JP2878583B2 - レンズメータ - Google Patents

レンズメータ

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JP2878583B2
JP2878583B2 JP2652094A JP2652094A JP2878583B2 JP 2878583 B2 JP2878583 B2 JP 2878583B2 JP 2652094 A JP2652094 A JP 2652094A JP 2652094 A JP2652094 A JP 2652094A JP 2878583 B2 JP2878583 B2 JP 2878583B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、眼鏡レンズやコンタク
トレンズ等各種光学レンズの光学性能を測定するレンズ
メータに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、光学レンズは入射光線の波長の
違いにより屈折率が異なる分散という光学特性がある。
被検レンズである眼鏡レンズは過去にd線(578.5
6nm)でのアッベ数(=分散の逆数)がνd =58乃
至60程度のクラウンガラスが主流であったが、最近で
は高屈折率の高分散ガラス(例えばνd =30乃至4
0)も多く用いられるようになった。また、高屈折率の
プラスチックレンズ(例えばνd =34乃至40)も用
いられるようになっている。
【0003】従来の手動操作式のレンズメータでは、測
定光源の波長が緑色であり、この測定光源を用いて被検
レンズの屈折特性を測定すれば問題なかった。
【0004】しかし、屈折測定を自動的に測定するいわ
ゆるオートレンズメータでは、緑色を呈する波長の光を
充分な感度で検出できる受光素子や、緑色の光を強く発
する測定光源等に適当なものが無いために、緑色を呈す
る波長の光よりも長波長の光を(例えば660nmや7
30nm)発する光源を用いている。このため、分散の
違いによって、被検レンズの測定値に数%程度の誤差が
生じるという問題があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述したような欠点を
解消するために、実公平3−48512号公報には、被
検レンズのアッベ数νd の情報を入力することにより、
測定値を補正するようにしたレンズ屈折特性自動測定装
置が提案されている。
【0006】しかしながら、前記レンズ屈折特性自動測
定装置の場合、当該被検レンズのアッベ数νd が既知で
ないと補正できないという問題がある。
【0007】即ち、未加工あるいは加工後、被検者に眼
鏡を手渡すと時点ではアッベ数νdが判明していること
が多いが、一度被検者に渡ってから、後に使用中のもの
を測定しようとするときには、ほとんどアッベ数νd が
不明であり、かかる被検レンズの場合には上述したレン
ズ屈折特性自動測定装置では対処できなくなってしま
う。
【0008】そこで、本発明は、光学性能が既知でない
被検レンズに対しても正確に光学性能を測定できるレン
ズメータを提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
測定光源からの光を被検レンズを通過させて光電変換手
段に導き、この光電変換手段からの光電変換信号を基に
して前記被検レンズの光学性能を求めるレンズメータで
あって、前記測定光源は少なくとも2種類の異なる波長
の光を発することが可能であり、時分割方式で前記異な
る波長を有する光を発するように前記測定光源を制御す
る制御手段と、前記測定光軸上に配置され、前記時分割
で送られてくる被検レンズからの測定光を一平面で受け
て異なる波長の光に応じた光電変換信号を発生する光電
変換手段と、前記光によって得られる像の移動が停止し
た時に補正指令信号を入力する入力手段と、前記入力手
段から前記補正指令信号を受けた時に前記少なくとも2
種類の異なる波長の光に応じて前記光電変換手段からの
光電変換信号を基にして前記被検レンズの性能を演算し
て分散値の補正値を求める演算手段とを有するものであ
る。
【0010】請求項2記載の発明は、測定光源からの光
を被検レンズを通過させて光電変換手段に導き、この光
電変換手段からの光電変換信号を基にして前記被検レン
ズの光学性能を求めるレンズメータであって、前記測定
光源は少なくとも2種類の異なる波長の光を発すること
が可能であり、時分割方式で前記異なる波長を有する光
を発するように前記測定光源を制御する制御手段と、前
記測定光軸上に配置され、前記時分割で送られてくる被
検レンズからの測定光を一平面で受けて異なる波長の光
に応じた光電変換信号を発生する光電変換手段と、前記
光によって得られる像の移動が停止した時の検者の操作
に基づいて補正指令信号を入力する入力手段と、前記入
力手段から前記補正指令信号を受けた時に前記少なくと
も2種類の異なる波長の光に応じて前記光電変換手段か
らの光電変換信号を基にして前記被検レンズの性能を演
算して分散値の補正値を求める演算手段とを有するもの
である。
【0011】請求項3記載の発明は、測定光源からの光
を被検累進レンズを通過させて光電変換手段に導き、こ
の光電変換手段からの光電変換信号を基にして前記被検
累進レンズの光学性能を求め、累進レンズの加入度測定
キーを備えたレンズメータであって、前記測定光源は時
分割方式で複数の異なる波長の光を発することが可能で
あり、累進レンズの遠用部を測定後に前記光によって得
られる像の移動が停止した時に加入度測定キーの押下に
応じ累進レンズの光学性能を演算して分散値の補正値を
求める演算手段を有するものである。
【0012】請求項4記載の発明は、測定光源からの光
を被検レンズを通過させて光電変換手段に導き、この光
電変換手段からの光電変換信号を基にして前記被検レン
ズの光学性能を求め、前記被検レンズへの印点機構を備
えたレンズメータであって、前記測定光源は時分割方式
で複数の異なる波長の光を発することが可能であり、被
検レンズの測定を行った後前記光によって得られる像の
移動が停止した時に印点機構による被検レンズへの印点
を行う動作に応じ前記被検レンズの光学性能を演算して
分散値の補正値を求める演算手段を有するものである。
【0013】
【0014】
【0015】
【0016】
【作用】以下に上述した本発明の作用を説明する。
【0017】請求項1記載のレンズメータにおける測定
光源部からの2種類の異なる波長の光は、時分割方式で
各々被検レンズを通過して光電変換手段に至る。光電変
換手段は、異なる各波長に応じた測定光を一平面で受け
て各々の光電変換信号を送出する。入力手段は、前記光
によって得られる像の移動が停止した時に補正指令信号
を入力する。
【0018】演算手段は、前記補正指令信号が入力され
た時に異なる各波長の光に応じた前記光電変換手段の各
光電変換信号を基に被検レンズの光学性能を演算する。
これにより、光学性能が既知でない被検レンズに対して
も正確に光学性能を求めることが可能であり、また、光
学性能が既知であっても特別な入力操作なしで正確にそ
の光学性能を求めることができる。
【0019】請求項2記載のレンズメータでは、検者
(操作者)の入力操作に基づいて補正指令信号が入力さ
れ、演算手段は前記補正指令信号が入力された時に異な
る各波長の光に応じた光電変換手段の各光電変換信号を
基に被検レンズの光学性能を演算する。従って上記請求
項1と同様な作用が行われる。
【0020】
【0021】
【0022】
【0023】請求項記載のレンズメータは、前記測定
モードを通常レンズ測定モードにして累進レンズの遠用
部を測定し、加入度測定キーを押下し累進レンズを移動
し近用部の測定を行う際に前記測定光源部からの異なる
各波長の光に応じた前記光電変換手段の光電変換信号を
基に前記累進レンズの分散に基づく補正を伴う光学性能
を演算する演算手段を設けたので、累進レンズの近用部
の光学性能を正確に求めることができる。
【0024】請求項記載のレンズメータは、前記モー
ド切替部により累進レンズ測定モードを設定し累進レン
ズの遠用部,近用部の測定を行い印点機構による累進レ
ンズへの印点を行う際に、前記測定光源部からの異なる
各波長の光に応じた前記光電変換手段の光電変換信号を
基に演算手段が前記累進レンズの補正を伴う光学性能を
演算するので、累進レンズの遠用部,近用部の光学性能
を正確に求めることができる。
【0025】
【実施例】まず、本発明の測定原理について説明する。
【0026】2波長測定の場合の測定原理は以下のとお
りである。
【0027】後述する被検レンズ20を薄レンズとし、
この被検レンズ20の表面と裏面の曲率半径をr1 ,r
2 、任意の測定波長λでの被検レンズ20の屈折力をD
λ、測定波長λでの屈折率をnλとすると、レンズの公
式から、
【数1】 所望の波長の屈折力をDx、屈折率をnxとすると、
【数2】
【0028】数1,数2より、
【数3】
【0029】ここで、部分分散比をν′とすると、
【数4】 (ここに、nω,nω′は波長ω,ω′での屈折率) 被検レンズとして、眼鏡レンズを用いた場合には、この
ν′はアッベ数νxとほぼ比例関係になっているものが
多い。
【0030】従って、a,bを定数として、数4は、
【数5】 と表わせる。ここで、
【数6】 であるから、数3は数5,数6から、
【数7】
【0031】一方、別の測定波長λ′での屈折率をn
λ′とすると、
【数8】 となり、同様にc,dを定数として、
【数9】 定数a,b,c,dは予め定まった係数であるから、任
意の2波長による屈折力Dλ,Dλ′を測定すれば、数
7,数9から所望の波長における屈折力Dxとアッベ数
νxを求めることができる。
【0032】次に、3波長又はそれ以上の異なる波長に
よる測定原理について説明する。
【0033】n波長(n≧3)による測定値を基に最小
2乗法を用いて2次式に近似し、得られた2次式により
所望の波長(例えばe線)での被検レンズの屈折力を求
める場合は以下の通りである。
【0034】図1に示すように少なくとも3種以上の波
長の光束により測定を行い、各波長(λ1 ,λ2 ,λ3
,……)による屈折力(度数)をD1 ,D2 ,D3 ,
……とすると、
【数10】
【数11】
【数12】
【数13】 となり、未知数a,b,cの3個に対して式が3個存在
するので、これらを3元連立方程式として解けば図1に
示す破線の式が数10の形で求まる。
【0035】そして、求めた式にλiを例えばe線の波
長としてDi を算出すれば、このDi がe線における屈
折力(度数)となる。
【0036】また、測定の主波長(例えばλ2 )での屈
折力(D2 )とを屈折力(Di )との差(D2 −Di )
を屈折力(D2 )で割った値を1D当りの分散補正値δ
として記憶し、測定した主波長による屈折力D2 ′とす
れば、このときのδD2 ′を数14によりD2 ′に加え
たDi ′を所望波長での屈折力Di ′とする。
【0037】
【数14】
【0038】次に、上述した測定原理に基づく本発明の
第1の実施例を詳細に説明する。
【0039】図2に示すレンズメータ1は、このレンズ
メータ1の測定光軸Lを中心とする円周配置の異なる波
長の光を発する図2に示す2種類の発光部3A,3Bか
らなる測定光源部2と、測定光軸Lに沿って順に配置し
た対物レンズ6,ターゲット7,コリメートレンズ8,
レンズ受9,結像レンズ10及び光電変換手段11を有
している。
【0040】前記測定光源部2は、図3に示すように、
測定波長λ1 =660nmの光を発する3個のLED4
a,4b,4c(図3に白丸で示す)を前記測定光軸L
に直交する配置で、かつ、測定光軸Lを中心として90
度間隔で配置した発光部3Aと、測定波長λ2 =735
nmの光を発する3個のLED5a,5b,5c(図3
に黒丸で示す)を前記測定光軸Lに直交する配置で、か
つ、測定光軸Lを中心として90度間隔で配置した発光
部3Bとを具備している。
【0041】尚、LED4a,4b,4c、LED5
a,5b,5cの波長として660nm、735nmの
ものを用いるのは以下の理由による。
【0042】表1に示すように、可視光領域の波長を有
する各種LEDは、測光量(光度)で表示されるものが
多く、光度値自体では近年緑のLEDも赤のLEDと遜
色なくなってきているが実際には人間の眼の感度が1桁
以上異なるので、同じ明るさに見えても緑色のLEDの
出力は赤のLEDの出力と比べてかなり低い。
【0043】一方、光電変換手段としてのCCDの感度
も緑色にピーク値があるが、特に測光用のセンサでない
限り裾の広がりが人間の眼に比べかなり広く、緑のLE
Dと赤のLEDとの感度差が少なく放射強度の差がほぼ
そのまま利いてしまう。
【0044】また、800nm以上の波長のLEDを用
いることは、この波長の光がサングラス等のレンズのよ
うに被検レンズ20を透過せず適切ではない。
【0045】結局、放射強度が大きく、CCD比感量の
大きい赤のLED及び近赤外のLEDを用いることが適
切となる。
【0046】尚、表1において、CCD感度は一般的な
可視光用の白黒CCDの感度を示し、感度ピーク波長
(550nm)の感度で正規化したものである。
【0047】また、CCD比感量は、各波長での(放射
強度×CCD感度)を660nmの値で正規化したもの
である。
【0048】
【表1】
【0049】前記発光部3BのLED5aは、発光部3
AのLED4bとLED4cとの間にこれらに対して4
5度の間隔で配置されるようになっている。この結果、
発光部3BのLED5bは、発光部3AのLED4cに
対して45度の間隔で配置され、また、LED5cは、
発光部3AのLED4aに対して45度の間隔で配置さ
れる。
【0050】前記対物レンズ6の焦点位置に前記測定光
源部2を配置している。
【0051】また、前記ターゲット7は、前記コリメー
トレンズ8の焦点位置に配置している。前記光電変換手
段11は、前記結像レンズ10の焦点位置に配置してい
る。
【0052】さらに、前記ターゲット7は、図6に示す
ターゲット駆動部25により駆動され測定光軸Lの方向
にサーボコントロールにより変位可能となっている。
【0053】前記ターゲット7は、図4に示すように、
円板状で測定光軸Lを中心とする垂直長穴7a、測定光
軸Lを中心とする一対の傾斜長穴7b,7cを設けた構
成となっている。
【0054】前記光電変換手段11は、図5に示すよう
に、測定光軸Lと直交するX軸,Y軸のうちのX軸と平
行配置にかつ、Y軸に関して対象配置に一対のエリアC
CD12a,12bを配置した構成となっており、前記
レンズ受9に配置される被検レンズ20を通過してくる
発光部3Aからの測定波長λ1 =660nmの光又は発
光部3Bからの測定波長λ2 =735nmの光を時分割
で各々光電変換し、光電変換信号を送出するようになっ
ている。
【0055】この場合、光電変換手段11として、図5
に示す場合のほか、測定波長λ1 =660nmの光、測
定波長λ2 =735nmの光に感応分離可能な1台のカ
ラーCCDを用いて光電変換し、光電変換信号を送出す
るようにしてもよい。
【0056】次に、図6を参照してレンズメータ1の制
御系について説明する。
【0057】このレンズメータ1は、制御プログラムを
格納したプログラムメモリ21及びCPU22からなる
制御手段23を具備し、前記CPU22に前記発光部3
A,3Bを駆動する光源駆動部24と、前記ターゲット
7を駆動するターゲット駆動部25と、前記光電変換手
段11とを接続している。
【0058】また、前記CPU22に、前記2種類の発
光部3A,3Bからの異なる波長の光に応じた前記光電
変換手段11の光電変換信号を基に被検レンズ20の屈
折力Dx,アッベ数νx からなる光学性能を被検レンズ
20等の分散に基づく既述した原理による補正を伴いつ
つ演算する演算手段26と、この演算手段26の演算結
果を記憶する記憶手段27と、液晶ディスプレイ又はカ
ラーCRT等の表示手段28と、各種情報を入力する入
力手段29と、演算手段26の演算結果や各種のメッセ
ージをプリントアウトするプリンタ30とを接続してい
る。
【0059】入力手段29は、任意の波長の値、d線,
e線等の光線名を入力する文字キー29a、通常レン
ズ,累進レンズの別に測定モードを設定する測定モード
設定キー29b、累進レンズの加入度測定用の加入度キ
ー29c、被検レンズ20等の分散に基づく補正指令を
行う補正キー29d等を具備している。
【0060】次に、上述した構成のレンズメータ1の作
用を説明する。
【0061】前記CPU22の制御の基に、光源駆動部
24により前記2種類の発光部3A,3Bを経時的変化
をもって、即ち、例えば交互に点滅させる。これによ
り、発光部3Aからの測定波長λ1 =660nmの光
と、発光部3Bからの測定波長λ2 =735nmの光と
が交互に前記レンズ受9に配置した被検レンズ20を屈
折率n1 ,n2 に応じて屈折しつつ通過し、結像レンズ
10によりエリアCCD12a又は12bの受光面の前
記屈折率n1 ,n2 に応じた位置に各々結像する。
【0062】これにより、エリアCCD12a又は12
bは、屈折率n1 ,n2 に応じた光電変換信号を前記C
PU22に送る。
【0063】演算手段26は、CPU22の制御の基に
屈折率n1 ,n2 に応じた光電変換信号を取り込み、前
記数8,数7,数9による演算を行って、測定波長λ1
,λ2 に対応した屈折力D1 ,D2 、さらには所望の
波長x(例えばe線)での被検レンズ20の分散を含め
た屈折力Dx ,アッベ数νx を算出する。算出した波長
xでの屈折力Dx ,アッベ数νx は、CPU22の制御
の基に記憶手段27に送られ、ここに記憶保持されると
ともに、必要に応じて前記表示手段26に表示され、ま
た、プリンタ30によりプリントアウトされる。
【0064】また、所望の波長xでの屈折力Dx ,アッ
ベ数νx を求め、記憶しておくことにより、これ以降前
記レンズ受9に配置する被検レンズ20に対しては、例
えば、一方の発光部3Aのみを点灯させてこのときの屈
折力を演算手段26により求め、さらに、演算手段26
により前記記憶手段27に記憶した屈折力Dx ,アッベ
数νx を基に求めた屈折力の値を補正することで、当該
被検レンズ20の正確な屈折力Dx ,アッベ数νx を求
め、これらを前記表示手段28の画面に表示することが
可能となり、また、プリンタ30により用紙にプリント
アウトすることもできる。さらに、屈折力Dx ,アッベ
数νx 等が既知である被検レンズ20に対しても、その
被検レンズ20の正確な屈折力Dx ,アッベ数νx を求
めることも可能となる。
【0065】このような動作により、被検レンズ20の
測定の都度両方の発光部3A,3Bを点灯せずにすみ、
測定時間を短縮できる。
【0066】また、上述のような被検レンズ20の測定
に際して、前記入力手段29から任意の波長の値、d
線,e線等の光線名、分散補正指令情報等の各種情報を
入力して任意の波長、d線,e線等に各々対応する屈折
力Dx ,アッベ数νx を算出し、表示することも可能と
なる。
【0067】次に、図7乃至図9を参照して本発明の第
2の実施例を説明する。
【0068】尚、図7に示すレンズメータ1Aにおい
て、前記レンズメータ1と同一の機能を有するものには
同一の符号を付して示す。
【0069】図7に示すレンズメータ1Aは、前記測定
光源部2の代りに、2個の光源部13A,13Bからな
る測定光源部2Aを用い、光源部13Aを測定光軸Lに
臨ませ、光源部13Bを測定光軸Lに対して直交する配
置とし、測定光軸Lに45度の傾斜角度で配置した波長
選択手段としての660nmの光は透過し、735nm
の光を反射するダイクロックミラー16(又はハーフミ
ラー)を介して光源部13A,13Bからの光を各々測
定に供するようにしたものである。
【0070】一方の光源部13Aは、図8に示すよう
に、測定波長λ1 =660nmの光を発する3個のLE
D14a,14b,14c(図8に白丸で示す)を前記
測定光軸Lに直交する配置としたものである。また、他
方の光源部13Bは、図9に示すように、測定波長λ2
=735nmの光を発する3個のLED15a,15
b,15c(図8に黒丸で示す)を前記ダイクロックミ
ラー16に対峙させたものである。
【0071】このような構成のレンズメータ1Aによれ
ば、光源部13A,13Bの交互点灯により、前記レン
ズメータ1と同様の作用を発揮させることができる。
【0072】また、各色の光源位置が光学的に一致して
いるので、図3に示す場合比べ、度数の演算、比較を行
う演算式を簡略化することができる。
【0073】次に、図10を参照して本発明の第3の実
施例を説明する。
【0074】尚、図10に示すレンズメータ1Bにおい
て、前記レンズメータ1Aと同一の機能を有するものに
は同一の符号を付して示す。
【0075】図10に示すレンズメータ1Bは、前記レ
ンズメータ1Aと略同様な構成であるが、前記光電変換
手段11の代りに、被検レンズ20の後段の測定光軸L
に45度の傾斜角度で配置した波長選択手段としての6
60nmの光は透過し、735nmの光を反射するダイ
クロックミラー16A(又はハーフミラー)に対して9
0度の分離配置に2個の光電変換手段11A,11Bを
配置したことが特徴である。
【0076】このような構成のレンズメータ1Bの場
合、光源部13B,ダイクロックミラー16,16A及
び光電変換手段11Bの追加によりコストは上昇する
が、2個の光源部13A,13Bを同時点灯し、各光源
部13A,13Bからの光をダイクロックミラー16A
で分岐して各光電変換手段11A,11Bに導くこと
で、光源部13A,13Bを交互に点灯させる必要が無
くなり、この結果、被検レンズ20の測定時間を短縮で
きる。
【0077】図11は、前記測定光源部2の変形例を示
すものであり、測定光源部2Bを、2色発光型のLED
素子30を3個測定光軸Lを中心とする90度の角度配
置をもって構成した場合を示すものである。
【0078】即ち、LED素子30は、図12に示すよ
うに、樹脂モールドレンズ32内に660nmの光を発
する第1のLED31aと、735nmの光を発する第
2のLED31bとを近接配置に備えた3端子構造であ
り、このようなLED素子30を3個図11に示す配置
とすることにより、前記測定光源部2の場合よりも構造
の簡略化を図れる。
【0079】図13は、前記測定光源2の別の例を示す
ものであり、同図に示す測定光源部2Cは、度数測定用
(例えば波長660nm)が少なくとも3個以上、分散
補正用(例えば波長735nm)が少なくとも2個以上
有ればよいので、図13に示すように、例えば波長66
0nmの光を発する3個のLED41a,41b,41
c(白丸を付して示す)を測定光軸Lに対して等距離
に、かつ、90度配置とし、例えば波長735nmの光
を発するLED42a,42b(黒丸を付して示す)の
うち一方のLED42aを測定光軸Lに臨ませ、LED
42bを前記LED41bと対称配置の配置としたもの
である。
【0080】図14は、前記測定光源部2のさらに別の
例を示すものであり、同図に示す測定光源部2Dは、例
えば波長660nmの光を発する3個のLED51a,
51b,51c(白丸を付して示す)を図16にも示す
よう測定光軸Lに対して等距離に、かつ、90度間隔の
分離配置とし、例えば波長735nmの光を発するLE
D52a,52b(黒丸を付して示す)を図15にも示
すように前記LED51a,51cと光学的に同じ位置
に配置したものである。
【0081】次に、前記測定光源部2Cを用いたレンズ
メータ1Cによる光学性能の補正動作について詳述す
る。
【0082】この場合、図17に示すように、LED4
1a,41b,41c(図中白丸で示す)を可視光(6
60nm)を発光する測定用光源、LED42a,42
b(図中黒丸で示す)を近赤光(735nm)を発光す
る補正用光源とする。尚、この逆でも問題ないし、2種
類の発光波長がある程度以上異なっていれば可視同士,
近赤同士の組合せでも問題ない。
【0083】このレンズメータ1Cは、受光素子11上
のターゲット7のパターンの像位置とターゲット7の移
動量より被検レンズの度数を得ることができ、投影レン
ズ8の焦点距離をf2 、結像レンズ10の焦点距離をf
3 、被検レンズ20の裏面(光源側)近傍に結像する光
源像の光軸Lからの距離をl、ターゲット7の基準位置
からの移動量をZ、受光素子11の受光面上での像の光
軸Lからの距離をhとするとき、被検レンズ20の度数
は下記数15によって得られる。
【0084】
【数15】
【0085】しかし実際には被検レンズ20を載置する
際の偏心や、被検レンズ20の円柱度数Cやプリズム度
数Δ等が存在するため、S,C,A,P全ての光学特性
を得るためには少なくとも3個以上の光源が必要とな
る。
【0086】先ず、LED41a乃至41cを順番に点
灯し、各LED41a乃至41cによるターゲット7の
パターン像の位置と、ターゲット位置より可視光(66
0nm)での度数を演算により求める。
【0087】次にLED42a,42bの発光によるパ
ターン像の位置を検出する。この場合、光源としては2
個しか存在しないため、被検レンズ20の近赤光(73
5nm)による度数を求めることはできないが、光軸L
上にLED42aが存在するため、この1つの光源によ
りプリズム度数Δを求めることができる。
【0088】各LED41a乃至41c、LED42
a,42bによる像中心の座標を41a(x1 ,y1
)、42a(x2 ,y2 )、43a(x3 ,y3 )、
42a(x4 ,y4 )、42b(x5 ,y5 )とする
と、可視光でのプリズム度数Δは(x1 ,y1 )と(x
3 ,y3 )の中点{(x1 +x3 )/2,(y1 +y3
)/2}である。
【0089】各々の波長による焦点距離f1 ,f2 ,f
3 は既知であり、移動量Zが同じ位置であれば可視光に
よるy軸方向での像高さhvはy2 −(y1 +y3 )/
2で得られ、近赤光によるy軸方向での像高さhiはy
5 −y4 で得られる。
【0090】従って、y軸と一致した一経線方向の各波
長による度数が上記数15によって得られ、一経線方向
の度数差が求まる。
【0091】各経線方向の度数は、被検レンズ20の性
質によって異なるが、分散値は1つの被検レンズ20内
では一定であるため、一方向の分散が得られれば充分で
ある。
【0092】このようにして得られた分散値より、初め
に可視光により得た被検レンズ20の度数を所望の波長
による値へと補正し、表示する。
【0093】上述した演算は各々の光源による像の位置
関係より行うため、被検レンズ20が検者の手により大
きく移動されている間は各光源が点灯する際のプリズム
量が異なり誤差を生じやすい。従って、各光源による像
の移動を常に観測し、像の移動が停止あるいはある程度
以下になった時点での各像の位置より分散値を求め前記
記憶手段27に記憶するようにする必要がある。
【0094】分散補正値は像の移動が停止する毎に演
算,更新することも可能であるが、本来3個の光源の点
灯のみで度数を演算できるにもかかわらず、毎回5個の
光源を点灯しなければならず、測定速度が遅くなってし
まう。実際には、同一の被検レンズ20の測定中には分
散補正値は一定であるので、通常は3個の光源のみの点
灯により、可視光による度数のみを演算し、予め演算処
理し、記憶してある分散補正値により補正して表示手段
28に表示するようにし、可視光による演算結果がある
値以上変化したときのみ、残りの近赤外の2個の光源を
点灯して分散補正値を算出し、更新するようにすればよ
い。
【0095】また、検者が分散補正が必要であると感じ
たとき、前記入力手段29の補正キー29dを押下する
ことにより分散値補正値を求め、更新記憶を行うように
することもできる。
【0096】被検レンズ20の分散値が既知である場合
には、補正キー29dの再押下により分散補正値演算を
停止し、分散値を文字キー29aから入力すればよい。
【0097】また、レンズメータ1Cのメインスイッチ
が入れられた直後、又はクリヤキーが押された後は、検
者が分散補正を指令する補正キー29dを入力するまで
は、最も一般的な分散値を予め記憶しており、この値に
より可視光による測定値を補正して表示するようにする
こともできる。
【0098】次に、測定光源部2のさらに他例を図1
8,図19を参照して説明する。
【0099】図18に示す測定光源部2Eは、光軸Lに
臨ませたタングステンランプ,ハロゲンランプ等からな
る発光源61と、この発光源61と前記対物レンズ6と
の間に配置したフィルタ部62とを具備している。
【0100】前記フィルタ部62は、660nmの光を
透過する第1フイルタ63と、735nmの光を透過す
る第2フイルタ64とを具備し、図示しないスライド駆
動手段により駆動されて、第1フイルタ63,第2フイ
ルタ64のいずれかを光路Lに臨ませ、これにより、発
光源61からの光を測定波長λ1 又は測定波長λ2 とし
て被検レンズ20に向けて照射するようになっている。
【0101】第1フイルタ63,第2フイルタ64の光
の透過率(%T)を図19に示す。
【0102】この測定光源部2Eを用いることにより、
一個の発光源61のみの簡略な構成により測定波長λ1
及び測定波長λ2 の2波長からなる測定用の光束を得る
ことができる。
【0103】次に、測定光源部2のさらに他例を図20
を参照して説明する。
【0104】図20に示す測定光源部2Fは、光軸Lに
臨ませたタングステンランプ,ハロゲンランプ,キセノ
ンランプ等からなる発光源71と、この発光源71から
の光を光軸Lに向けて回折する回動可能な反射型の回折
格子72と、光軸Lに臨ませた中央部にピンホール73
を有するピンホール板74とを具備している。
【0105】この測定光源部2Fによれば、一個の発光
源71を用いて回折格子72を適切に回動するだけの簡
略な構成により測定波長λ1 及び測定波長λ2 の少なく
とも2波長からなる測定用の光束を得ることができる。
尚、回析格子72等を用いて波長を細いステップで変化
させ、各波長に対する光電変換手段11の出力を見るこ
とで被検レンズ20等の透過率や紫外線カット用のコー
ティングの有無、サングラスの透過率等の光学性能を測
定することが可能となる。
【0106】既に、ハンフリーのレンズメータには、透
過率の測定ができるものがあるが、これは度数測定と透
過率測定とを別の光学系により行うものと思われる。ま
た、回折格子72としては反射型の他、透過型とするこ
ともでき、また、プリズムを用いることも可能である。
【0107】次に、前記レンズメータ1の具体的構成及
び累進焦点レンズ80の測定について説明する。
【0108】累進焦点レンズ80の測定方法としては、
通常測定モードでまず遠用部Y0 を含む領域(図22に
示すこの累進焦点レンズ80の上半分の範囲で左右のプ
リズム値が0に近い部分)を測定し、ここで加入度キー
29cを押下し、このとき、表示手段28の画面が近用
測定モード(ワイングラス状の表示)に変化し、この表
示に従い累進焦点レンズ80を累進帯86と推定される
領域に沿って移動し近用部Y1 を測定する場合と、ま
ず、測定モード設定キー29bを押下し、累進測定モー
ドに切り替え、このときの表示手段28の画面表示に基
づき遠用部Y0 を含む領域を測定し、この後、加入度キ
ー29cを押下するか、又は、遠用部Y0の測定が完了
したことを感知して自動的に近用測定モードに切り替
え、既述した場合と同様に近用部Y1 を測定する方法が
ある。
【0109】図21に示すレンズメータ1は、箱型状の
本体1Aの正面の上部に表示手段28を備えるととも
に、この表示手段28の下側に前記光学系を搭載した上
部指示箱81,下部支持箱82を所定の間隔で対峙させ
下部支持箱82の上面に測定すべき累進焦点レンズ80
を載置するレンズ受9を配置している。
【0110】また、累進焦点レンズ80は、レンズ押さ
え部83によりレンズ受け9上に押圧されるとともに、
レンズ押さえ部83の近傍にはレバー84の操作で累進
焦点レンズ80に印点を行う印点機構85を備えてい
る。
【0111】さらに、本体1Aの正面下部には、前記入
力手段29を配置している。
【0112】累進焦点レンズ80は、図22に示すよう
に、遠用部Y0 ,近用部Y1 ,遠用部Y0 から近用部Y
1 に至るに従い加入度数ADDが増加する累進帯86を
具備している。
【0113】このような累進焦点レンズ80の光学性能
をレンズメータ1により測定する場合、累進焦点レンズ
80をレンズ受9上でレンズ押さえ部83で押圧しつつ
移動してまず遠用部Y0 をレンズ受9の中心位置に固定
し、その光学性能を既述した場合と同様にして測定す
る。これにより、前記演算手段26は既述した場合と同
様にして遠用部Y0 の補正を伴う光学性能を演算により
求める。この結果、表示手段28の画面には、図23に
示すようにCPU22の制御で加入度数ADD=0が表
示されるとともに、遠用部Y0 の補正を伴う光学性能は
前記記憶手段27に記憶される。前記測定モード設定キ
ー29b又は加入度キー29aにより累進測定モードを
設定する。このとき、表示手段28の画面は、図23に
示すようにCPU22の制御でそれまでのターゲット表
示からワイングラス状の表示に切り替る。
【0114】この後、累進焦点レンズ80をレンズ受9
上でレンズ押さえ部83で押圧しつつ累進帯86に沿っ
て移動する。このとき、表示手段28の画面は、図23
に示すようにCPU22の制御で加入度数ADDの増加
にしたがってカラーバー87が上昇し、やがて近用部Y
1 をレンズ受9の中心位置に固定しての測定結果によ
り、表示手段28の画面には、図23に示すようにCP
U22の制御で例えば加入度数ADD=2が表示される
とともに、遠用部Y0 の補正を伴う光学性能は前記記憶
手段27に記憶される。
【0115】また、累進焦点レンズ80の加入度数AD
D=2を前記文字キー29aからの支持により記憶手段
27に記憶するときに、既述した補正演算を行うように
してもよい。さらに、上述した遠用部Y0 ,近用部Y1
の測定時に、測定結果がまったく掛け離れた値になった
り、遠用部Y0 から近用部Y1 への移行が正確に行われ
なかったりしたときに、図示してないがブザー等で警報
を発するようにしてもよく、このようにすれば、より測
定の正確性を高めることができる。
【0116】さらに、累進焦点レンズ80に対して前記
印点機構85により所定の印点を行う直前においてはこ
の累進焦点レンズ80が固定状態にあるので、印点機構
85のレバー84の操作に連動して図示しないマイクロ
スイッチを動作させ、この信号により累進焦点レンズ8
0に対する上述した測定を実行することも可能である。
【0117】本発明は上述した場合のほか、例えば、ハ
ンフリー型の光学系を備えたレンズメータに対しても適
用可能である。
【0118】
【発明の効果】以上詳述した本発明によれば、以下の効
果を奏する。
【0119】請求項1記載の発明によれば、上述した構
成としたので、光学性能が既知でない被検レンズに対し
ても正確にその光学性能を求めることが可能であり、ま
た、光学性能が既知であっても特別な入力操作なしで正
確にその光学性能を求めることが可能なレンズメータを
提供することができる。
【0120】請求項2記載の発明によれば、像の移動が
停止したときの操作者の入力操作に基づいて補正演算が
行われるので正確な光学性能を求めることができる。
【0121】
【0122】
【0123】
【0124】請求項記載の発明によれば、累進レンズ
の近用部の補正を伴う正確な光学性能を求めることが可
能なレンズメータを提供することができる。
【0125】請求項記載の発明によれば、累進レンズ
の遠用部,近用部の補正を伴う正確な光学性能を求める
ことが可能なレンズメータを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のレンズメータの測定原理を示す測定波
長と屈折力との関係を示すグラフ
【図2】本発明のレンズメータの第1の実施例を示す光
学配置図
【図3】第1の実施例の測定光源を示す配置図
【図4】第1の実施例のターゲットを示す平面図
【図5】第1の実施例の光電変換手段を示す平面図
【図6】第1の実施例の制御系を示すブロック図
【図7】本発明のレンズメータの第2の実施例を示す光
学配置図
【図8】第2の実施例の測定光源を示す配置図
【図9】第2の実施例の測定光源を示す配置図
【図10】本発明のレンズメータの第3の実施例を示す
光学配置図
【図11】測定光源の他例を示す配置図
【図12】測定光源の他例における2色発光型のLED
素子を示す斜視図
【図13】測定光源の別の例を示す配置図
【図14】測定光源のさらに別の例を示す配置図
【図15】図13に示す測定光源における分散補正用の
LEDの配置図
【図16】図13に示す測定光源における度数測定用の
LEDの配置図
【図17】図13に示す測定光源を用いたレンズメータ
を示す光学配置図
【図18】フィルタ部を用いた測定光源の構成図
【図19】図18に示すフィルタ部の透過率を示す特性
【図20】回折格子を用いた測定光源の構成図
【図21】図1に示すレンズメータの具体的構成を示す
斜視図
【図22】累進焦点レンズの平面図
【図23】図21に示すレンズメータにおける表示手段
の表示例の説明図
【符号の説明】
1 レンズメータ 1A レンズメータ 1B レンズメータ 2 測定光源 3A 発光部 3B 発光部 9 レンズ受 11 光電変換手段 16 ダイクロックミラー 20 被検レンズ 26 演算手段 L 測定光軸
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−186133(JP,A) 特開 平4−66834(JP,A) 特開 昭61−200441(JP,A) 特開 昭57−199933(JP,A) 特許2546668(JP,B2) 実公 平3−200441(JP,Y2) 米国特許5175594(US,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01M 11/02

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定光源からの光を被検レンズを通過さ
    せて光電変換手段に導き、この光電変換手段からの光電
    変換信号を基にして前記被検レンズの光学性能を求める
    レンズメータであって、前記測定光源は少なくとも2種
    類の異なる波長の光を発することが可能であり、 時分割方式で前記異なる波長を有する光を発するように
    前記測定光源を制御する制御手段と、 前記測定光軸上に配置され、前記時分割で送られてくる
    被検レンズからの測定光を一平面で受けて異なる波長の
    光に応じた光電変換信号を発生する光電変換手段と、 前記光によって得られる像の移動が停止した時に補正指
    令信号を入力する入力手段と、 前記入力手段から前記補正指令信号を受けた時に前記少
    なくとも2種類の異なる波長の光に応じて前記光電変換
    手段からの光電変換信号を基にして前記被検レンズの性
    能を演算して分散値の補正値を求める演算手段とを有す
    るレンズメータ。
  2. 【請求項2】 測定光源からの光を被検レンズを通過さ
    せて光電変換手段に導き、この光電変換手段からの光電
    変換信号を基にして前記被検レンズの光学性能を求める
    レンズメータであって、前記測定光源は少なくとも2種
    類の異なる波長の光を発することが可能であり、 時分割方式で前記異なる波長を有する光を発するように
    前記測定光源を制御する制御手段と、 前記測定光軸上に配置され、前記時分割で送られてくる
    被検レンズからの測定光を一平面で受けて異なる波長の
    光に応じた光電変換信号を発生する光電変換手段と、 前記光によって得られる像の移動が停止した時の検者の
    操作に基づいて補正指令信号を入力する入力手段と、 前記入力手段から前記補正指令信号を受けた時に前記少
    なくとも2種類の異なる波長の光に応じて前記光電変換
    手段からの光電変換信号を基にして前記被検レンズの性
    能を演算して分散値の補正値を求める演算手段とを有す
    るレンズメータ。
  3. 【請求項3】 測定光源からの光を被検累進レンズを通
    過させて光電変換手段に導き、この光電変換手段からの
    光電変換信号を基にして前記被検累進レンズの光学性能
    を求め、累進レンズの加入度測定キーを備えたレンズメ
    ータであって、前記測定光源は時分割方式で複数の異な
    る波長の光を発することが可能であり、累進レンズの遠
    用部を測定後に前記光によって得られる像の移動が停止
    した時に加入度測定キーの押下に応じ累進レンズの光学
    性能を演算して分散値の補正値を求める演算手段を有す
    るレンズメータ。
  4. 【請求項4】 測定光源からの光を被検レンズを通過さ
    せて光電変換手段に導き、この光電変換手段からの光電
    変換信号を基にして前記被検レンズの光学性能を求め、
    前記被検レンズへの印点機構を備えたレンズメータであ
    って、前記測定光源は時分割方式で複数の異なる波長の
    光を発することが可能であり、被検レンズの測定を行っ
    た後前記光によって得られる像の移動が停止した時に印
    点機構による被検レンズへの印点を行う動作に応じ前記
    被検レンズの光学性能を演算して分散値の補正値を求め
    る演算手段を有するレンズメータ。
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