JP2937161B2 - 液晶表示装置 - Google Patents
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- JP2937161B2 JP2937161B2 JP6770897A JP6770897A JP2937161B2 JP 2937161 B2 JP2937161 B2 JP 2937161B2 JP 6770897 A JP6770897 A JP 6770897A JP 6770897 A JP6770897 A JP 6770897A JP 2937161 B2 JP2937161 B2 JP 2937161B2
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置に係
り、特に周辺回路を内蔵した液晶表示装置に関する。
り、特に周辺回路を内蔵した液晶表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示装置用のTFTパネルにおい
て、各画素毎のTFT素子とそれらを駆動する周辺回路
を同一基板上に形成した周辺回路内蔵型アクティブマト
リックスパネルが知られている。これらに関するものに
は例えば、特開昭64−2088号,特開昭60−26932 号等が
挙げられる。
て、各画素毎のTFT素子とそれらを駆動する周辺回路
を同一基板上に形成した周辺回路内蔵型アクティブマト
リックスパネルが知られている。これらに関するものに
は例えば、特開昭64−2088号,特開昭60−26932 号等が
挙げられる。
【0003】更に、TFTパネルに冗長性を付与し大画
面パネルの歩留り向上のため一つの画素に複数のTFT
素子を配置する構成が知られている。これらに関するも
のには特開昭63−186216号,特開昭61−121034号が挙げ
られる。
面パネルの歩留り向上のため一つの画素に複数のTFT
素子を配置する構成が知られている。これらに関するも
のには特開昭63−186216号,特開昭61−121034号が挙げ
られる。
【0004】また、大画面TFTパネルの製造方法とし
ての分割露光法としては、特開昭61−180275号等があ
る。
ての分割露光法としては、特開昭61−180275号等があ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術において
は、各画素用のTFTと周辺回路用のTFTの構造につ
いては特別の配慮がなされておらず、このため両者のT
FTとも特性を最良のものにするのは困難であるという
問題がある。
は、各画素用のTFTと周辺回路用のTFTの構造につ
いては特別の配慮がなされておらず、このため両者のT
FTとも特性を最良のものにするのは困難であるという
問題がある。
【0006】本発明の目的は、優れた特性を有する液晶
表示装置を提供することにある。
表示装置を提供することにある。
【0007】本発明の他の目的は、各画素用TFT及び
周辺回路用TFTを簡単な方法でそれぞれ最適な構造を
形成し、優れた特性を示す液晶表示装置を提供すること
にある。
周辺回路用TFTを簡単な方法でそれぞれ最適な構造を
形成し、優れた特性を示す液晶表示装置を提供すること
にある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、液晶表
示装置の一方の基板上に表示領域と、この表示領域を駆
動するための周辺回路領域とを有し、表示領域にはマト
リクス状に複数の第1の薄膜トランジスタが形成され、
周辺回路領域には複数の第2の薄膜トランジスタが形成
される。
示装置の一方の基板上に表示領域と、この表示領域を駆
動するための周辺回路領域とを有し、表示領域にはマト
リクス状に複数の第1の薄膜トランジスタが形成され、
周辺回路領域には複数の第2の薄膜トランジスタが形成
される。
【0009】第1及び第2の薄膜トランジスタの能動層
は多結晶シリコン膜からなり、第1の薄膜トランジスタ
のリーク電流は第2の薄膜トランジスタのリーク電流よ
り小さい。
は多結晶シリコン膜からなり、第1の薄膜トランジスタ
のリーク電流は第2の薄膜トランジスタのリーク電流よ
り小さい。
【0010】また本発明の実施態様によれば、第1の薄
膜トランジスタの耐圧は第2の薄膜トランジスタより小
さい。
膜トランジスタの耐圧は第2の薄膜トランジスタより小
さい。
【0011】TFTの特性上では、画素部分はTFTの
リーク電流(オフ電流)を低減でき鮮明な画像が得られ
る。また周辺回路部分はソース・ドレイン間を高耐圧化
し、駆動能力を大きくすることができる。
リーク電流(オフ電流)を低減でき鮮明な画像が得られ
る。また周辺回路部分はソース・ドレイン間を高耐圧化
し、駆動能力を大きくすることができる。
【0012】上記した本発明の目的/特徴及び上記以外
の本発明の目的/特徴については、以下の記載よりさら
に明らかにされる。
の本発明の目的/特徴については、以下の記載よりさら
に明らかにされる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を用
いた詳細に説明する。
いた詳細に説明する。
【0014】実施例1 図1,図2,図3及び図4は本発明の一実施例の周辺回
路を内蔵した液晶表示用TFT基板の平面模式図一部分
解斜視図、その平面パターン及びカラー液晶表示装置の
斜視断面図を示す。符号10はガラス基板で、その品位
は歪点645℃,大きさは60□×1.1t である。符
号11は各画素のスイッチ用のTFTをマトリックス状
に配置した表示領域たる画素領域で横48mm,縦36mm
であり、50μm□の個々の画素が横960ドット,縦
720ドット,合計69万個配置されている。この画素
の中には最小寸法3μmの多結晶シリコンTFTが設置
されている。TFTはMOS構造でその加工寸法はゲー
ト長10μm,ゲート幅3μmである。12及び13は
画素用TFTを駆動するための表示領域以外の領域であ
る周辺回路領域で、約2万個の最小寸法は6μmの多結
晶シリコンTFTが配置されている。12は垂直シフト
レジスタから成る走査線駆動回路、13はサンプリング
トランジスタ,分割マトリックス及び水平シフトレジス
タから成る信号線駆動回路が構成されている。代表的T
FTの加工寸法は負荷MOSのゲート長30μm,ゲー
ト幅10μm,ドライバMOSのゲート長6μm,ゲー
ト幅50μmである。
路を内蔵した液晶表示用TFT基板の平面模式図一部分
解斜視図、その平面パターン及びカラー液晶表示装置の
斜視断面図を示す。符号10はガラス基板で、その品位
は歪点645℃,大きさは60□×1.1t である。符
号11は各画素のスイッチ用のTFTをマトリックス状
に配置した表示領域たる画素領域で横48mm,縦36mm
であり、50μm□の個々の画素が横960ドット,縦
720ドット,合計69万個配置されている。この画素
の中には最小寸法3μmの多結晶シリコンTFTが設置
されている。TFTはMOS構造でその加工寸法はゲー
ト長10μm,ゲート幅3μmである。12及び13は
画素用TFTを駆動するための表示領域以外の領域であ
る周辺回路領域で、約2万個の最小寸法は6μmの多結
晶シリコンTFTが配置されている。12は垂直シフト
レジスタから成る走査線駆動回路、13はサンプリング
トランジスタ,分割マトリックス及び水平シフトレジス
タから成る信号線駆動回路が構成されている。代表的T
FTの加工寸法は負荷MOSのゲート長30μm,ゲー
ト幅10μm,ドライバMOSのゲート長6μm,ゲー
ト幅50μmである。
【0015】なお、本実施例で形成されたアクティブマ
トリクス基板は図4に示すようにカラー液晶表示装置と
して用いられる。ガラス基板501上に、形成された信
号電極504と走査電極503とがマトリックス状に形
成されたその交差点近傍に薄膜トランジスタ502が形
成され、透明電極よりなる画素電極501を駆動する。
電気光学材である液晶層506を挟んで対向するガラス
基板508上には透明電極よりなる対向電極506およ
びカラーフィルタ507が形成され、一対のガラス基板
501,508を挟むように、偏光板505が設けられ
る。これによって表示体となる画素が形成される。光源
からの光の透過を画素電極501部分で調節することに
より薄膜トランジスタ(TFT)駆動型のカラー液晶表
示装置が構成される。
トリクス基板は図4に示すようにカラー液晶表示装置と
して用いられる。ガラス基板501上に、形成された信
号電極504と走査電極503とがマトリックス状に形
成されたその交差点近傍に薄膜トランジスタ502が形
成され、透明電極よりなる画素電極501を駆動する。
電気光学材である液晶層506を挟んで対向するガラス
基板508上には透明電極よりなる対向電極506およ
びカラーフィルタ507が形成され、一対のガラス基板
501,508を挟むように、偏光板505が設けられ
る。これによって表示体となる画素が形成される。光源
からの光の透過を画素電極501部分で調節することに
より薄膜トランジスタ(TFT)駆動型のカラー液晶表
示装置が構成される。
【0016】図5は上記TFTの断面模式図を示す。画
素用TFT及び周辺回路用TFTも平面寸法(パター
ン)が異なるのみで全く同じプロセスで作成される。
素用TFT及び周辺回路用TFTも平面寸法(パター
ン)が異なるのみで全く同じプロセスで作成される。
【0017】ガラス基板20の表面に、膜厚60nmの
多結晶シリコン膜21を基板温度550℃の減圧CVD
法で形成し、更に600℃,20時間窒素雰囲気中でア
ニールした後、ホトリソグラフィによりパターニングし
た。このパターニングサイズは前述の様に画素用TFT
と周辺回路用TFTでは異なる。次に膜厚120nmのゲ
ート絶縁膜としてのシリコン酸化膜22及び膜厚200
nmのゲート電極としての多結晶シリコン膜23を堆積
させ、ホトリソグラフィによりパターニングした。この
パターンサイズは前述の寸法で、画素用TFT部は周辺
回路用TFT部に比べて最小加工寸法が小さい。その
後、今日広く用いられているセルファライン法によるリ
ンのイオン打込み・アニールにより、ソース領域24,
ドレイン領域25を形成した。その後、ITOの透明電
極及びアルミニウム配線層を形成した。
多結晶シリコン膜21を基板温度550℃の減圧CVD
法で形成し、更に600℃,20時間窒素雰囲気中でア
ニールした後、ホトリソグラフィによりパターニングし
た。このパターニングサイズは前述の様に画素用TFT
と周辺回路用TFTでは異なる。次に膜厚120nmのゲ
ート絶縁膜としてのシリコン酸化膜22及び膜厚200
nmのゲート電極としての多結晶シリコン膜23を堆積
させ、ホトリソグラフィによりパターニングした。この
パターンサイズは前述の寸法で、画素用TFT部は周辺
回路用TFT部に比べて最小加工寸法が小さい。その
後、今日広く用いられているセルファライン法によるリ
ンのイオン打込み・アニールにより、ソース領域24,
ドレイン領域25を形成した。その後、ITOの透明電
極及びアルミニウム配線層を形成した。
【0018】表1は上記方法により形成したTFTの特
性を示す。1基板内5点,3基板の測定の平均値を示
す。画素部のTFTの特徴は、オフ電流が小さいことで
あり、これはTFTの微細加工によるものである。一
方、周辺回路部のTFTの特徴は、ソース・ドレイン間
の耐圧が高く、またキャリア移動度が大きいことであ
り、これはTFTの寸法が大きくて多結晶シリコン膜の
局時的なブレークダウンやパンチスルーが防止できるた
め及び多結晶シリコン層表面でのキャリア移動度のロス
が低減されるためである。耐圧としては、画素部用TF
Tは約10〜20V,周辺駆動回路TFTは約30V以
上が望ましい。
性を示す。1基板内5点,3基板の測定の平均値を示
す。画素部のTFTの特徴は、オフ電流が小さいことで
あり、これはTFTの微細加工によるものである。一
方、周辺回路部のTFTの特徴は、ソース・ドレイン間
の耐圧が高く、またキャリア移動度が大きいことであ
り、これはTFTの寸法が大きくて多結晶シリコン膜の
局時的なブレークダウンやパンチスルーが防止できるた
め及び多結晶シリコン層表面でのキャリア移動度のロス
が低減されるためである。耐圧としては、画素部用TF
Tは約10〜20V,周辺駆動回路TFTは約30V以
上が望ましい。
【0019】
【表1】
【0020】実施例2 次に画面サイズ14″(通称サイズ、正確には268.
8mm×187.2mm,対角12.9″)の大画面液晶表示
装置に適用した例を図6を用いて説明する。
8mm×187.2mm,対角12.9″)の大画面液晶表示
装置に適用した例を図6を用いて説明する。
【0021】大きさ300×235mm2 のガラス基板3
0を用いて、実施例1と同様に周辺回路内蔵TFTパネ
ルを形成した。ただし、一画素の大きさは240×80
μm2,画素数は1120×780であり、画素部31の
TFTの寸法はゲート長50μm,ゲート幅8μm,周
辺回路部32のTFTの寸法はゲート長50μm,ゲー
ト幅50μmであり、最小配線幅は両者とも10μmで
あり、画素の開口率は60.5% である。
0を用いて、実施例1と同様に周辺回路内蔵TFTパネ
ルを形成した。ただし、一画素の大きさは240×80
μm2,画素数は1120×780であり、画素部31の
TFTの寸法はゲート長50μm,ゲート幅8μm,周
辺回路部32のTFTの寸法はゲート長50μm,ゲー
ト幅50μmであり、最小配線幅は両者とも10μmで
あり、画素の開口率は60.5% である。
【0022】製造プロセスは上記実施例1と同様である
が、ホトリソグラフィにおいては図6に示す様に、周辺
回路部32(走査線駆動回路と信号線駆動回路)は一括
露光,画素部31は12回の分割露光とした。即ち、ま
ず一括露光で走査線駆動回路と信号線駆動回路を露光
し、次に5″ホトマスクを用いて画素部31を点線で示
した12区画に分けて分割露光した。この時、分割露光
領域の境界で走査線及び信号線の断線を防止するため図
7に示す様に次の方法による。まず、ホトレジストはネ
ガタイプを用い、分割露光のエリアを配線幅Wと同じ1
0μm(図7中(a))以上重複して露光した。この結
果、第1の分割露光における紫外線照射部分(ハッチン
グ部b)及び第2の分割露光における紫外線照射部分
(ハッチング部c)の少なくとも一回紫外線照射された
部分はホトレジストを残存させることができ、配線の断
線を防止できる。なお、二重に紫外線照射を受けた部分
は、通常の一回紫外線照射を受けた部分によってほぼ囲
まれており、パターン精度に悪影響を及ぼすことはな
い。これにより、分割露光領域の境界における接続パタ
ーンの形状に特別な配慮をすることなく良好な配線接続
が可能となった。
が、ホトリソグラフィにおいては図6に示す様に、周辺
回路部32(走査線駆動回路と信号線駆動回路)は一括
露光,画素部31は12回の分割露光とした。即ち、ま
ず一括露光で走査線駆動回路と信号線駆動回路を露光
し、次に5″ホトマスクを用いて画素部31を点線で示
した12区画に分けて分割露光した。この時、分割露光
領域の境界で走査線及び信号線の断線を防止するため図
7に示す様に次の方法による。まず、ホトレジストはネ
ガタイプを用い、分割露光のエリアを配線幅Wと同じ1
0μm(図7中(a))以上重複して露光した。この結
果、第1の分割露光における紫外線照射部分(ハッチン
グ部b)及び第2の分割露光における紫外線照射部分
(ハッチング部c)の少なくとも一回紫外線照射された
部分はホトレジストを残存させることができ、配線の断
線を防止できる。なお、二重に紫外線照射を受けた部分
は、通常の一回紫外線照射を受けた部分によってほぼ囲
まれており、パターン精度に悪影響を及ぼすことはな
い。これにより、分割露光領域の境界における接続パタ
ーンの形状に特別な配慮をすることなく良好な配線接続
が可能となった。
【0023】本方式により大画面基板にも高精度のパタ
ーン形成が可能となった。
ーン形成が可能となった。
【0024】実施例2において、TFTパネルの歩留り
向上法として画素分割を試みた。また更にTFT特性の
向上、特にオフ電流低減のためゲート分割構造(マルチ
ゲート構造)のTFTを採用した。
向上法として画素分割を試みた。また更にTFT特性の
向上、特にオフ電流低減のためゲート分割構造(マルチ
ゲート構造)のTFTを採用した。
【0025】図8は画素分割の平面パターンを示す。製
法は実施例2と同様であるが、1画素50を走査線51
で上下2つの領域に分け、それぞれの領域に1つずつ計
2つのTFT52a,52bを設置した。これにより、
1つのTFTが破損しても1画素の1/2の面積はON
/OFF動作し、欠陥を目立ち難くしたものである。ま
た、TFT52a,52bの構造もゲート電極53a,
53bを8μピッチで3分割した。なお、54は両TF
T52a,52bに共通の信号線、55aと55bはT
FTのソース領域に接続された透明電極(ITO)を示
す。この構造では、1画素50の開口率は49.7% が
得られており、実用的には充分な輝度が得られる。また
ゲート分割構造(マルチデータ電極構造)により、オフ
電流は半減させることができ、液晶表示装置としての画
面内の輝度の変化が小さく高品位の画像が得られる。
法は実施例2と同様であるが、1画素50を走査線51
で上下2つの領域に分け、それぞれの領域に1つずつ計
2つのTFT52a,52bを設置した。これにより、
1つのTFTが破損しても1画素の1/2の面積はON
/OFF動作し、欠陥を目立ち難くしたものである。ま
た、TFT52a,52bの構造もゲート電極53a,
53bを8μピッチで3分割した。なお、54は両TF
T52a,52bに共通の信号線、55aと55bはT
FTのソース領域に接続された透明電極(ITO)を示
す。この構造では、1画素50の開口率は49.7% が
得られており、実用的には充分な輝度が得られる。また
ゲート分割構造(マルチデータ電極構造)により、オフ
電流は半減させることができ、液晶表示装置としての画
面内の輝度の変化が小さく高品位の画像が得られる。
【0026】本発明は、液晶表示装置における画素部と
周辺回路のTFTのみならず、駆動回路内蔵の各種セン
サ、例えば、イメージセンサ,シリコン単結晶のピエゾ
抵抗効果を利用した圧力センサ,感熱記録用ヘッド等に
も適用できる。
周辺回路のTFTのみならず、駆動回路内蔵の各種セン
サ、例えば、イメージセンサ,シリコン単結晶のピエゾ
抵抗効果を利用した圧力センサ,感熱記録用ヘッド等に
も適用できる。
【0027】また、図9及び図10はTFT−LCDの
画素部及び周辺回路部のパターンサイズの異なりを示す
ホトマスク平面パターン図である。
画素部及び周辺回路部のパターンサイズの異なりを示す
ホトマスク平面パターン図である。
【0028】Si島の大きさ及びAl配線の幅が画素部
と周辺回路部で異なることが明確になっていることが判
る。
と周辺回路部で異なることが明確になっていることが判
る。
【0029】すなわち、図9は、図3に示す領域Aのパ
ターンを示し、図10は、図3に示す領域Bのパターン
を示す。
ターンを示し、図10は、図3に示す領域Bのパターン
を示す。
【0030】本実施例の特徴のいくつかを列挙すると、 1.液晶表示装置用の周辺駆動回路を同一基板上に内蔵
したアクティブマトリックスパネルにおいて、画素部分
のトランジスタのリーク電流を周辺駆動回路部分のそれ
より小さくした。
したアクティブマトリックスパネルにおいて、画素部分
のトランジスタのリーク電流を周辺駆動回路部分のそれ
より小さくした。
【0031】2.薄膜トランジスタは多結晶シリコンを
主体とすること。
主体とすること。
【0032】3.周辺駆動回路部分のトランジスタの耐
圧を画素部分のそれより大きくしたこと。
圧を画素部分のそれより大きくしたこと。
【0033】4.薄膜トランジスタパネルの製造方法に
おいて、周辺駆動回路部分は一括露光方式,画素部分は
分割露光方式とすること。
おいて、周辺駆動回路部分は一括露光方式,画素部分は
分割露光方式とすること。
【0034】5.分割露光の境界附近の配線の連結は、
ネガ型ホトレジストを用い配線幅以上の寸法を重ねて露
光すること。
ネガ型ホトレジストを用い配線幅以上の寸法を重ねて露
光すること。
【0035】本発明によれば、液晶表示用TFTアクテ
ィブマトリックスパネルの周辺回路部と画素部をそれぞ
れ適切な構成に製造プロセスの工程数を増やすことなく
形成できる。このため、高精細パネルの形成,大画面パ
ネルの高精度形成,冗長システムの適用による歩留り向
上が達成できる。
ィブマトリックスパネルの周辺回路部と画素部をそれぞ
れ適切な構成に製造プロセスの工程数を増やすことなく
形成できる。このため、高精細パネルの形成,大画面パ
ネルの高精度形成,冗長システムの適用による歩留り向
上が達成できる。
【0036】明細書中の用語について、補足説明する
と、加工寸法とは、TFT用のSi島の大きさ(ゲート
幅,ゲート長さ),配線層の幅などの微細加工の大きさ
図5の24の幅,図4b,cの幅。
と、加工寸法とは、TFT用のSi島の大きさ(ゲート
幅,ゲート長さ),配線層の幅などの微細加工の大きさ
図5の24の幅,図4b,cの幅。
【0037】耐圧とは、MOS構造のTFTのソース・
ドレイン間の耐圧(耐圧を決める要因は、Si島の大き
さ(ゲート長),厚み,不純物濃度等である)である。
ドレイン間の耐圧(耐圧を決める要因は、Si島の大き
さ(ゲート長),厚み,不純物濃度等である)である。
【0038】同一基板とは、TFT工程の最初のスター
ト材料であるガラス基板LSI工程のSiウエハに相当
する。
ト材料であるガラス基板LSI工程のSiウエハに相当
する。
【0039】別の基板を隣跡したり、貼合せる場合は、
個々の基板に別々のプロセスでTFTを作成することが可
能である。
個々の基板に別々のプロセスでTFTを作成することが可
能である。
【0040】リーク電流とは、TFTのオフ電流(ゲー
ト電圧(nチャンネルでは負バイアス)印加時のソース
・ドレイン間電流)を言う。
ト電圧(nチャンネルでは負バイアス)印加時のソース
・ドレイン間電流)を言う。
【0041】一括露光,分割露光とは、元来の一枚の基
板全面を一枚のホトマスクを用いて一回のアライメント
と露光で実施する方法が一括露光方式であり、基板全面
を複数回のアライメント露光に分けて実施する方法が分
割露光である。
板全面を一枚のホトマスクを用いて一回のアライメント
と露光で実施する方法が一括露光方式であり、基板全面
を複数回のアライメント露光に分けて実施する方法が分
割露光である。
【0042】ここでは、周辺回路領域は一回のアライメ
ントと露光で、画素領域は複数回のアライメントと露光
に分けて実施する方法をいう。
ントと露光で、画素領域は複数回のアライメントと露光
に分けて実施する方法をいう。
【0043】配線幅とは、走査用バスライン及び信号用
バスラインをいう。
バスラインをいう。
【0044】
【発明の効果】本発明によれば、優れた特性を有する周
辺回路内蔵型の液晶表示装置が実現できる。
辺回路内蔵型の液晶表示装置が実現できる。
【図1】本発明の周辺回路を内蔵した液晶表示用TFT
基板の平面模式図である。
基板の平面模式図である。
【図2】本発明の周辺回路を内蔵した液晶表示装置の一
部分解斜視図である。
部分解斜視図である。
【図3】本発明の周辺回路を内蔵した液晶表示用TFT
基板の平面パターンを表わす図である。
基板の平面パターンを表わす図である。
【図4】本発明の周辺回路を内蔵したカラー液晶表示装
置の斜視断面図である。
置の斜視断面図である。
【図5】本発明の実施例のTFT構造を示す断面模式図
である。
である。
【図6】本発明の他の実施例のTFTパネルの平面模式
図を示す。
図を示す。
【図7】図6に示した模式図の局所拡大図である。
【図8】本発明の他の実施例を示す液晶表示装置の画素
部の平面模式図である。
部の平面模式図である。
【図9】図3に示す基板の平面パターンの領域Aのパタ
ーンを示す図である。
ーンを示す図である。
【図10】図3に示す基板の平面パターンの領域Bのパ
ターンを示す図である。
ターンを示す図である。
10,30…基板、11,31…画素領域、32…周辺
回路領域、50…画素。
回路領域、50…画素。
Claims (4)
- 【請求項1】一対の基板と、この一対の基板に挾持され
た液晶層とを有する液晶表示装置であって、 上記一対の基板の一方の基板上に表示領域と、この表示
領域を駆動するための周辺回路領域とを有し、 上記表示領域にはマトリクス状に複数の第1の薄膜トラ
ンジスタが形成され、 上記周辺回路領域には複数の第2の薄膜トランジスタが
形成され、 上記第1及び第2の薄膜トランジスタの能動層は多結晶
シリコン膜からなり、 上記第1の薄膜トランジスタのリーク電流は上記第2の
薄膜トランジスタのリーク電流より小さいことを特徴と
する液晶表示装置。 - 【請求項2】請求項1において、上記第1の薄膜トラン
ジスタのゲート電極は複数分割されていることを特徴と
する液晶表示装置。 - 【請求項3】請求項1又は2において、上記表示領域及
び周辺回路領域に形成される上記第1及び第2の薄膜ト
ランジスタは同一平面層に形成されていることを特徴と
する液晶表示装置。 - 【請求項4】請求項1,2又は3において、上記第1の
薄膜トランジスタの耐圧は上記第2の薄膜トランジスタ
の耐圧より小さいことを特徴とする液晶表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6770897A JP2937161B2 (ja) | 1997-03-21 | 1997-03-21 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6770897A JP2937161B2 (ja) | 1997-03-21 | 1997-03-21 | 液晶表示装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5637290A Division JPH0827466B2 (ja) | 1990-03-09 | 1990-03-09 | 表示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09236828A JPH09236828A (ja) | 1997-09-09 |
JP2937161B2 true JP2937161B2 (ja) | 1999-08-23 |
Family
ID=13352738
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP6770897A Expired - Lifetime JP2937161B2 (ja) | 1997-03-21 | 1997-03-21 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2937161B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3794802B2 (ja) | 1997-10-28 | 2006-07-12 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示パネル駆動回路および表示パネル |
-
1997
- 1997-03-21 JP JP6770897A patent/JP2937161B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH09236828A (ja) | 1997-09-09 |
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