JP2997147B2 - Method for manufacturing optical semiconductor device - Google Patents

Method for manufacturing optical semiconductor device

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JP2997147B2 JP5072066A JP7206693A JP2997147B2 JP 2997147 B2 JP2997147 B2 JP 2997147B2 JP 5072066 A JP5072066 A JP 5072066A JP 7206693 A JP7206693 A JP 7206693A JP 2997147 B2 JP2997147 B2 JP 2997147B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の製造方法
に関し、特に、半導体レーザなどの光半導体素子が形成
された光半導体チップを、サブマウント上にダイボンデ
ィングする工程を有する光半導体装置の製造方法に適用
して有効な技術に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor device and, more particularly, to a method for die-bonding an optical semiconductor chip having an optical semiconductor element such as a semiconductor laser on a submount. The present invention relates to a technology that is effective when applied to a manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】図2は光半導体チップをサブマウント上
にダイボンディングする従来の製造方法を説明するため
の図であり、1はサブマウント、2はハンダ、3は光半
導体チップ、5はピンセット、6はピンセット5に穿孔
された空洞、7は上下動軸である。
2. Description of the Related Art FIG. 2 is a view for explaining a conventional manufacturing method for die bonding an optical semiconductor chip on a submount, wherein 1 is a submount, 2 is solder, 3 is an optical semiconductor chip, and 5 is tweezers. , 6 are cavities formed in the tweezers 5, and 7 is a vertical movement axis.

【0003】以下、従来の製造方法を図2を用いて、簡
単に説明する。
Hereinafter, a conventional manufacturing method will be briefly described with reference to FIG.

【0004】半導体レーザなどの光半導体素子が形成さ
れた光半導体チップ3は、上下動軸7に固定されたピン
セット5の空洞6を通して真空吸着され、一体となる。
光半導体チップ3を吸着したピンセット5は、上下動軸
7の移動に連動して、サブマウント1の上方を移動し、
ハンダ2が表面に被覆してあるサブマウント1上の所定
の位置に光半導体チップ3を配置させる。次に、ピンセ
ット5をサブマウント1に押圧し、さらに加熱してハン
ダ2を溶融させることにより、光半導体チップ3をサブ
マウント1にダイボンディングする。
The optical semiconductor chip 3 on which an optical semiconductor element such as a semiconductor laser is formed is vacuum-adsorbed through a cavity 6 of a pair of tweezers 5 fixed to a vertical moving shaft 7 to be integrated.
The tweezers 5 that have attracted the optical semiconductor chip 3 move above the submount 1 in conjunction with the movement of the vertical drive shaft 7,
The optical semiconductor chip 3 is arranged at a predetermined position on the submount 1 whose surface is covered with the solder 2. Next, the tweezers 5 are pressed against the submount 1 and further heated to melt the solder 2, so that the optical semiconductor chip 3 is die-bonded to the submount 1.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のダイボンディング法では、ピンセットで光半導体チ
ップを押圧するときに、光半導体チップに損傷を与えな
いように押圧を注意深く調整する必要があった。また、
面積の大きな光半導体チップではピンセットで押圧され
る部分が相対的に微小となり、均一に押圧されないた
め、ボンディングが不完全となり、光半導体チップとサ
ブマウント間の近傍における熱抵抗が増大し、その結
果、光半導体装置の素子特性を劣化させるという問題が
あった。
However, in the conventional die bonding method, when pressing the optical semiconductor chip with tweezers, it is necessary to carefully adjust the pressing so as not to damage the optical semiconductor chip. Also,
In an optical semiconductor chip with a large area, the portion pressed by the tweezers is relatively small and is not pressed uniformly, so that the bonding is incomplete and the thermal resistance in the vicinity between the optical semiconductor chip and the submount increases, and as a result, In addition, there is a problem that the element characteristics of the optical semiconductor device are deteriorated.

【0006】本発明は、前記問題点を解決するためにな
されたものであり、本発明の目的は、光半導体チップを
サブマウントに損傷なく均一にボンディングすることが
可能な技術を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a technique capable of uniformly bonding an optical semiconductor chip to a submount without damage. is there.

【0007】本発明の前記ならびにその他の目的及び新
規な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明ら
かにする。
[0007] The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、光半導体装置の製造方法において、予め
接合材料を被覆したサブマウント上の所定の位置に、光
半導体チップを配置した後、この光半導体チップ上にス
ペーサを置き、そのままスペーサを上方より押圧部材で
押圧し、加熱してダイボンディングすることを最も主要
な特徴とする。
In order to achieve the above object, according to the present invention, in an optical semiconductor device manufacturing method, an optical semiconductor chip is arranged at a predetermined position on a submount previously coated with a bonding material. After that, the most main feature is that the spacer is placed on the optical semiconductor chip, the spacer is pressed from above by a pressing member, and the die bonding is performed by heating.

【0009】[0009]

【作用】前述の手段によれば、光半導体装置の製造方法
において、光半導体チップと押圧部材との間にスペーサ
を挿入したことにより、スペーサ上面を押圧部材で押圧
する際、押圧部材による圧力が、スペーサにより分散し
て広がるので、光半導体チップに均一に圧力がかかる。
この結果、光半導体チップをサブマウントに損傷なく均
一にボンディングすることができる。さらに、光半導体
チップとサブマウントの接着が均一になることにより、
光半導体チップとサブマウント間の近傍における熱抵抗
を低減できるので、光半導体装置の熱抵抗による素子特
性劣化を防止することができる。また、光半導体チップ
の各地点における圧力が小さくなるので、光半導体チッ
プの損傷が少なくなる。
According to the above-mentioned means, in the method for manufacturing an optical semiconductor device, by inserting the spacer between the optical semiconductor chip and the pressing member, when the upper surface of the spacer is pressed by the pressing member, the pressure by the pressing member is reduced. Since the optical semiconductor chip is dispersed and spread by the spacer, pressure is uniformly applied to the optical semiconductor chip.
As a result, the optical semiconductor chip can be uniformly bonded to the submount without damage. Furthermore, the uniform bonding between the optical semiconductor chip and the submount allows
Since the thermal resistance in the vicinity between the optical semiconductor chip and the submount can be reduced, it is possible to prevent deterioration of element characteristics due to thermal resistance of the optical semiconductor device. Further, since the pressure at each point of the optical semiconductor chip is reduced, damage to the optical semiconductor chip is reduced.

【0010】[0010]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に
説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0011】図1は本発明による一実施例の構成を示す
図であり、1はダイヤ製のサブマウント、2はAu-Sn
のハンダ(接合材料)、3はInPを基板とし内部に半導
体レーザが形成された光半導体チップ、4はスペーサ、
5はピンセット、6はピンセット5に穿孔された空洞、
7は上下動軸である。スペーサ4はInPからなる平板
を厚さ150ミクロン程度に研磨し、これを光半導体チッ
プ3と同程度の面積にへきかいしたものである。
FIG. 1 is a view showing the configuration of an embodiment according to the present invention, wherein 1 is a diamond-made submount, and 2 is Au-Sn.
3 is an optical semiconductor chip having InP as a substrate and a semiconductor laser formed therein, 4 is a spacer,
5 is tweezers, 6 is a cavity drilled in tweezers 5,
Reference numeral 7 denotes a vertical movement axis. The spacer 4 is obtained by polishing a flat plate made of InP to a thickness of about 150 μm, and converting this to an area approximately equal to that of the optical semiconductor chip 3.

【0012】以下、本実施例の光半導体装置の製造方法
を、図1を用いて説明する。
Hereinafter, a method for manufacturing the optical semiconductor device of this embodiment will be described with reference to FIG.

【0013】まず、光半導体チップ3が、上下動軸7に
固定されたピンセット5の空洞6を通して真空吸着さ
れ、一体となり、光半導体チップ3を吸着したピンセッ
ト5が、上下動軸7の移動に連動して、サブマウント1
の上方を移動し、ハンダ2が表面に被覆してあるサブマ
ウント1上の所定の位置に光半導体チップを配置させ
る。
First, the optical semiconductor chip 3 is vacuum-sucked through the cavity 6 of the tweezers 5 fixed to the vertical moving shaft 7, and the tweezers 5 having absorbed the optical semiconductor chip 3 are moved together with the vertical moving shaft 7. In conjunction, submount 1
And the optical semiconductor chip is arranged at a predetermined position on the submount 1 on which the surface of the solder 2 is covered.

【0014】次に、光半導体チップ3の場合と同様の手
順で、スペーサ4をピンセット5で真空吸着し、光半導
体チップ3上に置く。この後、ピンセット5をスペーサ
4に押圧し、同時に加熱することにより光半導体チップ
3をサブマウント1にダイボンディングする。次に、ピ
ンセット5をサブマウント1に押圧し、さらに加熱して
ハンダ2を溶融させることにより、光半導体チップ3を
サブマウント1にダイボンディングする。
Next, in the same procedure as in the case of the optical semiconductor chip 3, the spacer 4 is vacuum-sucked with tweezers 5 and placed on the optical semiconductor chip 3. Thereafter, the optical semiconductor chip 3 is die-bonded to the submount 1 by pressing the tweezers 5 against the spacer 4 and simultaneously heating them. Then, the optical semiconductor chip 3 is die-bonded to the submount 1 by pressing the tweezers 5 against the submount 1 and further heating and melting the solder 2.

【0015】以上の説明からわかるように、本実施例の
光半導体装置の製造方法によれば、次のような効果を得
ることができる。
As can be seen from the above description, the following effects can be obtained by the method of manufacturing an optical semiconductor device of the present embodiment.

【0016】すなわち、光半導体チップ3とピンセット
5の間にスペーサ4を挿入したことにより、スペーサ4
の上面をピンセット5で押圧する際、ピンセット5によ
る押圧が、光半導体チップ3において分散して広がり、
光半導体チップ3に均一にかかるので、その結果、光半
導体チップ3をサブマウント1に損傷なく均一にボンデ
ィングすることができる。
That is, by inserting the spacer 4 between the optical semiconductor chip 3 and the tweezers 5, the spacer 4
When pressing the upper surface of the device with tweezers 5, the pressing by the tweezers 5 is dispersed and spreads in the optical semiconductor chip 3,
Since the optical semiconductor chip 3 is uniformly applied, the optical semiconductor chip 3 can be uniformly bonded to the submount 1 without damage.

【0017】さらに、光半導体チップ3とサブマウント
1の接着が均一になることにより、光半導体チップ3と
サブマウント1間の近傍における熱抵抗を低減できるの
で、光半導体装置の熱抵抗による素子特性劣化を防止す
ることができる。また、光半導体チップ3の各地点にお
ける圧力が小さくなるので、光半導体チップ3の損傷が
少なくなる。
Furthermore, since the bonding between the optical semiconductor chip 3 and the submount 1 becomes uniform, the thermal resistance in the vicinity between the optical semiconductor chip 3 and the submount 1 can be reduced. Deterioration can be prevented. Further, since the pressure at each point of the optical semiconductor chip 3 is reduced, damage to the optical semiconductor chip 3 is reduced.

【0018】以上、本発明を実施例にもとづき具体的に
説明したが、本発明は、前記実施例に限定されるもので
はなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更し
得ることはいうまでもない。例えば、前記実施例では、
スペーサ4の材料にInPを用いたが、本発明はこれに
限定されるものではなく、シリコン等の他の半導体基板
やガラス等の薄く研磨できる平板を用いてもよい。
As described above, the present invention has been specifically described based on the embodiments. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and it is needless to say that various changes can be made without departing from the gist of the present invention. Absent. For example, in the above embodiment,
Although InP was used as the material of the spacer 4, the present invention is not limited to this, and another semiconductor substrate such as silicon, or a thin polished flat plate such as glass may be used.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上、説明したように、本発明の光半導
体装置の製造方法によれば、光半導体チップに損傷を与
えることなく、サブマウントに均一に光半導体チップを
ボンディングすることができる。さらに、光半導体チッ
プとサブマウント間の近傍における熱抵抗を低減できる
ので、光半導体装置の熱抵抗による素子特性劣化を防止
することができる。また、光半導体チップの各地点にお
ける圧力が小さくなるので、光半導体チップの損傷が少
なくなる。
As described above, according to the method for manufacturing an optical semiconductor device of the present invention, the optical semiconductor chip can be uniformly bonded to the submount without damaging the optical semiconductor chip. Further, since the thermal resistance in the vicinity between the optical semiconductor chip and the submount can be reduced, it is possible to prevent the element characteristics from being deteriorated due to the thermal resistance of the optical semiconductor device. Further, since the pressure at each point of the optical semiconductor chip is reduced, damage to the optical semiconductor chip is reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明による一実施例の光半導体装置の製造
方法を説明するための図。
FIG. 1 is a diagram for explaining a method of manufacturing an optical semiconductor device according to one embodiment of the present invention.

【図2】 従来の光半導体装置の製造方法を説明するた
めの図。
FIG. 2 is a view for explaining a conventional method for manufacturing an optical semiconductor device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…サブマウント、2…ハンダ、3…光半導体チップ、
4…スペーサ、5…ピンセット、6…空洞、7…上下動
軸。
1. Submount, 2. Solder, 3. Optical semiconductor chip,
4 ... spacer, 5 ... tweezers, 6 ... hollow, 7 ... vertical movement axis.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 予め接合材料を被覆したサブマウント上
の所定の位置に、光半導体素子が形成された光半導体チ
ップを配置する第一の工程と、引き続き前記光半導体チ
ップを押圧し、加熱するダイボンディングの第二の工程
から成る光半導体装置の製造方法において、前記第一の
工程の後に、前記光半導体チップ上にスペーサを置く工
程を設け、前記スペーサが前記光半導体チップ上に配置
された状態で前記第二の工程を行うことを特徴とする光
半導体装置の製造方法。
1. A first step of arranging an optical semiconductor chip on which an optical semiconductor element has been formed at a predetermined position on a submount previously coated with a bonding material, and subsequently pressing and heating the optical semiconductor chip. In the method for manufacturing an optical semiconductor device including a second step of die bonding, a step of placing a spacer on the optical semiconductor chip is provided after the first step, and the spacer is disposed on the optical semiconductor chip. A method for manufacturing an optical semiconductor device, wherein the second step is performed in a state.
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