JP3042087B2 - 可変減衰器 - Google Patents
可変減衰器Info
- Publication number
- JP3042087B2 JP3042087B2 JP3285059A JP28505991A JP3042087B2 JP 3042087 B2 JP3042087 B2 JP 3042087B2 JP 3285059 A JP3285059 A JP 3285059A JP 28505991 A JP28505991 A JP 28505991A JP 3042087 B2 JP3042087 B2 JP 3042087B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- attenuator
- error
- correction data
- setting
- variable attenuator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Landscapes
- Non-Reversible Transmitting Devices (AREA)
- Attenuators (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロ波帯通信装置
及び電力増幅器等の特性測定の際、信号レベルの設定に
使用する可変減衰器に関し、特に誤差補正データを使用
した高精度設定機能及び補正データ更新機能を具備した
可変減衰器に関する。
及び電力増幅器等の特性測定の際、信号レベルの設定に
使用する可変減衰器に関し、特に誤差補正データを使用
した高精度設定機能及び補正データ更新機能を具備した
可変減衰器に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の可変減衰器においては、
設定誤差、周波数特性誤差及び温度特性誤差は、規格と
して提示されているだけのものが多い。
設定誤差、周波数特性誤差及び温度特性誤差は、規格と
して提示されているだけのものが多い。
【０００３】また、誤差補正データをもとに、補正をか
ける方法は存在するが、自ら誤差補正データを取得し、
更新をかける機能はない。
ける方法は存在するが、自ら誤差補正データを取得し、
更新をかける機能はない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来の方法で
は、以下のような問題点がある。
は、以下のような問題点がある。
【０００５】（１）各種の誤差が規格として提示されて
いるだけの可変減衰器は、減衰量を正確に設定するため
には、これらの誤差を実測して確認しながら、この実測
結果を基に減衰量を設定する必要がある。
いるだけの可変減衰器は、減衰量を正確に設定するため
には、これらの誤差を実測して確認しながら、この実測
結果を基に減衰量を設定する必要がある。
【０００６】（２）規格で提示された誤差を補正データ
として記憶しておき、そのデータをもとに補正をかける
場合、補正データの正確性が特に重要であり、補正デー
タの更新を容易に行うことができるようにしておかない
と、減衰器の経年変化による特性補正を行うことができ
ない。
として記憶しておき、そのデータをもとに補正をかける
場合、補正データの正確性が特に重要であり、補正デー
タの更新を容易に行うことができるようにしておかない
と、減衰器の経年変化による特性補正を行うことができ
ない。
【０００７】（３）誤差を含んだ減衰器を自動測定シス
テム等で使用した場合、誤差補正を測定システム内のプ
ログラムにて行う必要があり、プログラムが複雑になる
虞れがある。
テム等で使用した場合、誤差補正を測定システム内のプ
ログラムにて行う必要があり、プログラムが複雑になる
虞れがある。
【０００８】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、高精度で減衰量を設定することができ、作
業性が向上し、補正データの更新を自動化することがで
きる可変減衰器を提供することを目的とする。
のであって、高精度で減衰量を設定することができ、作
業性が向上し、補正データの更新を自動化することがで
きる可変減衰器を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明に係る可変減衰器
は、リニアリティー特性をもつＰＩＮダイオードを使用
したＰＩＮ減衰器と、外部制御により設定可能なプログ
ラマブルステップ減衰器と、予め補正データとして取得
された各減衰器の設定誤差、周波数特性誤差及び温度特
性誤差の少なくとも１つが電気的に読み書き可能なＲＯ
Ｍに登録され、減衰量設定の際に、前記補正データをも
とに設定値に補正をかける制御手段とを有することを特
徴とする。
は、リニアリティー特性をもつＰＩＮダイオードを使用
したＰＩＮ減衰器と、外部制御により設定可能なプログ
ラマブルステップ減衰器と、予め補正データとして取得
された各減衰器の設定誤差、周波数特性誤差及び温度特
性誤差の少なくとも１つが電気的に読み書き可能なＲＯ
Ｍに登録され、減衰量設定の際に、前記補正データをも
とに設定値に補正をかける制御手段とを有することを特
徴とする。
【００１０】
【作用】本発明においては、制御手段が、予め電気的に
読み書き可能なＲＯＭ（以下、ＥＥＰＲＯＭという）
に、各減衰器の設定誤差、周波数特性誤差又は温度特性
誤差という補正データを登録しておき、この補正データ
を基に、減衰量設定の際に、設定値に補正をかけるか
ら、この補正機能により高精度の減衰量設定が可能であ
る。また、本発明においては、補正データの更新も容易
に行うようにするために、制御手段が、誤差データ取得
のために使用する信号発生器及びデジタル電力計の制御
とＥＥＰＲＯＭの更新処理を行うように構成しても良
い。
読み書き可能なＲＯＭ（以下、ＥＥＰＲＯＭという）
に、各減衰器の設定誤差、周波数特性誤差又は温度特性
誤差という補正データを登録しておき、この補正データ
を基に、減衰量設定の際に、設定値に補正をかけるか
ら、この補正機能により高精度の減衰量設定が可能であ
る。また、本発明においては、補正データの更新も容易
に行うようにするために、制御手段が、誤差データ取得
のために使用する信号発生器及びデジタル電力計の制御
とＥＥＰＲＯＭの更新処理を行うように構成しても良
い。
【００１１】
【実施例】次に、本発明の実施例について添付の図面を
参照して説明する。
参照して説明する。
【００１２】図１は本発明の実施例に係る誤差補正デー
タ自動更新機能付高精度可変減衰器を示すブロック図で
ある。この可変減衰器は、システムコントローラ３と、
リニアリティ特性が優れたＰＩＮダイオードを使用した
ＰＩＮ減衰器４と、外部制御により設定可能なプログラ
マブルステップ減衰器５，６と、システムコントローラ
３の信号をデジタル／アナログ変換してＰＩＮ減衰器４
に与えるＤ／Ａ変換回路７と、これらの減衰器の周囲温
度を測定する温度センサ８とを有する。設定誤差、並び
に周波数特性及び温度特性による誤差を生じる部分がＰ
ＩＮダイオードを用いた減衰器４及び外部制御により設
定可能なステップ減衰器５，６である。なお、ＰＩＮダ
イオードを用いた減衰器４は、デジタル／アナログ変換
回路７を介して設定されている。
タ自動更新機能付高精度可変減衰器を示すブロック図で
ある。この可変減衰器は、システムコントローラ３と、
リニアリティ特性が優れたＰＩＮダイオードを使用した
ＰＩＮ減衰器４と、外部制御により設定可能なプログラ
マブルステップ減衰器５，６と、システムコントローラ
３の信号をデジタル／アナログ変換してＰＩＮ減衰器４
に与えるＤ／Ａ変換回路７と、これらの減衰器の周囲温
度を測定する温度センサ８とを有する。設定誤差、並び
に周波数特性及び温度特性による誤差を生じる部分がＰ
ＩＮダイオードを用いた減衰器４及び外部制御により設
定可能なステップ減衰器５，６である。なお、ＰＩＮダ
イオードを用いた減衰器４は、デジタル／アナログ変換
回路７を介して設定されている。
【００１３】これらの減衰器で生じる誤差を、誤差測定
用コネクタ１１及び減衰器の入出力コネクタ９，１０を
使用し、システムコントローラ３が、直接、信号発生器
１とデジタル電力計２を制御して測定する。この制御プ
ログラムは、システムコントローラ３に予め登録されて
いる。
用コネクタ１１及び減衰器の入出力コネクタ９，１０を
使用し、システムコントローラ３が、直接、信号発生器
１とデジタル電力計２を制御して測定する。この制御プ
ログラムは、システムコントローラ３に予め登録されて
いる。
【００１４】この際、周波数特性及び温度特性による誤
差も測定し、そのデータを誤差補正データとしてシステ
ムコントローラ３のデータ格納部（ＥＥＰＲＯＭ）に登
録する。また、減衰量設定の場合は、使用周波数帯及び
温度センサ８による温度特性データを基に、補正データ
を参照してデータを換算し、この補正された減衰量設定
値を各減衰器４，５，６へ送る。
差も測定し、そのデータを誤差補正データとしてシステ
ムコントローラ３のデータ格納部（ＥＥＰＲＯＭ）に登
録する。また、減衰量設定の場合は、使用周波数帯及び
温度センサ８による温度特性データを基に、補正データ
を参照してデータを換算し、この補正された減衰量設定
値を各減衰器４，５，６へ送る。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、下
記の効果が得られる。
記の効果が得られる。
【００１６】設定誤差並びに周波数特性及び温度特性に
よる誤差が補正されるため、高精度で減衰量を設定で
き、測定データの信頼性が著しく向上する。また、制御
手段がこの補正データを更新するようにすれば、従来の
ように、設定及び周波数がかわるたびに、減衰量を実測
し、確認するという作業が不要となるため、作業性が向
上する。本発明においては、補正データをＥＥＰＲＯＭ
に登録してあるため、従来行っていたように、ＲＯＭラ
イターを使用することなく、データ更新が可能となり、
このことにより補正データ更新を完全自動化することが
できる。従来、設定誤差等により自動測定システムの構
築に問題があったが、本発明によれば、自動測定システ
ムの構築が可能となる。
よる誤差が補正されるため、高精度で減衰量を設定で
き、測定データの信頼性が著しく向上する。また、制御
手段がこの補正データを更新するようにすれば、従来の
ように、設定及び周波数がかわるたびに、減衰量を実測
し、確認するという作業が不要となるため、作業性が向
上する。本発明においては、補正データをＥＥＰＲＯＭ
に登録してあるため、従来行っていたように、ＲＯＭラ
イターを使用することなく、データ更新が可能となり、
このことにより補正データ更新を完全自動化することが
できる。従来、設定誤差等により自動測定システムの構
築に問題があったが、本発明によれば、自動測定システ
ムの構築が可能となる。
【図１】本発明の実施例に係る誤差補正データ自動更新
機能付高精度可変減衰器を示すブロック図である。
機能付高精度可変減衰器を示すブロック図である。
１；信号発生器 ２；デジタル電力計 ３；システムコントローラ（減衰器制御部、補正データ
換算、格納部（ＥＥＰＲＯＭ）及びＣＰＵ） ４；ＰＩＮ減衰器 ５，６；プログラマブルステップ減衰器 ７；デジタル／アナログ交換部 ８；温度センサ ９，１０；減衰器の入出力コネクター １１；各減衰器の誤差測定用コネクター
換算、格納部（ＥＥＰＲＯＭ）及びＣＰＵ） ４；ＰＩＮ減衰器 ５，６；プログラマブルステップ減衰器 ７；デジタル／アナログ交換部 ８；温度センサ ９，１０；減衰器の入出力コネクター １１；各減衰器の誤差測定用コネクター
Claims (2)
- 【請求項１】 リニアリティー特性をもつＰＩＮダイオ
ードを使用したＰＩＮ減衰器と、外部制御により設定可
能なプログラマブルステップ減衰器と、予め補正データ
として取得された各減衰器の設定誤差、周波数特性誤差
及び温度特性誤差の少なくとも１つが電気的に読み書き
可能なＲＯＭに登録され、減衰量設定の際に、前記補正
データをもとに設定値に補正をかける制御手段とを有す
ることを特徴とする可変減衰器。 - 【請求項２】 前記制御手段は、前記補正データを所定
の周期で更新することを特徴とする請求項１に記載の可
変減衰器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3285059A JP3042087B2 (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | 可変減衰器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3285059A JP3042087B2 (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | 可変減衰器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05126594A JPH05126594A (ja) | 1993-05-21 |
| JP3042087B2 true JP3042087B2 (ja) | 2000-05-15 |
Family
ID=17686632
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3285059A Expired - Lifetime JP3042087B2 (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | 可変減衰器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3042087B2 (ja) |
-
1991
- 1991-10-30 JP JP3285059A patent/JP3042087B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05126594A (ja) | 1993-05-21 |
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