形態で配線することができるとともに、その光フ
ァイバの配線処理の取り扱いも容易となる。
【００３０】また、第１のマスター光ファイバと第２の
マスター光ファイバを別個のファイバ切り換え選択装置
で独立に切り換え制御できるので、第１のマスター光フ
ァイバを光ファイバカプラの入力側光ファイバに接続
し、第２のマスター光ファイバを光ファイバカプラの出
力側光ファイバに接続することで、試験制御部側でシス
テム自身の自己検査を行うことができるとともに、試験
制御部側で、ＯＴＤＲ等の測定器を使用して光線路の傷
害点検出等の測定を行う場合には、第２のファイバ切り
換え選択装置側で、測定対象の光線路に結合している光
ファイバカプラの出力側光ファイバと第２のマスター光
ファイバとの接続を解除することで、光ファイバカプラ
からの試験光の戻り光が試験制御部側に戻るのを防止す
ることが可能となり、これにより、試験光の戻りの光に
よって、試験制御部側の光源や各種の測定器が悪影響を
受けることがなくなり、試験制御部で行う各種測定の信
頼性を格段に高めることが可能となる。
マスター光ファイバを別個のファイバ切り換え選択装置
で独立に切り換え制御できるので、第１のマスター光フ
ァイバを光ファイバカプラの入力側光ファイバに接続
し、第２のマスター光ファイバを光ファイバカプラの出
力側光ファイバに接続することで、試験制御部側でシス
テム自身の自己検査を行うことができるとともに、試験
制御部側で、ＯＴＤＲ等の測定器を使用して光線路の傷
害点検出等の測定を行う場合には、第２のファイバ切り
換え選択装置側で、測定対象の光線路に結合している光
ファイバカプラの出力側光ファイバと第２のマスター光
ファイバとの接続を解除することで、光ファイバカプラ
からの試験光の戻り光が試験制御部側に戻るのを防止す
ることが可能となり、これにより、試験光の戻りの光に
よって、試験制御部側の光源や各種の測定器が悪影響を
受けることがなくなり、試験制御部で行う各種測定の信
頼性を格段に高めることが可能となる。
【図１】本発明の一実施形態例を示すブロック構成図で
ある。
ある。
【図２】同実施形態例で採用しているＶ溝を用いたマス
ター光ファイバのスイッチ切り換え機構を示す説明図で
ある。
ター光ファイバのスイッチ切り換え機構を示す説明図で
ある。
【図３】従来の光線路保守システムのブロック構成図で
ある。
ある。
１ 試験制御部 10 受け側光ファイバ 12 第１のマスター光ファイバ 14 第２のマスター光ファイバ 17 光ファイバカプラ 26 Ｖ溝 Ｅ1 第１のファイバ切り換え選択装置 Ｅ2 第２のファイバ切り換え選択装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中尾 直樹 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 海老原 孝 東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 日 本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平６−177838（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−238237（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−211513（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/02 H04B 10/08 H04M 3/26
Claims (1)
- 【請求項１】 試験光を発生する光源と、少くとも光パ
ワーメータとパルス試験器を含む複数の測定器類とを備
え、前記光源の光を用いた光線路の測定の種類に応じて
使用する測定器の選択切り換えを行う試験制御部と、多
心の光線路の各心毎に試験光との光結合を行う分岐形の
複数の光ファイバカプラと、各光ファイバカプラの入力
側光ファイバに通じる受け側光ファイバが所定のピッチ
間隔のＶ溝内に収容固定されて配列され、この光ファイ
バ配列群に対向する側には前記試験制御部に接続される
１本の第１のマスター光ファイバが設けられ、この第１
のマスター光ファイバを移動して指令された光ファイバ
カプラの入力側光ファイバに受け側光ファイバを介して
接続する第１のファイバ切り換え選択装置と、各光ファ
イバカプラの出力側光ファイバに通じる受け側光ファイ
バが所定のピッチ間隔のＶ溝内に収容固定されて配列さ
れ、この光ファイバ配列群に対向する側には前記試験制
御部に接続される１本の第２のマスター光ファイバが設
けられ、この第２のマスター光ファイバを移動して指令
された光ファイバカプラの出力側光ファイバに受け側光
ファイバを介して接続する第２のファイバ切り換え選択
装置と、を有し、第１のマスター光ファイバの接続切り
換えと第２のマスター光ファイバの接続切り換えを別個
のファイバ切り換え選択装置で独立に行うようにしたこ
とを特徴とする光線路保守システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7323656A JP3042594B2 (ja) | 1995-11-17 | 1995-11-17 | 光線路保守システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7323656A JP3042594B2 (ja) | 1995-11-17 | 1995-11-17 | 光線路保守システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09145538A JPH09145538A (ja) | 1997-06-06 |
| JP3042594B2 true JP3042594B2 (ja) | 2000-05-15 |
Family
ID=18157148
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7323656A Expired - Lifetime JP3042594B2 (ja) | 1995-11-17 | 1995-11-17 | 光線路保守システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3042594B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5655701B2 (ja) * | 2011-05-17 | 2015-01-21 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバの測定方法及び光ファイバ測定装置 |
| US20150147055A1 (en) * | 2012-05-18 | 2015-05-28 | Nec Corporation | Optical system, optical device, and optical connection method |
| JP2016057119A (ja) | 2014-09-08 | 2016-04-21 | 横河電機株式会社 | 光パルス試験器 |
-
1995
- 1995-11-17 JP JP7323656A patent/JP3042594B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09145538A (ja) | 1997-06-06 |
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