JP2864752B2 - パターンのズレ検査装置 - Google Patents
パターンのズレ検査装置Info
- Publication number
- JP2864752B2 JP2864752B2 JP3007504A JP750491A JP2864752B2 JP 2864752 B2 JP2864752 B2 JP 2864752B2 JP 3007504 A JP3007504 A JP 3007504A JP 750491 A JP750491 A JP 750491A JP 2864752 B2 JP2864752 B2 JP 2864752B2
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- Japan
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- resistor
- inspection
- hole
- conductive portion
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- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、可変抵抗器やエンコー
ダに用いられる抵抗体及び、エンコーダ用接点基板等の
パターンのズレ検査装置に関するものである。
ダに用いられる抵抗体及び、エンコーダ用接点基板等の
パターンのズレ検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、音響・映像機器（カーステレオ，
ビデオ等）の小形化に伴い、それらに使用される可変抵
抗器や、接点式エンコーダなどの電子部品においても小
形化が急速に進んでいる。従って、これら電子部品に使
用される抵抗体やエンコーダ接点基板の印刷も精密さが
要求されるとともに検査装置についても精度が要求され
ている。
ビデオ等）の小形化に伴い、それらに使用される可変抵
抗器や、接点式エンコーダなどの電子部品においても小
形化が急速に進んでいる。従って、これら電子部品に使
用される抵抗体やエンコーダ接点基板の印刷も精密さが
要求されるとともに検査装置についても精度が要求され
ている。
【０００３】以下、従来技術を図５〜図８のパターンズ
レ検査について説明する。同図によると、６ａはステー
ジであり、抵抗体７ａをセットし、ヘッド５ａに取付け
られた測定ピン１ａ，２ａ，３ａで、図６に示す抵抗体
の導電部８ａを押え、抵抗部９ａの抵抗値（測定ピン１
ａ〜３ａ間）及び、塗布パターン間（測定ピン２ａ〜１
ａまたは３ａ間）の絶縁を検査するものであり、塗布パ
ターンの寸法ズレは以下のように目視により、抵抗体外
形と塗布パターンの間隔を見るなどにより行なってい
た。図７は、抵抗体外形１２ａと導体部８ａとの間隔１
３を塗布パターンズレ許容寸法で設計し、導体部８ａが
抵抗体外形１２ａに接していなければ良とする場合の抵
抗体形状を示すものであり、図８は抵抗体打抜後の基板
（抜カス）でありこの基板１４に導体部８ａの塗布パタ
ーンがなければ良とするものであるがいずれも塗布パタ
ーンのズレは目視により行なうものである。他に、テレ
ビカメラにより被検査物の塗布パターンを認識し、画像
を処理（正規品との比較や、決められた基準位置での塗
布パターンの有無等をチェック）し、塗布パターンの寸
法ズレの検査を行なうものもあるものである。
レ検査について説明する。同図によると、６ａはステー
ジであり、抵抗体７ａをセットし、ヘッド５ａに取付け
られた測定ピン１ａ，２ａ，３ａで、図６に示す抵抗体
の導電部８ａを押え、抵抗部９ａの抵抗値（測定ピン１
ａ〜３ａ間）及び、塗布パターン間（測定ピン２ａ〜１
ａまたは３ａ間）の絶縁を検査するものであり、塗布パ
ターンの寸法ズレは以下のように目視により、抵抗体外
形と塗布パターンの間隔を見るなどにより行なってい
た。図７は、抵抗体外形１２ａと導体部８ａとの間隔１
３を塗布パターンズレ許容寸法で設計し、導体部８ａが
抵抗体外形１２ａに接していなければ良とする場合の抵
抗体形状を示すものであり、図８は抵抗体打抜後の基板
（抜カス）でありこの基板１４に導体部８ａの塗布パタ
ーンがなければ良とするものであるがいずれも塗布パタ
ーンのズレは目視により行なうものである。他に、テレ
ビカメラにより被検査物の塗布パターンを認識し、画像
を処理（正規品との比較や、決められた基準位置での塗
布パターンの有無等をチェック）し、塗布パターンの寸
法ズレの検査を行なうものもあるものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の技術によるものでは、塗布パターンの寸法ズレ検査
は目視検査であるため、寸法ズレの検査精度が悪く、検
査モレ等のミスも発生し易く、塗布パターン寸法ズレに
より、摺動刷子がパターン上から外れ、電気的にオープ
ンまたは不安定となり、使用機器において機能不良や雑
音不良などとなる危険性を有するものであった。また、
テレビカメラによる画像処理の方法は、設備が高価であ
り、被検査物の各品種毎の基準設定が難かしく、コスト
高となる課題を有するものであった。
来の技術によるものでは、塗布パターンの寸法ズレ検査
は目視検査であるため、寸法ズレの検査精度が悪く、検
査モレ等のミスも発生し易く、塗布パターン寸法ズレに
より、摺動刷子がパターン上から外れ、電気的にオープ
ンまたは不安定となり、使用機器において機能不良や雑
音不良などとなる危険性を有するものであった。また、
テレビカメラによる画像処理の方法は、設備が高価であ
り、被検査物の各品種毎の基準設定が難かしく、コスト
高となる課題を有するものであった。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため、少なくとも被検査物に穴を設けるととも
に、この穴の周囲に若干の間隙を設けて塗布パターンを
設け、上記穴に挿入され、穴の周縁に当接する測定端子
によりパターンのズレ検査装置を構成するものである。
決するため、少なくとも被検査物に穴を設けるととも
に、この穴の周囲に若干の間隙を設けて塗布パターンを
設け、上記穴に挿入され、穴の周縁に当接する測定端子
によりパターンのズレ検査装置を構成するものである。
【０００６】
【作用】上記構成により、測定端子を上記穴に挿入した
時、この測定端子と塗布パターンの導通の有無を確認す
ることのみで塗布パターンのズレの良否判定ができるの
で、装置も安価で自動検査化可能となるものである。
時、この測定端子と塗布パターンの導通の有無を確認す
ることのみで塗布パターンのズレの良否判定ができるの
で、装置も安価で自動検査化可能となるものである。
【０００７】
【実施例】本発明の一実施例の抵抗体等のパターンのズ
レ検査装置を図１〜図４により説明する。同図によると
被検査物の抵抗体７はステージ６にセットされ、ヘッド
５に取付けられた測定端子１，２，３，４により測定検
査される。ヘッド５，測定端子１〜４は上下動可能で、
抵抗体７のステージ６への供給，取出しが可能で測定検
査時には測定端子１〜４と抵抗体７が密着されるように
構成されるものである。なお、塗布パターンの寸法ズレ
検査は、先端が円錐形の測定端子４と測定端子２で行な
われる。
レ検査装置を図１〜図４により説明する。同図によると
被検査物の抵抗体７はステージ６にセットされ、ヘッド
５に取付けられた測定端子１，２，３，４により測定検
査される。ヘッド５，測定端子１〜４は上下動可能で、
抵抗体７のステージ６への供給，取出しが可能で測定検
査時には測定端子１〜４と抵抗体７が密着されるように
構成されるものである。なお、塗布パターンの寸法ズレ
検査は、先端が円錐形の測定端子４と測定端子２で行な
われる。
【０００８】次に被検査物の抵抗体の詳細について図２
により説明すると、抵抗体７は抵抗部９と導電部８のパ
ターンが印刷により形成されており、この時、軸穴１０
に対し、導電部８の一部が同心円状に塗布されており、
この同心円の内周と軸穴１０との距離は、パターンの寸
法ズレ許容値と等しく設定されている。また、このパタ
ーンは本来可変抵抗器の出力端子として使用されるもの
でもある。
により説明すると、抵抗体７は抵抗部９と導電部８のパ
ターンが印刷により形成されており、この時、軸穴１０
に対し、導電部８の一部が同心円状に塗布されており、
この同心円の内周と軸穴１０との距離は、パターンの寸
法ズレ許容値と等しく設定されている。また、このパタ
ーンは本来可変抵抗器の出力端子として使用されるもの
でもある。
【０００９】次に上記実施例の検査手段について説明す
ると、まず、ヘッド５が上がった状態で、ステージ６上
に抵抗体７をセットする。次にヘッド６が下がり、測定
端子１〜３が抵抗体７の所定の導電部８に図３のごとく
接触し、軸穴１０より大きい円錐形の端部を有する測定
端子４を軸穴１０に挿入し、上記測定端子４の円錐形部
分を抵抗体７の軸穴１０の周縁にそって接触させ、測定
端子４と測定端子２間の電気的導通の有無を測定する。
この時、導電部８の寸法ズレが許容値内の時は、図４の
ごとく、導電部８と測定端子４間は接触せず電気的導通
がなく良品となり、導電部８の寸法ズレが許容値以上の
時は、導電部８が軸穴１０の円周まで達するので、導電
部８と測定端子４間は接触し、測定端子２，４間が電気
的導通状態となり、不良と判断される。
ると、まず、ヘッド５が上がった状態で、ステージ６上
に抵抗体７をセットする。次にヘッド６が下がり、測定
端子１〜３が抵抗体７の所定の導電部８に図３のごとく
接触し、軸穴１０より大きい円錐形の端部を有する測定
端子４を軸穴１０に挿入し、上記測定端子４の円錐形部
分を抵抗体７の軸穴１０の周縁にそって接触させ、測定
端子４と測定端子２間の電気的導通の有無を測定する。
この時、導電部８の寸法ズレが許容値内の時は、図４の
ごとく、導電部８と測定端子４間は接触せず電気的導通
がなく良品となり、導電部８の寸法ズレが許容値以上の
時は、導電部８が軸穴１０の円周まで達するので、導電
部８と測定端子４間は接触し、測定端子２，４間が電気
的導通状態となり、不良と判断される。
【００１０】なお、上記実施例の測定端子４の先端形状
は、円錐形でなく、軸穴１０より大きな円形（アール）
または球状でもよく、軸穴１０に代えて、専用にパター
ンズレ測定用の穴を設けてもよく、導電部８は、塗布パ
ターンと穴との組合せ次第で抵抗部９でも、専用の塗布
パターンでも可能であり、品種により、設計の容易なも
のを選択すればよいものである。
は、円錐形でなく、軸穴１０より大きな円形（アール）
または球状でもよく、軸穴１０に代えて、専用にパター
ンズレ測定用の穴を設けてもよく、導電部８は、塗布パ
ターンと穴との組合せ次第で抵抗部９でも、専用の塗布
パターンでも可能であり、品種により、設計の容易なも
のを選択すればよいものである。
【００１１】
【発明の効果】以上のように本発明のパターンのズレ検
査装置は、基板に設けた穴の周囲にパターンの寸法ズレ
許容差と略等しい間隙を有する抵抗部または導電部を設
けるとともに、上記穴の周縁に沿って接触する測定端子
と上記抵抗部または導電部に接触する他の測定端子を設
けることによって、パターンの寸法ズレの良否判定を上
記測定端子間の導通状態を検査することで行なえるの
で、 （１）目視（感能）検査ではないので、検査精度が向上
するとともに検査スピードの向上が図れる。
査装置は、基板に設けた穴の周囲にパターンの寸法ズレ
許容差と略等しい間隙を有する抵抗部または導電部を設
けるとともに、上記穴の周縁に沿って接触する測定端子
と上記抵抗部または導電部に接触する他の測定端子を設
けることによって、パターンの寸法ズレの良否判定を上
記測定端子間の導通状態を検査することで行なえるの
で、 （１）目視（感能）検査ではないので、検査精度が向上
するとともに検査スピードの向上が図れる。
【００１２】（２）検査精度が上がるので、より小形精
密な製品に適用できる。 （３）下層にあり見えないため目視でズレ検査できない
塗布パターン（多層基板）についても検査できる。
密な製品に適用できる。 （３）下層にあり見えないため目視でズレ検査できない
塗布パターン（多層基板）についても検査できる。
【００１３】（４）別工程である塗布パターンズレ検査
工程を、電気特性検査と同時に行なうため、工数低減で
きる。
工程を、電気特性検査と同時に行なうため、工数低減で
きる。
【００１４】（５）従来の検査装置に追加することで行
なえるので設備投資が安価である。などの効果を有する
ものである。
なえるので設備投資が安価である。などの効果を有する
ものである。
【図１】本発明の一実施例である抵抗体検査装置の要部
概略斜視図
概略斜視図
【図２】本発明の被検査物である抵抗体の平面図
【図３】図１の検査装置における抵抗体の測定状態の断
面図
面図
【図４】図１の検査装置における抵抗体のパターンのズ
レの測定状態を説明するための断面図
レの測定状態を説明するための断面図
【図５】従来の抵抗体検査装置における抵抗体の検査状
態を説明するための斜視図
態を説明するための斜視図
【図６】同被測定物である抵抗体の平面図
【図７】従来の抵抗体のパターンのズレ検査を説明する
ための抵抗体の平面図
ための抵抗体の平面図
【図８】同打抜後の基板の平面図
２ 測定端子 ４ 測定端子 ８ 導電部 ９ 抵抗部 １０ 軸穴
Claims (1)
- 【請求項１】抵抗部または導電部のパターンを形成し、
更に穴を設けるとともにこの穴の周囲にパターンの寸法
ズレに略等しい間隙を有するように上記パターンまたは
他の導電部のパターンを形成した基板の上記穴の周縁に
沿って接触する測定端子と上記穴の周囲に形成したパタ
ーンと接触する他の測定端子を設け、この上記測定端子
間の導通状態を検査して上記パターンのズレを検査する
パターンのズレ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3007504A JP2864752B2 (ja) | 1991-01-25 | 1991-01-25 | パターンのズレ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3007504A JP2864752B2 (ja) | 1991-01-25 | 1991-01-25 | パターンのズレ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04240701A JPH04240701A (ja) | 1992-08-28 |
| JP2864752B2 true JP2864752B2 (ja) | 1999-03-08 |
Family
ID=11667616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3007504A Expired - Fee Related JP2864752B2 (ja) | 1991-01-25 | 1991-01-25 | パターンのズレ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2864752B2 (ja) |
-
1991
- 1991-01-25 JP JP3007504A patent/JP2864752B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04240701A (ja) | 1992-08-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |