JP2954193B1 - 出力バッファ回路 - Google Patents

出力バッファ回路

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JP2954193B1 JP10263219A JP26321998A JP2954193B1 JP 2954193 B1 JP2954193 B1 JP 2954193B1 JP 10263219 A JP10263219 A JP 10263219A JP 26321998 A JP26321998 A JP 26321998A JP 2954193 B1 JP2954193 B1 JP 2954193B1
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Abstract

【要約】 【課題】 ノイズを抑制し、かつ、出力のスピードを速
くする。 【解決手段】 本発明は、トランスファゲート1と、こ
れのソースにドレインが接続されたトランスファゲート
2と、トランスファゲート1、2のゲートにそれぞれ抵
抗3、4を介して接続され出力信号を入力端子で受けて
この出力信号を選択的にトランスファゲート1、2のゲ
ートに与えるゲート回路5と、トランスファゲート1、
2の接続点に接続されているデータ出力線6と、共通放
電線12と、データ出力線6に保持されるN−1回目の
出力データの電圧レベルとゲート回路5の入力端子にお
けるN回目の出力信号の電圧レベルを比較してこれらの
電圧レベルの差がある時に電圧レベル差検出信号を発生
する比較検出回路と、電圧レベル差検出信号を受けた時
にのみデータ出力線6と共通放電線12とを接続する接
続回路とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置等にお
いてデータを出力する出力バッファ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の出力バッファ回路として図7に示
すものが知られている。この従来の出力バッファ回路
は、Pチャネル形のトランスファゲート101と、トラ
ンスファゲート101のソースにドレインが接続された
Nチャネル形のトランスファゲート102と、トランス
ファゲート101、102のゲートにそれぞれ抵抗10
3、104を介して接続され出力信号を入力端子で受け
てこの出力信号を選択的にトランスファゲート101、
102のゲートに与えるゲート回路105と、トランス
ファゲート101、102の接続点に接続されているデ
ータ出力線106とを有している。
【0003】ゲート回路105は、NAND回路107
と、NOR回路108と、インバータ109とを有して
いる。NAND回路107の出力端子は、トランスファ
ゲート101のゲートに接続されている。NAND回路
107は、出力信号としてのSA出力信号およびクロッ
ク信号を受ける。NOR回路108の出力端子は、トラ
ンスファゲート102のゲートに接続されている。NO
R回路108は、出力信号としてのSA出力信号を受け
るとともにクロック信号をインバータ109を介して受
ける。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
出力バッファ回路は、トライステートタイプでありデー
タを読み出す直前の状態はN−1回目の出力信号(デー
タ)を保持した状態でHi−Zとなっているため、N回
目の出力信号が反転する場合には出力波形をフルスイン
グさせなければならない。この際に、従来の出力バッフ
ァ回路は、最終段のスイッチングのときの電流変化率
(di/dt)が大きいとノイズを発生してしまうた
め、第1および第2のトランスファゲート101、10
2のゲートにそれぞれ抵抗103、104を接続するこ
とでノイズの発生を極力抑えていた。このことにより、
従来の出力バッファ回路においては、ある程度ノイズは
抑制できるが出力のスピードが遅いという問題がある。
【0005】本発明の目的は、ノイズを抑制することが
でき、かつ、出力のスピードを速くすることができる出
力バッファ回路を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の第1のものは、第1のトランスファゲート
と、第1のトランスファゲートのソースにドレインが接
続された第2のトランスファゲートと、第1および第2
のトランスファゲートのゲートにそれぞれ抵抗を介して
接続され出力信号を入力端子で受けて出力信号を選択的
に第1および第2のトランスファゲートのゲートに与え
るゲート回路と、第1および第2のトランスファゲート
の接続点に接続されているデータ出力線と、共通放電線
と、データ出力線に保持されるN−1回目の出力データ
の電圧レベルとゲート回路の入力端子におけるN回目の
出力信号の電圧レベルを比較してこれらの電圧レベルの
差がある時に電圧レベル差検出信号を発生する比較検出
手段と、比較検出手段の電圧レベル差検出信号を受けた
時にのみデータ出力線と共通放電線とを接続する接続手
段とを有することを特徴とする。
【0007】本発明の第2のものは、第1のトランスフ
ァゲートと、第1のトランスファゲートのソースにドレ
インが接続された第2のトランスファゲートと、第1お
よび第2のトランスファゲートのゲートにそれぞれ抵抗
を介して接続され出力信号を入力端子で受けてこの出力
信号を選択的に第1および第2のトランスファゲートの
ゲートに与えるゲート回路と、第1および第2のトラン
スファゲートの接続点に接続されているデータ出力線
と、共通放電線と、データ出力線と共通放電線にそれぞ
れソースおよびドレインが接続された第3のトランスフ
ァゲートおよび第4のトランスファゲートと、データ出
力線に保持されるN−1回目の出力データの電圧レベル
が低いレベルでありゲート回路の入力端子におけるN回
目の出力信号の電圧レベルが高いレベルである時におい
てデータ出力線の電圧レベルが第1の基準電圧以下であ
る時間に第3のトランスファゲートを導通してデータ出
力線と共通放電線とを接続する第1の接続手段と、デー
タ出力線に保持されるN−1回目の出力データの電圧レ
ベルが高いレベルでありゲート回路の入力端子における
N回目の出力信号の電圧レベルが低いレベルである時に
おいてデータ出力線の電圧レベルが第1の基準電圧より
高い第2の基準電圧以上である時間に第4のトランスフ
ァゲートを導通してデータ出力線と共通放電線とを接続
する第2の接続手段とを有することを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。図1は、本発明の第1の実
施の形態としての出力バッファ回路BF1を示してい
る。本発明の第1の実施の形態としての出力バッファ回
路BF1は、Pチャネル形のトランスファゲートと1、
トランスファゲート1のソースにドレインが接続された
Nチャネル形のトランスファゲート2と、トランスファ
ゲート1、2のゲートにそれぞれ抵抗3、4を介して接
続され出力信号としてのSA出力信号を入力端子で受け
てこの出力信号を選択的にトランスファゲート1、2の
ゲートに与えるゲート回路5と、トランスファゲート
1、2の接続点に接続されているデータ出力線6とを有
している。
【0009】ゲート回路5は、NAND回路7と、NO
R回路8と、インバータ9を有している。NAND回路
7の出力端子は、トランスファゲート1のゲートに接続
されている。NAND回路7は、第1の入力端子で出力
信号としてのSA出力信号を受け、かつ、第2の入力端
子でクロック信号を受ける。NOR回路8の出力端子
は、トランスファゲート2のゲートに接続されている。
NOR回路8は、第1の入力端子でSA出力信号を受け
るとともに第2の入力端子でクロック信号をインバータ
9を介して受ける。
【0010】本発明の第1の実施の形態としての出力バ
ッファ回路は、さらにNチャネル形のトランスファゲー
ト10と、Pチャネル形のトランスファゲート11と、
共通放電線12と、インバータ13と、NAND回路1
4と、NOR回路15と、インバータ16と、インバー
タ17と、NOR回路18と、NAND回路19とを有
している。インバータ13は、閾値1(閾値1=VI
H)を有している。インバータ17は、閾値1より高い
閾値2(閾値2=VIL)を有している。共通放電線1
2は、2つのコンデンサ20、21との間に接続されて
いる。コンデンサ20は、静電容量C1を有し、電圧V
ccを供給する電源回路に接続されている。コンデンサ
21は、静電容量C2を有し、接地されている。
【0011】トランスファゲート10は、ドレインがデ
ータ出力線6に接続され、ソースが共通放電線12に接
続され、かつ、ゲートがNOR回路15の出力端子に接
続されている。トランスファゲート11は、ドレインが
データ出力線6に接続され、ソースが共通放電線12に
接続され、かつ、ゲートがNOR回路19の出力端子に
接続されている。
【0012】インバータ13は、データ出力線6とNA
ND回路14の第1の入力端子との間に接続されてい
る。NAND回路14の第2の入力端子は、NAND回
路7の第1の入力端子に接続され、SA出力信号を受け
る。NAND回路14の出力端子は、NOR回路15の
第1の入力端子に接続されている。NOR回路15の第
2の入力端子とNAND回路7の第1の入力端子との間
には、インバータ16が接続されている。NOR回路1
5の第2の入力端子は、インバータ16を介してクロッ
ク信号を受ける。インバータ17は、データ出力線6と
NOR回路18の第1の入力端子との間に接続されてい
る。NOR回路18の第2の入力端子は、NAND回路
7の第1の入力端子に接続され、SA出力信号を受け
る。NOR回路18の出力端子は、NAND回路19の
第1の入力端子に接続されている。NAND回路19の
第2の入力端子は、NAND回路7の第2の入力端子に
接続されている。NAND回路19の第2の入力端子
は、クロック信号を受ける。
【0013】図1の出力バッファ回路において、インバ
ータ13および17は、データ出力線6の出力信号を入
力として受ける。インバータ13は閾値1を有してい
る。N−1回目のSA出力信号の電圧レベルが低いレベ
ル(LOWレベル)であり、N回目のSA出力信号の電
圧レベルが高いレベル(HIGHレベル)となる時に、
インバータ13とNAND回路14とNOR回路15と
インバータ16とからなる回路は、データ出力線6の電
圧レベルがGND(0)から閾値1になるまでの時間に
データ出力線6と共通放電線12とを結ぶトランスファ
ゲート10のゲートを導通(ON)させる。
【0014】また、インバータ17は、閾値2を有して
いる。N−1回目のSA出力信号の電圧レベルがHIG
Hレベルであり、N回目のSA出力信号の電圧レベルが
LOWレベルとなる時に、インバータ17とNOR回路
18とNAND回路19とからなる回路は、データ出力
線6の電圧レベルが閾値2になるまでの時間にデータ出
力線6と共通放電線12とを結ぶトランスファゲート1
1のゲートを導通(ON)させる。
【0015】閾値1のインバータ13の出力およびN回
目のSA出力信号を受けるNAND回路14はデータ出
力線6の電圧レベルがGND(0)から閾値1になるま
での時間にLOWレベルの信号を出力し、この出力信号
およびクロック信号を受けるNOR回路15は、クロッ
ク信号が活性化している時間であり、かつ、データ出力
線6の電圧レベルがGND(0)から閾値1になるまで
の時間にHIGHレベルの信号を出力してトランスファ
ゲート10を導通(ON)させる。
【0016】また、閾値2のインバータ17の出力信号
およびN回目のSA出力信号を受けるNOR回路18
は、データ出力線6の電圧レベルがVccから閾値2に
なるまでの時間にHIGHレベルの信号を出力し、この
出力信号およびクロック信号を受けるNAND回路19
は、クロック信号が活性化している時間であり、かつ、
データ出力線6の電圧レベルがVccから閾値2になる
までの時間にLOWレベルの信号を出力してトランスフ
ァゲート11を導通(ON)させる。複数の出力バッフ
ァ回路BF1が半導体装置(図示せず)の出力部に配置
されいる。この場合に、図1に示すように、複数の出力
バッファ回路BF1は、共通放電線12を共通に用いて
いる。
【0017】次に、本発明の第2の実施の形態を図2に
基づいて詳細に説明する。本発明の第2の実施の形態に
おいては、本発明の第1の実施の形態と同じ構成要素に
は同じ符号が付されている。図2に示すように、本発明
の第2の実施の形態としての出力バッファ回路BF2
は、Pチャネル形のトランスファゲート1、Nチャネル
形のトランスファゲート2と、抵抗3、4と、ゲート回
路5と、データ出力線6と、共通放電線12と、コンデ
ンサ20、21とを有している。
【0018】本発明の第2の実施の形態としての出力バ
ッファ回路BF2は、さらにNチャネル形のトランスフ
ァゲート22と、Pチャネル形のトランスファゲート2
3と、ヒステリシスインバータ24と、EOR回路25
と、インバータ26と、インバータ27とを有してい
る。トランスファゲート22は、ドレインがデータ出力
線6に接続され、ソースが共通放電線12に接続され、
かつ、ゲートがEOR回路25の出力端子に接続されて
いる。トランスファゲート23は、ドレインがデータ出
力線6に接続され、ソースが共通放電線12に接続さ
れ、かつ、ゲートがEOR回路25の出力端子にインバ
ータ26を介して接続されている。ヒステリシスインバ
ータ24は、データ出力線6とEOR回路25の第1の
入力端子との間に接続されている。ヒステリシスインバ
ータ24は、閾値1(閾値1=VIH)およびこれより
高い閾値2(閾値2=VIL)を有している。EOR回
路25の第2の入力端子は、NAND回路7の第1の入
力端子にインバータ27を介して接続されている。
【0019】EOR回路25は、Pチャネル形のトラン
スファゲート28と、Nチャネル形のトランスファゲー
ト29と、Pチャネル形のトランスファゲート30と、
Nチャネル形のトランスファゲート31と、Pチャネル
形のトランスファゲート32と、Nチャネル形のトラン
スファゲート33とからなる。トランスファゲート28
のソースは、トランスファゲート29のドレインに接続
されている。トランスファゲート28とトランスファゲ
ート29とには、所定の電圧が与えられている。トラン
スファゲート28とトランスファゲート29のゲート
は、ヒステリシスインバータ24を介してデータ出力線
6に接続されている。トランスファゲート30とトラン
スファゲート31のドレインは、NAND回路7の第1
の入力端子にインバータ27を介して接続されている。
トランスファゲート30とトランスファゲート31のソ
ースは、トランスファゲート22のゲートに接続され、
かつ、トランスファゲート23のゲートにインバータ2
6を介して接続されている。トランスファゲート30の
ゲートは、ヒステリシスインバータ24を介してデータ
出力線6に接続されている。トランスファゲート31の
ゲートは、トランスファゲート28のソースとトランス
ファゲート29のドレインの接続点に接続されている。
トランスファゲート32のドレインは、トランスファゲ
ート33のソースに接続されている。トランスファゲー
ト33のドレインは、トランスファゲート28のソース
とトランスファゲート29のドレインの接続点に接続さ
れている。トランスファゲート32のソースは、ヒステ
リシスインバータ24を介してデータ出力線6に接続さ
れている。トランスファゲート32のゲートとトランス
ファゲート33のゲートは、ヒステリシスインバータ2
4を介してデータ出力線6に接続されている。トランス
ファゲート32のドレインとトランスファゲート33の
ソースの接続点は、トランスファゲート22のゲートに
接続され、かつ、トランスファゲート23のゲートにイ
ンバータ26を介して接続されている。
【0020】データ出力線6に保持されるN−1回目の
出力データがヒステリシスインバータ24により反転さ
れ出力される出力信号の電圧レベルとSA出力信号のN
回目の出力信号がインバータ27により反転され出力さ
れる出力信号の電圧レベルが不一致となる時間にEOR
回路25がトランスファゲート22、23のゲートを駆
動しのデータ出力線6と共通放電線12をショート(接
続)させる。
【0021】まず、N−1回目のデータ出力線6に保持
される電圧レベルがLOWレベルでありN回目のSA出
力信号の電圧レベルがHIGHレベルとなる場合、EO
R回路25はHIGHレベルの信号を出力しトランスフ
ァゲート22、23が開きデータ出力線6と共通放電線
12がショートされる。データ出力線6における出力信
号の電圧レベルが閾値1以上となると、ヒステリシスイ
ンバータ24の出力信号がHIGHレベルからLOWレ
ベルに反転しEOR回路25の出力信号がLOWレベル
となりトランスファゲート22、23が閉じる。
【0022】また、N−1回目のデータ出力線6に保持
される電圧レベルがHIGHレベルでありN回目のSA
出力信号の電圧レベルがLOWレベルとなる場合、EO
R回路25はHIGHレベルの信号を出力しトランスフ
ァゲート22、23が開きデータ出力線6と共通放電線
12がショートされる。データ出力線6の出力信号の電
圧レベルが閾値2以下となると、ヒステリシスインバー
タ24の出力信号がLOWレベルからHIGHレベルに
反転しEOR回路25の出力信号がLOWレベルとなり
トランスファゲート22、23が閉じる。
【0023】次に、本発明の第3の実施の形態を図3に
基づいて詳細に説明する。本発明の第3の実施の形態に
おいては、本発明の第1の実施の形態と同じ構成要素に
は同じ符号が付されている。図3に示すように、本発明
の第3の実施の形態としての出力バッファ回路は、図1
の出力バッファ回路BF1に電流のリークの補償用の中
間電圧発生回路34を追加してなる。中間電圧発生回路
34は、共通放電線6に接続されている。中間電圧発生
回路34は、Pチャネル形のトランスファゲート35、
36、37と、Nチャネル形のトランスファゲート3
8、39、40とを有している。トランスファゲート3
5のドレインは、電源回路(図示せず)に接続されてい
る。トランスファゲート40のゲートには、インバータ
41が接続されている。トランスファゲート35〜40
は、ソースドレインが接続されている。トランスファゲ
ート36、37は、それぞれゲートとソースが接続され
ている。トランスファゲート38、39は、それぞれゲ
ートとドレインが接続されている。トランスファゲート
35のゲートは、クロック信号を受ける。トランスファ
ゲート40のゲートは、インバータ41を介してクロッ
ク信号を受ける。トランスファゲート37、38のゲー
トは、共通放電線6に接続されている。
【0024】次に、本発明の第4の実施の形態を図4に
基づいて詳細に説明する。本発明の第4の実施の形態に
おいては、本発明の第2および第3の実施の形態と同じ
構成要素には同じ符号が付されている。図4に示すよう
に、本発明の第4の実施の形態としての出力バッファ回
路は、図2の出力バッファ回路BF2に電流のリークの
補償用の中間電圧発生回路34を追加してなる。中間電
圧発生回路34は、共通放電線6に接続されている。
【0025】本発明の実施の形態としての出力バッファ
回路においては、SA出力信号がLOWレベルからHI
GHベルに変化する際にデータ出力線6と共通放電線1
2とをショートさせることにより、データ出力線6の出
力信号の電圧レベルは共通放電線12の電圧レベルとほ
ぼ同レベルまで急速に上昇するため、データ出力の高速
化を図ることが可能となる。また、SA出力信号がHI
GHレベルからLOWレベルに変化する際にもデータ出
力線6と共通放電線12とをショートさせることによ
り、データ出力線6の出力信号の電圧レベルは共通放電
線12の電圧レベルとほぼ同レベルまで急速に下降する
ため、データ出力の高速化を図ることが可能となる。更
に、例えば電源電圧をVccとした場合に、閾値1=1
/3Vcc、閾値2=2/3Vcc、共通放電線12の
電位=1/2Vccに設定すれば出力バッファ回路の出
力レベルの変化量を従来の出力バッファ回路の出力レベ
ルの変化量の約2/3に抑えることができるためノイズ
の低減を図ることも可能となる。
【0026】共通放電線12の電位は、共通放電線12
に接続する所定の個数の出力バッファ回路BF1、BF
2において、Vcc>閾値2>共通放電線の電位>閾値
1>GNDに保つよう設定すれば消費電流の増大を促す
ことはない。また、共通放電線12の両端に接続されて
いるコンデンサ20、21の容量比を変更することによ
り、共通放電線12の電位を任意の値に設定することも
可能となる。全体のデータ出力時間の高速化を図るため
に、出力バッファ回路のデータ出力線6の共通放電線1
2への接続を図1および図2に示すタイプとしたスピー
ドワーストの出力バッファ回路のみに設定しバランスを
取るという使用法も可能である。
【0027】図5は、SA出力信号がHIGHレベルで
ある時における本発明の出力バッファ回路および従来の
出力バッファ回路の各部の信号の例を示している。図5
において、Aはクロック信号を示し、Bは出力バッファ
回路のゲート信号を示し、Cはトランスファゲートのゲ
ート信号を示し、Dは共通放電線12の信号を示し、E
は本発明の出力バッファ回路の出力信号を示し、かつ、
Fは従来の出力バッファ回路の出力信号を示している。
【0028】図6は、SA出力信号がLOWレベルであ
る時における本発明の出力バッファ回路および従来の出
力バッファ回路の各部の信号の例を示している。図6に
おいて、Gはクロック信号を示し、Hは出力バッファ回
路のゲート信号を示し、Iはトランスファゲートのゲー
ト信号を示し、Jは共通放電線12の信号を示し、Kは
本発明の出力バッファ回路の出力信号を示し、かつ、L
は従来の出力バッファ回路の出力信号を示している。
【0029】
【発明の効果】本発明は、ノイズを抑制することがで
き、かつ、出力のスピードを速くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態としての出力バッフ
ァ回路を示す電気回路図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態としての出力バッフ
ァ回路を示す電気回路図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態としての出力バッフ
ァ回路を示す電気回路図である。
【図4】本発明の第4の実施の形態としての出力バッフ
ァ回路を示す電気回路図である。
【図5】本発明の出力バッファ回路および従来の出力バ
ッファ回路の各部の信号を説明するための図である。
【図6】本発明の出力バッファ回路および従来の出力バ
ッファ回路の各部の信号を説明するための他の図であ
る。
【図7】従来の出力バッファ回路を示す電気回路図であ
る。
【符号の説明】
1、2 トランスファゲート 3、4 抵抗 5 ゲート回路 6 データ出力線 7 NAND回路 8 NOR回路 9 インバータ 10、11 トランスファゲート 12 共通放電線 13 インバータ 14 NAND回路 15 NOR回路 16、17 インバータ 18 NOR回路 19 NAND回路 20、21 コンデンサ 22、23 トランスファゲート 24 ヒステリシスインバータ 25 EOR回路 26、27 インバータ 28〜33 トランスファゲート 34 中間電圧発生回路 35〜40 トランスファゲート 41 インバータ

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1のトランスファゲートと、 前記第1のトランスファゲートのソースにドレインが接
    続された第2のトランスファゲートと、 前記第1および前記第2のトランスファゲートのゲート
    にそれぞれ抵抗を介して接続され出力信号を入力端子で
    受けて前記出力信号を選択的に前記第1および前記第2
    のトランスファゲートの前記ゲートに与えるゲート回路
    と、 前記第1および前記第2のトランスファゲートの接続点
    に接続されているデータ出力線と、 共通放電線と、 前記データ出力線に保持されるN−1回目の出力データ
    の電圧レベルと前記ゲート回路の前記入力端子における
    N回目の出力信号の電圧レベルを比較して前記電圧レベ
    ルの差がある時に電圧レベル差検出信号を発生する比較
    検出手段と、 前記比較検出手段の電圧レベル差検出信号を受けた時に
    のみ前記データ出力線と前記共通放電線とを接続する接
    続手段とを有することを特徴とする出力バッファ回路。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の出力バッファ回路にお
    いて、 前記共通放電線は、2つのコンデンサの間に接続されて
    いることを特徴する出力バッファ回路。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の出力バッファ回路にお
    いて、 前記共通放電線に接続されたリーク補償用の中間電圧発
    生回路を有することを特徴とする出力バッファ回路。
  4. 【請求項4】 第1のトランスファゲートと、 前記第1のトランスファゲートのソースにドレインが接
    続された第2のトランスファゲートと、 前記第1および前記第2のトランスファゲートのゲート
    にそれぞれ抵抗を介して接続され出力信号を入力端子で
    受けて前記出力信号を選択的に前記第1および前記第2
    のトランスファゲートの前記ゲートに与えるゲート回路
    と、 前記第1および前記第2のトランスファゲートの接続点
    に接続されているデータ出力線と、 共通放電線と、 前記データ出力線と前記共通放電線にそれぞれソースお
    よびドレインが接続された第3のトランスファゲートお
    よび第4のトランスファゲートと、 前記データ出力線に保持されるN−1回目の出力データ
    の電圧レベルが低いレベルであり前記ゲート回路の前記
    入力端子におけるN回目の出力信号の電圧レベルが高い
    レベルである時において前記データ出力線の電圧レベル
    が第1の基準電圧以下である時間に前記第3のトランス
    ファゲートを導通して前記データ出力線と前記共通放電
    線とを接続する第1の接続手段と、 前記データ出力線に保持されるN−1回目の出力データ
    の電圧レベルが高いレベルであり前記ゲート回路の前記
    入力端子におけるN回目の出力信号の電圧レベルが低い
    レベルである時において前記データ出力線の電圧レベル
    が前記第1の基準電圧より高い第2の基準電圧以上であ
    る時間に前記第4のトランスファゲートを導通して前記
    データ出力線と前記共通放電線とを接続する第2の接続
    手段とを有することを特徴とする出力バッファ回路。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載の出力バッファ回路にお
    いて、 前記共通放電線は、2つのコンデンサの間に接続されて
    いることを特徴する出力バッファ回路。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載の出力バッファ回路にお
    いて、 前記共通放電線に接続されたリーク補償用の中間電圧発
    生回路を有することを特徴とする出力バッファ回路。
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