JP2926539B2 - 微弱放射性物質を利用した数値特定装置と確率が変更可能なパルス発生装置 - Google Patents

微弱放射性物質を利用した数値特定装置と確率が変更可能なパルス発生装置

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JP2926539B2
JP2926539B2 JP7216435A JP21643595A JP2926539B2 JP 2926539 B2 JP2926539 B2 JP 2926539B2 JP 7216435 A JP7216435 A JP 7216435A JP 21643595 A JP21643595 A JP 21643595A JP 2926539 B2 JP2926539 B2 JP 2926539B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、微弱放射性物質を
利用した数値特定装置と確率が変更可能なパルス発生装
置に関し、特に放射性物質からランダムに放射される崩
壊粒子の個数に対応した数のパルスを、ランダムに発生
するランダムパルス発生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】パチンコ機、ゲーム機においては、入賞
穴等に玉が入ると、ソフトによって作成されたROMに
書き込まれた乱数から、その時の乱数と予め設定されて
いた当たり数値と一致したとき、当たりを発生させてい
る。従来の技術では、所定の値の数値をある周期で循環
させていたため、完全な乱数にはならず、そのため当た
りに偏りがあった。また、乱数の作成をプログラムで実
施していたため、当たり確率を変更したROMと交換し
たり、ある条件により認可された確率以上の当たりが発
生するようなプログラムを、外聞から発見されにくい形
でROMに入れることにより、容易に不正が行われるこ
とがあった。
【0003】これまで確率の設定が任意で、かつ所定の
確率の下でのランダムなパルス発生器がなかった。現在
使用されている手法は、ROMに内蔵された関数を使用
して作成するか、或いはホワイトノイズを使用するか、
ソフトによる疑似乱数の作成であった。ROM内蔵関数
やホワイトノイズを使用する場合、無限のランダム関数
は容易に作成できるが、確率を任意に設定することが出
来なかった。また、ソフトによる乱数の作成は、確率は
任意に設定できるがいわゆる疑似乱数となってしまい偏
りがあった。
【0004】このような欠点を克服するために、微弱放
射性物質を利用したランダムパルス発生装置が提案され
ている。即ち、特開昭60−31640号(出願人日本
電気)と、本願出願人の発明者による特開平6−154
411号(出願人奥村遊機)とがある。特開昭60−3
1640号では、241Amアメリシュウムから放射さ
れるα線によりパルスを発生する。しかしながら、α線
の計数を行うものではないので、パルスの発生確率を制
御できず、単に無制限に乱数的なパルスを発生するだけ
であった。また、特開平6−154411号は確率の制
御可能なランダムパルス発生装置を教示するが、その利
用分野の発明が十分に完成されてはいないものである。
一方、磁気方式のカード等のセキュリティシステムにお
いては、磁気記憶を解読したり、コピーをしたりして使
用側或いは発行側においても、容易に不正が行われてい
た。また、安全等の事から定期的にカードをリニューア
ルしていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来のパチンコ機及び
ゲーム機等においては、当たりを発生させるランダム数
を得る方法として、所定の数値をある周期で循環させて
いた。この循環は、内部クロックに依存するため完全な
乱数でなく、当たりに偏りがあるという問題があった。
また、乱数はプログラムにより作成しており、確率を変
更したROMと正規のROMとを変換できるという問題
があった。また、制御できないランダム数および確率に
おいては、人工的な作成であり、自然現象に含まれるゆ
らぎを取り込むことが出来なかった。磁気カードでは、
セキュリティシステムにおけるカード発行側では、使用
者が端末機で打ち込む数値等が読み込んだカードの記憶
と一致したとき、本人として特定していた。また、カー
ドの解読が容易に行われコピー等により不正使用されて
いた。本発明は、自然崩壊する放射性物質から放出され
る放射線を利用するので、偏りのない、不正を行うこと
の出来ないランダムパルス発生装置を提供することを目
的とする。本発明は、放射線源をカード等に直接埋め込
むこと、あるいはRPG(ランダムパルス発生装置)を
埋め込むことにより、あたかもカードに生命があるよう
に取り扱え、かつコピーは原理的に不可能となる。また
カード等が本人と同一と見なせることになり、不正が全
く出来なくなるようにする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために放射性物質が崩壊するα、β、γ線につい
て、これら各放射線を所定のエネルギーレベルを保有す
る粒子として捕らえ、これらの粒子の放出割合がポアソ
ンの分布に従う点と、放射される前記粒子の個数が所定
の時間区間でk個である確率Pkは、ポアソンの分布式
で示される点と、前記粒子の個数kが一定の確率に従っ
てランダムに放射される事に着目し、放射線検出回路で
検出した粒子に対応して、ランダムなパルスを発生させ
る回路と、予め設定した一定の確率を与える基準値とを
比較し、これらが一致したとき当たりパルスを発生させ
るランダムパルス発生器を利用し、微弱な放射性物質
と、放射性物質に対面して配置された所定の被爆立体角
を占有すると共に、粒子をそのエネルギーレベルに対応
した強度の電気信号に変換する半導体素子(PINダイ
オード)と、この電気信号から時定数信号を発生させて
増幅する増幅回路と、この時定数信号が粒子に対応した
強度範囲のエネルギーレベルであるものを弁別する波高
弁別器と、弁別された信号を粒子の個数として計数し保
持する計測回路と、この計数回路に対して、計数動作を
継続させる計数時間を継続させる計数時間をプログラミ
ングにより変更可能に設定する設定回路と、目標の確率
を与える基準値をガウス分布から求めるプログラミング
により任意に設定可能とする回路と、計数時間内に計数
回路に保持された計数値と基準値とを比較し一致したら
パルスを出力する比較回路と、放射性物質と半導体検出
素子の間の距離を調整し被爆立体角を変化させる調整機
構とから構成した。更に、放射性物質(RI)を使用す
るカード及びセキュリティ機能においては、α、β、γ
線のそれぞれの半減期に基づく崩壊の割合を測定して現
在測定中のランダムパルス発生器がオリジナルか否か判
定できるように構成した。また、ランダムパルス発生器
から作成されたランダムパルスを数値に置き換えてカー
ド等に記録しておき、そのカード等が使用時に、すでに
記録した数値と読み込まれた数値等を比較してオリジナ
ルか否か判定できるよう構成した。
【0007】
【作用】 RIの崩壊により、ランダムに放出される
α、β、γ線等を計測し、計測と同時に所定のパルスを
発生させる。さらに、計測数から自然崩壊に基ずく放出
確率を決定し、人為的な不正のない確率を作成する。ま
た、半減期に基ずく減衰を判定し、カード及びのランダ
ムパルス発生器がオリジナルの物か否か判定する。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明の実施例について図面を参
照して説明する。図5は本発明に係るランダムパルス発
生装置の原理を説明するためのグラフである。天然また
は人工放射性物質の核種は、α、β、γ線を放射して自
然崩壊する、その際、各物質固有の所定の崩壊定数に従
って崩壊する。平成5年11月24日の日経新聞夕刊1
0頁に記載があるように、不安定原子が放射線を出して
他の原子になる過程(崩壊)は”原子の種類によってき
まる一定の確率”で起こるものである。本願では人体に
影響のない微量の放射性物質を利用する。
【0009】このような放射性物質から相次で、放射さ
れるα、β、γ線は所定の時間間隔で検出される。簡単
のために、α線に注目して説明する。例えば、アメリシ
ューム241Amでは、α線(ヘリウム原子)がある単
位時間にA個放出される。しかしながら、ある単位時間
にA個放出されるといっても、自然現象であるため、あ
る単位時間に20個放出される場合、36個放出される
場合、全然放出のない場合等がある。ただ長時間計測す
れば、ある単位時間に一の確率でA個放出され、他の確
率でB個放出されるという事実である(詳細は後述す
る)。
【0010】自然崩壊を表す指数分布の関数は図5のグ
ラフを表す式、 F(t)=Ae{−λt}・・・(1) で表される密度関数である。以下{}内は指数を示す、
この平均値は1/λとなる。この平均値は、α線源1個
の放射時間間隔の平均値に当たり、従ってある単位時間
に検出されるα線の個数は1/(1/λ)=λとなる。
このλの崩壊定数は、アメリシューム(241Am)に
ついてのみならず、現存する核種についてはほぼ正確に
知られている。α線の放射を検出するには検出時間間隔
を測定するよりもある時間帯に放射されるα線の個数を
検出するのが簡単である。アメリシュームの崩壊は1個
のα線の放射時間間隔が指数関数Fに合うので、ある時
間帯に放射されるα線の個数を検出すればよい。セキュ
リティ機能に付いては、使用時にこのF(t1)を計測
して製造時計測値F(t0)からの減衰が1/λ法則に
従うか検定する。
【0011】放射分布が指数分布を示す関数F(t)=
Ae{−λt}に従う時、任意の時間aにおける観測時
間区間h,(a,a+h)内に崩壊するα線の個数がk
個である確率Pkは、次の式で表示できる。 Pk=e{−λt}・(λh){k}/k!・・・(2) ここでk=1,2,3,・・・で、k!はkの階乗であ
る。この分布はポアソン分布であり、時間区間の始点a
に無関係で、その平均値はλhである。よって単位時間
に放射される平均α線数はh=1時間としてλとなる。
式(2)を、個数kについて解き、次の式を得る。即
ち、 k=G(e・Pk・λ・h)・・・(3)とな
る。ここで、eは自然対数、λはアメリシュームAmの
崩壊定数、確率Pkを例えば1/220とし、hをCP
U等の制御回路のclockの周波数fまたはその分周
で適当に設定する。
【0012】次に、図4において、所定確率での当たり
確率発生回路について説明する。放射性カプセル30に
は、人体に無害な微量のα、γ線を放出する人工の放射
性核種のアメリシューム(241Am)が格納されてい
る。この放射性カプセル30から放射されるα、γ線は
検出装置31により検出される。放射線は検出装置31
でエネルギーレベルに対応した電気信号に変換される。
この検出装置31が占有する立体閣ω内の全粒子を検出
、検出信号を弁別回路32に出力する。
【0013】弁別回路32はこれら全放射粒子の信号中
から特定の放射能α線をエネルギースペクトルに従って
選択し、かつ設定された所定の時間h以内に選択された
α線を計数する。弁別回路32は計数した値(個数)を
カウンタ36に出力する。カウンタ36には、設定回路
33から所定の時間間隔h(計測時間)が入力され、α
線の計数された個数が、設定時間h(例えば1秒前後)
の分累計されて保持される。
【0014】カウンタ36には設定回路33から所定の
時間間隔h(計測時間)が入力され、弁別回路32には
入力装置45から、放射性粒子のエネルギーレベルがそ
れぞれ設定される。カウンタ36の累計値xと、読み出
し専用メモリROM37内の基準値k0とが比較回路3
8で比較される。ROM37には予め当該α線につい
て、例えば、確率Pk=1/220を与える個数k0の
数値を式(3)で求めた定数が記録されている。もし確
率Pkが1/220以外なら基準値k0も変化する。比
較回路38は、値xと固定値k0とが一致したら、駆動
回路39に一致信号pを出力し、表示装置40は当たり
の図柄やラッキーセブン等を表示する。
【0015】一致信号pがなければ、駆動回路39は出
力がなく、表示装置40は外れの数字が表示される。値
xが固定値k0になるかどうかは1/220の確率的な
もので、このため一致信号pも1/220の確率で乱数
的に発生する。設定回路33はスタート回路34から起
動パルスを受け、図8の計測時間hのパルスを発生しマ
スクを開く。センサー35は、パチンコ機では入賞口に
玉が入ったことを検知してトリッガ信号を出力し、これ
によりスタート回路34は起動パルスを発生する。パチ
ンコ機以外では、ランダムパルス発生器のカウントをス
タートさせるトリッガ発生器となる。
【0016】図4の放射性カプセル30、検出装置3
1、弁別回路32、設定回路33、ROM37の構成お
よび機能を図6、7、10で更に詳しく説明する。ま
ず、図10において、検出装置31のPINダイオード
検出器Dは、放射性物質と対面するP層と検出信号を出
力するN層とこれらの間に介在し電離可能なI層とで構
成する。PINダイオード検出器Dに入射したα線は
(γ線は計測しないものと仮定する)、P層を通過して
I層に届く。ここで電離現象を起こし、全エネルギーを
放出する。I層の厚さは100μmほどあり、α線の全
エネルギー(5.4MeV)が吸収できる(確率の設定
を必要としない場合は任意の厚さで良い)。
【0017】I層で電離されたホール及び電子は、バイ
アス電圧+Vを保護抵抗Rを介し印加することによりパ
ルスとして計測する。よってパルスはα線の入射毎に計
測される。PINダイオード検出器DはGe検出器に比
較してエネルギー分解能が悪いが、本測定法ではα線の
放出個数がパルスとして計測できれば良く、十分使用が
可能である。
【0018】検出器にはPINダイオードの他CsI、
CsI(T1)、LED、ZnS(Ag)、BGO、H
e−Ne、λp、CaF(Eu)等の半導体も使用でき
る。このPINダイオード検出器Dにより計測されるα
線の個数は次式、 ここで、Cは計数値、SはPINダイオードのP層面
積、Aは放射性物質の強度 Lは放射性物質とP層との距離を示す。
【0019】しかし、放射性物質アメリシューム(
241Am)の形状は理想的な点線源ではなく有限な形
状であること、PINダイオード検出器Dも端部では入
射α線の完全な電離が期待できない。このため計測値の
変動を避けることから、PINダイオード検出器D内で
完全に電離作用が起こるよう平行な入射になるようコリ
メータを取り付けた。これにより変動値を、1カ月の計
測期間で1.0cps 以下とすることができた。即
ち、全てのα線がP層に垂直入射するようにコリメータ
を設け、PINダイオード検出器内で完全に電離が起こ
るようにした。放射性物質の半減期が長ければ長期間に
渡り、変動が少ない確率値を設定できる。
【0020】放射性物質のα線源には241Amの他
に、Uを、またβ線源には210Pb、60
o、137Cs、90Srを、更にγ線源には22
a、51Cr、54Mn、60Co、57Co、133
Ba、241Amをそれぞれ使用できる。半導体検出素
子には、α線用には表面障壁型Si検出器、CsI、L
ED、ZnS(Ag)、BGO、He−Ne、λpを、
β線用にはSi(Li)検出器M、またはシンチレーシ
ョン検出器またはPINダイオード検出器を、γ線用に
はシンチレーション検出器または、Ge検出器、Cs
I、LED、ZnS(Ag)、BGO、He−Ne、λ
p、CaF(Eu)を使用できる。
【0021】 次に、本願発明者は、放射性カプセル3
0と検出装置31とを銅缶の中に封入して核種に対する
放射空間における占有立体閣ωを変更可能に配置した。
検出装置31は、ここでは半導体検出器のPINダイオ
ードを例に説明する。他に電離箱、GM(ガイガーミュ
ーラー)管、シンチレーションカウンタ、比較計数管、
他の半導体検出器、例えばGe(ゲルマニューム)検出
器等も検出装置として利用出来る。
【0022】図6において、検出装置31はPINダイ
オードDと結合コンデンサーCcと保護抵抗Rと前置増
幅器43と時定数を設定する抵抗Rf及びコンデンサー
Cfと増幅器46から構成されている。PINダイオー
ドDが検出した微弱信号は前置増幅器43、増幅器46
より放射線の強度に比例した電圧レベルをもつ放電型の
パルス信号に増幅される。PINダイオードDは市販の
金属缶封印型を頂面の金属部分を取り去ってシリコン素
子の表面を露出させて使用する。
【0023】放射性カプセル30にPINダイオードD
のシリコン面を対向させて、箱形の金属缶内に納めて外
部から(天然)α線が侵入しにくいようにした。バイア
ス電圧Vは保護抵抗Rを介してPINダイオードDに印
加され、PINダイオードDはp−n結合の半導体であ
って、荷電したα線が侵入すると不安定電子や不安定正
ホールが移動し、いわゆる通電し、PINダイオードD
の両端に電圧変動が発生する。CsI等或いはシンチレ
ーション検出器では入射粒子で光子を発生させ、光子を
半導体検出器で電圧パルスに変換させる。
【0024】この変動電圧は微弱なもので結合コンデン
サーCcを介して前置増幅器43に送られ、そこで電流
増幅される。この増幅電流は抵抗Rf及びコンデンサー
Cfとにより帰還されて、一般に公知の放電電圧カーブ
を描く時定数信号nを増幅器46に出力する。増幅器4
6はこの時定数信号nを増幅し、弁別回路32に出力す
る。弁別回路32は高中低の3回路の弁別回路を備え、
各弁別回路は第1比較回路50、第2比較回路51、第
3比較回路52からそれぞれ構成されている。各比較回
路50〜52は集積回路(IC)であり、増幅器46か
ら出力される信号を、放射線による信号と外来のノイズ
とを分離するための弁別回路である。第1比較回路50
は比較用の高電圧e1と時定数信号nとを、第2比較回
路51では比較用の低電圧e2と時定数信号nとを、ま
た第3比較回路52は比較用の中間位置電圧e3と時定
数信号nとをそれぞれ比較する。
【0025】第1比較回路50の一方の入力端に印加さ
れる基準電圧e1は図7に示す高波高を弁別する上限電
圧で、弁別回路の第1比較回路50は高波高すなわち、
高い電圧のパルスをノイズと見なし弁別する回路であ
る。第2比較回路51の一方の入力端に印加される基準
電圧e2は図7に示す下限波高を弁別する低い電圧で、
この弁別回路は低波高すなわち逆に低い電圧のパルスを
ノイズと見なし弁別する回路である。
【0026】第3比較回路52の一方の入力端に印加さ
れる基準電圧e3は時定数信号nそのものの波高の中間
の電圧(e1とe2の中間ではない)で、この弁別回路
は、中間以上の電圧で弁別し、時定数信号nが来たとき
タイミング信号を発生させるものを目的とする。中間の
電圧は、正確には図7に示す時定数信号n(全信号をま
ず拾い、後で区別するため)の中間位置の電圧である。
これら各基準電圧はe1、e2、e3の順に低くなって
おり、エネルギーレベルによって予め決定された通りに
設定されている。
【0027】荷電したα線が半導体検出素子に侵入し
て、結合の弱い不安定電子や不安定正ホールを移動させ
て、PINダイオードDの両端に電圧変動を発生させ
る。フリップフロップの集積回路(IC)からなるキャ
ンセル回路53、第1遅延回路54、第1矩形パルス発
生回路56、第2遅延回路55、第2矩形パルス発生回
路58、第3矩形パルス発生路59は、弁別回路の各比
較回路50〜52によって弁別された信号のタイミング
調整回路である。これらの相互動作について図6、7、
8を参照して以下に説明する。
【0028】第1比較回路50は時定数信号nがe1よ
り高いノイズn2であると、第1弁別信号A1をキャン
セル回路53に出力し、キャンセル回路53は第1弁別
信号A1をうけてキャンセル信号cを出力する。第2比
較回路51は時定数信号nがe2より高いα線の信号で
あると、第2弁別信号A2を第1遅延回路54に出力
し、第1遅延回路54は第2弁別信号A2を受けてその
立ち上がり時に、第2弁別信号A2よりも持続時間が約
数倍長い第1遅延信号D1を第1矩形パルス発生回路5
6に出力する。
【0029】第1矩形パルス発生路56は第1遅延信号
D1を受けてその立ち下がり時に、第1判定信号J1を
出力する。キャンセル回路53からのキャンセル信号c
は第1遅延回路54に送られており、キャンセル信号c
を第1遅延回路54が受信した時には、第1遅延信号D
1の出力を停止する。
【0030】第2弁別信号A2はまた第2遅延回路55
にも出力され、第2遅延回路55は、第2弁別信号A2
を受けてその立ち下がり時に、第2遅延信号D2を第2
矩形パルス発生路58に出力する。この第2遅延信号D
2は第2弁別信号A2よりも持続時間が約数倍長く、第
1遅延信号D1と終了時間が同時である。第2矩形パル
ス発生路58は第2遅延信号D2を受けてその立ち下が
り時に、第2判定信号J2を出力する。
【0031】キャンセル回路53からのキャンセル信号
cは第2矩形パルス発生路58にもに送られており、キ
ャンセル信号cを第2矩形パルス発生路58が受信した
時には、第2判定信号J2の出力を停止する。これはe
2より高い電圧は、α線の信号と高波高のノイズ信号も
含み、ノイズ信号はキャンセル信号cで排除している。
【0032】第3比較回路52は時定数信号nがe3よ
り高いと結果として第3弁別信号A3を第3矩形パルス
発生路59に出力する。第3矩形パルス発生路59は第
3弁別信号A3を受けてを受けてその立ち下がり時に、
第3判定信号J3を出力する。3種の第1、2、3判定
信号J1,J2,J3は第1AND回路60の条件入力
端に入力され、第1AND回路60はこれら3種の条件
が揃うと検出信号Kを第2AND回路62の一方の条件
入力端に出力する。
【0033】図6の下方において、第2AND回路62
の他方の入力端には、設定回路33から図8のマスクパ
ルスhが入力されている。このマスクパルスhの持続時
間の間、第2AND回路62は順次到来した検出信号K
を取り込み、カウンタ36に出力する。カウンタ36は
計数機能を備えた到来した検出信号Kを累積しながら保
持し、実験では設定回路33を1.0、1.5、2.0
秒に設定する。
【0034】前置増幅器43と増幅器46の増幅度や規
格が設定されると、増幅器46から出力される時定数信
号n、即ち電圧変動値は、α線について予測でき、V=
V0・e{−a・Rf・Cf・t}で決定ができる。具
体的には、α線の場合は、全体的に弁別回路32の設計
仕様に合わせて決まるその電圧変動値は、高い電圧がe
1と低い電圧がe2との間になるように決定する。
【0035】従つて、本実施例の弁別回路32上では、
観測した電圧変動値が高い電圧e1と低い電圧e2との
間の時のみ、α線として計数するようにする。電圧変動
値が高い電圧e1以上の場合は、その影響をもたらした
原因は落雷やモーター等の火花による高いエネルギーに
よる場合か殆どであり、α線ではないので雑音と見做
し、粒子数には計数しない。また、電圧変動値が低い電
圧e2以下の場合は、減衰した自然放射線であったり、
PINダイオードDの内在雑音による場合が殆であり、
α線ではないので雑音として計数しない。
【0036】電圧変動値は本実施例の弁別回路32で
は、3Vから約4Vの間である、従って高い電圧e1を
4.5Vに、低い電圧e2を1.8Vに、タイミング信
号発生用の電圧e3を1.3Vに設定した。また、時定
数信号nの放電時間は最大40μsecであり、1秒間
に3万〜4万個のα線(ヘリウム粒子)が到来しても計
数可能な分解精度である。本回路では回路上の信号遅れ
やパルスの立ち上がり精度のバラツキ等を計算にいれて
も、高い精度で検出が可能である。
【0037】さて、図7において、横軸には時間の経過
とともに放電する各種の時定数信号nをn1、n2、n
3、n4として、縦軸には図6の弁別回路32の各点で
の信号波形を波高の形に、示している。まず、電圧変動
値がα線(ヘリウム粒子)の場合を示す、いわゆる正常
信号n1(高い電圧e1と低い電圧e2との間の時のと
き)は、低い電圧e2以上の電圧変動値の部分が図6の
第2比較回路51にて検出されて(高い電圧e1はない
ので第1比較回路50では何も検出されず)、第2弁別
信号A2が生成され、第1遅延回路54に出力される。
【0038】この第2弁別信号A2は立ち上がりと同時
に第1遅延回路54で幅広の第1遅延信号D1を発生
し、第1矩形パルス発生路56に出力する。この第2弁
別信号A2は第2遅延回路55にも出力され、この第2
弁別信号A2は立ち下がりと同時に第2遅延回路55で
やや幅広の第2遅延信号D2を発生し、第2矩形パルス
発生路58に出力する。第1波高値により発生させたタ
イミング信号を第1AND回路60に加えて、検出対象
である放射線による信号のみを通過させる。
【0039】また、電圧e3以上の部分に相当する中間
位置の電圧部分が第3比較回路52にて検出されて、第
3弁別信号A3が生成され第3矩形パルス発生路59に
出力される。この第3弁別信号A3の立ち下がりと同時
に第3矩形パルス発生路59は第3判定信号J3を発生
し、第1AND回路60に出力する。第1AND回路6
0は、第1判定信号J1、第2判定信号J2、第3判定
信号J3、が全部揃った時にのみ、検出信号Kを出力す
る。
【0040】これまでを整理すると、図7に示す様に、
低波高検出電圧より高く、高波高検出電圧より低い信号
パルスを放射線により発生したパルスと見なし、これに
中間波高値により発生させたタイミング信号を第1AN
D回路60に加えて、検出対象である放射線による信号
のみを通過させる。
【0041】第2AND回路62は、設定回路33から
パルスの形式で与えられた有効期間(動作継続許可時
間)hに、第1AND回路60到来(発生)する検出信
号kを通過させて、カウンタ36に出力する。設定回路
33は水晶発振器を内蔵する分周器70とデップスイッ
チ71からなり、デップスイッチ71を適宜オン・オフ
して2進数を設定する。かくして分周器70の分周比を
決め、計測の有効期間hを例えば1.0、1.5、2.
0 秒等に設定できる。
【0042】計数値kを受けるカウンタ36は有効期間
(動作継続許可時間)hに到来(発生)したパルス数を
計数し保持する。ROM37は、デップスイッチをのオ
ン・オフにより(0、1)に設定し、例えば16ビット
の2進数を表現できる。比較回路38の一方の各端子に
は、ROM37のデップスイッチのオン・オフによる基
準値k0を表す信号と、他方の各端子にはカウンタ36
の端子から計数値kを表す信号とがそれぞれ与えられて
いる。
【0043】比較回路38はROM37の設定値(基準
値)とカウンタ36の計数値とを各ビット毎に比較し、
これらが一致すると1個の当たりパルスを出力する。さ
て、ここでカウンタ36には、分周器70で決めた計測
の有効期間hを例えば1.0秒間に、計数(加算)した
値が保持されている。この計測値とROM37の設置値
k0(基準値)が一致した場合に比較回路38はパルス
を出力するが、このパルスを当たりとして使用する。一
致の割合は目標の確率は例えば、1/220としてい
る。
【0044】あらかじめROM37にはデップスイッチ
により基準値k0が、時間の設定回路33の分周器70
にはデップスイッチ71により時間間隔hがそれぞれ設
定される。カウンタ36は、当たりの有無を終了した後
リセット信号Rによって計数時間毎にクリアされる。
【0045】再度放射性物質の性質について述べ実験例
を説明する。ある一定時間に崩壊する放射線(計数値)
は確率法則に従う現象であるから、一定の放射線源を一
定時間計数しても、その計数値は常に一定値にはなら
ず、ある平均値Mの付近に分散した値が得られる。この
分散はポアリンの分布式 で与えられる。
【0046】ここで、p(m)は、一定時間にmカウン
ト(パルス数)が得られる確率 Mは多数回測定した時のmの平均値とし、Mが数十以上
になるとガウスの分布式 { }内は指数を表す と近似的に等しくなる(図3参照)。
【0047】この確率は常に一定ではなく、ある時は数
回計数しただけで一致する場合、数百回計数しても一致
しない場合等があり、ただ多数回計数した場合、所定の
確率になるということである。アメリシュームのα線
(ヘリウム原子)を計数した、ランダムパルス発生装置
の観測実験結果を以下に示す。以下の表1の測定データ
は、1秒(図8の有効期間h=1.0秒)毎に計数する
観測を10800回(180分)実行したものである。
これをピーク値及び選択したCPS(1秒間のパルス
数)の発生確率について、計測値と理論上の計算値を下
記に示す。
【0048】表1からピーク値や任意に選択したCPS
の確率が以下のように読み取れる。 であり、選択CPSの発生確率にズレが生じている。し
かし次の、
【0049】 のように、この程度の計数回数であっても1CPSの差
で、発生確率に1/20〜1/30程度の差しか生じな
いので、実用上は非常に多数回計数しているので、ます
ます許容範囲に入っていく。計測値のカウント数を下記
表1に示す。
【0050】
【0051】この表の値をグラフにすると図1のように
なる。また、測定回数の10800回を3回繰り返し実
行したグラフを図2に示す。計測回数を次第に増大させ
ると、実験値グラフは理論値のガウス分布に、更に接近
することが理解できる。
【0052】この実験値のグラフにしたがって当たり確
率を設定する方法は次の通りである。この試作機にはパ
チンコ機上に許可された1/220=0.0045の確
率を与える実験上の計数値はないので、確率1/220
に近い、200CPS上の1/257=0.00389
で説明する。図1に矢印で示すように、まず確率1/2
57=0.00389とグラフの交点から計数値200
CPSを得て、基準値として、200を予めROM37
に設定する。
【0053】実用上の装置の製作上では、ROM37の
デップスイッチを例えば、目標の基準値相当の2進数に
なるようにプログラミイングして回路を焼きつける。計
測の有効期間が例えば、h=1.0秒を与えるように、
設定回路33のデップスイッチ71をプログラミイング
して回路を焼きつける。また、計測の有効期間h=1.
0秒を増大方向に変更すると、図9のように分布形状を
保ちながら、グラフのピーク計数値も増大、変化し、各
計数値の与える確率も変化するので、1/220=0.
0045の確率を得る選択CPSを、有効期間h=1.
0秒を変更することにより、見つけることができる(詳
細は後述する)。
【0054】表1のデータについて、ランダム性を検証
するために、ピーク値229CPSと、選択値200C
PSとについて測定回数10800以内の発生間隔をし
らべて見ると、ピーク値229CPSの発生間隔は、最
小間隔は2秒後、最大間隔は171秒後であり、当たり
の発生に規則性がないことが理解できる。また、選択計
数値200CPSの発生間隔は、最小間隔は7秒後で、
最大間隔は1211秒後でであり、ここでも規則性がな
いことが理解できる。
【0055】計測値kを確率の目標値域へ収束させるに
は、2つの方法があり第1の方法はROM37や設定回
路33を固定して、核種と検出器との距離を変更し、入
放射立体角ωを変更させて、PINダイオードが捕捉す
るα線の絶対数を調整する方法がある。また、第2の方
法は入放射立体角ωを固定しておいて、照射α線の絶対
個数を一定させて、ROM37や設定回路33の捕捉条
件を変更するものがある。本願のランタムパルス発生装
置はパチンコ機等のゲーム機に限定して使用する場合は
所定確率1/220等に合わせて、回路常数を固定し
て、核種と検出器との位置を変更する第1の方法を採用
し、結果として入放射立体角を変更させる。
【0056】今、図1(表1)の確率を与える図4、6
のランダムパルス発生装置において、計測時間(計測動
作継続時間)hを1.0秒から1.5秒、2.0秒に増
加させると、計測時間h以内に観測される、粒子の個数
は増大する。従って、図1のグラフはガウス分布の形を
保ったままピーク計数値等が図9のe→f→g のよう
に増加の方向に方移動する。
【0057】 次に、計測時間(計測動作継続時間)h
を1.0秒に設定したまま、放射線カプセル30内の線
源の強度を増大させると、1.0秒以内に観測される粒
子の個数kは当然増大する。同様に、図1のグラフはガ
ウス分布の形を保ったままピーク計数値等が図9のe→
f→gのように増加の方向に方移動する。人体に無害な
微弱な核種を使用するので、線源の強度を一定にしたま
ま、核種と検出器との位置を変更する事も出来る
【0058】放射線は放射線源から全空間4π方向に放
出されるので、検出器PINダイオードDに到達する放
射線の個数Cは、線源と検出器の距離の2乗分に逆比例
する。式で表すと、 で与えられる。ここで、Cは1秒間の予想の計数値(c
ps)(多数回観測した時の平均) Sは検出器の感応面積(mm2) Aは線源の強さ(μCi:マイクロキュリー)、1Ci
=3.7×1010(Bq) Rは検出器と線源と距離(mm)とする。
【0059】例えば、線源の強を1μCi、検出器の感
応面積を1mm2、検出器と線源の距離を3mmとする
と、C=327cpsとなる。ここで、検出器PINダ
イオードDと線源アメリシュームAmとの距離Rを変化
させるとカウンタ36の計数値kを変化させることがで
きる。先に計算したc=327をM=mとして(5)式
に代入するとP(357)=1/45.3となり、計数
値が357となる確率が45.3分の1であることを表
す。当たりの確率220分の1は、1秒間の計数値が約
295の時に得られることになる。
【0060】 ここで、比較器に295をあらかじめ設
定しておき、計数値が295になり一致した時にパルス
を出力すれば、確率220分の1のランダムな当たりが
得られる。また距離を一定にしておき、設定値を可変す
ることにより、確率を変えることも可能である。線源の
強度は計測誤差及び製造時のバラツキによる誤差を伴う
ので平均計数値を一定にすることが重要である。
【0061】当たり確率を別の値とする他のゲーム機械
用にはランダムパルス発生装置の、上記設定する基準値
を変更して回路の焼き付けを行うことができる。このよ
うな、本願のランダムパルス発生装置を搭載したパチン
コ機等では、どの確率でも、一旦設定した、当たり確率
は一定となる。パチンコ機にあっては、プレイヤーにと
っては法定確率以内の当たりが確保され、健全娯楽とし
てのパチンコ機の普及に貢献する。本願は自然現象を利
用するので、人為的な不正はできなくなる。
【0062】さらに確率が設定できることから、ランダ
ムパルスをカメラ、照準機、レーダー等と連動させて、
スキャンニングに適用できる。従来のシーケンシャルな
スキャンニングよりランダムなスキャンニングの方が対
象物を短時間に捕捉可能となる。例えば、カメラが設置
された6室を各室毎に1台の監視モニタで、カメラを一
定の順番、123456のように、切り変えて監視する
場合を考える。一定の順番を外部に知られると、切り替
えが終了直後の部屋に次の切り替え時までに、侵入すれ
ば監視モニタでは監視できなくなる。本願のランダムパ
ルス発生装置で、確率を1/6とし、当たりが出た時の
数を部屋番号にしてカメラを切り替えると、ランダムに
スキャンニングができるので、監視モニタで6室が漏れ
なく短時間に監視できる。
【0063】この場合、確率値は最大スキャンニングの
数と同じとすれば、最終部分のスキャンニングが終了す
る時間をシーケンシャルの場合とほぼ同等な時間経過と
させることが出来る。本ランダムパルス発生装置のラン
ダムパルス及び確率については、自然現象に特有なゆら
ぎが含まれている。よって、人の行動予測、感情予測、
バイオサイエンスでの結果の予測、気象等の自然現象の
予測などに使用可能でなお、この実施例では、核種とし
241Amのα崩壊を利用し、α崩壊により半導体検
出素子が放電するものを、説明したが、RIは別のもの
でもよい。
【0064】自然崩壊するラジオアイソトープ(単一核
種、あるいは複合された核種でもよい、以下RI)をカ
ード等の表面に、バーコード配置或いはランダム配置す
る事により、配置位置及び放出される放射能強度をセキ
ュリテイコードの代用として使用出来る。次に、本装置
の適用例としてIDカードシステムにて説明する。図1
1において、IDカード60に、本願の図4、6のラン
ダムパルスの発生装置(RPG)で作成したランダムな
数値等を磁気帯63として追加記憶させる。磁気帯63
に追加した数値は本人及び発行側でも知ることができな
いようにする。この手法により本人はもとより発行側に
おいても不正使用ができなくなる。さらに使用の度にR
PGからの数値等で磁気帯63の内容を書き換えていけ
ば、コピー等による不正使用等が回避できる。
【0065】さらに、RPGをチップ化しカード等に組
み込む事により、さらにセキュリティ機能を向上させる
ことが可能となる。IDカード60上には、左から右方
向に第1核種61と第2核種62とが並ベて塗布されて
おり、このIDカード60は読取装置67で読み取られ
る。放射性物質は放射線計数器65で、磁気帯63のデ
ータは磁気ヘッド64でそれぞれ読み取られる。第1の
識別方法は、第1核種61と第2核種62とは図12に
示すように、半減期がそれぞれT1とT2の放射性物質
を塗布し、読取装置67の放射線計数器65により、そ
の位置とともに半滅期T1かT2かが検出される。図1
2では、縦軸が放射線強度即ち検出粒子数N、を横軸に
時間Tを示し、検出順番位置がT1T2か、T2T1か
で2組のIDカード60が識別できる。
【0066】第2の識別方法は、第1核種61と第2核
種62とは図13に示すように、塗布濃度がそれぞれD
1とD2の同一放射性物質を塗布し、読取装置67の放
射線計数器65により、その位置とともに放射線強度が
D1かD2かが検出される。図13では、縦軸が放射線
強度、検出粒子数Nを、横軸に粒子エネルギーレベルE
を示し、検出順番位置がD1D2か、D2D1かで2組
のIDカード60が識別できる。同一の核種では塗布濃
度が大きいものほど、放射線強度、検出粒子数Nが多く
くなるので、図13では塗布濃度D2>D1とし、D
2、D1が、所定時間内の計測で、即検出粒子数を表す
ものとして表示した。第1の識別方法と第2の識別方法
とを組み合わせて、T1T1D1D1等多種類の識別可
能なIDカード60を作成できる。核種数を増やし、塗
布濃度を複数濃度に設定し、塗布位置を2以上にすれ
ば、更に多くの識別可能なIDカード60を作成でき
る。
【0067】本方式はRPGに使用する放射性物質の半
減期を適当に選択することにより、自動的に使用期間の
制限も付加することが可能となる。カード毎に組み込ま
れたRPGの線源は、所定の半減期を持ち時間と共に減
衰している。この時間経過から使用時点での崩壊数を特
定することにより、その使用されているカードがオリジ
ナルか否か判定できる。また、本方式は、線源が組み込
まれることにより磁気記憶と違ってコピー等が全く不可
能となる。
【0068】しかるにオリジナルカード1枚のみ作成で
きるがそれ以外の複製ができない。よって、最も機密性
を要する装置のドア、銀行カード、パスポート等に利用
可能である。利用可能な期間については、数種の核種を
組み合わせることにより、使用期間内で減衰し期間を過
ぎると使用が出来なくなるカード等をを容易に作成でき
る。また、本カード等は、生きているカードとして認知
することができ本人と同一に取り扱うことが出来る。
【0069】
【発明の効果】 以上のように、本発明のランダムパル
ス発生装置によれば、自然界でランダムな現象として起
こるRIの崩壊を利用するので、製造技術や、時間変化
による偏りがなく、定時公平な当たり確率を作成でき
る。本願のランダムパルス発生装置を搭載したパチンコ
機では当りが続けて起こると、いわゆる連ちゃんが起き
ても1日の単位等、長時間では、当たり確率が一定にな
り、またパチンコ機の台によるバラツキがなくなる。本
願はパチンコ機とは別体に、ランダムパルス発生装置を
単体として製作できるので、取扱が簡単になり、検証や
試験や製作が容易になる。更に、このランダムパルス発
生装置はパチンコ機ばかりでなく乱数を利用するシュミ
レーション実験に応用できる。また、ランダムパルスの
発生装置が発生する当たりパルスと、最終的な当たり動
作をさせる出力パルスとを比較することにより、当該当
たり動作は、ランダムパルス発生器から出された信号と
一致するか否か判定することにより、ランダムパルス発
生器以降における不正も検定することが出来る。本手法
により、現在8ビットCPUに規制されている規則も不
要に出来る。自然崩壊してα、β、γ線を放出する放射
性物質をバーコード配置あるいはカード等の表面にラン
ダムに配置し、その線源の配置位置及び強度をそのカー
ドの特有な性質と見なし、IDカードとして取り扱うこ
とができる。配置するものはカートばかりでなく、セキ
ュリティ機能を要求するものであれば適用できる。本方
法は、線源強度は、その線源に特有な半減期により刻々
と自然崩壊し変化しているので同じカードは作成できな
い。また、コピーも不可能である。従来のIDカードに
RPGで作成したランダムな数値等を追加記憶させる。
追加した数値は本人及び発行側でも知ることができない
ようにする。この手法により本人はもとより発行側にお
いても不正使用ができなくなる。さらに使用の度にRP
Gからの数値等で書き換えていけば、コピー等による不
正使用等が回避できる。さらに、RPGをチップ化しカ
ード等に組み込む事により、さらにセキュリティ機能を
向上させることが可能となる。本方式はRPGに使用す
る放射性物質の半減期を適当に選択することにより、自
動的に使用期間の制限も付加することが可能となる。
カード毎に組み込まれたRPGの線源は、所定の半減期
を持ち時間と共に減衰している。この時間経過から使用
時点での崩壊数を特定することにより、その使用されて
いるカードがオリジナルか否か判定できる。また、本方
式は、線源が組み込まれることにより磁気記憶と違って
コピー等が全く不可能となる。 しかるにオリジナルカ
ード1枚のみ作成できるがそれ以外の複製ができない。
よって、最も機密性を要する装置のドア、銀行カード、
パスポート等に利用可能である。利用可能な期間につい
ては、数種の核種を組み合わせることにより、使用期間
内で減衰し期間を過ぎると使用が出来なくなるカード等
をを容易に作成できる。本ランダムパルスで発生するラ
ンダムパルス及び確率については、自然現象に特有なゆ
らぎが含まれている。よって、人の行動予測、感情予
測、バイオサイエンスでの結果の予測、気象等の自然現
象の予測などに使用可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のランダムパルス発生装置の実測データ
のグラフ図である。
【図2】本発明のランダムパルス発生装置の多数回の実
測データのグラフ図である。
【図3】本発明を説明するためのガウス分布図である。
【図4】本発明のランダムパルス発生装置を応用した回
路のブロック図である。
【図5】本発明に利用する崩壊現象を示す指数関数の図
である。
【図6】本発明のランダムパルス発生装置の全体回路の
ブロック図である。
【図7】本発明の弁別回路の動作を説明するタイミング
図である。
【図8】本発明のランダムパルス発生装置の動作を説明
するタイミング図である。
【図9】本発明の放射立体角の変動による確率ピークの
移動を説明する図である。
【図10】本発明のPINダイオードの構成を示す図で
ある。
【図11】本発明の数値特定装置を応用したIDカード
読み取り装置の図である。
【図12】本発明の数値特定装置の原理を説明する半減
期のグラフである。
【図13】本発明の数値特定装置の原理を説明する濃度
差のグラフである。
【符号の説明】
30 放射性カプセル 31 検出装置 32 弁別回路 33 設定回路 34 センサー 36 カウンタ 37 ROM 38 比較回路 39 駆動回路 40 表示装置 60 ICカード 61 第1核種 62 第2核種 63 磁気帯 64 磁気ヘッド 65 放射線計数器 67 読取装置 D PINダイオード D1、D2 塗布濃度 E 粒子エネルギーレベル ω 被爆立体角

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定の崩壊定数λに従い時間の経過ととも
    に放射線を放射して崩壊する放射性物質について、放射
    線のα、β、γ線を所定のエネルギーレベルを保有する
    粒子として捕え、これらの粒子の放射分布が指数関数の
    分布に従う点と、放射される前記粒子の個数がある時間
    区間でk個である確率Pkはポアソンの分布式で表示さ
    れる点と、前記粒子の個数kが一定の確率に従ってラン
    ダムに放射される点と、検出した粒子によりパルスを発
    生すればランダムなパルスを作成できる点とに着目し、 半導体検出器を使用して前記粒子を計測し、この電気信
    号から時定数信号を発生させて増幅する増幅回路と、 この時定数信号が前記粒子に対応した強度範囲のエネル
    ギーレベルであるものを弁別する波高弁別器と、 前記弁別された信号を前記粒子の個数として計数し保持
    する計数回路と、 この計数回路に対して計数動作を継続させる計数時間を
    プログラミングにより設定する設定回路と、 目標の確率を与える基準値をプログラミングにより設定
    するメモリと、 前記計数時間内に前記計数回路に保持された計数値と、 予め設定した一定の確率を与える基準値と検出した粒子
    数とを比較し、これらが一致した時当たりパルスを発生
    させるランダムパルス発生装置において、 前記放射性物質で、α線源には241Amまたは、U
    を、β線源には210Pb、または60Co、また
    137Cs、または90Srを、γ線源には22Na
    または51Cr、または54Mn、または60Co、ま
    たは57Co、または133Ba、または241Amを
    それぞれ使用することを特徴とする確率が変更可能なラ
    ンダムパルス発生装置。
  2. 【請求項2】 前記半導体検出素子には、α線用には表
    面障壁型Si検出器、またはPINダイオード検出器、
    またはCsI検出器、またはLED、またはZnS(A
    g)、またはBGO、またはHe−Ne検出器、または
    λp、またはCaF(Eu)検出器を、 β線用にはSi(Li)検出器、またはシンチレーショ
    ン検出器またはPINダイオード検出器を、 γ線用にはシンチレーション検出器または、Ge検出
    器、またはCsI、またはLED、またはZnS(A
    g)、またはBGO、またはHe−Ne、またはλpを
    それぞれ使用し、前記各検出器の性能に応じてノイズレ
    ベルと前記線源粒子の検出信号と区別できるような、ま
    たはピークエネルギー位置が低エネルギーのノイズと区
    別できるような検出器と線源との組み合わせとし、確率
    設定を必要とする回路に使用するPINダイオード検出
    器では、完全に電離が起こるようなI層の厚さに、確率
    設定を必要としない回路に使用する場合はI層を任意の
    厚さにする事とを特徴とする請求項1のランダムパルス
    発生装置
  3. 【請求項3】 前記ランダムパルス発生器をチップ化す
    る事及びカードに埋め込む事を特徴とする請求項2のラ
    ンダムパルス発生器。
  4. 【請求項4】自然崩壊してα、β、γ線を放出する微弱
    放射性物質を利用し、半減期が互いに相違する前記放射
    性物質があるいは同種類の放射性物質の密度を異にして
    放射線強度が区別された放射性物質が塗布されたカード
    と、このカード上の前記放射性物質から半減期または放
    射線強度とを読み出す放射性計測装置と、この放射性計
    測装置から出力される検出信号を電子コード信号に変換
    する変換装置とからなる微弱放射性物質を利用した数値
    特定装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005282346A (ja) * 2004-03-02 2005-10-13 Tsuyusaki Norihei ランダムパルス発生器を使用した認証装置及び認証方法
WO2007132946A1 (ja) 2006-05-16 2007-11-22 Osamu Kameda 真性乱数発生素子あるいは擬似乱数発生素子を用いた認証用デバイス、認証装置及び認証方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001117756A (ja) * 1999-10-20 2001-04-27 Iwaki Electronics Corp ランダムパルス発生器ならびにそれを利用した乱数発生装置および確率発生装置
WO2005083643A1 (en) * 2004-03-02 2005-09-09 Noriyoshi Tsuyuzaki Authentication apparatus and authentication method using random pulse generator
JP2011159364A (ja) * 2010-02-02 2011-08-18 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置および不揮発性半導体記憶装置の駆動方法
KR102093317B1 (ko) * 2018-08-13 2020-03-25 주식회사 이와이엘 무기섬광체를 이용한 난수생성방법 및 난수생성장치

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005282346A (ja) * 2004-03-02 2005-10-13 Tsuyusaki Norihei ランダムパルス発生器を使用した認証装置及び認証方法
JP4575186B2 (ja) * 2004-03-02 2010-11-04 典平 露崎 ランダムパルス発生器を使用した認証装置及び認証方法
WO2007132946A1 (ja) 2006-05-16 2007-11-22 Osamu Kameda 真性乱数発生素子あるいは擬似乱数発生素子を用いた認証用デバイス、認証装置及び認証方法
US8756421B2 (en) 2006-05-16 2014-06-17 Osamu Kameda Authentication device using true random number generating element or pseudo-random number generating element, authentication apparatus, and authentication method

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