JP3006159B2 - 原点位置記録方法 - Google Patents

原点位置記録方法

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JP3006159B2
JP3006159B2 JP3132980A JP13298091A JP3006159B2 JP 3006159 B2 JP3006159 B2 JP 3006159B2 JP 3132980 A JP3132980 A JP 3132980A JP 13298091 A JP13298091 A JP 13298091A JP 3006159 B2 JP3006159 B2 JP 3006159B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、スケール装置に使用さ
れるメインスケールに原点を記録するのに好適な原点記
録方法に関する。
【0002】
【従来の技術】λ原点方式のスケール装置では、目盛位
置を示すインクリメンタル信号とともに、原点位置を示
すゲート信号がメインスケールに記録される(特開昭6
0−6824号公報等参照)。
【0003】この場合、インクリメンタル信号が読み取
られたときには、その読み取り信号がパルス幅λのパル
ス信号となるとともに、原点位置としては、λの中心位
置となることが望ましい。
【0004】そして、図17から理解されるように、ス
ケール装置の検出素子10Bが、メインスケールMに対
して角度θ(アジマス)だけ傾いて取り付けられること
があり、この場合には、図18からも理解されるよう
に、原点ゲート信号の読み取り位置Pとインクリメンタ
ル信号の読み取り位置Qとが一致または互いに近傍とな
り、所定のλ原点パルスから1λ分ずれることがある。
【0005】そこで、(1)電気信号処理によって、イ
ンクリメンタル信号のパルス列をずらすことにより、原
点ゲート信号が適正に読み取られる構成のものが有る。
また、(2)機械的な調整によって原点ゲート信号を合
せる構成も知られており、さらに、(3)スケール装置
がうねりのないメインスケール等、高精度の部品で構成
され、アジマスが精度良く合わされる構成も知られてい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記
(1)の構成では、パルス信号のスレショールドレベル
調整等が必要となり、電気回路が複雑になる。また、前
記(2)の構成では、目盛と検出素子10Bとを機械的
な調整機構で平行にする等の調整が必要となり、その調
整機構の装備によりスケール装置の複雑化、調整作業の
低下による取付作業能率等の低下を招く。
【0007】さらに、前記(3)の構成のものでは、ス
ケール装置のコストアップにつながる等の問題を有して
いた。
【0008】本発明の目的は、スケール装置のが組立て
られてゆく過程で、原点ゲート信号が記録されることに
より、検出素子の取付誤差、メインスケールのうねり等
による原点位置の位置ずれが生じた場合であっても、真
の原点位置が設定可能とされた原点位置記録方法を提供
することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係る原点位置記
録方法は、目盛位置を示すインクリメンタル信号Qが記
録可能とされるとともに、原点位置を示すゲート信号が
記録・消去可能とされたメインスケールMに該ゲート信
号が記録される原点位置記録方法において、前記インク
リメンタル信号Qが記録された後、原点とすべき特定位
置に予備のゲート信号Pが記録される第1過程と、前記
特定位置と前記原点位置との位置ずれ量Δが検出される
第2過程と、前記位置ずれ量Δだけ前記特定位置からず
れた位置に真のゲート信号P0 が記録される一方、前記
予備のゲート信号Pが消去される第3過程と、を有す
る。また、本発明は、目盛位置を示すインクリメンタル
信号Qが記録可能とされるとともに、原点位置を示すゲ
ート信号Pが記録・消去可能とされたメインスケールM
に、該ゲート信号Pが記録される原点位置記録方法にお
いて、前記インクリメンタル信号Qが記録された後、原
点とすべき特定位置の近傍位置に、該インクリメンタル
信号Qのパルス間隔λよりも(λ/n)だけ広い間隔
で、nパルスからなる予備のゲート信号Pが記録される
第1過程と、前記インクリメンタル信号Qのパルス記録
位置と、前記予備のゲート信号Pのパルス記録位置との
位置ずれ量が検出される第2過程と、前記インクリメン
タル信号Qのパルス間隔λの中央位置に対するずれ量が
最も少ない前記予備のゲート信号Pが真のゲート信号P
0 とされる一方、該真のゲート信号P0 以外の該予備の
ゲート信号Pが消去される第3過程と、を有する。加え
て、本発明は、目盛位置を示すインクリメンタル信号Q
が記録可能とされるとともに、原点位置を示すゲート信
号Pが記録可能とされたメインスケールMに該ゲート信
号Pが記録される原点位置記録方法において、前記イン
クリメンタル信号Qが検出される検出素子10Bから所
望間隔ずれた位置で該検出素子10Bと同一基台に設け
られたゲート信号記録用ヘッド10で前記インクリメン
タル信号Qが記録された後、特定位置に真のゲート信号
0 が記録される、ことを特徴とする。さらに、本発明
は、目盛位置を示すインクリメンタル信号Qが記録可能
とされるとともに、原点位置を示すゲート信号Pが記録
可能とされたメインスケールMに該ゲート信号Pが記録
される原点位置記録方法において、前記インクリメンタ
ル信号Pの記録用ヘッドから所望間隔ずれた位置で該記
録用ヘッドと同一基台に設けられたゲート信号記録用ヘ
ッド10Cで、該インクリメンタル信号Qが記録される
とともに、特定位置に真のゲート信号P0 が記録され
る、ことを特徴とする。また、本発明は、目盛位置を示
すインクリメンタル信号Qが記録可能とされるととも
に、原点位置を示すゲート信号Pが記録可能とされたメ
インスケールMに該ゲート信号Pが記録される原点位置
記録方法において、検出装置の走行方向に対する記録ヘ
ッドの走行方向の傾きθが計測される第1過程と、計測
された傾きθに基いて、記録時と再生時での前記ゲート
信号P位置のずれ量Δが演算される第2過程と、演算さ
れたずれ量Δ分だけずらせた特定位置に真のゲート信号
0 が記録される第3過程と、を有する。
【0010】
【作用】本発明に係る原点位置記録方法では、まず予備
の原点位置が特定位置に記録され、その特定位置と真の
原点位置との位置ずれ量が検出される。
【0011】そして、その位置ずれ量だけずれた位置に
真の原点ゲート信号が記録される一方、予備の原点ゲー
ト信号は消去される。また、予備のゲート信号として、
インクリメンタル信号のパルス間隔λよりも(λ/n)
だけ広い間隔のパルス列が記録され、そのパルス列のう
ち、インクリメンタル信号のパルス間隔λの中央位置に
対するずれ量が最も少ないパルス(予備のゲート信号)
記録位置が、真のゲート信号とされる。そして、インク
リメンタル信号の検出素子とゲート信号記録用ヘッドと
が、所望間隔ずらせて同一基台に設けられ、そのヘッド
で、ゲート信号が特定位置に記録される。また、インク
リメンタル信号の記録用ヘッドとゲート信号記録用ヘッ
ドとが、所望間隔ずらせて同一基台に設けられ、そのゲ
ート信号記録用ヘッドで、インクリメンタル信号が記録
されるとともに、特定位置にゲート信号が記録される。
さらに、検出装置の走行方向に対する記録ヘッドの走行
方の傾きから、ゲート信号位置のずれ量が求められ、そ
のずれ量分だけずれた特定位置に真のゲート信号が記録
される。
【0012】
【実施例】以下、本発明に係る原点位置記録方法の第1
実施例を、図面に基いて説明する。第1過程では、図
1、図2および図3から理解されるように、メインスケ
ール(記録媒体)Mのインクリメンタル信号トラックM
I 、原点ゲート信号トラックMO に各々インクリメンタ
ル信号Qと予備の原点ゲート信号Pとが順次記録ヘッド
10により記録される。
【0013】この場合、インクリメンタル信号Qは、隣
接する他のインクリメンタル信号Qとの間隔がλ(一
定)となるように、常時レーザ測長装置20からの検出
信号がインクリメンタル信号記録装置30に取り込まれ
る。
【0014】また、ゲート信号Pの記録位置(特定位
置)は予備的に設定(距離A)されるように、原点信号
記録装置40が制御されるとともに、その信号幅は40
〔μm〕〜80〔μm〕とされている。
【0015】なお、インクリメンタル信号Q、ゲート信
号Pは、スケール装置が組み立てられてゆく過程、すな
わち、磁気ヘッド等の検出素子を含むスライダがメイン
スケールM上に装着されてゆく過程等に行なわれる。
【0016】次に、メインスケールMに近接させて検出
素子50が配置され、この検出素子50により、記録さ
れた予備のゲート信号Pとインクリメンタル信号Qとが
各々読み取られる。
【0017】この場合、図4、図5から理解されるよう
にレーザ測長装置20では、位置パルス信号が生成され
て出力されており、この位置パルス信号はインクリメン
タル信号Qの検出パルス幅(λパルス幅)間に例えば1
0個出力される。
【0018】そして、原点ゲート信号増幅回路45を介
して、ゲート信号Pがゲート信号パルス生成回路55に
取り込まれ、生成回路55では、ゲート信号Pのレベル
が値0になるのをタイミングとして、パルス状のスター
ト信号が生成されてゲート回路5に出力される。
【0019】一方、検出素子50で得られたインクリメ
ンタル信号Qは、インクリメンタル信号増幅回路65を
介してλパルス生成回路75に取り込まれ、そのλパル
ス(ストップ信号)がゲート回路5に出力される。
【0020】この場合、スタート信号が入力されてスト
ップ信号が入力されるまでの時間だけゲート回路5から
位置パルス信号がパルスカウンタ15に出力され(原点
ゲート−λ間差分パルス)、差分回路25により、1λ
パルス幅の半分とゲート回路5とのパルスの差(例え
ば、1λパルス幅に10個のパルスが有り、ゲート回路
5からのパルス数を8とすると、8−10/2=3
(個)となる)が演算され、その演算結果は表示装置3
5により表示される(第2過程)。
【0021】従って、ゲート信号Pを差Δ=3〔位置パ
ルス信号〕だけずれた位置に、真の原点位置を記録すれ
ばλパルス間の中点に原点位置が設定される。
【0022】なお、スタート信号としてλパルスを使用
し、ストップ信号として原点信号を使用しても良い。
【0023】そこで、図6、図7および図8から理解さ
れるように、予備の原点ゲート信号Pが消磁装置40
A、消磁ヘッド10AによりメインスケールMから消去
され、真の原点ゲート信号P0 が新たに記録される(第
3過程)。以上説明したように、この第1実施例では、
スケール装置が組み立てられる過程で、真の原点ゲート
信号P0 が記録される。従って、従来のように、電気的
処理、機械的な調整、あるいは高精度の部品が不要とな
る。
【0024】その結果、スケール装置の簡素化、組立て
作業能率の向上、製造コストダウンを図ることが可能と
なる。
【0025】また、真の原点ゲート信号P0 が従来のゲ
ート信号を記録する要領で行なえるため、これによって
も、組立て作業等の高能率化を図ることができる。
【0026】さらに、スケール装置が組み立てられる過
程でゲート信号が記録されるので、組み立て時の歩留り
向上を図ることも可能となる。
【0027】次に本発明の第2実施例について説明す
る。第1実施例と同様にして、インクリメンタル信号Q
が記録されると、図9から理解されるように、この実施
例では、予備の原点ゲート信号Pが、図2の記録ヘッド
10により、n個記録され、それら信号Pは各々間隔
(λ+λ/n)を介して記録される(第1過程)。
【0028】続いて、インクリメンタル信号Qのパルス
記録位置と、予備の原点ゲート信号Pの記録位置との位
置ずれ量が検出され(第2過程)、パルス間隔λの中央
位置に対するその位置ずれ量が最も少ない予備の原点ゲ
ート信号Pが真の原点ゲート信号P0 とされるととも
に、他の原点ゲート信号Pは消去される(第3過程;図
10参照)。
【0029】従って、この第2実施例においても、第1
実施例と同様の効果を有する。
【0030】次に、本発明の第3実施例について説明す
る。第1実施例と同様にして、まずインクリメンタル信
号Qが記録されると、図11に示されるように検出素子
10Bと記録ヘッド10が一体化されたヘッド(図12
参照)により、真の原点ゲート信号P0 がλの中央(特
定位置)に記録される。
【0031】すなわち、図12から理解されるように、
検出素子10Bの検出信号がインクリメンタル信号増幅
回路65を介して、λパルス中間位置検出回路65Aに
取り込まれて、λの中央位置が検出される。
【0032】そして、原点位置検出回路15により、原
点ゲート信号P0 の記録位置が検出されるのに応答し
て、回路65Aで得られるλの同期信号をタイミングと
して、原点ゲート信号P0 が記録される。
【0033】その結果、この第3実施例においても、第
1実施例と同様の効果を有する。
【0034】次に、本発明の第4実施例について説明す
る。
【0035】この実施例では、図13および図14から
理解されるように、インクリメンタル信号Qの記録ヘッ
ドと原点ゲート信号Pの記録ヘッドとが同一の記録ヘッ
ド10Cで構成され、ヘッド10Cは2トラックとさ
れ、各々のトラックがインクリメンタル信号Qの記録ト
ラックと原点ゲート信号の記録トラックとに対応してい
る。
【0036】そして、インクリメンタル信号Qがインク
リメンタル信号記録装置30で記録されながら、原点ゲ
ート信号の記録位置(特定位置)が回路15で検出さ
れ、そのときにインクリメンタル信号記録装置30で得
られるλの同期信号によって、真の原点ゲート信号P0
がλの中央に記録される。
【0037】その後、インクリメンタル信号Qが全て記
録されて、作業が終了される。
【0038】従って、この第4実施例でも、第1実施例
と同様の効果を有する。
【0039】次に、本発明の第5実施例を説明する。
【0040】この実施例では、図15から理解されるよ
うに、スケール走行基準面(装置の走行方向)に対して
記録走行基準面(記録ヘッド10の走行方向)に傾きが
ある場合、インクリメンタル信号トラックM1 、および
原点ゲート信号トラックM0 への記録時に、その傾きθ
が電気マイクロメータ100により計測される。
【0041】なお、スケール走行基準面と電気マイクロ
メータ100との距離がEからDに変化している場合、
θ=arctan(F/C)(=arctan〔(D−
E)/C〕;Cは予め設定された値)となる。ここで、
原点ゲート信号検出中心とインクリメンタル信号検出中
心との距離をBとすると、λの中心に記録するための原
点ゲート信号記録位置補正量Δは、B・tanθとな
る。
【0042】この場合、図16から理解されるように、
インクリメンタル信号記録装置30から出力されるλの
同期信号が、同期信号補正回路30Aにより、原点ゲー
ト信号Pの記録位置をλの中央からΔだけ補正し、その
補正信号が原点信号記録装置40に入力されて真の原点
ゲート信号P0 が記録される。
【0043】従って、この第5実施例でも、第1実施例
と同様の効果を有する。
【0044】また、インクリメンタル信号Qの記録中に
位置ずれ量Δが算出され、Δだけ補正された位置に真の
原点ゲート信号P0 が、インクリメンタル信号Qの記録
と同時に記録される方法により、一層効率良く原点ゲー
ト信号P0 の記録が行なえる。
【0045】
【発明の効果】以上の説明で理解されるように、本発明
に係る原点位置記録方法では、まず予備の原点位置が特
定位置に記録され、その特定位置と真の原点位置との位
置ずれ量が検出される。
【0046】そして、その位置ずれ量だけずれた位置に
真の原点ゲート信号が記録される一方、予備の原点ゲー
ト信号は消去される。また、予備のゲート信号として、
インクリメンタル信号のパルス間隔λよりも(λ/n)
だけ広い間隔のパルス列が記録され、そのパルス列のう
ち、インクリメンタル信号のパルス間隔λの中央位置に
対するずれ量が最も少ないパルス(予備のゲート信号)
記録位置が、真のゲート信号とされる。そして、インク
リメンタル信号の検出素子とゲート信号記録用ヘッドと
が、所望間隔ずらせて同一基台に設けられ、そのヘッド
でゲート信号が特定位置に記録される。また、インクリ
メンタル信号の記録用ヘッドとゲート信号記録用ヘッド
とが、所望間隔ずらせて同一基台に設けられ、そのゲー
ト信号記録用ヘッドで、インクリメンタル信号が記録さ
れるとともに、特定位置にゲート信号が記録される。さ
らに、検出装置の走行方向に対する記録ヘッドの走行方
の傾きから、ゲート信号位置のずれ量が求められ、その
ずれ量分だけずれた特定位置に真のゲート信号が記録さ
れる。従って、検出素子の取付誤差、メインスケールの
うねり等による原点位置の位置ずれに関りなく真の原点
位置が設定可能となる。そのため、位置ずれ調整用の電
気回路等が不要となるので、スケール装置の簡素化、小
型化、組立て作業能率の向上、コストダウン、組み立て
時の歩留り向上が可能となるとともに、信頼性も向上さ
れる。
【0047】また、位置ずれを発生させないための高精
度の部材が不要となるので、これによってもコストダウ
ンを図ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】インクリメンタル信号の記録方法を示す説明図
である。
【図2】原点ゲート信号の記録方法を示す説明図であ
る。
【図3】予備の原点ゲート信号等の説明図である。
【図4】ずれ量を検出する装置の概略構成図である。
【図5】前記装置の作用を示すタイミングチャートであ
る。
【図6】予備の原点ゲート信号を消去する方法を示す説
明図である。
【図7】真の原点ゲート信号を記録する方法を示す説明
図である。
【図8】真の原点ゲート信号が記録されたメインスケー
ルの構成説明図である。
【図9】第2実施例でのメインスケールの構成図であ
る。
【図10】第2実施例で、真の原点ゲート信号が記録さ
れたメインスケールの構成図である。
【図11】記録ヘッドの構成説明図である。
【図12】第3実施例で原点ゲート信号を記録する装置
の構成図である。
【図13】記録ヘッドの構成説明図である。
【図14】第4実施例で、原点ゲート信号を記録する装
置の構成図である。
【図15】第5実施例でのずれ量を算出する方法を示す
説明図である。
【図16】第5実施例における装置の構成説明図であ
る。
【図17】検出素子とメインスケールとの位置関係を示
す説明図である。
【図18】原点ゲート信号検出中心等を示す説明図であ
る。
【符号の説明】
10,10C 記録ヘッド 10A 消磁ヘッド 10B 検出素子 15 原点記録位置検出回路 20 レーザ測長装置 30 インクリメンタル信号記録装置 30A 同期信号補正回路 40 原点ゲート信号記録装置 65A λパルス中間位置検出回路 M メインスケール P 予備のゲート信号 P0 真のゲート信号 Q インクリメンタル信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 嶋野 忠彦 東京都品川区西五反田3丁目9番17号東 洋ビル ソニーマグネスケール株式会社 内 (72)発明者 大野 満 東京都品川区西五反田3丁目9番17号東 洋ビル ソニーマグネスケール株式会社 内 (56)参考文献 特開 平4−157316(JP,A) 特開 平1−219519(JP,A) 特開 昭64−63809(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01D 5/00 - 5/252 G01D 5/39 - 5/62

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 目盛位置を示すインクリメンタル信号が
    記録可能とされるとともに、原点位置を示すゲート信号
    が記録・消去可能とされたメインスケールに該ゲート信
    号が記録される原点位置記録方法において、前記インク
    リメンタル信号がパルス幅λで記録された後、原点とす
    べき特定位置に予備のゲート信号が記録される第1過程
    と、前記特定位置と前記原点位置との位置ずれ量が検出
    される第2過程と、前記位置ずれ量だけ前記特定位置か
    らずれた位置に真のゲート信号が記録される一方、前記
    予備のゲート信号が消去される第3過程と、を有するこ
    とを特徴とする原点位置記録方法。
  2. 【請求項2】 目盛位置を示すインクリメンタル信号が
    記録可能とされるとともに、原点位置を示すゲート信号
    が記録・消去可能とされたメインスケールに、該ゲート
    信号が記録される原点位置記録方法において、前記イン
    クリメンタル信号が記録された後、原点とすべき特定位
    置の近傍位置に、該インクリメンタル信号のパルス間隔
    λよりも(λ/n)だけ広い間隔で、nパルスからなる
    予備のゲート信号が記録される第1過程と、前記インク
    リメンタル信号のパルス記録位置と、前記予備のゲート
    信号のパルス記録位置との位置ずれ量が検出される第2
    過程と、前記インクリメンタル信号のパルス間隔λの中
    央位置に対するずれ量が最も少ない前記予備のゲート信
    号が真のゲート信号とされる一方、該真のゲート信号以
    外の該予備のゲート信号が消去される第3過程と、を有
    することを特徴とする原点位置記録方法。
  3. 【請求項3】 目盛位置を示すインクリメンタル信号が
    記録可能とされるとともに、原点位置を示すゲート信号
    が記録可能とされたメインスケールに該ゲート信号が記
    録される原点位置記録方法において、前記インクリメン
    タル信号が検出される検出素子から所望間隔ずれた位置
    で該検出素子と同一基台に設けられたゲート信号記録用
    ヘッドで、前記インクリメンタル信号が記録された後特
    定位置に真のゲート信号が記録される、ことを特徴とす
    る原点位置記録方法。
  4. 【請求項4】 目盛位置を示すインクリメンタル信号が
    記録可能とされるとともに、原点位置を示すゲート信号
    が記録可能とされたメインスケールに該ゲート信号が記
    録される原点位置記録方法において、前記インクリメン
    タル信号の記録用ヘッドから所望間隔ずれた位置で該記
    録用ヘッドと同一基台に設けられたゲート信号記録用ヘ
    ッドで、該インクリメンタル信号が記録されるととも
    に、特定位置に真のゲート信号が記録される、ことを特
    徴とする原点位置記録方法。
  5. 【請求項5】 目盛位置を示すインクリメンタル信号が
    記録可能とされるとともに、原点位置を示すゲート信号
    が記録可能とされたメインスケールに該ゲート信号が記
    録される原点位置記録方法において、検出装置の走行方
    向に対する記録ヘッドの走行方向の傾きが計測される第
    1過程と、計測された傾きに基いて、記録時と再生時で
    の前記ゲート信号位置のずれ量が演算される第2過程
    と、演算されたずれ量分だけずらせた特定位置に真のゲ
    ート信号が記録される第3過程と、を有することを特徴
    とする原点位置記録方法。
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