JP2667901B2 - Method for manufacturing semiconductor device - Google Patents

Method for manufacturing semiconductor device

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JP2667901B2
JP2667901B2 JP1050284A JP5028489A JP2667901B2 JP 2667901 B2 JP2667901 B2 JP 2667901B2 JP 1050284 A JP1050284 A JP 1050284A JP 5028489 A JP5028489 A JP 5028489A JP 2667901 B2 JP2667901 B2 JP 2667901B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、リードフレーム、その製造方法およびそれ
を用いた半導体装置に関し、特に、半導体ペレットを封
止するパッケージの多ピン化に適用して有効な技術に関
するものである。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead frame, a method of manufacturing the same, and a semiconductor device using the same. It is about effective technology.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

コンピュータを始めとする各種電子機器の多機能化に
伴い、マイクロコンピュータやゲートアレイなどの集積
回路を形成した半導体ペレットを封止するパッケージの
多ピン化が急速に進行している。多ピン化に適したパッ
ケージとしては、表面実装形パッケージの一種であるQF
P(quad flat package)が特に注目されており、200ピ
ン以上のリードを備えたものが実用化されつつある。
With the increase in the functions of various electronic devices such as computers, the number of pins in a package for encapsulating a semiconductor pellet on which an integrated circuit such as a microcomputer or a gate array is formed is rapidly increasing. QF, a type of surface mount type package, is suitable for high pin count
P (quad flat package) has been receiving a lot of attention, and those with leads of 200 pins or more are being put to practical use.

また、今後のQFPには、300〜400ピン以上の超多ピン
が要求されるものと予想されている。
It is expected that ultra-high pin counts of 300-400 pins or more will be required for future QFPs.

上記QFPを始めとする樹脂封止形パッケージは、一般
にリードフレームのタブ(ダイパッド部)に半導体ペレ
ットを銀ペーストなどで接合し、ペレットのボンディン
グパッドとリードフレームのインナーリード部とを金な
どのワイヤで電気的に接続した後、パッケージをトラン
スファ・モールドし、続いてパッケージの外部に延在す
るアウターリード部を所定の形状にフォーミングして製
造される。従って、樹脂封止形パッケージの多ピン化を
促進するためには、リードフレームの微細加工技術の進
展が不可欠である。
In general, resin-encapsulated packages such as the QFP described above bond semiconductor pellets to the tabs (die pads) of the lead frame with silver paste or the like, and connect the bonding pads of the pellets to the inner leads of the lead frame with wires such as gold. Then, the package is subjected to transfer molding, and then the outer lead portion extending to the outside of the package is formed into a predetermined shape. Therefore, in order to promote the increase in the number of pins of the resin-encapsulated package, it is indispensable to advance the fine processing technology of the lead frame.

リードフレームの加工技術としては、従来よりプレス
法とエッチング法とが知られており、エッチング法はプ
レス法に比べて加工工程が多い反面、微細なパターンの
加工が容易であるため、例えば100〜140ピン以下のリー
ドフレームにはプレス法が、また、それ以上の多ピンパ
ッケージ用リードフレームにはエッチング法が適用され
ている。なお、前記QFPの多ピン化技術については、例
えば昭和63年12月12日、日経BP社発行、「日経エレクト
ロニクス」P141〜154に詳細な説明がある。
As a processing technology of a lead frame, a pressing method and an etching method are conventionally known.Etching method has many processing steps as compared with the pressing method, but it is easy to process a fine pattern. The press method is applied to lead frames with 140 pins or less, and the etching method is applied to lead frames for multi-pin packages with more than 140 pins. The technique for increasing the number of pins of the QFP is described in detail in, for example, "Nikkei Electronics", pages 141 to 154, issued by Nikkei BP on December 12, 1988.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

本発明者は、従来のリードフレームの加工技術には下
記のような問題があり、これがパッケージの多ピン化を
促進する際の妨げとなっていることを見出した。
The present inventor has found that there are the following problems in the conventional lead frame processing technology, which hinders the promotion of multi-pin packages.

すなわち、前記したエッチング法では、銅などの導電
材料からなる薄板(フープ材)の両面に所定のレジスト
パターンを形成し、その後、この薄板をエッチング液に
浸漬し、レジストパターンが被着されていない箇所の導
電材料を溶解除去する、いわゆるウェットエッチング方
式により、所望のリードパターンを形成している。とこ
ろが、ウェットエッチング方式では、一般にエッチング
が等方的に進行するため、パターンの側面が部分的にオ
ーバーエッチングされ易く、その結果、得られたリード
の断面形状がばらついてしまうという欠点がある。そし
て、断面形状のばらついたリードをフォーミングする
と、リードが隣接するリードの方向にも曲がってしまう
ため、隣り合ったリード同士が短絡する不良が発生す
る。また、リードが隣接するリード方向に曲がると、リ
ードの高さも不揃いとなるため、パッケージを基板に実
装する際、基板の電極パッドとリードとの接続不良が発
生する。
That is, in the above-described etching method, a predetermined resist pattern is formed on both surfaces of a thin plate (a hoop material) made of a conductive material such as copper, and then the thin plate is immersed in an etching solution so that the resist pattern is not applied. A desired lead pattern is formed by a so-called wet etching method of dissolving and removing a conductive material at a location. However, in the wet etching method, since etching generally proceeds isotropically, the side surface of the pattern is likely to be partially over-etched, and as a result, there is a disadvantage that the cross-sectional shape of the obtained lead varies. When a lead having a varied cross-sectional shape is formed, the lead also bends in the direction of the adjacent lead, so that a defect that adjacent leads are short-circuited occurs. Also, if the leads are bent in the direction of the adjacent leads, the heights of the leads will also be uneven, so that when the package is mounted on the substrate, poor connection between the electrode pads of the substrate and the leads will occur.

さらに、リードフレームの枠部には、通常モールド時
にリードフレームを金型に位置決めするときのガイドと
なるガイド孔が形成されるが、エッチング法で形成した
ガイド孔は、前記した理由からその内径の寸法がばらつ
き易い。そのため、リードフレームを金型に位置決めす
る際、位置ずれが生じ、これがパッケージの成形歩留り
を低下させる原因となる。
Further, in the frame portion of the lead frame, a guide hole serving as a guide when positioning the lead frame in the mold during normal molding is formed, but the guide hole formed by the etching method has an inner diameter of the inner diameter for the reason described above. Dimensions are easy to vary. Therefore, when the lead frame is positioned in the mold, a positional deviation occurs, which causes a reduction in the molding yield of the package.

このように、エッチング法は、プレス法に比べて微細
なパターンの加工が容易であるという利点を有する反
面、パターンの断面形状がばらつき易いという欠点を有
している。
As described above, the etching method has an advantage that a fine pattern can be easily processed as compared with the press method, but has a disadvantage that the cross-sectional shape of the pattern is easily varied.

これに対して、プレス法は、パターンの断面形状が安
定しているため、前記したフォーミング時のリード曲が
りや、金型に位置決めする際の位置ずれなどの問題は生
じ難い。しかしながら、プレス法は、微細なパターンの
加工精度がエッチング法に比べて劣るため、特にパター
ンの幅やピッチが最も狭小な箇所であるインナーリード
部の寸法精度が著しく低下してしまうという問題があ
り、多ピンパッケージ用のリードフレームを歩留り良く
製造することは困難である。
On the other hand, in the pressing method, since the cross-sectional shape of the pattern is stable, the problems such as the bending of the lead during the above-described forming and the displacement during positioning in the mold are unlikely to occur. However, the press method is inferior in the processing accuracy of a fine pattern as compared with the etching method, and thus has a problem that the dimensional accuracy of the inner lead portion where the pattern width and pitch are the narrowest is remarkably reduced. However, it is difficult to manufacture a lead frame for a multi-pin package with high yield.

本発明は、上記した問題点に着目してなされたもので
あり、その目的は、パッケージの多ピン化を促進するこ
とができる技術を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a technology capable of promoting a multi-pin package.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろ
う。
The above and other objects and novel features of the present invention are as follows.
It will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本願において開示される発明のうち、代表的なものの
概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。
The outline of a typical invention among the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

すなわち、本発明の半導体装置の製造方法は、フープ
材の所定箇所にプレスによりガイド孔を打ち抜く工程
と、前記ガイド孔が打ち抜かれたフープ材を前記ガイド
孔を用いて位置決めした状態でモールドラインの外側の
領域のパターンをプレスにより打ち抜く工程と、前記ガ
イド孔を用いて位置決めした状態で前記モールドライン
の内側の領域をエッチングして前記内側の領域の板厚を
前記モールドラインの外側の領域の板厚よりも薄くする
工程と、前記ガイド孔を用いて位置決めした状態で前記
モールドラインの内側の領域のインナーリード部のパタ
ーンをエッチングにより形成する工程と、前記インナー
リード部の先端とタブとタブ吊りリードの裏面とに絶縁
フィルムを接着してこれらを固定する工程と、前記タブ
の表面に半導体ペレットを接合した後に、前記半導体ペ
レットのボンディングパッドと前記インナーリード部と
を電気的に接続する工程と、前記ガイド孔を用いて位置
決めした状態で前記モールドラインの内側の領域にパッ
ケージをモールド成形する工程とを有している。
That is, the method of manufacturing a semiconductor device of the present invention includes a step of punching a guide hole by pressing a predetermined portion of a hoop material, and a step of punching the hoop material punched by the guide hole using the guide hole to form a mold line. A step of punching a pattern of an outer region by a press, and etching a region inside the mold line in a state where the pattern is positioned by using the guide holes to reduce a thickness of the inner region to a plate outside the mold line. A step of forming a pattern of an inner lead portion in an area inside the mold line by etching while positioning using the guide hole, and suspending a tip, a tab, and a tab of the inner lead portion. Bonding an insulating film to the back surface of the lead to fix them, and a semiconductor pellet on the surface of the tab. Electrically connecting the bonding pad of the semiconductor pellet and the inner lead portion, and molding a package in a region inside the mold line while being positioned using the guide hole. And

また、本発明の半導体装置の製造方法は、ガイド孔を
まず打ち抜いた後に、モールドラインの内側の領域をエ
ッチングして前記内側の領域の板厚を外側の領域よりも
薄くし、次いで、薄く形成された内側の領域にエッチン
グによりインナーリード部のパターンを形成する。次い
で、モールドラインの外側の領域のパターンをプレスに
より打ち抜くようにしている。
Further, in the method of manufacturing a semiconductor device according to the present invention, after first punching out the guide hole, the inner region of the mold line is etched to make the inner region thinner than the outer region, and then formed thinner. The pattern of the inner lead portion is formed by etching in the inside region thus formed. Next, the pattern in the region outside the mold line is punched by a press.

〔作用〕[Action]

本発明にあっては、まず、ガイド孔をプレスにより打
ち抜き加工した後に、そのガイド孔を利用してフープ材
をエッチング加工したり、プレスによりパターニングす
るようにしたので、プレスにより形成された寸法精度の
高いガイド孔を利用して、レジストのマスク合わせや、
プレス金型への位置決めを精度良く行うことができる。
また、リードフレームをモールド金型に位置決めする際
の精度も向上する。これにより、インナーリード部のリ
ード幅やリードピッチを狭小化することがきる。さら
に、インナーリード部の先端やタブ吊りリードを絶縁フ
ィルムにより支持することによって、それらの変形を防
止することができる。
In the present invention, first, after the guide hole is punched by a press, the hoop material is etched using the guide hole or patterned by the press, so that the dimensional accuracy formed by the press is improved. Using high guide holes, resist mask alignment,
Positioning to the press die can be performed with high accuracy.
Further, the accuracy in positioning the lead frame on the mold is improved. As a result, the lead width and lead pitch of the inner lead portion can be narrowed. Further, by supporting the tips of the inner lead portions and the tab suspension leads with the insulating film, it is possible to prevent them from being deformed.

第1図は、本発明の一実施例であるリードフレームの
平面図、第2図(a)〜(e)は、このリードフレーム
の製造方法を示すフープ材の平面図、第3図は、このリ
ードフレームを用いて製造した半導体装置の断面図であ
る。
FIG. 1 is a plan view of a lead frame according to an embodiment of the present invention, FIGS. 2 (a) to 2 (e) are plan views of a hoop material showing a method of manufacturing the lead frame, and FIG. It is sectional drawing of the semiconductor device manufactured using this lead frame.

第1図に示すように、銅などの導電材料からなる本実
施例のリードフレーム1の中央部には、矩形のタブ(ダ
イパッド部)2が形成され、このタブ2上には、例えば
マイクロコンピュータやゲートアレイなどの集積回路を
形成した半導体ペレット3が搭載されるようになってい
る。
As shown in FIG. 1, a rectangular tab (die pad portion) 2 is formed at the center of a lead frame 1 of the present embodiment made of a conductive material such as copper. A semiconductor pellet 3 on which an integrated circuit such as a gate array or a gate array is formed is mounted.

タブ2の裏面には、タブ2よりも一廻り大きい矩形の
絶縁フィルム4が接着剤などにより接合されている。タ
ブ2の周囲には、多数本のリード5がタブ2を囲むよう
に配設され、リード5の中途部には、四角枠状のダム6
が形成されている。ダム6とタブ2の四隅との間には、
タブ2を支持するタブ吊りリード7が架設されている。
A rectangular insulating film 4 which is slightly larger than the tab 2 is joined to the back surface of the tab 2 with an adhesive or the like. A number of leads 5 are arranged around the tab 2 so as to surround the tab 2, and a rectangular frame-shaped dam 6 is provided in the middle of the lead 5.
Are formed. Between the dam 6 and the four corners of the tub 2,
A tab suspension lead 7 for supporting the tab 2 is provided.

リード5は、図に示すモールドラインMの内側をイン
ナーリード部5aと称し、その外側をアウターリード部5b
と称している。このモールドラインMは、パッケージの
内部に封止される領域と外部に露出する領域との境界を
示している。
The lead 5 is referred to as an inner lead portion 5a on the inner side of the mold line M shown in the figure, and an outer lead portion 5b on the outer side thereof.
It is called. The mold line M indicates a boundary between a region sealed inside the package and a region exposed to the outside.

インナーリード部5aの先端とタブ吊りリード7とは、
接着剤により絶縁フィルム4に接合され、これにより、
インナーリード部5aおよびタブ吊りリード7の変形が防
止されるようになっている。一方、アウターリード部5b
の先端は、リードフレーム1の枠部8a、8bに一体接続さ
れている。
The tip of the inner lead portion 5a and the tab suspension lead 7
It is joined to the insulating film 4 by an adhesive,
The inner lead portion 5a and the tab suspension lead 7 are prevented from being deformed. On the other hand, the outer lead portion 5b
The tip of the is integrally connected to the frame portions 8a and 8b of the lead frame 1.

本実施例のリードフレーム1は、モールドラインMの
外側が、例えば150μmの板厚を有し、アウターリード
部5b、ダム6、タブ吊りリード7の一部、枠部8a、8bな
どの各部は、すべてプレスにより同時にパターン形成さ
れている。一方、モールドラインMの内側は、その板厚
が、例えば70〜80μmと外側よりも薄く、インナーリー
ド部5a、タブ2、タブ吊りリード7の一部は、すべてエ
ッチングで同時にパターン形成されている。
In the lead frame 1 of the present embodiment, the outside of the mold line M has a plate thickness of, for example, 150 μm, and each part such as the outer lead part 5b, the dam 6, a part of the tab suspension lead 7, and the frame parts 8a and 8b , All of which are simultaneously patterned by pressing. On the other hand, the thickness of the inside of the mold line M is smaller than that of the outside, for example, 70 to 80 μm, and the inner lead portion 5a, the tab 2, and a part of the tab suspension lead 7 are all simultaneously patterned by etching. .

リードフレーム1は、上記した各部によって構成され
る単位フレームを一方向に構成される単位フレームを一
方向に複数形成した、例えば7連のものを一体形成して
なり、枠部8aの所定箇所には、モールド時にリードフレ
ーム1を金型に位置決めするときのガイドとなるガイド
孔9がプレスによって穿設されている。
The lead frame 1 is formed by integrally forming a plurality of unit frames formed in one direction with a unit frame formed by the above-described units in one direction. A guide hole 9 serving as a guide for positioning the lead frame 1 in the mold at the time of molding is formed by pressing.

次に、上記したリードフレーム1の製造方法の一例を
説明する。
Next, an example of a method for manufacturing the above-described lead frame 1 will be described.

まず、第2図(a)に示すように、板厚150μm程度
の銅の薄板からなるフープ材10を用意し、プレスにより
このフープ材10の周縁部に所定の間隔を置いてガイド孔
9を打ち抜く。
First, as shown in FIG. 2 (a), a hoop material 10 made of a thin copper plate having a thickness of about 150 μm is prepared, and a guide hole 9 is formed at a predetermined interval on the periphery of the hoop material 10 by pressing. Punch out.

次に、第2図(b)に示すように、モールドラインM
の内側の領域を全面エッチングしてその板厚を70〜80μ
mとする。このとき、上記ガイド孔9を利用してレジス
トのマスク合わせを行う。プレスで形成したガイド孔9
は、エッチングで形成したガイド孔よりも寸法精度が高
いので、このガイド孔9を利用することにより、マスク
合わせを精度良く行うことができる。
Next, as shown in FIG. 2 (b), the mold line M
The entire area inside is etched to a thickness of 70-80μ.
m. At this time, the resist mask is aligned using the guide hole 9. Guide hole 9 formed by press
Since the dimensional accuracy is higher than that of the guide hole formed by etching, by using this guide hole 9, mask alignment can be performed with high accuracy.

続いて、第2図(c)に示すように、モールドライン
Mの内側の領域を再びエッチングしてインナーリード部
5a、タブ2、タブ吊りリード7を同時にパターン形成す
る。このときも、前記ガイド孔9を利用してレジストの
マスク合わせを行う。
Subsequently, as shown in FIG. 2 (c), the region inside the mold line M is etched again to form an inner lead portion.
5a, the tab 2, and the tab suspension lead 7 are simultaneously patterned. Also at this time, the resist mask is aligned using the guide holes 9.

フープ材10をエッチングして所望のパターンを形成す
る場合、パターンの加工精度はフープ材10の板厚に制約
され、一般に板厚が薄い程、微細なパターンを精度良く
形成することができる。
When a desired pattern is formed by etching the hoop material 10, the processing accuracy of the pattern is restricted by the thickness of the hoop material 10, and in general, a finer pattern can be formed with a smaller thickness.

本実施例では、モールドラインMの内側の領域をあら
かじめ全面エッチングしてその板厚を70〜80μmと薄く
しておいたので、例えばリード幅約0.1mm、リードピッ
チ約0.15mmの微細なインナーリード部5aを精度良く形成
することができる。
In the present embodiment, since the entire area inside the mold line M is etched in advance and its thickness is reduced to 70 to 80 μm, for example, a fine inner lead having a lead width of about 0.1 mm and a lead pitch of about 0.15 mm The portion 5a can be formed with high accuracy.

次に、第2図(d)に示すように、モールドラインM
の外側の領域をプレスで打ち抜いてアウターリード部5
b、ダム6、タブ吊りリード7の一部、枠部8a、8bなど
の各部を同時にパターン形成する。フープ材10をプレス
の金型に位置決めするとき、前記ガイド孔9を利用する
ことにより、高い位置決め精度が得られる。
Next, as shown in FIG. 2 (d), the mold line M
Press out the area outside of the outer lead part 5
b, the dam 6, a part of the tab suspension lead 7, the frame portions 8a, 8b, and the like are simultaneously patterned. When the hoop material 10 is positioned in the press die, high positioning accuracy can be obtained by using the guide holes 9.

アウターリード部5bのリード幅やリードピッチは、イ
ンナーリード部5bのリード幅やリードピッチより広いた
め、プレス法でも充分な加工精度が得られる。また、プ
レスでパターン形成したアウターリード部5bは、その断
面形状が安定しているため、モールド後にリード5をフ
ォーミングする際、アウターリード部5bのリード曲がり
が生ずる虞れもない。
Since the lead width and lead pitch of the outer lead portion 5b are wider than the lead width and lead pitch of the inner lead portion 5b, sufficient processing accuracy can be obtained even by the press method. Further, since the cross-sectional shape of the outer lead portion 5b formed by pressing is stable, there is no possibility that the outer lead portion 5b will bend when the lead 5 is formed after molding.

続いて、インナーリード部5aに銀(Ag)などのメッキ
を施した後、第2図(e)に示すように、エポキシ樹脂
などの絶縁材料からなる絶縁フィルム4をタブ2の裏面
に接着し、インナーリード部5aの先端とタブ吊りリード
7とをこの絶縁フィルム4で固定することにより、前記
第1図に示すリードフレーム1が完成する。なお、この
絶縁フィルム4は、インナーリード部5a、タブ2、タブ
吊りリード7をエッチングによりパターン形成した段階
でタブ2の裏面に接着してもよい。
Subsequently, after plating the inner lead portion 5a with silver (Ag) or the like, an insulating film 4 made of an insulating material such as an epoxy resin is bonded to the back surface of the tab 2 as shown in FIG. By fixing the tip of the inner lead portion 5a and the tab suspension lead 7 with the insulating film 4, the lead frame 1 shown in FIG. 1 is completed. The insulating film 4 may be adhered to the back surface of the tab 2 when the inner lead portion 5a, the tab 2, and the tab suspension lead 7 are patterned by etching.

その後、銀ペーストなどの接着剤を用いてタブ2上に
ペレット3を接合し、次いで、ペレット3のボンディン
グパッドとリードフレーム1のインナーリード部5aとを
金などのワイヤで電気的に接続した後、トランスファモ
ールドでパッケージを成形する。リードフレーム1をモ
ールド金型に位置決めするとき、前記ガイド孔9を利用
することにより、高い位置決め精度が得られる。続いて
アウターリード部5bを枠部8a,8bより切断し、最後にア
ウターリード部5bを所定の形状にフォーミングすること
により、樹脂封止形半導体装置が完成する。
Thereafter, the pellet 3 is bonded onto the tab 2 using an adhesive such as a silver paste, and then the bonding pad of the pellet 3 and the inner lead portion 5a of the lead frame 1 are electrically connected by a wire such as gold. Then, the package is formed by transfer molding. When positioning the lead frame 1 in the mold, high positioning accuracy can be obtained by using the guide holes 9. Subsequently, the outer lead portion 5b is cut from the frame portions 8a and 8b, and finally, the outer lead portion 5b is formed into a predetermined shape, thereby completing a resin-sealed semiconductor device.

本実施例のリードフレーム1を用いて製造した半導体
装置の一例を第3図に示す。
An example of a semiconductor device manufactured using the lead frame 1 of this embodiment is shown in FIG.

この半導体装置は、例えばQFPであり、図において、
パッケージ11は、例えばシリコーン変性エポキシ樹脂に
シリカなどのフィラーを充填してその熱膨張係数をシリ
コンの熱膨張係数に近づけた樹脂で構成れている。
This semiconductor device is, for example, a QFP.
The package 11 is made of, for example, a resin in which a silicone-modified epoxy resin is filled with a filler such as silica to make the thermal expansion coefficient close to that of silicon.

パッケージ11の内部には、ペレット3が封止されてい
る。このペレット3は、銀ペーストなどの接着剤12を介
してタブ2の中央部上面に接合されている。ペレット3
は、その上面が集積回路形成面をなし、この集積回路形
成面には、例えばゲートアレイやマイクロコンピュータ
などの集積回路が形成されている。
The pellet 3 is sealed inside the package 11. The pellet 3 is bonded to the upper surface of the central portion of the tub 2 via an adhesive 12 such as a silver paste. Pellets 3
The upper surface thereof forms an integrated circuit formation surface, and an integrated circuit such as a gate array or a microcomputer is formed on the integrated circuit formation surface.

タブ2の裏面には、エポシキ樹脂などの接着剤13を介
して絶縁フィルム4が接合され、パッケージ11に埋設さ
れたインナーリード部5aの先端がこの絶縁フィルム4に
固定されている。
An insulating film 4 is bonded to the back surface of the tab 2 via an adhesive 13 such as an epoxy resin, and the tip of an inner lead portion 5a embedded in the package 11 is fixed to the insulating film 4.

ペレット3の外周に沿って配設されたボンディングパ
ッド14とインナーリード部5aとの間には、金やアルミニ
ウムからなるワイヤ15がボンディングされている。
A wire 15 made of gold or aluminum is bonded between the bonding pad 14 arranged along the outer periphery of the pellet 3 and the inner lead portion 5a.

パッケージ11の側面から外方に延在するアウターリー
ド部5bは、例えばガルウイング状に折り曲げられてい
る。
The outer lead portion 5b extending outward from the side surface of the package 11 is bent, for example, in a gull wing shape.

以上のような本実施例によれば、次のような効果を得
ることができる。
According to this embodiment as described above, the following effects can be obtained.

(1).モールドラインMの内側の領域を微細加工の容
易なエッチングでパターン形成したので、寸法精度の高
いインナーリード部5aが得られる。これにより、インナ
ーリード部5aのリード幅およびリードピッチを狭小化す
ることができる。
(1). Since the region inside the mold line M is patterned by etching that allows easy microfabrication, the inner lead portion 5a with high dimensional accuracy can be obtained. As a result, the lead width and lead pitch of the inner lead portion 5a can be narrowed.

(2).モールドラインMの外側の領域をプレスでパタ
ーン形成したので、断面形状の安定なアウターリード部
5bの得られる。これにより、アウターリード部5bをフォ
ーミングする際のリード曲がりを防止することができる
ので、隣り合ったリード5、5同士の短絡を回避するこ
とができる。
(2). Since the area outside the mold line M was patterned by pressing, the outer lead portion with a stable cross-sectional shape
5b obtained. Accordingly, it is possible to prevent lead bending when forming the outer lead portion 5b, and thus it is possible to avoid a short circuit between the adjacent leads 5,5.

また、リード5の高さのばらつきを防止することがで
きるので、リード5を基板に半田付けする際、基板の電
極パッドとリード5との接続不良を回避することができ
る。
Further, since the height variation of the leads 5 can be prevented, it is possible to avoid a poor connection between the electrode pads of the substrate and the leads 5 when soldering the leads 5 to the substrate.

(3).上記(1)、(2)により、リードフレーム1
の多ピン化を促進することができる。
(3). According to the above (1) and (2), the lead frame 1
Can increase the number of pins.

(4).インナーリード部5aの先端とタブ吊りリード7
とを絶縁フィルム4で固定したので、インナーリード部
5aやタブ吊りリード7の変形を防止することができる。
これにより、例えばモールド時のレジン流動などによる
インナーリード部5a同士の短絡やタブ2の変形などに起
因するパッケージの成形歩留りの低下を回避することが
できる。
(4). Tip of inner lead 5a and tab suspension lead 7
Are fixed with the insulating film 4 so that the inner lead portion
Deformation of 5a and the tab suspension lead 7 can be prevented.
Thus, it is possible to avoid a decrease in the molding yield of the package due to a short circuit between the inner lead portions 5a due to a resin flow during molding or a deformation of the tab 2, for example.

(5).プレスで形成した寸法精度の高いガイド孔9を
利用して、レジストのマスク合わせや、プレス金型およ
びモールド金型への位置決めを行うようにしたので、エ
ッチングで形成したガイド孔を利用する場合に比べてマ
スク合わせや、金型への位置決めを精度良く行うことが
でき、これにより、リードフレームの製造歩留りおよび
パッケージの成形歩留りが向上する。
(5). The guide holes 9 having high dimensional accuracy formed by pressing are used to align the resist mask and to position the resist in the press die and the mold die. Therefore, when the guide holes formed by etching are used, Compared with this, mask alignment and positioning with respect to a mold can be performed with higher accuracy, thereby improving the production yield of the lead frame and the molding yield of the package.

(6).モールドラインMの内側の板厚を外側の板厚よ
りも薄くしてので、インナーリード部5aのリード幅およ
びリードピッチの狭小化を促進することができる。
(6). Since the inner plate thickness of the mold line M is made thinner than the outer plate thickness, the lead width and lead pitch of the inner lead portion 5a can be reduced.

以上、本発明者によってなされた発明を実施例に基づ
き具体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更
可能であることはいうまでもない。
As described above, the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiments. However, the present invention is not limited to the embodiments, and it can be said that various modifications can be made without departing from the gist of the invention. Not even.

前記実施例では、モールドラインMの内側をエッチン
グでパターニングした後、モールドラインMの外側をプ
レスでパターニングしたが、これとは逆に、モールドラ
インMの外側をプレスでパターニングした後、モールド
ラインMの内側をエッチングでパターニングしてもよ
い。
In the above embodiment, after the inside of the mold line M is patterned by etching, the outside of the mold line M is patterned by press. Conversely, after the outside of the mold line M is patterned by press, the mold line M May be patterned by etching.

前記実施例では、一枚のフープ材でリードフレームを
製造したが、例えば、板厚の厚いフープ材を用いてモー
ルドラインMの外側のみをプレスでパターン形成し、板
厚の薄いフープ材を用いてモールドラインMの内側のみ
をエッチングでパターン形成し、その後、両者を接続し
てリードフレームを製造してもよい。
In the above embodiment, the lead frame was manufactured from one hoop material.For example, only the outside of the mold line M was formed by pressing using a thick hoop material, and a thin hoop material was used. Alternatively, only the inside of the mold line M may be patterned by etching, and then both may be connected to manufacture a lead frame.

前記実施例では、モールドラインMの内側をあらかじ
め全面エッチングしてその板厚をモールドラインMの外
側よりも薄くしたが、モールドラインMの内側のみをプ
レスで薄く加工してもよい。
In the above embodiment, the entire inside of the mold line M is etched in advance to make the plate thickness smaller than that of the outside of the mold line M. However, only the inside of the mold line M may be thinned by pressing.

前記実施例では、モールドラインMの内側をエッチン
グでパターニングしてインナーリード部、タブおよびタ
ブ吊りリードを同時にパターン形成したが、パターンの
幅やピッチが最も狭小な箇所であるインナーリード部の
みをエッチングでパターン形成し、その他の各部(タ
ブ、タブ吊りリード、アウターリード部、ダムおよび枠
部など)をプレスでパターン形成してもよい。
In the above-described embodiment, the inner lead portion, the tab and the tab suspension lead are simultaneously patterned by patterning the inside of the mold line M by etching, but only the inner lead portion where the pattern width and pitch are the narrowest is etched. , And other portions (tabs, tab suspension leads, outer lead portions, dams, frame portions, and the like) may be formed by pressing.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによ
って得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りであ
る。
The effect obtained by the representative one of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

(1).パターンの幅やピッチが最も狭小な箇所である
インナーリード部をエッチング法で形成し、アウターリ
ード部をプレス法で形成することにより、インナーリー
ド部の寸法精度が向上し、かつ、アウターリード部の断
面形状が安定になるので、パッケージの多ピン化を促進
することができる。
(1). By forming the inner lead portion where the width and pitch of the pattern are the narrowest by etching, and forming the outer lead by pressing, the dimensional accuracy of the inner lead is improved, and the outer lead Since the cross-sectional shape becomes stable, the number of pins of the package can be increased.

(2).タブの裏面に接合した絶縁フィルムでインナー
リード部の先端やダブ吊りリードを支持することによ
り、それらの変形を防止することができるので、例えば
モールド時のレジン流動によるインナーリード部同士の
短絡やタブの変形などに起因するパッケージの成形歩留
り低下を回避することができる。
(2). By supporting the tip of the inner lead portion and the dove suspension lead with the insulating film bonded to the back surface of the tab, it is possible to prevent their deformation, for example, short-circuiting between the inner lead portions due to resin flow during molding and tabs It is possible to avoid a decrease in the molding yield of the package caused by deformation of the package.

(3).リードフレームのインナーリード部をエッチン
グ方法で形成し、アウターリード部をプレス法で形成す
る際、あらかじめフープ材の所定箇所にプレスによりガ
イド孔を形成することにより、寸法精度の高いガイド孔
を利用して、レジストのマスク合わせや、プレス金型へ
の位置決めを精度良く行うことができるので、リードフ
レームの製造歩留りが向上する。また、リードフレーム
をモールド金型に位置決めする際の精度も高くなるの
で、パッケージの成形歩留りが向上する。
(3). When forming the inner lead part of the lead frame by the etching method and forming the outer lead part by the press method, the guide hole is formed in advance at a predetermined position of the hoop material by pressing, so that the guide hole with high dimensional accuracy is used. Since the resist mask alignment and the positioning with respect to the press die can be performed with high accuracy, the lead frame manufacturing yield is improved. In addition, since the accuracy in positioning the lead frame in the mold is improved, the molding yield of the package is improved.

(4).パッケージの内部に封止される領域の板厚パッ
ケージの外部に露出する領域の板厚よりも薄くすること
により、インナーリード部の微細加工が容易になるの
で、インナーリード部のリード幅およびリードピッチの
狭小化が促進される。
(4). The thickness of the region sealed inside the package The thickness of the region exposed to the outside of the package is made thinner to facilitate the fine processing of the inner lead portion. Is promoted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、本発明の一実施例であるリードフレームの平
面図、 第2図(a)〜(e)は、このリードフレームの製造方
法を示すフープ材の平面図、 第3図は、このリードフレームを用いて製造した半導体
装置の断面図である。 1……リードフレーム、2……タブ、3……半導体ペレ
ット、4……絶縁フィルム、5……リード、5a……イン
ナーリード部、5b……アウターリード部、6……ダム、
7……タブ吊りリード、8a,8b……枠部、9……ガイド
孔、10……フープ材、11……パッケージ、12,13……接
着剤、14……ボンディングパッド、15……ワイヤ、M…
…モールドライン。
FIG. 1 is a plan view of a lead frame according to an embodiment of the present invention, FIGS. 2 (a) to 2 (e) are plan views of a hoop material showing a method of manufacturing the lead frame, and FIG. It is sectional drawing of the semiconductor device manufactured using this lead frame. 1 ... lead frame, 2 ... tab, 3 ... semiconductor pellet, 4 ... insulating film, 5 ... lead, 5a ... inner lead section, 5b ... outer lead section, 6 ... dam,
7 ... tab suspension lead, 8a, 8b ... frame, 9 ... guide hole, 10 ... hoop material, 11 ... package, 12, 13 ... adhesive, 14 ... bonding pad, 15 ... wire , M ...
... mold line.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 長谷部 一 北海道亀田郡七飯町字中島145番地 日 立北海セミコンダクタ株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−114254(JP,A) 特開 昭61−170053(JP,A) 特開 昭63−148667(JP,A) 実開 昭63−87843(JP,U) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Kazu Hasebe 145 Nakajima, Nanae-cho, Kameda-gun, Hokkaido Inside Hitachi Kokusai Semiconductor Co., Ltd. (56) References JP-A-62-114254 (JP, A) JP-A-61 -170053 (JP, A) JP-A-63-148667 (JP, A) JP-A-63-87843 (JP, U)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】フープ材の所定箇所にプレスによりガイド
孔を打ち抜く工程と、 前記ガイド孔が打ち抜かれたフープ材を前記ガイド孔を
用いて位置決めした状態でモールドラインの外側の領域
のパターンをプレスにより打ち抜く工程と、 前記ガイド孔を用いて位置決めした状態で前記モールド
ラインの内側の領域をエッチングして前記内側の領域の
板厚を前記モールドラインの外側の領域の板厚よりも薄
くする工程と、 前記ガイド孔を用いて位置決めした状態で前記モールド
ラインの内側の領域のインナーリード部のパターンをエ
ッチングにより形成する工程と、 前記インナーリード部の先端とタブとタブ吊りリードの
裏面とに絶縁フィルムを接着してこれらを固定する工程
と、 前記タブの表面に半導体ペレットを接合した後に、前記
半導体ペレットのボンディングパッドと前記インナーリ
ード部とを電気的に接続する工程と、 前記ガイド孔を用いて位置決めした状態で前記モールド
ラインの内側の領域にパッケージをモールド成形する工
程とを有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
1. A step of punching a guide hole at a predetermined position of a hoop material by pressing, and pressing a pattern of an area outside a mold line in a state where the hoop material punched by the guide hole is positioned using the guide hole. A step of punching, and a step of etching a region inside the mold line in a state where the positioning is performed using the guide holes to make a plate thickness of the inside region smaller than a plate thickness of a region outside the mold line. Forming a pattern of an inner lead portion in an area inside the mold line by etching in a state of being positioned using the guide hole, and an insulating film on a tip of the inner lead portion and a back surface of a tab and a tab suspension lead. Bonding the semiconductor pellets to the surface of the tub, Electrically connecting the bonding pad of the pellet and the inner lead portion; and molding a package in a region inside the mold line while being positioned using the guide hole. Semiconductor device manufacturing method.
【請求項2】フープ材の所定箇所にプレスによりガイド
孔を打ち抜く工程と、 前記ガイド孔を用いて位置決めした状態でモールドライ
ンの内側の領域をエッチングして前記内側の領域の板厚
を前記モールドラインの外側の領域の板厚よりも薄くす
る工程と、 前記ガイド孔を用いて位置決めした状態で前記モールド
ラインの外側の領域よりも薄く形成された後の内側の領
域のインナーリード部のパターンをエッチングにより形
成する工程と、 前記インナーリード部のパターンをエッチング処理した
後に、前記ガイド孔が打ち抜かれたフープ材を前記ガイ
ド孔を用いて位置決めした状態でモールドラインの外側
の領域のパターンをプレスにより打ち抜く工程と、 前記インナーリード部の先端とタブとタブ吊りリードの
裏面とに絶縁フィルムを接着してこれらを固定する工程
と、 前記タブの表面に半導体ペレットを接合した後に、前記
半導体ペレットのボンディングパッドと前記インナーリ
ード部とを電気的に接続する工程と、 前記ガイド孔を用いて位置決めした状態で前記モールド
ラインの内側の領域にパッケージをモールド成形する工
程とを有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
2. A step of punching a guide hole in a predetermined position of a hoop material by a press, and etching a region inside a mold line while positioning using the guide hole to reduce a plate thickness of the inside region to the mold. A step of making the thickness smaller than the plate thickness of the area outside the line, and forming the pattern of the inner lead portion of the inside area after being formed thinner than the area outside the mold line in a state of being positioned using the guide holes. A step of forming by etching, after etching the pattern of the inner lead portion, pressing the pattern of the area outside the mold line by pressing the hoop material punched out of the guide hole using the guide hole by pressing Punching, and connecting an insulating film to the end of the inner lead portion, the tab, and the back surface of the tab suspension lead. Attaching the semiconductor pellet to the surface of the tab, electrically connecting a bonding pad of the semiconductor pellet to the inner lead portion, and positioning using the guide hole. And a step of molding a package in a region inside the mold line in the above state.
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