JP2962576B2 - 貨幣を確認する方法と装置 - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
-
- G—PHYSICS
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- G07D5/08—Testing the magnetic or electric properties
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- Control Of Vending Devices And Auxiliary Devices For Vending Devices (AREA)
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- Financial Or Insurance-Related Operations Such As Payment And Settlement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 この発明は、硬貨又は銀行券のような貨幣の品目を確
認する方法と装置に関する。
認する方法と装置に関する。
硬貨を確認するとき、硬貨について２つ以上の独立し
たテストを行ったり、もし全てのテスト結果がその種の
硬貨に対して期待された結果と等しいか又は接近してい
るときにのみその硬貨は特定種類の又は特定金種区分の
本物の硬貨であると決めることは知られている。例え
ば、幾つかの公知の確認機は、電磁場を発生する誘導コ
イルを有している。それら場における硬貨の影響を決め
ることによって、硬貨の厚さ、直径及び素材含有量によ
って主に決められる独立した計測値をその回路で得るこ
とができる。もし３つの計測値全てが同じ種類の硬貨で
あること表示しているときにのみ本物であるとみなされ
る。
たテストを行ったり、もし全てのテスト結果がその種の
硬貨に対して期待された結果と等しいか又は接近してい
るときにのみその硬貨は特定種類の又は特定金種区分の
本物の硬貨であると決めることは知られている。例え
ば、幾つかの公知の確認機は、電磁場を発生する誘導コ
イルを有している。それら場における硬貨の影響を決め
ることによって、硬貨の厚さ、直径及び素材含有量によ
って主に決められる独立した計測値をその回路で得るこ
とができる。もし３つの計測値全てが同じ種類の硬貨で
あること表示しているときにのみ本物であるとみなされ
る。
３本の直交軸線P1,P2,P3の各々が３つの独立した計測
値を表わしている第１図に、このことは、グラフで表わ
されている。種類Ａの硬貨に対して、上方限界値UA1と
下方限界値LA1内に在る範囲（又は領域）WA1以内に計測
値P1が入るものと予想されている。同様に特性値P2,P3
は、各々範囲WA2,WA3以内になっているものと予想され
ている。もし全ての３つの計測値が各々の領域内に入っ
ていれば、硬貨は種類Ａの受入れ可能な硬貨であると考
えられる。このような状況において、計測値は第１図で
RAで表示された許容領域以内に入ることになる。
値を表わしている第１図に、このことは、グラフで表わ
されている。種類Ａの硬貨に対して、上方限界値UA1と
下方限界値LA1内に在る範囲（又は領域）WA1以内に計測
値P1が入るものと予想されている。同様に特性値P2,P3
は、各々範囲WA2,WA3以内になっているものと予想され
ている。もし全ての３つの計測値が各々の領域内に入っ
ていれば、硬貨は種類Ａの受入れ可能な硬貨であると考
えられる。このような状況において、計測値は第１図で
RAで表示された許容領域以内に入ることになる。
第１図において、許容領域RAは、３次元となっている
が、しかし勿論それは、２次元でもよいし、又は硬貨に
行われた独立した計測の数に応じて３次元よりも多い次
元を有することができる。
が、しかし勿論それは、２次元でもよいし、又は硬貨に
行われた独立した計測の数に応じて３次元よりも多い次
元を有することができる。
明らかに、１種類よりも多い種類の硬貨を確認するよ
うに構成された硬貨確認機は、異なった硬貨の種類B,C
等に対して異なった許容領域RB,RC等を有することにな
ろう。
うに構成された硬貨確認機は、異なった硬貨の種類B,C
等に対して異なった許容領域RB,RC等を有することにな
ろう。
本物であることを決めるために使われる技法も異なっ
たものになる。例えば、各硬貨の特性計測値は、許容領
域を限定する記憶された上方と下方の限界値に対して比
較される。代りに、各計測値は、それが特定値の所定の
許容値以内に入っているかどうかを決めるためにチェッ
クされる。代りに、各計測値は、それが特定値に等しい
かどうかを決めるためにチェックされるが、その場合、
期待値からのその計測値の許された偏りは、回路の許容
範囲によって決められる。CB−Ａ−１ 405937は、計測
値を表わす計算がチェックされるときに解読されるディ
ジタルカウンターの段階を選択することによって許容範
囲が決められるようになっている回路を開示している。
たものになる。例えば、各硬貨の特性計測値は、許容領
域を限定する記憶された上方と下方の限界値に対して比
較される。代りに、各計測値は、それが特定値の所定の
許容値以内に入っているかどうかを決めるためにチェッ
クされる。代りに、各計測値は、それが特定値に等しい
かどうかを決めるためにチェックされるが、その場合、
期待値からのその計測値の許された偏りは、回路の許容
範囲によって決められる。CB−Ａ−１ 405937は、計測
値を表わす計算がチェックされるときに解読されるディ
ジタルカウンターの段階を選択することによって許容範
囲が決められるようになっている回路を開示している。
複数の硬貨の種類又は金種区分を確認するようになっ
ている硬貨確認機では、各計測値はテストされる硬貨が
本物かどうか、またもしそうであれば硬貨の金種区分は
何かについての決定に到達する前に全ての硬貨の種類の
各々の範囲に対してチェックされる。代りに、テストの
一つは、後続のテスト計測値が事前分類工程によって決
められる硬貨の種類の領域に対してただチェックされる
ように硬貨を事前に分類するために使われる。例えば、
GB−Ａ−１ 405937では、第１のテストは、カウンター
によって得られたカウントに応じて３つの種類の内の１
つに硬貨を予備的に分類するようにしている。カウンタ
ーは、次いで事前分類テストの結果によって決定される
割合でカウントダウンさせられる。もし最終カウント
が、所定の数（例えば、０）に等しければ、その硬貨
は、事前分類テストで決定された種類の本物の硬貨であ
ると決定される。
ている硬貨確認機では、各計測値はテストされる硬貨が
本物かどうか、またもしそうであれば硬貨の金種区分は
何かについての決定に到達する前に全ての硬貨の種類の
各々の範囲に対してチェックされる。代りに、テストの
一つは、後続のテスト計測値が事前分類工程によって決
められる硬貨の種類の領域に対してただチェックされる
ように硬貨を事前に分類するために使われる。例えば、
GB−Ａ−１ 405937では、第１のテストは、カウンター
によって得られたカウントに応じて３つの種類の内の１
つに硬貨を予備的に分類するようにしている。カウンタ
ーは、次いで事前分類テストの結果によって決定される
割合でカウントダウンさせられる。もし最終カウント
が、所定の数（例えば、０）に等しければ、その硬貨
は、事前分類テストで決定された種類の本物の硬貨であ
ると決定される。
従来技術では、各許容領域は、テストが実施される前
に常に予かじめ決められている。幾つかの確認機は、許
容領域を調節する手段を有している。調節の目的は、
（許容領域の大きさを増大することによって）受入れ可
能と決定される本物硬貨の割合を増大したり、（許容領
域の大きさを減じることによって）間違って本物と思わ
れるにせ硬貨の数を減らしたりする。領域の調節は、
（例えば、EP−Ａ−0155126におけるように）手操作で
又は自動的にいずれかで実施される。いかなる場合も、
領域調節の結果は、許容領域の上限値と下限値が事前に
決められると言うことである。
に常に予かじめ決められている。幾つかの確認機は、許
容領域を調節する手段を有している。調節の目的は、
（許容領域の大きさを増大することによって）受入れ可
能と決定される本物硬貨の割合を増大したり、（許容領
域の大きさを減じることによって）間違って本物と思わ
れるにせ硬貨の数を減らしたりする。領域の調節は、
（例えば、EP−Ａ−0155126におけるように）手操作で
又は自動的にいずれかで実施される。いかなる場合も、
領域調節の結果は、許容領域の上限値と下限値が事前に
決められると言うことである。
しかし、にせ硬貨の受入れを避けるために許容領域を
減縮することによって、正真正銘の硬貨が実効性がない
ものとみなされることがある。反応に、最大限の数の正
真正銘の硬貨が実効性ありと確実にみなされるように許
容領域を増大することによって、より多くのにせ硬貨も
実効性ありと決められかねない。結果的に、領域の調節
は、逆効果と好効果を持ち得、また『許容割合』（即わ
ち、受入れられたにせ硬貨の百分率に対する受入れられ
た本物硬貨の百分率の割合）を増大させないか又はただ
この割合を少しだけ増大させるにすぎない。
減縮することによって、正真正銘の硬貨が実効性がない
ものとみなされることがある。反応に、最大限の数の正
真正銘の硬貨が実効性ありと確実にみなされるように許
容領域を増大することによって、より多くのにせ硬貨も
実効性ありと決められかねない。結果的に、領域の調節
は、逆効果と好効果を持ち得、また『許容割合』（即わ
ち、受入れられたにせ硬貨の百分率に対する受入れられ
た本物硬貨の百分率の割合）を増大させないか又はただ
この割合を少しだけ増大させるにすぎない。
銀行券の実効性の分野では、ほぼ第１図に示されてい
る形の許容領域とも比較される。かくして、にせ銀行券
の受入れや本物銀行券の拒絶を回避しようとして許容領
域を変更するときに同様な問題が生じる。
る形の許容領域とも比較される。かくして、にせ銀行券
の受入れや本物銀行券の拒絶を回避しようとして許容領
域を変更するときに同様な問題が生じる。
本発明に依ると、テストされる品目について少なくと
も２つの異なった計測値を引き出す工程と、各計測値が
特定の貨幣種類に関連した各範囲以内に入っているかど
うかを決める工程と、もし全ての計測値がその種類の各
範囲以内に入っていればその種類の貨幣はテストが完了
した旨を示す信号を発生する工程とから構成され、計測
値の少なくても１つの各範囲が少なくても１つの他の計
測値に依存して変わることを特徴とした貨幣の品目を確
認する方法が提供されている。
も２つの異なった計測値を引き出す工程と、各計測値が
特定の貨幣種類に関連した各範囲以内に入っているかど
うかを決める工程と、もし全ての計測値がその種類の各
範囲以内に入っていればその種類の貨幣はテストが完了
した旨を示す信号を発生する工程とから構成され、計測
値の少なくても１つの各範囲が少なくても１つの他の計
測値に依存して変わることを特徴とした貨幣の品目を確
認する方法が提供されている。
『異なった計測値』に対する基準は、単一の物理的特
性又はそのような特性の組合せを表示するために異なっ
た時間に同じ計測を単に行うだけで明瞭になる如く、テ
ストされた品目の異なった物理的特性の計測値を示そう
とするものである。例えば、GB−Ａ−１ 405937や幾つ
かの他の従来技術の構成では、硬貨が２つの異なった点
の間を移動するのにかかる時間が計測される。これは、
２回の渡る計測を行ってその差を引算しようとするもの
であるとみなされるであろうが、その目的は、物理的特
性の特定の組合せによって決められるただ１つの計測値
を単に得ようとするにすぎなく、従ってこれは、本発明
の場合で理解されているような『異なった計測』を表わ
しているものではない。同じように、硬貨がセンサーを
通過するに従ってセンサーに対する硬貨の位置に応じた
２つの連続した計測を行い、次いでそれら２つの計測値
の間の差を得ることは知られている。また、この差は、
物理的特性（例えば、硬貨の表面輪廓における変化）に
よって決められるただ１つの計測値を代表するものとな
る。
性又はそのような特性の組合せを表示するために異なっ
た時間に同じ計測を単に行うだけで明瞭になる如く、テ
ストされた品目の異なった物理的特性の計測値を示そう
とするものである。例えば、GB−Ａ−１ 405937や幾つ
かの他の従来技術の構成では、硬貨が２つの異なった点
の間を移動するのにかかる時間が計測される。これは、
２回の渡る計測を行ってその差を引算しようとするもの
であるとみなされるであろうが、その目的は、物理的特
性の特定の組合せによって決められるただ１つの計測値
を単に得ようとするにすぎなく、従ってこれは、本発明
の場合で理解されているような『異なった計測』を表わ
しているものではない。同じように、硬貨がセンサーを
通過するに従ってセンサーに対する硬貨の位置に応じた
２つの連続した計測を行い、次いでそれら２つの計測値
の間の差を得ることは知られている。また、この差は、
物理的特性（例えば、硬貨の表面輪廓における変化）に
よって決められるただ１つの計測値を代表するものとな
る。
多くの状況下で、本発明を使用すると、受入れ率を改
善することになる領域選定が可能となる。例えば、種類
Ａの本物貨幣の品目についての計測値P1,P2が範囲WA1,W
A2以内に各々入る傾向があることは経験的に知見されて
いる。しかし、大きな値P1を有した正真正銘のものは更
に、大きな値P2を有しそうにないことも経験的に知見さ
れている。本発明の技法を利用すると、範囲WA2の上限
値は、P1の大きな値が検出されるとより小さくされる。
このことは、間違って拒絶される本物のものの数には余
り大きく影響しないであろうが、しかしP1とP2の大きな
値を持つにせのものが拒絶されるようにする。
善することになる領域選定が可能となる。例えば、種類
Ａの本物貨幣の品目についての計測値P1,P2が範囲WA1,W
A2以内に各々入る傾向があることは経験的に知見されて
いる。しかし、大きな値P1を有した正真正銘のものは更
に、大きな値P2を有しそうにないことも経験的に知見さ
れている。本発明の技法を利用すると、範囲WA2の上限
値は、P1の大きな値が検出されるとより小さくされる。
このことは、間違って拒絶される本物のものの数には余
り大きく影響しないであろうが、しかしP1とP2の大きな
値を持つにせのものが拒絶されるようにする。
本発明は、多くの方法で実施される。
幾つかの例としては、 （１） 複数の領域（Ｗ′A1,W″A1,等）が、ただ１つ
の貨幣の種類Ａについてのただ１つの特性計測値P1に対
して記憶される。使用される領域は、例えばP2のような
別の特性計測値に基づいて選択される。
の貨幣の種類Ａについてのただ１つの特性計測値P1に対
して記憶される。使用される領域は、例えばP2のような
別の特性計測値に基づいて選択される。
（２） 特性計測値は、公知の種類のにせ貨幣に対する
許容領域と比較され、またもし特性値がこの許容領域以
内に入っていることが判れば拒絶されるテスト品目と比
較される。もし、許容領域が正真正銘の品目に対する許
容領域にオーバラップすれば、これは、正真正銘の品目
に対する効果的な許容領域がその通常の領域とにせ物に
対する許容領域との間のオーバラップだけ減縮される。
以下により完全に説明されるように、これについての結
論は、貨幣の許容領域を限定する１つ以上の許容領域
が、特定の組合せの特性計測値を見出した結果として効
果的に減縮されると云うことである。
許容領域と比較され、またもし特性値がこの許容領域以
内に入っていることが判れば拒絶されるテスト品目と比
較される。もし、許容領域が正真正銘の品目に対する許
容領域にオーバラップすれば、これは、正真正銘の品目
に対する効果的な許容領域がその通常の領域とにせ物に
対する許容領域との間のオーバラップだけ減縮される。
以下により完全に説明されるように、これについての結
論は、貨幣の許容領域を限定する１つ以上の許容領域
が、特定の組合せの特性計測値を見出した結果として効
果的に減縮されると云うことである。
（３） ２つ以上の特性計測値が、これら計測値の所定
の関数となっている値を引き出すために組合される。引
き出された値は、２つの計測値の関数となっているた
め、各計測値の許された範囲は他の計測値に依存するも
のと理解されよう。
の関数となっている値を引き出すために組合される。引
き出された値は、２つの計測値の関数となっているた
め、各計測値の許された範囲は他の計測値に依存するも
のと理解されよう。
本発明は、更に、この発明の方法に従って作動される
ように構成された貨幣確認装置にまで及んでいる。
ように構成された貨幣確認装置にまで及んでいる。
さて、本発明を具体化する構成について、添付図面を
参照にして実施例によって説明しよう。
参照にして実施例によって説明しよう。
そこで、第１図は、従来の確認機における許容領域を
概略図解しており、 第２図は、本発明に係る硬貨確認機の概略線図であ
り、 第３図は、第２図の確認機のメモリに記憶され許容領
域を定義した表を例で図解しており、 第４図は、第２図の確認機に対する許容領域を概略図
解しており、 第５図は、第２図の確認機の作動の１つの可能な方法
を図解したフローチャートであり、 第６図は、作動の代替方法を図解しており、 第７図は、変更された実施例における許容領域を図解
しており、 第８図は、変更された実施例の作動のフローチャート
であり、 第９図は、第２図の実施例の更に変更したものの許容
領域を図解しており、 第10図は、第９図の変更の作動のフローチャートであ
り、 第11図は、同じ種類の複数の硬貨の計測値の分布を示
したグラフであり、 第12図は、第２図の実施例の更に別の変更における許
容領域を図解している。
概略図解しており、 第２図は、本発明に係る硬貨確認機の概略線図であ
り、 第３図は、第２図の確認機のメモリに記憶され許容領
域を定義した表を例で図解しており、 第４図は、第２図の確認機に対する許容領域を概略図
解しており、 第５図は、第２図の確認機の作動の１つの可能な方法
を図解したフローチャートであり、 第６図は、作動の代替方法を図解しており、 第７図は、変更された実施例における許容領域を図解
しており、 第８図は、変更された実施例の作動のフローチャート
であり、 第９図は、第２図の実施例の更に変更したものの許容
領域を図解しており、 第10図は、第９図の変更の作動のフローチャートであ
り、 第11図は、同じ種類の複数の硬貨の計測値の分布を示
したグラフであり、 第12図は、第２図の実施例の更に別の変更における許
容領域を図解している。
第13図及び第14図は、非平面許容領域を示す。
第２図において概略図示された硬貨テスト装置２は、
４で示された一組の硬貨センサーを有している。これら
の各々は、それ自体良く知られている様に、本装置に挿
入された硬貨の違った特性を計測するように作動でき
る。各センサーは、６で示された一組の出力ラインの内
の一方での各パラメータの計測値を表示した信号を提供
する。
４で示された一組の硬貨センサーを有している。これら
の各々は、それ自体良く知られている様に、本装置に挿
入された硬貨の違った特性を計測するように作動でき
る。各センサーは、６で示された一組の出力ラインの内
の一方での各パラメータの計測値を表示した信号を提供
する。
LSI8は、これらの信号を受信する。LSI8は、本装置が
作動する方法を制御する作動プログラムを記憶するROM
を含んでいる。LSIの代りに、標準的なマイクロプロセ
ッサーが使用される。LSIは、入力ライン６の各々に受
信された各計測された値をPROM10内の所定箇所に記憶さ
れた上限値及び下限値と比較するように作動する。PROM
10は、他のいかなる種類の記憶回路でもよく、また単一
又は幾つかの集積回路から形成され、又はLSI8（又はマ
イクロプロセッサー）と共に単一の集積回路に組込まれ
る。
作動する方法を制御する作動プログラムを記憶するROM
を含んでいる。LSIの代りに、標準的なマイクロプロセ
ッサーが使用される。LSIは、入力ライン６の各々に受
信された各計測された値をPROM10内の所定箇所に記憶さ
れた上限値及び下限値と比較するように作動する。PROM
10は、他のいかなる種類の記憶回路でもよく、また単一
又は幾つかの集積回路から形成され、又はLSI8（又はマ
イクロプロセッサー）と共に単一の集積回路に組込まれ
る。
LSI8は、クロック12によって発生されたタイミング信
号に応答して作動するもので、アドレス信号をアドレス
母線14に供給することでPROM10をアドレスするように作
動する。LSIは、更に、PROMを作動可能にするためにラ
イン16に『PROM可能化』信号を与える。
号に応答して作動するもので、アドレス信号をアドレス
母線14に供給することでPROM10をアドレスするように作
動する。LSIは、更に、PROMを作動可能にするためにラ
イン16に『PROM可能化』信号を与える。
アドレス作動に応答して、限界値は、PROMからLSI8へ
データ母線18を経由して供給される。
データ母線18を経由して供給される。
例によって、本発明の一実施例は、挿入された硬貨の
導電率、厚さ及び直径を各々計測するための３つのセン
サーから構成される。各センサーは、自励発振回路内の
１つ以上のコイルから構成されている。直径と厚さのセ
ンサーの場合、挿入された硬貨の接近によって誘起され
る各コイルのインダクタンスにおける変化は、発振器の
周波数を変化させ、これによって、硬貨の各特性のディ
ジタル表示が引き出される。導電率センサーの場合、挿
入された硬貨の接近によって誘起されるコイルのＱにお
ける変化は、コイルに渡る電圧を変化させるが、これに
よって硬貨の導電率のディジタル出力代表値が引き出さ
れる。各コイルの構造、位置決め及び向きとそれに加え
られた電圧の周波数とは、導電率、直径及び厚さの特性
の内の特定のものに優先的に依存した出力を提供するよ
うに構成されているが、各計測値は、他の硬貨特性によ
って或る程度影響されるものと思われる。
導電率、厚さ及び直径を各々計測するための３つのセン
サーから構成される。各センサーは、自励発振回路内の
１つ以上のコイルから構成されている。直径と厚さのセ
ンサーの場合、挿入された硬貨の接近によって誘起され
る各コイルのインダクタンスにおける変化は、発振器の
周波数を変化させ、これによって、硬貨の各特性のディ
ジタル表示が引き出される。導電率センサーの場合、挿
入された硬貨の接近によって誘起されるコイルのＱにお
ける変化は、コイルに渡る電圧を変化させるが、これに
よって硬貨の導電率のディジタル出力代表値が引き出さ
れる。各コイルの構造、位置決め及び向きとそれに加え
られた電圧の周波数とは、導電率、直径及び厚さの特性
の内の特定のものに優先的に依存した出力を提供するよ
うに構成されているが、各計測値は、他の硬貨特性によ
って或る程度影響されるものと思われる。
これまで述べた装置は、GB−Ａ−2094008に開示され
たものに相当している。その装置では、硬貨が挿入され
ると、３つのセンサー４によって発生された計測値は、
第３図に示されたPROM10の領域に記憶された値と比較さ
れる。厚さの計測値は、第３図においてP1と標記された
列で、各硬貨Ａ〜Ｆに対する６つの範囲の限界値を代表
する12の値と比較される。もし、計測された厚さの値が
特定の硬貨の厚さの範囲の上限値と下限値以内に入って
いれば（例えば、もしそれが硬貨Ａの上限値UA1と下限
値LA1の間に入っていれば）、その硬貨の厚さテストが
合格となる。同様に、直径計測値は、列P2における12の
上限値と下限値と比較され、また導電率は、P3と標記さ
れた列における限界値と比較される。
たものに相当している。その装置では、硬貨が挿入され
ると、３つのセンサー４によって発生された計測値は、
第３図に示されたPROM10の領域に記憶された値と比較さ
れる。厚さの計測値は、第３図においてP1と標記された
列で、各硬貨Ａ〜Ｆに対する６つの範囲の限界値を代表
する12の値と比較される。もし、計測された厚さの値が
特定の硬貨の厚さの範囲の上限値と下限値以内に入って
いれば（例えば、もしそれが硬貨Ａの上限値UA1と下限
値LA1の間に入っていれば）、その硬貨の厚さテストが
合格となる。同様に、直径計測値は、列P2における12の
上限値と下限値と比較され、また導電率は、P3と標記さ
れた列における限界値と比較される。
もしまたただ単にもし全ての計測された値が本装置が
受け入れるように設計されている特定の硬貨の金種区分
に対して記憶された範囲以内に入れば、LSI8は、１グル
ープの出力ライン24の１つにACCEPT（受諾）信号を発生
し、また硬貨の金種区分を表示するための出力ライン24
の内のもう一つ別のラインの別の信号がテストされてい
る。確認機は、受諾信号が発生されるかどうかに応じて
２つの別の状態の内の一方を採用した受諾ゲート（図示
されていない）を有しており、その結果、本物とみなさ
れた全てのテストされた硬貨は、受諾通路に沿って導か
れ、全ての他のテストされたものは、もう一つ別の通路
に沿って導かれる。
受け入れるように設計されている特定の硬貨の金種区分
に対して記憶された範囲以内に入れば、LSI8は、１グル
ープの出力ライン24の１つにACCEPT（受諾）信号を発生
し、また硬貨の金種区分を表示するための出力ライン24
の内のもう一つ別のラインの別の信号がテストされてい
る。確認機は、受諾信号が発生されるかどうかに応じて
２つの別の状態の内の一方を採用した受諾ゲート（図示
されていない）を有しており、その結果、本物とみなさ
れた全てのテストされた硬貨は、受諾通路に沿って導か
れ、全ての他のテストされたものは、もう一つ別の通路
に沿って導かれる。
GB−Ａ−2094008の確認機は、ほぼ第１図に示されて
いる形のPROM10に記憶された値によって定義された許容
領域を有している。しかし、本発明のこの実施例では、
６つの許容領域の内の一つは、第４図でRAで図示された
形を有している。これは、rAで示された容積だけ減縮さ
れている点で第１図の領域と異なっている。かくして、
容積rA以内に入る特性を有したいずれの受取られたもの
も、確認機によって受入れられたい。rA以内に入ってい
る特性値を有したにせ硬貨の可能性がかなり高く、また
この範囲以内に入っている特性値を有した種類Ａの本物
の硬貨の可能性からかなり離れているのが統計的にわか
っているようだと、許容割合は改善される。
いる形のPROM10に記憶された値によって定義された許容
領域を有している。しかし、本発明のこの実施例では、
６つの許容領域の内の一つは、第４図でRAで図示された
形を有している。これは、rAで示された容積だけ減縮さ
れている点で第１図の領域と異なっている。かくして、
容積rA以内に入る特性を有したいずれの受取られたもの
も、確認機によって受入れられたい。rA以内に入ってい
る特性値を有したにせ硬貨の可能性がかなり高く、また
この範囲以内に入っている特性値を有した種類Ａの本物
の硬貨の可能性からかなり離れているのが統計的にわか
っているようだと、許容割合は改善される。
もし望まれるならば、許容領域RB,RC等の各々が第４
図に示された形に変更されるとしても、それらは各々、
第１図に示されている形を有している。
図に示された形に変更されるとしても、それらは各々、
第１図に示されている形を有している。
確認機を作動する１つの可能な方法は、第５図を参照
にして以下に説明される。工程50では、LSIは、全ての
３つの計測値P1,P2,P3を得る。工程51では、プログラム
は、第４図でＷ′A1で表示された許容範囲以内に計測値
P1が入っているかどうかをチェックするように進行す
る。これは、第３図に示されているPROM10に記憶された
上限値UA1と下限値LA1によって限定されている。もし計
測値P1が、この範囲外に在れば、プログラムは、計測値
P1,P2,P3が、他の硬貨の種類B,C等のいずれかに適して
いるかどうかをチェックするために工程52として表示さ
れているように進行する。
にして以下に説明される。工程50では、LSIは、全ての
３つの計測値P1,P2,P3を得る。工程51では、プログラム
は、第４図でＷ′A1で表示された許容範囲以内に計測値
P1が入っているかどうかをチェックするように進行す
る。これは、第３図に示されているPROM10に記憶された
上限値UA1と下限値LA1によって限定されている。もし計
測値P1が、この範囲外に在れば、プログラムは、計測値
P1,P2,P3が、他の硬貨の種類B,C等のいずれかに適して
いるかどうかをチェックするために工程52として表示さ
れているように進行する。
他には、工程53において、プログラムは、計測値P2が
各範囲WA2以内に入っているかどうかをチェックし、次
いで工程54で、計測値P3が各範囲WA3以内に入っている
かどうかをチェックする。もし全ての３つの特性計測値
が硬貨の種類Ａに対する各範囲以内に入っていれば、プ
ログラムは工程55に進み、そこでプログラムは、特性計
測値P1が第４図に示されている所定値Ｐ′１以下かどう
かをチェックする。もしそうであれば、このことは、特
性計測値がハッチングのしていない領域RA以内に入って
おりそして硬貨が受入れ可能と思われることを示してい
る。従って、プログラムは金種区分Ａの本物の硬貨を示
す適当な信号が発せられる工程56へ進む。
各範囲WA2以内に入っているかどうかをチェックし、次
いで工程54で、計測値P3が各範囲WA3以内に入っている
かどうかをチェックする。もし全ての３つの特性計測値
が硬貨の種類Ａに対する各範囲以内に入っていれば、プ
ログラムは工程55に進み、そこでプログラムは、特性計
測値P1が第４図に示されている所定値Ｐ′１以下かどう
かをチェックする。もしそうであれば、このことは、特
性計測値がハッチングのしていない領域RA以内に入って
おりそして硬貨が受入れ可能と思われることを示してい
る。従って、プログラムは金種区分Ａの本物の硬貨を示
す適当な信号が発せられる工程56へ進む。
もし、P1Ｐ′１であれば、次いで工程57で、プログ
ラムはP3≦Ｐ′３かどうかをチェックする。もしそうで
あれば、その時特性計測値は、第４図に示されているハ
ッチングされた領域以内に入っていることがわかり、そ
の硬貨は、受入れ可能と考えられる。従って、プログラ
ムは、工程56へ進む。
ラムはP3≦Ｐ′３かどうかをチェックする。もしそうで
あれば、その時特性計測値は、第４図に示されているハ
ッチングされた領域以内に入っていることがわかり、そ
の硬貨は、受入れ可能と考えられる。従って、プログラ
ムは、工程56へ進む。
しかし、もしP3＞Ｐ′３ならば、特性計測値は領域rA
以内に入っていることがわかり、挿入されたものは、従
って種類Ａの硬貨ではないと考えられる。従って、プロ
グラムは、工程52へと進む。
以内に入っていることがわかり、挿入されたものは、従
って種類Ａの硬貨ではないと考えられる。従って、プロ
グラムは、工程52へと進む。
かくして、特性P3に対する許容領域範囲は、計測値P1
が所定値Ｐ′１より大きいか又は小さいかどうかに依存
している。同様に、P1に対する範囲は、P3がＰ′３より
大きいか又は小さいかに依存している。第１図に示され
えちるような許容領域を有した従来構成に関して、特性
値P1に対する許容領域Ｗ′A1をＷ″A1に減縮することは
可能であろう。しかし、変更された範囲は、P3の全ての
値に適用可能となるであろうし、これで結果的に、ハッ
チングされていない部分RAに対応した許容領域と成る。
第４図において、許容領域は、更に、ハッチングされた
容積を含んでおり、その結果本物の硬貨の拒絶は起りに
くくなっている。
が所定値Ｐ′１より大きいか又は小さいかどうかに依存
している。同様に、P1に対する範囲は、P3がＰ′３より
大きいか又は小さいかに依存している。第１図に示され
えちるような許容領域を有した従来構成に関して、特性
値P1に対する許容領域Ｗ′A1をＷ″A1に減縮することは
可能であろう。しかし、変更された範囲は、P3の全ての
値に適用可能となるであろうし、これで結果的に、ハッ
チングされていない部分RAに対応した許容領域と成る。
第４図において、許容領域は、更に、ハッチングされた
容積を含んでおり、その結果本物の硬貨の拒絶は起りに
くくなっている。
第６図は、第４図に示されている許容領域を達成する
ための代替技法を図解したフローチャートである。工程
60では、特性計測値P1,P2,P3が取りあげられる。工程61
では、特性計測値P3は、所定値Ｐ′３と比較される。も
しP3がＰ′３より大きいと、プログラムは、工程62へ進
み、そうでなければ、プログラムは、工程63へ進む。工
程62では、特性値P1に対する領域範囲WA1は、Ｗ″A1に
等しく設定され、工程63では、領域はＷ′A1に等しく設
定される。PROM10は、第３図における単一組UA1とLA1の
所定場所に２組の限界値Ｕ′A1とＬ′A1,U″A1とＬ″A1
を記憶するように構成され、その結果、２つの領域範囲
Ｗ′A1,W″A1が引き出される。
ための代替技法を図解したフローチャートである。工程
60では、特性計測値P1,P2,P3が取りあげられる。工程61
では、特性計測値P3は、所定値Ｐ′３と比較される。も
しP3がＰ′３より大きいと、プログラムは、工程62へ進
み、そうでなければ、プログラムは、工程63へ進む。工
程62では、特性値P1に対する領域範囲WA1は、Ｗ″A1に
等しく設定され、工程63では、領域はＷ′A1に等しく設
定される。PROM10は、第３図における単一組UA1とLA1の
所定場所に２組の限界値Ｕ′A1とＬ′A1,U″A1とＬ″A1
を記憶するように構成され、その結果、２つの領域範囲
Ｗ′A1,W″A1が引き出される。
工程64では、特性計測値P1は、工程62又は63で決めら
れた適当な領域範囲と比較され、もしこの範囲外になる
ことがわかれば、プログラムは工程65に進む。その後、
プログラムは、特性計測値が残りの硬貨B,C等に適切な
ものかどうかをチェックするように進む。
れた適当な領域範囲と比較され、もしこの範囲外になる
ことがわかれば、プログラムは工程65に進む。その後、
プログラムは、特性計測値が残りの硬貨B,C等に適切な
ものかどうかをチェックするように進む。
他に、プログラムは、工程66で関連した領域WA2以内
に入っているかどうかを決めるためにチェックし、次い
で工程67で、特性計測値P3が範囲WA3以内に入っている
かどうかをチェックする。もし、全ての３つの特性値が
各範囲以内に入っていれば、次いでプログラムは、工程
68に進み、そこで金種区分Ａの本物硬貨の受入れを表示
する信号が発せられる。
に入っているかどうかを決めるためにチェックし、次い
で工程67で、特性計測値P3が範囲WA3以内に入っている
かどうかをチェックする。もし、全ての３つの特性値が
各範囲以内に入っていれば、次いでプログラムは、工程
68に進み、そこで金種区分Ａの本物硬貨の受入れを表示
する信号が発せられる。
第７図は、本発明の変更された実施例に係る確認機に
おける種類Ａの硬貨に対する許容領域RAを示している。
第７図は、更に、本物でない硬貨に対する領域RNを示し
ている。確認機は、もし第１図における領域RAと同じ形
を有した領域RN以内に特性計測値が入っていれば、次
に、硬貨が本物でないと考えられて拒絶されるように作
動する構成となっている。第７図における領域RN,RAが
オーバラップしていることが注目される。特性値がオー
バラップ領域rA以内に入っているいずれの硬貨も、本物
でないと考えられ、拒絶される。従って、これによっ
て、オーバラップ容積rAだけ硬貨Ａに対する効果的な許
容領域RAが減縮される。
おける種類Ａの硬貨に対する許容領域RAを示している。
第７図は、更に、本物でない硬貨に対する領域RNを示し
ている。確認機は、もし第１図における領域RAと同じ形
を有した領域RN以内に特性計測値が入っていれば、次
に、硬貨が本物でないと考えられて拒絶されるように作
動する構成となっている。第７図における領域RN,RAが
オーバラップしていることが注目される。特性値がオー
バラップ領域rA以内に入っているいずれの硬貨も、本物
でないと考えられ、拒絶される。従って、これによっ
て、オーバラップ容積rAだけ硬貨Ａに対する効果的な許
容領域RAが減縮される。
これを達成する一技法は、第８図のフローチャートを
参照して説明される。工程80では、計測値P1,P2,P3だ取
りあげられる。工程81では、計測値P1は、各硬貨に対す
る領域範囲WA1,WB1,……等の各々と比較される。特性計
測値は、更に、本物でない許容領域RNの特性値P1に対す
る上限値と下限値を限定する領域WN1と比較される。領
域WN1は、本物の硬貨の金種区分に対する上限値と下限
値と同様にPROM10に記憶された上限値と下限値によって
限定されている。同様に、他の特性値に対する上限値と
下限値が、領域WN2とWN3を限定するために記憶されてい
る。
参照して説明される。工程80では、計測値P1,P2,P3だ取
りあげられる。工程81では、計測値P1は、各硬貨に対す
る領域範囲WA1,WB1,……等の各々と比較される。特性計
測値は、更に、本物でない許容領域RNの特性値P1に対す
る上限値と下限値を限定する領域WN1と比較される。領
域WN1は、本物の硬貨の金種区分に対する上限値と下限
値と同様にPROM10に記憶された上限値と下限値によって
限定されている。同様に、他の特性値に対する上限値と
下限値が、領域WN2とWN3を限定するために記憶されてい
る。
工程81の経過中に、もし特性計測値P1が各領域WA1,W
B1,……又はWN1のいずれかに入っていることがわかれ
ば、次に、関連フラグFA1,FB1,……FN1が設定される。
そうでなければ、関連フラグは、クリアーされた状態の
ままとなっている。
B1,……又はWN1のいずれかに入っていることがわかれ
ば、次に、関連フラグFA1,FB1,……FN1が設定される。
そうでなければ、関連フラグは、クリアーされた状態の
ままとなっている。
工程82で、特性計測値P2は、各フラグFA2,FB2,……F
N2の状態を制御するために各領域WA2,WB2,……WN2と比
較される。
N2の状態を制御するために各領域WA2,WB2,……WN2と比
較される。
同様に工程83で、特性計測値P3は、各フラグFA3,FB3,
……FN3の状態を制御するために各領域範囲WA3,WB3,…
…WN3と比較される。
……FN3の状態を制御するために各領域範囲WA3,WB3,…
…WN3と比較される。
工程84では、フラグFN1,FN2とFN3の状態がチェックさ
れる。もし、全てが設定されると、これは、特性値が領
域RN内に入っていることがわかり、また挿入されたもの
が本物でない硬貨として拒絶されるようにする工程85に
プログラムが進行することを示している。そうでなけれ
ば、プログラムは、計測された特性値が本物の硬貨の領
域内に入るかどうかをチェックするように進行する。先
ず、工程86では、フラグFA1,FA2,FA3がチェックされ
る。もし全てが設定されれば、これは、特性値が領域RA
（オーバラップ領域rAを排除している）以内に入ってい
るのが判っておりまた金種区分Ａの本物硬貨を表示して
いる信号が発せられる工程87にプログラムが進行するこ
とを示している。そうでなければ、プログラムは、同様
な方法で金種区分Ｂの硬貨に対してチェックするために
工程88に進む。もし特性値が各許容領域RB内に入ってい
れば、適切な信号が工程89で発せられる。そうでなけれ
ば、プログラムは、金種区分Ｆの硬貨に対してチェック
する工程90にそれが到達するまで他の硬貨の金種区分を
チェックしつづける。もし特性値が各許容領域RF内に入
っているのが判れば、適切な信号が工程91で発せられ
る。そうでなければ、工程92では、プログラムは、挿入
されたものが拒絶されることになっていることを示して
いる信号を発生する。
れる。もし、全てが設定されると、これは、特性値が領
域RN内に入っていることがわかり、また挿入されたもの
が本物でない硬貨として拒絶されるようにする工程85に
プログラムが進行することを示している。そうでなけれ
ば、プログラムは、計測された特性値が本物の硬貨の領
域内に入るかどうかをチェックするように進行する。先
ず、工程86では、フラグFA1,FA2,FA3がチェックされ
る。もし全てが設定されれば、これは、特性値が領域RA
（オーバラップ領域rAを排除している）以内に入ってい
るのが判っておりまた金種区分Ａの本物硬貨を表示して
いる信号が発せられる工程87にプログラムが進行するこ
とを示している。そうでなければ、プログラムは、同様
な方法で金種区分Ｂの硬貨に対してチェックするために
工程88に進む。もし特性値が各許容領域RB内に入ってい
れば、適切な信号が工程89で発せられる。そうでなけれ
ば、プログラムは、金種区分Ｆの硬貨に対してチェック
する工程90にそれが到達するまで他の硬貨の金種区分を
チェックしつづける。もし特性値が各許容領域RF内に入
っているのが判れば、適切な信号が工程91で発せられ
る。そうでなければ、工程92では、プログラムは、挿入
されたものが拒絶されることになっていることを示して
いる信号を発生する。
もし必要とされるならば、同じ許容領域RA及び若しく
は他の許容領域RB,……RFにオーバラップする他の本物
でない硬貨領域RNを設けることができよう。適切なフラ
グが、工程81〜83において選択的に設定されよう。これ
らフラグの状態は、工程84における如くチェックされよ
う、またもしいずれかの特定の本物でない硬貨領域に対
する全てのフラグが設定されれば、プログラムは、拒絶
信号が工程85における如く発せられるようにする。
は他の許容領域RB,……RFにオーバラップする他の本物
でない硬貨領域RNを設けることができよう。適切なフラ
グが、工程81〜83において選択的に設定されよう。これ
らフラグの状態は、工程84における如くチェックされよ
う、またもしいずれかの特定の本物でない硬貨領域に対
する全てのフラグが設定されれば、プログラムは、拒絶
信号が工程85における如く発せられるようにする。
上記構成では、特性計測値は、領域RA等をチェックす
る前に本物でない硬貨の存在を決定するために領域RNと
比較される。しかし、もし必要とされるならば、プログ
ラムは、最初領域RA,RB等をチェックすることによって
在来の確認機として作動することができようし、またた
だもし許容可能な硬貨が見付かれば（又は多分ただも
し、特定金種区分の許容可能な硬貨が見出されれば）１
つ以上の領域RN内に特性値が入るかどうかをチェックす
る。
る前に本物でない硬貨の存在を決定するために領域RNと
比較される。しかし、もし必要とされるならば、プログ
ラムは、最初領域RA,RB等をチェックすることによって
在来の確認機として作動することができようし、またた
だもし許容可能な硬貨が見付かれば（又は多分ただも
し、特定金種区分の許容可能な硬貨が見出されれば）１
つ以上の領域RN内に特性値が入るかどうかをチェックす
る。
第８図の技法は、どの硬貨の金種区分が受取られてい
るかを決める前に全ての金種区分のための各領域に対し
て各特性計測値をチェックする工程を含んでいる点が注
目される。第５図及び第６図において、各計測値は、特
定金種区分用範囲に対してチェックされ、また他の金種
区分用範囲は、ただもし硬貨がその金種区分のテストに
失敗すればチェックされる。明らかに、各実施例はこれ
ら技法のいずれかを使用でき、又は、実際はもう一つ別
の作動シーケンスを使用できる。
るかを決める前に全ての金種区分のための各領域に対し
て各特性計測値をチェックする工程を含んでいる点が注
目される。第５図及び第６図において、各計測値は、特
定金種区分用範囲に対してチェックされ、また他の金種
区分用範囲は、ただもし硬貨がその金種区分のテストに
失敗すればチェックされる。明らかに、各実施例はこれ
ら技法のいずれかを使用でき、又は、実際はもう一つ別
の作動シーケンスを使用できる。
第９図は、本発明の更に別の実施例における許容可能
な領域RAを示している。許容領域RAは、一コーナにおい
てrAで表示された容積だけそれが減縮されている点を除
いて第１図に示されているものと同じである。容積r
Aは、領域RAとPLで示された平面との遮断によって限定
されている。
な領域RAを示している。許容領域RAは、一コーナにおい
てrAで表示された容積だけそれが減縮されている点を除
いて第１図に示されているものと同じである。容積r
Aは、領域RAとPLで示された平面との遮断によって限定
されている。
第９図に示されている許容領域を達成するための一つ
の可能な技法は、第10図を参照して説明される。工程10
0では、特性計測値P1,P2,P3が取りあげられる。工程102
では、プログラムは、次の条件がかなうかどうかを決め
るチェックを行う； C1P1＋C2P2＋C3P3＋C4０ そこで、C1,C2,C3及びC4は、確認機のメモリ（例え
ば、PROM10）に記憶された所定の係数である。もし条件
が合わなかったならば、これは、特性計測値が第９図に
示されている平面PLの側S1上に配置された点を限定し、
従って、特性計測値が従来の方法で硬貨の金種区分B,C,
等用許容領域に対してチェックされる工程104へプログ
ラムが進行することを示している。そうでなければ、プ
ログラムは、特性計測値が通常の方法で許容領域RAと比
較される工程105へ進む。この工程は、ただ単にもし特
性計測値が平面PLの側S2上に在れば到達されることにな
る。もし計測値が、領域RA内に入っていることが判れ
ば、金種区分Ａの本物の硬貨の受取りを表示する信号が
発せられる工程106にプログラムが進む。そうでなけれ
ば、プログラムは、他の金種区分に対してチェックする
ために工程104へ進む。
の可能な技法は、第10図を参照して説明される。工程10
0では、特性計測値P1,P2,P3が取りあげられる。工程102
では、プログラムは、次の条件がかなうかどうかを決め
るチェックを行う； C1P1＋C2P2＋C3P3＋C4０ そこで、C1,C2,C3及びC4は、確認機のメモリ（例え
ば、PROM10）に記憶された所定の係数である。もし条件
が合わなかったならば、これは、特性計測値が第９図に
示されている平面PLの側S1上に配置された点を限定し、
従って、特性計測値が従来の方法で硬貨の金種区分B,C,
等用許容領域に対してチェックされる工程104へプログ
ラムが進行することを示している。そうでなければ、プ
ログラムは、特性計測値が通常の方法で許容領域RAと比
較される工程105へ進む。この工程は、ただ単にもし特
性計測値が平面PLの側S2上に在れば到達されることにな
る。もし計測値が、領域RA内に入っていることが判れ
ば、金種区分Ａの本物の硬貨の受取りを表示する信号が
発せられる工程106にプログラムが進む。そうでなけれ
ば、プログラムは、他の金種区分に対してチェックする
ために工程104へ進む。
上で与えられた例では、未変更の許容領域RAにおける
減縮部rAは、一コーナに又は領域RAのエッジに沿って配
置されている。これは不可欠なものではない。或る状況
では、領域rAを領域RAの中心により近く又はその表面の
中心に向って配置することが望ましい場合もある。例え
ば、第１図を参照すると、減縮領域rAは、領域RAを限定
する表面の一つの中心に沿って伸びる樋の形とすること
ができよう。これは、テストされるときに確認機内での
向きに依存して、例えば硬貨がその『頭』側を左又は右
にして挿入されているかどうかに依存して、異なった計
測値を発生する硬貨を確認するのに役立つであろう。そ
のような計測値は、向きに依存して１つ又は２つの主要
域にグループ化され、その結果中央領域に入っているの
が判っている特性値は、テストされたものが本物であり
そうもないことを示すことになる。
減縮部rAは、一コーナに又は領域RAのエッジに沿って配
置されている。これは不可欠なものではない。或る状況
では、領域rAを領域RAの中心により近く又はその表面の
中心に向って配置することが望ましい場合もある。例え
ば、第１図を参照すると、減縮領域rAは、領域RAを限定
する表面の一つの中心に沿って伸びる樋の形とすること
ができよう。これは、テストされるときに確認機内での
向きに依存して、例えば硬貨がその『頭』側を左又は右
にして挿入されているかどうかに依存して、異なった計
測値を発生する硬貨を確認するのに役立つであろう。そ
のような計測値は、向きに依存して１つ又は２つの主要
域にグループ化され、その結果中央領域に入っているの
が判っている特性値は、テストされたものが本物であり
そうもないことを示すことになる。
全ての上記実施例では、許容領域RAの境界は平面とな
っている。それらは、どんな形状でもよいと思われる。
このことは、第７図と第８図の実施例における如く、使
われるいずれの非許容領域RNにも当てはまる。第９図と
第10図の実施例では、工程102で非線形等式を使用する
ことによって非平面境界が達成され得よう。例えば、第
13図及び第14図は工程102にて非直線性等式を使用して
達成され得る非平面境界を示す。他の可能な等式の例
は； C1P1＋C2P2＋C3P3＋C4＋C5＝P1 2０ P1P2≦Ｋ そこで、C1〜C5とＫとは、所定の値となっていて、そ
の結果第13図及び第14図の各々に示される許容領域RAが
生じる。
っている。それらは、どんな形状でもよいと思われる。
このことは、第７図と第８図の実施例における如く、使
われるいずれの非許容領域RNにも当てはまる。第９図と
第10図の実施例では、工程102で非線形等式を使用する
ことによって非平面境界が達成され得よう。例えば、第
13図及び第14図は工程102にて非直線性等式を使用して
達成され得る非平面境界を示す。他の可能な等式の例
は； C1P1＋C2P2＋C3P3＋C4＋C5＝P1 2０ P1P2≦Ｋ そこで、C1〜C5とＫとは、所定の値となっていて、そ
の結果第13図及び第14図の各々に示される許容領域RAが
生じる。
明らかに、２つ以上のそのような等式が使用される。
説明した実施例のいずれかにおいても必要なだけ多く
の硬貨の許容領域RA,RB,……RFを第１図に示されている
一般的な形から変更することが可能である。更に、許容
領域のいずれも１つより多い容積rAだけ減縮され得る。
未変更許容領域RAがその一コーナーにおいて、領域rAだ
け減縮されている第４図の例では、別の位置に配置され
た他の容積だけ更にそれは減縮され得よう。同様に第７
図では、異った位置で許容領域RAにオーバラップする他
の本物でない硬貨領域RNが設けられ、又第９図において
付加的な非許容領域rAを限定するために他の面が許容領
域RAを遮断できるように構成される。
の硬貨の許容領域RA,RB,……RFを第１図に示されている
一般的な形から変更することが可能である。更に、許容
領域のいずれも１つより多い容積rAだけ減縮され得る。
未変更許容領域RAがその一コーナーにおいて、領域rAだ
け減縮されている第４図の例では、別の位置に配置され
た他の容積だけ更にそれは減縮され得よう。同様に第７
図では、異った位置で許容領域RAにオーバラップする他
の本物でない硬貨領域RNが設けられ、又第９図において
付加的な非許容領域rAを限定するために他の面が許容領
域RAを遮断できるように構成される。
上記実施例では、効果的な許容領域はその領域におけ
る減縮部rAを代表する付加パラメータと共に複数組の領
域（未変更領域RAを表わしている）によって限定されて
いる。しかし未変更領域の限界値が使われることは不可
欠なものではない。代りに全体の効果的な許容領域R
Aは、例えば第９図と第10図の実施例で使われたものの
ような公式によって限定され得る。
る減縮部rAを代表する付加パラメータと共に複数組の領
域（未変更領域RAを表わしている）によって限定されて
いる。しかし未変更領域の限界値が使われることは不可
欠なものではない。代りに全体の効果的な許容領域R
Aは、例えば第９図と第10図の実施例で使われたものの
ような公式によって限定され得る。
この一例について、第11図と第12図を参照にして説明
される。第11図を参照にすると、これは、同じ確認機を
通過する同じ種類の複数の硬貨の２つの計測値の分布を
示している。計測値M1,M2は、第11図のグラフの各軸線
によって表わされている。Ｉは、無効計測値、即わち何
も硬貨が確認機に存在していない時に得られる値M1,M2
を表わしている。点Ｐは、各硬貨の計測値を表わしてい
る。点の位置は実質的に変わるとは云え、それらは、ラ
インL1の周りとラインL2,L3によって境界された領域内
に全てグループ化されている。このグループ化は、計測
値M1,M2で計測された特性値間の関係に依るものであ
り、又はまさしく、統計学的分析の経験的に観察された
結果となり得る。
される。第11図を参照にすると、これは、同じ確認機を
通過する同じ種類の複数の硬貨の２つの計測値の分布を
示している。計測値M1,M2は、第11図のグラフの各軸線
によって表わされている。Ｉは、無効計測値、即わち何
も硬貨が確認機に存在していない時に得られる値M1,M2
を表わしている。点Ｐは、各硬貨の計測値を表わしてい
る。点の位置は実質的に変わるとは云え、それらは、ラ
インL1の周りとラインL2,L3によって境界された領域内
に全てグループ化されている。このグループ化は、計測
値M1,M2で計測された特性値間の関係に依るものであ
り、又はまさしく、統計学的分析の経験的に観察された
結果となり得る。
従って、硬貨の計測値M1,M2が境界L2,L3以内に入って
いるかどうかを決めることによって本物の硬貨の存在を
テストすることが可能である。本実施例では、これは、
計測値M1がその計測の無効値を越した量をP1が表わし且
つM2が無効値より下に成る量をP2が表わすように更に別
の計測値P1,P2を計算することによって行われる。次の
テストが、次いで実施される； LLP2/P1UL そこで、LLとULは、ラインL3,L2に対応して各々予か
じめ決められた下限値と上限値である。
いるかどうかを決めることによって本物の硬貨の存在を
テストすることが可能である。本実施例では、これは、
計測値M1がその計測の無効値を越した量をP1が表わし且
つM2が無効値より下に成る量をP2が表わすように更に別
の計測値P1,P2を計算することによって行われる。次の
テストが、次いで実施される； LLP2/P1UL そこで、LLとULは、ラインL3,L2に対応して各々予か
じめ決められた下限値と上限値である。
これは、第12図に示されている傾斜ライン間の面域を
占める許容領域RAに帰結する。この構成は、P1とP2の絶
対値に何んら限界を与えるものではない。実際には、例
えば P1LP1P1Uに対してテストすることによってそのよ
うな限界を課すことは望ましい。そこで、P1LとP1Uは、
各々下方と上方の所定限界値である。これは、第12図に
おいてハッチング領域だけ占める許容領域RAに帰結す
る。
占める許容領域RAに帰結する。この構成は、P1とP2の絶
対値に何んら限界を与えるものではない。実際には、例
えば P1LP1P1Uに対してテストすることによってそのよ
うな限界を課すことは望ましい。そこで、P1LとP1Uは、
各々下方と上方の所定限界値である。これは、第12図に
おいてハッチング領域だけ占める許容領域RAに帰結す
る。
この技法を実施するために使われる工程は帰結値が領
域限界値に対してチェックされる前に実施されるP2/P1
の計算を除いて、確認機で従来より使われて来たものに
対応できると云うことが理解されよう。
域限界値に対してチェックされる前に実施されるP2/P1
の計算を除いて、確認機で従来より使われて来たものに
対応できると云うことが理解されよう。
領域又は範囲に対する本明細書に渡る基準は、０の下
限値で又は∽の上限値で範囲を取囲むように意図されて
いる。即わち、特性計測値は、それが特定値より上に
（又は下に）在るかどうかを単に決めることで関連した
範囲内に入っていると見なされる。第７図及び第８図の
実施例では、これは更に、本物でない硬貨の範囲RNにも
当てはまる。プログラムは、ただ単にもし特性計測値が
（領域rAを含んでいる）領域RA内に入っていることが既
に判っていれば、範囲RNに対してそれら計測値がチェッ
クされるように作動する構成とされる。これらの状況下
では、第７図に示されている許容領域RNを限定する領域
の上限値は、値が無く、従って領域RNを限定する領域
は、無限に及ぶものと考えられる。
限値で又は∽の上限値で範囲を取囲むように意図されて
いる。即わち、特性計測値は、それが特定値より上に
（又は下に）在るかどうかを単に決めることで関連した
範囲内に入っていると見なされる。第７図及び第８図の
実施例では、これは更に、本物でない硬貨の範囲RNにも
当てはまる。プログラムは、ただ単にもし特性計測値が
（領域rAを含んでいる）領域RA内に入っていることが既
に判っていれば、範囲RNに対してそれら計測値がチェッ
クされるように作動する構成とされる。これらの状況下
では、第７図に示されている許容領域RNを限定する領域
の上限値は、値が無く、従って領域RNを限定する領域
は、無限に及ぶものと考えられる。
ここでの硬貨に対する基準は、更にチップや他の硬貨
状のものも包含するものである。
状のものも包含するものである。
以上の説明は、硬貨確認の分野に関すると云え、その
技法は銀行券確認に同様に適用できるものと思われる。
技法は銀行券確認に同様に適用できるものと思われる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭54−126100（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−108185（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G07F 3/02
Claims (38)
- 【請求項１】第１及び第２の異なるセンサの各々から、
テストされるコインの異なる物理的特性の各々の少なく
とも第１及び第２の計測値を引き出し、該第１及び第２
の計測値が特定のコインの種類に関連した第１及び第２
の範囲内の各々にあるかどうかを決定し、そして全ての
計測値がその種類の各々の範囲内にあるならば、その種
類のコインがテストされたことを示す信号を生成するコ
インを確認する方法であって、該コインの種類の少なく
とも第１の範囲は、該第１及び第２の範囲が非平面境界
を有する許容領域を規定する態様で、少なくとも第２の
範囲に依存して変化することを特徴とする方法。 - 【請求項２】請求項１の方法において、コインが計測さ
れているとき、該第１及び第２の計測値の少なくとも１
つは各パラメータのアイドリング値からパラメータ値へ
の変化を示す方法。 - 【請求項３】請求項１の方法において、該第１及び第２
の非直線性関数である値を引き出し、そして該値が許容
基準に合致するかどうかをテストすることを含む方法。 - 【請求項４】請求項１の方法において、許容領域全体
は、第１及び第２の非直線性関数によって規定される方
法。 - 【請求項５】請求項１の方法において、第１及び第２の
計測値は磁界におけるコインの作用に関する方法。 - 【請求項６】請求項１の方法において、該第１及び第２
の計測値は実質的に独立している方法。 - 【請求項７】請求項１の方法において、許容領域が、該
第１及び第２の計測値の組合せによって規定される、該
特定のコインの種類の有効なコインが対応しそうな点を
含み、そして無効なコインが比較的対応しそうもなくま
た有効なコインが比較的対応しそうもない隣接する該点
を含まないように形成される方法。 - 【請求項８】コインをテストしかつ該コインの異なる物
理的特性の少なくとも第１及び第２の計測値の各々を引
き出す第１及び第２のセンサ手段と、 第１及び第２の計測値の各々が第１及び第２の範囲内に
あるかどうかを決定する手段と、 第１及び第２の計測値がそれぞれ第１及び第２の範囲内
にあるという判定に応答して特定種類のコインがテスト
されたことを示す信号を生成する手段とを備え、 決定手段は、第１の範囲が少なくとも第２の計測値に依
存しかつ範囲が非平面境界を有する許容領域を規定する
ように配置されることを特徴とする装置。 - 【請求項９】請求項８の装置において、コインが計測さ
れているとき、該第１及び第２の計測値の少なくとも１
つは各パラメータのアイドリング値からパラメータ値へ
の変化を示す装置。 - 【請求項１０】請求項８の装置において、決定手段は、
該第１及び第２の計測値の非直線性関数である値を引き
出し、そして該値が許容基準に見合うかどうかをテスト
するよう配置される装置。 - 【請求項１１】請求項８の装置において、許容領域全体
は、第１及び第２の計測値の非直線性関数によって規定
される装置。 - 【請求項１２】請求項８の装置において、引き出し手段
は磁界におけるコインの作用に関係する装置。 - 【請求項１３】請求項８の装置において、許容領域が該
第１及び第２の計測値の組合せによって規定される、該
特定のコインの種類の有効なコインが対応しそうな点を
含み、そして無効なコインが比較的対応しそうでありま
た有効なコインが比較的対応しそうもない、該点に隣接
する部分を除くように形成される装置。 - 【請求項１４】コインを検知しかつ少なくとも第１及び
第２の異なるコイン計測値を生成するセンサ手段と、 該第１及び第２の計測値によって表される軸によって規
定される座標系において許容領域を規定するデータを特
定のコインの種類に対して記憶するメモリ手段とを備え
るコイン確認装置であって、該許容領域は直線で囲まれ
た境界によって規定されかつ第２の計測値を表す軸に沿
う第１の計測値及びその逆の第１及び第２の異なる有効
範囲を含むよう形成されており、第１の有効範囲は該特
定の種類の有効なコインに対応しそうな計測値の範囲か
らなり、各第１の有効範囲は対応する第２の有効範囲を
越えて延びており、該許容領域は、第１の計測値に対す
る第２の有効範囲が第２の計測値に対する第１の有効範
囲に一致する領域と第２の計測値に対する第２の有効範
囲が第１の計測値に対する第１の有効範囲に一致する領
域とを含んでおり、そして第１の有効範囲内でかつ第２
の有効範囲外にある直線で囲まれた除外領域を除いてお
り、そして該装置は、 該第１及び第２の計測値が該許容領域内の点を規定する
かどうかを決定しかつ該第１及び第２の計測値が該許容
領域内にある点を規定するとき、該特定種類に対応する
としてコインを許容しそして該第１及び第２の計測値が
該許容領域外にある点を規定するとき、該特定種類に対
応しないとして該コインを扱う手段を備えることを特徴
とする装置。 - 【請求項１５】請求項14の装置において、直線で囲まれ
る除外領域は、該特定種類の有効なコインが対応しそう
もない該第１及び第２の計測値の組合せによって規定さ
れる点からなる装置。 - 【請求項１６】請求項14の装置において、直線で囲まれ
る除外領域は、該特定種類の無効なコインが対応しそう
な該第１及び第２の計測値の組合せによって規定される
点からなる装置。 - 【請求項１７】請求項14の装置において、該直線で囲ま
れる除外領域は、該許容領域のコーナに配置される装
置。 - 【請求項１８】請求項14の装置において、該直線で囲ま
れる除外領域は、該許容領域のエッジに配置される装
置。 - 【請求項１９】請求項14の装置において、該メモリ手段
は、複数の異なるコインに対応する複数の許容領域を規
定するためのデータを記憶する装置。 - 【請求項２０】請求項14の装置において、該メモリ手段
は、該第１及び第２のコイン計測値毎に該第１及び第２
の有効範囲を規定するためのデータを記憶する装置。 - 【請求項２１】請求項20の装置において、メモリ手段
は、各該有効範囲を表すために上限値及び下限値を記憶
する装置。 - 【請求項２２】請求項14の装置において、決定手段は、
該第１の計測値がその各第１の有効範囲にありかつ第２
の計測値がその各第２の有効範囲にあるか、第１の計測
値がその第２の有効範囲にありかつ第２の計測値がその
各第１の有効範囲にあるかどうかを決定することによっ
て、該第１及び第２の計測値は該許容範囲内の点を規定
するかどうかを決定するよう配置される装置。 - 【請求項２３】請求項14の装置において、該センサ手段
は複数の誘導コイルからなる装置。 - 【請求項２４】請求項14の装置において、該メモリ手段
はプログラム可能読み出し専用メモリ（PROM）からなる
装置。 - 【請求項２５】請求項14の装置において、該第１及び第
２の計測値は実質的に独立している装置。 - 【請求項２６】請求項14の装置において、コインが計測
されているとき、該第１及び第２の計測値の少なくとも
１つは各パラメータのアイドリング値からパラメータ値
への変化を示す装置。 - 【請求項２７】請求項14の装置において、該第１及び第
２の計測値は、テストされるコインの導電率、厚さ及び
直径の群から選択される各特性の少なくとも主な計測値
である装置。 - 【請求項２８】請求項14の装置において、テストされる
コインの導電率、厚さ及び直径の主な計測値である第
１、第２及び第３の計測値を引き出すことを含む装置。 - 【請求項２９】テストされるコインの少なくとも第１及
び第２の異なる物理的特性を引き出し、計測値が、該第
１及び第２の計測値を表す軸によって規定される座標系
において特定種類のコインに対応する許容領域内の点を
規定するかどうかを決定し、点が許容領域内にあるなら
ば、その種類のコインがテストされたことを示す信号を
生成し、該許容領域が直線で囲まれる境界によって規定
されおり、また第２の計測値を表す軸に沿う第２の計測
値及びその逆の第１及び第２の有効範囲を含むように形
成されており、第１の有効範囲は、該特定種類の有効な
コインに対応しそうである計測値の範囲からなり、各第
１の有効な範囲は対応する第２の有効な範囲を越えて延
びており、該許容領域は、第１の計測値に対する第２の
有効な範囲が第２の計測値に対する第１の有効な範囲に
一致する領域と第２の計測値に対する第２の有効な範囲
が第１の計測値に対する第１の有効な範囲に一致する領
域とを含んでおり、第１の有効範囲内及び第２の有効範
囲外にある直線で囲まれる除外領域を除いていることを
特徴とする装置。 - 【請求項３０】請求項29の装置において、直線で囲まれ
る除外領域は、該特定種類の有効なコインが対応しそう
もない該第１及び第２の計測値の組合せによって規定さ
れる点からなる装置。 - 【請求項３１】請求項29の装置において、直線で囲まれ
る除外領域は、該特定種類の無効なコインが対応しそう
な該第１及び第２の計測値の組合せによって規定される
点からなる装置。 - 【請求項３２】請求項29の装置において、該直線で囲ま
れる除外領域は、該許容領域のコーナに配置される装
置。 - 【請求項３３】請求項29の装置において、該直線で囲ま
れる除外領域は、該許容領域のエッジに配置される装
置。 - 【請求項３４】請求項29の装置において、該点が複数の
異なるコインに対応する複数の記憶された許容領域の１
つにあることを決定することを含む装置。 - 【請求項３５】請求項29の装置において、該第１及び第
２の計測値は実質的に独立している装置。 - 【請求項３６】請求項29の装置において、コインが計測
されているとき、該第１及び第２の計測値の少なくとも
１つは各パラメータのアイドリング値からパラメータ値
への変化を示す装置。 - 【請求項３７】請求項29の装置において、該第１及び第
２の計測値は、テストされるコインの導電率、厚さ及び
直径の群から選択される各特性の少なくとも主な計測値
である装置。 - 【請求項３８】請求項29の装置において、テストされる
コインの導電率、厚さ及び直径の主な計測値である第
１、第２及び第３の計測値を引き出すことを含む装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8923456.1 | 1989-10-18 | ||
| GB8923456A GB2238152B (en) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | Method and apparatus for validating coins |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05501319A JPH05501319A (ja) | 1993-03-11 |
| JP2962576B2 true JP2962576B2 (ja) | 1999-10-12 |
Family
ID=10664765
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2513968A Expired - Fee Related JP2962576B2 (ja) | 1989-10-18 | 1990-10-15 | 貨幣を確認する方法と装置 |
Country Status (14)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5984074A (ja) |
| EP (2) | EP0708420B1 (ja) |
| JP (1) | JP2962576B2 (ja) |
| KR (1) | KR960001452B1 (ja) |
| AT (1) | ATE141702T1 (ja) |
| AU (1) | AU654263B2 (ja) |
| BR (1) | BR9007788A (ja) |
| CA (1) | CA2067823C (ja) |
| DE (2) | DE69028209T3 (ja) |
| ES (2) | ES2090142T5 (ja) |
| GB (2) | GB2238152B (ja) |
| HU (1) | HUT61413A (ja) |
| IE (1) | IE903708A1 (ja) |
| WO (1) | WO1991006074A1 (ja) |
Families Citing this family (32)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5167313A (en) * | 1990-10-10 | 1992-12-01 | Mars Incorporated | Method and apparatus for improved coin, bill and other currency acceptance and slug or counterfeit rejection |
| CA2052304C (en) * | 1991-03-27 | 1997-04-01 | Osamu Sugimoto | Methods and apparatus for discriminating between true and false coins or the like |
| JP2948035B2 (ja) * | 1992-11-11 | 1999-09-13 | 株式会社日本コンラックス | コインの判別方法および判別装置 |
| CH684856A5 (de) * | 1992-11-30 | 1995-01-13 | Mars Inc | Verfahren zur Klassifizierung eines Musters - insbesondere eines Musters einer Banknote oder einer Münze - und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens. |
| WO1995027953A1 (fr) * | 1994-04-12 | 1995-10-19 | Thomas Anatolievich Dozorov | Technique d'identification d'objets trouves |
| JP3366438B2 (ja) * | 1994-05-25 | 2003-01-14 | 東洋通信機株式会社 | 紙葉類の種類識別方法 |
| GB9419912D0 (en) * | 1994-10-03 | 1994-11-16 | Coin Controls | Optical coin sensing station |
| US5931277A (en) * | 1995-05-09 | 1999-08-03 | Mars, Incorporated | Money validation system using acceptance criteria |
| DE19524963A1 (de) * | 1995-07-08 | 1997-01-09 | Bosch Gmbh Robert | Schaltnetzteil mit B-Steuerung |
| US6053300A (en) * | 1995-07-14 | 2000-04-25 | Coins Controls Ltd. | Apparatus and method for determining the validity of a coin |
| GB9601335D0 (en) | 1996-01-23 | 1996-03-27 | Coin Controls | Coin validator |
| GB9611659D0 (en) | 1996-06-05 | 1996-08-07 | Coin Controls | Coin validator calibration |
| GB2323199B (en) | 1997-02-24 | 2000-12-20 | Mars Inc | Method and apparatus for validating coins |
| GB2323200B (en) | 1997-02-24 | 2001-02-28 | Mars Inc | Coin validator |
| US6078683A (en) * | 1997-11-20 | 2000-06-20 | De La Rue, Inc. | Method and system for recognition of currency by denomination |
| GB2331828B (en) | 1997-11-28 | 2001-08-08 | Mars Inc | Currency validation apparatus and method |
| GB2326964B (en) | 1998-03-23 | 1999-06-16 | Coin Controls | Coin changer |
| GB2339316A (en) | 1998-07-09 | 2000-01-19 | Mars Inc | Coin validators |
| GB2341263B (en) | 1998-08-14 | 2002-12-18 | Mars Inc | Method and apparatus for validating currency |
| AU6359799A (en) | 1998-10-29 | 2000-05-22 | De La Rue International Limited | Method and system for recognition of currency by denomination |
| GB2345372B (en) | 1998-12-30 | 2003-04-16 | Mars Inc | Method and apparatus for validating coins |
| GB2348729A (en) | 1999-04-07 | 2000-10-11 | Mars Inc | A money validator reprogrammable using externally recieved data |
| ES2280179T3 (es) | 2000-12-15 | 2007-09-16 | Mei, Inc. | Dispositivo para la validacion de dinero. |
| EP1324281A1 (en) * | 2001-12-28 | 2003-07-02 | Mars, Incorporated | Method and apparatus for classifying currency articles |
| EP1324280A1 (en) * | 2001-12-28 | 2003-07-02 | Mars Incorporated | Method and apparatus for classifying currency articles |
| ES2317879T3 (es) * | 2001-12-28 | 2009-05-01 | Mei, Inc. | Metodo y aparato para clasificar dinero. |
| DE10222771A1 (de) * | 2002-05-16 | 2003-12-04 | Walter Hanke Mech Werkstaetten | Verfahren und optische Meßeinrichtung zum Prüfen von Münzen oder münzähnlichen Gegenständen |
| US7381126B2 (en) | 2003-11-03 | 2008-06-03 | Coin Acceptors, Inc. | Coin payout device |
| GB0406105D0 (en) | 2004-03-18 | 2004-04-21 | Ncr Int Inc | A self-service terminal |
| US9036890B2 (en) | 2012-06-05 | 2015-05-19 | Outerwall Inc. | Optical coin discrimination systems and methods for use with consumer-operated kiosks and the like |
| US8739955B1 (en) * | 2013-03-11 | 2014-06-03 | Outerwall Inc. | Discriminant verification systems and methods for use in coin discrimination |
| US9443367B2 (en) | 2014-01-17 | 2016-09-13 | Outerwall Inc. | Digital image coin discrimination for use with consumer-operated kiosks and the like |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2012376C3 (de) * | 1970-03-16 | 1975-04-30 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Schaltungsanordnung zum Unterscheiden zwischen unterschiedlichen metallischen Gegenständen, insbesondere Münzen |
| BE774761A (fr) * | 1970-11-02 | 1972-02-14 | Prumm Georg J | Procede et appareil pour la verification electronique des pieces de monnaie |
| BE787128A (fr) * | 1971-08-16 | 1972-12-01 | Mars Inc | Discriminateur de pieces de monnaie |
| FR2359468A2 (fr) * | 1976-07-23 | 1978-02-17 | Crouzet Sa | Nouveau selecteur de pieces de monnaie pour distributeurs automatiques |
| DE2646025A1 (de) † | 1976-10-12 | 1978-04-13 | Siemens Ag | Elektronische muenzpruefung mit mathematisch definierten annahmebereichen |
| US4349095A (en) * | 1977-02-19 | 1982-09-14 | P A Management Consultants Limited | Coin discriminating apparatus |
| GB2020469B (en) * | 1978-02-18 | 1982-07-07 | Pa Management Consult | Coin discriminating apparatus |
| CH634411A5 (en) * | 1978-10-10 | 1983-01-31 | Sodeco Compteurs De Geneve | Method for determining suitable optical wavelengths, for distinguishing test objects optically, and appliance required therefor and application of the method |
| GB2094008B (en) * | 1981-02-11 | 1985-02-13 | Mars Inc | Improvements in and relating to apparatus for checking the validity of coins |
| GB2118344A (en) * | 1982-02-12 | 1983-10-26 | Mars Inc | Coin testing apparatus |
| JPS5927383A (ja) * | 1982-08-06 | 1984-02-13 | 株式会社ユニバ−サル | 学習式硬貨等の選別装置 |
| ZA851248B (en) | 1984-03-01 | 1985-11-27 | Mars Inc | Self tuning coin recognition system |
| GB8511163D0 (en) * | 1985-05-02 | 1985-06-12 | Howells G | Coin handling apparatus |
| US4705154A (en) * | 1985-05-17 | 1987-11-10 | Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. | Coin selection apparatus |
| US4895238A (en) * | 1987-04-16 | 1990-01-23 | Pom, Incorporated | Coin discriminator for electronic parking meter |
| DK546087A (da) * | 1987-10-19 | 1989-04-20 | Gn Telematic A S | Fremgangsmaade og apparat til undersoegelse af moenter |
| JPH0786939B2 (ja) * | 1988-05-27 | 1995-09-20 | 株式会社日本コンラックス | 硬貨識別装置 |
| CH676162A5 (ja) * | 1988-11-07 | 1990-12-14 | Ascom Autelca Ag | |
| IT1232019B (it) * | 1989-02-23 | 1992-01-23 | Urmet Spa | Perfezionamento ai selezionatori di monete |
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