JP2977251B2 - 画像計測装置 - Google Patents
画像計測装置Info
- Publication number
- JP2977251B2 JP2977251B2 JP2222254A JP22225490A JP2977251B2 JP 2977251 B2 JP2977251 B2 JP 2977251B2 JP 2222254 A JP2222254 A JP 2222254A JP 22225490 A JP22225490 A JP 22225490A JP 2977251 B2 JP2977251 B2 JP 2977251B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- rectangle
- maximum
- measuring device
- area
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） この発明は、例えば工場等で生産ラインの製品監視を
行うFA（ファクトリー・オートメーション）の画像処理
システムに用いられ、特定の座標を検出する画像計測装
置に関する。
行うFA（ファクトリー・オートメーション）の画像処理
システムに用いられ、特定の座標を検出する画像計測装
置に関する。
（従来の技術） 従来のFAの画像処理システムでは、画像中の長方形の
４点の座標を検出する場合、画像計測装置を用いて入力
画像の辺強調処理を行い、その辺縁を抽出する処理を行
っている。このような処理は、一般にコンボリューショ
ン処理によって行う。しかし、従来の画像計測装置で
は、ｎ×ｍ画素の画像の辺縁を抽出するのに必要な時間
は、9nm回の乗算と8nm回の加算により成立し、かつ辺縁
を求めるのにnm画素の検索が必要なための、大変時間が
かかっていた。
４点の座標を検出する場合、画像計測装置を用いて入力
画像の辺強調処理を行い、その辺縁を抽出する処理を行
っている。このような処理は、一般にコンボリューショ
ン処理によって行う。しかし、従来の画像計測装置で
は、ｎ×ｍ画素の画像の辺縁を抽出するのに必要な時間
は、9nm回の乗算と8nm回の加算により成立し、かつ辺縁
を求めるのにnm画素の検索が必要なための、大変時間が
かかっていた。
（発明が解決しようとする課題） 以上述べたように従来の画像計測装置では、画像中に
ある長方形の４点の位置を計測するためには大変時間が
かかる。
ある長方形の４点の位置を計測するためには大変時間が
かかる。
この発明は上記の問題を解決するためになされたもの
で、画像中にある長方形の４点の位置をより高速に計測
することのできる画像計測装置を提供することを目的と
する。
で、画像中にある長方形の４点の位置をより高速に計測
することのできる画像計測装置を提供することを目的と
する。
［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 上記目的を達成するためにこの発明は、入力画像中の
長方形の４点の座標を検出する画像計測装置において、 前記長方形の内外に応じて２値化して、内側の画素数
を計算することにより、長方形の面積を計測する面積計
測器と、 前記２値化された長方形の画像をコピーして１方向に
１画素分ずらし、原画像との差分を求めることにより、
長方形の辺縁を求める差分検出器と、 この差分検出器の検出結果に画素配列順に対応して増
大する計数を乗算する乗算器と、 この乗算器の乗算結果から最大値、最小値を検出する
最大・最小検出器と、 この最大・最小検出器の検出結果を前記長方形の２つ
の頂点として座標値を求め、この２つの座標値と前記面
積計測器の計測結果とに基づいて他の２つの頂点の座標
値を求める４点演算器とを具備して構成される。
長方形の４点の座標を検出する画像計測装置において、 前記長方形の内外に応じて２値化して、内側の画素数
を計算することにより、長方形の面積を計測する面積計
測器と、 前記２値化された長方形の画像をコピーして１方向に
１画素分ずらし、原画像との差分を求めることにより、
長方形の辺縁を求める差分検出器と、 この差分検出器の検出結果に画素配列順に対応して増
大する計数を乗算する乗算器と、 この乗算器の乗算結果から最大値、最小値を検出する
最大・最小検出器と、 この最大・最小検出器の検出結果を前記長方形の２つ
の頂点として座標値を求め、この２つの座標値と前記面
積計測器の計測結果とに基づいて他の２つの頂点の座標
値を求める４点演算器とを具備して構成される。
（作用） 上記構成による画像計測装置では、面積計測器で予め
画像中の長方形の面積を求めておき、差分検出器で長方
形の辺縁を検出し、乗算器でその辺縁の重み付けを行っ
て、その最大値、最小値を最大・最小検出器で検出し、
その検出結果を長方形の２つの頂点として座標値を求
め、この２つの座標値と面積計測器の計測結果とに基づ
いて他の２つの頂点の座標値を求める。
画像中の長方形の面積を求めておき、差分検出器で長方
形の辺縁を検出し、乗算器でその辺縁の重み付けを行っ
て、その最大値、最小値を最大・最小検出器で検出し、
その検出結果を長方形の２つの頂点として座標値を求
め、この２つの座標値と面積計測器の計測結果とに基づ
いて他の２つの頂点の座標値を求める。
（実施例） 以下、図面を参照してこの発明の一実施例を説明す
る。
る。
第１図はその構成を示すもので、画面有効範囲がnm画
素の撮像装置（図示せず）によって取り込まれた画像情
報は面積計測器11に供給される。この面積計測器11は入
力画像情報を２値化（0,1）して被測定長方形のヒスト
グラムを計測することにより、当該長方形の面積を求め
るものである。ここで得られた２値化画像情報は差分検
出器12に供給される。この差分検出器12は１枚の入力画
像（２値化画像）をコピーして１画素分だけ下方向にず
らし、原画像との差分を検出することにより、上側の辺
縁を求めるものである。ここで得られた差分情報は乗算
器13に供給される。
素の撮像装置（図示せず）によって取り込まれた画像情
報は面積計測器11に供給される。この面積計測器11は入
力画像情報を２値化（0,1）して被測定長方形のヒスト
グラムを計測することにより、当該長方形の面積を求め
るものである。ここで得られた２値化画像情報は差分検
出器12に供給される。この差分検出器12は１枚の入力画
像（２値化画像）をコピーして１画素分だけ下方向にず
らし、原画像との差分を検出することにより、上側の辺
縁を求めるものである。ここで得られた差分情報は乗算
器13に供給される。
この乗算器13には（1,1）〜（n,m）（画像サイズ）の
値が係数としてシーケンスに格納されており、これらの
係数を入力差分情報に順次乗算することによって重み付
け処理を行うものである。ここで得られた結果は最大・
最小検出器14に供給される。この最大・最小検出器14は
乗算器13で得られた結果の最小値、最大値を求めるもの
である。ここで選られた結果は４点演算器15に供給され
る。この４点演算器15は検出器14で得られた最小値、最
大値及び計測器11で得られた面積値から座標計算によっ
て被測定方形の４点の座標を求めるものである。
値が係数としてシーケンスに格納されており、これらの
係数を入力差分情報に順次乗算することによって重み付
け処理を行うものである。ここで得られた結果は最大・
最小検出器14に供給される。この最大・最小検出器14は
乗算器13で得られた結果の最小値、最大値を求めるもの
である。ここで選られた結果は４点演算器15に供給され
る。この４点演算器15は検出器14で得られた最小値、最
大値及び計測器11で得られた面積値から座標計算によっ
て被測定方形の４点の座標を求めるものである。
上記構成において、以下、第２図乃至第４図を参照し
てその動作を説明する。
てその動作を説明する。
いま、nm画素の画面内に第２図（ａ）に示すような長
方形画像が得られたとする。面積計測器11は、同図中に
示すように、長方形内は“1"、それ以外は“0"に２値化
して、“1"となった画素数を計測する。これによって当
該長方形の面積Ｓを求めるものができる。また、差分検
出器12は、２値化画像をコピーして、第２図（ｂ）に示
すように１画素分だけ下方向にずらし、同図（ａ）の原
画像との差分を検出する。これによって、同図（ｃ）に
示すように上側の辺縁を“1"、下側の辺縁を“−1"、そ
れ以外を“0"とすることができる。
方形画像が得られたとする。面積計測器11は、同図中に
示すように、長方形内は“1"、それ以外は“0"に２値化
して、“1"となった画素数を計測する。これによって当
該長方形の面積Ｓを求めるものができる。また、差分検
出器12は、２値化画像をコピーして、第２図（ｂ）に示
すように１画素分だけ下方向にずらし、同図（ａ）の原
画像との差分を検出する。これによって、同図（ｃ）に
示すように上側の辺縁を“1"、下側の辺縁を“−1"、そ
れ以外を“0"とすることができる。
ここで、乗算器13は差分検出器12で求めた差分画像
（第３図（ａ）に示す）に（1,1）〜（n,m）の値を係数
（第３図（ｂ）に示す）として乗算し、第３図（ｃ）に
示すように重み付け処理する。これによって、長方形の
上２点の頂点は最小値、右２辺の頂点は最大値となる。
そこで、最大・最小検出器14によって最大値、最小値を
検出することにより、（x,y）座標系において、最小値
を上辺の頂点の座標（x1,y1）、最大値を右辺の頂点の
座標（x2,y2）として求めることができる。
（第３図（ａ）に示す）に（1,1）〜（n,m）の値を係数
（第３図（ｂ）に示す）として乗算し、第３図（ｃ）に
示すように重み付け処理する。これによって、長方形の
上２点の頂点は最小値、右２辺の頂点は最大値となる。
そこで、最大・最小検出器14によって最大値、最小値を
検出することにより、（x,y）座標系において、最小値
を上辺の頂点の座標（x1,y1）、最大値を右辺の頂点の
座標（x2,y2）として求めることができる。
４点演算器15は上記面積計測器11で得られた面積Ｓ及
び２点の座標（x1,y1）、（x2,y2）から、次の演算を行
うことにより、長方形の４点の座標を求める。
び２点の座標（x1,y1）、（x2,y2）から、次の演算を行
うことにより、長方形の４点の座標を求める。
まず、第４図に示す画像のｘ軸方向、ｙ軸方向の大き
さを（xe,ye）とすると、 x1＝（min）−（y1−１）・xe y1＝（min）/xe＋１ x2＝（max）−（y1−１）・xe y2＝（max）/xe＋１ ２＝S/１ x3 ＝x1−2cosθ y3 ＝y1＋2sinθ x4 ＝x2−2cosθ y4 ＝y2＋2sinθ と表すことができる。但し、（min）は最大・最小検出
器14の最小値、（max）は最大・最小検出器14の最大値
であるから、 となる。以上の演算により、（x3,y3）、（x4,y4）を求
めることができる。
さを（xe,ye）とすると、 x1＝（min）−（y1−１）・xe y1＝（min）/xe＋１ x2＝（max）−（y1−１）・xe y2＝（max）/xe＋１ ２＝S/１ x3 ＝x1−2cosθ y3 ＝y1＋2sinθ x4 ＝x2−2cosθ y4 ＝y2＋2sinθ と表すことができる。但し、（min）は最大・最小検出
器14の最小値、（max）は最大・最小検出器14の最大値
であるから、 となる。以上の演算により、（x3,y3）、（x4,y4）を求
めることができる。
したがって、上記の構成の画像計測装置は、予め被測
定長方形の面積及び２点の位置を求め、その結果から４
点の座標を計算によって求めるので、従来方法より計算
ステップを格段に少なくすることができ、高速に求める
ことができる。
定長方形の面積及び２点の位置を求め、その結果から４
点の座標を計算によって求めるので、従来方法より計算
ステップを格段に少なくすることができ、高速に求める
ことができる。
［発明の効果］ 以上のようにこの発明によれば、画像中にある長方形
の４点の位置をより高速に計測することのできる画像計
測装置を提供することができる。
の４点の位置をより高速に計測することのできる画像計
測装置を提供することができる。
第１図はその発明に係る画像計測装置の一実施例を示す
ブロック回路図、第２図乃至第４図はそれぞれ同実施例
の動作を説明するための図である。 11……面積計測器、12……差分検出器、13……乗算器、
14……最大・最小検出器、15……４点演算器。
ブロック回路図、第２図乃至第４図はそれぞれ同実施例
の動作を説明するための図である。 11……面積計測器、12……差分検出器、13……乗算器、
14……最大・最小検出器、15……４点演算器。
Claims (1)
- 【請求項１】入力画像中の長方形の４点の座標を検出す
る画像計測装置において、 前記長方形の内外に応じて２値化して、内側の画素数を
計算することにより、長方形の面積を計測する面積計測
器と、 前記２値化された長方形の画像をコピーして１方向に１
画素分ずらし、原画像との差分を求めることにより、長
方形の辺縁を求める差分検出器と、 この差分検出器の検出結果に画素配列順に対応して増大
する計数を乗算する乗算器と、 この乗算器の乗算結果から最大値、最小値を検出する最
大・最小検出器と、 この最大・最小検出器の検出結果を前記長方形の２つの
頂点として座標値を求め、この２つの座標値と前記面積
計測器の計測結果とに基づいて他の２つの頂点の座標値
を求める４点演算器とを具備する画像計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2222254A JP2977251B2 (ja) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | 画像計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2222254A JP2977251B2 (ja) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | 画像計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04102977A JPH04102977A (ja) | 1992-04-03 |
| JP2977251B2 true JP2977251B2 (ja) | 1999-11-15 |
Family
ID=16779514
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2222254A Expired - Lifetime JP2977251B2 (ja) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | 画像計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2977251B2 (ja) |
-
1990
- 1990-08-22 JP JP2222254A patent/JP2977251B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04102977A (ja) | 1992-04-03 |
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