JP2927803B2 - Constant voltage generator - Google Patents

Constant voltage generator

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は定電圧発生回路に関し、特に△VT型と呼ばれ
る定電圧発生回路に関する。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a constant voltage generating circuit, and more particularly to a constant voltage generating circuit called a △ VT type.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種の定電圧発生回路は、第3図に示すよう
に、基板及びソースを共通接続しゲートに出力電圧端子
TOを接続したNチャネルの第1のMOSトランジスタQ
1と、基板及びソースをMOSトランジスタQ1の基板及びソ
ースに共通接続しゲートを第1の電源電圧端子である接
地電位端子に接続しMOSトランジスタQ1と異なる閾値電
圧をもつNチャネルの第2のMOSトランジスタQ2と、こ
れらMOSトランジスタQ1,Q2の負荷となるPチャネルのMO
SトランジスタQ3,Q4と、MOSトランジスタQ1,Q2のソース
と接地電位端子との間に接続されたNチャネルの第3の
MOSトランジスタQ5とを備えた差動入力部1Bと、ゲート
を差動入力部1Bの出力端と接続しソースを第2の電源電
圧端子(電源電圧VDD)に接続しドレインを出力電圧端
子TOに接続したPチャネルの第4のMOSトランジスタQ6
とソースを接地電位端子に接続しドレインを出力電圧端
子TOに接続したNチャネルの第5のMOSトランジスタQ7
とを備えた増幅部2と、ソースを第2の電源電圧端子に
接続しゲートを接地電位端子に接続したPチャネルの第
6のMOSトランジスタQ8とソースを接地電位端子に接続
しドレイン及びゲートをMOSトランジスタQ8のドレイン
に共通接続したNチャネルの第7のMOSトランジスタQ9
とを備えこのMOSトランジスタQ9のゲートをMOSトランジ
スタQ5,Q7のゲートと接続してこれらと共にカレントミ
ラー回路を形成してMOSトランジスタQ5,Q7に所定の電流
を供給する定電流発生部3とを有する構成となってい
る。
Conventionally, this type of constant voltage generating circuit has a structure in which a substrate and a source are commonly connected and an output voltage terminal is connected to a gate, as shown in FIG.
N-channel first MOS transistor Q connected to T O
1 and a second N-channel with a substrate and connected MOS transistors Q 1 and different threshold voltages in common connected gates to a ground potential terminal which is a first power supply voltage terminal to the substrate and the source of the MOS transistor Q 1 source the MOS transistor Q 2, MO P-channel as a load of the MOS transistors Q 1, Q 2
A third N-channel transistor connected between the sources of the S transistors Q 3 and Q 4 and the sources of the MOS transistors Q 1 and Q 2 and the ground potential terminal.
Output and the differential input section 1 B in which a MOS transistor Q 5, the a source connected to a gate connected to the output terminal of the differential input section 1 B in the second supply voltage terminal (power supply voltage V DD) drain P-channel fourth MOS transistor Q 6 connected to voltage terminal T O
Fifth MOS transistor Q 7 of the N-channel connected to the output voltage terminal T O were connected to the ground potential terminal drain source and
An amplifier 2 having a preparative connects the first 6 MOS transistor Q 8 and the source of the P-channel connecting a gate and a source connected to the second power supply voltage terminal to the ground potential terminal to the ground potential terminal drain and gate the the N-channel that is commonly connected to the drain of the MOS transistor Q 8 7 of the MOS transistor Q 9
Preparative comprising the MOS transistors MOS transistors Q 5 the gate of Q 9, MOS transistors Q 5 form a current mirror circuit together with these and connected to the gate of Q 7, Q 7 to the constant current generator to supply a predetermined current And a section 3.

また、PチャネルのMOSトランジスタQ3,Q4,Q6,Q8の基
板は全て第2の電源電圧端子に接続され、Nチャネルの
MOSトランジスタQ5,Q7,Q9の基板は全て接地電位端子に
接続されている。
The substrates of the P-channel MOS transistors Q 3 , Q 4 , Q 6 , and Q 8 are all connected to the second power supply voltage terminal, and the N-channel
The substrates of the MOS transistors Q 5 , Q 7 and Q 9 are all connected to the ground potential terminal.

差動入力部1BのMOSトランジスタQ1,Q2の基板の電位が
これらMOSトランジスタQ1,Q2自身のソース電位になって
いた理由は、温度変化等により各MOSトランジスタQ1,Q2
の動作条件が変化しても、基板・ソース間電圧が変化し
ないので閾値電圧の基板・ソース間電圧依存性による閾
値電圧の変化がなく、従って回路設計時の回路特性変動
要因を減らせることができるためである。
Why the potential of the MOS transistors Q 1, Q 2 of the substrate of the differential input section 1 B had become the source potential of the MOS transistors Q 1, Q 2 itself, each of the MOS transistors Q 1 due to a temperature change or the like, Q 2
Even if the operating conditions change, the threshold voltage does not change due to the dependency of the threshold voltage on the substrate-source voltage because the substrate-source voltage does not change. This is because it can be done.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

上述した従来の定電圧発生回路は、MOSトランジスタQ
1,Q2の基板がそれ自身のソースに共通接続された構成と
なっているので、回路設計時の回路特性変動要因を減ら
せることができるものの出力電圧VO′の温度変動率が大
きいという欠点がある。
The above-described conventional constant voltage generation circuit uses the MOS transistor Q
1, since the substrate Q 2 'is in the configuration that is commonly connected to its own source, that the temperature change rate of those of the output voltage V O' that can reduce the circuit characteristic variation factors of circuit design is large There are drawbacks.

次に、この理由について説明する。 Next, the reason will be described.

この種の回路では、MOSトランジスタは飽和領域で動
作するよう設計されているので、MOSトランジスタのド
レイン電流IDは、 で表わされるものと考えて良い。但し、μは移動度、Ci
は単位面積当りのゲート容量、L及びWはそれぞれチャ
ネル長及びチャネル幅、VGSはゲート・ソース間電圧、V
Tは閾値電圧である。
In this type of circuit, the MOS transistor is designed to operate in the saturation region, so the drain current ID of the MOS transistor is It can be considered that it is represented by Where μ is mobility and C i
Is the gate capacitance per unit area, L and W are the channel length and channel width, respectively, V GS is the gate-source voltage, V
T is a threshold voltage.

今、各MOSトランジスタのμ、L、W、ID、VGS、V
Tを、それぞれのトランジスタ記号の添字と同じ添字を
付して示す(即ち、例えばμはMOSトランジスタQ1
移動度を示す)ものとする。
Now, μ, L, W, I D , V GS , V
The T, denoted by like subscripts and suffixes of respective transistors symbols (i.e., for example, mu 1 shows the mobility of the MOS transistor Q 1) intended to be.

MOSトランジスタQ1,Q2のドレイン電流は、(1)式か
らそれぞれ と表わされる。これら(2),(3)式をVGSについて
解いて であるから、温度が△T変化した時VGSが△VGS変化した
とすると と表わされるから、出力電圧VO′の変化△VO′は となる。
From the equation (1), the drain currents of the MOS transistors Q 1 and Q 2 are respectively It is expressed as Solving these equations (2) and (3) for V GS Therefore, if V GS changes by ΔV GS when the temperature changes by ΔT, Because represented as 'change of △ V O' output voltage V O is Becomes

MOSトランジスタQ3,Q4のW/L比がp:q、MOSトランジス
タQ9,Q5のW/L比が1:α、即ち であるとすると、ID1=ID3,ID2=ID4,ID1+ID2=ID5
あるから、 となる。この時 であるから、結局(8)式の出力電圧VO′の変化△VO
は、入力段のMOSトランジスタQ1,Q2及び電流源用のMOS
トランジスタQ9の閾値電圧並びに移動度の温度変動によ
って決まるといえる。
The W / L ratio of the MOS transistors Q 3 and Q 4 is p: q, and the W / L ratio of the MOS transistors Q 9 and Q 5 is 1: α, that is, Since I D1 = I D3 , I D2 = I D4 , I D1 + I D2 = I D5 , Becomes At this time Therefore, the change of the output voltage V O ′ in the equation (8), △ V O
Is the input stage MOS transistors Q 1 and Q 2 and the current source MOS
It said to depend temperature variation of the threshold voltage and mobility of the transistor Q 9.

今、通常市販されている定電圧発生回路に使用されて
いるMOSトランジスタのなかから一例を選んでその値を
(8)式に代入して出力電圧VO′の変化△VO′を計算す
ると、 となる。
Now, one example is selected from among MOS transistors used in a constant voltage generating circuit which is usually commercially available, and the value is substituted into equation (8) to calculate the change △ V O ′ of the output voltage V O ′. , Becomes

従って、MOSトランジスタのW/L比を最適に設計するこ
とによって、理想的には出力電圧VO′の変化△VO′を0
にすることができる。
Therefore, by optimally designing the W / L ratio of the MOS transistor, ideally a 'change △ V O' of the output voltage V O 0
Can be

しかし、ここで問題が生じる。即ち、上記の計算結果
から解るように、MOSトランジスタのW/L比で調整される
のは、(16)式中第1,2項の差即ち、入力段のMOSトラン
ジスタQ1,Q2の閾値電圧の温度変動分の差−1.2×10-3
(−0.9×10-3)であるが、その差は0.1×10-3のオーダ
ーであり、MOSトランジスタQ1,Q2の閾値電圧の温度変動
の誤差が±10%程度あるとすれば、結果として±0.1×1
0-3のオーダーの出力変動が生じる。
However, a problem arises here. That is, as understood from the above calculation results, the adjustment based on the W / L ratio of the MOS transistor is based on the difference between the first and second terms in the equation (16), that is, the input stage MOS transistors Q 1 and Q 2 . Difference in temperature fluctuation of threshold voltage −1.2 × 10 −3
(−0.9 × 10 −3 ), the difference is on the order of 0.1 × 10 −3 , and if there is an error of about ± 10% in the temperature fluctuation of the threshold voltage of the MOS transistors Q 1 and Q 2 , As a result ± 0.1 × 1
0 output variation of the order of -3 occurs.

本発明の目的は、出力電圧の温度変動率を小さくする
ことができる定電圧発生回路を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a constant voltage generating circuit that can reduce a temperature fluctuation rate of an output voltage.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明の定電圧発生回路は、基板を特定固定電位端に
接続しゲートを出力電圧端子に接続した一導電型の第1
のMOSトランジスタと、基板及びゲートを前記特定固定
電位端に接続しソースを前記第1のMOSトランジスタの
ソースと共通接続しこの第1のMOSトランジスタと異な
る閾値電圧をもつ一導電型の第2のMOSトランジスタ
と、前記第1及び第2のMOSトランジスタのソースと第
1の電源電圧端子との間に接続された一導電型の第3の
MOSトランジスタとを備えた差動入力部と、ゲートをこ
の差動入力部の出力端に接続しドレインを前記出力電圧
端子に接続した導電型の第4のMOSトランジスタとソー
スを前記第1の電源電圧端子に接続しドレインを前記出
力電圧端子に接続した第5のMOSトランジスタとを備え
た増幅部と、逆導電型の第6のMOSトランジスタと一導
電型の第7のMOSトランジスタとを備え前記第3及び第
5のMOSトランジスタと共にカレントミラー回路を形成
して前記第3及び第5のMOSトランジスタに所定の電流
を流す定電流発生部とを有し、温度変化による出力電圧
の変化要因中に前記第1及び第2のMOSトランジスタの
基板・ソース間電圧に依存する閾値電圧の変化要因を含
めてこの出力電圧の温度変化を抑えるように前記第1及
び第2のMOSトランジスタのチャネル長及びチャネル幅
を定めて構成される。
A constant voltage generating circuit according to the present invention comprises a first conductivity type first circuit having a substrate connected to a specific fixed potential terminal and a gate connected to an output voltage terminal.
A MOS transistor, a substrate and a gate connected to the specific fixed potential end, a source commonly connected to a source of the first MOS transistor, and a second one-conductivity type having a threshold voltage different from that of the first MOS transistor. A MOS transistor, and a third one-conductivity-type third transistor connected between the sources of the first and second MOS transistors and a first power supply voltage terminal.
A differential input unit having a MOS transistor, a fourth MOS transistor of a conductive type having a gate connected to the output terminal of the differential input unit and a drain connected to the output voltage terminal, and a source connected to the first power supply; An amplifying unit having a fifth MOS transistor connected to a voltage terminal and having a drain connected to the output voltage terminal; a sixth MOS transistor of opposite conductivity type and a seventh MOS transistor of one conductivity type; A constant current generator that forms a current mirror circuit together with the third and fifth MOS transistors and allows a predetermined current to flow through the third and fifth MOS transistors; The channel of the first and second MOS transistors is controlled so as to suppress the temperature change of the output voltage, including the cause of the threshold voltage change depending on the substrate-source voltage of the first and second MOS transistors. And a defines the channel width.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施について図面を参照して説明す
る。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1の実施例を示す回路図である。 FIG. 1 is a circuit diagram showing a first embodiment of the present invention.

この実施例が第3図に示された従来の定電圧発生回路
と相違する点は、差動入力部1のMOSトランジスタQ1,Q2
の基板の接続点を、従来はこれらMOSトランジスタQ1,Q2
自身のソースであったものを、特定固定電位端子、即ち
この実施例では接地電位端子にした点にある。
This embodiment differs from the conventional constant voltage generating circuit shown in FIG. 3 in that the MOS transistors Q 1 , Q 2
The connection points of the substrates of the MOS transistors Q 1 and Q 2
The point that the source itself is changed to a specific fixed potential terminal, that is, a ground potential terminal in this embodiment.

次に、この実施例により、出力電圧VOの温度変動率が
低減する理由について説明する。
Next, the reason why the temperature fluctuation rate of the output voltage V O is reduced by this embodiment will be described.

今、MOSトランジスタQ1,Q2の閾値電圧の基板・ソース
間電圧依存係数をそれぞれK1,K2とすると、(6),
(7)式から と表わすことができるから、出力電圧VOの変化△VOは、 となるので、△VO/△Tが0になるようにトランジスタ
のW/Lを設計すればよい。
Now, assuming that the substrate-source voltage dependence coefficients of the threshold voltages of the MOS transistors Q 1 and Q 2 are K 1 and K 2 respectively, (6),
From equation (7) Because it can represent a change △ V O of the output voltage V O is Therefore, the transistor W / L may be designed so that ΔV O / ΔT becomes zero.

故に、この実施例においては、従来例に比べMOSトラ
ンジスタQ1,Q2の閾値電圧の温度による変化率の差が、
基板・ソース間電圧依存係数の関わる1/(1+K1),1/
(1+K2)の分だけ各項が小さくなる。〔従来技術〕の
項で一例として使ったトランジスタでは、 K1=0.3 ……(20) K2=0.15 ……(21) であるので、これを(19)式に代入して(8)式及びそ
の数値例(16)式と比較すると、右辺〔 〕内の値は、
第1項,第2項の差は、小さい方の値の第2項が(1+
K1)/(1+K2)だけ大きくなるので小さくなり、第3
項,第4項の差は、小さい係数の第4項が同様に大きく
なるので小さくすることができ、全体として小さくする
ことができる。即ち、第1項と第2項及び第3項と第4
項とが互いに打消すように作用する。しかも右辺全体に
1/(1+K1)がかけられるので、出力電圧VOの温度変化
率△VO/△Tを従来例より小さくすることができる。
Therefore, in this embodiment, the difference in the rate of change of the threshold voltage of the MOS transistors Q 1 and Q 2 due to the temperature differs from that of the conventional example.
1 / (1 + K 1 ), 1 / related to substrate-source voltage dependency coefficient
Each term becomes smaller by (1 + K 2 ). In the transistor used as an example in the section of [Prior Art], K 1 = 0.3 (20) K 2 = 0.15 (21) Therefore, this is substituted into the equation (19) to obtain the equation (8) And the numerical example (16), the value in the right side [] is
The difference between the first term and the second term is that the second term having the smaller value is (1+
K 1 ) / (1 + K 2 ), so it becomes smaller,
The difference between the term and the fourth term can be reduced because the fourth term having the smaller coefficient similarly increases, and can be reduced as a whole. That is, the first and second terms and the third and fourth terms
The terms and act to cancel each other. And on the whole right side
Since 1 / (1 + K 1 ) is multiplied, the temperature change rate ΔV O / ΔT of the output voltage V O can be made smaller than in the conventional example.

第2図は本発明の第2の実施例を示す回路図である。
この実施例は、第1及び第2のMOSトランジスタをPチ
ャネル型により実現したもので、これに伴なって各MOS
トランジスタの導電型及びその接続が第1の実施例とは
異なるが、基本動作は第1の実施例と同等である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a second embodiment of the present invention.
In this embodiment, the first and second MOS transistors are realized by the P-channel type.
Although the conductivity type of the transistor and its connection are different from those of the first embodiment, the basic operation is the same as that of the first embodiment.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように本発明は、第1及び第2のMOSト
ランジスタの基板電位を特定固定電位とすることによ
り、温度変化による基板・ソース間電圧変化によって起
こる閾値電圧の基板・ソース間電圧依存性による閾値電
圧変化が、温度変化による閾値電圧変化を打消す作用を
するので、出力電圧の温度変動率を小さくすることがで
きる効果がある。
As described above, according to the present invention, by setting the substrate potential of the first and second MOS transistors to a specific fixed potential, the substrate-source voltage dependency of the threshold voltage caused by the substrate-source voltage change due to the temperature change Changes in the threshold voltage due to the temperature change cancel the change in the threshold voltage due to the temperature change, so that there is an effect that the temperature fluctuation rate of the output voltage can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図及び第2図はそれぞれ本発明の第1及び第2の実
施例を示す回路図、第3図は従来の定電圧発生回路の一
例を示す回路図である。 1,1A,1B……差動入力部、2,2A……増幅部、3,3A……定
電流発生部、Q1〜Q8,Q11〜Q18……MOSトランジスタ。
1 and 2 are circuit diagrams showing first and second embodiments of the present invention, respectively, and FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of a conventional constant voltage generating circuit. 1,1 A , 1 B … Differential input section, 2,2 A … Amplification section, 3,3 A … Constant current generation section, Q 1 to Q 8 , Q 11 to Q 18 … MOS transistor.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】基板を特定固定電位端に接続しゲートを出
力電圧端子に接続した一導電型の第1のMOSトランジス
タと、基板及びゲートを前記特定固定電位端に接続しソ
ースを前記第1のMOSトランジスタのソースと共通接続
しこの第1のMOSトランジスタと異なる閾値電圧をもつ
一導電型の第2のMOSトランジスタと、前記第1及び第
2のMOSトランジスタのソースと第1の電源電圧端子と
の間に接続された一導電型の第3のMOSトランジスタと
を備えた差動入力部と、ゲートをこの差動入力部の出力
端に接続しドレインを前記出力電圧端子に接続した逆導
電型の第4のMOSトランジスタとソースを前記第1の電
源電圧端子に接続しドレインを前記出力電圧端子に接続
した第5のMOSトランジスタとを備えた増幅部と、逆導
電型の第6のMOSトランジスタと一導電型の第7のMOSト
ランジスタとを備え前記第3及び第5のMOSトランジス
タと共にカレントミラー回路を形成して前記第3及び第
5のMOSトランジスタに所定の電流を流す定電流発生部
とを有し、温度変化による出力電圧の変化要因中に前記
第1及び第2のMOSトランジスタの基板・ソース間電圧
に依存する閾値電圧の変化要因を含めてこの出力電圧の
温度変化を抑えるように前記第1及び第2のMOSトラン
ジスタのチャネル長及びチャネル幅を定めたことを特徴
とする定電圧発生回路。
1. A first MOS transistor of one conductivity type having a substrate connected to a specific fixed potential terminal and a gate connected to an output voltage terminal, a substrate and a gate connected to the specific fixed potential terminal, and a source connected to the first fixed potential terminal. A second MOS transistor of one conductivity type commonly connected to the source of the first MOS transistor and having a threshold voltage different from that of the first MOS transistor; a source of the first and second MOS transistors and a first power supply voltage terminal And a differential input unit having a third MOS transistor of one conductivity type connected between the differential input unit and a reverse conductive transistor having a gate connected to the output terminal of the differential input unit and a drain connected to the output voltage terminal. An amplifying unit comprising a fourth MOS transistor of a negative type, a fifth MOS transistor having a source connected to the first power supply voltage terminal and a drain connected to the output voltage terminal, and a sixth MOS transistor of the opposite conductivity type. Conducted with transistor And a constant current generating section that forms a current mirror circuit together with the third and fifth MOS transistors and allows a predetermined current to flow through the third and fifth MOS transistors. The first and second MOS transistors include a change factor of a threshold voltage depending on a substrate-source voltage of the first and second MOS transistors in a change factor of the output voltage, and the first voltage change of the output voltage is suppressed so as to suppress the temperature change of the output voltage. And a channel length and a channel width of the second MOS transistor are determined.
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