JP2875138B2 - 光電変換方法およびその装置 - Google Patents

光電変換方法およびその装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光の位置を検出する
光電変換方法およびその装置に係り、とくに一次元の光
電変換に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は光位置検出素子の動作原理を説明
する断面図、図10は図9の光位置検出素子の特性を説
明する特性図、図11は位置検出用の光電スイッチの基
本的な動作を説明するために単線を以て描いた構成図、
図12は光電スイッチの被検出物体までの距離Xと受光
面上の輝点の位置との関係を示す特性図である。従来、
光の位置を検出するものとして、特公昭58−4241
1号公報に見られるPSDすなわち光位置検出素子(受
光エレメント)10がある。この光位置検出素子10は
図9に示すような構成を有し、この光位置検出素子10
のある位置に光が入射すると光位置検出素子10より2
つの電流出力Ia、Ibがえられ、光位置検出素子10
の有効長をLとすると、光位置検出素子10の光の入射
位置Yは次の関係式より求められる。 (Ia−Ib)/(Ia+Ib)=2Y/L・・・・・・・・・・(1) 関係式(1)を図に示すと図10のようになる。このよ
うに光位置検出素子10は電気的に光の入射位置Yを求
めることができるので広く使用されており、図11に示
すような、光電スイッチに適用される。
【0003】すなわち図11において、光電スイッチ1
はレンズ系2、投光部3、受光部4および信号処理部5
を有している。一般にこの種の光電スイッチは被検出物
体の有無を検出するのに用いられる。例えばコンベアに
近接して設けら、そのコンベアによって搬送されるコン
ピュータ用のモニタ等の有無を検出する。そして投光部
3から発せられた光は被検出物体6、すなわち6A、6
B上に輝点を作り、さらにこの被検出物体6により反射
された光はレンズ系2を介して受光部4の受光面上に輝
点像を形成する。被検出物体6までの距離Xが変わる
と、受光面上の輝点像の位置Yが動く。よって、受光面
上の輝点像の位置Yを判定することにより、その輝点像
が被検出物体6によるものか、あるいは光電スイッチ1
から見て、この被検出物体6よりも遠い位置にある背景
7によるものかが判定できる。したがって輝点像の位置
Yを判定するために図9に示す光位置検出素子10は受
光部4の受光面上に配設される。そして輝点像の位置Y
が所定値より大きいときに光電スイッチは検出信号を発
する。この方式の光電スイッチは、受光面上の光量を検
出する方式の光電スイッチと比べ、被検出物体6表面反
射率が変わっても検出距離がほとんど変動せず、また反
射率が大きい背景7の手前にある反射率の少ない被検出
物体6の検出が安定して検出できる等極めて優れた特徴
を有するが、反面次のような問題点を有する。
【0004】被検出物体6までの距離Xと受光面上の輝
点像の位置Yとの関係は図12に示すように非線形であ
る。すなわち、被検出物体6までの距離Xが小さいとき
には被検出物体6までの距離Xに対して受光面上の輝点
像の位置Yの変化が大きいので光位置検出素子10の2
つの出力電流Ia、Ibの変化量が大きいので、受光面
上の輝点像の位置Yが精度よく演算でき、被検出物体6
までの距離Xを精度良く判定できるが、被検出物体6ま
での距離Xが大きいときにはこの被検出物体6までの距
離Xに対して受光面上の輝点像の位置Yの変化が小さい
ので光位置検出素子10の2つの出力電流Ia、Ibの
変化量が小さく、このため受光面上の輝点像の位置Yが
精度よく演算できず、被検出物体6までの距離Xが小さ
いときに比べ、被検出物体6までの距離Xを精度良く判
定できない。もっとも投光軸から受光部4までの距離を
大きくすると改善されるが、光電スイッチが大きくなる
欠点がある。さらに受光面上の輝点の明るさは被検出物
体6までの距離Xが大きいとそれだけ暗くなり、いきお
いノイズの影響が大きくなり被検出物体6までの距離X
の判定精度が落ち、光電スイッチ長距離化を図ることが
できない。
【0005】この問題点を解決するために、n(n>
2)個の受光エレメント(S)を所定の方向に配列し、
各受光エレメント101、102、・・・、10nの各
光電流I1、I2、・・・、Inを所定比率k1と1−
k1、k2と1−k2、・・・knと1−knに分割し
てそれぞれ第1、第2の光電流出力端に導き、k1>
0.5>kn及びkm≦kp(p=m−1;m=2〜
n)なる関係を保って上記所定比率を制御することを特
願平4−154014号で出願した。
【0006】図5は特願平4−154014号の発明の
ブロック図、図6は図5における分流部と分流制御部を
より具体的に示す回路図、図7は受光部に配列される受
光エレメントの配列を示す平面図、図8は受光部の光位
置検出感度を説明する特性図である。図5において受光
部4の出力端には分流部12が接続され、さらにこの分
流部の出力端には差動アンプ部13が接続される。また
分流部12にはこの分流部を制御するための分流制御部
14が接続される。さらに分流制御部14には設定部2
6が接続される。そしてこの設定部26の一部には操作
部15が設けられる。なおこの設定部26は言うまでも
なく、分流制御部14とともに、回路的に一体に形成す
ることも可能であるが、理解を容易にするために分流制
御部14と分離して画かれている。また受光部4の受光
エレメントは例えば、図7に示されるように多数の受光
エレメント10すなわち101、102、103・・・
10nを特定方向に配列して構成される。各受光エレメ
ント101、102、103・・・10nからの光電流
は分流部12に供給され、この分流部12により所定の
比率k1(j)とk2(j)とk3(j)とk4(j)
に分けられ、第1、第2、第3、第4の光電流出力端に
接続される。すなわち、多数の受光エレメント101、
102、103・・・10nからの多数の光電流は4つ
の光電流信号It1、It2、It3、It4に変換さ
れる。これ以後の信号処理は例えば、光電流信号It
1、It2を用い距離の演算などを行なう。図6におい
て、a点にボルツマン電圧Vt(=kT/q)に比例し
た電圧αVtが生じ、トランジスタQ1とトランジスタ
Q2の大きさの比によりαが決まることが知られてい
る。よってb点の電圧は抵抗Rrefの大きさによらず
αVtとなる。抵抗Rpと可変抵抗VR1との合成抵抗
値と抵抗Rrefとの比によりc点に電圧が生じる。c
点の電圧は所定値だけシフトされd点の電圧となる。こ
の電圧を設定電圧と呼ぶ。可変抵抗VR1の大きさを変
えると設定電圧はそれに応じて連続的に変化する。抵抗
R1に流れる電流に比例した電流がe点より流れるので
f点、g点、h点の順に電圧が小さくなっていき、その
電圧差は抵抗R1と抵抗Rjの比とボルツマン電圧Vt
とで決まる一定値である。この電圧が参照電圧となる。
この図においてRjとその前後の計3つの抵抗だけしか
示していないが、受光エレメント10の数だけこの抵抗
が直列に接続される。多数の受光エレメント101、1
02、103・・・10nのうちj番目とその前後の計
3つを示して残りの受光エレメントは省略してある。ま
た、分流部12も同様にj番目の差動増幅器13jを1
つの単位とする分流器12jを中心にその前後の12
(j+1)、12(j−1)の計3つだけを示してあ
る。各分流器はエミッタをたがいに接続した一対のトラ
ンジスタを有する。このエミッタに各受光エレメントが
接続され、各トランジスタの一方のコレクタが第1の電
流出力端pに接続され、各トランジスタの他方のコレク
タが第2の電流出力端qに接続される。これによりn個
の受光エレメントのn本の光電流信号はp、qの2つの
信号に変換される。各トランジスタの一方のベースには
参照電圧を他方のベースには設定電圧が与えられる。設
定電圧は各分流器とも同一の電圧であるが、参照電圧は
各分流器で所定の電位差を持っていてその差はボルツマ
ン電圧Vtの定数倍したものである。
【0007】今、可変抵抗VR1の値により設定電圧が
j番目の参照電圧Vjに近い場合を考える。隣り合った
分流器12(j+1)、12(j−1)の参照電圧の差
を適当に設計することにより、1番目からj−2番目ま
での全ての分流器の参照電圧Vjは設定電圧より十分小
さく受光エレメント10の光電流のほとんどすべてを第
1の電流出力端pに、j+2番目からn番目までの全て
の分流器の参照電圧は設定電圧より十分大きく受光エレ
メント10の光電流のほとんどすべてを第2の電流出力
端qに分流していると見なすことができる。j−1番目
の分流器12(j−1)の参照電圧Vj−1は設定電圧
より低いので受光エレメント10の光電流を第1の電流
出力端pに電流の多くを分流し、j+1番目の分流器1
2(j+1)の参照電圧Vj+1は設定電圧より高いの
で受光エレメント10の光電流を第2の電流出力端qに
電流の多くを分流する。j番目の受光エレメントの光電
流は第1の電流出力端pと第2の電流出力端qに分流
し、その比率はVR1の値により連続的に設定すること
ができる。このようにすることで第1の電流出力端pの
電流をIa、第2の電流出力端qの電流をIbとする
と、図8に示すようにj番目近傍の入射光の位置に対し
ては入射光位置の変化に対して敏感な出力特性が得られ
る。すなわち、j番目近傍は受光部全長がLe に小さく
なった光位置検出素子の特性と等価であり、L/Le倍
の感度が得られる。
【0008】このように特願平4−154014号で
は、n(n>2)個の受光エレメントからの光電流は第
1の光電流出力端と第2の光電流出力端に分流される
が、k1>0.5であるので1番目の受光エレメントか
らの光電流の多くは第1の光電流出力端に流れ、0.5
>knであるのでn番目の受光エレメントからの光電流
の多くは第2の光電流出力端に流れる。km≦kp(p
=m−1;m=2〜n)であるので1番目とn番目の途
中の位置で第1の光電流出力端より第2の光電流出力端
へ分流する比率が多くなるところがあり、この位置で受
光部4を2つに分割し、一方が第1の光電流出力端に光
電流を、他方が第2の光電流出力端に光電流を与える2
分割の受光エレメントと等価となる。分流制御部14で
決まる比率kj(j=1〜n;0≦kj≦1)により等
価的な分割位置が決められるものである。これは全体と
して光を受けて第1の電流出力端pと第2の電流出力端
qからの2つの出力を有する受光素子と等価であり、所
定の位置の光位置検出感度が図7および図8からL/L
e 倍になり高感度となる位置sを設定器で所望の位置に
設定できる。
【0009】ところで、図8において光位置検出感度が
高い区間s以外の受光面にある受光エレメント10はな
くてもよい場合があり、またないほうが良い場合もあ
る。すなわち、投光部3からの光が例えばパルス光であ
れば太陽光などの光の直流成分は電気的に弁別は理論的
には可能だが、実際には直流成分が大きすぎると回路が
飽和するので直流成分の許容限界値がある。また、直流
成分の電流によりショットノイズなどの回路ノイズが生
じる。さらに、投光部3からの光以外の交流光が余分に
光電変換されるのでこれもノイズとなる。受光エレメン
トアレーの全長Lを小さくすれば上記問題は軽減される
が、それだけ高感度となる位置の設定範囲が狭くなりこ
の設定範囲が広いことが必要な用途には適用できない。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、図
8において光位置検出感度が高い区間sの設定範囲を広
くすると不必要に長い受光部となり不要な光がそれだけ
入りやすくなる。
【0011】この発明は、特願平4−154014号の
受光エレメントアレーの全長Lを短くすることなく、設
定された光位置検出感度の高い点を境にして、この点か
ら特定の距離より近い部分の受光エレメントからの電流
のみを信号として扱うことで等価的に短い受光部を得る
ことを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】この発明に係る光電変換
方法およびその装置は、従来の光位置検出素子に代え、
受光エレメントを用いるもので、請求項1における光電
変換方法は、n(n>2)個の受光エレメント10
(j){j=1〜n}を所定の方向に配列し、各受光エ
レメント10(j)の各光電流I(j)を比率k1
(j)とk2(j)とk3(j)とk4(j)に4分割
してI1(j)、I2(j)、I3(j)及びI4
(j)とし、それぞれ第1、第2、第3、第4の光電流
出力端に導き、上記比率k1(j)とk2(j)とk3
(j)とk4(j)がk1(j)+k2(j)+k3
(j)+k4(j)=1でありかつk3(j)/k1
(j)、k1(j)/k2(j)並びにk2(j)/k
4(j)がjと共に減少し、k1(1)>k2(1)、
k1(n)<k2(n)とする。
【0013】請求項2の光電変換装置は、n(n>2)
個の受光エレメント10(j){j=1〜n}を所定の
方向に配列した受光部と、各受光エレメント10(j)
の各光電流I(j)を比率k1(j)とk2(j)とk
3(j)とk4(j)に4分割してI1(j)、I2
(j)、I3(j)及びI4(j)とするj個の分流器
を有する分流部と、上記I1(j)、I2(j)、I3
(j)及びI4(j)をそれぞれ集めた第1、第2、第
3、第4の光電流出力端と、分流率を設定する設定部
と、上記比率k1(j)とk2(j)とk3(j)とk
4(j)を設定する分流制御部とを備えている。しかも
分流器の上記比率k1(j)とk2(j)とk3(j)
とk4(j)はk1(j)+k2(j)+k3(j)+
k4(j)=1でありかつk3(j)/k1(j)、k
1(j)/k2(j)並びにk2(j)/k4(j)は
jと共に減少し、k1(1)>k2(1)、k1(n)
<k2(n)である。
【0014】
【作用】請求項1における光電変換方法は、請求項1に
おける光電変換方法と同様に、受光エレメント10
(j){j=1〜n}に入射した光が各受光エレメント
10(j)の各光電流I(j)を比率k1(j)とk2
(j)とk3(j)とk4(j)に4分割して第1、第
2、第3、第4の光電流出力端に集められるが、上記比
率k1(j)とk2(j)とk3(j)とk4(j)が
k1(1)>k2(1)、k1(n)<k2(n)であ
るのでk1(j)=k2(j)となる実数j0が1から
nの範囲内に存在し、k1(j)/k2(j)がjと共
に減少するのでj0よりjが小さい受光エレメントの光
電流は第2の光電流出力端より第1の光電流出力端に多
く流れる。さらにjが減少すると、k3(j)/k1
(j)がjと共に減少するので光電流は第1の光電流出
力端より第3の光電流出力端に多く流れるようになり、
結果としてj0から所定の距離だけのjが減少する区間
の受光エレメントの光電流が第1の光電流出力端より得
られ、この区間のさらにjの小さい部分の受光エレメン
トの光電流が第3の光電流出力端より得られる。同様
に、j0から所定の距離だけのjが増加する区間の受光
エレメントの光電流が第2の光電流出力端より得られ、
この区間のさらにjの大きい部分の受光エレメントの光
電流が第4の光電流出力端より得られ、n個の受光エレ
メントの光電流は受光面を4分割されたものと等価とな
る。
【0015】請求項2における光電変換装置は、受光エ
レメント10(j){j=1〜n}に入射した光が各受
光エレメント10(j)の各光電流I(j)を比率k1
(j)とk2(j)とk3(j)とk4(j)に4分割
して第1、第2、第3、第4の光電流出力端に集められ
るが、上記比率k1(j)とk2(j)とk3(j)と
k4(j)がk1(1)>k2(1)、k1(n)<k
2(n)であるのでk1(j)=k2(j)となる実数
j0が1からnの範囲内に存在し、k1(j)/k2
(j)がjと共に減少するのでj0よりjが小さい受光
エレメントの光電流は第2の光電流出力端より第1の光
電流出力端に多く流れる。さらにjが減少すると、k3
(j)/k1(j)がjと共に減少するので光電流は第
1の光電流出力端より第3の光電流出力端に多く流れる
ようになり、結果としてj0から所定の距離だけのjが
減少する区間の受光エレメントの光電流が第1の光電流
出力端より得られ、この区間のさらにjの小さい部分の
受光エレメントの光電流が第3の光電流出力端より得ら
れる。同様に、j0から所定の距離だけのjが増加する
区間の受光エレメントの光電流が第2の光電流出力端よ
り得られ、この区間のさらにjの大きい部分の受光エレ
メントの光電流が第4の光電流出力端より得られ、n個
の受光エレメントの光電流は受光面を4分割されたもの
と等価となる。
【0016】
【実施例】以下、図によってこの発明の一実施例を説明
する。図1はこの発明における光電変換方法およびその
装置の一実施例を示す回路図、図2はこの発明における
光電変換方法およびその装置の受光部を構成する受光エ
レメントの配列を示す平面図、図3は図2における受光
部の光位置検出感度を説明する特性図、図4は図1およ
び図2に示す受光部の受光面上の位置と電圧との関係を
示す特性図である。
【0017】この発明の要部は図5における受光部4、
分流部12および分流制御部14であるのでこれについ
てより詳しく説明する。図1はこの発明の要部であるj
番目の受光エレメントと、4つのトランジスタQj1、
Qj2、Qj3、Qj4で構成されるj番目の分流器1
2jと、第1、第2、第3、第4の光電流出力端に接続
された光電流信号線T1、T2、T3、T4と、分流制
御部14内で発生させる電圧V1(1)、V2(1)、
V3(1)、V4(1)、V1(j)、V2(j)、V
3(j)、V4(j)及びV1(n)、V2(n)、V
3(n)、V4(n)が示してある。まず、分流制御電
圧について説明する。j(j=1、2、・・・・、n)
番目の分流制御電圧を V1(j)=Vr+g×j V2(j)=Vr+Vpl1 V3(j)=(1+h)×V1(j)−h×V2(j)
−w1 V4(j)=−h×V1(j)+(1+h)×V2
(j)−w2 とする。ここでVpl1は設定部26で決まる設定電圧
とする。j=ηでV1(η)=V2(η)を満足すると
すると、この時は4つの電圧は次のように書け、 V1(η)=Vr+g×η =V2(η)=Vr+Vpl1 V3(η)=(1+h)×V1(η)−h×V2(η)
+w1 V4(η)=−h×V1(η)+(1+h)×V2
(η)+w2 これらの関係は、 V1(η)=V2(η) =V3(η)−w1 =V4(η)−w2 となる。
【0018】そこでj番目の制御電圧V1、V2、V
3、V4をηを使用して表すと、 V1(j)=V1(η)+g×(j−η) V2(j)=V2(η)=V1(η) V3(j)=V1(η)+(1+h)×g×(j−η)
+w1 V4(j)=V1(η)−h×g×(j−η)+w2 とかくことができる。よって、 V2(j)−V1(j)=g×(j−η) V3(j)−V1(j)=h×g×(j−η)+w1 V4(j)−V2(j)=−h×g×(j−η)+w2 となるのでこれらがゼロとなるjを計算してみると、 j=η の時 V2(j)−V1
(j)=0 j=η−w1/(h×g) の時 V3(j)−V1
(j)=0 j=η+w2/(h×g) の時 V4(j)−V2
(j)=0 となる。以上を整理すると4つの電圧の大小関係はj<
η−w1/(h×g)では、 V3<V1<V2<V
4、j=η−w1/(h×g)では、 V3=V1<
V2<V4、η−w1/(h×g)<j<ηでは、V3
>V1<V2<V4、j=ηでは、
V3>V1=V2<V4、η<j<η+w2/(h
×g)では、V3>V1>V2<V4、j=η+w2/
(h×g)では、 V3>V1>V2=V4、j<η
+w2/(h×g)では、 V3>V1>V2>V
4、となる。この関係を図で示すと図18にように書く
ことができる。
【0019】図1においてj番目の受光エレメントの光
電流I(j)の経路を述べる。全てのエミッタが結合さ
れた4つのトランジスタQj1、Qj2、Qj3、Qj
4でj番目の分流器を構成しており、これら4つのトラ
ンジスタのベース電位により分流比率を制御する。これ
ら4つのトランジスタの4つの分流比をk1(j)、k
2(j)、k3(j)及びk4(j)とする。各トラン
ジスタのベース電圧間の差の大きさの指数関数が4つの
トランジスタの分流比率k1(j)、k2(j)、k3
(j)及びk4(j)を律することが知られているの
で、前述のV1、V2、V3、V4の関係により説明す
る。j<η−w1/(h×g)では、 V3<V1<
V2<V4、であるので、k3(j)>k1(j)>k
2(j)>k4(j)となり、Qj1、Qj2、Qj
3、Qj4に分流される電流I1(j)、I2(j)、
I3(j)、I4(j)は、I3(j)>I1(j)>
I2(j)>I4(j)となる。すなわちI(j)の多
くはQj3を通り、第3の光電流端経の線T3に流れ
る。j=η−w1/(h×g)では、 V3=V1<
V2<V4、であるので、k3(j)=k1(j)>k
2(j)>k4(j)となり、Qj1、Qj2、Qj
3、Qj4に分流される電流I1(j)、I2(j)、
I3(j)、I4(j)は、I3(j)=I1(j)>
I2(j)>I4(j)となる。すなわちI(j)の多
くはQj1とQj3とに等分割されて通り、第1と第3
の光電流端への線T1、T3に流れる。η−w1/(h
×g)<j<ηでは、V3>V1<V2<V4、である
ので、k3(j)<k1(j)>k2(j)>k4
(j)となり、Qj1、Qj2、Qj3、Qj4に分流
される電流I1(j)、I2(j)、I3(j)、I4
(j)は、I3(j)<I1(j)>I2(j)>I4
(j)となる。すなわちI(j)の多くはQj1を通
り、第1の光電流端経の線T1に流れる。j=ηでは、
V3>V1=V2<V4、であ
るので、k3(j)<k1(j)=k2(j)>k4
(j)となり、Qj1、Qj2、Qj3、Qj4に分流
される電流I1(j)、I2(j)、I3(j)、I4
(j)は、I3(j)<I1(j)=I2(j)>I4
(j)となる。すなわちI(j)の多くはQj1とQj
2とに等分割されて通り、第1と第2の光電流端への線
T1、T2に流れる。η<j<η+w2/(h×g)で
は、V3>V1>V2<V4、であるので、k3(j)
<k1(j)<k2(j)>k4(j)となり、Qj
1、Qj2、Qj3、Qj4に分流される電流I1
(j)、I2(j)、I3(j)、I4(j)は、I3
(j)<I1(j)<I2(j)>I4(j)となる。
すなわちI(j)の多くはQj2を通り、第2の光電流
端経の線T2に流れる。j=η+w2/(h×g)で
は、 V3>V1>V2=V4、であるので、k3
(j)<k1(j)<k2(j)=k4(j)となり、
Qj1、Qj2、Qj3、Qj4に分流される電流I1
(j)、I2(j)、I3(j)、I4(j)は、I3
(j)<I1(j)<I2(j)=I4(j)となる。
すなわちI(j)の多くはQj2とQj4とに等分割さ
れて通り、第2と第4の光電流端経の線T2、T4に流
れる。j<η+w2/(h×g)では、 V3>V1
>V2>V4、であるので、k3(j)<k1(j)<
k2(j)<k4(j)となり、Qj1、Qj2、Qj
3、Qj4に分流される電流I1(j)、I2(j)、
I3(j)、I4(j)は、I3(j)<I1(j)<
I2(j)<I4(j)となる。すなわちI(j)の多
くはQj4を通り、第1の光電流端経の線T4に流れ
る。よって、受光面上のn受光エレメントアレーに光が
入射したときの入射光位置と4つの出力端の電流の関係
は図3のようになることがわかる。
【0020】以上説明したようにj(j=1、2、・・
・・、n)番目の分流制御電圧を V1(j)=Vr+g×j V2(j)=Vr+Vpl1 V3(j)=(1+h)×V1(j)−h×V2(j)
−w1 V4(j)=−h×V1(j)+(1+h)×V2
(j)−w2 とすると図3に示すように4分割された受光素子と等価
の動作が得られる。Vpl1は設定部26で決まる設定
電圧であるので操作部15の操作量に応じてVpl1を
変えると上記ηの値を任意に変えることができる。すな
わち等価的な分割位置が操作部15の操作量に応じて変
わることになる。
【0021】以上の説明においてjは正の整数で成立す
る。実際には入射光は点でなくある大きさを有してお
り、図7に示すように受光エレメントのピッチより入射
光の径が大きい場合、上述の関係式はj=1より大きい
実数として扱うことができ、図3に示すように光の入射
位置と4つの光電流出力の関係は入射位置に対して滑ら
かな関係が得られる。逆に受光エレメント10のピッチ
より入射光の径が小さい場合、j=1より大きい実数と
して扱うことは現実との誤差が大きくなり望ましくな
い。具体的には図3の滑らかな線上に受光エレメントピ
ッチの波が重畳する。すなわちこの発明の受光装置は受
光エレメント10の配列ピッチより大きな径の光の位置
検出で特に有効となる。T1、T2に流れる電流を2つ
の光位置検出信号として使用すればこの特性は図3にお
いて長さLfの受光部を有しS部で2つに分割された2
分割受光素子と等価の特性となる。
【0022】V1、V2、V3、V4の関数を上述した
が実際にこの電圧を分流制御部14で発生させる手段に
ついて述べる。分流部はn個の分流器を有し、各分流器
は個別の制御電圧を与える必要がある。すなわち(4×
n)種類の電圧があることになる。上記例ではV2はj
の値に依存しないので(3×n+1)種類の電圧がある
ことになる。nが大きくなると実際の配線数がそれだけ
必要となり現実的でない数となりnの上限を制約する。
【0023】この問題に対し以下の方法が有効である。
すなわち、4つの制御電圧V1、V2、V3、V4の両
端の電圧V1(1)、V2(1)、V3(1)、V4
(1)及びV1(n)、V2(n)、V3(n)、V4
(n)を発生さる。(n−1)本の抵抗を直列に接続し
てこの両端にVi(1)、Vi(n){i=1〜4}を
与え抵抗分割することで途中の抵抗分割点の電圧をVi
(j)とする。受光エレメント10、分流器を構成する
4つのトランジスタおよび上記抵抗のj番目をj番目の
ブロックの部品として配置する。このようにすること
で、{j−1番目}{j+1}番目とのブロック間を接
続することで済む配線部分が大半となり分流制御からこ
のブロックから必要な配線数を大幅に減らすことがで
き、かつnの値に関係なくなるのでnを制約することが
なくなる。このように配線本数を減らすことはこの発明
の光位置検出装置をIC化する際に特に有効な場合があ
る。IC内部での直列抵抗による上記方法はIC配線層
とIC抵抗層とで立体交差が可能となる。尚、図1にお
いてV2の線上にも直列に抵抗が示してあるがV2
(1)とV2(n)は等しいので配線の立体交差が必要
ないならば、この抵抗はなくてもよい。(IC内部で配
線が交錯し立体交差が必要となると抵抗をわざわざ設
け、これにより立体交差を行なうことがある。この方法
をダック−アンダー(Duck−Under)と呼ぶこ
とがある。)この場合のVi(1)、Vi(n){i=
1〜4}は、 V1(1)=Vr+g V1(n)=Vr+g×n V2(1)=Vr+Vpl1 V2(n)=Vr+Vpl1 V3(1)=(1+h)×V1(1)−h×V2(1)
−w1 V3(n)=(1+h)×V1(n)−h×V2(n)
−w1 V4(1)=−h×V1(1)+(1+h)×V2
(1)−w2 V4(n)=−h×V1(n)+(1+h)×V2
(n)−w2 となる。
【0024】V1、V2、V3、V4の関数の例を上述
したがこの関数に限られるわけでなく、要は4つのトラ
ンジスタで得られている電流の分流比k1(j)、k2
(j)、k3(j)、k4(j)の関係が、j<η−w
1/(h×g)では、k3(j)<k1(j)<k2
(j)<k4(j)、j=η−w1/(h×g)では、
k3(j)=k1(j)>k2(j)>k4(j)、η
−w1/(h×g)<j<ηでは、k3(j)<k1
(j)>k2(j)>k4(j)、j=ηでは、k3
(j)<k1(j)=k2(j)>k4(j)、η<j
<η+w2/(h×g)では、k3(j)<k1(j)
<k2(j)>k4(j)、j=η+w2/(h×g)
では、k3(j)<k1(j)<k2(j)=k4
(j)、j<η+w2/(h×g)では、k3(j)<
k1(j)<k2(j)<k4(j)、を満たすもので
あれば実質的に同様の動作が得られる。
【0025】パルス光を投光し受光部4で検出する入射
光が交流成分の場合は、図6に示すように分流器に光電
流と並列に直流バイアス電流源99を設けてもよい。こ
れにより、分流器の応答速度を向上させることができ
る。
【0026】受光部4、分流部12、分流制御部14等
を全て1つの基板上に集積することが容易であり、工業
的に有効な方法である。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
よれば、n(n>2)個の受光エレメント10(j)
{j=1〜n}を所定の方向に配列し、各受光エレメン
ト10(j)の各光電流I(j)を比率k1(j)とk
2(j)とk3(j)とk4(j)に4分割してI1
(j)、I2(j)、I3(j)及びI4(j)とし、
それぞれ第1、第2、第3、第4の光電流出力端に導
き、上記比率k1(j)とk2(j)とk3(j)とk
4(j)がk1(j)+k2(j)+k3(j)+k4
(j)=1でありかつk3(j)/k1(j)、k1
(j)/k2(j)並びにk2(j)/k4(j)がj
と共に減少し、k1(1)>k2(1)、k1(n)<
k2(n)であるので、受光面上の特定の位置の入射光
位置感度が光位置検出素子(PSD)に比べて高感度に
することができ、受光面上の任意の位置を高感度に設定
でき、高感度位置から所定の長さだけの光電流をとりだ
すことができ、また受光部、分流部、分流制御部の全て
をシリコン基板上に集積することが容易となるという効
果がある。
【0028】また請求項2の発明によれば、n(n>
2)個の受光エレメント10(j){j=1〜n}を所
定の方向に配列した受光部と、各受光エレメント10
(j)の各光電流I(j)を比率k1(j)とk2
(j)とk3(j)とk4(j)に4分割してI1
(j)、I2(j)、I3(j)及びI4(j)とする
j個の分流器を有する分流部と、上記I1(j)、I2
(j)、I3(j)及びI4(j)をそれぞれ集めた第
1、第2、第3、第4の光電流出力端と、分流率を設定
する設定部と、上記比率k1(j)とk2(j)とk3
(j)とk4(j)を設定する分流制御部とを備えてい
るので、請求項1の発明と同様に、受光面上の特定の位
置の入射光位置感度が光位置検出素子(PSD)に比べ
て高感度にすることができ、受光面上の任意の位置を高
感度に設定でき、高感度位置から所定の長さだけの光電
流をとりだすことができ、また受光部、分流部、分流制
御部の全てをシリコン基板上に集積することが容易とな
るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明における光電変換方法およびその装置
の一実施例を示す回路図である。
【図2】この発明における光電変換方法およびその装置
の受光部を構成する受光エレメントの配列を示す平面図
である。
【図3】図2における受光部の光位置検出感度を説明す
る特性図である。
【図4】図1および図2に示す受光部の受光面上の位置
と電圧との関係を示す特性図である。
【図5】この発明ならびに特願平4−154014号に
おける光電変換方法およびその装置の一実施例を示すブ
ロック図である。
【図6】図5における分流部と分流制御部をより具体的
に示す回路図である。
【図7】図5ならびに図6の受光部を構成する受光エレ
メントの配列を示す平面図である。
【図8】図5ならびに図6における受光部の光位置検出
感度を説明する特性図である。
【図9】光位置検出素子の動作原理を説明する断面図で
ある。
【図10】図9における光位置検出素子の特性を説明す
る特性図である。
【図11】位置検出用の光電スイッチの基本的な動作を
説明するために単線をもって画いた構成図である。
【図12】光電スイッチの被検出物体までの距離Xと受
光面上の輝点の位置との関係を示す特性図である。
【符号の説明】
4 受光部 10 受光エレメント 12 分流部 14 分流制御部 26 設定部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H03K 17/78 H03K 17/78 S

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 n(n>2)個の受光エレメント(j)
    {j=1〜n}を所定の方向に配列し、各受光エレメン
    ト(j)の各光電流I(j)を比率k1(j)とk2
    (j)とk3(j)とk4(j)に4分割してI1
    (j)、I2(j)、I3(j)及びI4(j)とし、
    それぞれ第1、第2、第3、第4の光電流出力端に導
    き、上記比率k1(j)とk2(j)とk3(j)とk
    4(j)がk1(j)+k2(j)+k3(j)+k4
    (j)=1でありかつk3(j)/k1(j)、k1
    (j)/k2(j)並びにk2(j)/k4(j)がj
    と共に減少し、k1(1)>k2(1)、k1(n)<
    k2(n)である光電変換方法。
  2. 【請求項2】 n(n>2)個の受光エレメント(j)
    {j=1〜n}を所定の方向に配列した受光部と、各受
    光エレメント(j)の各光電流I(j)を比率k1
    (j)とk2(j)とk3(j)とk4(j)に4分割
    してI1(j)、I2(j)、I3(j)及びI4
    (j)とするj個の分流器を有する分流部と、上記I1
    (j)、I2(j)、I3(j)及びI4(j)をそれ
    ぞれ集めた第1、第2、第3、第4の光電流出力端と、
    分流率を設定する設定部と、上記比率k1(j)とk2
    (j)とk3(j)とk4(j)を設定する分流制御部
    とを備え、上記比率k1(j)とk2(j)とk3
    (j)とk4(j)はk1(j)+k2(j)+k3
    (j)+k4(j)=1であり、かつk3(j)/k1
    (j)、k1(j)/k2(j)並びにk2(j)/k
    4(j)はjと共に減少し、k1(1)>k2(1)、
    k1(n)<k2(n)である光電変換装置。
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