JP3012541U - 実装プリント基板の検査装置 - Google Patents

実装プリント基板の検査装置

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JP3012541U
JP3012541U JP1994016546U JP1654694U JP3012541U JP 3012541 U JP3012541 U JP 3012541U JP 1994016546 U JP1994016546 U JP 1994016546U JP 1654694 U JP1654694 U JP 1654694U JP 3012541 U JP3012541 U JP 3012541U
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栄二 阿部
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株式会社エスピー
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 表面実装パッケージとピン挿入パッケージの
両方の回路動作を同時に、安定かつ確実に検査可能とす
ること。 【構成】 筺体10のベースプレート11上に、開閉可
能にして、気密的に、内部の真空引きによって下動可能
に配置されたカバー18と、該カバー18の天井にマグ
ネット部材30を介して天井と着脱可能として水平配置
されたピンボード28と、該ピンボードに装着されたピ
ンブロック34とを備え、真空引きによりピンボードが
下動してピンブロックに挿着のプローブピン40のピン
先がプリント基板50の表面実装パッケージのリード端
子に接触すると同時に、プローブピン53のピン先54
がピン挿入パッケージのリード端子と接触して両方の回
路動作が同時検査される。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、実装プリント基板の検査装置に関し、更に詳しくは、プリント基板 の裏面に端子を出すことができないフラットIC等の表面実装パッケージとピン 挿入パッケージの両方の回路動作を同時に検査することができる両面基板用の検 査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、この種技術としては、特に図示しないが、実装プリント基板を水平支持 してその周縁を押え、レバー操作によりピンプレートを上動させてプローブピン を下方より実装パッケージのリード端子に電気的接触させて検査する、所謂下針 方式のものが一般的であった。
【0003】
【考案が解決しようとする問題点】
しかしながら、この従来構造においては、定置された実装プリント基板に対し 、ピンプレートが上動してプローブピンが下方より接触するものであるから、 プリント基板が下方からもち上げられることになってプリント基板が薄い場合に は割れる恐れがあり、またフレキシブルなフィルム基板の場合にあっては上方に 反って接触不良が生じるという問題点があった。また配線したピンプレートが上 下動するため、配線の緩みや断線の恐れがあって、時によっては検査不能を起こ すという問題点もあった。
【0004】 本考案は、このような従来の問題点に鑑みなされたもので、その目的とすると ころは、表面実装パッケージとピン挿入パッケージの両方の回路動作を同時に、 安定かつ確実に、しかもリードピッチの極めて狭い(0.65mm)ものでも確実 に検査し得る高精度の実装プリント基板の検査装置を提供することにある。
【0005】
【問題点を解決するための手段】 この目的のため、本考案は、筺体と、該筺体のベースプレート上に配置され、 かつエアー抜き用取手を有する箱型カバーと、該カバーの天井に、マグネット部 材を介して該天井と平行に着脱可能とし、かつその四隅に設けられたブッシュが ベースプレートの四隅に上向きに固装されたリニアベアリングのシャフト先端部 と弾発的に係合して水平に配置されたピンボードと、該ピンボードに装着された ピンブロックとを備え、前記カバーは開閉可能にして、気密的に、しかも内部の 真空引きによって全体が下動可能に設けられ、前記ピンブロックは、前記ベース プレートに上向きに固装されたガイドピンに挿着され、かつその表面適所と前記 ピンボード下面との間にダンパーゴムが介装されて水平配置のプリント基板の表 面上に直接実装されたパッケージのリードピッチと適合したピッチ間隔で多数の プローブピンの挿着孔が貫設され、前記ピンボードがカバーと共に内部の真空引 きにより下動して、ピンブロックの挿着孔に下向きに挿着のプローブピンのピン 先が前記プリント基板表面実装パッケージのリード端子に電気的接触し、また同 時に前記ベースプレートに上向きに挿着のプローブピンのピン先がピリント基板 に実装のピン挿入パッケージのリード端子と電気的接触して回路動作が検査され る構成を特徴とするものである。
【0006】
【実施例】
実施例について図面を参照し、その作用と共に説明する。図1は本考案の要部 を示す一部切欠の縦断面図、図2は外観平面図、図3は外観側面図で、これら図 において、方形状の筺体10はアルミニウム等の軽金属板をもって形成されると 共に、該筺体10の上面開口部にはベースプレート11が固装されている。ベー スプレート11の上方には、所定の間隔で平行に方形状のトッププレート12が 配置され、該トッププレート12の上面の全周囲には、内側に肉厚にして断面横 長四角形のゴム部材13が、また外側にはゴム部材13の略半分の肉厚を有する 断面横長四角形のゴム部材14がそれぞれ固装されて、外側ゴム部材14におけ るトッププレート12より外方に出ている周縁部15が、ベースプレート11の 上面周囲に設けられたアルミ枠16に枠止めされて、トッププレート12が水平 配置され、該トッププレート12は、後述する真空引き手段による真空引きによ って、ゴム部材13、14の変形を介し、かつその四隅に介装されているスプリ ング17の弾力に抗して図1に数字100で示されている実線矢印方向に下動し 、また真空引き解除によるスプリング17の復帰作用によって元位置に戻るよ うになっている。内側ゴム部材13の上面内方には、断面コ字形にして、平面方 形の箱型カバー18が、その開口側周端面を密着させて配置されている。
【0007】 カバー18は、好ましくはアクリル樹脂製であって、その対向せる両側板部に は、それぞれ取付バー19の一端部が取り付けられると共に、取付バー19の他 端部はゴム部材14上に固装の左右一対のスライドチョウバンブラケット20に それぞれ連結されている。ブラケット20にそれぞれ取り付けられたバー21と 取付バー19の一端部との間にはそれぞれガスダンパー22が連結され、エアー 抜き用取手23を持ってカバー18を上方に開放することにより、一対のガスダ ンパー22の作用によってカバー18の開口側周端面がゴム部材13の上面より 水平にして、かつ完全に離れて所定の間隙(プリント基板を出し入れするに充分 な間隙)が形成されるようになっている。エアー抜き用カバー取手23は、取付 板24に取り付けられ、該取付板24は、その左右両端部において遊挿されてカ バー前面板部にそれぞれ植設のピン25により連結されると共に、ピン25に弾 装されたスプリング26によって常時取付板24がカバー前面板部に圧接せられ て、カバー前面板部に明けられたエアー抜き孔27が密閉されて内部の気密性が 保持されると共に、真空引き解除によるカバー18の開放時においては、スプリ ング26の弾力に抗して取手23を手前に引くことにより取付板24によるエア ー抜き孔27の閉塞を解除して、カバー18の開放が容易にできるようになって いる。なお、ピン25およびスプリング26の図示は、図面の表示を簡潔にする ため、一方のみを示し、他方は省略してある。
【0008】 カバー18内に配置のピンボード28は、該ピンボード28に植設の補強バー 29とマグネット部材30を介して着脱可能にして、かつカバー天井板部と平行 に垂設されている。マグネット部材30は、ピンボード28に取り付けられたマ グネット体31と、カバー天井部に取り付けられたマグネット体31との吸着金 属板32とを含み、これによりピンボード28の交換が可能になると共に、その 取り付け、取り外しが容易でメンテナンスも簡単にできるようになっている。ピ ンボード28には、その挿着孔33を介してピンブロック34が取り付けられて いる。
【0009】 ピンブロック34は、図4から図7に示されているように、方形状つば部35 と該つば部と一体のブロック部36を有し、ブロック部36の下面には、表面実 装パッケージ(チップ部品)の外形と適合した形状の凹部37が形成されると共 に、該凹部37の周縁軸方向には、表面実装パッケージのリードピッチで多数の プローブピン40の挿着孔38が貫設され、またつば部35の周縁には取付孔3 9が穿設されて構成されている。そして、ピンブロック34は、図1に示されて いるように、その各挿着孔38にプローブピン40を下向きに挿着した状態で、 そのブロック部36を挿着孔33から下方に臨ませ、つば部35における取付孔 39を介してピンボード28に螺着される。なお、プローブピン40は、表面実 装パッケージのリード端子と対応させて挿着されるが、図1においては、1本の みが特に示され、他は図示を省略してある。またピンブロック34は、プリント 基板の裏面に端子を出すことができないフラットIC等の表面実装パッケージの リード端子にプローブピンを電気的接触させるためのものであるから、被検査表 面実装パッケージに対応させてそれぞれピンボード28に取り付けられるが、図 1においては、図面の表示を簡潔にする目的で1つのみ示してある。
【0010】 ピンボード28の四隅にはブッシュ41が設けられており、該ブッシュ41と 対向するベースプレート11の部位にはフランジ付リニアベアリング42がそれ ぞれ上向きに固装されて、そのシャフト43の円錐状先端部44がブッシュ41 と円滑に接触し、内部の真空引きによる下方向への移動時において、ブッシュ4 1とシャフト先端部44が係合してブッシュ41がEリング45に当接すると、 シャフト45がスプリング46の弾力に抗して下動し、ピンボード28が垂直に 下方向に移動してピンボード28に垂直方向以外の荷重がかからないようになっ ている。またピンボード28には、ベースプレート11に上向きに植設されたガ イドピン47との係合孔48が設けられ、更に下部適所にはストッパー49が設 けられている。
【0011】 プリント基板50は、ゴム部材51を介してトッププレート12の上方に水平 に配置されると共に、その周縁部がガイドピン47によって支持されており、ま たプリント基板50とピンボード28との間にはダンパーゴム52が介在されて 、カバー18と一体的にピンボード28が下動する時、ピンボード28の押し 下げによってダンパーゴム52が変形して、プローブピン40の先端によるプリ ント基板50に対する直接押し下げが防止されてプローブピン40の先端の損傷 、プリント基板50の損傷等が防止されると共に、プリント基板50がゴム部 材51に支持されて押し下げられると、ベースプレート11に上向きに植設され ているプローブピン53の先端がトッププレート12のピン孔54を介してプリ ント基板50に実装のピン挿入パッケージのリード端子に一定の接圧をもって電 気的接触するようになっている。カバー18の内部を含むベースプレート11の 上方内部は真空排気されるが、これの手段としてベースプレート11の下面にお けるカバー取手23との対向側にして、ゴム部材14、13との対応部位にバキ ュームホルダー55が垂設されると共に、該ホルダー55と真空ポンプ(図示し ない)がホース56を介して連結され、真空ポンプの駆動によりホース56を介 して内部の空気がベースプレート11の排気孔57より真空排気されるように構 成されている。図1は前記したように、本考案の要部を示す縦断面図であるが、 この図においては、プローブピン40、53の配線やそれの基板等の部材は図面 の表示を簡潔にする目的で図示を省略してある。
【0012】 本考案に係る検査装置は、上記の構成であって、その動作を説明すると、図1 において、検査されるプリント基板50はその四隅がガイドピン47に挿通支持 されてトッププレート12のゴム部材51に水平に載置されている。プリント基 板50の表面には、図示しないが、ピン挿入パッケージ、表面実装パッケージが 実装されており、これらパッケージの回路動作がプローブピンを介して検査され る。図1において、ピンボード28は被検査プリント基板50の表面実装パッケ ージとそれぞれ対応したピンブロック34が装着され、各ピンブロック34のピ ン挿着孔38には、それぞれ各パッケージのリードピッチでプローブピン40が 下向きに挿着されている。そこで、図1に示されている状態において、真空ポン プ(図示しない)を駆動し、ホース56、バキュームアダプター55、排気孔5 7を通してベースプレート11とカバー18との空間部を真空排気する。すると 、ゴム部材14、13を介して設けられているトッププレート12がスプリン グ17の弾力に抗して数字100で示されている実線矢印方向に引き下げられる と共に、これと一体にカバー18およびピンボード28が同方向に引き下げられ る。すると、ピンボード28のブッシュ41がリニアベアリング42のEリング 45に当接してスプリング46の弾力に抗してシャフト43を押し下げながら、 かつダンパーゴム52を移動させながら垂直に引き下げられ、ピンブロック34 のプローブピン40のピン先が表面実装パッケージのリード端子に電気的接触す る。なお、ピンボード28はそのブッシュ41とリニアベアリング42のシャフ ト先端部44が円滑に接触し、かつシャフト43に案内されて引き下げられるた め、垂直方向以外の荷重はかからず、またプローブピン40の先端が直接プリン ト基板50に接触してこれを押し下げるのではなく、ダンパーゴム52の変形を 介して接触し、押し下げるのであり、しかもプリント基板50はトッププレート 12上のゴム部材51に載置支持されているから、プローブピン40の先端部が 損傷等したり、またプリント基板50を損傷等することなく、極めて良好に電気 的接触する。
【0013】 プリント基板50がダンパーゴム52の変形により押し下げられると同時にト ッププレート12が真空引きにより引き下げられるため、ベースプレート11に 植設の上向きプローブピン53のピン先がピン孔54より突出して、プリント基 板50に実装のピン挿入パッケージのリード端子に良好に電気的接触する。この ようにして、表面実装パッケージの回路動作はピンブロック34のプローブピン 40により、またピン挿入パッケージの回路動作はベースプレート11のプロー ブピン53により同時に検査される。
【0014】 検査が完了したならば、真空引きを解除し、スプリング26の弾力に抗してカ バー取手23を手前に引いて取付板24によるエアー抜き孔27の密閉を解除す る。すると、トッププレート12はスプリング17の復帰力によって元位置に戻 ると共に、スプリング46の復帰力によるリニアベアリングシャフト43の戻り によってピンボード28と一体にカバー18が元位置に戻る。続いて取手23を 持ってカバー18を上げると、ガスダンパー22の作用によりいままで周縁ゴム 部材13と密着していたカバー18の周縁面がゴム部材13より完全に離れて間 隙が形成されるので、ここより検査済みのプリント基板を取り出し、検査作業を 終了する。以下、同様に前記一連の動作が繰り返されて検査が行われると共に、 表面実装パッケージを異にする場合には、これの検査に適合したピンブロック3 4等を装着のピンボード28と交換(マグネット体31と金属板32との着脱に よる)し、前記同様の動作が繰り返されて検査が行われる。
【0015】
【考案の効果】
しかして、本考案によれば、実装プリント基板の両面、換言すれば、表面実装 パッケージとピン挿入パッケージの両回路動作を同時に(または別々に)に検査 することができると共に、表面実装パッケージにあっては、ピンブロックの採用 により、従来では不可能であったリードピッチ0.65mm端子のパッケージまで 検査可能となり、しかもピンブロックを装着のピンボードはマグネット部材を介 して交換自在であるから、表面実装パッケージを異にする場合であってもこれに 対応できて汎用性に優れ経済的である。
【0016】 また本考案によれば、従来のように手動によるレバー操作を介してピンプレー トを上動させる構造ではなく、プリント基板を上方より押える構造であるから、 例えば薄いフレキシブルフィルム基板であっても反りを生じることなく、確実、 良好にプローブピンが電気的接触し、検査を確実に行うことができる。
【0017】 また本考案によれば、手動によることなく、真空引きによってトッププレート を介してカバーとピンボードが引き下げられ、しかもピンボードは、その係合し ているブッシュがリニアベアリングのシャフトを押し下げながら引き下げられる ため、垂直方向以外の荷重がかからずに円滑に引き下げられると共に、該ピンボ ードの押し下げによるダンパーゴムの変形を介してプローブピンがプリント基板 に接触するものであって、プローブピンのピン先が直接プリント基板に接触し、 かつこれを押し下げるものではないから、プローブピンのピン先の損傷やプリン ト基板の損傷等が防止されて、極めて良好に電気的接触し、信頼性に優れるもの である。
【0018】 更に本考案によれば、カバーの開放はエアー抜き用取手の採用により容易にな し得て検査時間を著しく短縮することができ、作業性にも優れるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係る検査装置の要部を示す一部切欠の
縦断面図である。
【図2】外観平面図である。
【図3】外観側面図である。
【図4】ピンブロックの平面図である。
【図5】同上底面図である。
【図6】図4のVI−VI線に沿った断面図である。
【図7】図4のVII−VII線に沿った断面図である。
【符号の説明】
10 筺体 11 ベースプレート 12 トッププレート 13、14 ゴム部材 15 周縁部 16 枠 17 スプリング 18 カバー 23 エアー抜き用取手 28 ピンボード 30 マグネット部材 34 ピンブロック 37 凹部 38 挿着孔 40、53 プローブピン 41 ブッシュ 42 リニアベアリング 43 シャフト 44 シャフト先端部 45 Eリング 46 スプリング 47 ガイドピン 48 係合孔 50 プリント基板 52 ダンパーゴム 54 ピン孔 55 バキュームホルダー 56 ホース 57 排気孔

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 筺体と、該筺体のベースプレート上に配
    置され、かつエアー抜き用取手を有する箱型カバーと、
    該カバーの天井に、マグネット部材を介して該天井と平
    行に着脱可能とし、かつその四隅に設けられたブッシュ
    がベースプレートの四隅に上向きに固装されたリニアベ
    アリングのシャフト先端部と弾発的に係合して水平に配
    置されたピンボードと、該ピンボードに装着されたピン
    ブロックとを備え、前記カバーは開閉可能にして、気密
    的に、しかも内部の真空引きによって全体が下動可能に
    設けられ、前記ピンブロックは、前記ベースプレートに
    上向きに固装されたガイドピンに挿着され、かつその表
    面適所と前記ピンボード下面との間にダンパーゴムが介
    装されて水平配置のプリント基板の表面上に直接実装さ
    れたパッケージのリードピッチと適合したピッチ間隔で
    多数のプローブピンの挿着孔が貫設され、前記ピンボー
    ドがカバーと共に内部の真空引きにより下動して、ピン
    ブロックの挿着孔に下向きに挿着のプローブピンのピン
    先が前記プリント基板表面実装パッケージのリード端子
    に電気的接触し、また同時に前記ベースプレートに上向
    きに挿着のプローブピンのピン先がピリント基板に実装
    のピン挿入パッケージのリード端子と電気的接触して回
    路動作が検査される構成を特徴とする実装プリント基板
    の検査装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3388462B2 (ja) 1999-09-13 2003-03-24 日本電気株式会社 半導体チップ解析用プローバ及び半導体チップ解析装置
JP2010003929A (ja) * 2008-06-20 2010-01-07 Tokyo Electron Ltd プローブ装置
CN112820650A (zh) * 2020-12-31 2021-05-18 成都优博创通信技术有限公司 一种二极管接脚装置

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