JP2965868B2 - 距離測定装置 - Google Patents
距離測定装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は距離測定装置に関し、よ
り詳細には、パルスレ−ザ装置を用いた距離測定装置で
あって車間距離の測定等に用いられ、距離測定誤差の低
減手段を備えた距離測定装置に関する。
り詳細には、パルスレ−ザ装置を用いた距離測定装置で
あって車間距離の測定等に用いられ、距離測定誤差の低
減手段を備えた距離測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図６（ａ）は従来の距離測定装置の一部
を概略的に示したブロック図であり、図６（ｂ）は送信
パルスと受信パルスと距離パルスとの関係を示したタイ
ミングチャ−トである。
を概略的に示したブロック図であり、図６（ｂ）は送信
パルスと受信パルスと距離パルスとの関係を示したタイ
ミングチャ−トである。
【０００３】図６（ａ）において、５０は送信部、６０
は受信部、７０は距離パルス生成部を示している。距離
パルス生成部７０は処理回路７１、処理回路７２及びＲ
Ｓフリップフロップ７３等を含んで構成されている。送
信部５０には送信部５０を励起してレ−ザパルス５１を
出力させるトリガ−信号ＴＲＧが入力されるようになっ
ており、送信部５０は処理回路７１を介してＲＳフリッ
プフロップ７３のセット端子７３S に接続されている。
一方、受信部６０は処理回路７２を介してＲＳフリップ
フロップ７３のリセット端子７３R に接続されている。
は受信部、７０は距離パルス生成部を示している。距離
パルス生成部７０は処理回路７１、処理回路７２及びＲ
Ｓフリップフロップ７３等を含んで構成されている。送
信部５０には送信部５０を励起してレ−ザパルス５１を
出力させるトリガ−信号ＴＲＧが入力されるようになっ
ており、送信部５０は処理回路７１を介してＲＳフリッ
プフロップ７３のセット端子７３S に接続されている。
一方、受信部６０は処理回路７２を介してＲＳフリップ
フロップ７３のリセット端子７３R に接続されている。
【０００４】上記の如く構成された距離測定装置にあっ
ては、以下のようにして距離パルスＤＰが作成される。
送信部５０にトリガ−信号ＴＲＧが入力されると、送信
部５０からレ−ザパルス５１が出力されると共に、送信
パルスＴＸ0 が処理回路７１に出力される。送信パルス
ＴＸ0 は処理回路７１で波形整形されて送信パルスＴＸ
となった後、ＲＳフリップフロップ７３のセット端子７
３S に入力され、ＲＳフリップフロップ７３をセットす
る。一方、レ−ザパルス５１が測定対象物で反射され、
レ−ザパルス６１となって受信部６０で受信される。レ
−ザパルス６１を受信すると、受信部６０から受信パル
スＲＸ0 が出力される。受信パルスＲＸ0 は処理回路７
２で波形整形等の処理を受けた後、ＲＳフリップフロッ
プ７３のリセット端子７３R に入力され、ＲＳフリップ
フロップ７３をリセットし、距離パルスＤＰを出力させ
る。
ては、以下のようにして距離パルスＤＰが作成される。
送信部５０にトリガ−信号ＴＲＧが入力されると、送信
部５０からレ−ザパルス５１が出力されると共に、送信
パルスＴＸ0 が処理回路７１に出力される。送信パルス
ＴＸ0 は処理回路７１で波形整形されて送信パルスＴＸ
となった後、ＲＳフリップフロップ７３のセット端子７
３S に入力され、ＲＳフリップフロップ７３をセットす
る。一方、レ−ザパルス５１が測定対象物で反射され、
レ−ザパルス６１となって受信部６０で受信される。レ
−ザパルス６１を受信すると、受信部６０から受信パル
スＲＸ0 が出力される。受信パルスＲＸ0 は処理回路７
２で波形整形等の処理を受けた後、ＲＳフリップフロッ
プ７３のリセット端子７３R に入力され、ＲＳフリップ
フロップ７３をリセットし、距離パルスＤＰを出力させ
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記したように距離パ
ルスＤＰは、送信パルスＴＸと受信パルスＲＸとの時間
差に基づいて作成される。しかしながら送信パルスＴＸ
は、図６（ｂ）のタイミングチャ−トに示したように、
トリガ−信号ＴＲＧが入力されるのとほぼ同時に送信部
５０から出力される送信パルスＴＸ0 が処理回路７１で
処理される時間Ａだけ遅延された後、ＲＳフリップフロ
ップ７３に入力される信号である。また、受信パルスＲ
Ｘは、受信パルスレ−ザ６１を受信するのとほぼ同時に
受信部６０から出力される受信パルスＲＸ0 が処理回路
７２で処理される時間Ｂだけ遅延された後、ＲＳフリッ
プフロップ７３に入力される信号である。すなわち距離
パルスＤＰは、測定対象物までのほぼ実際の測定距離を
示す距離測定パルスＤＰ0 に比べて、処理回路７１にお
ける遅延時間Ａ及び処理回路７２における遅延時間Ｂに
関する距離測定誤差を含んだパルス信号となっている。
該距離測定誤差は装置の構成上避けることのできない測
定誤差で、バイアス誤差と呼ばれている。
ルスＤＰは、送信パルスＴＸと受信パルスＲＸとの時間
差に基づいて作成される。しかしながら送信パルスＴＸ
は、図６（ｂ）のタイミングチャ−トに示したように、
トリガ−信号ＴＲＧが入力されるのとほぼ同時に送信部
５０から出力される送信パルスＴＸ0 が処理回路７１で
処理される時間Ａだけ遅延された後、ＲＳフリップフロ
ップ７３に入力される信号である。また、受信パルスＲ
Ｘは、受信パルスレ−ザ６１を受信するのとほぼ同時に
受信部６０から出力される受信パルスＲＸ0 が処理回路
７２で処理される時間Ｂだけ遅延された後、ＲＳフリッ
プフロップ７３に入力される信号である。すなわち距離
パルスＤＰは、測定対象物までのほぼ実際の測定距離を
示す距離測定パルスＤＰ0 に比べて、処理回路７１にお
ける遅延時間Ａ及び処理回路７２における遅延時間Ｂに
関する距離測定誤差を含んだパルス信号となっている。
該距離測定誤差は装置の構成上避けることのできない測
定誤差で、バイアス誤差と呼ばれている。
【０００６】前記バイアス誤差は各距離測定装置に固有
の誤差であり、各装置間でバラつく。前記バイアス誤差
がバラつくと、距離パルスＤＰのパルス幅もバラつき、
各装置における距離測定値がバラつく。距離パルスＤＰ
のパルス幅約６．７ｎｓで測定距離１ｍに相当するの
で、前記バイアス誤差のバラつきの大きさによっては、
各装置間で距離測定値に無視することができないバラツ
キが生じてしまう。
の誤差であり、各装置間でバラつく。前記バイアス誤差
がバラつくと、距離パルスＤＰのパルス幅もバラつき、
各装置における距離測定値がバラつく。距離パルスＤＰ
のパルス幅約６．７ｎｓで測定距離１ｍに相当するの
で、前記バイアス誤差のバラつきの大きさによっては、
各装置間で距離測定値に無視することができないバラツ
キが生じてしまう。
【０００７】従来の距離測定装置の場合、上記バイアス
誤差のバラツキを低減させるために、送信系と受信系と
で同じ部品を使用したり、該部品の精度を向上させたり
して処理回路７１の遅延時間Ａと処理回路７２の遅延時
間Ｂとの時間差をできるだけ小さくする対策がとられて
いた。しかし、前記部品精度の向上にはコストがかか
り、また、処理回路７１と処理回路７２との回路構成は
若干異なっているので、前記遅延時間Ａと遅延時間Ｂと
の時間差を小さくするには限界がある。
誤差のバラツキを低減させるために、送信系と受信系と
で同じ部品を使用したり、該部品の精度を向上させたり
して処理回路７１の遅延時間Ａと処理回路７２の遅延時
間Ｂとの時間差をできるだけ小さくする対策がとられて
いた。しかし、前記部品精度の向上にはコストがかか
り、また、処理回路７１と処理回路７２との回路構成は
若干異なっているので、前記遅延時間Ａと遅延時間Ｂと
の時間差を小さくするには限界がある。
【０００８】本発明は上記課題に鑑みなされたものであ
り、部品精度の向上等を図らなくとも、簡単かつ確実に
バイアス誤差による距離測定値のバラツキを低減させる
ことができる距離測定装置を提供することを目的として
いる。
り、部品精度の向上等を図らなくとも、簡単かつ確実に
バイアス誤差による距離測定値のバラツキを低減させる
ことができる距離測定装置を提供することを目的として
いる。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明に係る距離測定装置（１）は、送信信号として
送信パルスを出力する送信部、受信信号として受信パル
スを出力する受信部、前記送信パルスと前記受信パルス
との時間差に基づいて距離パルスを生成する距離パルス
生成部、該距離パルスをてい倍する距離パルスてい倍部
およびマイクロコンピュ−タ等を備えた距離測定装置に
おいて、前記距離パルスてい倍部と前記マイクロコンピ
ュ−タとの間に、パルス幅調整手段を備え、前記距離パ
ルスてい倍部でてい倍された距離パルスに基づいて任意
の時間幅を有するパルスを発生させるパルス発生手段
と、該パルス発生手段で発生されたパルスと前記定倍さ
れた距離パルスとの論理積をとる論理回路等で構成され
ていることを特徴としている。
に本発明に係る距離測定装置（１）は、送信信号として
送信パルスを出力する送信部、受信信号として受信パル
スを出力する受信部、前記送信パルスと前記受信パルス
との時間差に基づいて距離パルスを生成する距離パルス
生成部、該距離パルスをてい倍する距離パルスてい倍部
およびマイクロコンピュ−タ等を備えた距離測定装置に
おいて、前記距離パルスてい倍部と前記マイクロコンピ
ュ−タとの間に、パルス幅調整手段を備え、前記距離パ
ルスてい倍部でてい倍された距離パルスに基づいて任意
の時間幅を有するパルスを発生させるパルス発生手段
と、該パルス発生手段で発生されたパルスと前記定倍さ
れた距離パルスとの論理積をとる論理回路等で構成され
ていることを特徴としている。
【００１０】また本発明に係る距離測定装置（２）は、
送信信号として送信パルスを出力する送信部、受信信号
として受信パルスを出力する受信部、前記送信パルスと
前記受信パルスとの時間差に基づいて距離パルスを生成
する距離パルス生成部、該距離パルスをてい倍する距離
パルスてい倍部およびマイクロコンピュ−タ等を備えた
距離測定装置において、前記距離パルスてい倍部と前記
マイクロコンピュ−タとの間に、時定数可変手段を備え
た積分回路および該積分回路からの出力信号の波形を整
形する波形整形回路等で構成された誤差補正部が介装さ
れていることを特徴としている。
送信信号として送信パルスを出力する送信部、受信信号
として受信パルスを出力する受信部、前記送信パルスと
前記受信パルスとの時間差に基づいて距離パルスを生成
する距離パルス生成部、該距離パルスをてい倍する距離
パルスてい倍部およびマイクロコンピュ−タ等を備えた
距離測定装置において、前記距離パルスてい倍部と前記
マイクロコンピュ−タとの間に、時定数可変手段を備え
た積分回路および該積分回路からの出力信号の波形を整
形する波形整形回路等で構成された誤差補正部が介装さ
れていることを特徴としている。
【００１１】また本発明に係る距離測定装置（３）は、
送信信号として送信パルスを出力する送信部、受信信号
として受信パルスを出力する受信部、前記送信パルスと
前記受信パルスとの時間差に基づいて距離パルスを生成
する距離パルス生成部、該距離パルスをてい倍する距離
パルスてい倍部およびマイクロコンピュ−タ等を備えた
距離測定装置において、前記距離パルス生成部が遅延時
間調整手段を備えた遅延回路およびＲＳフリップフロッ
プ等で構成され、前記受信部と前記ＲＳフリップフロッ
プとの間に前記遅延回路が介装されていることを特徴と
している。
送信信号として送信パルスを出力する送信部、受信信号
として受信パルスを出力する受信部、前記送信パルスと
前記受信パルスとの時間差に基づいて距離パルスを生成
する距離パルス生成部、該距離パルスをてい倍する距離
パルスてい倍部およびマイクロコンピュ−タ等を備えた
距離測定装置において、前記距離パルス生成部が遅延時
間調整手段を備えた遅延回路およびＲＳフリップフロッ
プ等で構成され、前記受信部と前記ＲＳフリップフロッ
プとの間に前記遅延回路が介装されていることを特徴と
している。
【００１２】また本発明に係る距離測定装置（４）は、
送信信号として送信パルスを出力する送信部、受信信号
として受信パルスを出力する受信部、前記送信パルスと
前記受信パルスとの時間差に基づいて距離パルスを生成
する距離パルス生成部、該距離パルスをてい倍する距離
パルスてい倍部およびマイクロコンピュ−タ等を備えた
距離測定装置において、補正モ−ドスイッチを備えると
共に、前記マイクロコンピュ−タ内に、前記補正モ−ド
スイッチがオンされた場合の前記距離パルスのパルス幅
を基準とし、該基準のパルス幅と前記補正モ−ドスイッ
チがオフされている時の距離パルスのパルス幅との差に
基づいて距離値を算出する距離値算出手段を備えている
ことを特徴としている。
送信信号として送信パルスを出力する送信部、受信信号
として受信パルスを出力する受信部、前記送信パルスと
前記受信パルスとの時間差に基づいて距離パルスを生成
する距離パルス生成部、該距離パルスをてい倍する距離
パルスてい倍部およびマイクロコンピュ−タ等を備えた
距離測定装置において、補正モ−ドスイッチを備えると
共に、前記マイクロコンピュ−タ内に、前記補正モ−ド
スイッチがオンされた場合の前記距離パルスのパルス幅
を基準とし、該基準のパルス幅と前記補正モ−ドスイッ
チがオフされている時の距離パルスのパルス幅との差に
基づいて距離値を算出する距離値算出手段を備えている
ことを特徴としている。
【００１３】
距離測定装置（１） 図２（ｂ）に示したタイミングチャ−トに基づいて距離
測定装置（１）の作用を説明する。測定距離がゼロメ−
トルの時に前記距離パルスてい倍部から出力される生距
離パルスをＮＤＰ01とすると、ＮＤＰ01パルスはほぼバ
イアス誤差そのものが前記てい倍されたものであるとい
える。このＮＤＰ01パルスに基づいて前記パルス発生手
段からパルスＯＳＭが出力され、前記論理回路において
ＮＤＰ01パルスとＯＳＭパルスとの論理積がとられる。
そして、前記論理回路から距離ゼロメ−トルにおける補
正された距離パルスＣＤＰ01が出力され、該ＣＤＰ01パ
ルスのパルス幅が所定値Ｗ1 となるように前記パルス幅
調整手段によりＯＳＭパルスのパルス幅が所定値Ｗ2 に
調整される。
測定装置（１）の作用を説明する。測定距離がゼロメ−
トルの時に前記距離パルスてい倍部から出力される生距
離パルスをＮＤＰ01とすると、ＮＤＰ01パルスはほぼバ
イアス誤差そのものが前記てい倍されたものであるとい
える。このＮＤＰ01パルスに基づいて前記パルス発生手
段からパルスＯＳＭが出力され、前記論理回路において
ＮＤＰ01パルスとＯＳＭパルスとの論理積がとられる。
そして、前記論理回路から距離ゼロメ−トルにおける補
正された距離パルスＣＤＰ01が出力され、該ＣＤＰ01パ
ルスのパルス幅が所定値Ｗ1 となるように前記パルス幅
調整手段によりＯＳＭパルスのパルス幅が所定値Ｗ2 に
調整される。
【００１４】上記のようにＣＤＰ01パルスのパルス幅が
所定値Ｗ1 に設定された状態で前記距離パルスてい倍部
からバイアス誤差を含んだ実測の生距離パルスＮＤＰ1
が出力されると、前記論理回路においてＮＤＰ1 パルス
とＯＳＭパルスとの論理積がとられ、補正された距離パ
ルスＣＤＰ1 （パルス幅Ｗ3 ）が出力される。そして、
ＣＤＰ1 パルスのパルス幅Ｗ3 から距離ゼロメ−トルの
時の補正された距離パルスＣＤＰ01のパルス幅Ｗ1 を差
し引いた値（Ｗ3 −Ｗ1 ）に基づいて測定対象物までの
距離が算出される。
所定値Ｗ1 に設定された状態で前記距離パルスてい倍部
からバイアス誤差を含んだ実測の生距離パルスＮＤＰ1
が出力されると、前記論理回路においてＮＤＰ1 パルス
とＯＳＭパルスとの論理積がとられ、補正された距離パ
ルスＣＤＰ1 （パルス幅Ｗ3 ）が出力される。そして、
ＣＤＰ1 パルスのパルス幅Ｗ3 から距離ゼロメ−トルの
時の補正された距離パルスＣＤＰ01のパルス幅Ｗ1 を差
し引いた値（Ｗ3 −Ｗ1 ）に基づいて測定対象物までの
距離が算出される。
【００１５】距離測定装置（２） 図３（ｂ）に示したタイミングチャ−トに基づいて距離
測定装置（２）の作用を説明する。測定距離ゼロメ−ト
ルの時に前記距離パルスてい倍部から出力されるパルス
ＮＤＰ02が前記積分回路に入力されると、前記積分回路
からはＮＤＰ02′の波形をした信号が出力される。該信
号ＮＤＰ02′は前記波形整形回路でその波形が整形され
て距離ゼロメ−トルの時の補正された距離パルスＣＤＰ
02として出力され、距離パルスＣＤＰ02のパルス幅が所
定値Ｗ4 となるように、前記時定数可変手段により前記
積分回路の時定数が調整される。
測定装置（２）の作用を説明する。測定距離ゼロメ−ト
ルの時に前記距離パルスてい倍部から出力されるパルス
ＮＤＰ02が前記積分回路に入力されると、前記積分回路
からはＮＤＰ02′の波形をした信号が出力される。該信
号ＮＤＰ02′は前記波形整形回路でその波形が整形され
て距離ゼロメ−トルの時の補正された距離パルスＣＤＰ
02として出力され、距離パルスＣＤＰ02のパルス幅が所
定値Ｗ4 となるように、前記時定数可変手段により前記
積分回路の時定数が調整される。
【００１６】上記のようにＣＤＰ02パルスのパルス幅が
所定値Ｗ4 に設定された状態で前記距離パルスてい倍部
からバイアス誤差を含んだ実測の生距離パルスＮＤＰ2
が出力されると、生距離パルスＮＤＰ2 は前記積分回路
によりＮＤＰ2 ′の波形をした信号となり、その後、前
記波形整形回路によりその波形が整形され、パルス幅が
Ｗ5 の補正された距離パルスＣＤＰ2 として出力され
る。そして、ＣＤＰ2 パルスのパルス幅Ｗ5 から距離ゼ
ロメ−トルの時の補正された距離パルスＣＤＰ02のパル
ス幅Ｗ4 を差し引いた値（Ｗ5 −Ｗ4 ）に基づいて測定
対象物までの距離が算出される。
所定値Ｗ4 に設定された状態で前記距離パルスてい倍部
からバイアス誤差を含んだ実測の生距離パルスＮＤＰ2
が出力されると、生距離パルスＮＤＰ2 は前記積分回路
によりＮＤＰ2 ′の波形をした信号となり、その後、前
記波形整形回路によりその波形が整形され、パルス幅が
Ｗ5 の補正された距離パルスＣＤＰ2 として出力され
る。そして、ＣＤＰ2 パルスのパルス幅Ｗ5 から距離ゼ
ロメ−トルの時の補正された距離パルスＣＤＰ02のパル
ス幅Ｗ4 を差し引いた値（Ｗ5 −Ｗ4 ）に基づいて測定
対象物までの距離が算出される。
【００１７】距離測定装置（３） 図４（ｂ）に示したタイミングチャ−トに基づいて距離
測定装置（３）の作用を説明する。距離ゼロメ−トルの
時の受信パルスＲＸ03が前記遅延回路により遅延されて
受信パルスＲＸ03′が作成される。この受信パルスＲＸ
03′により前記ＲＳフリップフロップがリセットされ、
前記ＲＳフリップフロップから距離ゼロメ−トルの時の
補正された距離パルスＤＰ03が出力される。その場合、
距離パルスＤＰ03のパルス幅が所定値Ｗ6 となるように
前記遅延時間調整手段により遅延時間が調整され、前記
遅延回路の遅延時間がＤに設定される。
測定装置（３）の作用を説明する。距離ゼロメ−トルの
時の受信パルスＲＸ03が前記遅延回路により遅延されて
受信パルスＲＸ03′が作成される。この受信パルスＲＸ
03′により前記ＲＳフリップフロップがリセットされ、
前記ＲＳフリップフロップから距離ゼロメ−トルの時の
補正された距離パルスＤＰ03が出力される。その場合、
距離パルスＤＰ03のパルス幅が所定値Ｗ6 となるように
前記遅延時間調整手段により遅延時間が調整され、前記
遅延回路の遅延時間がＤに設定される。
【００１８】上記のように距離パルスＤＰ03のパルス幅
が所定値Ｗ6 に設定された状態で、前記受信部から受信
パルスＲＸ3 が出力されると、該受信パルスＲＸ3 は前
記遅延回路においてＤだけ遅延された後、前記ＲＳフリ
ップフロップに入力されて前記ＲＳフリップフロップを
リセットする。そうすると、前記ＲＳフリップフロップ
からパルス幅Ｗ7 の補正された距離パルスＤＰ3 が出力
される。そして、補正された距離パルスＤＰ3 のパルス
幅Ｗ7 から距離ゼロメ−トルの時の補正された距離パル
スＤＰ03のパルス幅Ｗ6 を差し引いた値（Ｗ7 −Ｗ6 ）
に基づいて測定対象物までの距離が算出される。
が所定値Ｗ6 に設定された状態で、前記受信部から受信
パルスＲＸ3 が出力されると、該受信パルスＲＸ3 は前
記遅延回路においてＤだけ遅延された後、前記ＲＳフリ
ップフロップに入力されて前記ＲＳフリップフロップを
リセットする。そうすると、前記ＲＳフリップフロップ
からパルス幅Ｗ7 の補正された距離パルスＤＰ3 が出力
される。そして、補正された距離パルスＤＰ3 のパルス
幅Ｗ7 から距離ゼロメ−トルの時の補正された距離パル
スＤＰ03のパルス幅Ｗ6 を差し引いた値（Ｗ7 −Ｗ6 ）
に基づいて測定対象物までの距離が算出される。
【００１９】距離測定装置（４） 前記補正モ−ドスイッチは測定距離がゼロメ−トルの時
にオンされ、それ以外の時はオフされる。したがって距
離測定装置（４）にあっては、前記距離値算出手段によ
り、実測の距離パルスでバイアス誤差を含んだ生距離パ
ルスのパルス幅から、測定距離がゼロメ−トルの時にお
ける生距離パルスのパルス幅を差し引いた値のパルス幅
に基づいて測定対象物までの距離が算出される。
にオンされ、それ以外の時はオフされる。したがって距
離測定装置（４）にあっては、前記距離値算出手段によ
り、実測の距離パルスでバイアス誤差を含んだ生距離パ
ルスのパルス幅から、測定距離がゼロメ−トルの時にお
ける生距離パルスのパルス幅を差し引いた値のパルス幅
に基づいて測定対象物までの距離が算出される。
【００２０】
【実施例】以下、本発明に係る距離測定装置の実施例を
図面に基づいて説明する。図１は実施例１に係る距離測
定装置を概略的に示したブロック図である。図１におい
て５０は送信部を示しており、送信部５０にはマイクロ
コンピュ−タからトリガ−信号ＴＲＧが入力されるよう
になっている。送信部５０はワンショットマルチバイブ
レ−タなどのパルス発生回路７１ａ等を含んで構成され
た処理回路７１を介してＲＳフリップフロップ７３のセ
ット端子７３S に接続されている。一方、６０は受信部
を示しており、受信部６０はコンパレ−タ７２ａおよび
ワンショットマルチバイブレ−タなどのパルス発生回路
７２ｂ等を含んで構成された処理回路７２を介してＲＳ
フリップフロップ７３のリセット端子７３R に接続され
ている。
図面に基づいて説明する。図１は実施例１に係る距離測
定装置を概略的に示したブロック図である。図１におい
て５０は送信部を示しており、送信部５０にはマイクロ
コンピュ−タからトリガ−信号ＴＲＧが入力されるよう
になっている。送信部５０はワンショットマルチバイブ
レ−タなどのパルス発生回路７１ａ等を含んで構成され
た処理回路７１を介してＲＳフリップフロップ７３のセ
ット端子７３S に接続されている。一方、６０は受信部
を示しており、受信部６０はコンパレ−タ７２ａおよび
ワンショットマルチバイブレ−タなどのパルス発生回路
７２ｂ等を含んで構成された処理回路７２を介してＲＳ
フリップフロップ７３のリセット端子７３R に接続され
ている。
【００２１】ＲＳフリップフロップ７３の出力側は距離
パルスてい倍部１１を介して誤差補正部１２に接続さ
れ、誤差補正部１２はパルス幅計数部１３を介してマイ
クロコンピュ−タ１４に接続されている。
パルスてい倍部１１を介して誤差補正部１２に接続さ
れ、誤差補正部１２はパルス幅計数部１３を介してマイ
クロコンピュ−タ１４に接続されている。
【００２２】上記の如く構成された距離測定装置の動作
を簡単に説明する。マイクロコンピュ−タ１４から送信
部５０にトリガ−信号ＴＲＧが入力されると、送信部５
０から測定対象物に向けてレ−ザパルス５１が放射され
ると共に、送信パルスＴＸ0 が出力される。送信パルス
ＴＸ0 は処理回路７１において波形整形された後、ＲＳ
フリップフロップ７３のセット端子７３S に入力され、
ＲＳフリップフロップ７３をセットする。
を簡単に説明する。マイクロコンピュ−タ１４から送信
部５０にトリガ−信号ＴＲＧが入力されると、送信部５
０から測定対象物に向けてレ−ザパルス５１が放射され
ると共に、送信パルスＴＸ0 が出力される。送信パルス
ＴＸ0 は処理回路７１において波形整形された後、ＲＳ
フリップフロップ７３のセット端子７３S に入力され、
ＲＳフリップフロップ７３をセットする。
【００２３】レ−ザパルス５１は測定対象物で反射され
てレ−ザパルス６１となり、受信部６０で受信される。
レ−ザパルス６１を受信すると、受信部６０からは受信
パルスＲＸ0 が出力される。そして、処理回路７２を構
成するコンパレ−タ７２ａで受信パルスＲＸ0 のレベル
が所定値を超えているかどうかが判断され、受信パルス
ＲＸ0 のレベルが所定値を超えていると、次のパルス発
生回路７２ｂで波形整形されて受信パルスＲＸとなった
後、ＲＳフリップフロップ７３のリセット端子７３R に
入力され、ＲＳフリップフロップ７３をリセットする。
てレ−ザパルス６１となり、受信部６０で受信される。
レ−ザパルス６１を受信すると、受信部６０からは受信
パルスＲＸ0 が出力される。そして、処理回路７２を構
成するコンパレ−タ７２ａで受信パルスＲＸ0 のレベル
が所定値を超えているかどうかが判断され、受信パルス
ＲＸ0 のレベルが所定値を超えていると、次のパルス発
生回路７２ｂで波形整形されて受信パルスＲＸとなった
後、ＲＳフリップフロップ７３のリセット端子７３R に
入力され、ＲＳフリップフロップ７３をリセットする。
【００２４】送信パルスＴＸと受信パルスＲＸとに基づ
いてＲＳフリップフロップ７３からは距離パルスＤＰが
出力される。距離パルスＤＰは距離パルスてい倍部１１
でてい倍されて生距離パルスＮＤＰとなった後、誤差補
正部１２に入力される。誤差補正部１２では、生距離パ
ルスＮＤＰに対してバイアス誤差等の測定誤差にたいす
る補正が施され、補正された距離パルスＣＤＰが作成さ
れる。そして、パルス幅計数部１３において前記補正さ
れた距離パルスＣＤＰのパルス幅が計数され、該計数値
がマイクロコンピュ−タ１４に入力される。マイクロコ
ンピュ−タ１４では前記計数値に基づいて測定対象物ま
での距離が算出される。
いてＲＳフリップフロップ７３からは距離パルスＤＰが
出力される。距離パルスＤＰは距離パルスてい倍部１１
でてい倍されて生距離パルスＮＤＰとなった後、誤差補
正部１２に入力される。誤差補正部１２では、生距離パ
ルスＮＤＰに対してバイアス誤差等の測定誤差にたいす
る補正が施され、補正された距離パルスＣＤＰが作成さ
れる。そして、パルス幅計数部１３において前記補正さ
れた距離パルスＣＤＰのパルス幅が計数され、該計数値
がマイクロコンピュ−タ１４に入力される。マイクロコ
ンピュ−タ１４では前記計数値に基づいて測定対象物ま
での距離が算出される。
【００２５】次に、図２に基づいて実施例１に係る距離
測定装置の誤差補正部の構成および動作を説明する。図
２（ａ）は実施例１に係る距離測定装置の誤差補正部１
２を概略的に示したブロック図であり、図２（ｂ）は該
誤差補正部の動作を示したタイミングチャ−トである。
測定装置の誤差補正部の構成および動作を説明する。図
２（ａ）は実施例１に係る距離測定装置の誤差補正部１
２を概略的に示したブロック図であり、図２（ｂ）は該
誤差補正部の動作を示したタイミングチャ−トである。
【００２６】図２（ａ）において、１２ａはワンショッ
トマルチバイブレ−タ等のパルス発生回路を示してお
り、パルス発生回路１２ａにはパルス幅調整手段として
発っせられるパルスの時定数を調整するための可変抵抗
Ｒ1 が接続されている。パルス発生回路１２ａには距離
パルスてい倍部１１から出力される生距離パルスＮＤＰ
が入力されるようになっており、生距離パルスＮＤＰに
基づいて任意のパルス幅を有するパルスＯＳＭを発生さ
せることができるようになっている。パルス発生回路１
２ａの出力側はＮＡＮＤ回路１２ｃの一方の入力側に接
続されており、ＮＡＮＤ回路１２ｃの他方の入力側に
は、ＮＡＮＤ回路１２ｂで波形整形された後の生距離パ
ルスＮＤＰが入力され、ＮＡＮＤ回路１２ｃにおいてパ
ルス発生回路１２ａから出力されるパルスＯＳＭと生距
離パルスＮＤＰとの論理積がとられて補正された距離パ
ルスＣＤＰが作成されるようになっている。
トマルチバイブレ−タ等のパルス発生回路を示してお
り、パルス発生回路１２ａにはパルス幅調整手段として
発っせられるパルスの時定数を調整するための可変抵抗
Ｒ1 が接続されている。パルス発生回路１２ａには距離
パルスてい倍部１１から出力される生距離パルスＮＤＰ
が入力されるようになっており、生距離パルスＮＤＰに
基づいて任意のパルス幅を有するパルスＯＳＭを発生さ
せることができるようになっている。パルス発生回路１
２ａの出力側はＮＡＮＤ回路１２ｃの一方の入力側に接
続されており、ＮＡＮＤ回路１２ｃの他方の入力側に
は、ＮＡＮＤ回路１２ｂで波形整形された後の生距離パ
ルスＮＤＰが入力され、ＮＡＮＤ回路１２ｃにおいてパ
ルス発生回路１２ａから出力されるパルスＯＳＭと生距
離パルスＮＤＰとの論理積がとられて補正された距離パ
ルスＣＤＰが作成されるようになっている。
【００２７】図２（ａ）に示した構成の誤差補正部１２
におけるバイアス誤差等の測定誤差の補正は以下のよう
にして行われる。最初に、測定距離がゼロメ−トルの時
にＮＡＮＤ回路１２ｃから所定のパルス幅を有する補正
された距離パルスＣＤＰ01が出力されるように、パルス
発生回路１２ａにおける可変抵抗Ｒ1 の抵抗値が調整さ
れる。該調整は次のようにして行われる。
におけるバイアス誤差等の測定誤差の補正は以下のよう
にして行われる。最初に、測定距離がゼロメ−トルの時
にＮＡＮＤ回路１２ｃから所定のパルス幅を有する補正
された距離パルスＣＤＰ01が出力されるように、パルス
発生回路１２ａにおける可変抵抗Ｒ1 の抵抗値が調整さ
れる。該調整は次のようにして行われる。
【００２８】測定距離がゼロメ−トルの時に距離パルス
てい倍部１１から出力される生距離パルスをＮＤＰ01と
すると、生距離パルスＮＤＰ01のパルス幅は、処理回路
７１および処理回路７２での遅延時間により生ずるバイ
アス誤差を示している。ＮＡＮＤ回路１２ｃにおいて、
この生距離パルスＮＤＰ01に基づいてパルス発生回路１
２ａから出力されるＯＳＭパルスと生距離パルスＮＤＰ
01との論理積がとられ、ＮＡＮＤ回路１２ｃから所定の
パルス幅Ｗ1 を有する補正された距離パルスＣＤＰ01が
出力されるように可変抵抗Ｒ1 の抵抗値が調整される。
すなわち、ＯＳＭパルスのパルス幅がＷ2 となるように
可変抵抗Ｒ1 の抵抗値が調整される。
てい倍部１１から出力される生距離パルスをＮＤＰ01と
すると、生距離パルスＮＤＰ01のパルス幅は、処理回路
７１および処理回路７２での遅延時間により生ずるバイ
アス誤差を示している。ＮＡＮＤ回路１２ｃにおいて、
この生距離パルスＮＤＰ01に基づいてパルス発生回路１
２ａから出力されるＯＳＭパルスと生距離パルスＮＤＰ
01との論理積がとられ、ＮＡＮＤ回路１２ｃから所定の
パルス幅Ｗ1 を有する補正された距離パルスＣＤＰ01が
出力されるように可変抵抗Ｒ1 の抵抗値が調整される。
すなわち、ＯＳＭパルスのパルス幅がＷ2 となるように
可変抵抗Ｒ1 の抵抗値が調整される。
【００２９】測定距離がゼロメ−トルの時にＮＡＮＤ回
路１２ｃから所定のパルス幅Ｗ1 を有する補正された距
離パルスＣＤＰ01が出力されるように可変抵抗Ｒ1 の抵
抗値が調整された状態で、距離パルスてい倍部１１から
バイアス誤差を含んだ実測の生距離パルスＮＤＰ1 が入
力されると、ＮＡＮＤ回路１２ｃにおいて実測の生距離
パルスＮＤＰ1 とＷ2 のパルス幅を有するＯＳＭパルス
との論理積がとられ、パルス幅がＷ3 の補正された距離
パルスＣＤＰ1 が作成される。マイクロコンピュ−タ１
４では、補正された距離パルスＣＤＰ1 のパルス幅Ｗ3
と前記距離パルスＣＤＰ0 のパルス幅Ｗ2 との差に基づ
いて測定対象物までの距離が算出される。
路１２ｃから所定のパルス幅Ｗ1 を有する補正された距
離パルスＣＤＰ01が出力されるように可変抵抗Ｒ1 の抵
抗値が調整された状態で、距離パルスてい倍部１１から
バイアス誤差を含んだ実測の生距離パルスＮＤＰ1 が入
力されると、ＮＡＮＤ回路１２ｃにおいて実測の生距離
パルスＮＤＰ1 とＷ2 のパルス幅を有するＯＳＭパルス
との論理積がとられ、パルス幅がＷ3 の補正された距離
パルスＣＤＰ1 が作成される。マイクロコンピュ−タ１
４では、補正された距離パルスＣＤＰ1 のパルス幅Ｗ3
と前記距離パルスＣＤＰ0 のパルス幅Ｗ2 との差に基づ
いて測定対象物までの距離が算出される。
【００３０】以上説明したことから分かるように実施例
１に係る距離測定装置にあっては、測定距離がゼロメ−
トルの時の生距離パルスＮＤＰ01のパルス幅が各距離測
定装置間で異なっていても、ＮＡＮＤ回路１２ｃから出
力される補正された距離パルスＣＤＰ01のパルス幅が所
定値Ｗ1 となるように各距離測定装置の可変抵抗Ｒ1の
抵抗値を調整しておけば、実測の補正された距離パルス
ＣＤＰ1 のパルス幅Ｗ3 は、距離ゼロメ−トの時の補正
された距離パルスＣＤＰ01のパルス幅Ｗ1 にバイアス誤
差を含まない実際の測定距離に相当する（Ｗ3 −Ｗ1 ）
のパルス幅を加えた値となるので、各距離測定装置に固
有のバイアス誤差に影響されることがなくなり、各距離
測定装置間における距離測定値のバラツキを低減させる
ことができる。
１に係る距離測定装置にあっては、測定距離がゼロメ−
トルの時の生距離パルスＮＤＰ01のパルス幅が各距離測
定装置間で異なっていても、ＮＡＮＤ回路１２ｃから出
力される補正された距離パルスＣＤＰ01のパルス幅が所
定値Ｗ1 となるように各距離測定装置の可変抵抗Ｒ1の
抵抗値を調整しておけば、実測の補正された距離パルス
ＣＤＰ1 のパルス幅Ｗ3 は、距離ゼロメ−トの時の補正
された距離パルスＣＤＰ01のパルス幅Ｗ1 にバイアス誤
差を含まない実際の測定距離に相当する（Ｗ3 −Ｗ1 ）
のパルス幅を加えた値となるので、各距離測定装置に固
有のバイアス誤差に影響されることがなくなり、各距離
測定装置間における距離測定値のバラツキを低減させる
ことができる。
【００３１】次に、実施例２に係る距離測定装置を説明
する。実施例２に係る距離測定装置と実施例１に係る距
離測定装置とは、誤差補正部の構成が異なっているのみ
であり、実施例２に係る距離測定装置の全体的構成は図
１に示した実施例１に係る距離測定装置の全体的構成と
同じである。よって、ここでは主として、図３（ａ）に
基づいて実施例２に係る距離測定装置の誤差補正部の構
成について説明し、図３（ｂ）に基づいてその動作につ
いて説明する。図３（ａ）は誤差補正部１２０を概略的
に示した回路構成図であり、図３（ｂ）は誤差補正部１
２０の動作を示したタイミングチャ−トである。
する。実施例２に係る距離測定装置と実施例１に係る距
離測定装置とは、誤差補正部の構成が異なっているのみ
であり、実施例２に係る距離測定装置の全体的構成は図
１に示した実施例１に係る距離測定装置の全体的構成と
同じである。よって、ここでは主として、図３（ａ）に
基づいて実施例２に係る距離測定装置の誤差補正部の構
成について説明し、図３（ｂ）に基づいてその動作につ
いて説明する。図３（ａ）は誤差補正部１２０を概略的
に示した回路構成図であり、図３（ｂ）は誤差補正部１
２０の動作を示したタイミングチャ−トである。
【００３２】図３（ａ）において、１２ｅは積分回路１
２ｄの入力側に配設されたＮＡＮＤ回路を示し、１２ｆ
は積分回路１２ｄの出力側に配設されたＮＡＮＤ回路を
示している。積分回路１２ｄは可変抵抗Ｒ2 とコンデン
サＣ2 とで構成されている。
２ｄの入力側に配設されたＮＡＮＤ回路を示し、１２ｆ
は積分回路１２ｄの出力側に配設されたＮＡＮＤ回路を
示している。積分回路１２ｄは可変抵抗Ｒ2 とコンデン
サＣ2 とで構成されている。
【００３３】上記のように構成された誤差補正部１２０
の動作を図３（ｂ）に示したタイミングチャ−トに基づ
いて説明する。測定距離がゼロメ−トルの時の生距離パ
ルスＮＤＰ02を積分回路１２ｄに入力する。すると、積
分回路１２ｄからはＮＤＰ02′の波形をした信号が出力
される。該信号ＮＤＰ02′は、立ち上がり側のスレッシ
ョルドと立ち下がり側のスレッショルドとにヒステリシ
ス特性を有するＮＡＮＤ回路１２ｆによりその波形が整
形され、補正された距離パルスＣＤＰ02として出力され
る。その場合、距離パルスＣＤＰ02のパルス幅が所定値
Ｗ4 となるように、積分回路１２ｄにおける可変抵抗Ｒ
2 の抵抗値が調整される。
の動作を図３（ｂ）に示したタイミングチャ−トに基づ
いて説明する。測定距離がゼロメ−トルの時の生距離パ
ルスＮＤＰ02を積分回路１２ｄに入力する。すると、積
分回路１２ｄからはＮＤＰ02′の波形をした信号が出力
される。該信号ＮＤＰ02′は、立ち上がり側のスレッシ
ョルドと立ち下がり側のスレッショルドとにヒステリシ
ス特性を有するＮＡＮＤ回路１２ｆによりその波形が整
形され、補正された距離パルスＣＤＰ02として出力され
る。その場合、距離パルスＣＤＰ02のパルス幅が所定値
Ｗ4 となるように、積分回路１２ｄにおける可変抵抗Ｒ
2 の抵抗値が調整される。
【００３４】距離パルスＣＤＰ02のパルス幅が所定値Ｗ
4 となるように積分回路１２ｄの時定数が調整された状
態で、バイアス誤差を含んだ実測の生距離パルスＮＤＰ
2 が入力されると、積分回路１２ｄからはＮＤＰ2 ′の
波形をした信号が出力される。該信号ＮＤＰ2 ′はＮＡ
ＮＤ回路１２ｆでその波形が整形された後、パルス幅が
Ｗ5 の補正された距離パルスＣＤＰ2 として出力され
る。そして、マイクロコンピュ−タ１４では補正された
距離パルスＣＤＰ2 のパルス幅Ｗ5 から測定距離ゼロメ
−トルの時の補正された距離パルスＣＤＰ02のパルス幅
Ｗ4 を差し引いたパルス幅（Ｗ5 −Ｗ4 ）に基づいて測
定対象物までの距離が算出される。
4 となるように積分回路１２ｄの時定数が調整された状
態で、バイアス誤差を含んだ実測の生距離パルスＮＤＰ
2 が入力されると、積分回路１２ｄからはＮＤＰ2 ′の
波形をした信号が出力される。該信号ＮＤＰ2 ′はＮＡ
ＮＤ回路１２ｆでその波形が整形された後、パルス幅が
Ｗ5 の補正された距離パルスＣＤＰ2 として出力され
る。そして、マイクロコンピュ−タ１４では補正された
距離パルスＣＤＰ2 のパルス幅Ｗ5 から測定距離ゼロメ
−トルの時の補正された距離パルスＣＤＰ02のパルス幅
Ｗ4 を差し引いたパルス幅（Ｗ5 −Ｗ4 ）に基づいて測
定対象物までの距離が算出される。
【００３５】以上説明したことから分かるように実施例
２に係る距離測定装置にあっては、測定距離がゼロメ−
トルの時の生距離パルスＮＤＰ02のパルス幅が各距離測
定装置間で異なっていても、ＮＡＮＤ回路１２ｆから出
力される補正された距離パルスＣＤＰ02のパルス幅が所
定値Ｗ4 となるように各距離測定装置の積分回路１２ｄ
における可変抵抗Ｒ2 の抵抗値を調整しておけば、実測
の補正された距離パルスＣＤＰ2 のパルス幅Ｗ5 は、距
離ゼロメ−トルの時の補正された距離パルスＣＤＰ02の
パルス幅Ｗ4 にバイアス誤差を含まない実測の測定距離
に相当するパルス幅（Ｗ5 −Ｗ4 ）を加えた値となるの
で、各距離測定装置に固有のバイアス誤差に影響される
ことがなくなり、各距離測定装置間における距離測定値
のバラツキを低減させることができる。
２に係る距離測定装置にあっては、測定距離がゼロメ−
トルの時の生距離パルスＮＤＰ02のパルス幅が各距離測
定装置間で異なっていても、ＮＡＮＤ回路１２ｆから出
力される補正された距離パルスＣＤＰ02のパルス幅が所
定値Ｗ4 となるように各距離測定装置の積分回路１２ｄ
における可変抵抗Ｒ2 の抵抗値を調整しておけば、実測
の補正された距離パルスＣＤＰ2 のパルス幅Ｗ5 は、距
離ゼロメ−トルの時の補正された距離パルスＣＤＰ02の
パルス幅Ｗ4 にバイアス誤差を含まない実測の測定距離
に相当するパルス幅（Ｗ5 −Ｗ4 ）を加えた値となるの
で、各距離測定装置に固有のバイアス誤差に影響される
ことがなくなり、各距離測定装置間における距離測定値
のバラツキを低減させることができる。
【００３６】次に図４に基づいて実施例３に係る距離測
定装置を説明する。図４（ａ）は実施例３に係る距離測
定装置を概略的に示したブロック図であり、図４（ｂ）
は該距離測定装置を構成する遅延回路の動作を示したタ
イミングチャ−トである。
定装置を説明する。図４（ａ）は実施例３に係る距離測
定装置を概略的に示したブロック図であり、図４（ｂ）
は該距離測定装置を構成する遅延回路の動作を示したタ
イミングチャ−トである。
【００３７】図４に示した実施例３に係る距離測定装置
は、処理回路７２とＲＳフリップフロップ７３との間に
遅延回路３１が介装される一方で、距離パルスてい倍部
１１とパルス幅計数部１３との間に誤差補正部１２が介
装されていない点が、図１に示した実施例１に係る距離
測定装置の構成と異なっており、その他の構成は同じで
ある。また遅延回路３１としては、図３（ａ）に示した
回路構成を用いることができ、その場合、遅延時間調整
手段は、積分回路１２ｄを構成する可変抵抗Ｒ2 とな
る。
は、処理回路７２とＲＳフリップフロップ７３との間に
遅延回路３１が介装される一方で、距離パルスてい倍部
１１とパルス幅計数部１３との間に誤差補正部１２が介
装されていない点が、図１に示した実施例１に係る距離
測定装置の構成と異なっており、その他の構成は同じで
ある。また遅延回路３１としては、図３（ａ）に示した
回路構成を用いることができ、その場合、遅延時間調整
手段は、積分回路１２ｄを構成する可変抵抗Ｒ2 とな
る。
【００３８】次に、図４（ｂ）に示したタイミングチャ
−トに基づいて遅延回路３１の動作を説明する。測定距
離ゼロメ−トルの時に処理回路７２から出力される受信
パルスをＲＸ03とすると、受信パルスＲＸ03は遅延回路
３１により遅延されて受信パルスＲＸ03′となってＲＳ
フリップフロップ７３のリセット端子７３R に入力され
る。そうすると、ＲＳフリップフロップ７３から測定距
離ゼロメ−トルの時の距離パルスＤＰ03が出力される。
その場合、距離パルスＤＰ03のパルス幅が所定値Ｗ6 と
なるように遅延回路３１の遅延時間がＤに調整される。
−トに基づいて遅延回路３１の動作を説明する。測定距
離ゼロメ−トルの時に処理回路７２から出力される受信
パルスをＲＸ03とすると、受信パルスＲＸ03は遅延回路
３１により遅延されて受信パルスＲＸ03′となってＲＳ
フリップフロップ７３のリセット端子７３R に入力され
る。そうすると、ＲＳフリップフロップ７３から測定距
離ゼロメ−トルの時の距離パルスＤＰ03が出力される。
その場合、距離パルスＤＰ03のパルス幅が所定値Ｗ6 と
なるように遅延回路３１の遅延時間がＤに調整される。
【００３９】測定距離ゼロメ−トルの時にＲＳフリップ
フロップ７３から出力される距離パルスＤＰ03のパルス
幅が所定値Ｗ6 となるように遅延回路３１の遅延時間が
調整された状態で処理回路７２から実測の受信パルスＲ
Ｘ3 が出力されると、受信パルスＲＸ3 は遅延回路３１
でＤだけ遅延されて受信パルスＲＸ3 ′となった後、Ｒ
Ｓフリップフロップ７３のリセット端子７３R に入力さ
れる。そうすると、ＲＳフリップフロップ７３からパル
ス幅がＷ7 の距離パルスＤＰ3 が出力される。距離パル
スＤＰ3 は距離パルスてい倍部１１で定倍され、次い
で、パルス幅計数部１３でパルス幅が計数された後、マ
イクロコンピュ−タ１４に入力される。マイクロコンピ
ュ−タ１４では、距離パルスＤＰ3 のパルス幅Ｗ7 から
測定距離ゼロメ−トルの時の距離パルスＤＰ03のパルス
幅Ｗ6 を差し引いた値に基づいて測定対象物までの距離
が算出される。
フロップ７３から出力される距離パルスＤＰ03のパルス
幅が所定値Ｗ6 となるように遅延回路３１の遅延時間が
調整された状態で処理回路７２から実測の受信パルスＲ
Ｘ3 が出力されると、受信パルスＲＸ3 は遅延回路３１
でＤだけ遅延されて受信パルスＲＸ3 ′となった後、Ｒ
Ｓフリップフロップ７３のリセット端子７３R に入力さ
れる。そうすると、ＲＳフリップフロップ７３からパル
ス幅がＷ7 の距離パルスＤＰ3 が出力される。距離パル
スＤＰ3 は距離パルスてい倍部１１で定倍され、次い
で、パルス幅計数部１３でパルス幅が計数された後、マ
イクロコンピュ−タ１４に入力される。マイクロコンピ
ュ−タ１４では、距離パルスＤＰ3 のパルス幅Ｗ7 から
測定距離ゼロメ−トルの時の距離パルスＤＰ03のパルス
幅Ｗ6 を差し引いた値に基づいて測定対象物までの距離
が算出される。
【００４０】以上説明したことから分かるように実施例
３に係る距離測定装置にあっては、測定距離がゼロメ−
トルの時にＲＳフリップフロップ７３から所定のパルス
幅Ｗ6 を有する距離パルスＤＰ03が出力されるように各
距離測定装置における遅延回路３１の遅延時間を設定し
ておけば、実測の距離パルスＤＰ3 のパルス幅Ｗ7 は、
測定距離ゼロメ−トルの時における距離パルスＤＰ03の
所定のパルス幅Ｗ6 にバイアス誤差を含まない実測の測
定距離に相当するパルス幅（Ｗ7 −Ｗ6 ）を加えた値に
なるので、各距離測定装置に固有のバイアス誤差に影響
されることがなくなり、各距離測定装置における距離測
定のバラツキを低減させることができる。
３に係る距離測定装置にあっては、測定距離がゼロメ−
トルの時にＲＳフリップフロップ７３から所定のパルス
幅Ｗ6 を有する距離パルスＤＰ03が出力されるように各
距離測定装置における遅延回路３１の遅延時間を設定し
ておけば、実測の距離パルスＤＰ3 のパルス幅Ｗ7 は、
測定距離ゼロメ−トルの時における距離パルスＤＰ03の
所定のパルス幅Ｗ6 にバイアス誤差を含まない実測の測
定距離に相当するパルス幅（Ｗ7 −Ｗ6 ）を加えた値に
なるので、各距離測定装置に固有のバイアス誤差に影響
されることがなくなり、各距離測定装置における距離測
定のバラツキを低減させることができる。
【００４１】次に、図５に基づいて実施例４に係る距離
測定装置を説明する。図５（ａ）は実施例４に係る距離
測定装置を概略的に示したブロック図であり、図５
（ｂ）はマイクロコンピュ−タ４１の動作を示したフロ
−チャ−トである。
測定装置を説明する。図５（ａ）は実施例４に係る距離
測定装置を概略的に示したブロック図であり、図５
（ｂ）はマイクロコンピュ−タ４１の動作を示したフロ
−チャ−トである。
【００４２】図５（ａ）に示した実施例４に係る距離測
定装置の構成が図１に示した実施例１に係る距離測定装
置の構成と異なっているのは、マイクロコンピュ−タ１
４がマイクロコンピュ−タ４１となり、マイクロコンピ
ュ−タ４１には一端が抵抗４３を介して電源に接続さ
れ、他端が接地された補正モ−ドスイッチ４２が接続さ
れている点と、距離パルスてい倍部１１とパルス幅計数
部１３との間に誤差補正部１２が介装されていない点で
あり、その他の構成は同じである。
定装置の構成が図１に示した実施例１に係る距離測定装
置の構成と異なっているのは、マイクロコンピュ−タ１
４がマイクロコンピュ−タ４１となり、マイクロコンピ
ュ−タ４１には一端が抵抗４３を介して電源に接続さ
れ、他端が接地された補正モ−ドスイッチ４２が接続さ
れている点と、距離パルスてい倍部１１とパルス幅計数
部１３との間に誤差補正部１２が介装されていない点で
あり、その他の構成は同じである。
【００４３】上記のごとく構成された距離測定装置にお
いて、バイアス誤差等の距離測定誤差の補正はマイクロ
コンピュ−タ４１で行われる。以下、図５（ｂ）に示し
たフロ−チャ−トに基づいて上記構成に係る距離測定装
置の動作を説明する。
いて、バイアス誤差等の距離測定誤差の補正はマイクロ
コンピュ−タ４１で行われる。以下、図５（ｂ）に示し
たフロ−チャ−トに基づいて上記構成に係る距離測定装
置の動作を説明する。
【００４４】まず、ステップ１においてパルス幅計数部
１３から入力される情報に基づいてパルス幅Ｐの演算が
行われる。次に、ステップ２において補正モ−ドスイッ
チ４２がオンされているかどうかが判断される。補正モ
−ドスイッチ４２がオンされている場合は、ステップ１
で演算されたパルス幅Ｐを測定距離ゼロメ−トルの時の
パルス幅Ｐ（０）とする（ステップ３）。一方、補正モ
−ドスイッチ４２がオンされていない場合は、ステップ
４において補正された生距離パルスＰW として｛Ｐ−Ｐ
（０）｝を求める。次に、ステップ５において補正され
た生距離パルスＰW に基づいて測定対象物までの距離を
演算する。
１３から入力される情報に基づいてパルス幅Ｐの演算が
行われる。次に、ステップ２において補正モ−ドスイッ
チ４２がオンされているかどうかが判断される。補正モ
−ドスイッチ４２がオンされている場合は、ステップ１
で演算されたパルス幅Ｐを測定距離ゼロメ−トルの時の
パルス幅Ｐ（０）とする（ステップ３）。一方、補正モ
−ドスイッチ４２がオンされていない場合は、ステップ
４において補正された生距離パルスＰW として｛Ｐ−Ｐ
（０）｝を求める。次に、ステップ５において補正され
た生距離パルスＰW に基づいて測定対象物までの距離を
演算する。
【００４５】以上説明したように実施例４に係る距離測
定装置にあっては、補正モ−ドスイッチ４２をオンして
距離ゼロメ−トルの測定を行うと、求められたパルス幅
Ｐが測定距離ゼロメ−トルの時のパルス幅Ｐ（０）とし
て記憶される。該パルス幅Ｐ（０）は各距離測定装置に
固有のバイアス誤差に相当するパルス幅を示している。
そして、実測の生距離パルスのパルス幅Ｐから前記パル
ス幅Ｐ（０）を差し引いて補正された生距離パルスのパ
ルス幅ＰW を求め、該パルス幅ＰW に基づいて測定対象
物までの距離が算出される。これにより、各距離測定装
置に固有のバイアス誤差に影響されることがなくなる。
すなわち実施例４に係る距離測定装置にあっては、マイ
クロコンピュ−タ４１により各距離測定装置における距
離測定値のバラツキを自動的かつ確実に低減させること
ができる。
定装置にあっては、補正モ−ドスイッチ４２をオンして
距離ゼロメ−トルの測定を行うと、求められたパルス幅
Ｐが測定距離ゼロメ−トルの時のパルス幅Ｐ（０）とし
て記憶される。該パルス幅Ｐ（０）は各距離測定装置に
固有のバイアス誤差に相当するパルス幅を示している。
そして、実測の生距離パルスのパルス幅Ｐから前記パル
ス幅Ｐ（０）を差し引いて補正された生距離パルスのパ
ルス幅ＰW を求め、該パルス幅ＰW に基づいて測定対象
物までの距離が算出される。これにより、各距離測定装
置に固有のバイアス誤差に影響されることがなくなる。
すなわち実施例４に係る距離測定装置にあっては、マイ
クロコンピュ−タ４１により各距離測定装置における距
離測定値のバラツキを自動的かつ確実に低減させること
ができる。
【００４６】
【発明の効果】以上詳述したように本発明に係る距離測
定装置（１）〜（４）のいずれの距離測定装置を用いて
も、部品精度の向上等を図らなくとも各距離測定装置に
固有のバイアス誤差による距離測定値のバラツキを簡単
かつ確実に低減させることができる。
定装置（１）〜（４）のいずれの距離測定装置を用いて
も、部品精度の向上等を図らなくとも各距離測定装置に
固有のバイアス誤差による距離測定値のバラツキを簡単
かつ確実に低減させることができる。
【図１】本発明の実施例１に係る距離測定装置を概略的
に示したブロック図である。
に示したブロック図である。
【図２】（ａ）図は実施例１に係る距離測定装置におけ
る誤差補正部を概略的に示したブロック図であり、
（ｂ）図は前記誤差補正部の動作を示したタイミングチ
ャ−トである。
る誤差補正部を概略的に示したブロック図であり、
（ｂ）図は前記誤差補正部の動作を示したタイミングチ
ャ−トである。
【図３】（ａ）図は実施例２に係る距離測定装置におけ
る誤差補正部を概略的に示した回路構成図であり、
（ｂ）図は前記誤差補正部の動作を示したタイミングチ
ャ−トである。
る誤差補正部を概略的に示した回路構成図であり、
（ｂ）図は前記誤差補正部の動作を示したタイミングチ
ャ−トである。
【図４】（ａ）図は実施例３に係る距離測定装置を概略
的に示したブロック図であり、（ｂ）図は前記距離測定
装置における遅延回路の動作を示したタイミングチャ−
トである。
的に示したブロック図であり、（ｂ）図は前記距離測定
装置における遅延回路の動作を示したタイミングチャ−
トである。
【図５】（ａ）図は実施例４に係る距離測定装置を概略
的に示したブロック図であり、（ｂ）図はマイクロコン
ピュ−タの動作を示したフロ−チャ−トである。
的に示したブロック図であり、（ｂ）図はマイクロコン
ピュ−タの動作を示したフロ−チャ−トである。
【図６】（ａ）図は従来の距離測定装置の一部を概略的
に示したブロック図であり、（ｂ）図は送信パルスと受
信パルスと距離パルスとの関係を示したタイミングチャ
−トである。
に示したブロック図であり、（ｂ）図は送信パルスと受
信パルスと距離パルスとの関係を示したタイミングチャ
−トである。
１１ 距離パルスてい倍部 １２ 誤差補正部 １２ａ パルス発生回路 １２ｄ 積分回路 ３１ 遅延回路 １４、４１ マイクロコンピュ−タ ４２ 補正モ−ドスイッチ ５０ 送信部 ６０ 受信部 Ｒ1 可変抵抗（パルス幅調整手段） Ｒ2 可変抵抗（時定数可変手段、遅延時間調整手段） ＴＸ 送信パルス ＲＸ 受信パルス ＤＰ 距離パルス ＮＤＰ 生距離パルス ＣＤＰ 補正された距離パルス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平８−75854（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−109843（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−230128（ＪＰ，Ａ) 実開 昭64−33094（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01S 7/00 - 17/95 G04F 10/00 - 10/10
Claims (4)
- 【請求項１】 送信信号として送信パルスを出力する送
信部、受信信号として受信パルスを出力する受信部、前
記送信パルスと前記受信パルスとの時間差に基づいて距
離パルスを生成する距離パルス生成部、該距離パルスを
てい倍する距離パルスてい倍部およびマイクロコンピュ
−タ等を備えた距離測定装置において、 前記距離パルスてい倍部と前記マイクロコンピュ−タと
の間に、パルス幅調整手段を備え、前記距離パルスてい
倍部でてい倍された距離パルスに基づいて任意の時間幅
を有するパルスを発生させるパルス発生手段と、該パル
ス発生手段で発生されたパルスと前記てい倍された距離
パルスとの論理積をとる論理回路等で構成された誤差補
正部が介装されていることを特徴とする距離測定装置。 - 【請求項２】 送信信号として送信パルスを出力する送
信部、受信信号として受信パルスを出力する受信部、前
記送信パルスと前記受信パルスとの時間差に基づいて距
離パルスを生成する距離パルス生成部、該距離パルスを
てい倍する距離パルスてい倍部およびマイクロコンピュ
−タ等を備えた距離測定装置において、 前記距離パルスてい倍部と前記マイクロコンピュ−タと
の間に、時定数可変手段を備えた積分回路および該積分
回路からの出力信号の波形を整形する波形整形回路等で
構成された誤差補正部が介装されていることを特徴とす
る距離測定装置。 - 【請求項３】 送信信号として送信パルスを出力する送
信部、受信信号として受信パルスを出力する受信部、前
記送信パルスと前記受信パルスとの時間差に基づいて距
離パルスを生成する距離パルス生成部、該距離パルスを
てい倍する距離パルスてい倍部およびマイクロコンピュ
−タ等を備えた距離測定装置において、 前記距離パルス生成部が遅延時間調整手段を備えた遅延
回路およびＲＳフリップフロップ等で構成され、前記受
信部と前記ＲＳフリップフロップとの間に前記遅延回路
が介装されていることを特徴とする距離測定装置。 - 【請求項４】 送信信号として送信パルスを出力する送
信部、受信信号として受信パルスを出力する受信部、前
記送信パルスと前記受信パルスとの時間差に基づいて距
離パルスを生成する距離パルス生成部、該距離パルスを
てい倍する距離パルスてい倍部およびマイクロコンピュ
−タ等を備えた距離測定装置において、 補正モ−ドスイッチを備えると共に、前記マイクロコン
ピュ−タ内に、前記補正モ−ドスイッチがオンされた場
合の前記距離パルスのパルス幅を基準とし、該基準のパ
ルス幅と前記補正モ−ドスイッチがオフされている時の
距離パルスのパルス幅との差に基づいて距離値を算出す
る距離値算出手段を備えていることを特徴とする距離測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6222814A JP2965868B2 (ja) | 1994-09-19 | 1994-09-19 | 距離測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6222814A JP2965868B2 (ja) | 1994-09-19 | 1994-09-19 | 距離測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0886871A JPH0886871A (ja) | 1996-04-02 |
| JP2965868B2 true JP2965868B2 (ja) | 1999-10-18 |
Family
ID=16788332
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6222814A Expired - Fee Related JP2965868B2 (ja) | 1994-09-19 | 1994-09-19 | 距離測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2965868B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1953567A3 (en) * | 2007-01-25 | 2010-09-22 | Yamatake Corporation | Counting device, distance meter, counting method, and distance measuring method |
| CN108639040B (zh) * | 2018-06-28 | 2019-08-30 | 中科安达（北京）科技有限公司 | 车辆制动系统复合测距的方法及系统 |
-
1994
- 1994-09-19 JP JP6222814A patent/JP2965868B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0886871A (ja) | 1996-04-02 |
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