JP2866816B2 - Lead frame - Google Patents

Lead frame

Info

Publication number
JP2866816B2
JP2866816B2 JP7692495A JP7692495A JP2866816B2 JP 2866816 B2 JP2866816 B2 JP 2866816B2 JP 7692495 A JP7692495 A JP 7692495A JP 7692495 A JP7692495 A JP 7692495A JP 2866816 B2 JP2866816 B2 JP 2866816B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
cutting
tie bar
lead frame
lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP7692495A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH08274236A (en
Inventor
慎二 高瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NITSUTETSU SEMIKONDAKUTAA KK
Original Assignee
NITSUTETSU SEMIKONDAKUTAA KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NITSUTETSU SEMIKONDAKUTAA KK filed Critical NITSUTETSU SEMIKONDAKUTAA KK
Priority to JP7692495A priority Critical patent/JP2866816B2/en
Publication of JPH08274236A publication Critical patent/JPH08274236A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2866816B2 publication Critical patent/JP2866816B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置、特に樹脂
封止型半導体装置の製造に用いて好適なリードフレーム
およびこれを用いた半導体装置の製造方法に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device, and more particularly to a lead frame suitable for manufacturing a resin-sealed semiconductor device and a method for manufacturing a semiconductor device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の半導体装置用リードフレームとこ
れを用いた樹脂封止型ICパッケージの製造方法を図9
〜図13を用いて説明する。まず、図9に示すように、
リードフレーム1上に半導体チップ2を搭載し、ボンデ
ィング等の処理を行なった後、半導体チップ2をエポキ
シ樹脂等の樹脂で封止する。なお、リードフレーム1に
はアウターリード4、4、…と直交する方向に延びるタ
イバー5が設けられており、樹脂封止を行なう際にはタ
イバー5によりアウターリード4と平行な方向の樹脂の
流れが堰き止められるようになっている。また、樹脂封
止部3の縁とタイバー5の間の隙間を樹脂ダム部6と称
する。
2. Description of the Related Art A conventional method for manufacturing a lead frame for a semiconductor device and a resin-sealed IC package using the same is shown in FIG.
This will be described with reference to FIG. First, as shown in FIG.
After mounting the semiconductor chip 2 on the lead frame 1 and performing processing such as bonding, the semiconductor chip 2 is sealed with a resin such as an epoxy resin. The lead frame 1 is provided with a tie bar 5 extending in a direction orthogonal to the outer leads 4, 4,..., And when the resin is sealed, the resin flows in a direction parallel to the outer lead 4 by the tie bar 5. Can be blocked. A gap between the edge of the resin sealing portion 3 and the tie bar 5 is referred to as a resin dam portion 6.

【0003】ついで、図10に示すように、金型等によ
りタイバー5および樹脂ダム部6の樹脂を切断する。ま
た、図11はタイバー5および樹脂ダム部6を拡大した
図であるが、樹脂ダム部6内のアウターリード4に沿っ
て樹脂の大きなバリ7が生じる。そこで、タイバー切断
工程後に残った樹脂バリ7に高圧水、またはガラス粉等
を混入した高圧水を吹き付けて樹脂バリ7を除去する。
Next, as shown in FIG. 10, the resin of the tie bar 5 and the resin dam portion 6 is cut by a mold or the like. FIG. 11 is an enlarged view of the tie bar 5 and the resin dam portion 6, but large burrs 7 of resin are formed along the outer leads 4 in the resin dam portion 6. Therefore, high-pressure water or high-pressure water mixed with glass powder or the like is sprayed on the resin burr 7 remaining after the tie bar cutting step, and the resin burr 7 is removed.

【0004】その後、リードフレーム1にメッキを施し
た後、図12に示すように、金型等を用いてアウターリ
ード4の切断、成形を行なう。ついで、リードフレーム
外枠8を切り離すと、図13に示すような樹脂封止型I
Cパッケージ9が完成する。
Then, after plating the lead frame 1, the outer leads 4 are cut and formed using a mold or the like as shown in FIG. Next, when the lead frame outer frame 8 is cut off, the resin-sealed mold I as shown in FIG.
The C package 9 is completed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
樹脂封止型ICパッケージ9の製造方法において、図1
0、図11に示すタイバー5および樹脂ダム部6の切断
工程ではこれらタイバー5や樹脂ダム部6の樹脂を通
常、金型等の切刃で切断しているが、樹脂中には樹脂の
粘性や熱膨張率等の調整用充填材としてシリカ(SiO
2 )が含まれているため、切刃の磨耗が激しく、切刃の
磨耗度のチェックや交換等のために多くの管理コストを
要していた。
However, in the method of manufacturing the resin-sealed IC package 9 described above, FIG.
In the cutting process of the tie bar 5 and the resin dam 6 shown in FIG. 11, the resin of the tie bar 5 and the resin dam 6 is usually cut by a cutting blade such as a mold. (SiO 2) as a filler for adjusting the thermal expansion coefficient, etc.
Since 2 ) was included, the cutting blades were severely worn, and many management costs were required for checking and replacing the degree of wear of the cutting blades.

【0006】また、上記方法にはタイバー切断工程後に
樹脂バリ除去工程を設けたが、これは以下の理由による
ものである。すなわち、もし仮に樹脂バリ7が残ったま
までアウターリード4の成形を行なうとすると、従来の
リードフレーム1がアウターリード4上のタイバー5の
設けられた位置より樹脂封止部3寄りの位置でアウター
リード4が折り曲げられる(図11に破線Aで示す)設
計となっているため、アウターリード4とともに樹脂バ
リ7も折り曲げられる状態となる。そして、このときに
樹脂バリ7がリードフレーム1から剥がれ落ち、アウタ
ーリード4等に付着することにより実装不良が発生して
しまう。したがって、製造過程には樹脂バリ除去工程が
必須となるが、高圧水等を用いたこの工程があるばかり
に上記タイバー切断工程と同様、管理コストが高騰す
る、製造プロセスが複雑化する等の問題が生じていた。
In the above method, a resin burr removing step is provided after the tie bar cutting step, for the following reason. That is, if molding of the outer lead 4 is performed while the resin burr 7 remains, the conventional lead frame 1 moves the outer lead 4 at a position closer to the resin sealing portion 3 than the position where the tie bar 5 is provided on the outer lead 4. Since the lead 4 is designed to be bent (indicated by a broken line A in FIG. 11), the resin burr 7 is also bent together with the outer lead 4. Then, at this time, the resin burr 7 peels off from the lead frame 1 and adheres to the outer lead 4 or the like, so that a mounting failure occurs. Therefore, a resin burr removal step is essential in the manufacturing process. However, just as with the step using high-pressure water, similar to the above-described tie-bar cutting step, the management cost increases, and the manufacturing process becomes complicated. Had occurred.

【0007】本発明は、上記の課題を解決するためにな
されたものであって、樹脂封止型半導体装置の製造工程
において管理コストの低減、プロセスの簡略化を図るこ
とができるリードフレームおよびこれを用いた半導体装
置の製造方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and a lead frame capable of reducing the management cost and simplifying the process in the process of manufacturing a resin-encapsulated semiconductor device. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a semiconductor device using a semiconductor device.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項1に記載のリードフレームは、複数本のア
ウターリードと、これらアウターリードと直交する方向
に延びてアウターリードを連結するとともに搭載した半
導体チップの樹脂封止を行なう際の樹脂の流れ止めに用
いられるタイバーが設けられたリードフレームにおい
て、前記アウターリードを横断するタイバーの各アウタ
ーリード間の横断部分に、少なくともその一部が切断さ
れた一対の切断面に挟まれた切断部が設けられ、この切
断部が、樹脂封止部側の幅がアウターリード先端側の幅
に比べて広い平面形状とされたことを特徴とするもので
ある。
According to a first aspect of the present invention , there is provided a lead frame for connecting a plurality of outer leads and extending in a direction orthogonal to the outer leads. In a lead frame provided with a tie bar used for preventing resin from flowing when performing resin sealing of a semiconductor chip mounted thereon, at least a part of a cross section between each outer lead of the tie bar crossing the outer lead is provided. There the cutting unit is provided that is sandwiched between a pair of cut surfaces obtained by cutting, the cut
The width of the cut portion is the width of the outer lead tip side
It is characterized in that it has a wider planar shape than that of .

【0009】[0009]

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【0012】[0012]

【作用】請求項1に記載のリードフレームにおいては、
タイバーが、複数本のアウターリードと完全に一体のも
のではなく、各アウターリード間の横断部分に少なくと
もその一部が切断された一対の切断面に挟まれた切断
部、すなわち一部でのみアウターリードと繋がった切断
部を有する構成となっている。そこで、従来の半導体装
置製造方法におけるタイバー切断工程に相当する工程と
して、切断部をアウターリード間から突き落として除去
する工程を設ければよいことになり、従来のように金型
等の切刃を使用する必要がなくなる。さらに、切断部を
除去する際に切断部に付着した樹脂バリも同時に除去さ
れる。また、切断部の幅が樹脂封止部側で広く、アウタ
ーリード先端側で狭くなっているため、切断部において
タイバーがアウターリード側と一部でしか繋がっていな
くても樹脂封止時の樹脂の圧力により切断部がアウター
リード先端側に押されて移動することがなく、タイバー
が樹脂の流れ止めとして機能しなくなることがない。
In the lead frame according to the first aspect,
The tie bar is not completely integral with the plurality of outer leads, but is a cut portion sandwiched between a pair of cut surfaces at least partially cut at a crossing portion between the outer leads, that is, the outer portion only at a part. It has a configuration having a cutting portion connected to the lead. Therefore, as a step corresponding to the tie bar cutting step in the conventional method of manufacturing a semiconductor device, a step of removing the cut portion by pushing it down from between the outer leads may be provided. There is no need to use it. Further, when removing the cut portion, resin burrs attached to the cut portion are also removed at the same time. In addition, the width of the cut part is wide on the resin sealing part side,
ー Because it is narrow at the lead tip side,
The tie bar is only partially connected to the outer lead side
Even if the cutting part is outer due to the pressure of the resin at the time of resin sealing
The tie bar does not move by being pushed by the lead tip side.
Does not function as a resin flow stopper.

【0013】また、タイバーの位置が樹脂封止部の縁か
らアウターリードの成形時に折り曲げられる箇所までの
範囲内に収められた構成とした場合、樹脂封止部からタ
イバーまでの寸法(樹脂ダム部の寸法)が従来のリード
フレームに比べて小さくなる。そこで、この部分に生じ
る樹脂バリの量自体が従来に比べて少なくなり、また、
切断部を除去した後に樹脂バリが残ったとしても次工程
のアウターリードの折り曲げと同時に樹脂バリが折り曲
げられることがない。
When the position of the tie bar is set within the range from the edge of the resin sealing portion to the portion bent at the time of forming the outer lead, the dimension from the resin sealing portion to the tie bar (resin dam portion) Is smaller than that of a conventional lead frame. Therefore, the amount of resin burr generated in this portion itself is smaller than before, and
Even if resin burrs remain after the cut portion is removed, the resin burrs are not bent at the same time as the outer lead is bent in the next step.

【0014】[0014]

【0015】また、本発明のリードフレームを用いた半
導体装置の製造方法においては、第1の工程において半
導体チップの搭載、ボンディング等の処理、半導体チッ
プの樹脂封止を行ない、第2の工程においてリードフレ
ームのメッキを行なった後、第3の工程においてはタイ
バーを金型等の切刃で切断することなく、切断部を突き
落とすことで各アウターリードが分離され、その後、各
アウターリードの切断、成形を行なうことにより半導体
装置が完成する。
In a method of manufacturing a semiconductor device using a lead frame according to the present invention , a semiconductor chip is mounted and bonded in a first step, and a semiconductor chip is sealed with a resin. After plating the lead frame, in the third step, each outer lead is separated by pushing down the cut portion without cutting the tie bar with a cutting blade such as a mold, and thereafter, cutting each outer lead, The semiconductor device is completed by molding.

【0016】[0016]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図1〜図8を参照
して説明する。図1は本実施例のリードフレーム11を
示す図であって、このリードフレーム11はCuやFe
Ni等を材料とした樹脂封止型半導体装置用のリードフ
レームである。そして、図中符号12はリードフレーム
外枠、13は吊りリード、14はチップ搭載部、15は
インナーリード、16はアウターリード、17はタイバ
ー、19は切断部である。また、図2はタイバー17部
分の拡大図、図3(a)、(b)はリードフレーム11
の製造過程を示す図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is a view showing a lead frame 11 of the present embodiment.
This is a lead frame for a resin-sealed semiconductor device made of Ni or the like. In the drawing, reference numeral 12 denotes a lead frame outer frame, 13 denotes a suspension lead, 14 denotes a chip mounting portion, 15 denotes an inner lead, 16 denotes an outer lead, 17 denotes a tie bar, and 19 denotes a cutting portion. FIG. 2 is an enlarged view of a tie bar 17 portion, and FIGS.
It is a figure showing the manufacturing process of.

【0017】リードフレーム11は、一つのリードフレ
ーム外枠12内に同一のパターンが繰り返し形成される
ことにより複数個の半導体装置を連続的に搭載可能なよ
うに形成されているが、図1はその一つのパターンのみ
を示すものである。
The lead frame 11 is formed so that a plurality of semiconductor devices can be continuously mounted by repeatedly forming the same pattern in one lead frame outer frame 12, but FIG. Only one of the patterns is shown.

【0018】図1に示すように、半導体チップを固着す
るためのチップ搭載部14とリードフレーム外枠12が
吊りリード13により接続されている。また、半導体チ
ップとワイヤボンディング等の手段により電気的接続を
行なうための複数のインナーリード15、15、…(こ
の場合、片側5本ずつ)がチップ搭載部14の周囲に形
成されている。そして、半導体装置完成時には樹脂中に
埋め込まれるインナーリード15は樹脂封止部18から
外側に向けて延び、アウターリード16となってリード
フレーム外枠12に接続されている。
As shown in FIG. 1, a chip mounting portion 14 for fixing a semiconductor chip and a lead frame outer frame 12 are connected by suspension leads 13. Further, a plurality of inner leads 15, 15,... (In this case, five on each side) for electrically connecting to the semiconductor chip by means such as wire bonding are formed around the chip mounting portion 14. When the semiconductor device is completed, the inner lead 15 embedded in the resin extends outward from the resin sealing portion 18, and is connected to the lead frame outer frame 12 as an outer lead 16.

【0019】アウターリード16の樹脂封止部18近傍
には、アウターリード16と直交する方向に延び各アウ
ターリード16を連結するタイバー17が形成されてい
る。タイバー17は、搭載した半導体チップの樹脂封止
を行なう際に樹脂の流れ止めの役目を果たすものであ
る。また、図2に示すように、タイバー17は、アウタ
ーリード16上の樹脂封止部18の縁から一定寸法以上
(寸法の一例として例えば0.03mm以上)離れ、か
つ、アウターリード16成形時に折り曲げられる箇所
(図2中に破線Bで示す)よりも樹脂封止部18寄りの
範囲内に形成されている。
A tie bar 17 extending in a direction perpendicular to the outer leads 16 and connecting the outer leads 16 is formed near the resin sealing portion 18 of the outer leads 16. The tie bar 17 serves to prevent the resin from flowing when the mounted semiconductor chip is sealed with resin. Further, as shown in FIG. 2, the tie bar 17 is separated from the edge of the resin sealing portion 18 on the outer lead 16 by a certain size or more (for example, 0.03 mm or more as an example of a size), and is bent when the outer lead 16 is formed. It is formed in a range closer to the resin sealing portion 18 than a location (indicated by a broken line B in FIG. 2).

【0020】そして、タイバー17は、各アウターリー
ド16間の部分にその一部が切断された一対の切断面3
3、33に挟まれた切断部19が圧入された構成となっ
ている。すなわち、本実施例では切断部19はそれ以外
の部分と完全に切断されているのではなく、後述するよ
うにアウターリード16側と板厚方向の一部で繋がって
おり、また、切断片の平面形状は、図2に示すように、
その幅が樹脂封止部18側で広くアウターリード16先
端側で狭い逆テーパ状となっている。
The tie bar 17 has a pair of cut surfaces 3 partially cut at the portions between the outer leads 16.
The cutting portion 19 sandwiched between 3, 33 is press-fitted. That is, in the present embodiment, the cutting portion 19 is not completely cut with the other portions, but is connected to the outer lead 16 side in a part of the plate thickness direction as described later. The planar shape is as shown in FIG.
Its width is widened on the resin sealing portion 18 side and narrow on the distal end side of the outer lead 16 in a reverse tapered shape.

【0021】ここで、上記構成のリードフレーム11の
製造過程のうち、特に切断部19を形成する手順につい
て図3(a)、(b)を用いて以下、説明する。図3
(a)は、リードフレーム製造過程で使用する切断成形
金型においてタイバー切断時の金型の下死点の状態を示
す図である。
Here, in the manufacturing process of the lead frame 11 having the above-mentioned structure, a procedure for forming the cut portion 19 will be described below with reference to FIGS. 3 (a) and 3 (b). FIG.
(A) is a figure which shows the state of the bottom dead center of a metal mold | die at the time of tie-bar cutting in the cutting | molding shaping | molding die used in a lead frame manufacturing process.

【0022】図3(a)に示すように、下型受け20と
上型切刃21およびストリッパー22によりタイバー1
7を保持した状態で金型が下降すると、それに伴なって
下型切刃23がタイバー17に食い込み、下型切刃23
と上型切刃21とによりタイバー17が切断される。た
だし、この際、切断部19がタイバー17から完全に切
り離されないようにタイバー17の板厚の1/3〜1/
2程度の範囲までにしか下型切刃23が食い込まないよ
うに切断成形金型を予めセットしておく。そして、金型
が上昇する際には、上型切刃21が切断部19を挟んで
上方に引き抜くことがないようにストリッパー22のス
プリング力で切断部19を下方に押し出すようになって
いる。
As shown in FIG. 3A, a tie bar 1 is formed by a lower mold receiver 20, an upper mold cutting blade 21 and a stripper 22.
When the mold is lowered with holding the lower die 7, the lower die cutting edge 23 bites into the tie bar 17 and the lower die cutting edge 23
The tie bar 17 is cut by the and the upper cutting edge 21. However, at this time, in order to prevent the cutting portion 19 from being completely separated from the tie bar 17, the thickness of the tie bar 17 is 1/3 to 1/3.
A cutting mold is set in advance so that the lower cutting edge 23 does not bite into only about two ranges. When the mold is lifted, the cutting portion 19 is pushed downward by the spring force of the stripper 22 so that the upper die cutting blade 21 does not pull upward with the cutting portion 19 interposed therebetween.

【0023】図3(b)は、同切断成形金型において切
断部圧入時の金型の下死点の状態を示す図である。上記
タイバー切断工程完了後、上型24と下型25でタイバ
ー17を上下から挟み込むように押圧すると切断部19
が圧入される。このような手順を経て本実施例のリード
フレーム11におけるタイバー17の切断部19の形成
が完了する。
FIG. 3 (b) is a view showing the state of the bottom dead center of the die when the cutting part is press-fitted in the die. After the tie bar cutting step is completed, when the tie bar 17 is pressed by the upper mold 24 and the lower mold 25 from above and below, the cutting portion 19 is formed.
Is press-fitted. Through such a procedure, the formation of the cut portion 19 of the tie bar 17 in the lead frame 11 of the present embodiment is completed.

【0024】以下、本実施例のリードフレーム11を用
いた半導体装置の製造方法について図4〜図8を用いて
説明する。図4は半導体装置の製造過程における樹脂封
止工程後の状態を示す図、図5はこの状態におけるタイ
バー部分の拡大図、図6は切断部除去時のタイバーと金
型を示す拡大図、図7は切断部除去およびアウターリー
ド成形工程後の状態を示す図、図8は半導体装置の完成
図である。
Hereinafter, a method of manufacturing a semiconductor device using the lead frame 11 of this embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is a view showing a state after a resin sealing step in a manufacturing process of the semiconductor device, FIG. 5 is an enlarged view of a tie bar portion in this state, and FIG. 6 is an enlarged view showing a tie bar and a mold when a cut portion is removed. FIG. 7 is a view showing a state after a cut portion removing step and an outer lead forming step, and FIG. 8 is a completed view of the semiconductor device.

【0025】まず、図4に示すように、リードフレーム
11上に半導体チップ26を搭載し、ワイヤボンディン
グ等の処理により半導体チップ26とインナーリード1
5の電気的接続を行なった後、半導体チップ26および
インナーリード15をエポキシ樹脂等の樹脂で封止する
(第1の工程)。なお、この状態では図5に示すよう
に、樹脂封止部18の縁とタイバー17間の寸法が極め
て小さく(この例では0.03mm)、樹脂封止部18
の縁とタイバー17間の樹脂ダム部27の面積が非常に
小さい状態となっている。
First, as shown in FIG. 4, the semiconductor chip 26 is mounted on the lead frame 11, and the semiconductor chip 26 and the inner leads 1 are processed by wire bonding or the like.
After the electrical connection of No. 5, the semiconductor chip 26 and the inner leads 15 are sealed with a resin such as an epoxy resin (first step). In this state, as shown in FIG. 5, the dimension between the edge of the resin sealing portion 18 and the tie bar 17 is extremely small (0.03 mm in this example).
The area of the resin dam portion 27 between the edge of the tie bar 17 and the tie bar 17 is very small.

【0026】その後、リードフレーム11における樹脂
封止部18以外の部分に錫等によりメッキを施す(第2
の工程)。ついで、切断成形金型のピン等を用いてタイ
バー17から切断部19を除去する。すなわち、図6に
示すように、下型28と上型29によりタイバー17を
保持し、突き落としピン30によって切断部19を下方
に突き落とす。なお、下型28および突き落としピン3
0の寸法は、タイバー17および切断部19との間で磨
耗が生じることのないように切断部19の幅に対してそ
れぞれクリアランスを設けてある。
Thereafter, portions of the lead frame 11 other than the resin sealing portion 18 are plated with tin or the like (second plating).
Process). Next, the cutting portion 19 is removed from the tie bar 17 using a pin of a cutting mold. That is, as shown in FIG. 6, the tie bar 17 is held by the lower mold 28 and the upper mold 29, and the cut portion 19 is pushed down by the push-down pin 30. The lower mold 28 and the push-down pin 3
The dimension 0 is provided with a clearance with respect to the width of the cut portion 19 so as not to cause wear between the tie bar 17 and the cut portion 19.

【0027】そして、この切断部19の除去と同時に、
図7に示すように、リードフレーム外枠12とアウター
リード16の接続部の切断、およびアウターリード16
の成形を行なう(第3の工程)。このリードフレーム外
枠12とアウターリード16の接続部切断後の段階では
半導体装置31は吊りリード13によってリードフレー
ム外枠12に保持されている。ついで、吊りリード13
を切断してリードフレーム外枠12を取り外すと、図8
に示す半導体装置31が完成する。
At the same time as the removal of the cut portion 19,
As shown in FIG. 7, the connection between the lead frame outer frame 12 and the outer lead 16 is cut off, and the outer lead 16 is cut.
(Third step). At the stage after the connection between the lead frame outer frame 12 and the outer lead 16 is cut, the semiconductor device 31 is held on the lead frame outer frame 12 by the suspension leads 13. Then, the suspension lead 13
When the lead frame outer frame 12 is removed by cutting the
Is completed.

【0028】本実施例のリードフレーム11は、従来の
リードフレームのようにタイバーがアウターリードと完
全に一体となったものではなく、各アウターリード16
間に切断部19が圧入された構造となっている。そこ
で、このリードフレーム11を用いた半導体装置の製造
方法においては、従来の製造方法におけるタイバー切断
工程に相当する工程として、樹脂封止後に切断部19を
アウターリード16間から突き落とし除去する工程を設
ければよいことになり、従来のように金型の切刃を使用
する必要がなくなる。また、本実施例の製造方法におけ
る切断部除去工程では、切断成形金型が下型28や突き
落としピン30の磨耗を発生させない構造となってい
る。したがって、従来の製造方法における問題点であっ
た金型の切刃の磨耗等に起因する管理コストの高騰を抑
えることができる。
The lead frame 11 of the present embodiment is different from the conventional lead frame in that the tie bars are not completely integrated with the outer leads.
The cutting portion 19 is press-fitted therebetween. Therefore, in the method of manufacturing the semiconductor device using the lead frame 11, a step of removing the cut portion 19 from between the outer leads 16 after resin sealing is provided as a step corresponding to the tie bar cutting step in the conventional manufacturing method. It is no longer necessary to use a cutting edge of a mold as in the related art. Further, in the cutting portion removing step in the manufacturing method of the present embodiment, the cutting mold has a structure in which the lower mold 28 and the push-down pin 30 do not wear. Therefore, it is possible to suppress an increase in management cost due to abrasion of the cutting edge of the mold, which is a problem in the conventional manufacturing method.

【0029】さらに、切断部19を突き落とす際には切
断部19に付着した樹脂バリも同時に除去されるため、
従来の製造方法で必要としていた高圧水による樹脂バリ
除去工程を削除することができ、樹脂バリ除去工程に起
因する管理コストの高騰も抑えることができる。そし
て、タイバー切断工程、樹脂バリ除去工程を削除できる
ことにより製造プロセスの簡略化を図ることができる。
Further, when the cutting portion 19 is pushed down, resin burrs attached to the cutting portion 19 are also removed at the same time.
The step of removing resin burrs by high-pressure water, which is required in the conventional manufacturing method, can be omitted, and a rise in management cost due to the step of removing resin burrs can be suppressed. In addition, since the tie bar cutting step and the resin burr removing step can be omitted, the manufacturing process can be simplified.

【0030】また、タイバー17が、アウターリード1
6成形時に折り曲げられる箇所よりも樹脂封止部18寄
りに形成されていることにより、樹脂封止部18からタ
イバー17までの寸法(樹脂ダム部27の寸法)が従来
のリードフレームに比べて小さくなっている。そこで、
この部分に生じる樹脂バリの量自体が従来に比べて少な
くなり、かつ、切断部除去後に小さな樹脂バリが残った
ところで次工程のアウターリード16の成形時にアウタ
ーリード16とともに樹脂バリが折り曲げられることが
ない。したがって、樹脂バリがリードフレーム11から
剥がれ落ちることがなく、これにより発生する実装不良
を確実に防止することができる。
The tie bar 17 is connected to the outer lead 1.
(6) Since it is formed closer to the resin sealing portion 18 than to be bent at the time of molding, the dimension from the resin sealing portion 18 to the tie bar 17 (the size of the resin dam portion 27) is smaller than that of a conventional lead frame. Has become. Therefore,
When the amount of resin burrs generated in this portion becomes smaller than before and small resin burrs remain after the cut portion is removed, the resin burrs may be bent together with the outer leads 16 at the time of forming the outer leads 16 in the next step. Absent. Therefore, the resin burrs do not peel off from the lead frame 11, and the mounting failure caused by this can be reliably prevented.

【0031】また、切断部19の形成においては、切断
部19をリードフレーム11から完全に切り離すのでは
なく板厚方向の一部に切り込みを入れるのみであり、部
分的にでアウターリード16側と繋がっているため、切
断部19がアウターリード16間に確実に保持されると
ともに、リードフレーム製造時にも切り込みを入れるの
みで切断部19が形成でき、金型等による切断部19の
圧入も容易となる。したがって、リードフレームの製造
工程をそれ程複雑化することなく、本実施例のリードフ
レーム11の構成を実現することができる。
In the formation of the cut portion 19, the cut portion 19 is not completely cut off from the lead frame 11, but is only cut into a part in the plate thickness direction. Because of the connection, the cutting portion 19 is securely held between the outer leads 16, and the cutting portion 19 can be formed only by making a cut at the time of manufacturing the lead frame, so that the press-fitting of the cutting portion 19 by a mold or the like is easy. Become. Therefore, the configuration of the lead frame 11 of this embodiment can be realized without complicating the manufacturing process of the lead frame so much.

【0032】さらに、切断部19の平面形状については
その幅が樹脂封止部18側で広く、アウターリード16
先端側で狭い逆テーパ状となっているため、タイバー1
7が切断部19でアウターリード16側と板厚方向の一
部でしか繋がっていなくても樹脂封止時の樹脂の圧力に
より切断部19がアウターリード16先端側に押されて
移動することがなく、従来のリードフレームと同様、樹
脂の流れ止めとしての機能を確実に果たすことができ
る。
Further, as for the planar shape of the cut portion 19, the width thereof is wide on the resin sealing portion 18 side and the outer lead 16
Tie bar 1
Even if 7 is connected to the outer lead 16 side only in a part of the thickness direction in the cutting portion 19, the cutting portion 19 may be pushed to the outer lead 16 tip side and moved by the pressure of the resin at the time of resin sealing. In addition, as in the case of the conventional lead frame, the function of preventing the resin from flowing can be reliably achieved.

【0033】すなわち、本実施例のリードフレーム11
を用いた半導体装置の製造方法によれば、半導体チップ
26の搭載、ボンディング等の処理、半導体チップ26
の樹脂封止を行ない、リードフレーム11のメッキを行
なった後、タイバー17を金型等の切刃で切断すること
なく、切断部19を突き落とすことで各アウターリード
16が分離され、その後、各アウターリード16の切
断、成形を行なうことにより実装不良のない半導体装置
31が完成する。したがって、切刃によるタイバー切断
工程および高圧水による樹脂バリ除去工程の削除によっ
て製造プロセスの簡略化が図れ、かつ納期の短縮を図る
ことができる。
That is, the lead frame 11 of the present embodiment
According to the method of manufacturing a semiconductor device using the semiconductor chip 26, processing such as mounting and bonding of the semiconductor chip 26,
After the resin sealing is performed and the lead frame 11 is plated, the outer leads 16 are separated by pushing down the cut portions 19 without cutting the tie bars 17 with a cutting blade such as a mold. By cutting and molding the outer leads 16, a semiconductor device 31 having no mounting failure is completed. Accordingly, the elimination of the tie bar cutting step using the cutting blade and the resin burr removing step using high-pressure water can simplify the manufacturing process and shorten the delivery time.

【0034】なお、本実施例においては、切断部19
を、その板厚方向の一部に切り込みを入れ残りの一部で
アウターリード16側と繋がった構成のものとしたが、
切断部の構成としてはこれに限るものではなく、例えば
平面的にアウターリード先端側から一部切り込みを入れ
樹脂封止部側で繋がった構成としたり、もしくはアウタ
ーリード側と一旦完全に切り離して切断片とした後にそ
の切断片を再度元の位置に圧入する等の構成としてもよ
い。そして、切断部を挟む一対の切断面の少なくとも一
部が切断されることにより切断部が後の切断部除去工程
で容易に突き落とすことができ、かつ、樹脂の流れ止め
としての機能を果たし得るものであれば、切断部の具体
的な形状はどのようであってもよい。
In this embodiment, the cutting section 19
Has a configuration in which a cut is made in a part of the plate thickness direction and the remaining part is connected to the outer lead 16 side.
The configuration of the cutting portion is not limited to this. For example, a configuration may be adopted in which a cut is made partially from the front end side of the outer lead and connected to the resin sealing portion side, or once cut off completely from the outer lead side. After the pieces are cut, the cut pieces may be press-fitted to the original position again. Then, by cutting at least a part of a pair of cut surfaces sandwiching the cut portion, the cut portion can be easily pushed down in a later cut portion removing step, and can function as a resin stop. Then, the specific shape of the cutting portion may be any.

【0035】また、本実施例では図1に示した構成のリ
ードフレーム11について説明したが、インナーリー
ド、アウターリードの数や配置等については図1以外の
種々のタイプのものについて本発明を適用し得ることは
勿論である。また、リードフレーム材料や樹脂材料につ
いても種々のものを使用することができる。そして、半
導体製造プロセスの各工程、例えばリードフレームへの
半導体チップの搭載工程、ボンディング工程、メッキ工
程、樹脂封止工程等の具体的な方法については周知の方
法を適宜用いてよい。
In this embodiment, the lead frame 11 having the structure shown in FIG. 1 has been described. However, the present invention is applied to various types other than those shown in FIG. Of course you can. Various materials can be used for the lead frame material and the resin material. Well-known methods may be appropriately used for each step of the semiconductor manufacturing process, for example, a mounting step of a semiconductor chip on a lead frame, a bonding step, a plating step, a resin sealing step, and the like.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、請求項1
に記載のリードフレームは、タイバーが各アウターリー
ド間に少なくともその一部が切断された一対の切断面に
挟まれた切断部を有する構成となっている。そこで、従
来の製造方法におけるタイバー切断工程に相当する工程
として切断部をアウターリード間から突き落とし除去す
る工程を設ければよいことになり、従来のように金型等
の切刃を使用する必要がなくなる。したがって、従来の
製造方法における問題点であった金型の切刃の磨耗等に
起因する管理コストの高騰を抑えることができる。さら
に、切断部を突き落とす際に切断部に付着した樹脂バリ
も除去されるため、従来の製造方法における高圧水によ
る樹脂バリ除去工程を削除することができ、樹脂バリ除
去工程に起因する管理コストの高騰も抑えることができ
るのと同時に、半導体装置製造工程の簡略化を図ること
ができる。また、切断部の幅が樹脂封止部側で広く、ア
ウターリード先端側で狭くなっているため、タイバーが
切断部でアウターリード側と一部でしか繋がっていなく
ても樹脂封止時の樹脂の圧力により切断部がアウターリ
ード先端側に押されて移動することがなく、従来のリー
ドフレームと同様、樹脂の流れ止めとしての機能を確実
に果たすことができる。
As described in detail above, claim 1 is as follows.
Has a configuration in which a tie bar has a cut portion sandwiched between a pair of cut surfaces at least partially cut between each outer lead. Therefore, it is sufficient to provide a process of removing and cutting the cut portion from between the outer leads as a process corresponding to the tie bar cutting process in the conventional manufacturing method, and it is necessary to use a cutting blade such as a mold as in the conventional case. Disappears. Therefore, it is possible to suppress an increase in management cost due to abrasion of the cutting edge of the mold, which is a problem in the conventional manufacturing method. Furthermore, since the resin burrs attached to the cut portion are also removed when the cut portion is pushed down, the resin burr removal step using high-pressure water in the conventional manufacturing method can be eliminated, and the management cost due to the resin burr removal step can be reduced. At the same time as the rise can be suppressed, the manufacturing process of the semiconductor device can be simplified. In addition, the width of the cut section is wide on the resin sealing
Because the tie bar is narrower at the tip of the outer lead,
Only partially connected to the outer lead side at the cutting section
Even when the resin is sealed, the cut part is
Without being pushed to the tip of the
As with the frame, the function as a resin stop is ensured.
Can be fulfilled.

【0037】また、タイバーの位置が樹脂封止部の縁か
らアウターリードの成形時に折り曲げられる箇所までの
範囲内に収められた構成とした場合、樹脂バリの量自体
が従来に比べて少なくなり、かつ、樹脂バリが残ったと
ころで次工程のアウターリードの成形時にアウターリー
ドとともに樹脂バリが折り曲げられることがない。した
がって、樹脂バリがリードフレームから剥がれ落ちるこ
とがなく、これにより発生する実装不良を確実に防止す
ることができる。
Further , when the position of the tie bar is set within the range from the edge of the resin sealing portion to the portion where the outer lead is bent at the time of forming the outer lead, the amount of resin burr itself becomes smaller than in the conventional case . Further, when the resin burrs remain, the resin burrs are not bent together with the outer leads at the time of forming the outer leads in the next step. Therefore, the resin burrs do not peel off from the lead frame, and the mounting failure caused by this can be reliably prevented.

【0038】[0038]

【0039】また、本発明のリードフレームを用いた半
導体装置の製造方法においては、第1の工程において半
導体チップの搭載、ボンディング等の処理、半導体チッ
プの樹脂封止を行ない、第2の工程においてリードフレ
ームのメッキを行なった後、第3の工程においてはタイ
バーを金型等の切刃で切断することなく、切断部を突き
落すことで各アウターリードが切り離され、その後、外
枠からの各アウターリードの切断、成形を行なうことに
より実装不良のない半導体装置が完成する。したがっ
て、切刃によるタイバー切断工程および高圧水による樹
脂バリ除去工程の削除によって製造プロセスの簡略化が
図れ、かつ納期の短縮を図ることができる。
In the method of manufacturing a semiconductor device using a lead frame according to the present invention, processing such as mounting and bonding of a semiconductor chip and resin sealing of the semiconductor chip are performed in a first step. After plating the lead frame, in the third step, each outer lead is cut off by cutting down the cut portion without cutting the tie bar with a cutting blade such as a mold. By cutting and molding the outer leads, a semiconductor device free from defective mounting is completed. Accordingly, the elimination of the tie bar cutting step using the cutting blade and the resin burr removing step using high-pressure water can simplify the manufacturing process and shorten the delivery time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例であるリードフレームを示す
斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a lead frame according to an embodiment of the present invention.

【図2】同、リードフレームのタイバー部分を拡大視し
た平面図である。
FIG. 2 is an enlarged plan view of a tie bar portion of the lead frame.

【図3】同、リードフレームの製造過程における(a)
タイバー部切断時の側断面図、(b)切断部圧入時の側
断面図である。
FIG. 3 (a) in the same lead frame manufacturing process.
It is a sectional side view at the time of cutting a tie bar part, and (b) a sectional side view at the time of press-fitting of a cutting part.

【図4】同、リードフレームを用いた半導体装置の製造
方法における樹脂封止工程後の状態を示す斜視図であ
る。
FIG. 4 is a perspective view showing a state after a resin sealing step in the method of manufacturing a semiconductor device using a lead frame.

【図5】同、樹脂封止工程後のタイバー部分を拡大視し
た平面図である。
FIG. 5 is an enlarged plan view of a tie bar portion after a resin sealing step.

【図6】同、製造方法における切断部除去時の様子を示
す側断面図である。
FIG. 6 is a side sectional view showing a state when a cut portion is removed in the manufacturing method.

【図7】同、製造方法における切断部除去、およびアウ
ターリードの切断成形工程後の状態を示す斜視図であ
る。
FIG. 7 is a perspective view showing a state after a cut portion removal step and an outer lead cutting and forming step in the manufacturing method.

【図8】同、製造方法におけるリードフレーム外枠除去
工程後の状態を示す斜視図である。
FIG. 8 is a perspective view showing a state after a lead frame outer frame removing step in the manufacturing method.

【図9】従来の半導体装置の製造方法における樹脂封止
工程後の状態を示す斜視図である。
FIG. 9 is a perspective view showing a state after a resin sealing step in a conventional method for manufacturing a semiconductor device.

【図10】同、製造方法におけるタイバーおよび樹脂バ
リ切断工程後の状態を示す斜視図である。
FIG. 10 is a perspective view showing a state after a tie bar and a resin burr cutting step in the manufacturing method.

【図11】同、タイバーおよび樹脂バリ切断工程後のタ
イバー部分を拡大視した平面図である。
FIG. 11 is an enlarged plan view of a tie bar and a tie bar portion after a resin burr cutting step.

【図12】同、製造方法におけるアウターリードの切断
成形工程後の状態を示す斜視図である。
FIG. 12 is a perspective view showing a state after a cutting and forming step of an outer lead in the manufacturing method.

【図13】同、製造方法におけるリードフレーム外枠除
去工程後の状態を示す斜視図である。
FIG. 13 is a perspective view showing a state after a lead frame outer frame removing step in the manufacturing method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 リードフレーム 12 リードフレーム外枠 13 吊りリード 14 チップ搭載部 15 インナーリード 16 アウターリード 17 タイバー 18 樹脂封止部 19 切断部 26 半導体チップ 27 樹脂ダム部 31 半導体装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Lead frame 12 Lead frame outer frame 13 Suspension lead 14 Chip mounting part 15 Inner lead 16 Outer lead 17 Tie bar 18 Resin sealing part 19 Cutting part 26 Semiconductor chip 27 Resin dam part 31 Semiconductor device

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数本のアウターリードと、これらアウ
ターリードと直交する方向に延びてアウターリードを連
結するとともに搭載した半導体チップの樹脂封止を行な
う際の樹脂の流れ止めに用いられるタイバー、が設けら
れたリードフレームにおいて、 前記アウターリードを横断するタイバーの各アウターリ
ード間の横断部分に、少なくともその一部が切断された
一対の切断面に挟まれた切断部が設けられ、該切断部
が、樹脂封止部側の幅が前記アウターリード先端側の幅
に比べて広い平面形状とされたことを特徴とするリード
フレーム。
A plurality of outer leads and a tie bar which extends in a direction perpendicular to the outer leads, connects the outer leads, and is used to prevent resin from flowing when performing resin sealing of a mounted semiconductor chip. the lead frame provided, the the transverse portion between the outer leads of the tie bar across the outer lead, the cutting portion at least partially interposed between a pair of the cut surface which is cut is provided, the cutting portion
However, the width on the resin sealing portion side is the width on the tip side of the outer lead.
A lead frame characterized in that it has a wider planar shape than that of .
JP7692495A 1995-03-31 1995-03-31 Lead frame Expired - Fee Related JP2866816B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7692495A JP2866816B2 (en) 1995-03-31 1995-03-31 Lead frame

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7692495A JP2866816B2 (en) 1995-03-31 1995-03-31 Lead frame

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08274236A JPH08274236A (en) 1996-10-18
JP2866816B2 true JP2866816B2 (en) 1999-03-08

Family

ID=13619270

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7692495A Expired - Fee Related JP2866816B2 (en) 1995-03-31 1995-03-31 Lead frame

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2866816B2 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5620769B2 (en) * 2010-09-24 2014-11-05 新電元工業株式会社 Manufacturing method of resin-encapsulated semiconductor device and resin-encapsulated semiconductor device
JP5755186B2 (en) * 2012-06-25 2015-07-29 三菱電機株式会社 Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device
JP6738676B2 (en) * 2016-07-12 2020-08-12 株式会社三井ハイテック Lead frame

Also Published As

Publication number Publication date
JPH08274236A (en) 1996-10-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7183630B1 (en) Lead frame with plated end leads
CN105185752A (en) Semiconductor device and fabrication method thereof
US5708294A (en) Lead frame having oblique slits on a die pad
JP2866816B2 (en) Lead frame
US4592131A (en) Method for manufacturing resin-sealed semiconductor device
JPH0545063B2 (en)
JPH08318328A (en) Die for cutting lead
JPS58127356A (en) Resin sealing of semiconductor integrated circuit and lead frame used for the same
JP2851791B2 (en) Lead frame and method of manufacturing semiconductor device using the same
JPH10154784A (en) Manufacture of lead frame
JP3134614B2 (en) Lead frame manufacturing method
JP2934372B2 (en) Method for manufacturing surface mount type semiconductor device
JPH05144988A (en) Production of semiconductor device, semiconductor producing equipment and lead frame
JPH11317484A (en) Lead frame and packaging method using the same
JPS63308358A (en) Lead frame
JPH1154686A (en) Lead frame and semiconductor package using the same
JPS62198143A (en) Lead frame
JPH0493057A (en) Manufacture of electronic parts lead frame and electronic parts using the same
JPH0810207Y2 (en) Resin-sealed semiconductor device
JP3296339B2 (en) Lead frame and semiconductor device
JPH0766350A (en) Lead frame for semiconductor device
JPH01216563A (en) Manufacture of lead frame
JPH01133340A (en) Lead frame and manufacture thereof
JP2710515B2 (en) Lead frame for resin-sealed semiconductor device
JPH11340399A (en) Lead frame for semiconductor device and manufacture thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19981124

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees