JP3013695B2 - 半導体並列スイッチング回路の診断装置 - Google Patents
半導体並列スイッチング回路の診断装置Info
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- JP3013695B2 JP3013695B2 JP6071798A JP7179894A JP3013695B2 JP 3013695 B2 JP3013695 B2 JP 3013695B2 JP 6071798 A JP6071798 A JP 6071798A JP 7179894 A JP7179894 A JP 7179894A JP 3013695 B2 JP3013695 B2 JP 3013695B2
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/0027—Measuring means of, e.g. currents through or voltages across the switch
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- Electronic Switches (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
- Safety Devices In Control Systems (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体並列スイッチン
グ回路の診断装置に係り、各半導体スイッチごとに半導
体スイッチ（例、電界効果トランジスタ，バイポーラト
ランジスタ，サイリスタ等）の健全性を判定するのに好
適な半導体並列スイッチング回路の診断装置に関する。
グ回路の診断装置に係り、各半導体スイッチごとに半導
体スイッチ（例、電界効果トランジスタ，バイポーラト
ランジスタ，サイリスタ等）の健全性を判定するのに好
適な半導体並列スイッチング回路の診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術の一例は、特開昭63−318601号
公報が挙げられる。この従来技術において、第１信号及
び第２信号の各々により駆動される第１接点及び第２接
点を並列接続して第１部分回路を形成し、第３信号及び
第４信号の各々により駆動される第３接点及び第４接点
を直列接続して第２部分回路を形成し、第３信号及び第
４信号の各々によって駆動される第５接点及び第６接点
を並列接続して第３部分回路を形成し、第１信号及び第
２信号の各々によって駆動される第７接点及び第８接点
を直列接続して第４部分回路を形成し、さらに第１及び
第２部分回路を直列接続した第５部分回路と第３及び第
４部分回路を直列接続した第６部分回路とを並列接続し
て２アウトオブ４回路を構成し、第１接点及び第２接点
と、第５及び第６接点の各々に１個ずつの計４個の電流
検出手段を設け、電流検出手段の出力信号に基づいて各
々の接点の健全性を診断装置によって判定している。
公報が挙げられる。この従来技術において、第１信号及
び第２信号の各々により駆動される第１接点及び第２接
点を並列接続して第１部分回路を形成し、第３信号及び
第４信号の各々により駆動される第３接点及び第４接点
を直列接続して第２部分回路を形成し、第３信号及び第
４信号の各々によって駆動される第５接点及び第６接点
を並列接続して第３部分回路を形成し、第１信号及び第
２信号の各々によって駆動される第７接点及び第８接点
を直列接続して第４部分回路を形成し、さらに第１及び
第２部分回路を直列接続した第５部分回路と第３及び第
４部分回路を直列接続した第６部分回路とを並列接続し
て２アウトオブ４回路を構成し、第１接点及び第２接点
と、第５及び第６接点の各々に１個ずつの計４個の電流
検出手段を設け、電流検出手段の出力信号に基づいて各
々の接点の健全性を診断装置によって判定している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】特開昭63−381601号公
報では、各々の接点に半導体スイッチを用いている場
合、第１部分回路及び第３部分回路のように二つの接点
を並列接続している部分では、どちらか一方の接点が閉
故障すると、閉故障した半導体スイッチのオン抵抗の値
が、アバランシー現象によりほぼ０Ωになる場合があ
る。もう一方の正常な半導体スイッチのオン抵抗は有限
な値（例えば０.１Ω)であるため、接点の並列接続部で
は、閉故障した半導体スイッチの方へ電流が全て流れる
ことになる。このため、もう一方の半導体スイッチは正
常であるにもかかわらず電流が流れなくなり、電流検出
手段の出力信号に基づいて接点の健全性を判定する診断
回路は、正常な半導体スイッチが開故障していると判定
することになる。
報では、各々の接点に半導体スイッチを用いている場
合、第１部分回路及び第３部分回路のように二つの接点
を並列接続している部分では、どちらか一方の接点が閉
故障すると、閉故障した半導体スイッチのオン抵抗の値
が、アバランシー現象によりほぼ０Ωになる場合があ
る。もう一方の正常な半導体スイッチのオン抵抗は有限
な値（例えば０.１Ω)であるため、接点の並列接続部で
は、閉故障した半導体スイッチの方へ電流が全て流れる
ことになる。このため、もう一方の半導体スイッチは正
常であるにもかかわらず電流が流れなくなり、電流検出
手段の出力信号に基づいて接点の健全性を判定する診断
回路は、正常な半導体スイッチが開故障していると判定
することになる。
【０００４】本発明の目的は、並列に接続された複数の
半導体スイッチの１つが閉故障となっても、他の健全な
半導体スイッチが開故障状態であると誤判断することを
防止できる半導体並列スイッチング回路の診断装置を提
供することにある。
半導体スイッチの１つが閉故障となっても、他の健全な
半導体スイッチが開故障状態であると誤判断することを
防止できる半導体並列スイッチング回路の診断装置を提
供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成する本
発明の特徴は、負荷に供給する電力をオン，オフ制御す
る半導体並列スイッチング回路を診断する装置におい
て、前記半導体並列スイッチング回路は、半導体スイッ
チと、前記負荷に供給される電力の周波数に対して前記
半導体スイッチのオン抵抗の値よりも大きなインピーダ
ンスをもつインダクタンスとを直列に接続してなる回路
を、並列に複数接続して構成されるものであって、前記
半導体スイッチ毎に流れる電流を検出する電流検出器
と、前記電流検出器の出力に基づいて前記半導体スイッ
チの健全性を判定する診断手段とを備えたことにある。
発明の特徴は、負荷に供給する電力をオン，オフ制御す
る半導体並列スイッチング回路を診断する装置におい
て、前記半導体並列スイッチング回路は、半導体スイッ
チと、前記負荷に供給される電力の周波数に対して前記
半導体スイッチのオン抵抗の値よりも大きなインピーダ
ンスをもつインダクタンスとを直列に接続してなる回路
を、並列に複数接続して構成されるものであって、前記
半導体スイッチ毎に流れる電流を検出する電流検出器
と、前記電流検出器の出力に基づいて前記半導体スイッ
チの健全性を判定する診断手段とを備えたことにある。
【０００６】
【作用】本発明は、並列に接続された複数の半導体スイ
ッチの１つが閉故障になった場合でも、半導体スイッチ
のオン抵抗の値よりも大きな値のインピーダンスを有す
るインダクタンスを設けることにより各半導体スイッチ
に流れる電流をほぼ均等にすることができるので、各々
の半導体スイッチに流れる電流に基づいて該半導体スイ
ッチの健全性を誤りなく検出することができる。
ッチの１つが閉故障になった場合でも、半導体スイッチ
のオン抵抗の値よりも大きな値のインピーダンスを有す
るインダクタンスを設けることにより各半導体スイッチ
に流れる電流をほぼ均等にすることができるので、各々
の半導体スイッチに流れる電流に基づいて該半導体スイ
ッチの健全性を誤りなく検出することができる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の実施例を図１から図４を用い
て説明する。
て説明する。
【０００８】図１において、負荷１１は半導体並列スイ
ッチング回路２によってオン，オフ制御される。半導体
並列スイッチング回路２は、各半導体スイッチ４−１〜
４−Ｎが並列にＮ個接続されており、各半導体スイッチ
４−１〜４−Ｎは各駆動回路７−１〜７−Ｎから各々駆
動信号６−１〜６−Ｎを受けて動作する。後述するが各
半導体スイッチ４−１〜４−Ｎに流れる電流を均等にす
るために素子３−１〜３−Ｎを半導体スイッチ４−１〜
４−Ｎと直列に接続している。カレントトランス５−１
〜５−Ｎによって半導体スイッチ４−１〜４−Ｎに流れ
ている電流を検出し、電流検出信号８−１〜８−Ｎは、
それぞれ診断回路９−１〜９−Ｎに入力される。各診断
回路９−１〜９−Ｎは、電流検出信号８−１〜８−Ｎに
基づいて各半導体スイッチ４−１〜４−Ｎが健全か否か
を判定し、診断結果である半導体スイッチ開故障判定結
果１０−１〜１０−Ｎをそれぞれ出力する。
ッチング回路２によってオン，オフ制御される。半導体
並列スイッチング回路２は、各半導体スイッチ４−１〜
４−Ｎが並列にＮ個接続されており、各半導体スイッチ
４−１〜４−Ｎは各駆動回路７−１〜７−Ｎから各々駆
動信号６−１〜６−Ｎを受けて動作する。後述するが各
半導体スイッチ４−１〜４−Ｎに流れる電流を均等にす
るために素子３−１〜３−Ｎを半導体スイッチ４−１〜
４−Ｎと直列に接続している。カレントトランス５−１
〜５−Ｎによって半導体スイッチ４−１〜４−Ｎに流れ
ている電流を検出し、電流検出信号８−１〜８−Ｎは、
それぞれ診断回路９−１〜９−Ｎに入力される。各診断
回路９−１〜９−Ｎは、電流検出信号８−１〜８−Ｎに
基づいて各半導体スイッチ４−１〜４−Ｎが健全か否か
を判定し、診断結果である半導体スイッチ開故障判定結
果１０−１〜１０−Ｎをそれぞれ出力する。
【０００９】説明を容易にするために、一例として半導
体並列スイッチング回路２を半導体スイッチ４−１と４
−２のみによる並列接続構成とし、各半導体スイッチの
オン抵抗値をＲ1 とＲ2 、素子３−１と３−２のインピ
ーダンスをＺ1 とＺ2 とする。半導体スイッチ４−１に
流れる電流をＩ1 、半導体スイッチ４−２に流れる電流
をＩ2 とし、Ｉ1 とＩ2 の合成電流をＩ0 とすると、Ｉ
1 とＩ2 は数１及び数２で表わされる。
体並列スイッチング回路２を半導体スイッチ４−１と４
−２のみによる並列接続構成とし、各半導体スイッチの
オン抵抗値をＲ1 とＲ2 、素子３−１と３−２のインピ
ーダンスをＺ1 とＺ2 とする。半導体スイッチ４−１に
流れる電流をＩ1 、半導体スイッチ４−２に流れる電流
をＩ2 とし、Ｉ1 とＩ2 の合成電流をＩ0 とすると、Ｉ
1 とＩ2 は数１及び数２で表わされる。
【００１０】
【数１】
【００１１】
【数２】
【００１２】素子３−１及び３−２のインピーダンスＺ
1とＺ2が半導体スイッチ４−１と４−２のオン抵抗値Ｒ
1とＲ2より十分に大きな値となるようにあらかじめ設定
しておくと、数１及び数２は数３及び数４で表わされ
る。
1とＺ2が半導体スイッチ４−１と４−２のオン抵抗値Ｒ
1とＲ2より十分に大きな値となるようにあらかじめ設定
しておくと、数１及び数２は数３及び数４で表わされ
る。
【００１３】
【数３】
【００１４】
【数４】
【００１５】Ｚ1とＺ2が等しくなるように、インピーダ
ンスを設定しておけば、Ｉ1とＩ2は等しくなる。だか
ら、半導体スイッチ４−１と４−２のどちらか一方が閉
故障し、そのオン抵抗値がほぼ０Ωとなっても半導体ス
イッチ４−１と４−２にほぼ均等の電流を流すことが可
能となり、電流がゼロになることはない。
ンスを設定しておけば、Ｉ1とＩ2は等しくなる。だか
ら、半導体スイッチ４−１と４−２のどちらか一方が閉
故障し、そのオン抵抗値がほぼ０Ωとなっても半導体ス
イッチ４−１と４−２にほぼ均等の電流を流すことが可
能となり、電流がゼロになることはない。
【００１６】この結果、診断回路９−１〜９−Ｎは以下
のように各々の半導体スイッチ４−１〜４−Ｎに流れる
電流に基づいて半導体スイッチの健全性を誤りなく判断
することができる。一例として、半導体スイッチ４−１
が閉故障してそのオン抵抗値が０Ωになった場合につい
て説明する。この場合でも、前述した様に、Ｉ1 及びＩ
2 は数３及び数４で示されるので、半導体スイッチ４−
２の検出電流である電流検出信号８−２は図３（ａ）に
示すような正弦波信号となる。
のように各々の半導体スイッチ４−１〜４−Ｎに流れる
電流に基づいて半導体スイッチの健全性を誤りなく判断
することができる。一例として、半導体スイッチ４−１
が閉故障してそのオン抵抗値が０Ωになった場合につい
て説明する。この場合でも、前述した様に、Ｉ1 及びＩ
2 は数３及び数４で示されるので、半導体スイッチ４−
２の検出電流である電流検出信号８−２は図３（ａ）に
示すような正弦波信号となる。
【００１７】図２の比較回路１２−２は、電流検出信号
８−２が基準電圧以上であれば論理“１”の信号を出力
し、基準電圧以下であれば論理“０”の信号を出力す
る。この結果、図３（ｂ）に示すパルス信号が得られ
る。フィルタ回路１４−２は、比較回路出力信号１３−
２が図３（ｂ）のように一定周期のパルス信号であれ
ば、図３（ｃ）に示すように論理“１”の信号を出力す
る。この出力信号が半導体スイッチ４−２の開故障判定
結果であり、論理“１”が半導体スイッチ４−２の正常
を示し、論理“０”が開故障を示す。従って、この場合
半導体スイッチ４−１が閉故障となっても、半導体スイ
ッチ４−２が正常であることが示される。次に図４にお
いて半導体スイッチ４−２が開故障した場合について説
明する。
８−２が基準電圧以上であれば論理“１”の信号を出力
し、基準電圧以下であれば論理“０”の信号を出力す
る。この結果、図３（ｂ）に示すパルス信号が得られ
る。フィルタ回路１４−２は、比較回路出力信号１３−
２が図３（ｂ）のように一定周期のパルス信号であれ
ば、図３（ｃ）に示すように論理“１”の信号を出力す
る。この出力信号が半導体スイッチ４−２の開故障判定
結果であり、論理“１”が半導体スイッチ４−２の正常
を示し、論理“０”が開故障を示す。従って、この場合
半導体スイッチ４−１が閉故障となっても、半導体スイ
ッチ４−２が正常であることが示される。次に図４にお
いて半導体スイッチ４−２が開故障した場合について説
明する。
【００１８】時刻ｔ1 で半導体スイッチ４−２が開故障
したとすると、電流検出信号８−２は図４（ａ）に示す
ようにゼロとなる。比較回路１２−２は電流検出信号８
−２が基準電圧以下となったために、比較回路出力信号
１３−２は図４（ｂ）に示すように論理“０”の信号と
なる。フィルタ回路１４−２は一定周期のパルス信号が
得られなくなったため、時定数τの時間だけ遅れて図４
（ｃ）に示すように論理“０”の信号となる。つまり、
診断結果は半導体スイッチ４−２の開故障を示すことに
なり、正しく判定することができる。
したとすると、電流検出信号８−２は図４（ａ）に示す
ようにゼロとなる。比較回路１２−２は電流検出信号８
−２が基準電圧以下となったために、比較回路出力信号
１３−２は図４（ｂ）に示すように論理“０”の信号と
なる。フィルタ回路１４−２は一定周期のパルス信号が
得られなくなったため、時定数τの時間だけ遅れて図４
（ｃ）に示すように論理“０”の信号となる。つまり、
診断結果は半導体スイッチ４−２の開故障を示すことに
なり、正しく判定することができる。
【００１９】以上のように半導体並列スイッチング回路
２の診断回路９−１〜９−Ｎにおいては、各半導体スイ
ッチ４−１〜４−Ｎごとに、半導体スイッチのオン抵抗
値よりも大きな値のインピーダンスをもつ素子３−１〜
３−Ｎを直列に接続する構成とすることにより、並列接
続部では、ある半導体スイッチが閉故障して、そのオン
抵抗が０Ωになっても、各半導体スイッチ４−１〜４−
Ｎにほぼ均等に電流を流すことができるので、各診断回
路９−１〜９−Ｎは誤りなく各半導体スイッチの健全性
を判定することができる。
２の診断回路９−１〜９−Ｎにおいては、各半導体スイ
ッチ４−１〜４−Ｎごとに、半導体スイッチのオン抵抗
値よりも大きな値のインピーダンスをもつ素子３−１〜
３−Ｎを直列に接続する構成とすることにより、並列接
続部では、ある半導体スイッチが閉故障して、そのオン
抵抗が０Ωになっても、各半導体スイッチ４−１〜４−
Ｎにほぼ均等に電流を流すことができるので、各診断回
路９−１〜９−Ｎは誤りなく各半導体スイッチの健全性
を判定することができる。
【００２０】なお、フィルタ回路の時定数τは、コンデ
ンサＣと抵抗Ｒによって定まるものであり、図３（ｂ）
のパルスの周期がこの時定数よりも長くなった時に、フ
ィルタ回路の出力が論理“０”になるようにしており、
耐ノイズ性を高めている。
ンサＣと抵抗Ｒによって定まるものであり、図３（ｂ）
のパルスの周期がこの時定数よりも長くなった時に、フ
ィルタ回路の出力が論理“０”になるようにしており、
耐ノイズ性を高めている。
【００２１】
【発明の効果】本発明によれば、並列に接続された複数
の半導体スイッチの１つに閉故障が発生しても、正常な
半導体スイッチに流れていた電流がゼロになることな
く、正常な半導体スイッチが開状態に故障していると誤
判定することを防止できる。
の半導体スイッチの１つに閉故障が発生しても、正常な
半導体スイッチに流れていた電流がゼロになることな
く、正常な半導体スイッチが開状態に故障していると誤
判定することを防止できる。
【図１】本発明の実施例を示すブロック図。
【図２】診断回路の説明図。
【図３】半導体スイッチ４−１が閉故障した場合の診断
回路の動作波形図。
回路の動作波形図。
【図４】半導体スイッチ４−２が開故障した場合の診断
回路の動作波形図。
回路の動作波形図。
１…電源、２…半導体並列スイッチング回路、３−１〜
３−Ｎ…素子、４−１〜４−Ｎ…半導体スイッチ、５−
１〜５−Ｎ…カレントトランス、８−１〜８−Ｎ…電流
検出信号、９−１〜９−Ｎ…診断回路。
３−Ｎ…素子、４−１〜４−Ｎ…半導体スイッチ、５−
１〜５−Ｎ…カレントトランス、８−１〜８−Ｎ…電流
検出信号、９−１〜９−Ｎ…診断回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−318601（ＪＰ，Ａ) 実開 昭61−14890（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G05B 23/02 G05B 7/02 H03K 17/00 H03K 17/12
Claims (1)
- 【請求項１】負荷に供給する電力をオン，オフ制御する
半導体並列スイッチング回路を診断する装置において、前記半導体並列スイッチング回路は、半導体スイッチ
と、 前記負荷に供給される電力の周波数に対して前記半
導体スイッチのオン抵抗の値よりも大きなインピーダン
スをもつインダクタンスとを直列に接続してなる回路
を、並列に複数接続して構成されるものであって、 前記半導体スイッチ毎に流れる電流を検出する電流検出
器と、前記電流検出器の出力に基づいて前記半導体スイ
ッチの健全性を判定する診断手段とを備えたことを特徴
とする半導体並列スイッチング回路の診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6071798A JP3013695B2 (ja) | 1994-04-11 | 1994-04-11 | 半導体並列スイッチング回路の診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6071798A JP3013695B2 (ja) | 1994-04-11 | 1994-04-11 | 半導体並列スイッチング回路の診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07281704A JPH07281704A (ja) | 1995-10-27 |
| JP3013695B2 true JP3013695B2 (ja) | 2000-02-28 |
Family
ID=13470948
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6071798A Expired - Fee Related JP3013695B2 (ja) | 1994-04-11 | 1994-04-11 | 半導体並列スイッチング回路の診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3013695B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4967433B2 (ja) * | 2006-04-19 | 2012-07-04 | 横河電機株式会社 | スイッチ故障検出回路 |
| DE102008014677A1 (de) | 2008-03-18 | 2009-09-24 | Continental Automotive Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Betreiben einer Schaltungsanordnung |
| JP6474188B2 (ja) * | 2013-03-28 | 2019-02-27 | 株式会社Ｇｓユアサ | スイッチ故障判定装置、蓄電装置およびスイッチ故障判定方法 |
| JP6788060B2 (ja) | 2019-03-29 | 2020-11-18 | 住友電装株式会社 | 給電制御装置、開放検知方法及びコンピュータプログラム |
-
1994
- 1994-04-11 JP JP6071798A patent/JP3013695B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07281704A (ja) | 1995-10-27 |
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