JPH0493057A - Manufacture of electronic parts lead frame and electronic parts using the same - Google Patents

Manufacture of electronic parts lead frame and electronic parts using the same

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JPH0493057A
JPH0493057A JP21116690A JP21116690A JPH0493057A JP H0493057 A JPH0493057 A JP H0493057A JP 21116690 A JP21116690 A JP 21116690A JP 21116690 A JP21116690 A JP 21116690A JP H0493057 A JPH0493057 A JP H0493057A
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JP
Japan
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resin
leads
edge
connecting portion
lead frame
Prior art date
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Pending
Application number
JP21116690A
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Japanese (ja)
Inventor
Masanobu Nakayama
中山 正展
Takashi Uchida
喬 内田
Yukio Tamura
田村 幸男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Goto Seisakusho KK
Original Assignee
Goto Seisakusho KK
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Publication date
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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent burr of a resin sealing structure from being produced and prevent a blanking blade upon cutting away leads from being worn by extending one edge of a coupling part connecting and supporting a plurality of leads along a resin sealing boundary line, and providing in the coupling part a predetermined width etching groove extending an extension line of opposite edges of each lead and terminating in the coupling part. CONSTITUTION:Upon sealing a semiconductor chip and the like with resin by holding a lead frame between upper and lower surfaces 16, 17, the resin is first pressed into a space C. Thereupon, the resin is dammed by one edge 13a of a coupling part 13, and is prevented from flowing out between the leads 12, 12. For the coupling part 13, in a process where the leads 12 are cut away each other for a needed bending processing one edge D1 of a blanking blade D is disposed at a location spaced a predetermined distance from a resin sealing boundary line X, and opposite side edges D2, D3 are disposed so as to lower into an etching groove 13b, and further upon cutting down part of the etching groove 13b is torn out.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、IC,LSI、パワートランジスタ、小信号
トランジスタ、等の樹脂モールド封止型の半導体装置に
用られるリードフレーム、あるいは多数のリードを外部
に延出させて成る樹脂モールド封止型のコネクタに用ら
れるリードフレームに関し、特に樹脂モールディング時
に、樹脂がり一ト間を通って型の外に流れ出さないよう
に堰き止め、パリの発生を阻止することができるリード
フレームの改良に関するものである。
Detailed Description of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a lead frame or a large number of leads used in resin mold-sealed semiconductor devices such as ICs, LSIs, power transistors, and small signal transistors. Regarding lead frames used in resin mold-sealed connectors that extend outside, especially during resin molding, it is necessary to dam up the resin so that it does not flow out of the mold through the gaps, and prevent the occurrence of paris. The present invention relates to improvements in lead frames that can be prevented.

(従来の技術) 従来の半導体装置用のり−1くフレームの一例を第4図
に示す。このリードフレーム]Oは、半導体チップを取
付けるためのアイランド1と、ボンティングワイヤ接続
用の複数のり一部2と、リート2の延長途上においてこ
れら相互を連結するダムバー3と、リード2を支持する
枠部4とを備えている。リード2は、枠部4からアイラ
ンド]に向かって延出し、アイランド1に先端が近接し
ている。
(Prior Art) An example of a conventional glue frame for semiconductor devices is shown in FIG. This lead frame] O supports an island 1 for attaching a semiconductor chip, a plurality of glue parts 2 for connecting bonding wires, a dam bar 3 that interconnects these parts while the lead 2 is being extended, and the leads 2. It is provided with a frame part 4. The lead 2 extends from the frame 4 toward the island, and its tip is close to the island 1.

しかして、このリードフレーム10は、アイランド1上
に図示しない半導体チップを搭載してワイヤボンディン
グを行なった後、第4図に示す樹脂封止境界線X内を樹
脂モールディングにより封止する。この樹脂モールディ
ングは、例えば第5図に示すように、リ−1くフレーム
10を上下の型6.7間に挟んで、空間C内に樹脂を圧
入することにより行なわれる。この際、樹脂は、各リー
ド2.2間の隙間へ溢れ出てくるので、これをダムバー
3で止めるようになっている。ところが、ダムバー3は
、境界線Xから所定距離離れた位置に設けられている。
In this lead frame 10, a semiconductor chip (not shown) is mounted on the island 1 and wire bonded, and then the inside of the resin sealing boundary line X shown in FIG. 4 is sealed by resin molding. This resin molding is performed, for example, by sandwiching the frame 10 between the upper and lower molds 6 and 7 and press-fitting the resin into the space C, as shown in FIG. At this time, the resin overflows into the gap between each lead 2.2, so this is stopped by a dam bar 3. However, the dam bar 3 is provided at a position a predetermined distance away from the boundary line X.

何故ならば、このダムバー3は、各リード2を切り離す
ために後に切除されるが、この切除工程において、切断
歯が樹脂封止体5に接触して損傷を与えることがないよ
うに十分な間隔を置く必要があるためである。従って、
各り−ド2のダムバー3より先端側の相互間には、隙間
Sが形成され、この内部へのパリ5a(第5図)の形成
は避けられない。このパリ5aの一部は、後にダムバー
3と共に打ち抜き用の刃で切り落されるが、封止樹脂内
には高硬度の粒子が混入されることがあり、そのような
場合には打ち抜き用の刃の摩耗を助長する。
This is because, although this dam bar 3 will be cut out later to separate each lead 2, in this cutting process, sufficient spacing is required to prevent the cutting teeth from contacting and damaging the resin sealing body 5. This is because it is necessary to set the Therefore,
A gap S is formed between each of the boards 2 on the tip side of the dam bar 3, and formation of a gap 5a (FIG. 5) inside this gap is unavoidable. A part of this paris 5a is later cut off with a punching blade together with the dam bar 3, but high hardness particles may be mixed into the sealing resin, and in such a case, the punching blade is cut off. Promotes blade wear.

このパリ5aの発生を無くするために、第6図、第7図
に示すように、モールド金型7に隙間Sを埋めるための
コマ7aを植え込むことも行なわれている。しかし、こ
のような型は、高精度を要求されるので製造が容易でな
く、高価であるうえ、コマ7alJ′X摩耗しやすく、
長期の使用に耐えられない。また、コマ7aの周囲にで
きる隙間にどうしてもわずかなパリが形成されてしまう
。従って、何れにしても、後にショッ1〜ブラスト等に
よりパリを除去する工程が必要である。また、回路の集
積化に伴いリード2の数が多くなり、小型化すると、こ
れに応じてコマ7aを微細化することが不可能となる。
In order to eliminate the occurrence of this gap 5a, a piece 7a for filling the gap S is also implanted in the molding die 7, as shown in FIGS. 6 and 7. However, such molds are not easy to manufacture because they require high precision, are expensive, and are prone to wear.
Cannot withstand long-term use. Further, a slight gap inevitably forms in the gap around the frame 7a. Therefore, in any case, a step of removing paris by shot 1, blasting, etc. is required afterwards. Further, as the number of leads 2 increases and the size of the circuit becomes smaller as the circuit becomes more integrated, it becomes impossible to miniaturize the piece 7a accordingly.

多数のリードを樹脂封止体の外部へ延出させた樹脂モー
ルド型のコネクタ等においても事情は同様である。
The same situation applies to resin-molded connectors in which a large number of leads extend outside the resin-sealed body.

(発明が解決しようとする課題) 従って、本発明は、高価なモールド金型を用いることな
く、樹脂封止体のパリの発生を阻止し、これによってそ
の後のバリ除去工程を完全に省略し、また各リードを切
り離す際の打ち抜き用の刃の摩耗を抑制することができ
るリードフレーム及びこれを用いた半導体装置の製造方
法を提供することを課題としている。
(Problems to be Solved by the Invention) Therefore, the present invention prevents the occurrence of burr on a resin-sealed body without using an expensive mold, thereby completely omitting the subsequent burr removal step, Another object of the present invention is to provide a lead frame that can suppress wear of a punching blade when cutting out each lead, and a method of manufacturing a semiconductor device using the lead frame.

(課題を解決するための手段) 本発明においては、上記課題を解決するため、複数のり
一部12を連結して支持している連結部13の一方の縁
13aを樹脂封止体15の境界線Xの直近に至らしめ、
連結部13には各リード]2の両縁の延長線に沿って延
長し、連結部13内にて終結する所定幅のエツチング溝
1.3 bを設けた。そして、この連結部13は、樹脂
封止工程を経た後に、打ち抜き用の刃りにて切除するよ
うにした。その際、打ち抜き用の刃りの両側の縁D2゜
D3はエツチング溝内13b内に降りるように配置し、
他の一方の縁D1は、樹脂封止境界線Xから所定の微小
距離離れた位置に降りるように配置し、切除に当たって
は、エツチング溝13bの一部を引きちぎるようにした
(Means for Solving the Problems) In the present invention, in order to solve the above problems, one edge 13a of the connecting part 13 that connects and supports the plurality of glue parts 12 is connected to the boundary of the resin sealing body 15. Bring it to the nearest line X,
The connecting portion 13 is provided with an etching groove 1.3b of a predetermined width extending along the extension line of both edges of each lead 2 and terminating within the connecting portion 13. After the resin sealing process, the connecting portion 13 is cut out using a punching blade. At this time, the edges D2 and D3 on both sides of the punching blade are arranged so as to descend into the etching groove 13b,
The other edge D1 was disposed so as to fall at a predetermined minute distance from the resin sealing boundary line X, and at the time of cutting, a part of the etching groove 13b was torn off.

(作 用) 本発明のリードフレーム20は、これを上下の型1.6
.17の間に挟んで、半導体チップ等の樹脂封止を行な
うに際し、連結部13の一方のg13aが樹脂封止境界
線Xに沿っているので、これがり−1く12間への樹脂
の溢れ出しを阻止する。
(Function) The lead frame 20 of the present invention has upper and lower molds 1.6.
.. When sealing a semiconductor chip or the like with resin between 17 and 17, since one side g13a of connecting part 13 is along the resin sealing boundary line X, the resin overflows between -1 and 12. to prevent

わずかにエツチング溝13b内に樹脂が進入するが、極
めて小量である。何れにしても各り−1へ12間に、封
止用樹脂のパリが生しることはない。
A small amount of resin enters into the etching groove 13b, but the amount is extremely small. In any case, the sealing resin does not bulge between -1 and -12.

従って、その後のパリ取り工程は不要である。連結部1
3は、リード12の相互を切り離すために、刃りにて打
ち抜き切除される。このとき、わずかにエツチング溝1
3b内に進入した樹脂も掻き落される。打ち抜き用の刃
りは、樹脂封止体15の側面から離れた位置を通過する
。従って、エツチング溝13bの樹脂封止境界線X近く
の一部は弓きぢぎられることになるが、この部分は肉が
薄いので連結部13の切断に支障を来さない。また、連
結部13の切除工程において、打ち抜き用の刃りが樹脂
封止体15に接触して損傷を与えるおそれはないし、そ
れ自身が損傷を受けることもない。
Therefore, a subsequent deburring step is not necessary. Connecting part 1
3 is punched out using a blade to separate the leads 12 from each other. At this time, slightly etching groove 1
The resin that has entered into 3b is also scraped off. The punching blade passes through a position away from the side surface of the resin sealing body 15. Therefore, a portion of the etching groove 13b near the resin sealing boundary line X is bowed, but this portion is thin and does not interfere with the cutting of the connecting portion 13. Further, in the cutting process of the connecting portion 13, there is no risk that the punching blade will come into contact with the resin sealing body 15 and cause damage, and the punching blade itself will not be damaged.

(実施例) 本発明の一実施例を第1図ないし第4図に示す。(Example) An embodiment of the present invention is shown in FIGS. 1 to 4.

第1図はリードフレームの一部の平面図、第2図はリー
ドフレームの一部の斜視図、第3図は封止樹脂のモール
ディンク工程における第1図ni −nt線に沿った断
面図、第4図(A)は樹脂封止後、連結部を切除する前
のリードフレームの一部の平面図、第4図(B)は連結
部を切除した後のり−トフレームの一部の平面図である
Fig. 1 is a plan view of a part of the lead frame, Fig. 2 is a perspective view of a part of the lead frame, and Fig. 3 is a sectional view taken along the ni-nt line in Fig. 1 during the molding process of the sealing resin. , Fig. 4(A) is a plan view of a part of the lead frame after resin sealing and before the connecting part is removed, and Fig. 4(B) is a plan view of a part of the lead frame after the connecting part is removed. FIG.

第1図ないし第4図において、リードフレーム20は、
図示しない半導体チップを取付けるためのアイランド1
1と、このアイランド11の周囲に設けられた複数のり
一部12と、これらリード12の相互間を連結する連結
部13とを有する。
In FIGS. 1 to 4, the lead frame 20 is
Island 1 for mounting a semiconductor chip (not shown)
1, a plurality of glue portions 12 provided around the island 11, and a connecting portion 13 that connects these leads 12 to each other.

リーl〜12は、枠部14からアイランド1に向かって
延出し、一端がアイランド1に近接している。
The reels l to 12 extend from the frame portion 14 toward the island 1, and one end is close to the island 1.

リード12の一端と半導体チップとの間には、後に図示
しないボンデインクワイヤが接続される。
A bonding wire (not shown) is later connected between one end of the lead 12 and the semiconductor chip.

リード12は、その延長途上において連結部13によっ
て相互に連結されている。連結部13の一方の縁13a
は、樹脂封止体15の境界線Xの直近に沿って延長して
いる。また、連結部13には、一方の縁13aからり一
部12の両縁の延長線に沿って進入し、連結部13内に
て終結する所定幅のエツチング溝13bが設けられてい
る。連結部J3の肉厚は、通常はぼ0.15mmで、エ
ツチング!A¥]−3b内においてほぼ0.075mm
である。また、エツチング溝13bの幅は、通常はぼ0
.05〜O,]mmである。
The leads 12 are interconnected by connecting portions 13 in the middle of their extension. One edge 13a of the connecting portion 13
extends along the immediate vicinity of the boundary line X of the resin sealing body 15. Further, the connecting portion 13 is provided with an etching groove 13b having a predetermined width that enters from one edge 13a along an extension line of both edges of the portion 12 and terminates within the connecting portion 13. The thickness of the connecting part J3 is usually about 0.15 mm, and it is etched! A\] - Approximately 0.075mm within 3b
It is. Further, the width of the etching groove 13b is usually about 0.
.. 05~O, ]mm.

しかして、このリードフレーム20は、アイランド11
上に図示しない半導体チップを搭載してワイヤボンディ
ングを行なった後、第1図に示す樹脂封止境界線X内に
樹脂をモールディングして封止される。この樹脂モール
ディングは、例えば第2図に示すように、リードフレー
ム20を上下の型16.17間に挟んで、空間C内に樹
脂を圧入することにより行なわれる。この際、樹脂は、
連結部13の一方の縁13aによって堰き止められ、リ
ード2,2間への流出を阻止される。
Therefore, this lead frame 20 has an island 11
After mounting a semiconductor chip (not shown) thereon and performing wire bonding, resin is molded within the resin sealing boundary line X shown in FIG. 1 to seal it. This resin molding is performed, for example, by sandwiching the lead frame 20 between upper and lower molds 16 and 17 and press-fitting the resin into the space C, as shown in FIG. At this time, the resin is
It is dammed by one edge 13a of the connecting portion 13, and is prevented from flowing out between the leads 2, 2.

連結部13は、リー1〜12相互を切り離して必要な曲
げ加工を行なう工程において、第3図(A、)に仮想線
で示す打ち抜き川の横断面矩形の刃りにて打ち抜き切除
される。打ち抜き用の刃りの一方の縁D1−は、樹脂封
止境界線Xから所定距離(例えば0.05mm−0,1
mm)離れた位置に降りるように、また両側の縁D2.
D3はエツチング溝13b内に降りるように夫々配置さ
れる。従って、打ち抜き工程において、エツチング溝1
3 b内における刃りの一方の縁D1から連結部13の
一方の縁13aまでの間には刃りがかからず、この部分
は弓きちぎられる形になる。しかし、この部分は、肉厚
が0.075mm程度であるから、打ち抜きに支障を来
すことはない。打ち抜き用の刃りの位置は、方の縁D1
が樹脂封止境界線Xの近傍に、両側縁D2.D3がエツ
チング溝13b内に夫々降りれはよいから、それほど高
精度に制御する必要がない。また、打ち抜き用の刃りは
、樹脂封止境界線Xから離れた位置に降りるから、連結
部13の切除工程において、樹脂封止体15を削って損
傷を与え、あるいはそれ自身が損傷を受けるおそれがな
い。
The connecting portion 13 is punched out using a cutting edge having a rectangular cross section as shown in phantom lines in FIG. One edge D1- of the punching blade is at a predetermined distance (for example, 0.05 mm-0.1
mm) so as to descend at a distance, and the edges D2 on both sides.
D3 are arranged so as to descend into the etching grooves 13b. Therefore, in the punching process, the etching groove 1
There is no blade between one edge D1 of the blade and one edge 13a of the connecting portion 13 in 3b, and this portion is torn off. However, since this portion has a wall thickness of approximately 0.075 mm, it does not interfere with punching. The position of the punching blade is on the edge D1
is near the resin sealing boundary line X, and both side edges D2. Since D3 can easily descend into the etching grooves 13b, it is not necessary to control with high precision. In addition, since the punching blade descends at a position away from the resin sealing boundary line X, there is a risk that the resin sealing body 15 may be scraped and damaged in the cutting process of the connecting portion 13, or the resin sealing body 15 may be damaged. There is no.

以上本発明を半導体装置用のリードフレームに適用する
場合について説明したが、本発明はこれに限定されるも
のではない。要するに、本発明は、多数のり−1−を樹
脂封止体の外側へ延出させた形式のコネクタ等の他のあ
らゆる電子部品用のリードフレームに適用することがで
きる。
Although the case where the present invention is applied to a lead frame for a semiconductor device has been described above, the present invention is not limited to this. In short, the present invention can be applied to lead frames for all other electronic components, such as connectors in which a large number of glues -1- extend outside the resin sealing body.

(発明の効果) 以上のように、本発明においては、複数のり一部12を
連結して支持している連結部13の一方の縁1.3 a
を樹脂封止体15の境界線Xの直近に至らしめ、連結部
13には各リード12の両縁の延長線に沿って延長し、
連結部13内にて終結する所定幅のエツチング溝13b
を設けた。そして、この連結部13は、樹脂封止工程を
経た後に、打ち抜き用の刃りにて切除するようにした。
(Effects of the Invention) As described above, in the present invention, one edge 1.3a of the connecting portion 13 that connects and supports the plurality of glue portions 12
is brought close to the boundary line X of the resin sealing body 15, and the connecting portion 13 is extended along the extension line of both edges of each lead 12.
Etching groove 13b with a predetermined width that terminates within the connecting portion 13
has been established. After the resin sealing process, the connecting portion 13 is cut out using a punching blade.

その際、打ち抜き用の刃りの両側の縁D2.D3はエツ
チング溝内13b内に降りるように配置し、他の一方の
縁D1は、樹脂封止境界線Xから所定の微小距離離れた
位置に降りるように配置し、切除に当たっては、エツチ
ング溝13bの一部を引きちぎるようにしたため、樹脂
封止工程において、連結部13の一方の縁13aによっ
てリード12の相互間への樹脂の流出を阻止し、樹脂封
止体]5のバリの発生を阻止することができる。従って
、精密で高価なモールド金型を使用する必要がなく、ま
たパリの除去工程を完全しこ省略することができる。各
リード12を切り離す際に用いられる打ち抜き用の刃り
は、樹脂封止体15に接触することがないから摩耗が少
なく長期の使用に耐えるものとなる。従って、半導体装
置のような電子部品の製造コストを大幅に引き下げるこ
とができる。
At that time, edges D2 on both sides of the punching blade. D3 is disposed so as to descend into the etching groove 13b, and the other edge D1 is disposed so as to descend at a predetermined minute distance from the resin sealing boundary line X. When cutting, the etching groove 13b is Since a portion is torn off, one edge 13a of the connecting portion 13 prevents the resin from flowing out between the leads 12 during the resin sealing process, thereby preventing the occurrence of burrs on the resin sealing body 5. be able to. Therefore, there is no need to use a precise and expensive mold, and the process of removing paris can be completely omitted. Since the punching blade used to cut off each lead 12 does not come into contact with the resin sealing body 15, it has little wear and can withstand long-term use. Therefore, the manufacturing cost of electronic components such as semiconductor devices can be significantly reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図ないし第4図は本発明の一実施例を示すもので、
第1図はリードフレームの一部の平面図、第2図はリー
ドフレームの一部の斜視図、第3図は封止樹脂のモール
ディング工程における第1図m−nr線に沿った断面図
、第4図(A)は樹脂封止後、連結部を切除する前のリ
ードフレームの一部の平面図、第4図(B)は連結部を
切除した後のリードフレームの一部の平面図であり、第
5図乃至第7図は従来例を示すもので、第5図は半導体
装置用のリードフレームの平面図、第6図は封止樹脂の
モールディング工程における第5図VI −i ■線に沿った断面図、第7図はモールディング金型の他
の例を示す断面図、第8図は第7図■−■断面図である
。 ]1・・・アイランド 12・・・リード 13・・・連結部 13a・・・縁 13b・・・エツチング溝 15・・・樹脂封止体 20・・・リードフレーム D・・・打ち抜き用刃 Dl・・・縁 D2・・・縁 D3・・・縁 X・・・樹脂封止境界線 第4図 (A) 第4図(B)
1 to 4 show an embodiment of the present invention,
FIG. 1 is a plan view of a portion of the lead frame, FIG. 2 is a perspective view of a portion of the lead frame, and FIG. 3 is a sectional view taken along the line m-nr in FIG. 1 during the molding process of the sealing resin. FIG. 4(A) is a plan view of a portion of the lead frame after resin sealing and before the connecting portion is removed, and FIG. 4(B) is a plan view of a portion of the lead frame after the connecting portion is removed. 5 to 7 show conventional examples, in which FIG. 5 is a plan view of a lead frame for a semiconductor device, and FIG. 6 is a diagram showing a process of molding a sealing resin. 7 is a sectional view showing another example of the molding die, and FIG. 8 is a sectional view taken along line 7--1. ] 1... Island 12... Lead 13... Connection portion 13a... Edge 13b... Etching groove 15... Resin sealing body 20... Lead frame D... Punching blade Dl ...Edge D2...Edge D3...Edge X...Resin sealing boundary line Figure 4 (A) Figure 4 (B)

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)一端側が樹脂封止される複数のリードと、樹脂封
止部の外側において、これらリードの相互間を連結する
連結部とを有するものにおいて、前記連結部の一方の縁
は樹脂封止境界線の直近に沿って延長し、かつ連結部に
は各リードの両縁の延長線に沿って延長し、連結部内に
て終結する所定幅のエッチング溝が設けられていること
を特徴とする電子部品用リードフレーム。
(1) In a device having a plurality of leads whose one ends are resin-sealed and a connecting portion connecting these leads to each other outside the resin-sealing portion, one edge of the connecting portion is connected to the resin-sealing boundary. An electronic device characterized in that the connecting portion is provided with an etching groove of a predetermined width that extends along the immediate vicinity of the boundary line and extends along the extension line of both edges of each lead and terminates within the connecting portion. Lead frame for parts.
(2)半導体チップを取付けるためのアイランドと、こ
のアイランドに一端が近接して設けられたボンディング
ワイヤ接続用の複数のリードと、これらリードの相互間
を連結する連結部とを有するものにおいて、前記連結部
の一方の縁は樹脂封止境界線の直近に沿って延長し、か
つ連結部には各リードの両縁の延長線に沿って延長し、
連結部内にて終結する所定幅のエッチング溝が設けられ
ていることを特徴とする電子部品用リードフレーム。
(2) The above-mentioned device having an island for mounting a semiconductor chip, a plurality of leads for connecting bonding wires whose ends are provided close to the island, and a connecting portion connecting these leads to each other. One edge of the connecting part extends along the immediate vicinity of the resin sealing boundary line, and the connecting part extends along the extension line of both edges of each lead,
A lead frame for electronic components, characterized in that an etched groove of a predetermined width is provided that terminates within a connecting portion.
(3)請求項(1)または(2)に記載の電子部品用リ
ードフレームを上下2つの型に挟んで樹脂封止体のモー
ルディングを行ない、その後横断面矩形の打ち抜き用の
刃によって、前記連結部を打ち抜き切除して前記リード
の相互を切り離す工程において、打ち抜き用の刃の両側
の縁を前記エッチング溝内に降りるように配置し、他の
一方の縁は、前記樹脂封止境界線から所定の微小距離離
れた位置に降りるように配置したことを特徴とする電子
部品の製造方法。
(3) The lead frame for electronic components according to claim (1) or (2) is sandwiched between two upper and lower molds to mold a resin sealing body, and then the connection is performed using a punching blade having a rectangular cross section. In the step of punching out and cutting off the leads to separate the leads from each other, both edges of the punching blade are placed so as to descend into the etching groove, and the other edge is placed at a predetermined distance from the resin sealing boundary line. A method of manufacturing electronic components, characterized in that the electronic components are arranged so as to descend at positions a minute distance apart.
JP21116690A 1990-08-09 1990-08-09 Manufacture of electronic parts lead frame and electronic parts using the same Pending JPH0493057A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08222679A (en) * 1995-02-13 1996-08-30 Rohm Co Ltd Read frame for semiconductor devices
US6541311B1 (en) 1998-04-06 2003-04-01 Infineon Technologies Ag Method of positioning a component mounted on a lead frame in a test socket

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