JP2977889B2 - IC resin sealing method - Google Patents

IC resin sealing method

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JP2977889B2
JP2977889B2 JP2315144A JP31514490A JP2977889B2 JP 2977889 B2 JP2977889 B2 JP 2977889B2 JP 2315144 A JP2315144 A JP 2315144A JP 31514490 A JP31514490 A JP 31514490A JP 2977889 B2 JP2977889 B2 JP 2977889B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明の回路基板上に設けられたIC等の電子部品を熱
硬化性樹脂で樹脂封止する方法に関するものである。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for resin-sealing an electronic component such as an IC provided on a circuit board with a thermosetting resin according to the present invention.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、ICカードや携帯用電子計算機等の小型で且つ薄
型の電子機器の開発が急速に進歩している。このような
電子機器では、小型・薄型の形状を保つために内部に収
納されているICチップ等の電子部品を小型・薄型に実装
することが要求されている。以下の説明では、従来のIC
カード及びICカードに収納されるICモジュールを例にし
ている。
In recent years, the development of small and thin electronic devices such as IC cards and portable electronic computers has been rapidly progressing. In such electronic devices, it is required that electronic components such as IC chips housed therein are mounted in a small and thin shape in order to maintain a small and thin shape. In the following description, the conventional IC
The example is a card and an IC module stored in the IC card.

第6図は従来のICカードの外観図、第7図は第6図の
A−A断面図、第8図はICカードのカード基体を示す外
観図、第9図は従来のICチップの樹脂封止方法を示す断
面図、第10図は従来のICモジュールを示す外観図であ
る。
FIG. 6 is an external view of a conventional IC card, FIG. 7 is a sectional view taken along line AA of FIG. 6, FIG. 8 is an external view showing a card base of the IC card, and FIG. FIG. 10 is a sectional view showing a sealing method, and FIG. 10 is an external view showing a conventional IC module.

第6図において、ICカード30は表面に複数のデータ入
出力端子33aが設けられており、全体の形状は第8図に
示したプラスチック製のカード基体31で決められてい
る。
In FIG. 6, the IC card 30 has a plurality of data input / output terminals 33a on the surface, and the overall shape is determined by the plastic card base 31 shown in FIG.

第7図に示すごとく、このカード基体31には、凹部31
aが形成されており、この凹部31a内には、CPU、メモリ
チップ等のICチップ43を回路基板33にボンディングし、
ICチップ43へ樹脂による封止部34を形成したICモジュー
ル32が収納固定されている。
As shown in FIG. 7, the card base 31 has a recess 31
a is formed, and in this concave portion 31a, an IC chip 43 such as a CPU and a memory chip is bonded to the circuit board 33,
An IC module 32 having a resin sealing portion 34 formed on an IC chip 43 is housed and fixed.

ICカード30は、カード基体31の凹部31a内にICモジュ
ール32を収納固定した後、カード基体31の両面をオーバ
ーシート35で覆って構成される。尚、オーバーシート35
には各種の模様35aが設けられている。
The IC card 30 is configured by storing and fixing the IC module 32 in the concave portion 31a of the card base 31, and then covering both sides of the card base 31 with the oversheet 35. In addition, overseat 35
Are provided with various patterns 35a.

又第7図に示す各素子の関係は、ICモジュール32は、
封止部34の上面が凹部31aの底面に当接して厚味が規制
され、又回路基板33の外周が凹部31aの内周に係合して
平面位置が規制されている。
The relationship between the elements shown in FIG. 7 is as follows.
The top surface of the sealing portion 34 is in contact with the bottom surface of the concave portion 31a to regulate the thickness, and the outer periphery of the circuit board 33 is engaged with the inner periphery of the concave portion 31a to regulate the planar position.

一般にICカード30は厚さが約0.8mmであり、携帯時や
使用時に受ける外力によって破壊されないようにするた
め、ある程度の曲げに耐える柔軟性が必要である。その
ため、カード基体31の柔軟性はもちろん必要であるとと
もに、ICモジュール32は、曲げによってICチップ43の割
れやボンディングワイヤーの断線等が生じない様に、剛
性が高く、又耐湿性にすぐれた樹脂で封止する必要があ
る。
Generally, the IC card 30 has a thickness of about 0.8 mm, and needs to have a certain degree of flexibility to withstand bending in order to prevent the IC card 30 from being broken by an external force received when being carried or used. Therefore, the flexibility of the card base 31 is of course necessary, and the IC module 32 is made of a resin having high rigidity and excellent moisture resistance so that the bending of the IC chip 43 and disconnection of the bonding wire do not occur. It is necessary to seal with.

しかも上記の如く薄いカード基体31の凹部31aの底面
に封止部34の上面が当接して厚味が規制されるので、封
止部34は、厚味のバラツキが生じないように外形形状を
管理しなければならない。従って、従来から多用してい
るICチップ上に溶融樹脂を滴下させるポッティング封止
方法では、封止部34の厚味にバラツキが生じ易いので、
ICモジュール32の封止部34は、形状精度が良く、かつ剛
性の高い熱硬化性樹脂を用いたトランスファーモールド
方法で形成するのが最適であった。
Moreover, as described above, the upper surface of the sealing portion 34 abuts against the bottom surface of the concave portion 31a of the thin card base 31, and the thickness of the sealing portion 34 is regulated, so that the outer shape of the sealing portion 34 is reduced so that the thickness does not vary. Must be managed. Therefore, in the potting sealing method of dropping the molten resin onto the IC chip, which has been frequently used in the past, since the thickness of the sealing portion 34 tends to vary,
The sealing portion 34 of the IC module 32 was optimally formed by a transfer molding method using a thermosetting resin having good shape accuracy and high rigidity.

第9図に基づいて従来のトランスファーモールドによ
るICチップの樹脂封止方法を説明する。
With reference to FIG. 9, a conventional method of resin sealing an IC chip by transfer molding will be described.

第9図に於いて、36は下金型であり、その上面にはIC
チップ43をボンディングした回路基板33が載置される。
37はキャビティー37aが形成された上金型であり、上金
型37はキャビティー37aがICチップ43の上面を覆うよう
に下金型36に固定される。
In FIG. 9, reference numeral 36 denotes a lower mold, and an IC is provided on an upper surface thereof.
The circuit board 33 to which the chip 43 is bonded is mounted.
Reference numeral 37 denotes an upper mold having a cavity 37a formed therein. The upper mold 37 is fixed to the lower mold 36 so that the cavity 37a covers the upper surface of the IC chip 43.

上金型37にはゲート溝39aとランナー溝40aが形成され
ており、この上金型37と下金型36の合わせ面及び上金型
37と回路基板33の合わせ面には、樹脂38をキャビティー
37aに導くランナー40及びゲート39が構成され、いわゆ
るサイドゲート方式のトランスファーモールド方法にな
る。
A gate groove 39a and a runner groove 40a are formed in the upper mold 37, and the mating surface of the upper mold 37 and the lower mold 36 and the upper mold
In the mating surface of 37 and circuit board 33, resin 38 is cavity
The runner 40 and the gate 39 leading to 37a are configured, and a so-called side gate transfer molding method is realized.

封止部34は、加熱、溶融した樹脂38をプランジャー41
でランナー40へ注入し、ゲート39を通った樹脂38をキャ
ビティー37a内に充填することによって形成され、更に
樹脂38が硬化したら上金型37を外して封止部34が形成さ
れたICモジュール32が取出される。
The sealing portion 34 applies the heated and molten resin 38 to the plunger 41.
An IC module formed by filling the cavity 37a with the resin 38 that has been injected into the runner 40 and passed through the gate 39, and after the resin 38 has hardened, the upper mold 37 is removed to form the sealing portion 34. 32 is removed.

しかし、前述した如く上金型37と回路基板33の合わせ
面にゲート39が構成されるため、ICモジュール32の回路
基板33上には、第10図に示す如く封止部34につながって
ゲート残り34aが形成されてしまうという問題があっ
た。
However, since the gate 39 is formed on the mating surface of the upper mold 37 and the circuit board 33 as described above, the gate is connected to the sealing portion 34 on the circuit board 33 of the IC module 32 as shown in FIG. There is a problem that the remaining 34a is formed.

一般にカード基体31はポリ塩化ビニルシート(以下PV
Cシートと略記する)を多層に貼り合せて構成されてお
り、ICモジュール32の封止部34が収納される凹部31a
は、ザグリ加工によって形成されている。従って第10図
に示したようにICモジュール32にゲート残り34aが形成
されると、第8図に示す如くカード基体31には更にゲー
ト残り34aを収納するための溝部31bを形成しなければな
らないので、ザグリ加工が大変面倒なものとなってい
た。
Generally, the card substrate 31 is made of a polyvinyl chloride sheet (hereinafter referred to as PV
A concave portion 31a in which the sealing portion 34 of the IC module 32 is housed.
Are formed by counterbore processing. Therefore, when the remaining gate 34a is formed in the IC module 32 as shown in FIG. 10, a groove 31b for accommodating the remaining gate 34a must be formed in the card base 31 as shown in FIG. Therefore, counterbore processing was very troublesome.

そこでカード基体31に溝部31bを形成しないようにす
るため、従来は回路基板33上のゲート残り34aを機械的
に除去していた。
Therefore, in order to prevent the groove 31b from being formed in the card base 31, conventionally, the remaining gate 34a on the circuit board 33 has been mechanically removed.

しかしながら、ゲート残り34aは、回路基板33の面33c
との接着性が高いので、第10図に示す如く1点鎖線で示
すゲート残り34a′を折取る時に、その力がゲート残り3
4aに及び、回路基板33の面33cを剥離してしまい、場合
によっては回路パターンまでも切断してしまうという問
題があった。
However, the remaining gate 34a is on the surface 33c of the circuit board 33.
As shown in FIG. 10, when the gate rest 34a 'shown by a dashed line is broken off, the force is reduced to 3
4a, there is a problem that the surface 33c of the circuit board 33 is peeled off, and in some cases, even the circuit pattern is cut off.

そこでカード基体31に溝部31bを形成しなくても良い
ようにするため、ICモジュール32の回路基板33上にゲー
ト残り34aを形成しないでICチップ32を封止できるトラ
ンスファーモールド方法が望まれていた。
Therefore, in order to eliminate the need to form the groove 31b in the card base 31, a transfer molding method capable of sealing the IC chip 32 without forming the gate residue 34a on the circuit board 33 of the IC module 32 has been desired. .

しかるに前記従来の樹脂封止方法の持つ欠点を解決す
る樹脂封止方法が特公昭61−46049号公報に提案されて
いる。
However, Japanese Patent Publication No. 61-46049 proposes a resin encapsulation method that solves the disadvantages of the conventional resin encapsulation method.

この樹脂封止方法を第11図〜第13図に基づいて説明す
る。
This resin sealing method will be described with reference to FIGS.

第11図は従来の他の樹脂封止方法を示す断面図、第12
図は第11図の樹脂封止方法で使用するキャビティープレ
ートの外観図、第13図は第11図の樹脂封止方法で製造し
たICモジュールの外観図である。
FIG. 11 is a sectional view showing another conventional resin sealing method, and FIG.
FIG. 11 is an external view of a cavity plate used in the resin sealing method of FIG. 11, and FIG. 13 is an external view of an IC module manufactured by the resin sealing method of FIG.

この樹脂封止方法では、第12図に示したキャビティー
プレート42を使用する。キャビティープレート42には封
止部の形状と位置を決めるためのキャビティー42bと、
このプレート42を金型上にセットするための位置決め穴
42aが形成されている。
In this resin sealing method, the cavity plate 42 shown in FIG. 12 is used. A cavity 42b for determining the shape and position of the sealing portion in the cavity plate 42,
Positioning holes for setting this plate 42 on the mold
42a is formed.

第11図において37は上金型、36はランナー溝40及びゲ
ート溝39を有する下金型、33はICチップ43を搭載した回
路基板であり、キャビティープレート42はキャビティー
42bでICチップ43を囲むように回路基板33を受けて上金
型37と下金型36の間に挾持されている。
In FIG. 11, 37 is an upper mold, 36 is a lower mold having a runner groove 40 and a gate groove 39, 33 is a circuit board on which an IC chip 43 is mounted, and a cavity plate 42 is a cavity plate.
The circuit board 33 is received between the upper mold 37 and the lower mold 36 so as to surround the IC chip 43 at 42b.

そして溶融した封止樹脂38をプランジャー41で注入す
ることにより、ランナー溝40とゲート溝39を通してキャ
ビティープレート42のキャビティー42b内に封止樹脂38
が充填されている。
Then, by injecting the molten sealing resin 38 with the plunger 41, the sealing resin 38 is inserted into the cavity 42b of the cavity plate 42 through the runner groove 40 and the gate groove 39.
Is filled.

即ち、この樹脂封止方法はキャビティープレート42と
の合せ面になる下金型36の上面に設けたランナー溝40、
ゲート溝39を通してキャビティー42b内に封止樹脂を充
填する、いわゆるサイドゲート方式のトランスファーモ
ールド方法である。
In other words, this resin sealing method uses a runner groove 40 provided on the upper surface of the lower mold 36 to be a mating surface with the cavity plate 42,
This is a so-called side gate transfer molding method in which a sealing resin is filled into the cavity 42b through the gate groove 39.

この樹脂封止方法によれば、封止樹脂38が導かれるゲ
ート溝39及びランナー溝40が、キャビティープレート42
によって回路基板33上から封止部34の上部へ移行される
ため、第13図に一点鎖線で示す如く回路基板33上のゲー
ト残り34aは存在せず、第8図に示したようなカード基
体31への溝部31b形成が不要となる。
According to this resin sealing method, the gate groove 39 and the runner groove 40 into which the sealing resin 38 is guided are formed in the cavity plate 42.
As a result, the gate rest 34a on the circuit board 33 does not exist as shown by the dashed line in FIG. 13, and the card base as shown in FIG. The formation of the groove 31b in the 31 is not required.

しかしながらこのキャビティープレート42を用いた樹
脂封止方法では、作業工程が煩雑になるという問題があ
った。
However, in the resin sealing method using the cavity plate 42, there is a problem that the working process becomes complicated.

即ち、熱硬化性樹脂は熱収縮率が小さく、金型との離
型が悪いので、封止部の形状を決めるキャビティープレ
ートのキャビティー内に封止樹脂を充填して回路基板上
の電子部品を封止すると、封止樹脂が硬化した後、封止
部とキャビティープレートがくっついたままとなる。そ
のため、封止部が形成された回路基板を取り外すとき
は、キャビティープレートがくっついたままの回路基板
を一旦金型から取り外し、回路基板とキャビティープレ
ートを手で分離してから再度キャビティープレートを金
型へ取り付ける作業が必要となっていた。従って一連の
作業は自動化することが難しく、手作業となるため、生
産効率が大変悪かった。
That is, since the thermosetting resin has a small heat shrinkage rate and poor release from the mold, the sealing resin is filled in the cavity of the cavity plate which determines the shape of the sealing portion, and the electron on the circuit board is removed. When the component is sealed, the sealing portion and the cavity plate remain attached after the sealing resin is cured. Therefore, when removing the circuit board on which the sealing portion is formed, once remove the circuit board with the cavity plate attached from the mold, separate the circuit board and the cavity plate by hand, and then re-use the cavity plate. It was necessary to attach to the mold. Therefore, it is difficult to automate a series of operations, and the operations are performed manually, resulting in very low production efficiency.

そこで本出願人は上記の欠点を解決した樹脂封止方法
を特開平2−1397号公報に提案している。この方法を図
面に基づいて説明する。第14図(a)、(b)は従来の
他の樹脂封止方法を示す要部断面図、第15図は第14図
(a)に示した樹脂封止方法の要部外観図である。
Therefore, the present applicant has proposed a resin sealing method which has solved the above-mentioned disadvantages in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 2-1397. This method will be described with reference to the drawings. 14 (a) and (b) are cross-sectional views of main parts showing another conventional resin sealing method, and FIG. 15 is an external view of main parts of the resin sealing method shown in FIG. 14 (a). .

第14図(a)、(b)及び第15図において、44はキャ
ビティー44aを有する上金型、45はICチップ43が実装さ
れた回路基板33を載置するための下金型、50は下金型45
に設けた回転軸51を中心にして回動するゲートプレート
であり、第15図に示す如く上面側にはゲート溝50aが形
成されている。更に下金型45には、後述する封止樹脂49
と回路基板33を下金型45から取除くためのノックアウト
ピン46、47、48と、ゲートプレート50を上方へ回動させ
るための押上げピン52が設けられている。
In FIGS. 14 (a), (b) and 15, reference numeral 44 denotes an upper mold having a cavity 44a, 45 denotes a lower mold for mounting a circuit board 33 on which an IC chip 43 is mounted, 50 Is the lower mold 45
In FIG. 15, a gate groove 50a is formed on the upper surface side as shown in FIG. Further, the lower mold 45 has a sealing resin 49 to be described later.
And knockout pins 46, 47, 48 for removing the circuit board 33 from the lower mold 45, and push-up pins 52 for rotating the gate plate 50 upward.

図に示す如くゲートプレート50はゲート溝50aを上面
に向けた状態で上金型44のキャビティー44aの側面に連
結され、ゲート溝50aと上金型44の間にサイドゲート54
が構成され、更に上金型44と下金型45の間にランナー53
がそれぞれ構成されている。
As shown in the figure, the gate plate 50 is connected to the side surface of the cavity 44a of the upper mold 44 with the gate groove 50a facing upward, and a side gate 54 is provided between the gate groove 50a and the upper mold 44.
And a runner 53 between the upper mold 44 and the lower mold 45.
Are respectively constituted.

次に樹脂封止の工程を説明する。プランジャー(図示
せず)によって注入された封止樹脂49は、ランナー53、
サイドゲート54を通ってキャビティー44a内に充填さ
れ、ICチップ43の周囲のみを封止する。
Next, the resin sealing process will be described. The sealing resin 49 injected by a plunger (not shown)
The cavity 44a is filled through the side gate 54 to seal only the periphery of the IC chip 43.

次にキャビティー44a内に充填された封止樹脂49が硬
化し、回路基板33に封止部34が形成されたら上金型44が
上方に離間される。そして第14図(b)に示す如く、最
初にノックアウトピン48を上方に突出させ、ランナー5
3、サイドゲート54で硬化した不要な封止樹脂49を取除
く。この時、第15図に示すごとくゲート溝50aが封止部1
3に向って先細形状となっているので、封止部13の側面
には、極めて小さなゲート残りしか残らない。
Next, when the sealing resin 49 filled in the cavity 44a is cured and the sealing portion 34 is formed on the circuit board 33, the upper mold 44 is separated upward. Then, as shown in FIG. 14 (b), the knockout pin 48 is first projected upward, and the runner 5
3. Remove unnecessary sealing resin 49 cured by side gate 54. At this time, as shown in FIG. 15, the gate groove 50a is
Since it is tapered toward 3, only a very small gate residue remains on the side surface of the sealing portion 13.

次に第14図(b)に示す如く押上げピン52を上方向に
駆動し、ゲートプレート50を上方向に回動させて回路基
板33の上面から離脱させる。そしてノックアウトピン4
6、47を上方に突出させることにより、下金型45から完
成したICモジュールを取出すことができる。
Next, as shown in FIG. 14 (b), the push-up pins 52 are driven upward, and the gate plate 50 is rotated upward to be separated from the upper surface of the circuit board 33. And knockout pin 4
By projecting 6, 47 upward, a completed IC module can be taken out from the lower mold 45.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、上述の如きゲートプレートを使用した
樹脂封止方法においても次のような問題点があった。
However, the resin sealing method using the gate plate as described above has the following problems.

即ち、板状のゲートプレートは封止樹脂が充填される
上金型のキャビティー側面に連結されるので、上金型と
ゲートプレートの位置合せが悪いと、連結部分から封止
樹脂が漏泄し、封止部の外形形状を悪くするという問題
があった。
That is, since the plate-shaped gate plate is connected to the side surface of the cavity of the upper mold filled with the sealing resin, if the alignment between the upper mold and the gate plate is poor, the sealing resin leaks from the connection portion. However, there is a problem that the outer shape of the sealing portion is deteriorated.

又、第15図に示す如くゲートプレートと接する上金型
のキャビティー側面(即ち第15図に見られるゲートプレ
ート50と封止部34の接触部)が非常に薄肉となるため、
上金型とゲートプレートがくり返して接触することによ
り摩耗が激しくなり、金型の寿命が短くなるという問題
があった。
Further, as shown in FIG. 15, the side surface of the cavity of the upper mold in contact with the gate plate (that is, the contact portion between the gate plate 50 and the sealing portion 34 seen in FIG. 15) becomes very thin.
Due to repeated contact between the upper mold and the gate plate, there is a problem that the wear becomes severe and the life of the mold is shortened.

本発明の目的は上記の問題点を解決し、サイドゲート
方式のトランスファーモールド方法において、樹脂封止
が施される樹脂基板上にゲート跡を残さず、しかも連続
してトランスファーモールドが出来、更には封止部の外
形形状をきれいに保ち、金型の摩耗も少ないICチップの
樹脂封止方法を提供することである。
The object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, and in a side gate transfer molding method, transfer marks can be continuously formed without leaving a gate mark on a resin substrate on which resin sealing is performed. An object of the present invention is to provide a method of resin sealing an IC chip in which the external shape of a sealing portion is kept clean and a mold is less worn.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上記の目的を達成するための本発明のICの樹脂封止方
法は次の如くである。即ち、電極パターンを有する樹脂
基板上にICチップを搭載した回路基板を、キャビティー
とゲート溝を有する成形金型で狭持し、前記ゲート溝か
ら前記キャビティー内に封止樹脂を充填することによっ
て前記ICチップを前記樹脂基板の周縁から離れた内側で
樹脂封止する方法において、前記成形金型の前記ゲート
溝内に該ゲート溝の開口部の一部を封鎖するための封鎖
片をはめ込み、該封鎖片と前記ゲート溝の間から前記キ
ャビティー内に前記封止樹脂を充填する工程と、前記封
止樹脂が硬化して封止部を形成したら前記封鎖片を移動
させることにより前記封止部から不要な封止樹脂を取り
除く工程とを有することを特徴としている。
The resin sealing method of the present invention for achieving the above object is as follows. That is, a circuit board in which an IC chip is mounted on a resin substrate having an electrode pattern is sandwiched by a molding die having a cavity and a gate groove, and a sealing resin is filled from the gate groove into the cavity. In the method of resin-sealing the IC chip inside away from the periphery of the resin substrate, a sealing piece for closing a part of the opening of the gate groove is fitted into the gate groove of the molding die. Filling the sealing resin into the cavity from between the sealing piece and the gate groove, and moving the sealing piece after the sealing resin is cured to form a sealing portion. Removing an unnecessary sealing resin from the stop portion.

〔実施例〕〔Example〕

以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第
1図(a)、(b)は本発明の第一実施例に係るICチッ
プの樹脂封止方法を示す要部断面図、第2図は本発明の
第一実施例に係るICチップの樹脂封止方法を示す要部外
観図、第3図(a)は第1図(a)のB−B断面図であ
る。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 (a) and 1 (b) are cross-sectional views of an essential part showing a method of resin sealing an IC chip according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a sectional view of the IC chip according to the first embodiment of the present invention. FIG. 3 (a) is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG. 1 (a), showing a main part external view showing a resin sealing method.

はじめに各部の構成を図面に基づいて説明する。1は
上金型であり、第2図に示す如くその下面側には封止部
の形状を決めるキャビティー1aと、キャビティー1aの一
側面に連結して形成されたゲート溝1bと、ガイド穴1dが
設けられており、更に上下面を貫くように封止樹脂9を
投入するためのポット1cが設けられている。3はポット
1cに投入された封止樹脂9を注入するためのプランジャ
ーである。2は上金型1の下面に衝合する下金型であ
り、後述する樹脂基板5を載置するための基板固定部2
a、封止樹脂9をゲート溝1bに導くためのランナー溝2
b、樹脂基板5を位置決めするためのガイドピン4が設
けられている。5は金属の配線パターン(図示せず)を
有する樹脂基板であり、その上面にICチップ6がボンデ
ィングされて回路基板を構成している。7は封鎖片であ
り、図示しない駆動装置によって上下に駆動するよう下
金型2に設けられている。第3図(a)に示す如く封鎖
片7は両側面が傾斜した台形形状を成しており、その先
端部分が樹脂基板5の上に載り、上金型1のゲート溝1b
の開口部1eの一部を封鎖するように該ゲート溝1b内には
め込まれ、ゲート溝1bと対応する樹脂基板5上面を遮蔽
している。8は樹脂基板5を下金型2の基板固定部2aか
ら押し出すためのエジェクタピンである。
First, the configuration of each unit will be described with reference to the drawings. Numeral 1 denotes an upper die, as shown in FIG. 2, a cavity 1a for determining the shape of the sealing portion, a gate groove 1b formed by being connected to one side surface of the cavity 1a, and a guide, as shown in FIG. A hole 1d is provided, and a pot 1c for charging the sealing resin 9 is provided so as to penetrate the upper and lower surfaces. 3 is a pot
This is a plunger for injecting the sealing resin 9 charged in 1c. Reference numeral 2 denotes a lower die which abuts on the lower surface of the upper die 1, and a substrate fixing portion 2 for mounting a resin substrate 5 described later.
a, Runner groove 2 for guiding sealing resin 9 to gate groove 1b
b, Guide pins 4 for positioning the resin substrate 5 are provided. Reference numeral 5 denotes a resin substrate having a metal wiring pattern (not shown), on which an IC chip 6 is bonded to form a circuit substrate. Reference numeral 7 denotes a sealing piece, which is provided on the lower mold 2 so as to be driven up and down by a driving device (not shown). As shown in FIG. 3 (a), the sealing piece 7 has a trapezoidal shape in which both side surfaces are inclined, the tip of which is placed on the resin substrate 5, and the gate groove 1b of the upper mold 1 is formed.
Is inserted into the gate groove 1b so as to block a part of the opening 1e, and the upper surface of the resin substrate 5 corresponding to the gate groove 1b is shielded. Reference numeral 8 denotes an ejector pin for extruding the resin substrate 5 from the substrate fixing portion 2a of the lower mold 2.

次に本実施例の樹脂封止工程を説明する。まず第1図
(a)に示す如く、ICチップ6がボンディングされた樹
脂基板5を、ガイドピン4に挿入しながら下金型2の基
板固定部2aにセットする。次に封鎖片7を樹脂基板5端
部上面の所定の位置にセットする。そして、上金型1を
下金型2の上面に圧接させることにより、キャビティー
1aでICチップ6を樹脂基板5の周縁から離れた内側の位
置で覆い、更にゲート溝1b内に封鎖片7をはめ込んで該
ゲート溝1bの開口部1eの樹脂基板側を封鎖する。そして
この状態でポット1c内に封止樹脂9を投入して加熱溶融
し、第1図(a)に示す如くプランジャー3で溶融した
封止樹脂9を金型内へ注入することにより、ランナー溝
2bを通過した封止樹脂9を、ゲート溝1bと封鎖片7の間
を通してキャビティー1a内に充填する。即ち、ゲート溝
1bを通過する封止樹脂9は、樹脂基板5の上面から離れ
てキャビティー1a内に充填される。そして封止樹脂9が
硬化すると、第2図に示す如く上金型1を下金型2から
分離させる。図示の如く、封止樹脂9によって形成され
た封止部10は、樹脂基板5の周縁から離れた内側の位置
でICチップ6を封止しており、しかもゲート溝1b内で硬
化した封止樹脂9は全て封鎖片7の上面に残っている。
従って第1図(b)に示す如く、封鎖片7を上方へ押し
上げることにより、即ち封鎖片7を移動させることによ
り、樹脂基板5上に形成された封止部10から簡単に不要
な封止樹脂9を取り除くことができる。そして最後にエ
ジェクタピン8を上方へ押し出すことにより、基本固定
部2aから樹脂基板5が取り出される。
Next, the resin sealing step of this embodiment will be described. First, as shown in FIG. 1A, the resin substrate 5 to which the IC chip 6 is bonded is set on the substrate fixing portion 2a of the lower mold 2 while being inserted into the guide pins 4. Next, the sealing piece 7 is set at a predetermined position on the upper surface of the end of the resin substrate 5. Then, the upper mold 1 is pressed against the upper surface of the lower mold 2 so that the cavity is formed.
In step 1a, the IC chip 6 is covered at an inner position away from the peripheral edge of the resin substrate 5, and a sealing piece 7 is fitted into the gate groove 1b to close the resin substrate side of the opening 1e of the gate groove 1b. In this state, the sealing resin 9 is put into the pot 1c, heated and melted, and the sealing resin 9 melted by the plunger 3 is injected into the mold as shown in FIG. groove
The sealing resin 9 that has passed through 2b is filled into the cavity 1a through the space between the gate groove 1b and the sealing piece 7. That is, the gate groove
The sealing resin 9 passing through 1b is filled in the cavity 1a apart from the upper surface of the resin substrate 5. When the sealing resin 9 is cured, the upper mold 1 is separated from the lower mold 2 as shown in FIG. As shown in the figure, a sealing portion 10 formed by a sealing resin 9 seals the IC chip 6 at a position inside the resin substrate 5 away from the peripheral edge, and furthermore, the sealing hardened in the gate groove 1b. All of the resin 9 remains on the upper surface of the sealing piece 7.
Therefore, as shown in FIG. 1B, by pushing up the sealing piece 7, that is, by moving the sealing piece 7, unnecessary sealing can be easily performed from the sealing portion 10 formed on the resin substrate 5. The resin 9 can be removed. Finally, by ejecting the ejector pins 8 upward, the resin substrate 5 is taken out from the basic fixing portion 2a.

尚、本実施例では第3図(a)に示す如く、封鎖片7
の上部全面を通してキャビティー1aに封止樹脂9を充填
したが、本発明はこれに限定されるものではなく、種々
の変形が可能である。即ち、第3図(b)〜(d)に示
す如く、第3図(b)では封止樹脂9が通過するゲート
溝1bの底面の幅を狭くして封鎖片7をはめ込むことによ
り流量と流れ込む位置を調整している。又、第3図
(c)では封鎖片7の上面にも溝7aを形成し、ゲート溝
1bと溝7aの間からキャビティー1aに封止樹脂9を充填し
ている。更に第3図(d)に示す如く、封鎖片7の上面
に二つの溝7b、7cを形成することも可能である。この場
合第4図の要部外観図に示す如く、二つの溝7b、7cを流
れた封止樹脂9は、ICチップ6へ直接当らず、ICチップ
6の両サイドへ流れ込むので、ボンディングワイヤーの
変形を防止することができる。
In this embodiment, as shown in FIG.
Although the sealing resin 9 is filled in the cavity 1a through the entire upper surface of the above, the present invention is not limited to this, and various modifications are possible. That is, as shown in FIGS. 3 (b) to 3 (d), in FIG. 3 (b), the width of the bottom surface of the gate groove 1b through which the sealing resin 9 passes is reduced and the sealing piece 7 is fitted to thereby reduce the flow rate. The pouring position is adjusted. In FIG. 3 (c), a groove 7a is also formed on the upper surface of the sealing piece 7, and the gate groove is formed.
The cavity 1a is filled with the sealing resin 9 from between the groove 1b and the groove 7a. Further, as shown in FIG. 3 (d), it is possible to form two grooves 7b and 7c on the upper surface of the sealing piece 7. In this case, as shown in the external view of the main part of FIG. 4, the sealing resin 9 flowing through the two grooves 7b and 7c does not directly hit the IC chip 6 but flows to both sides of the IC chip 6, so that the bonding wire Deformation can be prevented.

次に本発明の第二実施例を第5図(a)、(b)に基
づいて説明する。尚、前述の第一実施例と同一構成要素
には同一番号を付してその説明を省略する。第1図
(a)、(b)に示した第一実施例と異なる本実施例の
特徴は、封鎖片11が下金型2に対して斜め方向に上下駆
動することである。即ち、第5図(a)に示す如く上金
型1のゲート溝1bと封鎖片11の間からキャビティー1a内
に封止樹脂9を充填して封止部10を形成する。そして第
5図(b)に示す如く、上金型1を下金型2から分離
し、封鎖片11を上方へ押し上げることにより、封止部10
から不要な封止樹脂9を取除くことができる。この時、
第5図(b)に示す如く封鎖片11は右斜め上方へ押し上
げられるので、封鎖片11は基板固定部2aと重ならない位
置へ移動し、樹脂基板5は下金型2の基板固定部2aに対
して、上方から容易に取付け、取り外しが可能になり、
連続成形の自動化が更にやり易くなる。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 5 (a) and 5 (b). The same components as those in the first embodiment are given the same reference numerals, and the description is omitted. A feature of the present embodiment, which is different from the first embodiment shown in FIGS. 1A and 1B, is that the sealing piece 11 is vertically driven obliquely with respect to the lower mold 2. That is, as shown in FIG. 5 (a), the sealing resin 9 is filled into the cavity 1a from between the gate groove 1b of the upper mold 1 and the sealing piece 11 to form the sealing portion 10. Then, as shown in FIG. 5 (b), the upper mold 1 is separated from the lower mold 2 and the sealing piece 11 is pushed upward to thereby form the sealing portion 10
Unnecessary sealing resin 9 can be removed. At this time,
As shown in FIG. 5 (b), the sealing piece 11 is pushed obliquely upward to the right, so that the sealing piece 11 moves to a position not overlapping with the substrate fixing part 2a, and the resin substrate 5 is moved to the substrate fixing part 2a of the lower mold 2. Can be easily attached and removed from above,
Automation of continuous molding is further facilitated.

尚、前述の各実施例では、ICカードのICモジュールを
例にして説明したが、本発明はこれに限定されるもので
はなく、たとえば樹脂封止型PAC(パッドアレイキャリ
ア)等の他の樹脂封止型半導体装置にも適用できるもの
である。
In the above embodiments, the IC module of the IC card has been described as an example. However, the present invention is not limited to this. For example, another resin such as a resin-sealed PAC (pad array carrier) may be used. The present invention can also be applied to a sealed semiconductor device.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上の説明から明らかな如く本発明によれば、ICチッ
プを搭載した樹脂基板を挾み込む成形金型のゲート溝内
に、該ゲート溝の開口部の樹脂基板側を封鎖する封鎖片
をはめ込み、この封鎖片とゲート溝の間からキャビティ
ー内に封止樹脂を充填してICチップを樹脂封止する方法
なので、ゲート溝内で硬化した封止樹脂は全て封鎖片上
に残り、樹脂基板上には不要な封止樹脂を付着させずに
ICチップを樹脂封止できる。しかも金型としては、従来
から一般に使用される上下二分割の金型に、ゲート溝の
開口部を封鎖する小さな封鎖片をはめ込むだけなので、
金型と封鎖片の位置合せが単純となり、合せ部からの樹
脂もれが発生しなくなるとともに、連続的な生産が容易
に行なえるようになった。
As is apparent from the above description, according to the present invention, a sealing piece for closing the resin substrate side of the opening of the gate groove is fitted into the gate groove of the molding die which sandwiches the resin substrate on which the IC chip is mounted. Since the IC chip is resin-sealed by filling the cavity with the sealing resin from between the sealing piece and the gate groove, all the sealing resin cured in the gate groove remains on the sealing piece and remains on the resin substrate. Without attaching unnecessary sealing resin
IC chips can be sealed with resin. Moreover, as a mold, only a small sealing piece that seals the opening of the gate groove is inserted into the upper and lower two-part mold that is generally used conventionally.
The positioning of the mold and the sealing piece is simplified, resin leakage from the mating portion is prevented, and continuous production can be easily performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図(a)、(b)は本発明の第一実施例に係るICチ
ップの樹脂封止方法を示す要部断面図、第2図は本発明
の第一実施例に係るICチップの樹脂封止方法を示す要部
外観図、第3図(a)は第1図(a)のB−B断面図、
第3図(b)〜(d)は本発明の変形例を示すゲート溝
部の要部断面図、第4図は第3図(d)に示したゲート
構造を使用したICの樹脂封止方法を示す要部外観図、第
5図(a)、(b)は本発明の第二実施例に係るICチッ
プの樹脂封止方法を示す要部断面図、第6図は従来のIC
カードの外観図、第7図は第6図のA−A断面図、第8
図はICカードのカード基体を示す外観図、第9図は従来
のICチップの樹脂封止方法を示す断面図、第10図は従来
のICモジュールを示す外観図、第11図は従来の他の樹脂
封止方法を示す断面図、第12図は第11図の樹脂封止方法
で使用するキャビティープレートの外観図、第13図は第
11図の樹脂封止方法で製造したICモジュールの外観図、
第14図(a)、(b)は従来の更に他の樹脂封止方法を
示す要部断面図、第15図は第14図(a)に示した樹脂封
止方法の要部外観図である。
1 (a) and 1 (b) are cross-sectional views of an essential part showing a method of resin sealing an IC chip according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a sectional view of the IC chip according to the first embodiment of the present invention. FIG. 3 (a) is a sectional view taken along the line BB of FIG. 1 (a),
3 (b) to 3 (d) are cross-sectional views of main parts of a gate groove showing a modification of the present invention, and FIG. 4 is a resin sealing method for an IC using the gate structure shown in FIG. 3 (d). 5 (a) and 5 (b) are cross-sectional views of a main part showing a method of resin sealing an IC chip according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a conventional IC.
FIG. 7 is a sectional view taken along line AA of FIG. 6, FIG.
FIG. 9 is an external view showing a card base of an IC card, FIG. 9 is a cross-sectional view showing a conventional IC chip resin sealing method, FIG. 10 is an external view showing a conventional IC module, and FIG. FIG. 12 is a cross-sectional view showing the resin sealing method of FIG. 12, FIG. 12 is an external view of a cavity plate used in the resin sealing method of FIG. 11, and FIG.
External view of the IC module manufactured by the resin sealing method of FIG. 11,
14 (a) and (b) are cross-sectional views of main parts showing still another conventional resin sealing method, and FIG. 15 is an external view of main parts of the resin sealing method shown in FIG. 14 (a). is there.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】電極パターンを有する樹脂基板上にICチッ
プを搭載した回路基板を、キャビティーとゲート溝を有
する成形金型で狭持し、前記ゲート溝から前記キャビテ
ィー内に封止樹脂を充填することによって前記ICチップ
を前記樹脂基板の周縁から離れた内側で樹脂封止する方
法において、前記成形金型の前記ゲート溝内に該ゲート
溝の開口部の一部を封鎖するための封鎖片をはめ込み、
該封鎖片と前記ゲート溝の間から前記キャビティー内に
前記封止樹脂を充填する工程と、前記封止樹脂が硬化し
て封止部を形成したら前記封鎖片を移動させることによ
り前記封止部から不要な封止樹脂を取り除く工程とを有
することを特徴とするICの樹脂封止方法。
1. A circuit board having an IC chip mounted on a resin substrate having an electrode pattern is sandwiched by a molding die having a cavity and a gate groove, and a sealing resin is filled from the gate groove into the cavity. A method for sealing the IC chip by filling the resin inside the resin substrate at a distance from a peripheral edge of the resin substrate, wherein the sealing is performed to seal a part of an opening of the gate groove in the gate groove of the molding die. Insert the piece,
Filling the sealing resin into the cavity from between the sealing piece and the gate groove, and moving the sealing piece when the sealing resin is cured to form a sealing portion, thereby moving the sealing piece. Removing unnecessary sealing resin from the part.
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