JP2945198B2 - 銅板とセラミックスの接合方法 - Google Patents

銅板とセラミックスの接合方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、銅板とセラミックスの
接合方法に関し、さらに詳しくはパワー半導体モジュー
ルに利用される銅接合セラミックス基板の製造方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】パワー半導体モジュールに利用される銅
接合セラミックス基板には (a)銅板とセラミックスの接合が強固でしかも欠陥が
ない。 (b)回路のパターン精度が高い。 (c)耐電圧、絶縁抵抗が高い。 (d)耐熱サイクル性がすぐれていること。 が要求される。さらにこれを産業上利用するために、従
来より次の接合体製造方法が提案されている。 (1)窒化アルミニウム基板と銅板との間に銀箔、銅
箔、活性金属箔を順次積層し加熱して接合する方法(特
開昭56−163093号公報)。 (2)銀、銅、チタニウムからなる合金体を窒化アルミ
ニウム基板と銅板との間に置いて加熱接合する方法(特
開平2−64070号公報)。 (3)銀粉、銅粉、水素化チタン粉に有機結合剤、有機
溶剤を添加したペーストを窒化アルミニウムニウム基板
に塗布した後、不活性雰囲気中で熱処理して銅板と接合
する方法(特開平2−149478号公報)。 (4)上記(3)において銀粉と銅粉の混合粉末100
重量部に対して水素化チタン量が5〜20重量部である
ことを特徴とする接合方法。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記方法(1)(2)
は、銅板とセラミックスの接合は強固であるが、接合時
にろう材が流れ出し回路間の耐電圧、絶縁抵抗を低下さ
せる。また箔あるいは合金体を精度良くセラミックスと
銅板の間に置くことが困難で回路のパターン精度が低
い。方法(3)(4)では、接合欠陥が発生しやすい、
ろう材が流れ出しやすい、耐熱サイクル性が低いなどの
問題があった。
【0004】本発明は、接合が強固で欠陥がなく、回路
のパターン精度が高く、耐電圧と絶縁抵抗が高く、耐熱
サイクル性に優れた銅接合セラミックス基板の製造方法
を提供するものである。
【0005】
【課題解決のための手段】本発明者らは、上記課題を解
決すべく鋭意研究した結果、ろう材の酸素含有量とIVa
族の金属またはこれらの金属の水素化物の添加量を特定
範囲に限定することにより上記課題を解決し得ることを
見い出し、本発明を完成するに至った。すなわち本発明
は、セラミックスと銅板の接合において、ろう材の化学
成分が、酸素含有量:0.05〜0.5wt%の銀ろう
粉末とIVa 族の金属またはこれらの金属の水素化物を1
種以上含み、かつこれらの金属または水素化物の添加量
の総和が金属換算で銀ろうに対して0.020〜0.0
90モル%であるろう材を用いて接合することを特徴と
する銅板とセラミックスの接合方法である。
【0006】また本発明は、上記銀ろう粉末と添加物の
混合物に有機結合剤、有機溶剤を添加してペースト化
し、銅板またはセラミックスまたは両方にこのペースト
を塗布し、不活性雰囲気で脱脂すると好適であり、さら
に脱脂後のペーストの炭素量を0.05〜0.7wt%
に制御した後、接合することが好ましい。
【0007】
【作用】以下、本発明を作用と共にさらに詳細に説明す
る。本発明が適用されるセラミックスは、窒化アルミニ
ウム、窒化珪素などの窒化物、炭化珪素などの炭化物、
酸化アルミニウムなどの酸化物である。これらのセラミ
ックスには、焼結助剤が含まれてもよく含まれなくても
よい。製造は常圧焼結、ホットプレスなどいずれの方法
で製造したものでもよい。
【0008】銅板は、特に化学成分などを限定されるも
のではないが、電子部材として一般に用いられている無
酸素銅第1種、または無酸素銅第2種が特に好ましい。
銀ろうとしては、銀と銅の組成比で特に限定されるもの
ではないが、融点の最も低い銀72wt%、銅28wt
%共晶組成のものが最も好ましい。銀ろうの酸素含有量
は、0.05〜0.5wt%でなければならない。酸素
含有量が0.05wt%より小さいと、ろう材が流れ出
し易くなり回路の耐電圧、絶縁抵抗を低下させる原因と
なる。また酸素含有量が0.5wt%より大きいと未接
合部分が発生し易くなる。
【0009】IVa 族の金属とは、Ti,Zr,Hfをさ
す。これらの金属のみでもよいが、これらの金属の水素
化物あるいはこれらの金属とこれらの金属の水素化物と
の混合物を用いてもよい。またこれらの金属または水素
化物の添加量の総和は、金属換算で銀ろうに対して0.
020〜0.090モル%でなければならない。添加量
の総和が0.020モル%より小さいと未接合部分が発
生しやすくなる。添加量の総和が0.90モル%より大
きいと強固な接合が得られるが、ろう材がセラミックス
上に流れ出し易くなり回路の耐電圧、絶縁抵抗を低下さ
せる原因となる。また耐熱サイクルも低下する。
【0010】ろう材の塗布方法は、特に限定されるもの
ではないが、回路のパターン精度、接合層厚さの均一性
などの観点からスクリーン印刷法が好ましい。印刷用ペ
ーストの調整方法は、特に限定されるものではなく、一
般のスクリーン印刷用の有機結合剤と有機溶剤をろう材
原料とともに混合すればよい。銅板表面またはセラミッ
クス表面または両方にペーストを塗布し乾燥させる。さ
らに添加した有機結合剤を除去するために脱脂する。こ
のとき不活性雰囲気で熱処理しなければならない。酸化
性雰囲気で脱脂するとろう材の酸素含有量が増加し、未
接合部分が発生する。脱脂後のペーストの炭素量は、
0.05〜07wt%でなければならない。0.05w
t%未満であると、ろう材がセラミックス上に流れ出し
易くなり、0.7wt%を越えると未接合部分が発生し
やすくなる。脱脂後の炭素量は、有機結合剤の種類ある
いは添加量、脱脂条件例えば温度、圧力により制御すれ
ばよい。脱脂後にセラミックスと銅板を重ね合わせて不
活性雰囲気下で接合する。その際の銅板は、あらかじめ
回路形状に加工したものでもよいし、平板でもよい。但
し平板を用いた場合は、接合後エッチングなどにより回
路を形成しなければならない。接合温度は、使用した銀
ろうの融点以上、銅板の融点以下であればよく特に限定
されるものではない。
【0011】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づき具体的に説明
する。実施例、比較例中に出て来る欠陥発生率は、接合
基板を超音波探傷試験し接合欠陥の有無を調べ発生頻度
を下式に基づき算出したものである。 欠陥発生率(%)=(接合欠陥のあった試験片数/全試
験片数)×100 流れ出し発生率も同様である。耐熱サイクル性は、接合
基板に−45℃〜125℃の熱衝撃を繰り返し100回
与えた後、銅板と接合層を溶解し亀裂長を顕微鏡で測定
し下式に基づき評価した。
【0012】亀裂率(%)=(亀裂長さの積算値/サー
キット側銅板の周長さ)×100 超音波探傷試験、耐熱サイクル試験にはそれぞれ、10
個の試験片を使用した。耐電圧は、印加時間1分、カッ
トオフ電流0.5mmAで、絶縁抵抗は印加電圧1kV
で測定した。実施例、比較例に供した基板と銅板の形状
は全て以下の通りである。
【0013】 銅板:サーキット側:30×54×0.3(mm) ヒートシンク側:30×54×0.25(mm) セラミックス:30×54×0.635mm またろう材は、全て銀72wt%、銅28wt%の共晶
組成の合金粉を用いた。ろう材のペースト化には、全て
乳鉢と3本ロールを用い、十分に混練して調整した。ま
たそれらのろう材ペーストは全てスクリーン印刷法によ
りセラミックスの両面に塗布し、120℃×30分で乾
燥させた。
【0014】また結果表中の上段の数字は欠陥発生率
を、下段の数字は流れ出し発生率を表す。 実施例1 酸素含有量がそれぞれ0.05wt%,0.1wt%,
0.3wt%,0.5wt%の銀ろうに水素化チタンを
金属換算でそれぞれ0.02モル%,0.04モル%,
0.07モル%,0.09モル%添加した混合粉末をペ
ースト化し、窒化アルミニウム焼結体に塗布し乾燥し
た。
【0015】ペースト化の際、メチルセルロースを用
い、銀ろう粉末に対し3重量部添加した。ペーストを塗
布した面に銅板を配置し、窒素気流中500℃×1時間
で脱脂した後、真空中830℃×10分で接合した。ま
た脱脂後の試料について炭素分析を行った。これらの試
験片の欠陥発生率、流れ出し発生率はいずれも0%であ
り、熱サイクル負荷後の亀裂率はいずれも5%以下であ
った。また脱脂後の炭素分析値は0.45wt%であっ
た。耐電圧は、1.5kV、絶縁抵抗は1011Ωであっ
た。 実施例2 酸素含有量がそれぞれ0.05wt%,0.1wt%,
0.3wt%,0.5wt%の銀ろうに金属チタンをそ
れぞれ0.02モル%,0.04モル%,0.07モル
%,0.09モル%添加した混合粉末を、実施例1と同
じ条件でペースト化し、窒化アルミニウム焼結体に塗布
し、実施例1と同じ条件で脱脂、接合した。
【0016】これらの試験片の欠陥発生率、流れ出し発
生率はいずれも0%であり、熱サイクル負荷後の亀裂率
はいずれも5%以下であった。また脱脂後の炭素分析値
は0.47wt%であった。耐電圧は、絶縁抵抗は実施
例1と同等であった。 実施例3 酸素含有量がそれぞれ0.05wt%,0.1wt%,
0.3wt%,0.5wt%の銀ろうに水素化ジルコニ
ウムを金属換算でそれぞれ0.02モル%,0.04モ
ル%,0.07モル%,0.09モル%添加した混合粉
末を、実施例1と同じ条件でペースト化し、窒化アルミ
ニウム焼結体に塗布し実施例1と同じ条件で脱脂、接合
した。
【0017】これらの試験片の欠陥発生率、流れ出し発
生率はいずれも0%であり、熱サイクル負荷後の亀裂率
はいずれも5%以下であった。また脱脂後の炭素分析値
は0.49wt%であった。耐電圧、絶縁抵抗は実施例
1と同等であった。 実施例4 酸素含有量がそれぞれ0.05wt%,0.1wt%,
0.3wt%,0.5wt%の銀ろうに水素化ハフニウ
ムを金属換算でそれぞれ0.02モル%,0.04モル
%,0.07モル%,0.09モル%添加した混合粉末
を実施例1と同じ条件でペースト化し、窒化アルミニウ
ム焼結体に塗布し実施例1と同じ条件で脱脂、接合し
た。
【0018】これらの試験片の欠陥発生率、流れ出し発
生率はいずれも0%であり、熱サイクル負荷後の亀裂率
はいずれも5%以下であった。また脱脂後の炭素分析値
は0.49wt%であった。耐電圧、絶縁抵抗は実施例
1と同等であった。 実施例5 実施例1と同じ条件でペーストを調整し、アルミナ焼結
体に塗布し実施例1と同じ条件で脱脂、接合した。これ
らの試験片の欠陥発生率、流れ出し発生率はいずれも0
%であり、熱サイクル負荷後の亀裂率はいずれも0%で
あった。耐電圧、絶縁抵抗は実施例1と同等であった。 実施例6 実施例1と同じ条件でペーストを調整し、窒化珪素焼結
体に塗布し実施例1と同じ条件で脱脂、接合した。
【0019】これらの試験片の欠陥発生率、流れ出し発
生率はいずれも0%であり、熱サイクル負荷後の亀裂率
はいずれも0%であった。耐電圧、絶縁抵抗は実施例1
と同等であった。 実施例7 酸素含有量が0.3wt%の銀ろうに水素化チタンを金
属換算でそれぞれ0.02モル%,0.04モル%,
0.07モル%,0.09モル%添加した混合粉末をペ
ースト化し、窒化アルミニウム焼結体に塗布し乾燥し
た。ペースト化の際、メチルセルロースを銀ろう粉末に
対し1wt%,2wt%,3wt%,5wt%添加し
た。脱脂、接合は実施例1と同じ条件で行った。
【0020】これらの試験片の欠陥発生率、流れ出し発
生率はいずれも0%であり、熱サイクル負荷後の亀裂率
はいずれも5%以下であった。また脱脂後の炭素分析値
は0.05wt%,0.28wt%,0.45wt%,
0.70wt%であった。耐電圧、絶縁抵抗は実施例1
と同等であった。 実施例8 実施例1と同じ混合粉末にニトロセルロースを3wt%
添加してペースト化し、窒化アルミニウム焼結体に塗布
し乾燥した。脱脂、接合は実施例1と同じ条件で行っ
た。
【0021】これらの試験片の欠陥発生率、流れ出し発
生率はいずれも0%であり、熱サイクル負荷後の亀裂率
はいずれも5%以下であった。また脱脂後の炭素分析値
は0.40wt%であった。耐電圧、絶縁抵抗は実施例
1と同等であった。 比較例1 酸素含有量がそれぞれ0.30wt%,0.6wt%,
0.8wt%の銀ろうに水素化チタンを金属換算でそれ
ぞれ0.02モル%,0.04モル%,0.07モル
%,0.09モル%添加した混合粉末を実施例1と同じ
条件でペースト化し、窒化アルミニウム焼結体に塗布し
実施例1と同じ条件で脱脂、接合した。
【0022】これらの試験片の欠陥発生率、流れ出し発
生率を表1にまとめた。ろう材が流れ出した試験片のほ
とんどは、導通していた。
【0023】
【表1】
【0024】比較例2 酸素含有量がそれぞれ0.05wt%,0.1wt%,
0.3wt%,0.5wt%の銀ろうに水素化チタンを
金属換算でそれぞれ0.01モル%,0.015モル
%,0.10モル%,0.15モル%添加した混合粉末
を実施例1と同じ条件でペースト化し、窒化アルミニウ
ム焼結体に塗布し実施例1と同じ条件で脱脂、接合し
た。
【0025】これらの試験片の欠陥発生率、流れ出し発
生率を表2にまとめた。水素化チタンを金属換算で0.
10モル%,0.15モル%添加した試験片の亀裂率
は、それぞれ25%、68%であり実施例に比較し大き
かった。
【0026】
【表2】
【0027】比較例3 酸素含有量がそれぞれ0.05wt%,0.1wt%,
0.3wt%,0.5wt%の銀ろうに水素化チタンを
金属換算でそれぞれ0.01モル%,0.015モル
%,0.10モル%,0.15モル%添加した混合粉末
を実施例1と同じ条件でペースト化し、アルミナ焼結体
に塗布し実施例1と同じ条件で脱脂、接合した。
【0028】これらの試験片の欠陥発生率、流れ出し発
生率を表3に示した。
【0029】
【表3】
【0030】比較例4 酸素含有量が0.3wt%の銀ろうと金属換算で0.0
4モル%の水素化チタンからなる混合粉末に、メチルセ
ルロースを0.5wt%,6wt%,10wt%加えて
ペースト化し、窒化アルミニウム焼結体に塗布した。脱
脂、接合は実施例1と同じ条件で行った。
【0031】これらの試験片の欠陥発生率、順に0%,
20%,100%で、流れ出し発生率は、80%,0
%,0%であった。また脱脂後の炭素分析値は0.03
wt%,0.85wt%,0.94wt%であった。 比較例5 酸素含有量が0.3wt%の銀ろうと金属換算で0.0
4モル%の水素化チタンからなる混合粉末に、PMMA
を2,4wt%加えてペースト化し、窒化アルミニウム
焼結体に塗布した。脱脂、接合は実施例1と同じ条件で
行った。
【0032】これらの試験片の欠陥発生率はいずれも0
%で、一方流れ出し発生率は、70%と50%であっ
た。また脱脂後の炭素分析値は0.03,0,0.04
wt%であった。 比較例6 酸素含有量が0.3wt%の銀ろうと金属換算で0.0
4モル%の水素化チタンからなる混合粉末にニトロセル
ロースを3wt%加えてペースト化し、窒化アルミニウ
ム焼結体に塗布した。これに銅板を配置し真空中500
℃×1時間で脱脂し、接合は実施例1と同じ条件で行っ
た。これらの試験片の欠陥発生率、いずれも0%であっ
たが、一方流れ出し発生率は、40%であった。また脱
脂後の炭素分析値は0.04wt%であった。
【0033】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明の製造
方法を用いることにより、接合が強固で欠陥がなく、回
路のパターン精度が高く、耐電圧と絶縁抵抗が高く、耐
熱サイクル性に優れた銅接合セラミックス基板が得られ
るようになった。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 熊谷 正人 千葉市川崎町1番地 川崎製鉄株式会社 技術研究本部内 (56)参考文献 特開 平4−187574(JP,A) 特開 平2−88482(JP,A) 特開 昭64−65859(JP,A) 特開 平3−114289(JP,A) 特開 昭63−299888(JP,A) 特開 平1−154898(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) C04B 37/02

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミックスと銅板の接合において、酸
    素含有量:0.05〜0.5wt%の銀ろう粉末とIVa
    族の金属または該金属の水素化物を1種以上含み、かつ
    該金属または該水素化物の添加量の総和が金属換算で該
    銀ろうに対して0.020〜0.090モル%であるろ
    う材を用いて接合することを特徴とする銅板とセラミッ
    クスの接合方法。
  2. 【請求項2】 銀ろう粉末と添加物の混合物に有機結合
    剤、有機溶剤を添加してペースト化し、銅板またはセラ
    ミックスまたは両方に該ペーストを塗布し、不活性雰囲
    気で脱脂することを特徴とする請求項1記載の銅板とセ
    ラミックスの接合方法。
  3. 【請求項3】 脱脂後のペーストの炭素量が、0.05
    〜0.7wt%であることを特徴とする請求項2記載の
    銅板とセラミックスの接合方法。
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DE112015003408T5 (de) * 2014-07-24 2017-05-11 Denka Company Limited Hartlot und unter dessen Anwendung hergestelltes Keramiksubstrat
JP2023013631A (ja) * 2021-07-16 2023-01-26 三菱マテリアル株式会社 銅/セラミックス接合体、絶縁回路基板、および、銅/セラミックス接合体の製造方法、絶縁回路基板の製造方法

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