JP2877489B2 - 過励磁検出継電装置 - Google Patents
過励磁検出継電装置Info
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- JP2877489B2 JP2877489B2 JP2293171A JP29317190A JP2877489B2 JP 2877489 B2 JP2877489 B2 JP 2877489B2 JP 2293171 A JP2293171 A JP 2293171A JP 29317190 A JP29317190 A JP 29317190A JP 2877489 B2 JP2877489 B2 JP 2877489B2
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- voltage
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Protection Of Generators And Motors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は過励磁検出継電装置、特に発電機及び変圧器
など、広い周波数帯域での保護を必要とする機器の保護
に用いられる過励磁検出継電装置に関する。
など、広い周波数帯域での保護を必要とする機器の保護
に用いられる過励磁検出継電装置に関する。
（従来の技術） 発電機及び変圧器の電力機器が過励磁状態で連続運転
を行なうと、機器の過熱を引き起こし、その結果機器に
損傷を与えることになる。また連続過励磁運転をした場
合の許容運転時間の限度は、電力機器に対する過励磁の
程度に依存する。上記した過励磁の程度を測る尺度とし
て従来より、電圧Ｖに比例し周波数ｆに反比例する量、
即ち、V/fなる量が用いられており、このV/fの大きさに
より電力機器の運転を制限することが行なわれている。
を行なうと、機器の過熱を引き起こし、その結果機器に
損傷を与えることになる。また連続過励磁運転をした場
合の許容運転時間の限度は、電力機器に対する過励磁の
程度に依存する。上記した過励磁の程度を測る尺度とし
て従来より、電圧Ｖに比例し周波数ｆに反比例する量、
即ち、V/fなる量が用いられており、このV/fの大きさに
より電力機器の運転を制限することが行なわれている。
（発明が解決しようとする課題） 一方、近年のディジタル技術の進歩に伴ない、電力機
器に対する保護，制御をディジタル的に行なう試みが種
々なされている。前記したV/fなる量の導出を広い周波
数帯域において、ディジタル的に精度よく行なうアルゴ
リズムとしては、交流電圧波形の面積を台形及び三角形
で近似し、前記したV/fなる量を求めるものがある。こ
の手法について第５図を用いて説明する。
器に対する保護，制御をディジタル的に行なう試みが種
々なされている。前記したV/fなる量の導出を広い周波
数帯域において、ディジタル的に精度よく行なうアルゴ
リズムとしては、交流電圧波形の面積を台形及び三角形
で近似し、前記したV/fなる量を求めるものがある。こ
の手法について第５図を用いて説明する。
第５図は台形及び三角形近似によるV/fの算出手法を
説明する図であり、一例として入力交流電圧Ｖの周波数
ｆが50Hzで、サンプリング周波数が600Hzの場合を示し
ている。なお、第５図に示すように入力交流電圧を一定
周期（1/600秒）でサンプリングし、これをアナログ／
ディジタル変換した電圧のサンプル値をv-1,v0,…,v12
と表している。そして、第５図に示すハッチング部の面
積、即ち、正波もしくは負波いずれかの面積は、各サン
プル値及び時間軸によって構成される台形及び三角形の
面積の和に比例する。第５図において台形の例として
S1、三角形の例としてS2の各々の面積は以下に示す
（１）及び（２）式となる。
説明する図であり、一例として入力交流電圧Ｖの周波数
ｆが50Hzで、サンプリング周波数が600Hzの場合を示し
ている。なお、第５図に示すように入力交流電圧を一定
周期（1/600秒）でサンプリングし、これをアナログ／
ディジタル変換した電圧のサンプル値をv-1,v0,…,v12
と表している。そして、第５図に示すハッチング部の面
積、即ち、正波もしくは負波いずれかの面積は、各サン
プル値及び時間軸によって構成される台形及び三角形の
面積の和に比例する。第５図において台形の例として
S1、三角形の例としてS2の各々の面積は以下に示す
（１）及び（２）式となる。
したがって（３）式を計算することによりV/fに比例
した量Ｐの近似式が得られ、更に（３）式を一般的に表
すと（４）式となる。
した量Ｐの近似式が得られ、更に（３）式を一般的に表
すと（４）式となる。
但し、ｉは正波または負波の先頭のサンプリング番
号、ｊは正波または負波に含まれるサンプル値の数。
号、ｊは正波または負波に含まれるサンプル値の数。
上記した（４）式を用いてV/fに比例した値Ｐを計算
し、定格電圧，定格周波数時の値を1P.U.とし、周波数
を変えた時のＰ（∝V/f）の誤差を第６図に示す。第６
図に示されるように誤差は実用的周波数範囲である70Hz
以下では０〜6.4％となる。第６図に示されるように、
誤差は周波数が高くなる程大きくなる。第７図は入力交
流電圧が低周波数の時の三角形近似部分を、第８図は入
力交流電圧が高周波数の時の三角形近似部分を示すもの
であり、第７図及び第８図を用いて誤差について説明す
る。
し、定格電圧，定格周波数時の値を1P.U.とし、周波数
を変えた時のＰ（∝V/f）の誤差を第６図に示す。第６
図に示されるように誤差は実用的周波数範囲である70Hz
以下では０〜6.4％となる。第６図に示されるように、
誤差は周波数が高くなる程大きくなる。第７図は入力交
流電圧が低周波数の時の三角形近似部分を、第８図は入
力交流電圧が高周波数の時の三角形近似部分を示すもの
であり、第７図及び第８図を用いて誤差について説明す
る。
第７図に示すハッチング部が低周波数時三角形の面積
S2により、片半波の端部を近似した時に発生する誤差で
あり、第８図に示すハッチング部が同様の近似を行なっ
た時のものである。つまり、入力交流電圧が低周波数の
時は時間の経過によるＶの変化分が小さいため、v-1とv
0の間の波形はより直線的となり、したがって三角形に
よる近似を行なっても誤差は小さいが、入力交流電圧が
高周波数の時は時間の経過によるＶの変化分が大きいた
め、v-1とv0の間の波形は曲線の度合が強くなり、した
がって三角形による近似の誤差が大きくなる。したがっ
て定格周波数、即ち、上記例においては50Hz時での誤差
が＋2.4％となってしまう。定格周波数での誤差を零と
するには（４）式で得られた結果に定数Ａを乗算し補正
を行なえばよいが、Ａ＝0.977とした場合においてもそ
の誤差は−0.88〜＋3.4％となり、更なる高精度化が要
求されているのが現状である。
S2により、片半波の端部を近似した時に発生する誤差で
あり、第８図に示すハッチング部が同様の近似を行なっ
た時のものである。つまり、入力交流電圧が低周波数の
時は時間の経過によるＶの変化分が小さいため、v-1とv
0の間の波形はより直線的となり、したがって三角形に
よる近似を行なっても誤差は小さいが、入力交流電圧が
高周波数の時は時間の経過によるＶの変化分が大きいた
め、v-1とv0の間の波形は曲線の度合が強くなり、した
がって三角形による近似の誤差が大きくなる。したがっ
て定格周波数、即ち、上記例においては50Hz時での誤差
が＋2.4％となってしまう。定格周波数での誤差を零と
するには（４）式で得られた結果に定数Ａを乗算し補正
を行なえばよいが、Ａ＝0.977とした場合においてもそ
の誤差は−0.88〜＋3.4％となり、更なる高精度化が要
求されているのが現状である。
本発明は上記問題点を解決するためになされたもので
あり、発電機及び変圧器の電力機器の過励磁運転状態を
精度良く導出し得る過励磁検出継電装置を提供すること
を目的としている。
あり、発電機及び変圧器の電力機器の過励磁運転状態を
精度良く導出し得る過励磁検出継電装置を提供すること
を目的としている。
［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 上記目的を達成するため、本発明では一定時間間隔で
サンプリングされ、ディジタル量に変化された交流電圧
のサンプル値を用い、該交流電圧の半波または半波の整
数倍の期間のサンプル値のディジタル量を用いて台形近
似及び三角形近似を行ない、交流電圧波形の面積に対応
した量を計算するに際して、上記した三角形近似部分に
対し、擬似的に底辺または高さに所定の定数を乗算する
ことにより補正し、更に三角形の面積の大きさ、即ち、
三角形の底辺または高さの大きさにより発生する上記補
正の誤差部分を取り除くために、三角形の面積が大きく
なるに従って小となる値を得、これに所定の定数を乗算
して得られた補間項を加算するよう構成した。
サンプリングされ、ディジタル量に変化された交流電圧
のサンプル値を用い、該交流電圧の半波または半波の整
数倍の期間のサンプル値のディジタル量を用いて台形近
似及び三角形近似を行ない、交流電圧波形の面積に対応
した量を計算するに際して、上記した三角形近似部分に
対し、擬似的に底辺または高さに所定の定数を乗算する
ことにより補正し、更に三角形の面積の大きさ、即ち、
三角形の底辺または高さの大きさにより発生する上記補
正の誤差部分を取り除くために、三角形の面積が大きく
なるに従って小となる値を得、これに所定の定数を乗算
して得られた補間項を加算するよう構成した。
（作 用） 第１図は本発明の要点である入力交流電圧波形の端部
における三角形近似のための面積の補正及び補間手法を
説明する図であり、一例として入力交流電圧Ｖの周波数
ｆが50Hzでサンプリング周波数が600Hzの場合の、交流
波形の端部を示している。なお、第１図に示すように入
力交流電圧を一定周期（1/600秒）でサンプリングし、
これをアナログ／ディジタル変換した電圧のサンプル値
をv-1,v0と表している。そして、実線を斜辺とする三角
形の面積S2は前記（２）式で表されるものである。
における三角形近似のための面積の補正及び補間手法を
説明する図であり、一例として入力交流電圧Ｖの周波数
ｆが50Hzでサンプリング周波数が600Hzの場合の、交流
波形の端部を示している。なお、第１図に示すように入
力交流電圧を一定周期（1/600秒）でサンプリングし、
これをアナログ／ディジタル変換した電圧のサンプル値
をv-1,v0と表している。そして、実線を斜辺とする三角
形の面積S2は前記（２）式で表されるものである。
第７図または第８図のハッチング部にて示される誤差
の補正は、第１に示すΔだけ三角形部分の底辺を擬似的
に延長することにより可能となる。つまり破線を斜辺と
した三角形の面積を求めればよく、斜辺をΔだけ延長す
る定数をA1と仮定すると、破線を斜辺とする三角形の面
積S2は（５）式で表される。
の補正は、第１に示すΔだけ三角形部分の底辺を擬似的
に延長することにより可能となる。つまり破線を斜辺と
した三角形の面積を求めればよく、斜辺をΔだけ延長す
る定数をA1と仮定すると、破線を斜辺とする三角形の面
積S2は（５）式で表される。
しかしながら（５）式において、サンプル値v0が大き
な場合は補正定数A1は有効であるが、v0が小さな場合は
大きな効果が期待できない。したがって、v0の値が大き
な場合にはその値が小さく、またv0の値が小さな場合に
はその値が大きくなるパラメータを用い、そのパラメー
タに定数A2を乗算した関数を用いて（５）式を更に補正
する。例として、上記条件を満たすパラメータとしてv
-1を用いると三角形の面積S2は（６）式となる。
な場合は補正定数A1は有効であるが、v0が小さな場合は
大きな効果が期待できない。したがって、v0の値が大き
な場合にはその値が小さく、またv0の値が小さな場合に
はその値が大きくなるパラメータを用い、そのパラメー
タに定数A2を乗算した関数を用いて（５）式を更に補正
する。例として、上記条件を満たすパラメータとしてv
-1を用いると三角形の面積S2は（６）式となる。
（６）式を第１図に示すサンプル値v5,v6にも適用
し、（３）式中の三角形の面積を表す項に置き変えると
（７）式となる。
し、（３）式中の三角形の面積を表す項に置き変えると
（７）式となる。
このようにして計算し、定格電圧，定格周波数時の値
を1P.U.、また（８）式における定数A1,A2を各々A1＝1.
2,A2＝0.1とし、周波数を変えた時のＰ（∝V/f）の誤差
を第２図に示す。即ち、前記した（８）式に基づいてV/
fを計算した場合、第２図にハッチング部として示す範
囲が誤差範囲となる。要するに本発明によるV/fの計算
結果は、実用的な周波数範囲70Hz以下において、またサ
ンプリング周期を電気角30゜とした場合において、第２
図に示されるように±0.4％以下の高精度にその結果が
得られることを示している。
を1P.U.、また（８）式における定数A1,A2を各々A1＝1.
2,A2＝0.1とし、周波数を変えた時のＰ（∝V/f）の誤差
を第２図に示す。即ち、前記した（８）式に基づいてV/
fを計算した場合、第２図にハッチング部として示す範
囲が誤差範囲となる。要するに本発明によるV/fの計算
結果は、実用的な周波数範囲70Hz以下において、またサ
ンプリング周期を電気角30゜とした場合において、第２
図に示されるように±0.4％以下の高精度にその結果が
得られることを示している。
（実施例） 以下図面を参照して実施例を説明する。
第３図は本発明による過励磁検出継電装置の一実施例
の構成図である。
の構成図である。
第３図において、Ｇは発電機、TRは変圧器であり、し
ゃ断器CBを介して系統へ電力を供給する。PTは計器用変
圧器であり、母線Ｂの電力を過励磁検出継電装置１へ導
入する。ここで過励磁検出継電装置は従来公知なディジ
タル継電器によって構成され、導入された交流電圧Ｖは
アナログ／ディジタル変換部（A/D）２を介して一定周
期でサンプリングされて、ディジタル量に変換される。
中央演算部（CPU）３はプログラムメモリ（ROM）４に予
め記憶されたプログラムに従い、上記したディジタル量
とデータメモリ（RAM）５とを用いて後述する過励磁検
出演算を行ない、その結果、過励磁状態が検出された場
合には、出力部（OUT）６より過励磁の程度、即ち、V/f
の大きさに応じて定められた時限後に発電機Ｇに対して
トリップ指令７が発せられる。
ゃ断器CBを介して系統へ電力を供給する。PTは計器用変
圧器であり、母線Ｂの電力を過励磁検出継電装置１へ導
入する。ここで過励磁検出継電装置は従来公知なディジ
タル継電器によって構成され、導入された交流電圧Ｖは
アナログ／ディジタル変換部（A/D）２を介して一定周
期でサンプリングされて、ディジタル量に変換される。
中央演算部（CPU）３はプログラムメモリ（ROM）４に予
め記憶されたプログラムに従い、上記したディジタル量
とデータメモリ（RAM）５とを用いて後述する過励磁検
出演算を行ない、その結果、過励磁状態が検出された場
合には、出力部（OUT）６より過励磁の程度、即ち、V/f
の大きさに応じて定められた時限後に発電機Ｇに対して
トリップ指令７が発せられる。
第４図は中央演算部において実行される過励磁検出演
算処理を説明するフローチャートである。第４図におい
て、ステップ41ではアナログ／ディジタル変換部（A/
D）２にてディジタル量に変換された電圧のサンプル値
（v1,v2,…）が取り込まれてステップ42へ移る。ステッ
プ42においては（８）式に基づき、V/fに比例した量Ｐ
の近似値が計算される。ステップ43では（８）式の演算
結果が予め選定された定数ｋと比較されて、過励磁運転
状態か否かが判定される。過励磁運転状態でないと判定
された場合は終了する。ステップ43にて過励磁運転状態
と判定された場合はステップ44へ移り、過励磁運転時間
が所定時間継続したか否かが判定され、ここで所定時間
継続していないと判定された場合は終了する。ステップ
44において所定時間継続したと判定された場合は、ステ
ップ45へ移って発電機Ｇに対してトリップ指令が発せら
れる。
算処理を説明するフローチャートである。第４図におい
て、ステップ41ではアナログ／ディジタル変換部（A/
D）２にてディジタル量に変換された電圧のサンプル値
（v1,v2,…）が取り込まれてステップ42へ移る。ステッ
プ42においては（８）式に基づき、V/fに比例した量Ｐ
の近似値が計算される。ステップ43では（８）式の演算
結果が予め選定された定数ｋと比較されて、過励磁運転
状態か否かが判定される。過励磁運転状態でないと判定
された場合は終了する。ステップ43にて過励磁運転状態
と判定された場合はステップ44へ移り、過励磁運転時間
が所定時間継続したか否かが判定され、ここで所定時間
継続していないと判定された場合は終了する。ステップ
44において所定時間継続したと判定された場合は、ステ
ップ45へ移って発電機Ｇに対してトリップ指令が発せら
れる。
以上説明したように本実施例によれば、一定周期でサ
ンプリングされて、ディジタル量に変換されたデータを
用い、（８）式に示されるような演算を行なうことによ
り、サンプリング周期を電気角30゜より短くすることな
く、電力機器の過励磁運転の程度を高精度に検出するこ
とが可能となる。
ンプリングされて、ディジタル量に変換されたデータを
用い、（８）式に示されるような演算を行なうことによ
り、サンプリング周期を電気角30゜より短くすることな
く、電力機器の過励磁運転の程度を高精度に検出するこ
とが可能となる。
上記実施例では入力交流量の正波または負波の面積に
対応した量を求める側について説明したが、これに限定
されるものではなく、１波分または1.5波分など入力交
流量の半波の整数倍の面積を求めるようにしても良い。
例えば１波分の面積を求めるようにした場合の例を第５
図を用いて示すと、（９）式によりV/fに比例した量ｑ
の近似値が得られる。
対応した量を求める側について説明したが、これに限定
されるものではなく、１波分または1.5波分など入力交
流量の半波の整数倍の面積を求めるようにしても良い。
例えば１波分の面積を求めるようにした場合の例を第５
図を用いて示すと、（９）式によりV/fに比例した量ｑ
の近似値が得られる。
したがって、上記した（10）式を用いて第４図のステ
ップ42で計算しても同様の効果が得られる。なお、この
場合、第４図のステップ43における予め整定された定数
ｋは当然ながら2kとする必要がある。
ップ42で計算しても同様の効果が得られる。なお、この
場合、第４図のステップ43における予め整定された定数
ｋは当然ながら2kとする必要がある。
上記実施例では正波または負波に含まれる先頭のサン
プリング番号より１つ前のサンプル値及び末尾より１つ
の後のサンプル値、つまり第５図を用いた例によればv
-1及びv6を、先頭及びサンプル値の大きさによりその値
が変化するパラメータとして用いる例を説明したが、こ
れに限定されるものではなく、後述する条件を満たすパ
ラメータであればよい。
プリング番号より１つ前のサンプル値及び末尾より１つ
の後のサンプル値、つまり第５図を用いた例によればv
-1及びv6を、先頭及びサンプル値の大きさによりその値
が変化するパラメータとして用いる例を説明したが、こ
れに限定されるものではなく、後述する条件を満たすパ
ラメータであればよい。
条件：正波または負波に含まれる先頭のサンプル値が
大きく（小さく）なるに従ってその値が小さく（大き
く）なるもの。もしくは、正波または負波に含まれる末
尾のサンプル値が大きく（小さく）なるに従ってその値
が小さく（大きく）なるもの。
大きく（小さく）なるに従ってその値が小さく（大き
く）なるもの。もしくは、正波または負波に含まれる末
尾のサンプル値が大きく（小さく）なるに従ってその値
が小さく（大きく）なるもの。
したがって、第１図に示す例で説明すると、三角形の
面積S2の時間軸に対し反対側に作られる三角形の面積S3
をパラメータとして用いることも可能であり、面積S3は
サンプル値v-1に比例するため、上記条件に適合するパ
ラメータとして面積S3、即ち、正波または負波に含まれ
る先頭より１つ前のサンプル値、もしくは末尾より１つ
後のサンプル値と時間軸によって作られる三角形の面積
を、（８）式の第４項中のサンプル値に置き換えても同
様の効果が得られる。なお、この場合、第４項の定数A2
は当然ながら所望の誤差が得られるよう設定する必要が
ある。
面積S2の時間軸に対し反対側に作られる三角形の面積S3
をパラメータとして用いることも可能であり、面積S3は
サンプル値v-1に比例するため、上記条件に適合するパ
ラメータとして面積S3、即ち、正波または負波に含まれ
る先頭より１つ前のサンプル値、もしくは末尾より１つ
後のサンプル値と時間軸によって作られる三角形の面積
を、（８）式の第４項中のサンプル値に置き換えても同
様の効果が得られる。なお、この場合、第４項の定数A2
は当然ながら所望の誤差が得られるよう設定する必要が
ある。
上記した各実施例では、本発明の趣旨に基づいて電圧
のサンプリングを600Hzにて行なう例であった。しかし
ながらサンプリング周波数は当然ながら600Hzに限定さ
れるものではなく、V/fなる量の計算に必要な精度に応
じて任意に変更することができる。例えば70Hz以下の周
波数で±0.4％もの高精度を必要としない場合には、サ
ンプリング周波数を600Hz以下としてもよい。また、よ
り高精度を必要とする場合には、600Hz以上のサンプリ
ング周波数とする必要がある。
のサンプリングを600Hzにて行なう例であった。しかし
ながらサンプリング周波数は当然ながら600Hzに限定さ
れるものではなく、V/fなる量の計算に必要な精度に応
じて任意に変更することができる。例えば70Hz以下の周
波数で±0.4％もの高精度を必要としない場合には、サ
ンプリング周波数を600Hz以下としてもよい。また、よ
り高精度を必要とする場合には、600Hz以上のサンプリ
ング周波数とする必要がある。
また第７図で示される誤差範囲は（８）式における定
数A1,A2は各々A1＝1.2,A2＝0.1の時を示したが、定数
A1,A2はこれに限られるものではなく所望の誤差値、及
び誤差範囲に合わせて設定すればよい。例えば第６図を
用いて上記したように三角形の面積S2の補正のみで所望
の誤差範囲が得られる場合、定数A2をA2＝０としてもよ
い。
数A1,A2は各々A1＝1.2,A2＝0.1の時を示したが、定数
A1,A2はこれに限られるものではなく所望の誤差値、及
び誤差範囲に合わせて設定すればよい。例えば第６図を
用いて上記したように三角形の面積S2の補正のみで所望
の誤差範囲が得られる場合、定数A2をA2＝０としてもよ
い。
また上記各実施例では、定数A1を入力交流電圧の正波
または負波の端部にサンプル値と時間軸によって作られ
る三角形の底辺を擬似的に伸ばす定数として用いたが、
（５）式にて示されるように三角穴の高さを擬似的に伸
ばす定数として考えることも可能であり、このように定
数A1を用いても同様の効果が得られる。
または負波の端部にサンプル値と時間軸によって作られ
る三角形の底辺を擬似的に伸ばす定数として用いたが、
（５）式にて示されるように三角穴の高さを擬似的に伸
ばす定数として考えることも可能であり、このように定
数A1を用いても同様の効果が得られる。
［発明の効果］ 以上説明した如く、本発明によれば一定時間間隔、特
に電気角30゜でサンプリングされ、ディジタル量に変換
した交流電圧の各サンプル値を用い、入力交流電圧の半
波または半波の整数倍の期間内のサンプル値及び時間軸
により構成される台形及び三角形の面積と、その三角形
の面積の補正によりV/fなる量に対応した量を得るよう
構成したので、電力機器の過熱損傷を引き起こす過励磁
の尺度であるV/fをサンプリング間隔を短くすることな
く、高精度に演算することが可能となり、過励磁検出継
電装置の高精度化が可能となった。
に電気角30゜でサンプリングされ、ディジタル量に変換
した交流電圧の各サンプル値を用い、入力交流電圧の半
波または半波の整数倍の期間内のサンプル値及び時間軸
により構成される台形及び三角形の面積と、その三角形
の面積の補正によりV/fなる量に対応した量を得るよう
構成したので、電力機器の過熱損傷を引き起こす過励磁
の尺度であるV/fをサンプリング間隔を短くすることな
く、高精度に演算することが可能となり、過励磁検出継
電装置の高精度化が可能となった。
第１図は本発明による過励磁検出アルゴリズムの補間手
法を説明するための交流電圧の端部の波形図、第２図は
第１図の補間手法を用いて算出したV/fが実用的な周波
数範囲にてどの程度の誤差となるかを示した図、第３図
は本発明による過励磁検出継電装置の一実施例の構成
図、第４図は中央演算部において実行される過励磁検出
演算処理を説明するフローチャート、第５図は従来技術
による過励磁検出継電装置及び本発明の実施例を説明す
るための波形図、第６図は従来技術によって算出された
V/fが実用的周波数範囲においてどの程度の誤差となる
かを示した図、第７図は入力交流電圧が低周波数の時実
際の交流電圧波形とそれを近似する三角形の間の誤差を
説明する図、第８図は入力交流電圧が高周波数の時実際
の交流電圧波形とそれを近似する三角形の間の誤差を説
明する図である。１ ……過励磁検出継電装置 ２……アナログ／ディジタル変換部 ３……中央演算部、４……プログラムメモリ ５……データメモリ、６……出力部 ７……トリップ指令
法を説明するための交流電圧の端部の波形図、第２図は
第１図の補間手法を用いて算出したV/fが実用的な周波
数範囲にてどの程度の誤差となるかを示した図、第３図
は本発明による過励磁検出継電装置の一実施例の構成
図、第４図は中央演算部において実行される過励磁検出
演算処理を説明するフローチャート、第５図は従来技術
による過励磁検出継電装置及び本発明の実施例を説明す
るための波形図、第６図は従来技術によって算出された
V/fが実用的周波数範囲においてどの程度の誤差となる
かを示した図、第７図は入力交流電圧が低周波数の時実
際の交流電圧波形とそれを近似する三角形の間の誤差を
説明する図、第８図は入力交流電圧が高周波数の時実際
の交流電圧波形とそれを近似する三角形の間の誤差を説
明する図である。１ ……過励磁検出継電装置 ２……アナログ／ディジタル変換部 ３……中央演算部、４……プログラムメモリ ５……データメモリ、６……出力部 ７……トリップ指令
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−141618（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−23318（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−168907（ＪＰ，Ａ) 特公 昭42−3573（ＪＰ，Ｂ１) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 19/00 - 19/32 G06F 17/10 - 17/18 G02H 3/00 - 3/52 G02H 7/06 - 7/097 H02P 9/00 - 9/43
Claims (1)
- 【請求項１】交流電圧波形を一定時間間隔でサンプリン
グし、該サンプル値をディジタル量に変換するアナログ
／ディジタル変換部と、変換されたディジタル量を用い
て演算処理し、被保護電力機器への保護指令を与える中
央演算処理部と、データメモリ，プログラムメモリ及び
出力部とを少なくとも備え、前記交流電圧の半波または
半波の整数倍の各期間中におけるサンプル値のディジタ
ル量を用いて台形近似及び三角形近似を行ない、交流電
圧波形の面積に対応した量を計算する保護継電装置にお
いて、上記した三角形近似部分に対し、擬似的に底辺ま
たは高さに所定の定数を乗算することにより補正し、更
に三角形の面積の大きさ、即ち、三角形の底辺または高
さの大きさにより発生する上記補正の誤差部分を取り除
くために、三角形の面積が大きくなるに従って小となる
値を得、これに所定の定数を乗算して得られた補間項を
加算することを特徴とする過励磁検出継電装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2293171A JP2877489B2 (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | 過励磁検出継電装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2293171A JP2877489B2 (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | 過励磁検出継電装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04168910A JPH04168910A (ja) | 1992-06-17 |
| JP2877489B2 true JP2877489B2 (ja) | 1999-03-31 |
Family
ID=17791333
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2293171A Expired - Lifetime JP2877489B2 (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | 過励磁検出継電装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JP2877489B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4833711B2 (ja) * | 2006-03-28 | 2011-12-07 | 日置電機株式会社 | 測定装置 |
| CN110058076A (zh) * | 2019-04-19 | 2019-07-26 | 四川大学 | 一种便携式电压波形记录仪 |
| CN113872154A (zh) * | 2021-09-29 | 2021-12-31 | 中广核研究院有限公司 | 发变组过励磁保护装置、方法及发变组设备 |
-
1990
- 1990-10-30 JP JP2293171A patent/JP2877489B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04168910A (ja) | 1992-06-17 |
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