JP2935337B2 - 粒状原料の供給装置およびその供給方法 - Google Patents

粒状原料の供給装置およびその供給方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チョクラルスキー法に
よるシリコン単結晶の製造における、シリコン粒状原料
の供給装置およびその供給方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、チョクラルスキー法によるシリコ
ン単結晶の製造方法においては、結晶引き上げに伴うル
ツボ内の原料減少分を供給すべく、供給管を設けてルツ
ボ内へ粒状原料を、原料減少量に応じて供給する装置が
知られている。この装置の一つとして、シリコン単結晶
成長中のルツボ内の溶湯面に、連続的に粒状原料を供給
しながら単結晶を成長させる、いわゆる連続チャージ法
があり、単結晶の製造歩留まりを著しく向上させて、そ
の製造コストを大幅に低減できる。
【0003】しかし、この方法では、単結晶成長量(通
常は0.3g/秒〜1.0g/秒程度)と同量の粒状原
料を少量づつ、ゆっくりと供給しなければならないが、
ルツボ内への供給時に溶湯が飛び跳ねたり、または湯面
振動を起こしたりなどの攪乱を起こすことが多い。この
ため単結晶成長途中で単結晶が有転位化してしまうこと
で単結晶の成長続行ができなくなり、製造コストの低減
ができないことがしばしば起こる。また、粒状原料の連
続供給によって単結晶の成長が阻害されることを防止す
る二重構造のルツボを使用すれば、ルツボのコストが高
くなるという問題があった。
【0004】ところで、従来のバッチ式で原料追加を行
なう場合の製造コストを低減する方法として、マルチプ
ーリング法(Semiconductor Silicon Crystal Technolo
gy,Fumio Shimura,p178-p179,1989参照)が知られてい
る。この方法は、図4に示すように、抵抗規格を満足す
る範囲のドーパント濃度を持つ単結晶を引き上げた後、
バッチ式で引き上げ重量分の原料を追加チャージ(以
下、リチャージと称す。)し、再度、同様の単結晶の引
き上げを繰り返すことで、一度しか使用できない石英ル
ツボから複数本の単結晶を製造し、製造歩留まりを向上
させると共に、ルツボコストを低減させようとするもの
である。
【0005】また、別のリチャージ法として図5に示す
ように、単結晶を引き上げた後、ルツボ11内に残存し
たシリコン融液22の表面を一度固化させた後、その表
面に、石英ルツボ11上に設けられた供給管20から原
料14をルツボ内にリチャージする方法が開示されてい
る(特開昭62−260791号公報)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このリチャージ法にお
ける原料供給は短時間であるほど単結晶の製造時間を短
縮して単結晶の生産性を向上できるので、石英ルツボに
損傷を与えない範囲で原料供給速度が速いほどよい。こ
のため、リチャージに使用される原料としては、ロッド
状原料、塊状原料のように一度に大量に供給できる原料
が一般的に使用されている。
【0007】しかし、従来のマルチプーリング法におい
て、引上げ軸(引上げワイヤー)にロッド状原料、また
は塊状原料を吊り下げて供給する図4の方法の場合、次
の問題がある。すなわち、引上げ軸に原料を吊り下げる
ので単結晶の取り出しを行った後でないと原料供給がで
きないため、原料供給と単結晶の取り出しを並行して行
えないことである。
【0008】これに対して、図5の特開昭62−260
791号公報に記載の方法においては、原料供給と単結
晶の取り出しを並行して行うことができ、作業時間が短
縮されて作業効率がよい。しかし、融液表面を固化させ
た後で供給を行うため、この固化時間が必要であると共
に、さらに融液表面を固化させることにより石英ルツボ
内の固化部分に損傷を与え、ルツボの寿命が短くなって
単結晶の引上本数を減らし、コスト低減を充分に果たす
ことができなくなるという問題があった。
【0009】このような問題を解決する手段として、粒
状原料を使用する方法が検討された。しかしながら、粒
状原料を定量ずつ供給する機構がない場合には、粒状原
料がルツボ内へ落下供給させる際に、粒状原料の飛び跳
ねが発生しやすく、これを防止するために供給管の先端
を絞り込んで供給速度をある程度抑制している。これに
より供給速度が制限されて粒状原料の供給時間が長くな
りすぎるという不都合があった。
【0010】したがって、本発明は上記従来の問題点に
鑑み、粒状原料をルツボ内の融液を固化させることな
く、融液面に直接、投入することができ、しかもリチャ
ージに適した約50g/秒以上の供給速度を実現し、短
時間でスムースにリチャージを行うことで単結晶の生産
性を向上させる粒状原料の供給装置およびその供給方法
を提供しようとするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明者は、上記課題を
解決するため種々検討を重ねた結果、融液を固化させる
ことなく、供給管内の粒状原料を比較的速い供給速度
で、かつスムースにルツボ内に供給するために、供給管
内の粒状原料を一定量以下に滞留させ、その滞留量をセ
ンサーにより検知して、フィーダーでの供給量の増減動
作、ルツボの下降動作により、供給速度を制御すること
ができる粒状原料のスムースで、かつ時間短縮の供給を
可能にした粒状原料の供給装置およびその供給方法を見
出し本発明を完成させた。
【0012】すなわち、本発明は、原料の融液を収容す
る石英ルツボ内に粒状原料を供給する供給管と、前記供
給管内に粒状原料を一定量ずつ連続供給するフィーダー
と、下降動作の可能な前記石英ルツボとを備えたシリコ
ン単結晶引き上げ装置において、前記供給管内の粒状原
料の滞留量を感知できるセンサーを供給管の外側に取り
付けた粒状原料の供給装置、また、前記センサーの信号
により、ルツボ下降動作、およびフィーダーでの粒状原
料の供給量の増減動作を制御する粒状原料の供給装置を
要旨とするものであり、さらに、前記供給管内に粒状原
料の滞留量を一定量以下に維持しながら供給する粒状原
料の供給方法、また、前記石英ルツボ内の融液面に粒状
原料を供給して融液面上に粒状原料を堆積させた後、そ
の堆積表面に前記供給管を接触させながら供給する粒状
原料の供給方法を要旨とするものである。
【0013】本発明の供給装置は、既成長シリコン単結
晶を引き上げた後、その引き上げ重量分の粒状原料を直
接、融液面に追加供給し、再度、同様の単結晶の引き上
げを繰り返すリチャージ法に好適に用いることができる
が、上記フィーダーからの供給量の増減動作およびルツ
ボの下降動作は、特に供給速度の高速化に有効である。
【0014】次に、本発明の粒状原料の供給装置とその
供給方法について図面に基づいて詳細に説明するが、既
成長シリコン単結晶を取り出した後、ルツボ内の融液中
の湯面に直接、粒状原料を投入する場合のリチャージ法
について説明する。図1は、本発明の粒状原料の供給装
置の一例を示す縦断面図である。
【0015】この図に示すように、本発明の供給装置
は、炉体3からルツボ1に向かう供給管10内に、ルツ
ボ1内のシリコン融液2中に投入するための粒状原料4
を有しており、供給管10の外側には、粒状原料の滞留
量を感知できるセンサー5が取り付けられ、供給管の上
部にはフィーダー6が設けられた構成である。
【0016】この装置は、フィーダー6から供給された
粒状原料(粒状ポリ)4が、石英ガラスからなる供給管
10を通り、管の先端からルツボ1内のシリコン融液2
中に投入される。
【0017】この供給管10は、主にストレート管であ
るが、先細り形状でもよく、先端の形状および大きさに
ついては供給速度に合わせて適宜選択すればよいが、通
常、先端直径は、10〜50mm程度の範囲である。供
給管10内には、フィーダー6から供給された粒状原料
が滞留しているが、この滞留量を調整してスムースにル
ツボ内へ供給できるように、供給管の外側にセンサー5
が取り付けられている。
【0018】上記のように粒状原料が、常に一定量以下
に滞留しているので、粒状原料は供給管先端から、約5
0g/秒〜70g/秒程度の比較的高速の供給速度でス
ムースに供給できる。また、粒状原料は、供給管内で常
に動いているので溶着することなく、かつスムースに落
下させることができる。
【0019】センサー5は、通常、供給管に取り付けら
れたフィーダーの下方に設けられており、供給管の比較
的上部に位置して取り付けられ、一定の滞留量を感知し
ている。この滞留量を感知できれば、比較的下部に取り
付けてもよい。センサーの位置を変えることにより、滞
留量を変更でき、供給速度を制御することができる。す
なわち、滞留量を多くすれば供給管内壁と滞留粒状原料
との摩擦が増大し、供給速度を低下させることができ、
また、滞留量を少なくすれば逆に供給管内壁と滞留粒状
原料との摩擦が減少し、供給速度を速くさせることがで
きる。
【0020】このセンサー5は、例えば、パイロメー
タ、イメージセンサー等を用いることができる。また、
他のセンサーの例として図2に示すようなCCDカメラ
15を供給管の外側上方に取り付けてもよく、一定の滞
留量の位置を感知できるセンサーであればどのようなも
のでもよい。
【0021】このセンサー5の信号によって、フィーダ
ー6に指示が送られるようになっており、滞留量が一定
領域より多くなった場合には、フィーダーが停止もしく
はフィーダーからの粒状原料供給速度が減少して一定領
域以下まで滞留量を減少させ、また滞留量が一定領域7
より少なくなった場合には、フィーダーが作動もしくは
フィーダーからの粒状原料供給速度が増加して一定領域
まで滞留量を増加させて滞留量を調整できるようになっ
ている。
【0022】このフィーダー6は、粒状原料タンク(図
示せず)から送り出された粒状原料を供給管内へ供給す
るのを調整するためのものであり、通常、タンクに接続
された振動フィーダー(図示せず)の振動によってフィ
ーダーからの供給量を調整するが、フィーダー6の先端
部に開閉弁を設けて調整するものでもよく、供給管内へ
の供給量を調整できるものであれば、どのような方式の
ものでもよい。
【0023】上記のように、本発明では、一定量以下の
滞留量で粒状原料を融液面上に供給していくが、原料溶
融速度よりも粒状原料供給速度が速いため、未溶融原料
がドーナツ状に堆積していき、融液面上に粒状原料が盛
り上がり、山積みして供給できなくなる。このため、ル
ツボを徐々に下降させていくことにより、供給管の先端
から融液面上に流出する供給量を制御することができ
る。このルツボ下降動作は、供給管内で滞留原料が溢れ
出さないようにセンサーで滞留量を感知し、このセンサ
ーの信号をルツボ下降駆動装置に送信し、下降軸8によ
りルツボを降下させて供給管内の滞留量を一定量以下に
するのである。
【0024】
【実施例】次に、本発明の供給装置により実際に粒状原
料を溶湯面に、既成長シリコン単結晶を取り出した後で
リチャージ供給する場合について説明する。図3は、供
給管の先端部と溶湯面について、供給の進行に伴う変化
の状態を示した部分断面図である。この図に示すよう
に、供給管10内にフィーダーから供給された粒状ポリ
4が供給管10の先端部から溶湯面12に投入される。
このときの投入距離は、供給管の先端形状や直径、ある
いはルツボの大きさによっても異なるが、供給管内の滞
留を速やかに生じさせるためには、近ければ近いほど良
好であるが、湯漬けの恐れがあるので、通常、5〜10
mmの範囲であり、5mmより距離が短いと、湯漬けに
より粒状原料の溶湯が供給管に付着するような問題があ
り、10mmより長いと跳ね返りが激しく飛び散ってし
まい、また供給管内の滞留が生じるまでの時間がかかり
過ぎるので好ましくない。
【0025】この初期の供給により、供給管内で徐々に
粒状原料の滞留量が増えていく。このため、図1および
図2に示したセンサー5,15によって、一定量を越え
た場合にセンサーが感知して、フィーダーからの供給量
を減少させて供給速度を制御できるため、常に一定量以
下の滞留量を維持することができる。
【0026】このように、一定量以下の滞留量で粒状原
料を融液面上に供給し、融液温度を粒状原料の溶融に最
適な温度に維持してルツボをゆっくり回転(2.0回転
/分)させていくと、原料溶融速度よりも粒状原料供給
速度が速いために堆積原料上に供給管が接触しながら未
溶融原料がドーナツ状に堆積していく。
【0027】さらに、堆積原料が増えていくと、融液面
上に粒状ポリが盛り上がり、山積みして供給できなくな
るため、ルツボを徐々に降下させていくことにより、供
給管の先端から融液面上に流出する供給量を制御する。
この山積みして供給できなくなる際、供給管内で滞留原
料が溢れ出さないようにセンサーで滞留量を感知し、こ
のセンサーの信号をルツボ上下駆動装置に送信し、ルツ
ボを降下させて供給管内の滞留量を一定量以下にするこ
とができる。上記ルツボの下降速度は、滞留量や堆積面
の盛り上がり状態によっても異なるが、通常、5〜30
mm/分程度の速度であり、供給管やルツボの寸法に応
じて適宜、選択すればよい。
【0028】
【発明の効果】本発明の供給装置およびその供給方法に
よれば、供給管内の滞留量を感知できるセンサーを供給
管の外側に取り付け、ルツボ下降動作およびフィーダー
での粒状原料の供給量の増減動作を制御しているので、
約50g/秒以上の高速の供給速度を実現でき、リチャ
ージ法に好適に用いることができる。特に、リチャージ
法において、粒状原料の跳ね返り等を防止して供給速度
を速めることができ、短時間でスムースに供給を行うこ
とができるので、その産業上の利用価値は極めて高い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の供給装置の一例を示す縦断面図であ
る。
【図2】本発明の供給装置の他の一例を示す縦断面図で
ある。
【図3】本発明の供給装置の供給管の先端部と溶湯面に
ついて、供給の進行に伴う変化の状態を示す部分断面図
である。
【図4】従来のリチャージ方法の一例を示す概要説明図
である。
【図5】従来のリチャージ方法の他の一例を示す概要説
明図である。
【符号の説明】
1,11 石英ルツボ 2,22 シリコン融液 3 炉体 4 粒状原料 5,15 センサー 6 フィーダー 7 一定領域 8 下降軸 9 堆積表面 10,20 供給管 12 溶湯面 14 原料
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 原田 勇 群馬県安中市磯部2丁目13番1号 信越 半導体株式会社 磯部工場内 (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) C30B 15/00 - 15/36 C30B 29/06

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 原料の融液を収容する石英ルツボ内に粒
    状原料を供給する供給管と、前記供給管内に粒状原料を
    一定量ずつ連続供給するフィーダーと、下降動作の可能
    な前記石英ルツボとを備えたシリコン単結晶引き上げ装
    置において、前記供給管内の粒状原料の滞留量を感知で
    きるセンサーを供給管の外側に取り付けたことを特徴と
    する粒状原料の供給装置。
  2. 【請求項2】 前記センサーの信号により、ルツボ下降
    動作、およびフィーダーでの粒状原料の供給量の増減動
    作を制御する請求項1に記載の粒状原料の供給装置。
  3. 【請求項3】 原料の融液を収容する石英ルツボ内に粒
    状原料を供給する供給管と、前記供給管内に粒状原料を
    一定量ずつ連続供給するフィーダーと、下降動作の可能
    な前記石英ルツボとを備えたシリコン単結晶引き上げ装
    置において、前記供給管内の粒状原料の滞留量を一定量
    以下に維持しながら供給することを特徴とする粒状原料
    の供給方法。
  4. 【請求項4】 前記石英ルツボ内の融液面に粒状原料を
    供給して融液面上に粒状原料を堆積させた後、その堆積
    表面に前記供給管を接触させながら供給することを特徴
    とする請求項3に記載の粒状原料の供給方法。
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US08/552,494 US5690733A (en) 1994-11-21 1995-11-09 Method for recharging of silicon granules in a Czochralski single crystal growing operation
DE69518490T DE69518490T2 (de) 1994-11-21 1995-11-10 Verfahren und Vorrichtung zur Nachchargierung Silizium-Granulat in der Czochralski-Einkristallzüchtung
EP95117746A EP0712945B1 (en) 1994-11-21 1995-11-10 Method and apparatus for recharging of silicon granules in Czochralski single crystal growing
KR1019950042519A KR960017934A (ko) 1994-11-21 1995-11-21 초크랄스키 단결정 성장에서의 실리콘 입상원료의 공급방법 및 그의 공급장치
US08/911,352 US5868835A (en) 1994-11-21 1997-08-07 Apparatus for recharging of silicon granules in a czochralski single crystal growing operation

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009130943A1 (ja) 2008-04-25 2009-10-29 株式会社Sumco 単結晶育成装置および原料供給方法

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW503265B (en) * 1995-12-28 2002-09-21 Mitsubishi Material Silicon Single crystal pulling apparatus
TW440613B (en) * 1996-01-11 2001-06-16 Mitsubishi Material Silicon Method for pulling single crystal
JP3475649B2 (ja) * 1996-03-18 2003-12-08 信越半導体株式会社 シリコン単結晶の製造方法
TW429273B (en) * 1996-02-08 2001-04-11 Shinetsu Handotai Kk Method for feeding garnular silicon material, feed pipe used in the method, and method of manufacturing a silicon monocrystal
JP3555309B2 (ja) * 1996-02-27 2004-08-18 信越半導体株式会社 粒状物の自動計量供給装置
EP0856599A3 (en) * 1997-01-31 2000-03-22 Komatsu Electronic Metals Co., Ltd Apparatus for feeding raw material into a quartz crucible and method of feeding the same
US6007621A (en) * 1997-01-31 1999-12-28 Komatsu Elctronic Metals Co., Ltd. Apparatus for feeding raw material into a quartz crucible and method of feeding the same
JPH11106291A (ja) * 1997-10-03 1999-04-20 Komatsu Electron Metals Co Ltd 石英るつぼへの原料装填装置及び原料装填方法
US6013088A (en) * 1998-11-17 2000-01-11 Karavidas; Theocharis Surgical clamp with removable tips
JP4039059B2 (ja) 2000-02-22 2008-01-30 信越半導体株式会社 半導体単結晶の成長方法
US20030101924A1 (en) * 2001-11-15 2003-06-05 Memc Electronic Materials, Inc. Intermittent feeding technique for increasing the melting rate of polycrystalline silicon
US8021483B2 (en) * 2002-02-20 2011-09-20 Hemlock Semiconductor Corporation Flowable chips and methods for the preparation and use of same, and apparatus for use in the methods
JP2004083322A (ja) * 2002-08-26 2004-03-18 Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp Cz原料供給方法及び供給治具
JP4148049B2 (ja) * 2003-07-15 2008-09-10 株式会社Sumco 原料供給装置
CN1333115C (zh) * 2004-05-11 2007-08-22 上海卡姆丹克半导体有限公司 一种拉制硅单晶工艺方法
JP4785764B2 (ja) * 2007-02-06 2011-10-05 コバレントマテリアル株式会社 単結晶の製造方法
JP5262257B2 (ja) * 2008-04-10 2013-08-14 株式会社Sumco 窒素ドープシリコン単結晶の製造方法
CN101638232B (zh) * 2008-08-19 2012-04-18 储晞 生产高纯硅坯料的方法和装置
KR101216523B1 (ko) * 2012-03-20 2012-12-31 유호정 멀티-도가니 타입 실리콘 잉곳 성장 장치
KR101216521B1 (ko) * 2012-03-20 2012-12-31 유호정 피드유닛을 구비하는 실리콘 잉곳 성장 장치
JP5857945B2 (ja) * 2012-11-20 2016-02-10 信越半導体株式会社 原料充填方法および単結晶の製造方法
CN116145234A (zh) 2015-08-20 2023-05-23 环球晶圆股份有限公司 用于在晶体生长室中选择性进给块状多晶硅或粒状多晶硅的系统
KR101712744B1 (ko) * 2015-10-22 2017-03-06 (주)에프아이에스 공용포트를 구비하는 잉곳 성장 장치
US10968533B2 (en) 2016-02-25 2021-04-06 Corner Star Limited Feed system for crystal pulling systems

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4468279A (en) * 1982-08-16 1984-08-28 Avco Everett Research Laboratory, Inc. Method for laser melting of silicon
CA1261715A (en) * 1984-07-06 1989-09-26 General Signal Corporation Apparatus and process for growing monocrystals of semiconductor materials from shallow crucibles by czochralski technique
JPS62260791A (ja) 1986-05-08 1987-11-13 Toshiba Ceramics Co Ltd シリコン単結晶引上装置
DE3865628D1 (de) * 1987-11-02 1991-11-21 Mitsubishi Materials Corp Einrichtung zur zuechtung von kristallen.
US5037503A (en) * 1988-05-31 1991-08-06 Osaka Titanium Co., Ltd. Method for growing silicon single crystal
JP2754104B2 (ja) * 1991-10-15 1998-05-20 信越半導体株式会社 半導体単結晶引上用粒状原料供給装置
DE4323793A1 (de) * 1993-07-15 1995-01-19 Wacker Chemitronic Verfahren zur Herstellung von Stäben oder Blöcken aus beim Erstarren sich ausdehnendem Halbleitermaterial durch Kristallisieren einer aus Granulat erzeugten Schmelze sowie Vorrichtung zu seiner Durchführung
DE4328982C2 (de) * 1993-08-28 1996-02-01 Leybold Ag Verfahren zum Regeln eines Mengenstromes von Partikeln zu einem Schmelztiegel und Regelanordnung zur Durchführung des Verfahrens

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009130943A1 (ja) 2008-04-25 2009-10-29 株式会社Sumco 単結晶育成装置および原料供給方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0712945A1 (en) 1996-05-22
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