JP2864762B2 - 超音波探傷装置の探触子配置方法 - Google Patents

超音波探傷装置の探触子配置方法

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JP2864762B2
JP2864762B2 JP3018851A JP1885191A JP2864762B2 JP 2864762 B2 JP2864762 B2 JP 2864762B2 JP 3018851 A JP3018851 A JP 3018851A JP 1885191 A JP1885191 A JP 1885191A JP 2864762 B2 JP2864762 B2 JP 2864762B2
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probe
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ultrasonic beam
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flaw detector
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靖文 寺島
博 内藤
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、鋼管、丸棒などの丸状
試験体に存在する軸方向に伸びた欠陥を、斜角探傷法に
より超音波ビームを丸状試験体の円周方向に伝播させて
検出する超音波探傷装置の探触子配置方法に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】図4は従来の超音波探傷装置の探触子配
置を示す正面の断面図である。図において、1はV型ロ
ーラー、2aは丸状試験体、2bは丸状試験体2aより
も半径の小さい丸状試験体、3aは探触子、3bは下方
へ移動した探触子3a、4aは丸状試験体2aを検査す
る時の超音波ビーム、4bは丸状試験体2bを検査する
時の超音波ビーム、5aは丸状試験体2a上の超音波ビ
ーム4aの入射点、5bは丸状試験体2b上の超音波ビ
ーム4bの入射点、θは屈折角である。また、図5は従
来の超音波探傷装置の探触子配置を示す側面の断面図で
ある。図において、同一符号は同一または相当部分を示
す。
【0003】従来の超音波探傷装置の探触子配置は上記
のように構成されており、例えばV型ローラー1上を搬
送される丸状試験体2aに存在する欠陥を検査するため
には、探触子3aから超音波ビーム4aを丸状試験体2
aに対して垂直に発射し、丸状試験体2aの入射点5a
を通過させて所定の屈折角θで内部へ伝える。また、丸
状試験体2bに存在する欠陥を検査するためには、探触
子3aを探触子3bの位置へ垂直移動し、超音波ビーム
4bが丸状試験体2b上の入射点5bを通過するように
し、この場合でも上記と同一の屈折角θで内部へ伝え
る。なお、上記入射点5bは入射点5aを通る垂線上に
ある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の超音波探傷装置
の探触子配置方法では、上記のように丸状試験体2aの
半径の変化によって超音波ビーム4aの入射点5aの位
置が上下方向に移動するため、そのつど探触子の位置を
変えなければならないとういう問題点があった。
【0005】本発明は、かかる課題を解決するためにな
されたものであり、上記V型ローラー上の丸状試験体の
半径の変化に合わせて探触子の位置を変える必要がない
超音波探傷装置を得ることを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる超音波探
傷装置の探触子配置方法においては、上記丸状試験体の
半径が変化した場合でも、超音波ビームを、上記V型ロ
ーラーのV底径の仮想頂点を通過させるように探触子を
配置したものである。
【0007】
【作用】本発明においては、上記丸状試験体の半径が変
化した場合でも、超音波ビームを、上記V型ローラーの
V底径の仮想頂点を通過させるように探触子を配置する
ことにより、丸状試験体中の超音波ビームの屈折角を一
定に保つことができる。
【0008】
【実施例】実施例1.図1はこの発明の一実施例を示す
正面の断面図であり、1から4aとθは上記従来装置と
同一または相当部分を示す。図において、6はV型ロー
ラー1のV底径の仮想頂点、αは鉛直方向に対する超音
波ビーム4aの入射角、βは超音波ビーム4aの入射
角、γは入射角βの補角、δはV型ローラー1の試験体
と当接する側のV底径の角度、Rは丸状試験体2aの半
径である。また、図2はこの発明の一実施例を示す側面
の断面図である。
【0009】上記のように構成された超音波探傷装置の
探触子配置方法では、丸状試験体2aの長手方向に対し
て垂直に発射された超音波ビーム4aが、V型ローラー
1のV底径の仮想頂点6を通過するように探触子3aを
配置する。すると、超音波ビーム4aが丸状試験体2a
上の入射点5aに入射角βで入射し、屈折角θで内部へ
伝わっていく。
【0010】半径の異なる丸状試験体2bを検査する場
合も屈折角がθになるようにして検査しなければならな
いが、この発明による超音波探傷装置では、上記の条件
で探触子3aを配置するので、丸状試験体2aの半径R
が変化しても入射角βは変化しないので屈折角θも変化
しない。以下、入射角βが丸状試験体2aの半径Rに無
関係であることを証明する。
【0011】図3は図1におけるV型ローラー1のV底
径の仮想頂点6付近の拡大図である。図において、同一
符号は同一または相当部分を示す。Xは実線の三角形の
一辺を示している。一辺Xは図におけるXを含む直角三
角形において、
【0012】
【数1】
【0013】と表される。次に、実線の三角形に正弦定
理を適用すると、
【0014】
【数2】
【0015】が成立つ“数1”に“数2”を代入して、
【0016】
【数3】
【0017】
【数4】
【0018】
【数5】
【0019】よって入射角βは、
【0020】
【数6】
【0021】
【数7】
【0022】となり、“数7”において変数である入射
角α、補角γは丸状試験体2aの半径Rに無関係であ
り、かつ、一定であるので、超音波ビーム4aの入射角
βは半径Rに無関係であり、かつ、一定であることがわ
かる。
【0023】以上、超音波ビーム4aの入射角βが丸状
試験体2aの半径Rに無関係であり、かつ、一定である
ことが証明された。入射角βが一定であるということ
は、屈折角θも一定である。従って、半径の異なる丸状
試験体を検査する場合でも、超音波ビーム4aをV型ロ
ーラー1のV底径の仮想頂点6を通過させるように探触
子を配置することにより一定の屈折角θで丸状試験体2
aの中に超音波ビームを伝播させることができる。
【0024】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、上記
丸状試験体の半径が変化しても、超音波ビームを常にV
型ローラーのV底径の仮想頂点を通過させるように探触
子を配置することにより、超音波ビームが上記丸状試験
体へ入射した時の屈折角が等しくなるので、半径が変化
しても探触子の位置を変える必要がなくなり、検査時間
を節約できる効果がある。
【0025】
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の超音波探傷装置の探触子配置方法に
おけるV型ローラーと探触子の位置関係を示す正面の断
面図である。
【図2】この発明の超音波探傷装置の探触子配置方法に
おけるV型ローラーと探触子の位置関係を示す側面の断
面図である。
【図3】この発明において超音波ビームの入射角が不変
であることを証明するための断面図である。
【図4】従来の超音波探傷装置の探触子配置方法におけ
るV型ローラーと探触子に位置関係を示す正面の断面図
である。
【図5】従来の超音波探傷装置の探触子配置方法におけ
るV型ローラーと探触子の位置関係を示す側面の断面図
である。
【符号の説明】
1 V型ローラー 2a 半径の大きい丸状試験体 2b 半径の小さい丸状試験体 3a 丸状試験体2aを検査する探触子 3b 丸状試験体2bを検査する探触子 4a 丸状試験体2aを検査する超音波ビーム 4b 丸状試験体2bを検査する超音波ビーム 5a 丸状試験体2a上の超音波ビーム4aの入射点 5b 丸状試験体2bの超音波ビーム4bの入射点 6 V型ローラー1のV底径の仮想頂点 α 鉛直方向に対する超音波ビーム4aの入射角 β 超音波ビーム4aの入射角 γ 入射角βの補角 δ V型ローラー1の試験体と当接する側のV底径の角
度 θ 超音波ビーム4aと超音波ビーム4bの屈折角 R 丸状試験体2aの半径 X 図2における実線の三角形の一辺
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 29/00 - 29/28

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 搬送ライン上をV型ローラーにより搬送
    される鋼管、丸棒などの丸状試験体に存在する軸方向に
    伸びた欠陥を、斜角探傷法により超音波ビームを丸状試
    験体の円周方向に伝播させて検出する超音波探傷装置に
    おいて、試験体のV型ローラーに当接する側に配置さ
    れ、かつ、超音波ビームが上記V型ローラーの試験体に
    当接する側のV底径の仮想頂点を通過するように入射角
    を設定することを特徴とした超音波探傷装置の探触子配
    置方法。
JP3018851A 1991-02-12 1991-02-12 超音波探傷装置の探触子配置方法 Expired - Lifetime JP2864762B2 (ja)

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