JP2980526B2 - 電極基板のラビング処理装置 - Google Patents

電極基板のラビング処理装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、一般的には、電極基板
の表面に形成された配向膜にラビング処理を施すラビン
グ処理装置に係り、詳しくは、該配向膜上の所定の領域
のみを部分的にラビング処理を行うものに関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、液晶の性質を利用して情報を
表示する液晶表示素子は種々提案されている。
【0003】かかる液晶表示素子Pは、図1に示すよう
に、相対向するように配置された一対の電極基板1a,
1bを備えており、これらの電極基板1a,1bは、所
定の間隙を形成するようにスペーサ2,…を介して接着
剤3によって貼り合わされている。そして、これらの電
極基板1a,1bによって形成される間隙には液晶5が
注入されている。また、これらの電極基板1a,1bは
それぞれガラス基板6a,6bを有しており、該基板6
a,6b上には、多数のストライプ状の透明電極からな
る電極群7a,7bがそれぞれ形成されている。さら
に、これらの電極群7a,7bは、ショート防止用の絶
縁膜9a,9bによってそれぞれ被覆されており、各絶
縁膜9a,9bは、ポリイミド等の有機物質からなる配
向膜10a,10bにてそれぞれ被覆されている。ま
た、ガラス基板6a,6bの外側にはそれぞれ偏光子1
1a,11bが配置されている。
【0004】ところで、上述した配向膜10a,10b
の表面には、配向処理が施されて配向規制力が付与され
ている。そして、このような配向規制力を付与する配向
処理方法の1つにラビング処理方法がある。次に、この
ラビング処理方法について、図2に沿って説明する。
【0005】ラビング処理方法においては円柱状のラビ
ングローラ20が用いられ、このラビングローラ20の
外周面には、パイル系の布等で形成されたラビング布2
1が貼付されている。そして、ラビングに際しては、こ
のラビング布21を配向膜10aに所定の当接力で当接
させる。また、その状態でラビングローラ20を矢印A
の方向に回転させると共に、電極基板1aを一定の速度
で矢印Bの方向に平行移動させる。これにより、配向膜
10aの表面はラビング布21によって一方向に擦ら
れ、配向膜10aの全面に均一な配向処理が施されるこ
ととなる。なお、ラビングローラ20や電極基板1aの
位置は適宜調整できるように構成されており、基板1a
とラビングローラ20とのクリアランスを変化させるこ
とにより押し込み量を制御し得るように構成されてい
る。
【0006】ところで、上述した配向膜10a,10b
は必ずしもガラス基板6a,6bの全面に形成されてい
るものではなく、該基板6a,6bの端部においては配
向膜10a,10bは形成されておらず、電極群7a,
7bが露出している。したがって、このように電極群7
a,7bが露出した部分にラビング布21を擦り付ける
と、ラビング布21が摩耗してしまうという問題があっ
た。そして、かかる問題を解決するために、金属やプラ
スチックなどで形成したラビングマスクを用いてラビン
グ処理範囲を限定する方法が取られていた。また、配向
膜10a,10bの全面に配向規制力を付与したくない
場合もあり、かかる場合には垂直配向材や異種配向制御
膜を形成していた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ように垂直配向材や異種配向制御膜を形成する方法の場
合、成膜プロセスが複雑になり、液晶表示素子の生産コ
ストが高くなってしまうという問題があった。また、垂
直配向材を用いた場合には主配向膜への影響や汚染等の
問題もあった。
【0008】一方、ラビングマスクを用いる場合におい
ても種々の問題があった。
【0009】すなわち、一般にラビング処理に伴って発
生し電極基板上に付着した塵はエアブローで除去でき
る。しかし、ラビングマスクと電極基板との間に隙間が
あり、該隙間に塵が侵入した場合には、該塵はラビング
ローラで押されて配向膜の表面に付着してしまい、上述
のようなエアブローでは除去できなくなってしまう。そ
して、このような電極基板を用いて液晶表示素子を作成
しても、均一な配向特性は得られず、部分的に配向欠陥
やセル厚不良を生じて液晶表示素子の表示品質を低下さ
せてしまうという問題があった。特に、このような配向
欠陥等は、セル厚が2μm以下と薄い強誘電性液晶表示
素子において顕著であった。なお、上述したラビングマ
スクと電極基板との間の隙間は種々の原因により生ず
る。例えば、電極基板の厚みやラビングマスクの厚みは
製造誤差のために±50μm程度変動するが、その製造
誤差のためにラビングマスクと電極基板とは最大で10
0μm程度の間隙を形成してしまう。
【0010】また、上述したようにラビング処理に際し
ては電極基板1aを一定の方向に移動する必要がある
が、そのために、ラビングマスク30が所定位置からず
れたり剥れたりしてしまい、所望の領域に配向規制力を
付与できないという問題があった。
【0011】そこで、本発明は、ラビングマスクをステ
ージ上に吸着・保持することにより、ラビングマスクの
ズレや剥れを防止する、電極基板のラビング処理装置を
提供することを目的とするものである。
【0012】また、本発明は、電極基板とラビングマス
クとの間の空気を吸引することにより、それらの密着性
を確保して塵の付着や配向欠陥の発生等を防止する、電
極基板のラビング処理装置を提供することを目的とする
ものである。
【0013】さらに、本発明は、ラビングマスクが自身
の撓みにより電極基板に密着されるようにして、塵の付
着や配向欠陥の発生等を防止する、電極基板のラビング
処理装置を提供することを目的とするものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述事情に鑑
みなされたものであって、電極基板を載置するステージ
と、該電極基板の表面に形成された配向膜に擦り付けら
れてラビング処理を行うラビング布と、を備えた電極基
板のラビング処理装置において、前記電極基板の少なく
とも一部を覆うように前記ステージ上に載置されるラビ
ングマスクを備え、前記ステージが、少なくとも前記ラ
ビングマスクに対して開口される吸引路を有し、かつ、
前記ラビングマスクが前記吸引路を介して前記ステージ
上に吸引されて保持される、ことを特徴とする。この場
合、前記ラビングマスクが、前記吸引路に連通されると
共に前記電極基板に対して開口される吸着路を有し、か
つ、前記ラビングマスクと前記電極基板との間の空気が
前記吸引路及び前記吸着路を介して吸引されることに基
づき、前記ラビングマスクが前記電極基板に密着される
ようにすると好ましい。また、前記ラビングマスクが可
撓性に富む材料にて形成され、該ラビングマスクが、自
身の撓みにより前記電極基板に密着されるようにしても
よい。
【0015】
【作用】以上構成に基づき、ステージ上に電極基板を載
置すると共に、該電極基板を覆うようにしてラビングマ
スクを載置する。そして、本発明に係るラビング処理装
置を駆動すると、ラビングマスクは吸引路を介して吸引
されて前記ステージ上に保持され、前記電極基板も同様
にステージ上に保持される。次に、ラビング布が駆動さ
れ、該ラビング布は、電極基板の表面に形成された配向
膜に擦り付けられて、配向規制力が付与される。ここ
で、前記ラビングマスクは、前記電極基板の少なくとも
一部を覆うように構成されているため、該マスクによっ
て覆われた部分にはラビング布は接触しない。
【0016】
【実施例】以下、図面に沿って、本発明の実施例につい
て説明する。なお、図1及び図2に示すものと同一部分
は同一符号を付して説明を省略する。
【0017】まず、本発明の第1実施例について、図3
及び図4に沿って説明する。
【0018】最初に、本実施例において用いるラビング
マスク30の構造について、図3(a) 及び(b) に沿って
説明する。
【0019】かかるラビングマスク30は、図3(a) に
示すように額縁状に形成されており、中央には開口部3
0aを有している。そして、このマスク30はステンレ
ス板(SUS材)にて形成されており、具体的には、板
厚が0.15mm、0.2mm、0.15mm、1.1
mmの4層のラミネート構造からなる。但し、板厚1.
1mmの部分はラビングマスクの枠フレームであり、電
極基板1aの厚みにほぼ等しくしている。また、このラ
ビングマスク30の角部には縦吸着路(吸着路)30
b,…がそれぞれ形成されており、上記開口部30aの
縁に沿うようにして横吸着路(吸着路)30c,…が形
成されている。さらに、該通路30c,…からマスク3
0の下面には小孔(吸着路)30d,…が形成されてお
り、これらの通路等(30b,…,30c,…,30
d,…)は連通された状態にある。
【0020】なお、上述構成のラビングマスク30は、
角部にはR加工が施されており、また表面は平滑に仕上
げられ、或は有機膜によるコーティング処理が施されて
いる。
【0021】次に、ラビング処理を行う電極基板1aを
載置するための吸着ステージ50について図3(b) に沿
って説明する。
【0022】本実施例に用いられる吸着ステージ50に
おいては、電極基板1aが載置される位置、及びラビン
グマスク30が載置される位置は予め決められており、
該吸着ステージ50には、前記縦吸着路30b,…に連
通するように第1の吸引路50a,…が形成されてい
る。また、電極基板1aの側壁とラビングマスク30と
によって形成される間隙Sに開口するように第2の吸引
路50b,…が形成されており、さらに、電極基板6a
の下面に開口するように多数の第3の吸引路50c,…
が形成されている。そして、これらの吸引路50a,
…,50b,…,50c,…は、不図示の真空ポンプに
接続され、電極基板1aとラビングマスク30とをステ
ージ50上に吸着・保持してこれらがずれないようにす
ると共に、電極基板1aの上面にラビングマスク30を
吸着せしめて電極基板1aとラビングマスク30との間
に隙間が生じないように構成されている。
【0023】ついで、上述実施例の作用について説明す
る。
【0024】ラビング処理を行う場合には、図3(b) 及
び図4に示すように、吸着ステージ50の上に電極基板
1aを載置し、さらにラビングマスク30をセットす
る。そして、不図示の真空ポンプを駆動すると、吸着ス
テージ50の吸引路50a,…,50b,…,50c,
…を介して吸引され、電極基板1aとラビングマスク3
0とがステージ50上に吸着・保持される。また、上述
したように縦吸着路30b,…と第1の吸引路50a,
…とは連通されているため、横吸着路30c,…及び小
孔30d,…を介して、電極基板1aとマスク30との
間の空気も吸引され、ラビングマスク30は電極基板1
aの上面に吸着せしめられる。
【0025】この状態で、図4に示すように、上述従来
例にて説明したと同様の方法によりラビングローラ(不
図示)によるラビング処理を行う。
【0026】ついで、本実施例の効果について説明す
る。
【0027】本実施例によれば、電極基板1aの表面全
体にラビング布21を擦り付けるものではないため、必
要に応じて所望の領域にのみ部分的にラビング処理を施
すことができる。すなわち、本実施例によれば、配向規
制力を必要な部分のみに安定して付与することができ、
またその再現性もよい。したがって、従来例にて述べた
ように、電極基板1aの端部が配向膜10aで覆われて
おらず、透明電極群7aが露出している場合において
も、該電極群7aとラビング布21との接触を避けるこ
とができ、ラビング布21の摩耗を防止することができ
る。
【0028】また、従来例で述べたような垂直配向材や
異種配向制御膜を形成する必要がないため、成膜プロセ
スが簡単で生産コストが低減され、主配向膜への影響や
汚染等の問題も解消される。
【0029】さらに、本実施例によれば、ラビングマス
ク30や電極基板1aはステージ50上に確実に吸引・
保持される。したがって、従来例にて述べたようなラビ
ングマスク30のズレや剥れを防止することができる。
【0030】なお、本発明者は実際にラビングマスクを
製作し、本実施例の効果を確認した。製作したマスク
は、帯状形状(長さ300mm、幅10mm)をしてお
り、これに、孔径が2mmでピッチが10mmの千鳥配
列の小孔30d,…を設けたところ、垂直方向の保持力
は1kgf 以上、ズレ方向の保持力は100g/mm以上
であった。そして、ラビングマスクの基板上の厚さが
0.5mmの場合にマスクをずらす方向に加わる力は1
0g/mm程度であり、本実施例によれば充分な保持力
が得られることがわかった。なお、吸着に要する時間は
2秒であり、吸着圧力の変動はなく、マスク30は均一
に電極基板1aに密着されていた。また、ラビング処理
によって生じた塵はマスクエッジ(開口部30aの縁
部)に堆積したが、エアブローで除去でき、配向膜10
aに付着することはなかった。さらに、本実施例に係る
装置でラビング処理を施した電極基板を用いて液晶表示
素子を作成したところ、塵の付着がなく、またそれに伴
う配向欠陥やセル厚不良の発生も発見されなかった。
【0031】また、本実施例によれば、縦吸着路30
b,…を真空引きするための機構(吸引路50a,…)
を、ステージ50の表面に構成されている吸引路50
c,…と兼用することにより、よりコンパクトな構成と
できる。つまり、電極基板1aとラビングマスク30と
の密着、及びラビングマスク30のステージ50への吸
着は、共に同一の真空ポンプを利用して行うため、構造
が簡単となる。
【0032】なお、上述した実施例においては開口部3
0aを1つとしたが、もちろんこれに限る必要はなく、
図5に示すように、開口部130a,…を複数(例えば
4つ)設けるようにしてもよい。但し、この場合には、
開口部130a,…を区切る帯部131,…にも横吸着
路30c,…及び小孔30d,…を設ける方が、電極基
板1aとラビングマスク130との密着性が向上され、
好ましい。
【0033】ついで、図6に沿って本発明の第2実施例
について説明する。
【0034】本実施例に用いるラビングマスク230
は、板厚が0.1mmと1.1mmの2層構造であり、
上述実施例におけるような縦吸着路30b,…や横吸着
路30c,…や小孔30d,…は形成されておらず、電
極基板1aの側壁とラビングマスク230とによって形
成される間隙Sを吸着路として利用し、該間隙Sの空気
を吸引路50b,…によって吸引することにより、電極
基板1aとラビングマスク230との密着性を確保して
いる。
【0035】次に、本実施例の効果について説明する。
【0036】一般にラビングマスクが厚い(例えば、基
板上の厚さが0.5mm以上)場合には、パイルが劣化
し易く、パイル長を長くし、パイルへのダメージを弱め
ることも考えられるが、配向処理を確実に行うために
は、必ずしも望ましくない。しかし、本実施例のように
ラビングマスク230を2層構造とした場合には、第1
実施例の場合よりもさらにラビングマスク230を薄く
でき、そのような問題(パイルの劣化)も解消される。
また、上述実施例のように縦吸着路30b,…等を加工
する必要もないため、ラビングマスク230の製造も簡
単になる。
【0037】さらに、本実施例においても、上述第1実
施例と同様の効果が得られる。すなわち、必要に応じて
所望の領域にのみ部分的にラビング処理を施すことがで
き、透明電極群7aが露出している場合においても該電
極群7aとラビング布21との接触を避けてラビング布
21の摩耗を防止することができる。また、従来例で述
べたような垂直配向材や異種配向制御膜を形成する必要
がないため、成膜プロセスが簡単で生産コストが低減さ
れ、主配向膜への影響や汚染等の問題も解消される。さ
らに、ラビングマスク230や電極基板1aはステージ
50上に確実に吸引・保持され、ズレや剥れを防止する
ことができる。また、ラビングマスク230は電極基板
1aに密着されるため、配向膜10aへの塵の付着も防
止され、配向欠陥やセル厚不良の発生も防止できる。
【0038】なお、上述実施例においては2層のラミネ
ート構造としたが、もちろんこれに限る必要はなく、3
層でもよい。また、上述実施例においては、ラビングマ
スクに吸着路を形成してはいないが、もちろんこれに限
る必要はなく、ハーフエッチングなどの方法で溝加工す
ることによって吸着路を形成するようにしてもよい。
【0039】ついで、図7に沿って、本発明の第3実施
例について説明する。
【0040】本実施例に用いるラビングマスク330
は、板厚が0.3mmと1.05mmの2層構造であ
り、電極基板1aとラビングマスク330との密着性
は、上述各実施例のように空気吸引によって得るのでは
なく、ラビングマスク330自体の撓みを利用して得る
ように構成されている。また、ラビングマスク330の
下面(電極基板1aと接触する部分)にはシリコン樹脂
やフッ素樹脂等のコーティング層331が形成されてお
り、密着性を向上している。
【0041】次に、本実施例の効果について説明する。
【0042】本実施例によれば、真空ポンプの容量を小
さくでき、吸着のために必要な時間も節約することがで
きる。
【0043】また、本実施例においても、上述第1実施
例と同様の効果が得られる。すなわち、必要に応じて所
望の領域にのみ部分的にラビング処理を施すことがで
き、透明電極群7aが露出している場合においても該電
極群7aとラビング布21との接触を避けてラビング布
21の摩耗を防止することができる。また、従来例で述
べたような垂直配向材や異種配向制御膜を形成する必要
がないため、成膜プロセスが簡単で生産コストが低減さ
れ、主配向膜への影響や汚染等の問題も解消される。さ
らに、ラビングマスク330や電極基板1aはステージ
50上に確実に吸引・保持され、ズレや剥れを防止する
ことができる。また、ラビングマスク330は電極基板
1aに密着されるため、配向膜10aへの塵の付着も防
止され、配向欠陥やセル厚不良の発生も防止できる。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
ラビングマスクを使用することにより、必要に応じて所
望の領域にのみ部分的にラビング処理を施すことができ
る。また、配向膜の形成されていない部分にラビング布
を擦りつけてラビング布を劣化させてしまうこともな
い。
【0045】また、従来例で述べたような垂直配向材や
異種配向制御膜を形成する必要がないため、成膜プロセ
スが簡単で生産コストが低減され、主配向膜への影響や
汚染等の問題も解消される。
【0046】さらに、本発明によれば、ラビングマスク
や電極基板をステージ上に確実に保持することができ
る。したがって、ラビングマスクのズレや剥れを防止す
ることができる。
【0047】また、本発明によれば、吸着路及び吸引路
を介して吸引されることに基づき電極基板とラビングマ
スクとの密着性が確保される。したがって、これらの間
に塵が進入することも防止され、塵の付着を防止して、
配向欠陥やセル厚不良を防止できる。
【0048】さらに、ラビングマスクを可撓性に富む材
料にて形成すると共に、該ラビングマスクが自身の撓み
により前記電極基板に密着するようにした場合にも、上
述と同様に、ラビングマスクと電極基板との間に塵が進
入するを防止でき、塵の付着を防止して、配向欠陥やセ
ル厚不良を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】液晶表示素子の構造を説明するための断面図。
【図2】従来のラビング処理方法を説明するための模式
図。
【図3】本発明の第1実施例を説明するための図であ
り、(a) はラビングマスクの形状を説明するための斜視
図、(b) はラビングマスク及びステージの構造を説明す
るための断面図。
【図4】第1実施例に係るラビング処理方法を説明する
ための模式図。
【図5】第1実施例に使用するラビングマスクの他の例
を説明するための斜視図。
【図6】本発明の第2実施例を説明するための断面図。
【図7】本発明の第3実施例を説明するための断面図。
【符号の説明】
1a,1b 電極基板 10a,10b 配向膜 21 ラビング布 30 ラビングマスク 30b,… 縦吸着路(吸着路) 30c,… 横吸着路(吸着路) 30d,… 小孔(吸着路) 50 吸着ステージ(ステージ) 50a,… 第1の吸引路(吸引路) 50b,… 第2の吸引路(吸引路) 50c,… 第3の吸引路(吸引路) P 液晶表示素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 青山 和弘 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キ ヤノン株式会社内 (56)参考文献 特開 平8−29789(JP,A) 特開 平5−34694(JP,A) 特開 昭60−214340(JP,A) 特開 昭53−136855(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G02F 1/1337 500

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電極基板を載置するステージと、該電極
    基板の表面に形成された配向膜に擦り付けられてラビン
    グ処理を行うラビング布と、を備えた電極基板のラビン
    グ処理装置において、 前記電極基板の少なくとも一部を覆うように前記ステー
    ジ上に載置されるラビングマスクを備え、 前記ステージが、少なくとも前記ラビングマスクに対し
    て開口される吸引路を有し、かつ、 前記ラビングマスクが前記吸引路を介して前記ステージ
    上に吸引されて保持される、 ことを特徴とする電極基板のラビング処理装置。
  2. 【請求項2】 前記ラビングマスクが、前記吸引路に連
    通されると共に前記電極基板に対して開口される吸着路
    を有し、かつ、 前記ラビングマスクと前記電極基板との間の空気が前記
    吸引路及び前記吸着路を介して吸引されることに基づ
    き、前記ラビングマスクが前記電極基板に密着されるよ
    うにした、 ことを特徴とする請求項1記載の電極基板のラビング処
    理装置。
  3. 【請求項3】 前記ラビングマスクが可撓性に富む材料
    にて形成され、 該ラビングマスクが、自身の撓みにより前記電極基板に
    密着されるようにした、 ことを特徴とする請求項1記載の電極基板のラビング処
    理装置。
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