JP2887940B2 - Lead for semiconductor device and processing method thereof - Google Patents

Lead for semiconductor device and processing method thereof

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JP2887940B2
JP2887940B2 JP12402291A JP12402291A JP2887940B2 JP 2887940 B2 JP2887940 B2 JP 2887940B2 JP 12402291 A JP12402291 A JP 12402291A JP 12402291 A JP12402291 A JP 12402291A JP 2887940 B2 JP2887940 B2 JP 2887940B2
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semiconductor device
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、LSI,VLSI等の
半導体素子(チップ)の電極に接続される半導体装置用
リード及びその加工方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead for a semiconductor device connected to an electrode of a semiconductor element (chip) such as an LSI and a VLSI, and a method of processing the lead.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、LSI,VLSI等の半導体素子
が組み込まれた超多ピン構造の半導体装置の実装技術に
おいては、ワイヤボンディング方式、TAB(Tape-au
tomated-bonding)方式、FC(フリップチップ)方式
が知られているが、実際の製造ラインにおいては、実装
精度や取扱い易さの点からワイヤボンディング方式もし
くはTAB方式を採用することが多い。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a mounting technology of a semiconductor device having a super multi-pin structure in which semiconductor elements such as LSI and VLSI are incorporated, a wire bonding method, a TAB (Tape-au
A tomated-bonding method and an FC (flip chip) method are known, but in an actual production line, a wire bonding method or a TAB method is often adopted in terms of mounting accuracy and ease of handling.

【0003】ワイヤボンディング方式とは、チップ上の
ボンディングパッド(電極)に形成されたバンプ(突
起)と、リードフレーム(半導体装置用リード)のイン
ナリード(金属薄板)とを、ボンディングワイヤにより
接続する方式である。
In the wire bonding method, a bump (protrusion) formed on a bonding pad (electrode) on a chip and an inner lead (metal thin plate) of a lead frame (lead for a semiconductor device) are connected by a bonding wire. It is a method.

【0004】また、TAB方式とは、フィルムキャリヤ
テープ(半導体装置用リード)のデバイスホールにチッ
プを挿入し、当該チップ上に設けられたボンディングパ
ッドと前記デバイスホールに突き出したインナリードの
先端部とを接続する方式で、これまでにも様々な方法が
提案され用いられてきている。
In the TAB method, a chip is inserted into a device hole of a film carrier tape (lead for a semiconductor device), and a bonding pad provided on the chip and a tip end of an inner lead protruding into the device hole are formed. Various methods have been proposed and used so far.

【0005】例えば、バンプボンディング法としては、
(a)チップ上のボンディングパッドにバンプを形成
し、熱圧着や超音波により前記バンプとインナリードの
先端部とを接続する方法、(b)転写法によりインナリ
ードの先端部にバンプを形成し、熱圧着により前記バン
プとチップ上のボンディングパッドとを接続する方法等
が一般に用いられている。
For example, as a bump bonding method,
(A) A method of forming a bump on a bonding pad on a chip and connecting the bump to the tip of the inner lead by thermocompression bonding or ultrasonic waves; (b) Forming a bump on the tip of the inner lead by a transfer method A method of connecting the bumps to the bonding pads on the chip by thermocompression bonding is generally used.

【0006】また、バンプレスボンディング法として
は、(c)エッチングによりインナリードの先端部に凸
部を形成し、当該凸部とチップ上のボンディングパッド
とを接続する方法、(d)インナリードを略S字状に折
り曲げ、この先端部とチップ上のボンディングパッドと
を熱圧着により接続する方法等が一般に用いられてい
る。
The bumpless bonding method includes (c) a method of forming a projection at the tip of an inner lead by etching and connecting the projection to a bonding pad on a chip. In general, a method of bending the wire into a substantially S-shape and connecting the tip portion to a bonding pad on the chip by thermocompression bonding is used.

【0007】上記のインナリードの曲げ加工は、リード
フレームやフィルムキャリヤテープのインナリードの先
端部を予め成形機等で機械加工しておくか、またはリー
ドフレームやフィルムキャリヤテープから1チップ毎に
切断する際に、同時にインナリードの先端部を成形機等
で機械加工するのが一般的である。
[0007] The above-mentioned bending of the inner lead is performed by previously machining the tip of the inner lead of the lead frame or the film carrier tape by a molding machine or by cutting the lead frame or the film carrier tape one chip at a time. At the same time, it is common to simultaneously machine the tip of the inner lead with a molding machine or the like.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
リードフレームやフィルムキャリヤテープのインナリー
ドが柔らかくまた厚みが数10μm程度と薄いために容
易に折れたり変形したり傷が付いたりし易いという欠点
があった。また上記のインナリードの曲げ加工ではイン
ナリード側のバラツキを吸収することができず、寸法精
度が低下するという欠点もあった。
However, the above-mentioned lead frame and the inner lead of the film carrier tape are soft and thin, having a thickness of about several tens of μm, so that they are easily broken, deformed, or damaged. there were. Further, the above-described bending process of the inner lead cannot absorb variations on the inner lead side, and has a disadvantage that dimensional accuracy is reduced.

【0009】したがって、実装する際に、インナリード
の位置合わせの精度が悪く、また前記インナリードの折
れや変形による接続不良が起こり易く、製品(半導体装
置)の歩留まりの低下や高コストの主要因となってい
た。また、インナリードの取扱いが難しいために作業効
率が低下する等の問題もあった。
Therefore, when mounting, the accuracy of alignment of the inner leads is poor, and connection failure due to breakage or deformation of the inner leads is apt to occur, which is a main factor of lowering the yield of products (semiconductor devices) and increasing costs. Had become. In addition, there is another problem that the working efficiency is reduced due to difficulty in handling the inner lead.

【0010】また、インナリードの曲げ加工において
は、該インナリードの先端部を高精度で折り曲げ加工す
る必要があるが、機械加工では要求される精度で所定の
形状に加工することが難しく、製造ラインに適時対応し
て行くことが益々困難になってきているという問題もあ
った。
Further, in bending the inner lead, it is necessary to bend the tip of the inner lead with high accuracy. However, it is difficult to machine the inner lead into a predetermined shape with required accuracy. There was also a problem that it became increasingly difficult to respond to the line in a timely manner.

【0011】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
のであり、以上の欠点や問題を有効に解決することがで
きる半導体装置用リード及びその加工方法を提供するこ
とにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide a semiconductor device lead and a method for processing the same, which can effectively solve the above-mentioned drawbacks and problems.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、この発明は次の様な半導体装置用リード及びその加
工方法を採用した。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention employs the following semiconductor device leads and a method of processing the same.

【0013】すなわち、請求項1記載の半導体装置用リ
ードとしては、金属薄板の折曲すべき凹部の内面に熱収
縮性樹脂を塗布し、該熱収縮性樹脂を加熱し収縮させる
ことにより前記金属薄板を折曲してなることを特徴とし
ている。
That is, as the lead for a semiconductor device according to the first aspect, a heat-shrinkable resin is applied to the inner surface of a concave portion of a thin metal plate to be bent, and the heat-shrinkable resin is heated to shrink, thereby forming the metal. It is characterized by bending a thin plate.

【0014】また、請求項2記載の半導体装置用リード
の加工方法としては、金属薄板の折曲すべき凹部の内面
に熱収縮性樹脂を塗布し、その後該熱収縮性樹脂を加熱
し収縮させて前記金属薄板を折曲することを特徴として
いる。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method of processing a lead for a semiconductor device, wherein a heat-shrinkable resin is applied to an inner surface of a concave portion of a thin metal plate to be bent, and then the heat-shrinkable resin is heated to shrink. And bending the thin metal plate.

【0015】前記熱収縮性樹脂は、加熱することにより
体積が収縮するもので、機械的強度が高く、熱分解や熱
劣化が起こり難く、樹脂モールディングの際の温度に耐
えられるものが好ましい。
The heat-shrinkable resin preferably shrinks in volume when heated, has high mechanical strength, is unlikely to undergo thermal decomposition or thermal deterioration, and can withstand the temperature during resin molding.

【0016】[0016]

【作用】本発明の請求項1記載の半導体装置用リードで
は、金属薄板の加工精度が向上し、該金属薄板の折曲部
分の機械的強度が向上する。
In the semiconductor device lead according to the first aspect of the present invention, the processing accuracy of the thin metal plate is improved, and the mechanical strength of the bent portion of the thin metal plate is improved.

【0017】また、請求項2記載の半導体装置用リード
の加工方法では、前記金属薄板を高精度で所定の形状に
折曲する。
According to a second aspect of the present invention, the thin metal plate is bent into a predetermined shape with high accuracy.

【0018】[0018]

【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。Embodiments of the present invention will be described below.

【0019】まず、本発明の一実施例であるフィルムキ
ャリヤテープ(半導体装置用リード)のインナリード
(金属薄板)について図1を基に説明する。
First, an inner lead (a thin metal plate) of a film carrier tape (a lead for a semiconductor device) according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0020】フィルムキャリヤテープ1は、ポリイミド
樹脂、ガラス入りエポキシ樹脂、BTレジン、ポリエス
テル等の材質からなる厚み75〜125μmのフィルム
2で、表面に回路が形成され、長手方向に沿う両端部に
スプロケット孔3,…が等間隔に形成され、中央部にチ
ップ挿入用のデバイスホール4が形成されたものであ
る。そしてフィルム2上にはデバイスホール4に突出す
る様にインナリード5,…が形成されている。
The film carrier tape 1 is a film 2 having a thickness of 75 to 125 μm made of a material such as polyimide resin, glass-containing epoxy resin, BT resin, or polyester. Circuits are formed on the surface, and sprockets are provided at both ends along the longitudinal direction. Holes 3,... Are formed at equal intervals, and a device hole 4 for chip insertion is formed in the center. The inner leads 5 are formed on the film 2 so as to project into the device holes 4.

【0021】インナリード5,…は、例えば、フィルム
2上に銅箔を貼着し該銅箔をエッチングして細線とした
もので、フィルム2上に水平に配置されており、これら
のインナリード5,…の一端部5aはデバイスホール4
の周囲の回路上に固定され、他端部5bは前記周囲から
デバイスホール4に向かって突出されている。
The inner leads 5,... Are formed by, for example, attaching copper foil on the film 2 and etching the copper foil to form thin wires. One end 5a of the device hole 4
And the other end 5b protrudes from the periphery toward the device hole 4.

【0022】インナリード5は、図2に示す様に他端部
5bが垂直下方に略S字状に折曲され、この他端部5b
の上面側の凹部6には加熱収縮された熱収縮性樹脂7が
貼着され、下面側の凹部8にも加熱収縮された熱収縮性
樹脂9が貼着されている。
As shown in FIG. 2, the other end 5b of the inner lead 5 is bent vertically downward in a substantially S-shape.
A heat-shrinkable heat-shrinkable resin 7 is adhered to the concave portion 6 on the upper surface side, and a heat-shrinkable heat-shrinkable resin 9 is also adhered to the lower surface side concave portion 8.

【0023】熱収縮性樹脂7,9としては、ポリイミ
ド、芳香族ポリアミド、ポリベンゾイミダゾール等が好
適に用いられる。
As the heat-shrinkable resins 7, 9, polyimide, aromatic polyamide, polybenzimidazole and the like are preferably used.

【0024】前記の熱収縮性樹脂7,9は、常温では液
状であるが加熱することにより体積が収縮するもので、
機械的強度が高く、熱分解や熱劣化が起こり難く、樹脂
モールディングの際の温度に耐えられるものであればよ
く、加熱硬化型のものであればなおよい。
The above-mentioned heat-shrinkable resins 7 and 9 are liquid at room temperature but shrink in volume when heated.
Any material that has high mechanical strength, is unlikely to undergo thermal decomposition or thermal deterioration, and can withstand the temperature during resin molding, and more preferably a heat-curable type can be used.

【0025】また、これらの熱収縮性樹脂7,9の厚み
は薄すぎると十分な引っ張り強度が得られないためにイ
ンナリード5が折曲されず、また厚すぎるとインナリー
ド5の凹部6,8に厚みのある樹脂層が形成されるため
に該樹脂層がインナリード5の折曲を妨害し十分な曲げ
加工が施せない。したがって、用いられる熱収縮性樹脂
の厚みは該熱収縮性樹脂の特性により限定される。例え
ば、ポリイミドの場合では、最適な厚みの範囲は3〜7
0μmである。
If the thickness of these heat-shrinkable resins 7 and 9 is too small, sufficient tensile strength cannot be obtained, so that the inner lead 5 is not bent. Since a thick resin layer is formed on the inner lead 8, the resin layer hinders the bending of the inner lead 5, so that sufficient bending cannot be performed. Therefore, the thickness of the heat-shrinkable resin used is limited by the properties of the heat-shrinkable resin. For example, in the case of polyimide, the optimal thickness range is 3-7.
0 μm.

【0026】次に、インナリードの加工方法について図
3に基づき説明する。まず、常温において、フィルムキ
ャリヤテープ1のインナリード11,…の先端部11a
の上面側の凹部となるべき部分12及び下面側の凹部と
なるべき部分13それぞれに液状の熱収縮性樹脂14,
15を塗布し(同図(a))、熱収縮性樹脂14,15
に含まれる溶媒を揮発させる。
Next, a method for processing the inner lead will be described with reference to FIG. First, at room temperature, the leading ends 11a of the inner leads 11,.
A liquid heat-shrinkable resin 14 is provided on each of a portion 12 to be a concave portion on the upper surface side and a portion 13 to be a concave portion on the lower surface side.
15 (FIG. 3A), and heat-shrinkable resins 14 and 15
The solvent contained in is volatilized.

【0027】次に、このフィルムキャリヤテープ1を所
定の温度に設定された恒温槽内に所定時間放置し、熱収
縮性樹脂14,15を加熱し重合させる。この時の温度
及び時間は、例えばポリイミドの場合では80℃、15
0℃、200℃、350℃各30分である。
Next, the film carrier tape 1 is left in a thermostat set at a predetermined temperature for a predetermined time, and the heat-shrinkable resins 14 and 15 are heated and polymerized. The temperature and time at this time are, for example, 80 ° C., 15
0 ° C, 200 ° C, and 350 ° C for 30 minutes each.

【0028】重合が進むにつれて熱収縮性樹脂14,1
5の体積が収縮し、先端部11aの凹部となるべき部分
12及び凹部となるべき部分13それぞれが内側に折曲
する(同図(b))。
As the polymerization proceeds, the heat-shrinkable resins 14,1
5, the volume 12 contracts, and the portion 12 to be a concave portion and the portion 13 to be a concave portion of the distal end portion 11a are bent inward (FIG. 9B).

【0029】重合が完結した状態では、熱収縮性樹脂1
4,15が硬化し、先端部11aは所定の略S字状の形
状に折曲され(同図(c))、インナリード5となる。
When the polymerization is completed, the heat-shrinkable resin 1
4 and 15 are hardened, and the front end portion 11a is bent into a predetermined substantially S-shaped shape ((c) in the same figure) to form the inner lead 5.

【0030】このインナリード5は、図4及び図5に示
す様に、他端部5bがデバイスホール4に挿入されたチ
ップ21のボンディングパッド22のバンプ23上に載
置され、熱圧着または超音波によりバンプ23に接続さ
れる。
As shown in FIGS. 4 and 5, the inner lead 5 is mounted on the bump 23 of the bonding pad 22 of the chip 21 whose other end 5b is inserted into the device hole 4, and is thermocompression-bonded or super-pressed. The sound is connected to the bumps 23.

【0031】以上説明した様に、上記実施例のフィルム
キャリヤテープ1によれば、インナリード5の他端部5
bの上面側の凹部6に熱収縮性樹脂7を貼着し、下面側
の凹部8にも熱収縮性樹脂9を貼着してなることとした
ので、インナリード5の加工精度を向上させることがで
き、該インナリード5の折曲される部分の機械的強度を
向上させることができる。
As described above, according to the film carrier tape 1 of the above embodiment, the other end 5 of the inner lead 5
Since the heat-shrinkable resin 7 is stuck to the recess 6 on the upper surface side of b and the heat-shrinkable resin 9 is stuck to the recess 8 on the lower surface side, the processing accuracy of the inner lead 5 is improved. Thus, the mechanical strength of the bent portion of the inner lead 5 can be improved.

【0032】したがって、実装の際のインナリード5の
位置合わせの精度を向上させることができ、前記インナ
リード5の折れや変形による接続不良も大幅に減少させ
ることができ、製品(半導体装置)の歩留まりを向上さ
せ低コストを実現することができる。
Therefore, the accuracy of the alignment of the inner leads 5 at the time of mounting can be improved, and the connection failure due to the bending or deformation of the inner leads 5 can be greatly reduced, and the product (semiconductor device) can be manufactured. Yield can be improved and low cost can be realized.

【0033】また、上記実施例のインナリード5の加工
方法によれば、インナリード11,…の先端部11aの
上面側の凹部となるべき部分12及び下面側の凹部とな
るべき部分13それぞれに熱収縮性樹脂14,15を塗
布し、その後熱収縮性樹脂14,15を加熱し収縮させ
てインナリード11,…を折曲したので、インナリード
11,…を高精度で所定の形状に折曲することができ
る。
According to the method of processing the inner lead 5 of the above embodiment, each of the tip 12a of the inner leads 11,... Since the heat-shrinkable resins 14 and 15 are applied, and then the heat-shrinkable resins 14 and 15 are heated and shrunk to bend the inner leads 11,..., The inner leads 11,. Can be tuned.

【0034】また、熱収縮性樹脂7,9は収縮率が一定
であるので、塗布膜の厚みを制御するだけでインナリー
ド11の曲げ加工を高精度で効率よく行うことができ
る。したがって、インナリード11の幅のバラツキによ
らず曲げ加工を高精度で行うことができ、ファインピッ
チ化やインナリードの薄形化にも対応可能である。
Further, since the heat-shrinkable resins 7 and 9 have a constant shrinkage ratio, the bending of the inner lead 11 can be performed with high accuracy and efficiency only by controlling the thickness of the coating film. Therefore, the bending process can be performed with high precision regardless of the variation in the width of the inner lead 11, and it is possible to cope with a fine pitch and a thinner inner lead.

【0035】また、熱収縮性樹脂7,9の塗布位置を変
更することにより、様々な曲げ加工が可能となる等の効
果も有する。
Also, by changing the application position of the heat-shrinkable resins 7 and 9, various effects such as bending can be achieved.

【0036】以上により、容易に折れたり変形したりす
ることがなく、かつ寸法精度の高いフィルムキャリヤテ
ープ1及びその加工方法を提供することができる。
As described above, it is possible to provide the film carrier tape 1 which is not easily broken or deformed and has high dimensional accuracy and a method for processing the same.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項1
記載の半導体装置用リードによれば、金属薄板の折曲す
べき凹部の内面に熱収縮性樹脂を塗布し、該熱収縮性樹
脂を加熱し収縮させることにより前記金属薄板を折曲し
てなることとしたので、前記金属薄板の加工精度を向上
させることができ、該金属薄板の折曲部分の機械的強度
を向上させることができる。
As described above, according to the first aspect of the present invention,
According to the lead for a semiconductor device described above, the metal sheet is bent by applying a heat-shrinkable resin to the inner surface of the concave portion to be bent of the metal sheet, and heating and shrinking the heat-shrinkable resin. Therefore, the processing accuracy of the metal sheet can be improved, and the mechanical strength of the bent portion of the metal sheet can be improved.

【0038】したがって、実装の際の金属薄板の位置合
わせの精度を向上させることができ、前記金属薄板の折
れや変形による接続不良も大幅に減少させることがで
き、製品(半導体装置)の歩留まりを向上させ低コスト
を実現することができる。
Therefore, the accuracy of positioning of the metal sheet at the time of mounting can be improved, the connection failure due to the bending or deformation of the metal sheet can be greatly reduced, and the yield of the product (semiconductor device) can be reduced. The cost can be improved and the cost can be reduced.

【0039】また、請求項2記載の半導体装置用リード
の加工方法によれば、金属薄板の折曲すべき凹部の内面
に熱収縮性樹脂を塗布し、その後該熱収縮性樹脂を加熱
し収縮させて前記金属薄板を折曲することとしたので、
前記金属薄板を高精度で所定の形状に折曲することがで
きる。
According to the semiconductor device lead processing method of the present invention, a heat-shrinkable resin is applied to the inner surface of the concave portion of the thin metal plate to be bent, and then the heat-shrinkable resin is heated to shrink. Then, it was decided to bend the metal sheet,
The thin metal plate can be bent into a predetermined shape with high precision.

【0040】また、熱収縮性樹脂の塗布膜の厚みを制御
するだけで金属薄板の曲げ加工を高精度で効率よく行う
ことができる。したがって、金属薄板の幅のバラツキに
よらず曲げ加工を高精度で行うことができ、ファインピ
ッチ化やインナリードの薄形化にも対応可能である。
Further, the bending of a thin metal plate can be performed with high accuracy and efficiency simply by controlling the thickness of the heat-shrinkable resin coating film. Therefore, the bending can be performed with high accuracy regardless of the variation in the width of the metal thin plate, and it is possible to cope with a fine pitch and a thinner inner lead.

【0041】また、熱収縮性樹脂の塗布位置を変更する
ことにより、様々な曲げ加工が可能となる等の効果も有
する。
Also, by changing the application position of the heat-shrinkable resin, various effects such as bending can be achieved.

【0042】以上により、容易に折れたり変形したりす
ることがなく、かつ寸法精度の高い半導体装置用リード
及びその加工方法を提供することができる。
As described above, it is possible to provide a semiconductor device lead with high dimensional accuracy which is not easily broken or deformed, and a method of processing the same.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のフィルムキャリヤテープ(半導体装置
用リード)を示す部分斜視図である。
FIG. 1 is a partial perspective view showing a film carrier tape (lead for a semiconductor device) of the present invention.

【図2】本発明のフィルムキャリヤテープのインナリー
ドを示す部分側面図である。
FIG. 2 is a partial side view showing an inner lead of the film carrier tape of the present invention.

【図3】本発明のインナリードの加工方法を示す過程図
である。
FIG. 3 is a process diagram showing a method for processing an inner lead according to the present invention.

【図4】本発明のフィルムキャリヤテープの実装状態を
示す部分斜視図である。
FIG. 4 is a partial perspective view showing a mounted state of the film carrier tape of the present invention.

【図5】本発明のインナリードとチップの接合状態を示
す部分側面図である。
FIG. 5 is a partial side view showing a bonding state between an inner lead and a chip according to the present invention.

【符号の説明】 1 フィルムキャリヤテープ(半導体装置用リード) 2 フィルム 3 スプロケット孔 4 デバイスホール 5 インナリード(金属薄板) 6,8 凹部 7,9 熱収縮性樹脂 11 インナリード(金属薄板) 12,13 凹部となるべき部分 14,15 熱収縮性樹脂[Description of Signs] 1 Film carrier tape (lead for semiconductor device) 2 Film 3 Sprocket hole 4 Device hole 5 Inner lead (metal thin plate) 6,8 Depression 7,9 Heat shrinkable resin 11 Inner lead (metal thin plate) 12, 13 Parts to be concave parts 14, 15 Heat-shrinkable resin

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 金属薄板の折曲すべき凹部の内面に熱収
縮性樹脂を塗布し、該熱収縮性樹脂を加熱し収縮させる
ことにより前記金属薄板を折曲してなることを特徴とす
る半導体装置用リード。
1. A heat-shrinkable resin is applied to an inner surface of a concave portion of a metal sheet to be bent, and the heat-shrinkable resin is heated and shrunk to bend the metal sheet. Lead for semiconductor device.
【請求項2】 金属薄板の折曲すべき凹部の内面に熱収
縮性樹脂を塗布し、その後該熱収縮性樹脂を加熱し収縮
させて前記金属薄板を折曲することを特徴とする半導体
装置用リードの加工方法。
2. A semiconductor device wherein a heat-shrinkable resin is applied to an inner surface of a concave portion of a metal sheet to be bent, and then the heat-shrinkable resin is heated and shrunk to bend the metal sheet. Method of processing lead
JP12402291A 1991-05-28 1991-05-28 Lead for semiconductor device and processing method thereof Expired - Lifetime JP2887940B2 (en)

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