JP2894106B2 - 遅延解析方式 - Google Patents

遅延解析方式

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JP2894106B2
JP2894106B2 JP4259183A JP25918392A JP2894106B2 JP 2894106 B2 JP2894106 B2 JP 2894106B2 JP 4259183 A JP4259183 A JP 4259183A JP 25918392 A JP25918392 A JP 25918392A JP 2894106 B2 JP2894106 B2 JP 2894106B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は遅延解析方式、特に、遅
延解析後の疑似エラーを排除する遅延解析方式に属す
る。
【0002】
【従来の技術】図2は従来の一例を示すフローチャート
である。図1に示す遅延解析方式は、回路情報格納手順
S10で回路の情報を格納し、遅延解析手順S11で、
回路情報から各パスの遅延時間を算出し、エラー・パス
解析手順S12で、遅延時間を規格より外れたパスを抽
出する。
【0003】次に図3(a),(b)を用いて具体例を
説明する。すなわちRAM回路010にデータ入力01
2とアドレス入力013、ライトセレクト信号014と
ライトイネーブル信号015はAND回路012を通っ
て入る。ここで図の様にライトセレクト信号014がデ
ータ入力012、アドレス入力013と同じタイミング
で動作すると、ライトイネーブルが015が規格を満足
しているにも拘らず、疑似エラーを出力してしまう。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の遅延解
析方式では、全エラー・パスよりパスの終点が同一であ
るパスをまとめることなくエラー・パスの抽出を行うの
で、複数のパス間にまたがる条件に基づく疑似エラー・
パスを排除できない、という欠点がある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の遅延解析方式
は、遅延解析の対象となる論理回路の情報を格納する回
路情報格納手順と、論理回路の情報に基づき遅延解析を
行いエラー・パスを出力する遅延解析手順と、エラー・
パスを格納するエラー・パス格納手順と、全エラー・パ
スによりパスの終点が同一であるパスをまとめた集合を
作成する同一終点パスの集合を作成する手順と、パスの
終点が同一であるパスをまとめた集合を格納する同一終
点パスの集合格納手順と、エラー・パスの中から疑似エ
ラー・パスを排除するための条件を格納するAND条件
格納手順と、エラー・パスの中から疑似エラー・パスを
排除するための条件に基づきパスの終点が同一であるパ
スをまとめた集合の中から疑似エラー・パスを排除し真
のエラー・パスのみを出力するチェック手順と、真のエ
ラー・パスを格納する真のエラー格納手順とを含んで構
成される。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0007】図1は本発明の一実施例を示すフローチャ
ートである。回路情報格納手順S1は、回路の情報を格
納する。遅延解析手順S2は、回路情報に基づき、各パ
スの遅延時間情報を作成する。エラー・パス解析手順S
3は、各パスの遅延時間情報をチェックし、回路情報か
ら得たパスと照合し、規格を越えるエラーとなるパスを
抽出する。同一終点パスの集合を作成する手順S4は、
エラーとなるパスをそれぞれ終点毎にまとめ、同一終点
パスの集合を作成する(S5)。
【0008】AND条件格納手順S6は、同一終点パス
の場合、ANDをとるエラーとならない条件を格納す
る。チェック手順S7は同一終点パスの集合の中からA
ND条件格納手順S6による、AND条件とを比較し、
一致する場合は、その同一終点パスの集合からそのパス
の削除を行う。真のエラー格納手順S8はチェック手順
S7で削除された、疑似エラーの無い真のエラーを格納
する。
【0009】次に図3(a),(b)を用いて本発明の
具体例を用いて説明する。RAM回路010の入力にデ
ータ入力012、アドレス入力013、ライトセレクト
信号014、ライトイネーブル信号015を有してい
る。ライトセレクト信号014とライトイネーブル信号
015はAND回路011により論理和されて、RAM
回路のライトイネーブル信号となる。
【0010】ここで回路情報としてはRAM回路010
とAND回路011が格納されるが、図に示すような入
力波形の場合。すなわちアドレス入力12とデータ入力
013・ライトセレクト信号014が同時に変化してい
る場合、エラー・パス解析手段2でアドレス入力012
とライトセレクト信号014は疑似エラーとなってエラ
ー・パス解析手段3に格納される。
【0011】ここではライトイネーブル信号015が遅
延時間を満足している場合は、ライトセレクト信号01
4とライトイネーブル信号015はAND回路011で
論理積を取っているためにエラーとは成らない。従って
AND条件に該当するため、AND条件格納手段5でこ
の条件が格納される。
【0012】そこで、エラー・パス解析手順S3で格納
されたパスは同一終点パスとしてAND条件格納手順S
5と一致することとなるので、チェック手順S7でその
パスは削除されることとなる。つまり、このRAMに入
る入力波形はライトイネーブル信号015が他の信号と
規格を満足すれば、ライトイネーブル信号014とデー
タ入力012・アドレス入力013との規格を満足して
いなくとも、エラーとは成らずに、真のエラーのみを格
納する。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、全エラー
・パスよりパスの終点が同一であるパスをまとめた後に
疑似エラー・パスの排除を行うので、複数のパス間にま
たがる条件に基づく疑似エラー・パスを排除できる、と
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すフローチャートであ
る。
【図2】従来の一例を示すフローチャートである。
【図3】(a),(b)は具体例を示すためのブロック
図およびタイムチャートである。
【符号の説明】
010 RAM回路 011 AND回路 012 データ入力 013 アドレス入力 014 ライトセレクト信号 015 ライトイネーブル信号
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G06F 17/50

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 遅延解析の対象となる論理回路の情報を
    格納する回路情報格納手順と、論理回路の情報に基づき
    遅延解析を行いエラー・パスを出力する遅延解析手順
    と、エラー・パスを格納するエラー・パス格納手順と、
    全エラー・パスによりパスの終点が同一であるパスをま
    とめた集合を作成する同一終点パスの集合を作成する手
    順と、パスの終点が同一であるパスをまとめた集合を格
    納する同一終点パスの集合格納手順と、エラー・パスの
    中から疑似エラー・パスを排除するための条件を格納す
    るAND条件格納手順と、エラー・パスの中から疑似エ
    ラー・パスを排除するための条件に基づきパスの終点が
    同一であるパスをまとめた集合の中から疑似エラー・パ
    スを排除し真のエラー・パスのみを出力するチェック手
    順と、真のエラー・パスを格納する真のエラー格納手順
    とを含むことを特徴とする遅延解析方式。
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