JP2912552B2 - 包装機における不良シール部の検出方法 - Google Patents

包装機における不良シール部の検出方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被包物を投入後に開口
部が横シールされる包装機において、袋の横シール部に
不良シール部があるか否かの検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】包装機は、袋を１枚づつ供給して両縦シ
ール部を掴む供給ステーション、開口された袋にホッパ
ーを介して被包物を投入する充填ステーション、袋を押
圧する押圧ステーション、袋を受け渡し、受け取る、受
渡及び受取ステーション、ガスを充填するガス充填ステ
ーション、袋の開口部の横シールをするシールステーシ
ョン、冷却ステーション及び排出ステーションで構成さ
れる。そして、当方が、平成５年８月３日付で出願した
「包装機における不良シール検出装置」（特願平５ー２
１２２１３号）においては、横シール部に不良シール部
（例えば、カミコミ片）があるか否かを検出するため、
シールステーションの後に、検出ステーションを付加
し、検出された状態に従って、良品は良品ステーション
へ、カミコミ片等がある不良品は不良品ステーションに
排出する旨を提案した。前記検出ステーションでの構成
の概略を説明すると、投光子と受光子がセットされ、投
光子は、受光子との間を搬送する袋ａの横シール部を投
射すると共に受光子はその透過光量を測定して、設定値
以下の透過光量のときには、横シール部に被包物のカミ
コミ片があると判断して、不良品として、不良排出ステ
ーションから排出するものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前記、従来の不良検出
方法は、横シール部の光の静的透過量の変化量を検出し
て行うものであるが、縦シール及び横シールの状態によ
って透過量が微妙に異なり、かかる変化を測定検出して
カミコミ片であるか否かを判定することは困難である場
合がある。そこで、本発明は、投光子から横シール部に
照射される光を受光子で受けて、その受光量の変化量
（差）を基準に、横シール部に被包物のカミコミ片があ
るか否かを検出する方法を提供するものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】請求項１の検出方法は、
受光子を袋の進行方向に二個隣接し、それらの受光子の
受光量の差が設定値以上であるときトリガパルスを発生
させて、そのトリガパルスによって、縦シール部を通過
するに要する時間より長く設定の時定数Ｔの出力パルス
を発生させて、この出力パルスを計数して、その個数に
よって不良シール部の有無を検出するものである。
【０００５】
【作用】縦シールと横シールの状態は、対の受光子で受
光するため、隣接部を同時に受光している。そこで、そ
れらの受光量の差が設定値以上であるとき、トリガパル
スを発させる。そして、そのトリガパルスによって、発
生する出力パルスの時定数Ｔを縦シール部を通過する時
間より長くすることによって、縦シール部で１個のパル
スが発生する。そのため、発生するパルス数は、正常な
袋の場合には両端の縦シール部で発生する２個である
が、カミコミ片が存在する場合にはそれ以上のパルス数
となって、横シール部の不良検出ができる。
【０００６】
【実施例】図１は検出ステーションの平面図、図２は側
面図である。底部及び両縦縁に縦シール部ｃを形成の袋
ａは、図示略の投入ステーションで被包物が投入された
後、開口部は、縦シール部ｃと両縁で重なって横シール
ｂされる。そして、図１（図２）に示す検出ステーショ
ンに、両縦シール部ｃを掴み腕１０で掴まれた状態で、
取付け体２に垂下のＬ字型のガイド体３に案内される。
そして、この検出ステーションには、袋の横シール部ｂ
の不良シール（カミコミ片がある）を検出するために、
投光子２０と受光子３０が取付け体２に固定してあっ
て、投光子２０からの光は、前記ガイド体３に穿孔の透
過孔３ａを通って、袋の横シール部ｂに照射し、その透
過光を受光子３０で受光する。
【０００７】前記投光子２０は白熱電球を使用し、受光
子３０に対して、より均等に照射可能とするために、フ
ィラメントの長手方向を受光子３０に対応させ、更に、
フィラメントの影響を減少させて、出来るだけ均一光源
体として照射を行うため、スリガラス２１を介して照射
している。一方、受光子３０（以下、Ａ、Ｂともいう）
は、袋ａの進行方向に対して、一対のフォトダイオード
の隣接で構成し、赤外線の影響を減少するため、赤外線
フィルタ３１を介して受光するようになっている。尚、
被包物として「削り鰹」の場合には、シール部にかみこ
んだままヒートシールを行うと、袋の材質のポリエチレ
ンに融け込んで透明色に近い色調をなすが、削り鰹の赤
色部が僅かに残るため、この赤みを判別し易くするた
め、補色関係である緑色のフィルタを介して受光するこ
とは有効な手段である。尚、受光子Ａ、Ｂは、袋ａがな
い状態で、投光子２０から同じレベルで受光するように
調整してある。
【０００８】次に、袋の横シール部ｂの「カミコミ片」
の有無の検出方法について、袋ａの各部と検出回路（図
４）の各所の出力の関係を示す図３、及び検出回路のブ
ロック図を示す図４について説明する。順次、袋ａが搬
送される過程において、投光子２０からの光を受ける受
光子Ａ、Ｂは下記する段階を経て、受光子ＡとＢとの光
量差は、図３に示すような波形が観測される。 （段階１）袋ａの介在がなく、受光子Ａ、Ｂが共に発光
子２０からの光を直接受光しているとき。 （段階２）受光子Ａが袋の縦シール部ｃ（及び横シール
部ｂ）を受光し、受光子Ｂが発光子２０から直接受光し
ているとき。 （段階３）受光子Ａ、Ｂが、共に袋の縦シール部ｃ及び
横シール部ｂを受光するとき。 （段階４）受光子Ａが袋の横シールｂを、受光子Ｂが袋
の縦シール部ｃを受光しているとき。 （段階５）受光子Ａ、Ｂが、共に袋の横シール部ｂを受
光するとき。 （段階６）受光子Ａが「カミコミ片」を、受光子Ｂが横
シール部ｂを受光しているとき。 （段階７）受光子Ａ、Ｂが、共に「カミコミ片」を受光
するとき。但し、この場合、カミコミ片の大きさによっ
て存在しない場合がある。 （段階８）受光子Ａが横シール部ｂを、受光子Ｂが「カ
ミコミ片」を受光しているとき。 （段階９）受光子Ａ、Ｂが、共に袋の横シール部ｂを受
光するとき。 （段階１０）受光子Ａが袋ａの縦シール部ｃ及び横シー
ル部ｂを受光し、受光子Ｂが横シールｂを受光している
とき。 （段階１１）受光子Ａ、Ｂが、共に袋の縦シール部ｃを
受光するとき。 （段階１２）受光子Ａが発光子２０から直接、受光し、
Ｂが袋の縦シール部ｃを受光するとき。 （段階１３）袋ａの介在がなく、受光子Ａ、Ｂが共に発
光子２０からの光を直接受光しているとき。
【０００９】前記各段階で、受光子Ａ、Ｂの受光量差が
大きいのは、「２」、「４」、「６」、「８」、「１
０」、「１２」である。そこで、これらの光量差に注目
して、図４に示す検出回路ブロック図で、「カミコミ
片」の有無を検出する。
【００１０】この検出回路に於て、受光子Ａ及びＢの受
光信号は差動アンプで光量差が求められ、その光量差
（図３に示す波形）は波形整形される。そして、前記光
量差がレベル調整回路で設定される設定値以上であると
き、トリガパルスを発生させる。尚、このトリガパルス
は、「光量差」の絶対値が設定値より大きい場合に発生
させるようになっていて、前記各段階において、
「２」、「４」、「６」、「８」、「１０」、「１２」
で発生する。そして、前記のトリガパルスによって、ワ
ンショットマルチバイブレータを介して時定数（パルス
幅）Ｔのパルスを発生させ、このパルスをパルスカウン
タで計数する。尚、このパルスカウンタのリセットパル
スは、各ステーションに移設するタイミングでもって行
われ、１袋毎にリセットされる。
【００１１】又、前記ワンショットマルチバイブレータ
の出力パルスの時定数Ｔは、縦シール部ｃを通過する時
間より長く設定されているため、前記「２」、「６」及
び「１０」の各段階ではトリガパルスによってパルスが
発生するが、「４」、「８」、「１２」の段階において
は、ワンショットマルチバイブレータからのパルスは発
生しない。その結果、ワンショットマルチバイブレータ
の出力パルス数は、両端の縦シール部ｃで発生する２個
のパルスのときには「カミコミ片」がなく正常と判断で
きるが、パルス数が３個以上のときには、「カミコミ
片」があったと判断できる。
【００１２】この様に、受光子Ａ、Ｂを２個とし、且
つ、ワンショットマルチバイブレータ（時定数Ｔ）を採
用することによって、袋の縦シール部ｃで発生するパル
ス数を１個となるように簡略化を図っていて、その結
果、袋の両端の縦シール部ｃで発生するパルス数は２個
であって、それ以上のパルス数が発生したときには、
「カミコミ片」があったと判定できる。尚、前記時定数
Ｔは、前記した様に、袋の縦シール部ｃを通過する時間
より長く設定するため、袋の大きさによって異なる縦シ
ールの幅ｃ及び搬送速度に対応して設定値を変更する。
【００１３】又、前記時定数Ｔを縦シール部ｃを通過す
る時間より短く設定することもでき、この場合には、
「２」、「４」、「６」、「８」、「１０」、「１２」
の各段階で、ワンショットマルチバイブレータでパルス
が発生する。そこで、５個以上のパルスを計数したと
き、カミコミ片があったと判断できるが、パルスカウン
タの桁数が増えて、ロジック回路で構成するカウンタ回
路の構成が複雑となる。又、前記検出回路（図３）にお
いて、「トリガパルス」及び「ワンショットマルチバイ
ブレータ」の替りに「シュミットトリガ」回路を導入し
て、前記各段階「２」〜「４」、「６」〜「８」、「１
０」〜「１２」の変化するパルスに対応して、パルスを
発生させるように構成することもできる。この場合、計
数されるパルスが２個の場合には正常で、３個以上の場
合には「カミコミ片」が存在していることとなる。又、
前記は何れも、受光子Ａ、Ｂの絶対値差が設定値以上で
あるときトリガパルスを発生させるように構成している
が、片側の値に対してのみとすることによって、
「２」、「６」、「１０」（或は、「４」、「８」、
「１２」）の段階だけにおいて、トリガパルスを発生す
るように構成することも可能である。
【００１４】尚、前記検出回路（図３）には、差動アン
プの出力を波形整形及び光軸検出回路を経て、光軸のず
れを表示する表示器（受光子Ａ、Ｂの何れの方が強く受
光しているかを４段階で表示）が付設してある。そのた
め、作業員は、この表示器を見ながら、受光子Ａと受光
子Ｂを同じレベルで受光可能に容易に設定することがで
きる。又、投光子２０の電球切れに対しても、球切れが
表示され、不良品発生の早期発見に寄与している。
【００１５】
【発明の効果】本発明の不良シール部の検出方法は、一
対の受光子Ａ、Ｂでの受光量の差を介して、トリガパル
スを発生させ、そのトリガパルスによって、発生する出
力パルスの時定数を縦シール部を通過するに要する時間
より長く設定することによって、縦シール部に於ける発
生パルスは１個となって、より明確に、シール不良の検
出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】検出ステーションの平面図である。
【図２】図１の側面図である。
【図３】袋ａの各部と図４に示す検出回路の出力の関係
を示す図である。
【図４】検出回路のブロック図である。
【符号の説明】
ａ 袋 ｂ 横シール部 ｃ 縦シール部 ３ ガイド体 ３ａ 透過孔 ２０ 投光子 ３０（Ａ、Ｂ） 受光子
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−45125（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−317421（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−130861（ＪＰ，Ａ) 実開 昭48−3091（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) B65B 57/10 G01N 21/84

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 両縦シール部を有する袋に被包物が投入
    された後に、開口部が横シールされ、前記両縦シール部
    を掴み腕で掴まれれて搬送される袋であって、投光子を
    前記横シール部に照射して、その透過光を受光子で受光
    して不良シールを検出する方法において、 前記受光子を袋の進行方向に二個隣接し、それらの受光
    子の受光量の差が設定値以上であるときトリガパルスを
    発生させて、そのトリガパルスによって、縦シール部を通過するに要
    する時間より長く設定の時定数Ｔの出力パルスを発生さ
    せて、この出力パルスを計数して、その個数によって 不
    良シール部があるか否かを検出する方法。
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