JP3020041B2 - 胴割粒検出方法及び装置 - Google Patents
胴割粒検出方法及び装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、米粒の胴割面に対して
一側から光を照射し、他側で受光した光を変換し、しき
い値と比較して胴割粒、不確定な粒、整粒に判別し、さ
らに、不確定な粒に対しては胴割粒と整粒に判別する胴
割粒検出方法及び装置に関する。
一側から光を照射し、他側で受光した光を変換し、しき
い値と比較して胴割粒、不確定な粒、整粒に判別し、さ
らに、不確定な粒に対しては胴割粒と整粒に判別する胴
割粒検出方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、米の胴割を判別する方法として一
般的なものは、米粒の長手方向から斜方光線を照射し、
米粒の透過光線を米粒の長手方向の両偏部に位置した受
光素子により、前部光量と後部光量（胴割面の反射屈折
による光量変化と拡散透過による光量変化）を検出する
ものであった。このような先行技術のものとして、例え
ば、特開昭５７−１８９０６２号公報、特開昭５９−５
９４０号公報等に開示されたものが知られている。
般的なものは、米粒の長手方向から斜方光線を照射し、
米粒の透過光線を米粒の長手方向の両偏部に位置した受
光素子により、前部光量と後部光量（胴割面の反射屈折
による光量変化と拡散透過による光量変化）を検出する
ものであった。このような先行技術のものとして、例え
ば、特開昭５７−１８９０６２号公報、特開昭５９−５
９４０号公報等に開示されたものが知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のものでは、
解決すべき下記のような問題点があった。 光源は、米粒全体に光を照射しているため、胴割面
を拡散透過する光の影響により前部光量と後部光量との
差が生じにくい。 光源は、米粒全体に光を照射しているため、粒のサ
イズが小さいものは、前部光量と後部光量との差が生じ
にくい。 本発明は、上記の問題点を解決することを目的になされ
たものである。
解決すべき下記のような問題点があった。 光源は、米粒全体に光を照射しているため、胴割面
を拡散透過する光の影響により前部光量と後部光量との
差が生じにくい。 光源は、米粒全体に光を照射しているため、粒のサ
イズが小さいものは、前部光量と後部光量との差が生じ
にくい。 本発明は、上記の問題点を解決することを目的になされ
たものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明の胴割粒検出方法及び装置は、（１）米粒の
胴割面に対して一方側より光を照射し、他方側の少なく
とも上部または下部に位置する受光素子により、米粒の
胴割面を拡散透過した光を受光してこれを光電変換し、
透過最大信号と透過経時波形を求め、得られた透過最大
信号を２つのしきい値と比較し、胴割粒、不確定な粒、
整粒の３種類に判別するようにし、さらに、不確定な粒
に対しては、透過経時波形の特徴により胴割粒と整粒と
に判別するようにしてなること、（２）上記透過経時波
形を微分して得た胴割粒の波形の凸なる山の数が、微分
して得た整粒の波形の凸なる山の数より多いことを利用
して胴割粒と整粒とを判別するようにしてなること、
（３）米粒の胴割面に対して、少なくとも上部はたは下
部より光を照射する光源と、胴割面に対して他方の少な
くとも上部または下部に拡散透過光を受光して光電変換
する透過光センサと、透過光センサの後段にアンプ回
路、微分回路並びにピークホールド回路を接続し、アン
プ回路を介してピークホールド回路からの透過最大信号
を第１のしきい値が第２のしきい値より小である２つの
しきい値と比較し、透過最大信号が第１のしきい値より
小の時に胴割粒と判定し、透過最大信号が第２のしきい
値より大の時に整粒と判定し、透過最大信号が第１のし
きい値と第２のしきい値との間にある時に不確定粒と判
定する信号処理部と、不確定粒と判定した時に、アンプ
回路を介して微分回路から微分波形の凸なる山の数が、
予め実験で求めた整粒の山の数より多い時に胴割粒と判
定する波形処理部と、からなること、（４）米粒の胴割
面に対して一方側を照射する照射光は、米粒の長軸長さ
の１／２以下の範囲を照射する大きさとし、この状態に
おいては、少なくとも上部または下部の受光素子の視野
は、米粒の胴割面に対して他方側で長軸長さの１／２以
下の範囲となるようにしてなること、をそれぞれ特徴と
する。
めに本発明の胴割粒検出方法及び装置は、（１）米粒の
胴割面に対して一方側より光を照射し、他方側の少なく
とも上部または下部に位置する受光素子により、米粒の
胴割面を拡散透過した光を受光してこれを光電変換し、
透過最大信号と透過経時波形を求め、得られた透過最大
信号を２つのしきい値と比較し、胴割粒、不確定な粒、
整粒の３種類に判別するようにし、さらに、不確定な粒
に対しては、透過経時波形の特徴により胴割粒と整粒と
に判別するようにしてなること、（２）上記透過経時波
形を微分して得た胴割粒の波形の凸なる山の数が、微分
して得た整粒の波形の凸なる山の数より多いことを利用
して胴割粒と整粒とを判別するようにしてなること、
（３）米粒の胴割面に対して、少なくとも上部はたは下
部より光を照射する光源と、胴割面に対して他方の少な
くとも上部または下部に拡散透過光を受光して光電変換
する透過光センサと、透過光センサの後段にアンプ回
路、微分回路並びにピークホールド回路を接続し、アン
プ回路を介してピークホールド回路からの透過最大信号
を第１のしきい値が第２のしきい値より小である２つの
しきい値と比較し、透過最大信号が第１のしきい値より
小の時に胴割粒と判定し、透過最大信号が第２のしきい
値より大の時に整粒と判定し、透過最大信号が第１のし
きい値と第２のしきい値との間にある時に不確定粒と判
定する信号処理部と、不確定粒と判定した時に、アンプ
回路を介して微分回路から微分波形の凸なる山の数が、
予め実験で求めた整粒の山の数より多い時に胴割粒と判
定する波形処理部と、からなること、（４）米粒の胴割
面に対して一方側を照射する照射光は、米粒の長軸長さ
の１／２以下の範囲を照射する大きさとし、この状態に
おいては、少なくとも上部または下部の受光素子の視野
は、米粒の胴割面に対して他方側で長軸長さの１／２以
下の範囲となるようにしてなること、をそれぞれ特徴と
する。
【０００５】
【作用】上記の方法及び装置により本発明は、以下のよ
うな作用を行う。 米粒の胴割面に対して光源から光を照射する。 少なくとも上部または下部に位置した受光素子によ
り、拡散透過した光を受光する。 受光素子により受光した光の受光量を光電変換し、
透過最大信号と透過経時波形を求める。 透過最大信号を２つのしきい値と比較し、胴割粒、
不確定な粒、整粒とに判定する。 不確定な粒と判定された粒に対して、透過経時波形
を微分して、胴割粒の胴割面によって表れる波形の凸な
る山の数を計数する。 （測定値（波形の凸なる山の数）＞予め実験で求め
た整粒の凸なる山の数）の条件ならば胴割粒と判定す
る。 上記とにより胴割粒と整粒を判定する。
うな作用を行う。 米粒の胴割面に対して光源から光を照射する。 少なくとも上部または下部に位置した受光素子によ
り、拡散透過した光を受光する。 受光素子により受光した光の受光量を光電変換し、
透過最大信号と透過経時波形を求める。 透過最大信号を２つのしきい値と比較し、胴割粒、
不確定な粒、整粒とに判定する。 不確定な粒と判定された粒に対して、透過経時波形
を微分して、胴割粒の胴割面によって表れる波形の凸な
る山の数を計数する。 （測定値（波形の凸なる山の数）＞予め実験で求め
た整粒の凸なる山の数）の条件ならば胴割粒と判定す
る。 上記とにより胴割粒と整粒を判定する。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付の図面を参照
して具体的に説明する。図１は、光源、透過光センサと
米粒との位置関係を示す胴割粒検出装置の部分断面図
で、符号１は光源、２は偏光フィルタ、Ｔｕｐは上部透
過光センサ、Ｔｄｏｗｎは下部透過光センサ、３は米
粒、４は米粒収容孔４ａを有し、矢印方向に回転する粒
送り円板、５はガラス、６，７は偏光フィルタである。
上記上部透過光センサＴｕｐは、米粒３の上側で粒送り
円板４の移動方向前側において米粒３からの拡散透過光
量を受光し、また、下部透過光センサＴｄｏｗｎは、米
粒３を挟んで光源１と反対側の下側位置で拡散透過光量
を受光するようにしている。
して具体的に説明する。図１は、光源、透過光センサと
米粒との位置関係を示す胴割粒検出装置の部分断面図
で、符号１は光源、２は偏光フィルタ、Ｔｕｐは上部透
過光センサ、Ｔｄｏｗｎは下部透過光センサ、３は米
粒、４は米粒収容孔４ａを有し、矢印方向に回転する粒
送り円板、５はガラス、６，７は偏光フィルタである。
上記上部透過光センサＴｕｐは、米粒３の上側で粒送り
円板４の移動方向前側において米粒３からの拡散透過光
量を受光し、また、下部透過光センサＴｄｏｗｎは、米
粒３を挟んで光源１と反対側の下側位置で拡散透過光量
を受光するようにしている。
【０００７】光源１の発光窓、透過光センサＴｕｐ，Ｔ
ｄｏｗｎの受光窓には、それぞれ偏光フィルタ２，６，
７が取付けられており、偏光フィルタ２と６，７は偏光
面が互いに直交している。偏光フィルタの２と６が直交
している理由は、米粒３の表面で反射する光量を押える
ためであり、２と７が直交している理由は、米粒３以外
の情報、例えば円板４の端面、ガラス５の表面反射光を
押えるためである。光源１の照射範囲及び透過光センサ
Ｔｕｐ，Ｔｄｏｗｎの視野については、米粒３の胴割面
は、通常ほぼ中央部付近に横断して発生するものである
が、なかには米粒の１／３〜１／４付近に発生するもの
もあるため、これらの米粒にも対応出来るよう、米粒の
長軸長さの１／２以下にするようにしている。この実施
例では、光源１の照射角度は、粒送り円板４に対して垂
直ではないが、上記の条件を満たすならば、いずれの角
度でもよいものである。
ｄｏｗｎの受光窓には、それぞれ偏光フィルタ２，６，
７が取付けられており、偏光フィルタ２と６，７は偏光
面が互いに直交している。偏光フィルタの２と６が直交
している理由は、米粒３の表面で反射する光量を押える
ためであり、２と７が直交している理由は、米粒３以外
の情報、例えば円板４の端面、ガラス５の表面反射光を
押えるためである。光源１の照射範囲及び透過光センサ
Ｔｕｐ，Ｔｄｏｗｎの視野については、米粒３の胴割面
は、通常ほぼ中央部付近に横断して発生するものである
が、なかには米粒の１／３〜１／４付近に発生するもの
もあるため、これらの米粒にも対応出来るよう、米粒の
長軸長さの１／２以下にするようにしている。この実施
例では、光源１の照射角度は、粒送り円板４に対して垂
直ではないが、上記の条件を満たすならば、いずれの角
度でもよいものである。
【０００８】胴割粒検出装置の回路ブロック構成を図２
に示す。図２において、１つめは、初段において、米粒
３を拡散透過してきた光を透過光センサＴｕｐにより受
光して光電変換を行ない、２段めのアンプ回路８により
増幅し、３段めのピークホールド回路９により透過最大
信号を得る。２つめは、初段において、米粒を拡散透過
してきた光を透過光センサＴｄｏｗｎにより受光して光
電変換を行い、２段めのアンプ回路１１により増幅し、
波形処理部１２の３段めの微分回路１３により透過経時
波形を得る。４段めのカウンタ回路１４において、得ら
れた波形に凸なる山がいくつ存在するかを計数する。こ
れにより、透過光センサＴｕｐで得られた透過最大信号
と、透過光センサＴｄｏｗｎで得られた計数値を信号処
理部１０にて胴割粒か整粒かを総合判定する。
に示す。図２において、１つめは、初段において、米粒
３を拡散透過してきた光を透過光センサＴｕｐにより受
光して光電変換を行ない、２段めのアンプ回路８により
増幅し、３段めのピークホールド回路９により透過最大
信号を得る。２つめは、初段において、米粒を拡散透過
してきた光を透過光センサＴｄｏｗｎにより受光して光
電変換を行い、２段めのアンプ回路１１により増幅し、
波形処理部１２の３段めの微分回路１３により透過経時
波形を得る。４段めのカウンタ回路１４において、得ら
れた波形に凸なる山がいくつ存在するかを計数する。こ
れにより、透過光センサＴｕｐで得られた透過最大信号
と、透過光センサＴｄｏｗｎで得られた計数値を信号処
理部１０にて胴割粒か整粒かを総合判定する。
【０００９】整粒と胴割粒との透過経時波形の特徴の違
いを凸なる山の数の差として得られれば、微分回路は一
次微分でも二次微分でもよい。この実施例では、２つの
透過光センサＴｕｐ，Ｔｄｏｗｎを用いて、それぞれ独
立した回路を形成し信号処理部１０に入力されている
が、１つの透過光センサのみを用いて、ピークホールド
回路９と波形処理部１２（微分回路１３、カウンタ回路
路１４）とをパラレルに構成し、信号処理部１０に入力
するようにしてもよい。
いを凸なる山の数の差として得られれば、微分回路は一
次微分でも二次微分でもよい。この実施例では、２つの
透過光センサＴｕｐ，Ｔｄｏｗｎを用いて、それぞれ独
立した回路を形成し信号処理部１０に入力されている
が、１つの透過光センサのみを用いて、ピークホールド
回路９と波形処理部１２（微分回路１３、カウンタ回路
路１４）とをパラレルに構成し、信号処理部１０に入力
するようにしてもよい。
【００１０】信号処理部１０における粒判定のフローチ
ャートを図３に示す。スタート２０後、初段２１におい
て、透過光センサＴｕｐで得られた透過最大信号をＡ／
Ｄ変換する。２段め２２では、Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値
と第２のしきい値２とを比較し、第２のしきい値２より
もＡ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が大きければ、整粒２３と判
定する。Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が第２のしきい値２よ
り小さいものに対して３段め２４では、第１のしきい値
１と比較する。ここで、Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が第１
のしきい値１より小さければ、胴割粒２５と判定する。
整粒とも胴割粒とも判定されなかった不確定な粒、つま
りＡ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が第２のしきい値２より小さ
く、且つ第１のしきい値１より大きい米粒３は、４段め
２６において、透過光センサＴｄｏｗｎで得られた波形
の凸なる山の数Ｘを、予め実験で求めた整粒の凸なる山
の数Ｍと比較し、Ｔｄｏｗｎで得られた波形の凸なる山
の数Ｘが、整粒の凸なる山の数Ｍよりの多ければ、胴割
粒２８と判定し、その他は整粒２７と判定する。
ャートを図３に示す。スタート２０後、初段２１におい
て、透過光センサＴｕｐで得られた透過最大信号をＡ／
Ｄ変換する。２段め２２では、Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値
と第２のしきい値２とを比較し、第２のしきい値２より
もＡ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が大きければ、整粒２３と判
定する。Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が第２のしきい値２よ
り小さいものに対して３段め２４では、第１のしきい値
１と比較する。ここで、Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が第１
のしきい値１より小さければ、胴割粒２５と判定する。
整粒とも胴割粒とも判定されなかった不確定な粒、つま
りＡ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が第２のしきい値２より小さ
く、且つ第１のしきい値１より大きい米粒３は、４段め
２６において、透過光センサＴｄｏｗｎで得られた波形
の凸なる山の数Ｘを、予め実験で求めた整粒の凸なる山
の数Ｍと比較し、Ｔｄｏｗｎで得られた波形の凸なる山
の数Ｘが、整粒の凸なる山の数Ｍよりの多ければ、胴割
粒２８と判定し、その他は整粒２７と判定する。
【００１１】上部透過光センサＴｕｐのアンプ回路８後
の信号波形を図４に、下部透過光センサＴｄｏｗｎの微
分回路１３後の信号波形を図５に示す。図４の整粒のＴ
ｕｐの信号波形は、図５の胴割粒のＴｕｐの信号波形と
比較すると、全体的に大きく出力されるのが特徴であ
る。図４の整粒のＴｄｏｗｎの微分波形は、図５の胴割
粒のＴｄｏｗｎの微分波形と比較すると、胴割粒の方が
整粒より凸なる山の数が多いのが特徴である。
の信号波形を図４に、下部透過光センサＴｄｏｗｎの微
分回路１３後の信号波形を図５に示す。図４の整粒のＴ
ｕｐの信号波形は、図５の胴割粒のＴｕｐの信号波形と
比較すると、全体的に大きく出力されるのが特徴であ
る。図４の整粒のＴｄｏｗｎの微分波形は、図５の胴割
粒のＴｄｏｗｎの微分波形と比較すると、胴割粒の方が
整粒より凸なる山の数が多いのが特徴である。
【００１２】整粒と胴割粒との判別は、米粒３のサイズ
が大きいものは、ほとんどがＴｕｐ値により両者を判別
することが容易であるが、米粒３のサイズが小さいもの
は、Ｔｕｐの出力値は小さくなるため、判定が困難にな
る。そのためしきい値の設定条件は、第１のしきい値１
と第２のしきい値２の幅を広くとる，つまり不確定な米
粒３の領域を広くとることである。米粒３にはいろいろ
なサイズのものが存在するため、Ｔｕｐから得られる透
過最大信号のみならず、Ｔｄｏｗｎから得られる波形の
凸なる山の数とを総合判定すれば、整粒と胴割粒とを精
度良く判別することが可能となる。
が大きいものは、ほとんどがＴｕｐ値により両者を判別
することが容易であるが、米粒３のサイズが小さいもの
は、Ｔｕｐの出力値は小さくなるため、判定が困難にな
る。そのためしきい値の設定条件は、第１のしきい値１
と第２のしきい値２の幅を広くとる，つまり不確定な米
粒３の領域を広くとることである。米粒３にはいろいろ
なサイズのものが存在するため、Ｔｕｐから得られる透
過最大信号のみならず、Ｔｄｏｗｎから得られる波形の
凸なる山の数とを総合判定すれば、整粒と胴割粒とを精
度良く判別することが可能となる。
【００１３】上記のように構成された胴割粒検出装置に
より胴割粒を測定するときは、図１に示すように、米粒
３は粒送り円板４の米粒収容孔４ａに収容されて矢印方
向に回転移動し、その移動過程において、米粒３の胴割
面に対して光源１から光が照射される。そして、上部透
過光センサＴｕｐは、米粒３の上側で米粒３からの拡散
透過光量を受光し、また、下部透過光センサＴｄｏｗｎ
は、米粒３の下側位置で拡散透過光量を受光する。そし
て、図２及び図３に示すような順序，流れで処理され
る。
より胴割粒を測定するときは、図１に示すように、米粒
３は粒送り円板４の米粒収容孔４ａに収容されて矢印方
向に回転移動し、その移動過程において、米粒３の胴割
面に対して光源１から光が照射される。そして、上部透
過光センサＴｕｐは、米粒３の上側で米粒３からの拡散
透過光量を受光し、また、下部透過光センサＴｄｏｗｎ
は、米粒３の下側位置で拡散透過光量を受光する。そし
て、図２及び図３に示すような順序，流れで処理され
る。
【００１４】上部透過光センサＴｕｐにより受光した拡
散透過光量は光電変換され、アンプ回路８により増幅さ
れ、ピークホールド回路９により透過最大信号が得られ
る。下部透過光センサＴｄｏｗｎにより受光された米粒
を拡散透過してきた光は、光電変換されてアンプ回路１
１により増幅され、波形処理部１２の微分回路１３によ
り透過経時波形が得られ、カウンタ回路１４において得
られた波形に凸なる山がいくつ存在するかが計数され
る。これにより、上部透過光センサＴｕｐで得られた透
過最大信号と、下部透過光センサＴｄｏｗｎで得られた
計数値とにより信号処理部１０において胴割粒か整粒か
が総合判定される。
散透過光量は光電変換され、アンプ回路８により増幅さ
れ、ピークホールド回路９により透過最大信号が得られ
る。下部透過光センサＴｄｏｗｎにより受光された米粒
を拡散透過してきた光は、光電変換されてアンプ回路１
１により増幅され、波形処理部１２の微分回路１３によ
り透過経時波形が得られ、カウンタ回路１４において得
られた波形に凸なる山がいくつ存在するかが計数され
る。これにより、上部透過光センサＴｕｐで得られた透
過最大信号と、下部透過光センサＴｄｏｗｎで得られた
計数値とにより信号処理部１０において胴割粒か整粒か
が総合判定される。
【００１５】信号処理部１０では、上部透過光センサＴ
ｕｐで得られた透過最大信号をＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変
換後のＴｕｐ値と第２のしきい値２とを比較し、第２の
しきい値２よりもＡ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が大きけれ
ば、整粒２３と判定される。Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が
第２のしきい値２より小さいものに対しては、第１のし
きい値１と比較し、Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が第１のし
きい値１より小さければ、胴割粒２５と判定される。整
粒とも胴割粒とも判定されなかった不確定な粒、即ち、
Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が第２のしきい値２より小さ
く、且つ第１のしきい値１より大きい米粒３は、下部透
過光センサＴｄｏｗｎで得られた波形の凸なる山の数Ｘ
を、予め実験で求めた整粒の凸なる山の数Ｍと比較し、
Ｔｄｏｗｎで得られた波形の凸なる山の数Ｘが、整粒の
凸なる山の数Ｍよりの多ければ、胴割粒２８と判定さ
れ、その他は整粒２７と判定される。
ｕｐで得られた透過最大信号をＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変
換後のＴｕｐ値と第２のしきい値２とを比較し、第２の
しきい値２よりもＡ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が大きけれ
ば、整粒２３と判定される。Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が
第２のしきい値２より小さいものに対しては、第１のし
きい値１と比較し、Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が第１のし
きい値１より小さければ、胴割粒２５と判定される。整
粒とも胴割粒とも判定されなかった不確定な粒、即ち、
Ａ／Ｄ変換後のＴｕｐ値が第２のしきい値２より小さ
く、且つ第１のしきい値１より大きい米粒３は、下部透
過光センサＴｄｏｗｎで得られた波形の凸なる山の数Ｘ
を、予め実験で求めた整粒の凸なる山の数Ｍと比較し、
Ｔｄｏｗｎで得られた波形の凸なる山の数Ｘが、整粒の
凸なる山の数Ｍよりの多ければ、胴割粒２８と判定さ
れ、その他は整粒２７と判定される。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように本発明の胴割粒検出
方法及び装置によれば、米粒の胴割面に対して一方側よ
り光を照射し、他方側の上部または下部に位置する受光
素子により、米粒の胴割面を拡散透過した光を受光して
これを光電変換し、透過最大信号と透過経時波形を求
め、得られた透過最大信号を２つのしきい値と比較し、
胴割粒、不確定な粒、整粒の３種類に判別するように
し、さらに、不確定な粒に対しては、透過経時波形の特
徴により胴割粒と整粒とに判別するようにし、また、上
記透過経時波形を微分して得た胴割粒の波形の凸なる山
の数が、微分して得た整粒の波形の凸なる山の数より多
いことを利用して胴割粒と整粒とを判別するようにした
ので、整粒と胴割粒との判別が正確に、かつ能率良く行
うことが出来る。また、測定する米粒に大小があって
も、誤差のない測定，検出を行うことが出来る。
方法及び装置によれば、米粒の胴割面に対して一方側よ
り光を照射し、他方側の上部または下部に位置する受光
素子により、米粒の胴割面を拡散透過した光を受光して
これを光電変換し、透過最大信号と透過経時波形を求
め、得られた透過最大信号を２つのしきい値と比較し、
胴割粒、不確定な粒、整粒の３種類に判別するように
し、さらに、不確定な粒に対しては、透過経時波形の特
徴により胴割粒と整粒とに判別するようにし、また、上
記透過経時波形を微分して得た胴割粒の波形の凸なる山
の数が、微分して得た整粒の波形の凸なる山の数より多
いことを利用して胴割粒と整粒とを判別するようにした
ので、整粒と胴割粒との判別が正確に、かつ能率良く行
うことが出来る。また、測定する米粒に大小があって
も、誤差のない測定，検出を行うことが出来る。
【図１】本発明による胴割粒検出装置の部分断面図であ
る。
る。
【図２】胴割粒検出装置の回路ブロック図である。
【図３】信号処理部における粒判定のフローチャートで
ある。
ある。
【図４】上部透過光センサのアンプ回路後の信号波形で
ある。
ある。
【図５】下部透過光センサの微分回路後の信号波形であ
る。
る。
１ 光源 Ｔｕｐ 上部透過光センサ Ｔｄｏｗｎ 下部透過光センサ ２，６，７ 偏光フィルタ ３ 米粒 ４ 回転円板 ５ ガラス ８，１１ アンプ回路 ９ ピークホールド回路 １０ 信号処理部 １２ 波形処理部 １３ 微分回路 １４ カウンタ回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−49146（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−192866（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−5940（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−109850（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−24538（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−135351（ＪＰ，Ａ) 特公 昭39−14733（ＪＰ，Ｂ１) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/958 G01N 33/10
Claims (4)
- 【請求項１】 米粒の胴割面に対して一方側より光を照
射し、他方側の少なくとも上部または下部に位置する受
光素子により、米粒の胴割面を拡散透過した光を受光し
てこれを光電変換し、透過最大信号と透過経時波形を求
め、得られた透過最大信号を２つのしきい値と比較し、
胴割粒、不確定な粒、整粒の３種類に判別するように
し、さらに、不確定な粒に対しては、透過経時波形の特
徴により胴割粒と整粒とに判別するようにしてなる胴割
粒検出方法。 - 【請求項２】 上記透過経時波形を微分して得た胴割粒
の波形の凸なる山の数が、微分して得た整粒の波形の凸
なる山の数より多いことを利用して胴割粒と整粒とを判
別するようにしてなる請求項１記載の胴割粒検出方法。 - 【請求項３】 米粒の胴割面に対して、少なくとも上部
はたは下部より光を照射する光源と、胴割面に対して他
方の少なくとも上部または下部に拡散透過光を受光して
光電変換する透過光センサと、透過光センサの後段にア
ンプ回路、微分回路並びにピークホールド回路を接続
し、アンプ回路を介してピークホールド回路からの透過
最大信号を第１のしきい値が第２のしきい値より小であ
る２つのしきい値と比較し、透過最大信号が第１のしき
い値より小の時に胴割粒と判定し、透過最大信号が第２
のしきい値より大の時に整粒と判定し、透過最大信号が
第１のしきい値と第２のしきい値との間にある時に不確
定粒と判定する信号処理部と、不確定粒と判定した時
に、アンプ回路を介して微分回路から微分波形の凸なる
山の数が、予め実験で求めた整粒の山の数より多い時に
胴割粒と判定する波形処理部と、からなる胴割粒検出装
置。 - 【請求項４】 米粒の胴割面に対して一方側を照射する
照射光は、米粒の長軸長さの１／２以下の範囲を照射す
る大きさとし、この状態においては、少なくとも上部ま
たは下部の受光素子の視野は、米粒の胴割面に対して他
方側で長軸長さの１／２以下の範囲となるようにしてな
る請求項３記載の胴割粒検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3323665A JP3020041B2 (ja) | 1991-11-12 | 1991-11-12 | 胴割粒検出方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3323665A JP3020041B2 (ja) | 1991-11-12 | 1991-11-12 | 胴割粒検出方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05133905A JPH05133905A (ja) | 1993-05-28 |
| JP3020041B2 true JP3020041B2 (ja) | 2000-03-15 |
Family
ID=18157245
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3323665A Expired - Lifetime JP3020041B2 (ja) | 1991-11-12 | 1991-11-12 | 胴割粒検出方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3020041B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7851722B2 (en) * | 2006-06-15 | 2010-12-14 | Satake Corporation | Optical cracked-grain selector |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1830176A1 (en) * | 2006-03-02 | 2007-09-05 | FOSS Analytical AB | Device and method for optical measurement of small particles such as grains from cereals and like crops |
-
1991
- 1991-11-12 JP JP3323665A patent/JP3020041B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7851722B2 (en) * | 2006-06-15 | 2010-12-14 | Satake Corporation | Optical cracked-grain selector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05133905A (ja) | 1993-05-28 |
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