JP2901092B2

JP2901092B2 - 光ヘッド及びそれを用いた光学的情報再生装置

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Publication number: JP2901092B2
Application number: JP2321116A
Authority: JP
Inventors: 宏明星; 英樹森島; 昌邦山本; 英司山口; 進松村
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1990-11-27
Filing date: 1990-11-27
Publication date: 1999-06-02
Anticipated expiration: 2014-06-02
Also published as: JPH04192130A

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］本発明は、光学的情報再生用の光ヘッド及びそれを用
いた光学的情報再生装置に関する。

［従来の技術］近年、大容量でビット当りの単価の安価なメモリとし
て、光ディスク、光カードなどの光メモリが注目されて
いる。中でも、光磁気ディスクは情報の消去が可能であ
るため、コンピュータの外部記憶装置や画像ファイル用
メモリとして応用研究が盛んである。

ところで、このような光磁気ディスクの記録方式とし
ては、光変調方式と磁界変調方式が知られている。光変
調方式は、一定のバイアス磁界をディスクに印加した状
態で、強度変調されたレーザ光を照射する方式である。
また、磁界変調方式は一定強度のレーザ光を照射した状
態で、変調されたバイアス磁界を印加する方式である。
この２つの記録方式で、以前に記録した情報を消去しな
がら新たな情報を記録する、いわゆるオーバライトを行
うにはディスクの媒体構成が単純でよい磁界変調方式が
有利である。また、情報の記録形態としては、現在のと
ころディスク上のドメイン（磁区）というマークの間隔
を変調して情報を記録する、いわゆるマーク間記録方式
が一般的である。この現行方式に対し、原理的に記録密
度を２倍にできるというマーク長記録、即ちマークの長
さを変調して情報の記録を行うマーク長記録方式も研究
が行われている。こうしたマーク長記録による高密度記
録においても、磁界変調方式は光スポットの大きさや光
量分布による制限を受けにくいので、有利であると言わ
れている。

第７図はその磁界変調方式のディスク及びその周辺を
示した構成図である。同図において、７は光源として用
いられた半導体レーザであって、そのレーザ光束はコリ
メータレンズ６で平行化された後、ビーム整形プリズム
５で円光束に変換される。また、ビームスプリッタ４を
透過し、対物レンズ３で絞込まれて光磁気ディスク２の
記録層に微小光スポットとして集光される。光磁気ディ
スク２の上面には、対物レンズ３と対向して磁気ヘッド
１が配置されている。

一方、光磁気ディスク２から反射された光は、対物レ
ンズ３、ビームスプリッタ４を経由してビームスプリッ
タ８へ導かれる。ビームスプリッタ８は反射光を２つに
分離し、一方を1/2波長板９側の再生光学系へ、他方を
集光レンズ14側の制御光学系へ導く。再生光学系では、
1/2波長板９を通った光が集光レンズ10を介してビーム
スプリッタ13へ導かれ、ここで更に２つに分離される。
そして、分離された光は光検出器11,12でそれぞれ受光
され、この受光出力から情報信号が得られる。また、制
御光学系では集光レンズ14を通った光は、ビームスプリ
ッタ15で２つに分離される。分離された一方の光は、光
検出器16で受光され、他方はナイフエッジ17を介して光
検出器18で受光される。そして、光検出器16,18の受光
信号によりサーボ信号が得られる。

次に、情報の記録を行う場合は、半導体レーザ７から
一定強度のレーザ光束が照射され、光磁気ディスク２に
熱バイアスが与えられる。これにより、記録層の温度が
キューリー点温度以上に昇温し、この状態で温度昇温部
位に磁気ヘッド１からバイアス磁界が印加される。バイ
アス磁界は、記録信号に応じて変調されており、記録層
の磁化の向きはバイアス磁界の向きと同じ方向に揃えら
れる。そして、記録層の温度がキューリー点温度以下に
なる瞬間に磁化の向きが保持され、情報を表わすドメイ
ンが形成される。この場合、通常光スポットはガウシア
ンの光強度分布を持つため、加熱された媒体の温度分布
は光量分布を反映した滑らかな温度分布となり、キュー
リー点温度の等温線の形状は矩形状ではない。そのた
め、記録されるドメインは第８図に示すように、矢羽根
状になる。同図（ａ）はマーク間記録により記録された
ドメインを示し、各マークの形状は等しく、マークの間
隔が変調されている。また、同図（ｂ）はマーク長記録
のドメインを示しており、各マークの長さが変調され、
そのエッジの間隔が情報を表わしている。

［発明が解決しようとしている課題］しかしながら、上記従来の磁界変調方式では、情報の
ビットに対応する矢羽根状ドメインを再生する場合、光
量分布がガウシアン分布である円形光スポットで矢羽根
状ドメインを走査することになる。そのため、矢羽根の
前と後で光スポットとドメインの相関関係が異なるこ
と、読出す前後のドメインからのクロストークも非対称
であること、矢羽根状ドメインの尖った部分、即ち空間
周波数の高い部分は形状が不安定になりやすいことなど
の不具合が生じる。従って、従来にあってはそれらの不
具合や光学系のMTFが悪いことなどによって、信号のジ
ッターの増加を引起こし、エラーレートの増大や信頼性
の低下を招く問題があった。特に、第８図（ｂ）に示し
たマーク長記録においては、ドメインのエッジの位置が
情報を表わすので、ジッターによるエラーレートの増大
が顕著であった。

本発明は、このような問題点を解消するためになされ
たもので、その目的はジッターを低減し、高い信頼性で
情報を再生することができる光ヘッド及びそれを用いた
光学的情報再生装置を提供することにある。

［課題を解決するための手段］本発明のこのような目的は、情報記録媒体に照射され
た再生用光束の反射光、または透過光を検出するための
情報再生用センサを有する光ヘッドにおいて、前記セン
サの２次元形状を前記記録媒体に記録されたビットの２
次元形状と略相似に形成すると共に、前記センサを、前
記ビットの１次元読み出し方向に直交する方向に、前記
ビットのエッジ形状と略相似の分割線で、少なくとも２
つに分割したことを特徴とする光ヘッドによって達成さ
れる。

また、本発明の目的は、２次元形状が情報記録媒体に
記録されたビットの２次元形状と略相似に形成されると
共に、前記ビットの１次元読み出し方向に直交する方向
に、前記ビットのエッジ形状と略相似の分割線で、少な
くとも２つに分割された情報再生用センサを有する光ヘ
ッドと、前記分割されたセンサの出力の差信号を生成す
る手段と、前記差信号の振幅の最大及び最小のピーク位
置を検出する手段とを有し、前記ピーク位置検出手段の
出力によって、前記ビットのエッジ位置を検出すること
を特徴とする光学的情報再生装置によって達成される。

［実施例］以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら
詳細に説明する。まず、本発明の実施例を説明する前に
参照例について説明する。第１図は本発明の参考例を示
す模式図である。なお、第１図では第７図に示した従来
装置と同一部分は、同一符号を付している。

第１図において、３は光源の光束を微小光スポットに
絞るための対物レンズ、10は再生光学系の光路に設けら
れた集光レンズであり、これらは第７図のものと同じで
ある。また、実際には対物レンズ３や集光レンズ10以外
にも、第７図と同じ構成部品が存在するが、ここでは省
略して示している。21は光磁気ディスクの情報トラック
上に記録されたビッチ（ドメイン）であり、図示のよう
にトラック方向（Ａ方向）に並んで記録されている。な
お、図中のＢはトラック横断方向を表わす。22はその情
報トラック上に照射された再生用の光スポットを示し、
半導体レーザの光束が対物レンズ３によって絞られたも
のである。この再生用光スポットは光磁気ディスクの表
面で反射された後、対物レンズ３で平行光に戻され、更
に集光レンズ10によりセンサ23上に結像される。

センサ23の２次元形状は、図示の如く媒体面上のビッ
トの基本周期を表わすドメイン21の標準形状と略相似に
形成されている。また、第１図の結像光学系では像は物
体に対し、反転する関係となるので、センサ23はそれに
応じドメイン21に対して反転した位置関係となるように
配置されている。

ここで、対物レンズ３の焦点距離をf₀、集光レンズ10
の焦点距離をf_sとすると、光学系の横倍率βは、次式で
表わされる。

β＝−f_s/f₀ …（１）なお、ここでは簡単のためにディスク基板やセンサの
モールド樹脂などの他の光学素子の影響を無視している
が、それらを考慮した横倍率を求めることはもちろん可
能である。

この結果から、センサ23のドメイン21に対する比は、
光学系横倍率｜β｜に略等しく設定されている。また、
24はセンサ23をトラック直交方向に上下の面積を等しく
分割した仮想分割線を示している。センサ23は、この分
割線24が再生用光束の光軸に交わるように配置されてい
る。

以上のように、本参考例においては、センサ23の２次
元形状をドメインの２次元形状と相似形にしたので、ド
メイン形状とスポット形状に依存して生じるジッター成
分を大幅に低減することができる。

第２図は本発明の他の参考例であり、センサ23の種々
の変形例を示した模式図である。同図（ａ）はドメイン
の長さ（Ａ方向）とドメインの幅（Ｂ方向）がほぼ等し
いときの参考例である。また、同図（ｂ）は基本周期、
つまりドメイン長さとドメイン幅が異なる場合のセンサ
23の形状を示し、ここではドメイン幅よりドメイン長さ
が大きくなっている。同図（ｃ）はＢ方向に並んだ隣接
トラックからのクロストーク及びグループからの光の位
相変調の影響を低減するために、同図（ａ）の参考例よ
りもＢ方向の幅を狭くした例である。また、同図（ｄ）
は例えば光変調方式の再生系に適用した例で、基本同期
ビット（ドメイン）は円形状となるので、センサ23の形
状はそれに合わせて円形状に形成されている。同図
（ａ）は同様に長円ビットに合わせたセンサ23の例、同
図（ｆ）は隣接トラックからのクロストーク及びグルー
プの影響の低減のために、センサ23の幅を狭めた例であ
る。

このようにセンサ23としては、ドメインの形状に応じ
て種々の変形が可能である。なお、第２図で示したセン
サ23はいずれであっても第１図の例と同様に、センサ23
はトラック直交方向に上下の面積を均等に分割する仮想
分割線24が光軸と交わるように配置するものとする。ま
た、第１図、第２図の参考例においては、光スポットの
香料分布が例えば、ガウシアン分布のように、点対称で
かつ周辺で小さい場合、単に面積が均等に分割された位
置ではなく、その光量分布を考慮した位置にセンサ位置
を補正することが可能である。この場合、例えば第１図
に示される媒体上の光スポット22とドメイン21の相関が
最大となる位置に補正することができ、これによってセ
ンサ23の出力を最大にすることができる。

第３図は本発明の更に他の参考例を示す模式図であ
る。同図において、曲線25はビット（ドメイン）のエッ
ジ形状を表わし、多角形状の線26はセンサ23の形状を示
している。各参考例について具体的に説明すると、まず
第３図（ａ）の参考例はビットの曲線25に対し、センサ
23の多角形状の線26が内接するように形成した例であ
る。また、同図（ｂ）の参考例は反対に曲線25に対し、
センサ23の線26が外接するように形成した例である。

上記参考例にあっては、センサ23の曲線部分の形状を
多角形状に形成しているので、センサ23を容易に作製で
きる利点がある。また、多角形の形状としては、上記に
限らずビットのエッジ形状に応じて設定すればよい。こ
のようにセンサ23の形状が多角形状であっても、最終的
に再生信号のジッターを許容値以下に低減できれば、実
用上は何ら問題はない。なお、第３図（ａ），（ｂ）の
参考例では、ビットエッジに対し、センサ23が内外にや
やシフトしているので、その分ジッター低減の効果に影
響を与える。

第３図（ｃ）はその問題点を解決した参考例で、ビッ
トエッジの曲線25に対し、センサ23のエッジの多角形の
線26を近似するように形成した例である。即ち、線26に
よって分割される曲線25に対しての内側の面積と外側の
面積が略等しくなるようにセンサ23を配置した例であ
る。従って、第３図（ｃ）の参考例にあっては、センサ
の作製が容易であるばかりでなく、ジッターの低減につ
いても第１図、第２図の参考例と同等の効果を得ること
ができる。

次に、本発明の実施例について説明する。第４図は本
発明の一実施例を示す模式図である。但し、第４図
（ａ）〜（ｃ）のうち第４図（ａ）は参考例、第４図
（ｂ）、（ｃ）は実施例として説明する。第４図（ａ）
の場合はセンサ23の形状が方形、第４図（ｂ）、（ｃ）
の場合は第１図〜第３図の参考例で説明したようにセン
サ23の形状がビットの形状と相似になっている。この実
施例は第８図（ｂ）のマーク長記録の再生を行うのに特
に効果的である。また、第４図（ａ）〜（ｃ）では、い
ずれもセンサ23がビット（ドメイン）の走査方向（トラ
ック方向）Ａに直交する方向に２分割されている。分割
された２つのセンサ27、28のセンサ面の面積は略同じに
なるように分割されている。また、分割線の形状はビッ
トのエッジ形状と略相似であり、その比は光学系の横倍
率と略等しく設定されている。分割されたセンサ27及び
28の出力は、加算回路29、減算回路30へそれぞれ出力さ
れ、加算出力31、減算出力32が得られる。本実施例は、
詳しく後述するようにこの２つの出力を用いて記録情報
の再生を行う。また、本実施例においては、以上のよう
に空間的差分をとることにより、空間的微分を実現し、
マーク長記録の再生性能を向上させるものである。

以下、本実施例の再生動作を第５図を用いて説明す
る。ここでは、再生原理を説明するだけであるので、例
えば、第４図（ａ）のセンサを用いた場合の再生動作に
ついて説明する。第４図（ｂ）、（ｃ）のセンサを用い
た場合については後述する。同図（ａ）は分割されたセ
ンサ27の出力電流を電圧に変換した信号波形33、同図
（ｂ）はもう一方のセンサ28の出力電流を電圧に変換し
た信号波形34である。なお、各センサ出力は簡単のため
に正弦波とする。また、第５図では情報トラックに変調
の基本周期Ｔで連続的にビットが記録されているものと
する。センサ23は、前述のように基本周期Ｔのビットと
相似であるため、２分割したセンサ27,28の出力は、図
示のように位相がπ/2ずれる。

ここで、センサ27,28の出力の振幅を規格化して１と
すれば、センサ27の出力V₂₇、センサ28の出力V₂₈は次式
で表わされる。但し、初期位相は無視するものとする。

V₂₇＝cosωｔ＋V_d …（２） V₂₈＝cos（ωｔ＋π/2）＋V_d ＝−sinωｔ＋V_d …（３）なお、V_dは規格化されたdc成分である。この２つの出
力の差V₃₁と和V₃₂は、次式で得られる。V₃₁は加算回路2
9の出力、V₃₂は減算回路30の出力である。

第５図（ｃ）はその（４）式で得られるV₃₁の信号波
形35、第５図（ｄ）は（５）式で得られるV₃₂の信号波
形36である。なお、従来においては、センサ面に到達す
る全光量を検出できる大きな面積のセンサで検出してい
たので、その出力は信号波形35に近いものであった。

ここで、上記のように得られた信号から記録されたビ
ットのエッジを検出するには、第５図（ｃ）に示す信号
波形35において、即ち（４）式においてsinの項とdc成
分の項の交点を検出すればよい。具体的には、電気的な
高域通過フィルタを用いてdc成分をカットした後、sin
の項のゼロクロス点をスレッシュホールドとして２値化
を行えばよい。第５図（ｄ）はそうして得られた２値化
信号37であり、パルスがビット（ドメイン）に相当し、
その立上り、立下りがエッジに対応する。

また、本実施例においては、第５図（ｄ）に示した差
分の信号波形36、即ち（５）式において既にdc成分は除
去されているので、これを用いればゼロクロス点をスレ
ッシュホールドとして２値化を行うだけでよい。第５図
（ｆ）はこうして得られた２値信号38を示している。ま
た、本実施例では差分の信号波形36のピーク位置を図示
しないピーク検出回路によって検出し、第５図（ｇ）に
示すようなピーク位置を示すパルス信号39を得ている。
具体的なピーク検出回路としては、種々の公知の検出回
路で実現できるので、ここでは説明を省略する。本実施
例においては、ビットのエッジを検出する場合、和信号
を示す信号波形35から得られた２値化信号37ではなく、
差分を示す信号波形36から得られたパルス信号39を用い
てビットエッジの検出、再生を行う。なお、２値化信号
38をエッジ検出の際にエッジ位置のゲートとして用いる
ことによって、パルス信号39によるエッジ検出の信頼性
を向上させることができる。

このように本実施例では、差信号からビットのエッジ
検出を行うとしたが、和信号を用いたエッジ検出と比較
した場合、本例のようにビットが単一周期の繰返しで続
いているときは、顕著な差はない。しかし、実際には変
調され、記録されたビットの並びはランダムであり、こ
のような現実的なエッジ検出においては、差信号による
エッジ検出が有利である。以下、和信号によるエッジ検
出と差信号によるエッジ検出について、第６図を用いて
比較説明する。

第６図（ａ）は情報トラック上に基本周期1Tのドメイ
ン40aが基本周期2Tのドメイン40bに挟まれて記録されて
いる状態を示した図である。なお、ドメイン40aと40bは
磁化の方向が反対方向である。同図（ｂ）は前記情報ト
ラック上に再生用光束を走査して得られた和信号であ
る。即ち、センサ27と28の出力を加算する加算回路29の
加算出力31の信号波形41を示す。同図（ｂ）において、
この加算出力を高域濾過フィルタに通し、dc成分をカッ
トすると本来のゼロクロスレベルは、信号波形41のdc成
分2V_dのレベル42であるが、光学系の周波数特性、即ちM
TFがフラットでないため、周期2Tの心服が1Tの振幅より
も大きくなる。そのため、結果として高域濾過フィルタ
を通すと、ゼロクロスレベルが43として示すレベルにシ
フトする。第６図（ｃ）は同図（ｂ）の和信号から得ら
れた２値化信号44を示しており、ゼロクロスレベルがシ
フトしているため、２値化信号のエッジ位置もずれてい
ることがわかる。従って、和信号によるエッジ検出で
は、検出したビットエッジの位置はゼロクロスレベルの
シフトに応じた誤差を含み、正確にエッジ位置を検出で
きない。

第６図（ｄ）は差信号の信号波形45である。即ち、セ
ンサ27と28の差を演算する減算回路30の減算出力32の波
形を示す。この差信号にあっては、空間的微分（差分）
によりdc成分を除去しているため、ドメイン40aのエッ
ジに対し、最大、最小のピーク位置は変動しない。同図
（ｅ）は差信号から得られた２値化信号であり、前述の
ようにゲート用として使用する信号である。また、同図
（ｆ）は差信号のピーク位置を示すパルス信号47であっ
て、ドメインのエッジ位置を表わす信号である。このよ
うに差信号においては、ジッター成分が取除かれている
ので、正確にエッジ検出を行うことができ、信頼性の高
い情報再生を行うことができる。また、ジッターを低減
し、正確なエッジ検出を実現したため、マーク長記録の
ような高密度記録の情報再生に特に効果的である。

以上は第４図（ａ）のセンサを用いた場合の再生動作
であるが、第４図（ｂ）及び（ｃ）のセンサを用いた場
合の再生動作は基本的に第４図（ａ）と同じである。但
し、第４図（ｂ）のセンサ23を用いた場合は、前述のよ
うにセンサ23の形状がビットの形状と相似に形成されて
いるため、トラック方向（Ａ方向）に並んだビットから
のクロストークを低減でき、ジッター低減効果を更に向
上することができる。また、第４図（ｃ）の場合はセン
サ23の幅が小さくなっているので、隣接トラックからの
クロストークを低減することができる。

なお、第４図（ａ）の参考例、第４図（ｂ）、（ｃ）
の実施例において、センサ23は光軸に対して次のように
配置すればよい。即ち、第４図（ａ）に示すように仮想
分割線24がセンサ27の斜線で示す領域27a,27bの和の面
積と、センサ28の斜線で示す領域28aの面積が等しくな
るように分割したときに、光軸が仮想分割線24に交わる
ように位置決めすればよい。このように位置決めをした
場合、ビットのエッジが光軸上にあるときはセンサ27と
28の差信号32がピークとなる。もちろん、エッジの位置
はＢ方向に分布をもつので、実際にどこをエッジにする
かによって、センサの分割線を変化させればよい。具体
的なセンサの位置調整としては、予め決定したビットの
エッジ位置に光軸を合わせ、この状態からセンサをトラ
ック方向に移動し、差信号がピークになった位置をセン
サ位置として位置決めすればよい。その際、光スポット
の光量分布の影響の補正を含めて位置決めを行うことに
なる。

また、第４図のセンサの分割線形状としては、第３図
に示したものと同様に多角形近似であってもよい。更
に、２分割センサに限ることなく、クロストークやジッ
ターに応じて最適な分割数にしてもよい。

なお、以上の第１図〜第４図の参考例や実施例では、
情報記録媒体として光磁気ディスクを対象に説明した
が、本発明はこれに限るものではなく、ビット形状のも
のや反射率変化によるもの、あるいは相変化や色素系の
媒体であってももちろん適用可能である。また、実施例
では図示しなかったが、第７図に示したように再生系を
差動検出構成とすることによって、媒体ノイズ、レーザ
ノイズなどを低減でき、信号レベルを２倍にできる。従
って、本発明と差動検出構成を併用することによって、
更にクロストーク、ジッターなどを低減することができ
る。更に、実施例では反射型の記録媒体を使用したが、
透過型のものであってもよい。

［発明の効果］以上説明したように本発明によれば、情報再生用セン
サの２次元形状を記録媒体上のビットの２次元形状と略
相似に形成すると共に、センサをビットの１次元読み出
し方向に直交する方向に、ビットのエッジ形状と略相似
の分割線で、少なくとも２つに分割することにより、再
生信号のジッター成分、クロストーク成分を従来に比べ
て著しく低減することができ、記録媒体に記録されたビ
ットのエッジを正確に検出することができる。また、分
割されたセンサの差信号によりビットのエッジ位置を検
出することにより、エラーレートを大幅に低減でき、高
い信頼性の情報再生を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の参考例を示す図、第２図は他の参考例
を示す図、第３図は更に他の参考例を示す図、第４図は
参考例及び実施例を示す図、第５図は第４図に示す参考
例及び実施例のビットエッジ検出動作を示すタイムチャ
ート、第６図は和信号と差信号によるエッジ検出動作を
比較して示すタイムチャート、第７図は従来例の光変調
方式の光ヘッド光学系を示す構成図、第８図はマーク間
記録及びマーク長記録によるドメインを示す図である。 3:対物レンズ、10:集光レンズ 21:ドメイン、22:再生用光スポット 23:センサ、27,28:分割されたセンサ 29:加算回路、30:減算回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者山口英司東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (72)発明者松村進東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (56)参考文献特開昭63−316321（ＪＰ，Ａ) 特開平１−285045（ＪＰ，Ａ) 特開平２−235237（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G11B 7/135

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】情報記録媒体に照射された再生用光束の反
射光、または透過光を検出するための情報再生用センサ
を有する光ヘッドにおいて、前記センサの２次元形状を
前記記録媒体に記録されたビットの２次元形状と略相似
に形成すると共に、前記センサを、前記ビットの１次元
読み出し方向に直交する方向に、前記ビットのエッジ形
状と略相似の分割線で、少なくとも２つに分割したこと
を特徴とする光ヘッド。
【請求項２】前記ビットに対するセンサの相似比が、前
記ビットからセンサまでの光学的横倍率に略等しいこと
を特徴とする請求項１に記載の光ヘッド。
【請求項３】前記センサは、前記ビットエッジ形状に対
し、多角形近似の分割線で分割されていることを特徴と
する請求項１に記載の光ヘッド。
【請求項４】前記センサは、前記分割線によって分割さ
れるセンサ面の面積が各々略等しくなるように分割され
ていることを特徴とする請求項１に記載の光ヘッド。
【請求項５】前記センサは、該センサを１次元読み出し
方向と直交方向に面積が略等しく分割する分割線が光軸
に交わるように配置されていることを特徴とする請求項
１に記載の光ヘッド。
【請求項６】２次元形状が情報記録媒体に記録されたビ
ットの２次元形状と略相似に形成されると共に、前記ビ
ットの１次元読み出し方向に直交する方向に、前記ビッ
トのエッジ形状と略相似の分割線で、少なくとも２つに
分割された情報再生用センサを有する光ヘッドと、前記
分割されたセンサの出力の差信号を生成する手段と、前
記差信号の振幅の最大及び最小のピーク位置を検出する
手段とを有し、前記ピーク位置検出手段の出力によっ
て、前記ビットのエッジ位置を検出することを特徴とす
る光学的情報再生装置。
【請求項７】前記差信号を２値化する手段を設け、２値
化された２値化信号を前記エッジ検出のゲート信号とし
て用いることを特徴とする請求項６に記載の光学的情報
再生装置。