JP3006232B2 - Ultrasonic testing equipment - Google Patents

Ultrasonic testing equipment

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JP3006232B2 JP3294158A JP29415891A JP3006232B2 JP 3006232 B2 JP3006232 B2 JP 3006232B2 JP 3294158 A JP3294158 A JP 3294158A JP 29415891 A JP29415891 A JP 29415891A JP 3006232 B2 JP3006232 B2 JP 3006232B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、鋼材の内部や鋼材溶
接部等の試験体内欠陥の検出や、試験体の音速や超音波
減衰量を測定するときに使用する超音波探傷試験装置に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ultrasonic flaw detector used for detecting defects in a test object such as the inside of a steel material or a welded portion of a steel material and measuring the sound speed and ultrasonic attenuation of the test object. It is.

【0002】[0002]

【従来の技術】試験体内に超音波パルスを入射させて試
験体内欠陥等で反射する超音波パルスを検出することに
よって、欠陥の存在を知る方法は、よく知られている。
超音波探傷試験装置は、上記方法を実現するために使用
するもので図5に構成例を示す。図において1は発振
器、2は発振器1の出力1aをトリガとして電気パルス
2aを発生する送信器、3は送信器2からの電気パルス
2aをもとに超音波を発生する超音波探触子、4は超音
波探触子3からの信号を増幅する受信器、5は受信器4
の出力4aを観測するための表示器、6は発振器1の出
力1aをトリガとして表示器5上の時間軸を発生する為
の鋸歯状波6aを発生する時間軸発生器、Bは底面から
の反射波、Fは欠陥からの反射波、Sは試験体、dは欠
陥を示す。
2. Description of the Related Art A method of detecting the presence of a defect by making an ultrasonic pulse incident on a test body and detecting an ultrasonic pulse reflected by a defect in the test body is well known.
The ultrasonic test equipment is used to realize the above method, and FIG. 5 shows a configuration example. In the figure, 1 is an oscillator, 2 is a transmitter that generates an electric pulse 2a by using an output 1a of the oscillator 1 as a trigger, 3 is an ultrasonic probe that generates ultrasonic waves based on the electric pulse 2a from the transmitter 2, 4 is a receiver for amplifying a signal from the ultrasonic probe 3 and 5 is a receiver 4
6 is a time axis generator for generating a sawtooth wave 6a for generating a time axis on the display 5 by using the output 1a of the oscillator 1 as a trigger, and B is a display from the bottom. A reflected wave, F is a reflected wave from a defect, S is a test specimen, and d is a defect.

【0003】次に動作について図6と図7をもとに説明
する。図6(a)は発振器1の出力波形、(b)は送信
器2の出力波形、(c)は受信器4の出力で検波した波
形で示してある。(d)は時間軸発生器の出力波形であ
る。図7は表示器5に表示された超音波探傷図形であ
り、Tは送信パルス、B1 、B2 は底面エコーを示す。
Next, the operation will be described with reference to FIGS. 6 and 7. 6A shows the output waveform of the oscillator 1, FIG. 6B shows the output waveform of the transmitter 2, and FIG. 6C shows the waveform detected by the output of the receiver 4. (D) is an output waveform of the time axis generator. FIG. 7 is an ultrasonic flaw detection pattern displayed on the display 5, where T indicates a transmission pulse, and B 1 and B 2 indicate bottom echoes.

【0004】発振器1の出力1aの立上りに同期して送
信器2の出力2aが超音波探触子3に入力され、超音波
探触子3は送信器2の出力2aを電気音響変換して超音
波パルスを発生し、試験体Sへ入射させる。超音波パル
スは、試験体Sの内部を伝搬し途中に欠陥d等音響不連
続部があれば、反射して反射波Fとして超音波探触子3
に戻る。更に試験体Sの底面まで到達した超音波パルス
は反射波Bとして超音波探触子3に戻る。反射波FやB
は、超音波探触子3で電気信号に変換されたあと受信器
4で増幅・検波されて出力4aとなる。出力4aと1a
は観測用ブラウン管等の表示器5に入力されて図7に示
した超音波探傷図形が観測できる。
The output 2a of the transmitter 2 is input to the ultrasonic probe 3 in synchronization with the rise of the output 1a of the oscillator 1, and the ultrasonic probe 3 converts the output 2a of the transmitter 2 into an electroacoustic signal. An ultrasonic pulse is generated and made incident on the specimen S. The ultrasonic pulse propagates through the inside of the test sample S, and if there is an acoustic discontinuity such as a defect d in the middle, the ultrasonic pulse is reflected and reflected as a reflected wave F by the ultrasonic probe 3.
Return to Further, the ultrasonic pulse reaching the bottom surface of the test sample S returns to the ultrasonic probe 3 as a reflected wave B. Reflected waves F and B
Is converted into an electric signal by the ultrasonic probe 3 and then amplified and detected by the receiver 4 to become an output 4a. Outputs 4a and 1a
Is input to the display 5 such as a cathode ray tube for observation, and the ultrasonic inspection figure shown in FIG. 7 can be observed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】表示器としてブラウン
管を使用した超音波探傷試験装置は、図7の超音波探傷
図形の見やすさ又は視認性の良好さが特に重要な性能の
一つとして要求される。その対策のひとつとして超音波
探傷図形の明るさ向上がある。明るさ向上の手段として
は、ブラウン管の後段加速電極への印加電圧を大きくす
る方法や、出力2aに示した電気パルスの単位時間当り
の発生回数の増大即ち送信の繰返し周波数PRFを大き
くする方法がある。印加電圧を大きくする方法は、ブラ
ウン管の構造で決まる最大定格値が限界である。一方、
PRFを大きくする方法では、次に説明する残留現象が
発生する恐れがある。
The ultrasonic flaw detection test apparatus using a cathode ray tube as a display is required to have easy-to-read or good visibility of the ultrasonic flaw detection pattern shown in FIG. 7 as one of particularly important performances. You. One of the measures is to improve the brightness of the ultrasonic flaw detection figure. As a means for improving the brightness, a method of increasing the voltage applied to the rear-stage acceleration electrode of the CRT or a method of increasing the number of generations of the electric pulse shown in the output 2a per unit time, that is, increasing the repetition frequency PRF of transmission is used. is there. The method of increasing the applied voltage is limited by the maximum rated value determined by the structure of the cathode ray tube. on the other hand,
In the method of increasing the PRF, a residual phenomenon described below may occur.

【0006】図8は残留現象を説明する図であり、図8
(a)は受信器4の出力波形、図8(b)は超音波探傷
図形である。図で定義した送信の繰返し周期TPRF は図
8(b)の超音波探傷図形を明るくするために短い方が
良い。しかし、試験体Sの組織や形状・大きさによって
は、入射した超音波パルスの減衰量が小さく、試験体中
を何回も往復して多重反射の状況が発生する。図8
(a)の例はこの状況を示しており多重反射が続く時間
が送信の繰返し周期TPRF より大きくなっている。図8
(b)の超音波探傷図形に示したエコーgは、多重反射
の一部であるが1回目の底面エコーB1 の左側に表示さ
れる為に、欠陥エコーFと誤認することとなる。以上が
残留現象とその弊害である。従来は、残留現象を避ける
ために送信の繰返し周波数PRFを小さくして超音波探
傷図形の明るさを犠牲にせざるを得なかった。
FIG. 8 is a diagram for explaining the residual phenomenon.
8A shows an output waveform of the receiver 4 and FIG. 8B shows an ultrasonic flaw detection pattern. The transmission repetition period T PRF defined in the figure is preferably shorter in order to brighten the ultrasonic flaw detection figure of FIG. 8B. However, depending on the structure, shape and size of the specimen S, the attenuation amount of the incident ultrasonic pulse is small, and the specimen S reciprocates many times in the specimen to cause multiple reflection. FIG.
The example of (a) illustrates this situation, in which the time during which multiple reflections continue is longer than the transmission repetition period T PRF . FIG.
The echo g shown in the ultrasonic flaw detection pattern in (b) is a part of the multiple reflection, but is displayed on the left side of the first bottom echo B1, and thus is erroneously recognized as the defect echo F. The above is the residual phenomenon and its adverse effects. Conventionally, in order to avoid the residual phenomenon, the repetition frequency PRF of the transmission has to be reduced and the brightness of the ultrasonic inspection figure has to be sacrificed.

【0007】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたもので、表示器に表示される超音波探
傷図形を見て残留現象によるエコーかどうかが容易に判
断できる超音波探傷試験装置を提供するものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-described problems. An ultrasonic flaw detection apparatus which can easily determine whether an echo is due to a residual phenomenon by looking at an ultrasonic flaw detection pattern displayed on a display device. A test apparatus is provided.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この発明に係る超音波探
傷試験装置は、送信および時間軸の繰返し周期TPRF
工夫をこらしたものであり、この周期TPRF を固定した
時間とせずに、送信M回の内、N回の割合いで周期T
PRF を時間Δtだけ変化させるものである。
SUMMARY OF THE INVENTION An ultrasonic flaw detection test apparatus according to the present invention devises a repetition period T PRF of a transmission and a time axis, and does not set the period T PRF to a fixed time. Cycle T out of N transmissions out of M transmissions
The PRF is changed by the time Δt.

【0009】[0009]

【作用】この発明は送信および時間軸の繰返し周期T
PRF を時間Δtだけ変化させることにより表示器上にお
いて残留エコーの存在を確認する。
According to the present invention, the repetition period T of the transmission and the time axis is used.
The existence of the residual echo is confirmed on the display by changing the PRF by the time Δt.

【0010】[0010]

【実施例】【Example】

実施例1.以下この発明の一実施例を図について説明す
る。図1において7は遅延回路、8はN/M分周器
(M、Nは1以上の整数でM>N)、9はΔt切換器で
ある。
Embodiment 1 FIG. An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1, 7 is a delay circuit, 8 is an N / M frequency divider (M and N are integers of 1 or more and M> N), and 9 is a Δt switch.

【0011】次に動作について図2と図3をもとに説明
する。図2は図1に示した各部の出力波形図であり、図
2(a)は発振器1の出力1a、図2(b)は遅延回路
7の出力7a、図2(c)は分周器8の出力8aでM=
2、N=1の例、図2(d)はΔt切換器9の出力9
a、図2(e)は送信器2の出力2a、図2(f)は時
間軸発生器6の出力6aである。なお、受信器4の出力
4aは、図8(a)に示す多重反射波形とする。
Next, the operation will be described with reference to FIGS. 2 is an output waveform diagram of each part shown in FIG. 1. FIG. 2 (a) shows the output 1a of the oscillator 1, FIG. 2 (b) shows the output 7a of the delay circuit 7, and FIG. 2 (c) shows the frequency divider. 8 at the output 8a of M =
2, N = 1, FIG. 2D shows the output 9 of the Δt switch 9
2A shows the output 2a of the transmitter 2, and FIG. 2F shows the output 6a of the time base generator 6. Note that the output 4a of the receiver 4 has a multiple reflection waveform shown in FIG.

【0012】遅延回路7の出力7aの立上り時刻は、発
振器1の出力1aの立上り時刻よりΔtだけ遅延させて
ある。Δt切換器9には、発振器1の出力1aすなわち
Δt≒0の信号と遅延回路の出力7aの2信号を入力す
る。分周器8は発振器の出力1aを入力として2分の1
分周した出力8aを出力する。その出力8aはΔt切換
器の切換信号としてΔt切換器9へ入力される。Δt切
換器9は分周器の出力8aがHレベルの時は発振器の出
力1a、Lレベルの時は遅延回路の出力7aにを出力す
るよう作動する。したがってΔt切換器の出力端からは
発振器出力1aの立上り時刻に対して遅延時間ΔtがΔ
t≒0とΔt=Δtずれをもつ2種類の立上り波形の出
力9aが交互に現れる。
The rising time of the output 7a of the delay circuit 7 is delayed by Δt from the rising time of the output 1a of the oscillator 1. The Δt switch 9 receives the output 1 a of the oscillator 1, that is, the signal of Δt ≒ 0 and the two signals of the output 7 a of the delay circuit. The frequency divider 8 receives the output 1a of the oscillator as an input, and
The divided output 8a is output. The output 8a is input to the Δt switch 9 as a switch signal of the Δt switch. The .DELTA.t switch 9 operates so as to output the output 1a of the oscillator when the output 8a of the frequency divider is at the H level and to output the output 7a of the delay circuit when the output 8a is at the L level. Therefore, the delay time Δt from the output terminal of the Δt switch with respect to the rising time of the oscillator output 1a is Δ
Outputs 9a of two types of rising waveforms having t ≒ 0 and Δt = Δt shift appear alternately.

【0013】Δt切換器9の出力9aは送信器2と時間
軸発生器6へ入力される。この結果、送信器2の出力2
aと時間軸発生器6の出力6aは、Δt切換器の出力9
aの立上り時刻に同期して出力される。図3は、図1の
各構成部を具備した超音波探傷試験装置の表示器5へ表
示される超音波探傷図形であり、送信パルスTや底面エ
コーB1 、B2 は静止した信号として観測できるが、残
留現象によって送信パルスTの右側に表示されるエコー
gは、時間Δtだけ左右にぶれた状態で観測することが
できる。これによってエコーgを″残留エコーである″
と判断することが可能となる。
The output 9a of the Δt switch 9 is input to the transmitter 2 and the time axis generator 6. As a result, the output 2 of the transmitter 2
a and the output 6 a of the time axis generator 6 are the output 9 of the Δt switch.
It is output in synchronization with the rise time of a. FIG. 3 is an ultrasonic inspection pattern displayed on the display unit 5 of the ultrasonic inspection apparatus having the components shown in FIG. 1. The transmission pulse T and the bottom echoes B 1 and B 2 are observed as stationary signals. However, the echo g displayed on the right side of the transmission pulse T due to the residual phenomenon can be observed in a state where the echo g is shifted left and right by the time Δt. This makes the echo g "a residual echo"
Can be determined.

【0014】実施例2.実施例1において時間Δtを一
定値とした場合には、次に説明する不具合が生ずる。図
3の超音波探傷図形において時間軸の長さは表示器5の
画面寸法で決まる一定値であるが、時間TS は、試験体
Sの大きさ(厚さ)に応じて変化させて使用するのが一
般的である。したがって式1で計算される値が、4,5
%を越える場合には、エコーgが表示器5上静止した2
本に見える程度の大きいぶれ量となって″残留エコーで
ある″と判断できないことがある。
Embodiment 2 FIG. When the time Δt is set to a constant value in the first embodiment, the following problem occurs. In the ultrasonic test pattern shown in FIG. 3, the length of the time axis is a constant value determined by the screen size of the display 5, but the time T S is used by changing according to the size (thickness) of the specimen S. It is common to do. Therefore, the value calculated by Equation 1 is 4, 5
%, The echo g remains stationary on the display 5.
There is a case where the amount of blur is large enough to be seen in a book and cannot be determined as “residual echo”.

【0015】ΔT/TS ×100 ・・・・・ 式1ΔT / T S × 100 Equation 1

【0016】この発明の実施例2は時間Δtを時間TS
の大きさに応じて変化させ、式1で計算される値を例え
ば2,3%の範囲(基準範囲)に保つことで、上記不具
合を解消できる。以下図によって説明する。図4はこの
発明の実施例2を示す図で、各部は図1と同じである。
但し、時間軸発生器6から時間TS の信号を遅延回路7
へ導入した点が異る。遅延回路7は、時間TS に応じて
出力7aのΔtを変化させるよう動作する。すなわち遅
延回路7は時間TS 大きくなれば式1で計算される値が
基準範囲内となるようにΔtを変化させるように動作す
る。
In the second embodiment of the present invention, the time Δt is set to the time T S
The above problem can be solved by changing the value calculated according to the expression 1 within a range (reference range) of, for example, 2 or 3%. This will be described below with reference to the drawings. FIG. 4 is a view showing a second embodiment of the present invention, and each part is the same as in FIG.
However, the time T S signal from the time axis generator 6
Is different. The delay circuit 7 operates to change Δt of the output 7a according to the time T S. That is, the delay circuit 7 operates so as to change Δt so that the value calculated by the equation 1 falls within the reference range when the time T S increases.

【0017】なお上記実施例2では時間Δtを時間TS
に対応して変化させるために時間軸発生器6の出力を遅
延回路7に導入させるようにしたが、試験体Sの厚さに
応じて遅延回路7のΔtを手動により切換えるようにし
ても良い。
In the second embodiment, the time Δt is set to the time T S
Although the output of the time axis generator 6 is introduced into the delay circuit 7 in order to change it in accordance with the above, the Δt of the delay circuit 7 may be manually switched according to the thickness of the test sample S. .

【0018】[0018]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、発振
器の出力信号を、Δtの時間遅延させて出力する遅延回
路、上記発振器の出力を分周するN/M(M、Nは整数
でM>N)分周器と、上記発振器の出力と上記遅延回路
の出力を上記分周器の出力により切換え、当該切換えた
出力を時間軸発生器と送信器の入力側へ入力させる切換
器とを設けることにより表示器上において残留現象によ
るエコーかどうかを判断することができる。
As described above, according to the present invention, the oscillation
Delay circuit that outputs the output signal of the
N / M (M and N are integers) dividing the output of the oscillator
M> N) divider, output of the oscillator and delay circuit
Output is switched by the output of the frequency divider, and the switched
Switching the output to the input side of the time axis generator and transmitter
Display device, the residual phenomenon on the display
Can be determined whether the echo.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施例1による超音波探傷試験装置
の構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of an ultrasonic flaw detection test apparatus according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】図1の各部波形を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing waveforms at various points in FIG. 1;

【図3】この発明による装置の表示器に現れる探傷図形
を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a flaw detection figure appearing on a display of the device according to the present invention.

【図4】この発明の実施例2による超音波探傷試験装置
の構成図である。
FIG. 4 is a configuration diagram of an ultrasonic flaw detection test apparatus according to Embodiment 2 of the present invention.

【図5】従来の超音波探傷試験装置の構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram of a conventional ultrasonic test equipment.

【図6】図5の各部波形を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing waveforms at various points in FIG. 5;

【図7】従来技術の説明用で、探傷図形を示す図であ
る。
FIG. 7 is a diagram illustrating a flaw detection figure for explanation of a conventional technique.

【図8】従来技術の説明用で、残留現象の説明図であ
る。
FIG. 8 is an explanatory view of a conventional technique for explaining a residual phenomenon.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 発振器 2 送信器 3 超音波探触子 4 受信器 5 表示器 6 時間軸発生器 7 遅延回路 8 分周器 9 Δt切換器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Oscillator 2 Transmitter 3 Ultrasonic probe 4 Receiver 5 Display 6 Time axis generator 7 Delay circuit 8 Divider 9 Δt switch

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−25548(JP,A) 特開 昭58−129358(JP,A) 特開 昭62−175661(JP,A) 実公 昭53−27027(JP,Y2) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 29/00 - 29/28 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-63-25548 (JP, A) JP-A-58-129358 (JP, A) JP-A-62-175661 (JP, A) Jikken Sho 53- 27027 (JP, Y2) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) G01N 29/00-29/28

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 所定の繰り返し周波数を発生する発振器
と、この発振器の出力信号を、Δtの時間遅延させて出
力する遅延回路と、上記発振器の出力を分周するN/M
(M、Nは整数でM>N)分周器と、上記発振器の出力
と上記遅延回路の出力を上記分周器の出力により切換え
る切換器と、上記切換器で切換えられた当該出力により
送信信号を発生する送信器と、この送信器の出力を超音
波に変換して試験体に入射させ、かつ当該試験体からの
反射波を電気信号に変換する超音波探触子と、上記超音
波探触子からの電気信号を増幅する受信器と、上記受信
器の出力を表示する表示器と、上記切換器で切換えられ
た当該出力により上記表示器に時間軸を発生する時間軸
発生器とを具備した超音波探傷試験装置。
An oscillator for generating a predetermined repetition frequency, a delay circuit for delaying the output signal of the oscillator by a time Δt and outputting the same, and an N / M for dividing the output of the oscillator
(M and N are integers>M> N) A frequency divider, a switch for switching the output of the oscillator and the output of the delay circuit by the output of the frequency divider, and a corresponding output switched by the switch. a transmitter that generates a transmission signal, an ultrasonic probe that converts an output of the transmitter into an ultrasonic wave and makes it incident on a test body , and converts a reflected wave from the test body into an electric signal; A receiver for amplifying an electric signal from the ultrasonic probe, a display for displaying an output of the receiver, and a switch for switching by the switch.
And a time axis generator for generating a time axis on the display by the output .
【請求項2】 上記遅延回路の時間Δtを試験体の厚さ
に対応して変化させるようにした請求項1記載の超音波
探傷試験装置。
2. A ultrasonic testing apparatus according to claim 1, wherein which is adapted to vary in response to the thickness of the time Δt of the delay circuit specimen.
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