JP2929770B2 - 半田の形状検査方法 - Google Patents
半田の形状検査方法Info
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- JP2929770B2 JP2929770B2 JP14580891A JP14580891A JP2929770B2 JP 2929770 B2 JP2929770 B2 JP 2929770B2 JP 14580891 A JP14580891 A JP 14580891A JP 14580891 A JP14580891 A JP 14580891A JP 2929770 B2 JP2929770 B2 JP 2929770B2
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- Japan
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
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- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は半田の形状検査方法に係
り、電極表面の仮想直線や半田表面の仮想傾斜線を求
め、これに基いて、半田形状の良否を判断するようにし
たものである。
り、電極表面の仮想直線や半田表面の仮想傾斜線を求
め、これに基いて、半田形状の良否を判断するようにし
たものである。
【０００２】
【従来の技術】ＱＦＰ、ＳＯＰ、コンデンサチップ、抵
抗チップなどの電子部品を基板に搭載した後、電子部品
の電極を基板に接着する半田の形状検査が行われる。従
来、半田の形状検査は、作業者の目視検査により行われ
ていたが、近年は、レーザ装置を使用した形状検査が徐
々に普及してきている。
抗チップなどの電子部品を基板に搭載した後、電子部品
の電極を基板に接着する半田の形状検査が行われる。従
来、半田の形状検査は、作業者の目視検査により行われ
ていたが、近年は、レーザ装置を使用した形状検査が徐
々に普及してきている。
【０００３】レーザ装置による半田の形状検査は、レー
ザ光を電極や半田に照射して、スキャンニング線に沿っ
た電極表面や半田表面の高さを計測し、この計測結果に
基づいて、半田形状の良否を判断するようになってい
る。
ザ光を電極や半田に照射して、スキャンニング線に沿っ
た電極表面や半田表面の高さを計測し、この計測結果に
基づいて、半田形状の良否を判断するようになってい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】レーザ装置によれば、
電極表面や半田表面の形状を精密に計測することができ
る。また半田形状の良否判断を的確に行うためには、し
っかりした良否判断基準を設定せねばならない。ところ
が、半田表面の形状は様々であり、このため、半田形状
の合理的な良否判断基準は未だ確立されておらず、この
ため従来のレーザ装置による形状検査では、良否判断を
誤りやすい問題点があった。
電極表面や半田表面の形状を精密に計測することができ
る。また半田形状の良否判断を的確に行うためには、し
っかりした良否判断基準を設定せねばならない。ところ
が、半田表面の形状は様々であり、このため、半田形状
の合理的な良否判断基準は未だ確立されておらず、この
ため従来のレーザ装置による形状検査では、良否判断を
誤りやすい問題点があった。
【０００５】したがって本発明は、合理的な良否判断基
準を設定して、半田の形状検査を行える方法を提供する
ことを目的とする。
準を設定して、半田の形状検査を行える方法を提供する
ことを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、電極の長さ方
向にレーザ光を照射して、電極表面の仮想直線と半田表
面の仮想傾斜線を求め、この仮想直線と仮想傾斜線の交
点の高さ及びこの仮想傾斜線の傾斜角度から、半田形状
の良否を判断するようにしたものである。
向にレーザ光を照射して、電極表面の仮想直線と半田表
面の仮想傾斜線を求め、この仮想直線と仮想傾斜線の交
点の高さ及びこの仮想傾斜線の傾斜角度から、半田形状
の良否を判断するようにしたものである。
【０００７】
【作用】上記構成によれば、仮想直線と仮想傾斜線の交
点の高さ、及び仮想傾斜線の傾斜角度を良否判断基準と
し、これに基づいて、半田形状の良否を的確に判断でき
る。
点の高さ、及び仮想傾斜線の傾斜角度を良否判断基準と
し、これに基づいて、半田形状の良否を的確に判断でき
る。
【０００８】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。
説明する。
【０００９】図１は、半田の形状検査手段の斜視図であ
って、１は基板、２は基板１に搭載された電子部品、３
はその電極である。電極３は、半田４（４ａ〜４ｃ）に
より、基板１上の回路パターン７に接着されている。
って、１は基板、２は基板１に搭載された電子部品、３
はその電極である。電極３は、半田４（４ａ〜４ｃ）に
より、基板１上の回路パターン７に接着されている。
【００１０】５はレーザ装置、６は受光部であり、電極
３の長さ方向Ｎに沿ってレーザ光をスキャンニングさせ
ながら照射し、その反射光を受光部６に受光することに
より、電極３表面や半田４表面の形状を計測する。
３の長さ方向Ｎに沿ってレーザ光をスキャンニングさせ
ながら照射し、その反射光を受光部６に受光することに
より、電極３表面や半田４表面の形状を計測する。
【００１１】図１において、半田４ａは、形状が良好な
半田である。また半田４ｂは過剰であって、その形状は
不良である。また半田４ｃは過少であって、その形状は
不良である。
半田である。また半田４ｂは過剰であって、その形状は
不良である。また半田４ｃは過少であって、その形状は
不良である。
【００１２】図２ａ，ｂ，ｃは、各半田４ａ，４ｂ，４
ｃの形状計測結果を表している。図中、Ｌ１，Ｌ２，Ｌ
３は、上記レーザ装置５の計測により求められたそれぞ
れの電極表面の仮想直線である。またＳ１，Ｓ２，Ｓ３
は、同様にして求められたそれぞれの半田４ａ，４ｂ，
４ｃ表面の仮想傾斜線である。このような仮想直線Ｌや
仮想傾斜線Ｓは、複数ポイントの高さを結ぶ線を求める
ことにより、簡単に求められる。
ｃの形状計測結果を表している。図中、Ｌ１，Ｌ２，Ｌ
３は、上記レーザ装置５の計測により求められたそれぞ
れの電極表面の仮想直線である。またＳ１，Ｓ２，Ｓ３
は、同様にして求められたそれぞれの半田４ａ，４ｂ，
４ｃ表面の仮想傾斜線である。このような仮想直線Ｌや
仮想傾斜線Ｓは、複数ポイントの高さを結ぶ線を求める
ことにより、簡単に求められる。
【００１３】また、図中、Ｑ１，Ｑ２，Ｑ３は各々の仮
想直線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３と仮想傾斜線Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３
の交点、θ１，θ２，θ３は仮想傾斜線Ｓ１，Ｓ２，Ｓ
３のの垂直面に対する傾斜角度である。
想直線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３と仮想傾斜線Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３
の交点、θ１，θ２，θ３は仮想傾斜線Ｓ１，Ｓ２，Ｓ
３のの垂直面に対する傾斜角度である。
【００１４】本方法は、交点Ｑの上限高さＨｍａｘと、
下限高さＨｍｉｎを予め設定し、求められた交点Ｑ１，
Ｑ２，Ｑ３の高さＨｘ（Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３）が、上限高
さＨｍａｘと下限高さＨｍｉｎの間にあって、Ｈｍｉｎ
＜Ｈｘ＜Ｈｍａｘであれば、良品と判断する。また傾斜
角度θｘ（θ１，θ２，θ３）が下限角度θｍｉｎより
も大きく、θｘ＞θｍｉｎであれば、良品と判断する。
下限高さＨｍｉｎを予め設定し、求められた交点Ｑ１，
Ｑ２，Ｑ３の高さＨｘ（Ｈ１，Ｈ２，Ｈ３）が、上限高
さＨｍａｘと下限高さＨｍｉｎの間にあって、Ｈｍｉｎ
＜Ｈｘ＜Ｈｍａｘであれば、良品と判断する。また傾斜
角度θｘ（θ１，θ２，θ３）が下限角度θｍｉｎより
も大きく、θｘ＞θｍｉｎであれば、良品と判断する。
【００１５】上記本方法は、様々な形状を有する電極表
面や半田表面の形状を、仮想直線Ｌや仮想傾斜線Ｓとし
て単純化し、その交点Ｑの高さＨｘや仮想傾斜線Ｓの傾
斜角度θｘの大きさから、半田形状の良否を判断するも
のであり、本発明者の実験によれば、きわめて信頼性の
高い良否判断結果を得ることができた。
面や半田表面の形状を、仮想直線Ｌや仮想傾斜線Ｓとし
て単純化し、その交点Ｑの高さＨｘや仮想傾斜線Ｓの傾
斜角度θｘの大きさから、半田形状の良否を判断するも
のであり、本発明者の実験によれば、きわめて信頼性の
高い良否判断結果を得ることができた。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、電極の長
さ方向にレーザ光を照射して、電極表面の仮想直線と半
田表面の仮想傾斜線を検出し、この仮想直線と仮想傾斜
線の交点の高さ及びこの仮想傾斜線の傾斜角度から、半
田形状の良否を判断するようにしているので、様々な形
状を有する半田の形状検査を行うための合理的な良否判
断基準を設定し、きわめて信頼性の高い半田の形状検査
を行うことができる。
さ方向にレーザ光を照射して、電極表面の仮想直線と半
田表面の仮想傾斜線を検出し、この仮想直線と仮想傾斜
線の交点の高さ及びこの仮想傾斜線の傾斜角度から、半
田形状の良否を判断するようにしているので、様々な形
状を有する半田の形状検査を行うための合理的な良否判
断基準を設定し、きわめて信頼性の高い半田の形状検査
を行うことができる。
【図１】本発明に係る半田の形状検査手段の斜視図
【図２】本発明に係る計測中の側面図
１ 基板 ２ 電子部品 ３ 電極 ４ 半田 Ｌ 仮想直線 Ｓ 仮想傾斜線 Ｑ 交点 Ｈｘ 交点の高さ θｘ 仮想傾斜線の傾斜角度
Claims (1)
- 【請求項１】電子部品の電極を基板に接着する半田の形
状検査方法であって、電極の長さ方向にレーザ光を照射
して、電極表面の仮想直線と半田表面の仮想傾斜線を求
め、この仮想直線と仮想傾斜線の交点の高さ及びこの仮
想傾斜線の傾斜角度から、半田形状の良否を判断するよ
うにしたことを特徴とする半田の形状検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14580891A JP2929770B2 (ja) | 1991-06-18 | 1991-06-18 | 半田の形状検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14580891A JP2929770B2 (ja) | 1991-06-18 | 1991-06-18 | 半田の形状検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04369240A JPH04369240A (ja) | 1992-12-22 |
| JP2929770B2 true JP2929770B2 (ja) | 1999-08-03 |
Family
ID=15393622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14580891A Expired - Fee Related JP2929770B2 (ja) | 1991-06-18 | 1991-06-18 | 半田の形状検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2929770B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022103202A1 (ko) * | 2020-11-13 | 2022-05-19 | 엘지이노텍 주식회사 | 모터 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101497947B1 (ko) * | 2013-09-10 | 2015-03-03 | 주식회사 고영테크놀러지 | 솔더 조인트의 검사방법 |
-
1991
- 1991-06-18 JP JP14580891A patent/JP2929770B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022103202A1 (ko) * | 2020-11-13 | 2022-05-19 | 엘지이노텍 주식회사 | 모터 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04369240A (ja) | 1992-12-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |