JP3025833B2 - ビデオ信号による検査装置 - Google Patents
ビデオ信号による検査装置Info
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- JP3025833B2 JP3025833B2 JP6285112A JP28511294A JP3025833B2 JP 3025833 B2 JP3025833 B2 JP 3025833B2 JP 6285112 A JP6285112 A JP 6285112A JP 28511294 A JP28511294 A JP 28511294A JP 3025833 B2 JP3025833 B2 JP 3025833B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ビデオ信号による検
査装置に関し、さらに詳しくは、検査対象物の良否を判
定するための閾値パターンを、良品の信号パターンを基
にして自動生成することが出来るようにしたビデオ信号
による検査装置に関する。
査装置に関し、さらに詳しくは、検査対象物の良否を判
定するための閾値パターンを、良品の信号パターンを基
にして自動生成することが出来るようにしたビデオ信号
による検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３に、従来の撮像式検査装置の一例を
示す。この撮像式検査装置５００は、撮像部１と，信号
処理部２と，タイミング設定部５１と，閾値設定部５２
と，タイミング抽出部５３と，閾値切換部５４と，比較
部８とを具備している。
示す。この撮像式検査装置５００は、撮像部１と，信号
処理部２と，タイミング設定部５１と，閾値設定部５２
と，タイミング抽出部５３と，閾値切換部５４と，比較
部８とを具備している。
【０００３】前記撮像部１は、例えばＣＣＤカメラであ
り、検査対象物Ｓの搬送装置Ｃからのトリガ信号Ｔに基
づいて検査対象物Ｓの画像を取得し、ビデオ信号を出力
する。なお、説明の簡単化のため、画像を構成する多数
のラスタ中の一つのラスタＲｉに対応するビデオ信号の
みに着目して説明を行うこととする。前記信号処理部２
は、前記撮像部１からのビデオ信号に例えば微分や積分
の信号処理を施したビデオ信号Ｖｉを出力する。
り、検査対象物Ｓの搬送装置Ｃからのトリガ信号Ｔに基
づいて検査対象物Ｓの画像を取得し、ビデオ信号を出力
する。なお、説明の簡単化のため、画像を構成する多数
のラスタ中の一つのラスタＲｉに対応するビデオ信号の
みに着目して説明を行うこととする。前記信号処理部２
は、前記撮像部１からのビデオ信号に例えば微分や積分
の信号処理を施したビデオ信号Ｖｉを出力する。
【０００４】前記タイミング設定部５１は、ビデオ信号
Ｖｉ中の検査期間を設定する。例えば、検査対象物Ｓの
表面の傷を検査したいが、検査対象物Ｓの表面の一部が
ラベルＥで隠されている場合、図４に示すように、検査
対象物Ｓの表面が見えているビデオ信号Ｖｉ中の期間
［ｓｉ１〜ｑｉ１］および［ｓｉ２，ｑｉ２］を設定す
る。前記閾値設定部５２は、図４に示すように、ビデオ
信号Ｖｉ中の検査期間における上閾値ｅｉおよび下閾値
ｆｉを設定する。
Ｖｉ中の検査期間を設定する。例えば、検査対象物Ｓの
表面の傷を検査したいが、検査対象物Ｓの表面の一部が
ラベルＥで隠されている場合、図４に示すように、検査
対象物Ｓの表面が見えているビデオ信号Ｖｉ中の期間
［ｓｉ１〜ｑｉ１］および［ｓｉ２，ｑｉ２］を設定す
る。前記閾値設定部５２は、図４に示すように、ビデオ
信号Ｖｉ中の検査期間における上閾値ｅｉおよび下閾値
ｆｉを設定する。
【０００５】前記タイミング抽出部５３は、前記撮像部
１からのビデオ信号より期間［ｓｉ１〜ｑｉ１］および
［ｓｉ２，ｑｉ２］を抽出し、閾値切換部５４における
閾値の切換を制御する。前記閾値切換部５４は、期間
［ｓｉ１〜ｑｉ１］および［ｓｉ２，ｑｉ２］では上閾
値ｅｉおよび下閾値ｆｉを出力し、その他の期間ではビ
デオ信号の白レベルに相当する上閾値ｗおよびビデオ信
号の黒レベルに相当する下閾値ｂを出力する。
１からのビデオ信号より期間［ｓｉ１〜ｑｉ１］および
［ｓｉ２，ｑｉ２］を抽出し、閾値切換部５４における
閾値の切換を制御する。前記閾値切換部５４は、期間
［ｓｉ１〜ｑｉ１］および［ｓｉ２，ｑｉ２］では上閾
値ｅｉおよび下閾値ｆｉを出力し、その他の期間ではビ
デオ信号の白レベルに相当する上閾値ｗおよびビデオ信
号の黒レベルに相当する下閾値ｂを出力する。
【０００６】前記比較部８は、図４に示すように、ビデ
オ信号Ｖｉが上閾値ｗおよびｅｉと下閾値ｂおよびｆｉ
の間に入っているときに“良”を示すレベルとなり，そ
れ以外は“不良”を示すレベルとなる良否判定信号Ｄｉ
を出力する。
オ信号Ｖｉが上閾値ｗおよびｅｉと下閾値ｂおよびｆｉ
の間に入っているときに“良”を示すレベルとなり，そ
れ以外は“不良”を示すレベルとなる良否判定信号Ｄｉ
を出力する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来の撮像式検査装置
では、ビデオ信号の不要部分をマスキングしなければな
らない場合があった。例えば、上記撮像式検査装置５０
０では、検査対象物Ｓに貼ってあるラベルＥの部分をマ
スキングしなければ、ラベルＥの模様のビデオ信号が下
閾値ｆｉよりも下になるため、“不良”と判定されてし
まう。しかし、ビデオ信号の不要部分をマスキングする
ための設定操作が煩雑となる問題点がある。そこで、こ
の発明の目的は、ビデオ信号の不要部分をマスキングす
るための設定操作を省略することを可能としたビデオ信
号による検査装置を提供することにある。
では、ビデオ信号の不要部分をマスキングしなければな
らない場合があった。例えば、上記撮像式検査装置５０
０では、検査対象物Ｓに貼ってあるラベルＥの部分をマ
スキングしなければ、ラベルＥの模様のビデオ信号が下
閾値ｆｉよりも下になるため、“不良”と判定されてし
まう。しかし、ビデオ信号の不要部分をマスキングする
ための設定操作が煩雑となる問題点がある。そこで、こ
の発明の目的は、ビデオ信号の不要部分をマスキングす
るための設定操作を省略することを可能としたビデオ信
号による検査装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、この発
明は、Ｍ（≧１）個の良品を同じ撮像手段で同一条件
（走査の向き、走査速度等）で撮像し、その各走査の開
始から終了までの時間計測をｔで表し、各ビデオ信号パ
ターンをＶｉ１（ｔ），…，ＶｉＭ（ｔ）で表すとき、
ビデオ信号パターン｛Ｖｉ１（ｔ），…，ＶｉＭ
（ｔ）｝の最大値をオフセット値ΔＨｉだけ大きい側へ
オフセットした信号パターンＨｉ（ｔ）およびビデオ信
号パターン｛Ｖｉ１（ｔ），…，ＶｉＭ（ｔ）｝の最小
値をオフセット値ΔＬｉだけ小さい側へのオフセットし
た信号パターンＬｉ（ｔ）の少なくとも一方を生成する
信号パターン生成部と、前記信号パターンＨｉまたはＬ
ｉを閾値パターンＡｉまたはＢｉとするか又は前記信号
パターンＨｉまたはＬｉを信号処理して閾値パターンＡ
ｉまたはＢｉを生成する閾値パターン生成手段と、検査
対象物を前記と同一の撮像手段で同一の条件（走査の向
き、走査速度等）で撮像して得たビデオ信号またはそれ
を信号処理したビデオ信号と前記閾値パターンＡｉおよ
びＢｉの少なくとも一方とを比較して検査対象物の良否
判定信号を出力する比較手段とを具備したことを特徴と
するビデオ信号による検査装置を提供する。
明は、Ｍ（≧１）個の良品を同じ撮像手段で同一条件
（走査の向き、走査速度等）で撮像し、その各走査の開
始から終了までの時間計測をｔで表し、各ビデオ信号パ
ターンをＶｉ１（ｔ），…，ＶｉＭ（ｔ）で表すとき、
ビデオ信号パターン｛Ｖｉ１（ｔ），…，ＶｉＭ
（ｔ）｝の最大値をオフセット値ΔＨｉだけ大きい側へ
オフセットした信号パターンＨｉ（ｔ）およびビデオ信
号パターン｛Ｖｉ１（ｔ），…，ＶｉＭ（ｔ）｝の最小
値をオフセット値ΔＬｉだけ小さい側へのオフセットし
た信号パターンＬｉ（ｔ）の少なくとも一方を生成する
信号パターン生成部と、前記信号パターンＨｉまたはＬ
ｉを閾値パターンＡｉまたはＢｉとするか又は前記信号
パターンＨｉまたはＬｉを信号処理して閾値パターンＡ
ｉまたはＢｉを生成する閾値パターン生成手段と、検査
対象物を前記と同一の撮像手段で同一の条件（走査の向
き、走査速度等）で撮像して得たビデオ信号またはそれ
を信号処理したビデオ信号と前記閾値パターンＡｉおよ
びＢｉの少なくとも一方とを比較して検査対象物の良否
判定信号を出力する比較手段とを具備したことを特徴と
するビデオ信号による検査装置を提供する。
【０００９】第２の観点では、この発明は、上記構成の
ビデオ信号による検査装置において、前記閾値パターン
生成手段は、信号パターンＨ（ｔ）に対しては、 Ａ(ｔ)＝max｛Ｈ(ｔ-Δα)〜Ｈ(ｔ+Δα)｝ （max｛｝は｛｝中の最大値をとる関数。Δαは時間幅
パラメータ）。 なるｍａｘ処理により閾値パターンＡ(ｔ)を生成し、信
号パターンＬ（ｔ）に対しては、 Ｂ(ｔ)＝min｛Ｌ(ｔ-Δβ)〜Ｌ(ｔ+Δβ)｝ （min｛｝は｛｝中の最小値をとる関数。Δβは時間幅
パラメータ）。 なるｍｉｎ処理により閾値パターンＢ(ｔ)を生成するこ
とを特徴とするビデオ信号による検査装置を提供する。
ビデオ信号による検査装置において、前記閾値パターン
生成手段は、信号パターンＨ（ｔ）に対しては、 Ａ(ｔ)＝max｛Ｈ(ｔ-Δα)〜Ｈ(ｔ+Δα)｝ （max｛｝は｛｝中の最大値をとる関数。Δαは時間幅
パラメータ）。 なるｍａｘ処理により閾値パターンＡ(ｔ)を生成し、信
号パターンＬ（ｔ）に対しては、 Ｂ(ｔ)＝min｛Ｌ(ｔ-Δβ)〜Ｌ(ｔ+Δβ)｝ （min｛｝は｛｝中の最小値をとる関数。Δβは時間幅
パラメータ）。 なるｍｉｎ処理により閾値パターンＢ(ｔ)を生成するこ
とを特徴とするビデオ信号による検査装置を提供する。
【００１０】
【作用】上記第１の観点によるビデオ信号による検査装
置では、信号パターン生成部によりＭ個の良品のビデオ
信号パターン｛Ｖｉ１（ｔ），…，ＶｉＭ（ｔ）｝に基
づいて良品のビデオ信号よりも常に大きい信号パターン
Ｈｉか又は常に小さい信号パターンＬｉを生成し、閾値
パターン生成手段により前記信号パターンＨｉまたはＬ
ｉを閾値パターンとするか又は前記信号パターンＨｉま
たはＬｉを信号処理して閾値パターンＡｉまたはＢｉを
生成し、比較手段によりビデオ信号またはそれを信号処
理したビデオ信号と前記閾値パターンＡｉまたはＢｉと
を比較して検査対象物の良否判定信号を出力する。そこ
で、検査対象物の良品を撮像して閾値パターンＡｉまた
はＢｉを生成しておけば、検査対象物の良否を判定する
ことが出来る。このとき、ビデオ信号の不要部分につい
ても閾値パターンが生成されるから、マスキングするた
めの設定操作を特に行う必要はない。
置では、信号パターン生成部によりＭ個の良品のビデオ
信号パターン｛Ｖｉ１（ｔ），…，ＶｉＭ（ｔ）｝に基
づいて良品のビデオ信号よりも常に大きい信号パターン
Ｈｉか又は常に小さい信号パターンＬｉを生成し、閾値
パターン生成手段により前記信号パターンＨｉまたはＬ
ｉを閾値パターンとするか又は前記信号パターンＨｉま
たはＬｉを信号処理して閾値パターンＡｉまたはＢｉを
生成し、比較手段によりビデオ信号またはそれを信号処
理したビデオ信号と前記閾値パターンＡｉまたはＢｉと
を比較して検査対象物の良否判定信号を出力する。そこ
で、検査対象物の良品を撮像して閾値パターンＡｉまた
はＢｉを生成しておけば、検査対象物の良否を判定する
ことが出来る。このとき、ビデオ信号の不要部分につい
ても閾値パターンが生成されるから、マスキングするた
めの設定操作を特に行う必要はない。
【００１１】上記第２の観点によるビデオ信号による検
査装置では、信号パターンＨ（ｔ）に対しては、閾値パ
ターン生成手段は、 Ａ(ｔ)＝max｛Ｈ(ｔ-Δα)〜Ｈ(ｔ+Δα)｝ （max｛｝は｛｝中の最大値をとる関数。Δαは時間幅
パラメータ）。 なるｍａｘ処理により閾値パターンＡ(ｔ)を生成する。
このｍａｘ処理による閾値パターンＡ(ｔ)を用いれば、
Δα以内の時間軸上のズレがあっても、良品を不良品と
判定する誤りを生じない。一方、信号パターンＬ（ｔ）
に対しては、閾値パターン生成手段は、 Ｂ(ｔ)＝min｛Ｌ(ｔ-Δβ)〜Ｌ(ｔ+Δβ)｝ （min｛｝は｛｝中の最小値をとる関数。Δβは時間幅
パラメータ）。 なるｍｉｎ処理により閾値パターンＢ(ｔ)を生成する。
このｍｉｎ処理による閾値パターンＢ(ｔ)を用いれば、
Δβ以内の時間軸上のズレがあっても、良品を不良品と
判定する誤りを生じない。
査装置では、信号パターンＨ（ｔ）に対しては、閾値パ
ターン生成手段は、 Ａ(ｔ)＝max｛Ｈ(ｔ-Δα)〜Ｈ(ｔ+Δα)｝ （max｛｝は｛｝中の最大値をとる関数。Δαは時間幅
パラメータ）。 なるｍａｘ処理により閾値パターンＡ(ｔ)を生成する。
このｍａｘ処理による閾値パターンＡ(ｔ)を用いれば、
Δα以内の時間軸上のズレがあっても、良品を不良品と
判定する誤りを生じない。一方、信号パターンＬ（ｔ）
に対しては、閾値パターン生成手段は、 Ｂ(ｔ)＝min｛Ｌ(ｔ-Δβ)〜Ｌ(ｔ+Δβ)｝ （min｛｝は｛｝中の最小値をとる関数。Δβは時間幅
パラメータ）。 なるｍｉｎ処理により閾値パターンＢ(ｔ)を生成する。
このｍｉｎ処理による閾値パターンＢ(ｔ)を用いれば、
Δβ以内の時間軸上のズレがあっても、良品を不良品と
判定する誤りを生じない。
【００１２】
【実施例】以下、図に示す実施例によりこの発明をさら
に説明する。なお、これによりこの発明が限定されるも
のではない。図１は、この発明の一実施例の撮像式検査
装置１００の構成図である。この撮像式検査装置１００
は、撮像部１と，信号処理部２と，ビデオ信号パターン
記憶部３と，最大信号パターン生成部４と，最小信号パ
ターン生成部５と，上閾値パターン生成部６と，下閾値
パターン生成部７と，比較部８とを具備している。上記
撮像部１と信号処理部２と比較部８とは、リアルタイム
で検査する上で高速処理が必要であるため、ハードウエ
ア回路により構成するのが好ましい。一方、上記ビデオ
信号パターン記憶部３と最大信号パターン生成部４と最
小信号パターン生成部５と上閾値パターン生成部６と下
閾値パターン生成部７とは、検査前に動作すればよく、
高速処理が必要でないため、マイクロプロセッサとソフ
トウエアとにより構成してもよい。
に説明する。なお、これによりこの発明が限定されるも
のではない。図１は、この発明の一実施例の撮像式検査
装置１００の構成図である。この撮像式検査装置１００
は、撮像部１と，信号処理部２と，ビデオ信号パターン
記憶部３と，最大信号パターン生成部４と，最小信号パ
ターン生成部５と，上閾値パターン生成部６と，下閾値
パターン生成部７と，比較部８とを具備している。上記
撮像部１と信号処理部２と比較部８とは、リアルタイム
で検査する上で高速処理が必要であるため、ハードウエ
ア回路により構成するのが好ましい。一方、上記ビデオ
信号パターン記憶部３と最大信号パターン生成部４と最
小信号パターン生成部５と上閾値パターン生成部６と下
閾値パターン生成部７とは、検査前に動作すればよく、
高速処理が必要でないため、マイクロプロセッサとソフ
トウエアとにより構成してもよい。
【００１３】前記撮像部１は、例えばＣＣＤカメラであ
り、検査対象物Ｓの搬送装置Ｃからのトリガ信号Ｔに基
づいて検査対象物Ｓの画像を取得し、ビデオ信号を出力
する。なお、説明の簡単化のため、画像を構成する多数
のラスタ中の一つのラスタＲｉに対応するビデオ信号の
みに着目して説明を行う。前記信号処理部２は、前記撮
像部１からのビデオ信号に例えば微分や積分の信号処理
を施したビデオ信号Ｖｉを出力する。なお、微分や積分
の信号処理については、例えば実開平１−１１０３５６
号公報に開示されている処理を用いることが出来る。
り、検査対象物Ｓの搬送装置Ｃからのトリガ信号Ｔに基
づいて検査対象物Ｓの画像を取得し、ビデオ信号を出力
する。なお、説明の簡単化のため、画像を構成する多数
のラスタ中の一つのラスタＲｉに対応するビデオ信号の
みに着目して説明を行う。前記信号処理部２は、前記撮
像部１からのビデオ信号に例えば微分や積分の信号処理
を施したビデオ信号Ｖｉを出力する。なお、微分や積分
の信号処理については、例えば実開平１−１１０３５６
号公報に開示されている処理を用いることが出来る。
【００１４】前記ビデオ信号パターン記憶部３は、検査
対象物Ｓの例えば１０個の良品のビデオ信号パターンＶ
ｉ１（ｔ）〜Ｖｉ10（ｔ）を記憶する。前記最大信号パ
ターン生成部４は、前記ビデオ信号パターン記憶部３に
記憶したビデオ信号パターンＶｉ１（ｔ）〜Ｖｉ10
（ｔ）および予め設定された上オフセット値ΔＨｉから
次式によって最大信号パターンＨｉ（ｔ）を生成する。 Ｈｉ（ｔ）＝max｛Ｖｉ１（ｔ），…，Ｖｉ10（ｔ）｝
＋ΔＨｉ （max｛｝は｛｝中の最大値をとる関数）。前記最小信
号パターン生成部５は、前記ビデオ信号パターン記憶部
３に記憶したビデオ信号パターンＶｉ１（ｔ）〜Ｖｉ10
（ｔ）および予め設定された下オフセット値ΔＬｉから
次式によって最小信号パターンＬｉ（ｔ）を生成する。 Ｌｉ（ｔ）＝min｛Ｖｉ１（ｔ），…，Ｖｉ10（ｔ）｝
＋ΔＬｉ （min｛｝は｛｝中の最小値をとる関数）。図２の
（ａ）に、最大信号パターンＨｉ（ｔ）および最小信号
パターンＬｉ（ｔ）を例示する。
対象物Ｓの例えば１０個の良品のビデオ信号パターンＶ
ｉ１（ｔ）〜Ｖｉ10（ｔ）を記憶する。前記最大信号パ
ターン生成部４は、前記ビデオ信号パターン記憶部３に
記憶したビデオ信号パターンＶｉ１（ｔ）〜Ｖｉ10
（ｔ）および予め設定された上オフセット値ΔＨｉから
次式によって最大信号パターンＨｉ（ｔ）を生成する。 Ｈｉ（ｔ）＝max｛Ｖｉ１（ｔ），…，Ｖｉ10（ｔ）｝
＋ΔＨｉ （max｛｝は｛｝中の最大値をとる関数）。前記最小信
号パターン生成部５は、前記ビデオ信号パターン記憶部
３に記憶したビデオ信号パターンＶｉ１（ｔ）〜Ｖｉ10
（ｔ）および予め設定された下オフセット値ΔＬｉから
次式によって最小信号パターンＬｉ（ｔ）を生成する。 Ｌｉ（ｔ）＝min｛Ｖｉ１（ｔ），…，Ｖｉ10（ｔ）｝
＋ΔＬｉ （min｛｝は｛｝中の最小値をとる関数）。図２の
（ａ）に、最大信号パターンＨｉ（ｔ）および最小信号
パターンＬｉ（ｔ）を例示する。
【００１５】前記上閾値パターン生成部６は、前記最大
信号パターンＨｉ（ｔ）および予め設定された時間幅パ
ラメータ値Δαｉから次式によって上閾値パターンＡｉ
（ｔ）を生成する。 Ａ(ｔ)＝max｛Ｈ(ｔ-Δα)〜Ｈ(ｔ+Δα)｝ （max｛｝は｛｝中の最大値をとる関数）。前記下閾値
パターン生成部７は、前記最小信号パターンＬｉ（ｔ）
および予め設定された時間幅パラメータ値Δβｉから次
式によって下閾値パターンＢｉ（ｔ）を生成する。 Ｂ(ｔ)＝min｛Ｌ(ｔ-Δβ)〜Ｌ(ｔ+Δβ)｝ （min｛｝は｛｝中の最小値をとる関数）。図２の
（ｂ）に、上閾値パターンＡｉ（ｔ）および下閾値パタ
ーンＢｉ（ｔ）を例示する。
信号パターンＨｉ（ｔ）および予め設定された時間幅パ
ラメータ値Δαｉから次式によって上閾値パターンＡｉ
（ｔ）を生成する。 Ａ(ｔ)＝max｛Ｈ(ｔ-Δα)〜Ｈ(ｔ+Δα)｝ （max｛｝は｛｝中の最大値をとる関数）。前記下閾値
パターン生成部７は、前記最小信号パターンＬｉ（ｔ）
および予め設定された時間幅パラメータ値Δβｉから次
式によって下閾値パターンＢｉ（ｔ）を生成する。 Ｂ(ｔ)＝min｛Ｌ(ｔ-Δβ)〜Ｌ(ｔ+Δβ)｝ （min｛｝は｛｝中の最小値をとる関数）。図２の
（ｂ）に、上閾値パターンＡｉ（ｔ）および下閾値パタ
ーンＢｉ（ｔ）を例示する。
【００１６】前記比較部８は、図２の（ｃ）に示すよう
に、ビデオ信号Ｖｉ（ｔ）が上閾値パターンＡ（ｔ）お
よび下閾値パターンＢｉ（ｔ）の間に入っているときに
“良”を示すレベルとなり，それ以外は“不良”を示す
レベルとなる良否判定信号Ｄｉを出力する。
に、ビデオ信号Ｖｉ（ｔ）が上閾値パターンＡ（ｔ）お
よび下閾値パターンＢｉ（ｔ）の間に入っているときに
“良”を示すレベルとなり，それ以外は“不良”を示す
レベルとなる良否判定信号Ｄｉを出力する。
【００１７】以上の撮像式検査装置１００によれば、検
査対象物Ｓの良品を撮像して上閾値パターンＡｉ（ｔ）
および下閾値パターンＢｉ（ｔ）を生成しておけば、検
査対象物Ｓの良否を判定することが出来る。このとき、
ビデオ信号の不要部分をマスキングするための設定操作
を特に行う必要はない。
査対象物Ｓの良品を撮像して上閾値パターンＡｉ（ｔ）
および下閾値パターンＢｉ（ｔ）を生成しておけば、検
査対象物Ｓの良否を判定することが出来る。このとき、
ビデオ信号の不要部分をマスキングするための設定操作
を特に行う必要はない。
【００１８】
【発明の効果】この発明のビデオ信号による検査装置に
よれば、検査対象物の良品を撮像して閾値パターンを生
成しておけば、ビデオ信号の不要部分をマスキングする
ための設定操作を行わなくても、検査対象物の良否を好
適に判定することが出来る。
よれば、検査対象物の良品を撮像して閾値パターンを生
成しておけば、ビデオ信号の不要部分をマスキングする
ための設定操作を行わなくても、検査対象物の良否を好
適に判定することが出来る。
【図１】この発明の一実施例の撮像式検査装置の構成ブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】この発明にかかる閾値パターンの生成を説明す
る波形図である。
る波形図である。
【図３】従来の撮像式検査装置の一例の構成ブロック図
である。
である。
【図４】従来の撮像式検査装置における検査期間と閾値
の説明図である。
の説明図である。
１００ 撮像式検査装置 １ 撮像部 ２ 信号処理部 ３ ビデオ信号記憶部 ４ 最大信号パターン生成部 ５ 最小信号パターン生成部 ６ 上閾値パターン生成部 ７ 下閾値パターン生成部 ８ 比較部 Ｓ 検査対象物 Ｃ 搬送装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 実開 昭56−58449（ＪＰ，Ｕ) 実開 平１−110356（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/958
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｍ（≧１）個の良品を同じ撮像手段で同
一条件（走査の向き、走査速度等）で撮像し、その各走
査の開始から終了までの時間計測をｔで表し、各ビデオ
信号パターンをＶｉ１（ｔ），…，ＶｉＭ（ｔ）で表す
とき、ビデオ信号パターン｛Ｖｉ１（ｔ），…，ＶｉＭ
（ｔ）｝の最大値をオフセット値ΔＨｉだけ大きい側へ
オフセットした信号パターンＨｉ（ｔ）およびビデオ信
号パターン｛Ｖｉ１（ｔ），…，ＶｉＭ（ｔ）｝の最小
値をオフセット値ΔＬｉだけ小さい側へのオフセットし
た信号パターンＬｉ（ｔ）の少なくとも一方を生成する
信号パターン生成部と、前記信号パターンＨｉまたはＬ
ｉを閾値パターンＡｉまたはＢｉとするか又は前記信号
パターンＨｉまたはＬｉを信号処理して閾値パターンＡ
ｉまたはＢｉを生成する閾値パターン生成手段と、検査
対象物を前記と同一の撮像手段で同一の条件（走査の向
き、走査速度等）で撮像して得たビデオ信号またはそれ
を信号処理したビデオ信号と前記閾値パターンＡｉおよ
びＢｉの少なくとも一方とを比較して検査対象物の良否
判定信号を出力する比較手段とを具備したことを特徴と
するビデオ信号による検査装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載のビデオ信号による検査
装置において、前記 閾値パターン生成手段は、信号パターンＨ（ｔ）に対し
ては、Ａ(ｔ)＝max｛Ｈ(ｔ-Δα)〜Ｈ(ｔ+Δα)｝ （max｛｝は｛｝中の最大値をとる関数。Δαは時間幅
パラメータ）。 なるｍａｘ処理により閾値パターンＡ(ｔ)を生成し、信
号パターンＬ（ｔ）に対しては、 Ｂ(ｔ)＝min｛Ｌ(ｔ-Δβ)〜Ｌ(ｔ+Δβ)｝ （min｛｝は｛｝中の最小値をとる関数。Δβは時間幅
パラメータ）。 なるｍｉｎ処理により閾値パターンＢ(ｔ)を生成するこ
とを特徴とするビデオ信号による検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6285112A JP3025833B2 (ja) | 1994-11-18 | 1994-11-18 | ビデオ信号による検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6285112A JP3025833B2 (ja) | 1994-11-18 | 1994-11-18 | ビデオ信号による検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08145905A JPH08145905A (ja) | 1996-06-07 |
| JP3025833B2 true JP3025833B2 (ja) | 2000-03-27 |
Family
ID=17687277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6285112A Expired - Fee Related JP3025833B2 (ja) | 1994-11-18 | 1994-11-18 | ビデオ信号による検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3025833B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4253527B2 (ja) | 2003-05-21 | 2009-04-15 | ダイセル化学工業株式会社 | 自動判別装置 |
-
1994
- 1994-11-18 JP JP6285112A patent/JP3025833B2/ja not_active Expired - Fee Related
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